JPS5992318A - 分光測定方法 - Google Patents
分光測定方法Info
- Publication number
- JPS5992318A JPS5992318A JP20314882A JP20314882A JPS5992318A JP S5992318 A JPS5992318 A JP S5992318A JP 20314882 A JP20314882 A JP 20314882A JP 20314882 A JP20314882 A JP 20314882A JP S5992318 A JPS5992318 A JP S5992318A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- photometry
- light
- light source
- output
- sample
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000004611 spectroscopical analysis Methods 0.000 title claims abstract 9
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 18
- 238000005375 photometry Methods 0.000 claims abstract description 56
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 claims description 6
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims 1
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 abstract description 4
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 6
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 5
- 230000007774 longterm Effects 0.000 description 5
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 4
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 2
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 1
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002367 halogens Chemical class 0.000 description 1
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 1
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/42—Absorption spectrometry; Double beam spectrometry; Flicker spectrometry; Reflection spectrometry
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、基準物に対して光源から光を照射し１．そ
の反射光重たは透過波を分光し、その各波長出力をそれ
ぞれ測定しくこれを基準測光と称す。
の反射光重たは透過波を分光し、その各波長出力をそれ
ぞれ測定しくこれを基準測光と称す。
）、同一光源からの光を被測定物に対して照射し、その
反射光１だは透過光も分光して、その各波長の出力を測
定しくこれをサンプル測光と称す。）、これら両側光に
おいて互いに対応する波長出力を比較して、例えば被測
定物の色を判別する分光測定方法に関する。
反射光１だは透過光も分光して、その各波長の出力を測
定しくこれをサンプル測光と称す。）、これら両側光に
おいて互いに対応する波長出力を比較して、例えば被測
定物の色を判別する分光測定方法に関する。
従来、上記のような分光測定方法には、光゛電子増倍管
を用いた分光光度計を用いるものがあるが、これは基準
およびサンプル両側光を同時に行なえるが、測定に時間
がかかるという問題があった。
を用いた分光光度計を用いるものがあるが、これは基準
およびサンプル両側光を同時に行なえるが、測定に時間
がかかるという問題があった。
また自己走査形固体受光素子を用いるものもあるが、こ
