JPS62118208A - Correcting device for thickness gage - Google Patents
Correcting device for thickness gageInfo
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- JPS62118208A JPS62118208A JP60259163A JP25916385A JPS62118208A JP S62118208 A JPS62118208 A JP S62118208A JP 60259163 A JP60259163 A JP 60259163A JP 25916385 A JP25916385 A JP 25916385A JP S62118208 A JPS62118208 A JP S62118208A
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
この発明は、所定間隔で配列された複数個の厚さ計を用
いて被測定材の所定の特性を測定する測定装置において
、該複１１！個の厚さ計相互間の器差特性の相違を補正
するための校正装置に関する。Detailed Description of the Invention (Field of Industrial Application) The present invention provides a measuring device for measuring a predetermined characteristic of a material to be measured using a plurality of thickness gauges arranged at predetermined intervals. ! The present invention relates to a calibration device for correcting differences in instrumental error characteristics between individual thickness gauges.
（従来技術とその問題点）
従来、所定間隔で配列された複数個の厚さ計を用いて被
測定材の所定の特性を測定する測定装置として、例えば
鋼板圧延工程においてオンラインで鋼板のクラウンりを
測定するための、複数個の放射線式厚さ計を用いた板ク
ラウン測定装置が存在する。このような板クラウン測定
装置は一般的に第２図のブロック図に示すように構成さ
れており、同図において（ａ）は板厚校正モードを、（
ｂ）はクラウン測定モードを表わしている。なお第２図
においては、２台の厚さ計を用いた板クラウン測定装置
について例示している。(Prior art and its problems) Conventionally, a measuring device that measures a predetermined characteristic of a material to be measured using a plurality of thickness gages arranged at predetermined intervals has been used, for example, in the online crowning of a steel plate during the steel plate rolling process. There is a plate crown measuring device that uses a plurality of radiation thickness gauges to measure the thickness of the plate. Such a plate crown measuring device is generally configured as shown in the block diagram of Fig. 2, in which (a) shows the plate thickness calibration mode;
b) represents the crown measurement mode. Note that FIG. 2 shows an example of a plate crown measuring device using two thickness gauges.
第２図（ｂ）のクラウン測定時において、センタ用放射
線源１およびエツジ用放射線源２がら放射され被測定材
の鋼板１１を透過して減衰した放射ａｍは、それぞれセ
ンタ用検出部３およびエツジ用検出部４で測定される。During crown measurement in FIG. 2(b), radiation am emitted from the center radiation source 1 and the edge radiation source 2, transmitted through the steel plate 11 of the material to be measured and attenuated, is transmitted to the center detection unit 3 and the edge radiation source 2, respectively. It is measured by the detection unit 4.
両検出部３．４において測定される放射線量は鋼板１１
の厚さによって一定の法則に従って変化するので、透過
した放射線の減衰ｍから、センタ用板厚検出部５および
エツジ用板厚検出部６において鋼板１１の板厚値がそれ
ぞれ算出される。このような装置において、センタ用放
射線源１．センタ用検出部３．およびセンタ用板厚検出
部５がら成るセンタ用厚さ計で鋼板１１の幅中央の板厚
を測定し、一方、エツジ用放射線源２．エツジ用検出部
４．およびエツジ用板厚検出部６から成るエツジ用厚さ
計で鋼板１１の幅端部の板厚を測定して、これらの測定
値を演算回路切替部９を介してクラウン量演算部７に入
力する。そしてクラウン量演算部７では、入力された２
つの測定値の差から鋼板１１のクラウンｍを算出して、
これをクラウンｍ出ノ〕部８に出力する。The radiation dose measured in both detection parts 3.4 is the steel plate 11.