れは測定に要する時間は短かいが、サンプル測光と基準
測光とを同一時間に行なうことができず、光源の光度が
基準測光時とサンプル測光時とでは変化しておシ、正確
な測定ができないおそれがあり、そのため、光源の変動
を補正する必要があった、特に、この光源としてはノ・
ロゲンランプを使用することが多いが、このランプの光
源変動には分光分布の変化を伴う比較的長い周期を持つ
長期変動と、ごく短い周期を持っており波長に依存しな
い短期変動とがあり、この発明はこれら両変動を補正す
るものである。
れは測定に要する時間は短かいが、サンプル測光と基準
測光とを同一時間に行なうことができず、光源の光度が
基準測光時とサンプル測光時とでは変化しておシ、正確
な測定ができないおそれがあり、そのため、光源の変動
を補正する必要があった、特に、この光源としてはノ・
ロゲンランプを使用することが多いが、このランプの光
源変動には分光分布の変化を伴う比較的長い周期を持つ
長期変動と、ごく短い周期を持っており波長に依存しな
い短期変動とがあり、この発明はこれら両変動を補正す
るものである。
そのため、この発明は、基準測光よりも前に光源からの
直接光を検出しくこの出力をＳｏｒとする。
直接光を検出しくこの出力をＳｏｒとする。
）、この直接光を分光して各波長ごとに検出しくこの検
出々力をＤλｄｒ とする。）、サンプル８１す光の前
に光源からの直接光を検出しくこの出力をＳｏｓとする
。）、この直接光を分光して各波長ごとに検出しくこの
検出々力をＤλｄｓとする。）、基準測光の際に光源か
らの直接光を検出しくこの出力をＳｌｒとする。）、サ
ンプル測光の際に光源からの直接光を検出しくこの出力
をＳ’ｓとする。）、Ｓｏｒ Ｘ５ｏｓ 、、 Ｓｊｒ
ＸＳ１．ｓ ＸＤλｄｒ 、 Ｄλｄｓに基づいてサ
ンプル測光の際の長期変動と短期変動とを補正する。
出々力をＤλｄｒ とする。）、サンプル８１す光の前
に光源からの直接光を検出しくこの出力をＳｏｓとする
。）、この直接光を分光して各波長ごとに検出しくこの
検出々力をＤλｄｓとする。）、基準測光の際に光源か
らの直接光を検出しくこの出力をＳｌｒとする。）、サ
ンプル測光の際に光源からの直接光を検出しくこの出力
をＳ’ｓとする。）、Ｓｏｒ Ｘ５ｏｓ 、、 Ｓｊｒ
ＸＳ１．ｓ ＸＤλｄｒ 、 Ｄλｄｓに基づいてサ
ンプル測光の際の長期変動と短期変動とを補正する。
以下、この発明を図示の１実施例に基づいて詳細に説明
する。
する。
捷ず、この発明による方法に使用する装置について説明
する。第１図において、■は光源で、例工ばハロゲノラ
ンプである。この光源１からの光はレンズ２．３によっ
て照射用光ファイバ４に入り、基準物または測定対象物
に照射される。その反射光（斗たけ透過光）は反射用光
ファイバ５からレンズ６．７を介して、分光器８内のス
リット９、凹面鏡ＩＯ１分散素子ＩＩ、凹面鏡１２を通
って分光され、自己走査形固体受光素子１３に供給され
る。
する。第１図において、■は光源で、例工ばハロゲノラ
ンプである。この光源１からの光はレンズ２．３によっ
て照射用光ファイバ４に入り、基準物または測定対象物
に照射される。その反射光（斗たけ透過光）は反射用光
ファイバ５からレンズ６．７を介して、分光器８内のス
リット９、凹面鏡ＩＯ１分散素子ＩＩ、凹面鏡１２を通
って分光され、自己走査形固体受光素子１３に供給され
る。
自己走査形固体受光素子１３は、各波長に対応するｎ個
のホトダイオードをアレイ状に集積したもので、第２図
に示すタロツクパルス発生器Ｉ４から与えられるタロツ
クパルスによって第１番目のホトダイオードからｎ番目
のホトダイオードまでを順に走査して光電変換信号を出
方するものである。
のホトダイオードをアレイ状に集積したもので、第２図
に示すタロツクパルス発生器Ｉ４から与えられるタロツ
クパルスによって第１番目のホトダイオードからｎ番目
のホトダイオードまでを順に走査して光電変換信号を出
方するものである。
レンズ２．３間に設けたハーフミ１−１４によって分割
された光源Ｊからの光は、レンズ６．７間に設けたハー
フミラ−１５によって分光器８に導ひかれ、同時にハー
フミラ−１６、レンズＩ７によって補助検出器Ｉ８に導
ひかれ、補助検出器１日は光電変換出力を出力する。１
９．２０はシャッタで、シャッタ１９はハーフミラ−１
５，１６間に設けられ、シャッタ２０はハーフミラ−１
５、レンズ５間に設けられている。基準測光及びサンプ
ル測光の場合にＩｄ−シャッタ１９を閉じ、シャッタ２
ｏを開く。捷だ光源１の光を直接に分光器８に供給する
場合（これを直接測光と称す。）には、逆にシャッタ１
９を開き、シャッタ２０を閉じる。
された光源Ｊからの光は、レンズ６．７間に設けたハー
フミラ−１５によって分光器８に導ひかれ、同時にハー
フミラ−１６、レンズＩ７によって補助検出器Ｉ８に導
ひかれ、補助検出器１日は光電変換出力を出力する。１
９．２０はシャッタで、シャッタ１９はハーフミラ−１
５，１６間に設けられ、シャッタ２０はハーフミラ−１
５、レンズ５間に設けられている。基準測光及びサンプ
ル測光の場合にＩｄ−シャッタ１９を閉じ、シャッタ２
ｏを開く。捷だ光源１の光を直接に分光器８に供給する
場合（これを直接測光と称す。）には、逆にシャッタ１
９を開き、シャッタ２０を閉じる。
自己走査型固体受光素子１３の各光電変換出力は、増幅
器２１で増幅された後にＡ／Ｄ変換器２２でディジタル
信号に変換されてメモリ２３に記憶される。これら記憶
をさせるアドレスは、自己走査型固体受光素子１３を走
査するだめにクロックパルス発生器１４が発生するタロ
ツクパルスをカウント出力いるカウンタ２４のカウント
出力を下位前ビットとするアドレス信号２４ａとマイク
ロコンピュータ２５から供給される上位前ビットとする
アドレス信号２５ａとによって決定される。補助検出器
Ｉ８の光電変換出力も増幅器２６で増幅された後にＡ／
Ｄ変換器２７でディジタル信号に変換されてメモリ２８
に記憶される。これら記憶をさせるアドレスはマイクロ
コンピュータ２５から供給されるアドレス信号２５ｂに
よって指定される。なお、２５ｃはクロックパルス発生
器１４に対する測定開始信号、２５ｄはメモリ２３に対
する読み出しアドレス信号、２５ｅはメモリ２８に対す
る読み出しアドレス信号である。
器２１で増幅された後にＡ／Ｄ変換器２２でディジタル
信号に変換されてメモリ２３に記憶される。これら記憶
をさせるアドレスは、自己走査型固体受光素子１３を走
査するだめにクロックパルス発生器１４が発生するタロ
ツクパルスをカウント出力いるカウンタ２４のカウント
出力を下位前ビットとするアドレス信号２４ａとマイク
ロコンピュータ２５から供給される上位前ビットとする
アドレス信号２５ａとによって決定される。補助検出器
Ｉ８の光電変換出力も増幅器２６で増幅された後にＡ／
Ｄ変換器２７でディジタル信号に変換されてメモリ２８
に記憶される。これら記憶をさせるアドレスはマイクロ
コンピュータ２５から供給されるアドレス信号２５ｂに
よって指定される。なお、２５ｃはクロックパルス発生
器１４に対する測定開始信号、２５ｄはメモリ２３に対
する読み出しアドレス信号、２５ｅはメモリ２８に対す
る読み出しアドレス信号である。
この実施例では、第３図のフローチャートに示すように
基準測光開始信号またはサンプル測光開始信号が入力さ
れるまで所定時間（光源ｌの長期変動の変動周期よりも
充分に短かい時間）おきに光源直接測光を行ない、自己
走査型固定受光素子１３からｎ個の光電変換出力を得て
、これらをディジタル変換したｎ個のＤλｄを得て、メ
モリ２３に記憶させると共に、補助検出器１８から光電
変換出力を得て、これをディジタル変換したＳｏを得て
、メモリ２８に記憶させる。これらｎ個のＤλｄ及びＳ
ｏは、新たに光源直接測光を行なうごとに更新される。
基準測光開始信号またはサンプル測光開始信号が入力さ
れるまで所定時間（光源ｌの長期変動の変動周期よりも
充分に短かい時間）おきに光源直接測光を行ない、自己
走査型固定受光素子１３からｎ個の光電変換出力を得て
、これらをディジタル変換したｎ個のＤλｄを得て、メ
モリ２３に記憶させると共に、補助検出器１８から光電
変換出力を得て、これをディジタル変換したＳｏを得て
、メモリ２８に記憶させる。これらｎ個のＤλｄ及びＳ
ｏは、新たに光源直接測光を行なうごとに更新される。
そして基準測光開始信号が入力されると、基準測光を行
ない、光源直接測光と同様にしてｎ個のＤλｍｒ と１
個の５ｉ１１−を得て、メモリ２３．２８に記憶させる
。そして、メモリ２８に記憶されているところのこの基
準測光の直前の光源直接測光によって得たＳｏをＳｏｒ
とし、第４図のサブルーチンに示すようにＳｏｒ／Ｓ１
．ｒを計算し、ｎ個のＤスｍｒと５ｏｒＡ４ｒとを乗算
してｎ個のＤλｒを得て、これらＤλｒと共にＤλｄを
Ｄλｄｒとして記憶させる。
ない、光源直接測光と同様にしてｎ個のＤλｍｒ と１
個の５ｉ１１−を得て、メモリ２３．２８に記憶させる
。そして、メモリ２８に記憶されているところのこの基
準測光の直前の光源直接測光によって得たＳｏをＳｏｒ
とし、第４図のサブルーチンに示すようにＳｏｒ／Ｓ１
．ｒを計算し、ｎ個のＤスｍｒと５ｏｒＡ４ｒとを乗算
してｎ個のＤλｒを得て、これらＤλｒと共にＤλｄを
Ｄλｄｒとして記憶させる。
次ニサンプル測光開始信号が入力されるまで、上述した
ように光源直接測光を繰返すが、サンプル測光開始信号
が入力されると、ｎ個のＤλｍｓ と１個のＳ’ｓを得
て、メ七り２３．２８に記憶させる。