The thickness of the steel plate 11 changes according to a certain law depending on the thickness of the steel plate 11, so the center thickness detection section 5 and the edge thickness detection section 6 each calculate the thickness value of the steel plate 11 from the attenuation m of the transmitted radiation. In such an apparatus, a center radiation source 1. Center detection unit 3. The thickness of the steel plate 11 at the center of its width is measured with a center thickness gauge consisting of a center plate thickness detection unit 5 and an edge radiation source 2. Edge detection section 4. The thickness of the width end portion of the steel plate 11 is measured with an edge thickness gauge consisting of an edge thickness detection unit 6 and an edge thickness detection unit 6, and these measured values are input to the crown amount calculation unit 7 via the calculation circuit switching unit 9. do. Then, in the crown amount calculating section 7, the input 2
Calculate the crown m of the steel plate 11 from the difference between the two measured values,
This is output to the crown m output section 8.
ところでこのような板クラウン測定装置では、各厚さ計
の測定精度を確保するため、実際の操業に先立って、第
２図（ａ）に示すように演算回路切替部９を開成した状
態で、校正基準板１０を用いて各厚さ計の校正を行なっ
ている。しかしながら校正によって各厚さ計の個々の器
差特性を完全に一致させることは実際上不可能であり、
またこの器差は経時変化を伴うため、各厚さ計の器差特
性の相互関係を固定的に取扱うことは不都合である。By the way, in such a plate crown measuring device, in order to ensure the measurement accuracy of each thickness gauge, prior to actual operation, the arithmetic circuit switching section 9 is opened as shown in FIG. 2(a), and Each thickness gauge is calibrated using a calibration reference plate 10. However, it is practically impossible to completely match the individual instrumental error characteristics of each thickness gauge through calibration.
Moreover, since this instrumental error is accompanied by a change over time, it is inconvenient to treat the interrelationship of the instrumental error characteristics of each thickness gauge in a fixed manner.
このような理由から、上述したような従来の板クラウン
測定装置では、各厚さ計の器差特性の相違によりクラウ
ン伍が不正確に算出されたり、クラウン吊演算値に経時
変化を伴うという不具合が生じていた。For these reasons, the conventional plate crown measuring device described above has problems such as inaccurate calculation of crown level due to differences in the instrumental error characteristics of each thickness gauge, and changes in the calculated value of crown height over time. was occurring.
校正の頻度を増すことによって経時変化の問題はある程
度解決できるが、従来から実施されている校正の方法で
は準備も含めると数時間を必要とするため、実際の操業
の中でこの校正を頻繁に行なうことは圧延ラインの処理
能率を著しく低下させ現実的でない。また仮に校正を頻
繁に行なったとしても、上述したように各厚さ計の個々
の器差特性を完全に一致させることは実際上不可能であ
るので、各厚さ計の器差特性のわずかな相違に起因する
クラウン最演算値の不正確さの問題が依然として残るこ
とになる。The problem of aging can be solved to some extent by increasing the frequency of calibration, but since the conventional calibration method requires several hours including preparation, it is necessary to perform this calibration frequently during actual operation. Doing so would significantly reduce the processing efficiency of the rolling line and is not practical. Furthermore, even if calibration is performed frequently, it is practically impossible to completely match the individual instrumental error characteristics of each thickness gauge as described above. The problem of inaccuracy of the crown maximum calculation value due to such differences still remains.
（発明の目的）
それゆえに、この発明の目的は、上記従来技術の問題点
を解決し、複数個の厚さ計を用いて被測定材の所定の特
性を測定する測定装置において、該複数個の厚さ計相互
間の器差特性の相違とその経時変化とを、実際の操業上
において簡便かつ容易に短時間で補正することが可能で
あり、操業における測定の信頼性を十分に高めることが
できる厚さ計の校正装置を提供することである。(Object of the Invention) Therefore, an object of the present invention is to solve the problems of the prior art described above, and to provide a measuring device that measures a predetermined characteristic of a material to be measured using a plurality of thickness gauges. Differences in instrumental error characteristics between thickness gauges and their changes over time can be easily and easily corrected in a short time during actual operation, and the reliability of measurement during operation can be sufficiently improved. An object of the present invention is to provide a thickness gauge calibration device that can perform the following steps.