ように光源直接測光を繰返すが、サンプル測光開始信号
が入力されると、ｎ個のＤλｍｓ と１個のＳ’ｓを得
て、メ七り２３．２８に記憶させる。
その後に第５図のサブルーチンに示すようニ、コのサン
プル測光の直前の光源直接測光の際のＳｏをＳｏｓとし
、Ｓｏｓ／Ｓ４．ｓを計算し、ｎ個の９１ｍ８ とＳ
ｏ ｓ／Ｓ ４． ｓとをそれぞれ乗算し、ｎ個のＤλ
Ｓを得る。
プル測光の直前の光源直接測光の際のＳｏをＳｏｓとし
、Ｓｏｓ／Ｓ４．ｓを計算し、ｎ個の９１ｍ８ とＳ
ｏ ｓ／Ｓ ４． ｓとをそれぞれ乗算し、ｎ個のＤλ
Ｓを得る。
そして、このサンプル測光の直前の光源直接測光の際の
ｎ個のＤλｄをＤλｄｓ とし、それぞれ対応する（
同一波長の）Ｄλｄｒ 、ＶＤλｄｅ 、、 ＤλｓＸ
Ｄλｒにおいを計算し、ｎ個のＲを得る。これらは基準
物に対する測定対象物の反射率、透過率あるいは吸収率
てあって、これらを利用して例えば測定対象物の色を判
定する。これ以後、別の測定対象物について同様に測定
するが、基準測光は当初に１度行なえばよく、測定対象
物が変わるごとに基準測光をやりなおす必要はない。
ｎ個のＤλｄをＤλｄｓ とし、それぞれ対応する（
同一波長の）Ｄλｄｒ 、ＶＤλｄｅ 、、 ＤλｓＸ
Ｄλｒにおいを計算し、ｎ個のＲを得る。これらは基準
物に対する測定対象物の反射率、透過率あるいは吸収率
てあって、これらを利用して例えば測定対象物の色を判
定する。これ以後、別の測定対象物について同様に測定
するが、基準測光は当初に１度行なえばよく、測定対象
物が変わるごとに基準測光をやりなおす必要はない。
このような分光測定方法では、基準測光およびサンプル
測光によって得た各波長の出力Ｄ＾ｍｒ。
測光によって得た各波長の出力Ｄ＾ｍｒ。
Ｄλｍｓを、これら測光の直前にそれぞれ行なった直接
測光の際の光源で基準測光およびサンプル測光を行なっ
た場合の値Ｄλｒ、 ＤλＳに補助検出器１日の出力
Ｊ、ｒ 、、Ｓ４ｓ Ｘ５ｏｒ 、 Ｓｏｓを用いて換
算し、基準測光およびサンプル測光のそれぞれ直前の直
接゛測光の際に自己走査型固体受光素子１３から得たＤ
λｄｒ。
測光の際の光源で基準測光およびサンプル測光を行なっ
た場合の値Ｄλｒ、 ＤλＳに補助検出器１日の出力
Ｊ、ｒ 、、Ｓ４ｓ Ｘ５ｏｒ 、 Ｓｏｓを用いて換
算し、基準測光およびサンプル測光のそれぞれ直前の直
接゛測光の際に自己走査型固体受光素子１３から得たＤ
λｄｒ。
ＤλｄｓとＤλｒ、 ＤλＳとによって上記Ｒの演算
を行なっているので、Ｄλｄｒによって基準測光および
サンプル測光を行なった状態に換算でき、光源１の長期
変動と短期変動との影響を除去できる。従って従来の自
己走査型固体受光素子を用いた分光測定方法では問題で
あった光源の長期変動と短期変動とに起因する誤差を除
去し、自己走査型固体受光素子の測定時間が短かいとい
う長所を生かせる。
を行なっているので、Ｄλｄｒによって基準測光および
サンプル測光を行なった状態に換算でき、光源１の長期
変動と短期変動との影響を除去できる。従って従来の自
己走査型固体受光素子を用いた分光測定方法では問題で
あった光源の長期変動と短期変動とに起因する誤差を除
去し、自己走査型固体受光素子の測定時間が短かいとい
う長所を生かせる。
上記の実施例ではファイバ４．５を用いて基準物や測定
対象物に光を照射したり、その反射光（または透過光〕
を分光器８に導入したシしたが、ファイバに限ったもの
で公知の種々の光学系を用いることもてきる。まだ光路
の分割にハーフミラ−を用い、光路の切換にはシャッタ
を用いたか、可動ミラー等を用いる等の周知の構成を使
用することもできる。
対象物に光を照射したり、その反射光（または透過光〕
を分光器８に導入したシしたが、ファイバに限ったもの
で公知の種々の光学系を用いることもてきる。まだ光路
の分割にハーフミラ−を用い、光路の切換にはシャッタ
を用いたか、可動ミラー等を用いる等の周知の構成を使
用することもできる。
第１図はこの発明による分光測定方法に用いる光学系統
を示す図、第２図は同方法に用いる電気回路のブロック
図、第３図は同方法の過程を示すフローチャート、第４
図は第３図のフローチャートの一部の過程の詳細なフロ
ーチャート、第５図は第３図のフローチャートの第４図
に示した過程とは別の過程の詳姐なフローチャートであ
る。 ■・・・光源、８・・・分光器、１３・自己走査型固体
受光素１．１８・・・補助検出器、２５・・・マイクロ
コンピュ特許出願人 大和製衡株式会社 代 理 人 清 水 哲 ほか
２名尤Ｉ 図 ′：Ｘ２ 図 ’Ｘ３ 図
を示す図、第２図は同方法に用いる電気回路のブロック
図、第３図は同方法の過程を示すフローチャート、第４
図は第３図のフローチャートの一部の過程の詳細なフロ