（目的を達成するための手段）
上記目的を達成するために、この発明による厚さ計の校
正装置は、所定間隔で配列された複数個の厚さ計を用い
て被測定材の所定の特性を測定する測定装置に適用され
て、前記所定間隔の距離ごとに同一の厚さの基準板が存
在するように異なった厚さの複数の基準板を配列した基
準板セットと、厚さ計の測定空間においぞ基準板セット
の基準板の配列ピッチに関連して厚さ計と基準板セット
とを相対的に移動させるための移動制御手段と、目標厚
さを入力する手段と、基準板セットに対する厚さ計の測
定値と前記目標厚さの値とから補正量を計口する手段と
、該補正量に応じて被測定材に対する厚さ計の実測値を
補正する手段とを具備して構成されている。(Means for Achieving the Object) In order to achieve the above object, the thickness gage calibration device according to the present invention uses a plurality of thickness gages arranged at predetermined intervals to determine the predetermined characteristics of the material to be measured. A reference plate set that is applied to a measuring device that measures thickness, and has a reference plate set in which a plurality of reference plates of different thicknesses are arranged so that there are reference plates of the same thickness at each of the predetermined distances, and a thickness meter. Movement control means for relatively moving the thickness gauge and the reference plate set in relation to the arrangement pitch of the reference plates of the reference plate set in the measurement space, means for inputting a target thickness, and the reference plate set. means for calculating a correction amount from the measured value of the thickness gage for the material to be measured and the value of the target thickness, and means for correcting the actual measured value of the thickness gage for the material to be measured according to the correction amount. It is configured.
（実施例）
第１図は、この発明による厚さ計の校正装置の一実施例
を示すブロック図である。この実施例に係る校正装置は
、第２図に関して上述した２個の放射線式厚さ計を用い
た板クラウン測定装置に適用されており、この校正装置
の働きによって、上記２個の厚さ５１相互間の器差特性
の相違を補正するものである。第１図において、（ａ）
、（ｂ）は校正モードを、（Ｃ）はクラウン測定モード
を示している。(Embodiment) FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of a thickness gauge calibration device according to the present invention. The calibration device according to this embodiment is applied to the plate crown measuring device using the two radiation thickness gauges described above with reference to FIG. This is to correct differences in instrumental error characteristics. In Figure 1, (a)
, (b) shows the calibration mode, and (C) shows the crown measurement mode.
例えば第１図（ａ）を参照して、板クラウン測定装置は
、上述したようにセンタ用放射線源１．センタ用検出部
３．およびセンタ用板厚検出部５７）１ら成るセンタ用
厚さ計と、エツジ用放１８ｗＡ源２゜エツジ用検出部４
．およびエツジ用板厚検出部６から成るエツジ用厚さ轟
Ｉとを有して構成されており、両厚さ計の出力（すなわ
ちセンタ用板厚検出部５およびエツジ用板厚検出部６の
出力）は、演算回路切替スイッチ１２ａ、１２ｂを介し
て、両厚さ計の器差特性の相違を補正するための補正量
を演算および記憶する補正量演算記憶部１３と、該補正
量に基いて両厚さ計の器差特性の相違を補正しつつ正確
なりラウンΦを演算するクラウン量演算部１４との、い
ずれか一方に切替られて選択的に与えられる。For example, referring to FIG. 1(a), the plate crown measuring device includes a center radiation source 1. Center detection unit 3. and a center plate thickness detector 57) 1, a 18 wA source for edges 2° and an edge detector 4.