ーチャート、第５図は第３図のフローチャートの第４図
に示した過程とは別の過程の詳姐なフローチャートであ
る。 ■・・・光源、８・・・分光器、１３・自己走査型固体
受光素１．１８・・・補助検出器、２５・・・マイクロ
コンピュ特許出願人 大和製衡株式会社 代 理 人 清 水 哲 ほか
２名尤Ｉ 図 ′：Ｘ２ 図 ’Ｘ３ 図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 ［１） 光源からの光を基準物に照射しその反射光ま
たは透過光を分光してその各波長の出力Ｄλｍｒをそれ
ぞれ測定する基準測光過程と、上記光源からの光を測定
対象物に照射しその反射光または透過光を分光して各波
長の出力Ｄλｍｓをそれぞれ測定するサンプル測光過程
とを有し、上記基準測光の前に上記光源からの直接光を
分光してその波長の出力Ｄλｄｒを測定すると共に上記
光源からの直接光を分光せずに測定し出力Ｓｏｒを得る
過程と、上記サンプル測光の前に上記光源からの直、接
光を分光してその各波長の出力Ｄλｄｓを測定すると共
に上記光源からの直接光を分光せずに測定し出力ＳｏＳ
を得る過程と、上記基準測光の１祭に上記光源からの直
接光を分光せずに測定し出力Ｊｒを得る過程と、上記サ
ンプル測光の際に上記光源からの直接光を分光せずに測
定し出力Ｓｌｓを得る過程と、互いに対応するＤλｍｒ
、Ｄλｍｅ ＸＤλｄｒ ＸＤλｄｓにおいてＤλｍｒ
Ｓｌ、ｒ の演算を行なう過程とからなる分光測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20314882A JPS5992318A (ja) | 1982-11-18 | 1982-11-18 | 分光測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20314882A JPS5992318A (ja) | 1982-11-18 | 1982-11-18 | 分光測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5992318A true JPS5992318A (ja) | 1984-05-28 |
Family
ID=16469214
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20314882A Pending JPS5992318A (ja) | 1982-11-18 | 1982-11-18 | 分光測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5992318A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01308930A (ja) * | 1988-06-08 | 1989-12-13 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 顕微分光装置 |
| US4995727A (en) * | 1987-05-22 | 1991-02-26 | Minolta Camera Kabushiki Kaisha | Compact diffusion light mixing box and colorimeter |
| EP0699898A3 (en) * | 1994-08-31 | 1996-10-30 | Bayer Ag | Two-beam tunable spectrometer |
| DE102010025277A1 (de) * | 2010-06-28 | 2011-12-29 | Sensorik-Bayern Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zum Steuern des Auftrags einer Beschichtung |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5352183A (en) * | 1976-09-13 | 1978-05-12 | Kollmorgen Tech Corp | Parallel detecting spectrophotometer |
| JPS5634050A (en) * | 1979-08-29 | 1981-04-06 | Matsushita Seiko Co Ltd | Control device for air conditioner |
-
1982