．． and an edge thickness detector I consisting of an edge plate thickness detector 6, and the outputs of both thickness gauges (i.e., the center plate thickness detector 5 and the edge plate thickness detector 6). The output) is transmitted via the calculation circuit changeover switches 12a and 12b to a correction amount calculation storage unit 13 that calculates and stores a correction amount for correcting the difference in the instrumental error characteristics of both thickness gauges, and a correction amount calculation storage unit 13 that calculates and stores a correction amount for correcting the difference in the instrumental error characteristics of both thickness gauges. and a crown amount calculating section 14 which calculates an accurate round Φ while correcting the difference in the instrumental error characteristics of both thickness gauges.
補正量演算記憶部１３には、演算回路切替スイッチ１２
Ｃを介して、測定板厚設定部１５において設定された測
定すべき鋼板１１の板厚値が与えられており、一方、補
正量演算記憶部１３において演算記憶された補正量は、
演算回路切替スイッチ１２ｄを介して、クラウン量演算
部１４に与えられる。各演算回路切替スイッチ１２ａ〜
１２ｄは連動しており、両厚さ計の出力が演算回路切開
スイッチ１２ａ、１２ｂを介して補正ｍ演算記憶部１３
に与えられる校正モード（第２図（ａ）、（ｂ）の場合
）においては演算回路切替スイッチ１２Ｇおよび１２ｄ
が開成され、両厚さ計の出力が演韓回路目切替スイッチ
１２ａ、１２ｂを介してクラウンｆｆ１ｖ４Ｆｉ部１４
に与えられるクラウン測定モード（第２図（Ｃ）の場合
）においては演締回路Ｉｎスイッチ１２ｃおよび１２ｄ
が閉成されるように構成しである。クラウン量演算部１
４において算出されたクラウン回は、クラウン吊出力部
８に出力される。The correction amount calculation storage section 13 includes a calculation circuit changeover switch 12.
The plate thickness value of the steel plate 11 to be measured set in the measurement plate thickness setting unit 15 is given via C, and on the other hand, the correction amount calculated and stored in the correction amount calculation storage unit 13 is
It is applied to the crown amount calculation unit 14 via the calculation circuit changeover switch 12d. Each arithmetic circuit changeover switch 12a~
12d are interlocked, and the outputs of both thickness gauges are sent to the correction m calculation storage section 13 via the calculation circuit cut-off switches 12a and 12b.
In the calibration mode (in the case of FIGS. 2(a) and (b)) given to
is opened, and the outputs of both thickness gauges are sent to the crown ff1v4Fi section 14 via the Korean circuit selection switches 12a and 12b.
In the crown measurement mode (the case of FIG. 2(C)) given to
The structure is such that the structure is closed. Crown amount calculation unit 1
The crown times calculated in step 4 are output to the crown suspension output section 8.
第１図（ｂ）に示す校正モードにおいて、校正はこの発
明による基準板セット１６を用いて行なわれる。この基
準板セット１６は、各１対の異なった厚さの複数の基準
板１６ａ、１６ｂ、１６ｃ。In the calibration mode shown in FIG. 1(b), calibration is performed using the reference plate set 16 according to the invention. This reference plate set 16 includes a plurality of reference plates 16a, 16b, and 16c each having a different thickness.
１６ｄ、１６ｅ・・・が、例えば嵌合窓を有したフレー
ム１７にピッチｐで嵌合配列されて一体的に形成されて
おり、そこでは両厚さ計の間の距離Ｗごとに同一厚さの
基準板（例えば基準板１６ａと１（３ｃ、 基準板１６
ｂと１６ｄなど）が存在するように構成しである。また
、同様に距離Ｗを隔てて、両厚さ計のゼロ点調整のため
の１対のｄ通孔部１８ａ、１８ｂが設けである。16d, 16e, etc. are integrally formed by fitting and arranging them at a pitch p in a frame 17 having a fitting window, for example, and the same thickness is formed for each distance W between both thickness gauges. reference plates (for example, reference plates 16a and 1 (3c, reference plate 16
b, 16d, etc.). Similarly, a pair of d through holes 18a and 18b are provided at a distance W for adjusting the zero point of both thickness gauges.
さらに、両厚さ計の測定空間において、上記基準板セッ
ト１６と両厚さπ１とを基準板セット１６の基準板の配
列ピッチｐに応じて相対的に移動させるために、適当な
移動制御手段が設けられる。Further, in order to relatively move the reference plate set 16 and both thicknesses π1 in the measurement space of both thickness gauges according to the arrangement pitch p of the reference plates of the reference plate set 16, an appropriate movement control means is provided. is provided.
この移動制御手段は、例えば基準板セット１６を運搬す
る台車（図示せず）のようなものであってしよく、この
場合は台車の移動精度に合せて上記ピッチｐを設定する
ことになる。また、センタ用／ｉ［ｆＪＡ １ａ源１と
センタ用検出部３、およびエツジ用１５ｉ射線源２とエ
ツジ用検出部４をそれぞれ垂直方向の位置関係に保ちつ
つ、かつこれら２つの厚さ計の間には一定の間隔Ｗを保
ったままで、両厚さ計とも水平方向に上記ピッチｐづつ
移動できる構造としてもよい。This movement control means may be, for example, a truck (not shown) for transporting the reference plate set 16, and in this case, the pitch p is set according to the movement accuracy of the truck. In addition, while maintaining the center /i [fJA 1a source 1 and the center detection unit 3, and the edge 15i radiation source 2 and edge detection unit 4 in a vertical positional relationship, and Both thickness gauges may be structured to be able to move horizontally by the pitch p while maintaining a constant distance W between them.
次に第１図（ａ）、 （ｂ）の校正モード時の動作につ
いて説明する。まず実際の操業を行なうに先立って、第
１図（ａ）に示すように従来と同様の校正用基準板１０
を用いて、両厚さ計の校正を行なう。Next, the operation in the calibration mode shown in FIGS. 1(a) and 1(b) will be explained. First, before starting actual operation, as shown in FIG. 1(a), a calibration reference plate 10 similar to the conventional one is
Calibrate both thickness gauges using
このとき、センタ用板厚演算部５およびエツジ用板厚演
算部６の出力は演算回路切替スイッチ１２ａ、１２ｂを
介して補正量演算記憶部１３に入力され、補正ｍ演算記
憶部１３は両厚さ計の器差特性の差を板厚演算部５．６
の出力の差として演算して、これを補正Ｒとして記憶す
る。At this time, the outputs of the center plate thickness calculation unit 5 and the edge plate thickness calculation unit 6 are input to the correction amount calculation storage unit 13 via the calculation circuit changeover switches 12a and 12b, and the correction m calculation storage unit 13 is input to the correction amount calculation storage unit 13 for both thicknesses. The plate thickness calculation section 5.6 calculates the difference in the instrumental error characteristics of the gauge.
This is calculated as the difference between the outputs of and stored as the correction R.
この状態から実際の操業を開始するため第１図（Ｃ）の
クラウン測定モードの状態に切替えると、板厚演算部５
．６の出力は、演算回路切替スイッチ１２ａ、１２ｂの
切替りにより、クラウン量演算部１４に入力される。ま
た演算回路切替スイッチ１２ｄが開成されて、補正Ｗ演
粋記憶部１３に記憶された上記補正量がクラウン量演算
部１４に与えられる。クラウン量演算部１４では、従来
のように両厚さ計の板厚演算部５．６の出力の差を求め
るのみでなく、上記補正量に基づいて両厚さ計の器差特
性の差を補正して、鋼板１１の正確なりラウン聞を算出
する。そしてこのようにして得られた正確なりラウン団
は、クラウン母出力部８に出力される。In order to start the actual operation from this state, when switching to the state of the crown measurement mode shown in FIG. 1(C), the plate thickness calculation section
．． The output of No. 6 is input to the crown amount calculation unit 14 by switching the calculation circuit changeover switches 12a and 12b. Further, the arithmetic circuit changeover switch 12d is opened, and the correction amount stored in the correction W arithmetic storage section 13 is given to the crown amount calculation section 14. The crown amount calculation section 14 not only calculates the difference in the outputs of the plate thickness calculation sections 5.6 of the two thickness gauges as in the past, but also calculates the difference in the instrumental error characteristics of the two thickness gauges based on the above correction amount. After correction, the accurate round distance of the steel plate 11 is calculated. The accurate round group thus obtained is output to the crown mother output unit 8.