- 1982-11-18 JP JP20314882A patent/JPS5992318A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5352183A (en) * | 1976-09-13 | 1978-05-12 | Kollmorgen Tech Corp | Parallel detecting spectrophotometer |
| JPS5634050A (en) * | 1979-08-29 | 1981-04-06 | Matsushita Seiko Co Ltd | Control device for air conditioner |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4995727A (en) * | 1987-05-22 | 1991-02-26 | Minolta Camera Kabushiki Kaisha | Compact diffusion light mixing box and colorimeter |
| JPH01308930A (ja) * | 1988-06-08 | 1989-12-13 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 顕微分光装置 |
| EP0699898A3 (en) * | 1994-08-31 | 1996-10-30 | Bayer Ag | Two-beam tunable spectrometer |
| AU702176B2 (en) * | 1994-08-31 | 1999-02-18 | Bayer Corporation | A dual beam tunable spectrometer |
| DE102010025277A1 (de) * | 2010-06-28 | 2011-12-29 | Sensorik-Bayern Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zum Steuern des Auftrags einer Beschichtung |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4076421A (en) | Spectrophotometer with parallel sensing | |
| US4795256A (en) | Dual-wavelength spectrophotometry system | |
| JPS63501098A (ja) | 光ファイバ分光計／比色計装置 | |
| JP3761734B2 (ja) | 光計測方法および装置 | |
| US3936190A (en) | Fluorescence spectrophotometer for absorption spectrum analysis | |
| JPH052931B2 (ja) | ||
| JP4324693B2 (ja) | 光検出器の分光応答度測定装置、その測定方法及び光源の分光放射照度校正方法 | |
| JPS5992318A (ja) | 分光測定方法 | |
| CN102753949B (zh) | 分光光度计及其性能测定方法 | |
| EP0440443A2 (en) | Multispectral reflectometer | |
| JP3102485B2 (ja) | 分光光度計 | |
| JPS61266925A (ja) | ダブルビーム型分光光度計 | |
| JP2000304694A (ja) | 茶葉の格付け方法及びその装置 | |
| JPH0712718A (ja) | 分光分析装置 | |
| JPS62147344A (ja) | 多波長分光光度計 | |
| JP2002206967A (ja) | 測光装置および測色装置 | |
| JPS63158431A (ja) | 分光光度計 | |
| JPH06167390A (ja) | 分光測定方法 | |
| US5061066A (en) | Method for realizing a primary photometric standard of optical radiation using a photodetector and photodetecting apparatus therefor | |
| JP2761215B2 (ja) | 蛍光色測定装置 | |
| JPS61189424A (ja) | 測光器 | |
| JPH0611392A (ja) | 分光測光装置 | |
| JPH08159876A (ja) | 分光測定装置 | |
| JPS601528A (ja) | 分光光度計 | |
| JPS6315535B2 (ja) |