このようなりラウン測定をしばらく続けていると、両厚
さ計の器差特性の経時変化により両厚さ計の器差特性の
関係に変化が生じ、算出されるクラウン岳が徐々に不正
確なものとなっていく。If you continue measuring crowns like this for a while, the relationship between the instrumental error characteristics of both thickness gauges will change due to changes in the instrumental error characteristics of both thickness gauges, and the calculated crown height will gradually become inaccurate. It becomes a thing.
そこで操業の間隙等の短時間のチャンスを利用して、第
１図（ｂ）に示す校正モードを適宜に選択して実行する
。このとき基準板セット１６は図示しない台車等の運搬
手段によりオンラインの測定空間に挿入され、両厚さ計
ともオンライン位置にて基準板セット１６を測定する。Therefore, the calibration mode shown in FIG. 1(b) is appropriately selected and executed using a short time opportunity such as a gap in operation. At this time, the reference plate set 16 is inserted into the online measurement space by a transport means such as a cart (not shown), and both thickness gauges measure the reference plate set 16 at the online position.
この測定にあたり、両厚さ計と基準板セット１６とは上
述した移動制御手段により基準板の配列ビッヂｐにした
がって相対的に移動されて、これにより必要な基準板の
対ないしは貫通孔の対に関して両厚さ計による測定が行
なわれる。なお貫通孔の対ｉａａ、ｉ８ｂの測定は、上
述したように両厚さ計のゼロ点調整のために行なわれる
ものである。For this measurement, both thickness gauges and the reference plate set 16 are relatively moved by the above-mentioned movement control means according to the arrangement bits p of the reference plates, so that the required pairs of reference plates or pairs of through holes are moved relative to each other. Measurements are taken with both thickness gauges. Note that the measurement of the pair of through holes iaa and i8b is performed for zero point adjustment of both thickness gauges, as described above.
いま、説明の便宜上、基準板セット１６における基準板
の対として１０ｍｍ、 １５ｍｍ、 ２０ｔｒｖｎの３
種類の厚さのものが準備されているものとし、クラウン
伍を測定すべき鋼板１１の板厚が１７馴であったとする
。このとき、第１図（ｂ）の校正モードにおいては、基
準板セット１６における１５Ｍｎの基準板の対と２０履
の基準板の対とを測定し、このそれぞれの測定値に対し
て、補正ｍ演算記憶部１３は、両厚さ計の器差特性の差
を板厚演綽部５．６の出力の差として演算する。一方、
測定板厚設定部１５においては、上記１７ｒｒＩＩＲの
値を予め目標厚さとして設定しておく。Now, for convenience of explanation, there are three pairs of reference plates in the reference plate set 16: 10 mm, 15 mm, and 20 trvn.
It is assumed that steel plates of various thicknesses are prepared, and that the thickness of the steel plate 11 whose crown level is to be measured is 17 mm. At this time, in the calibration mode shown in FIG. 1(b), a pair of 15Mn reference plates and a pair of 20 reference plates in the reference plate set 16 are measured, and the correction m The calculation storage unit 13 calculates the difference in the instrumental error characteristics of both thickness gauges as the difference in the output of the plate thickness calculation unit 5.6. on the other hand,
In the measurement plate thickness setting section 15, the value of 17rrIIR is previously set as the target thickness.
そして、第１１１（ｃ）に示すクラウン測定モードの状
態になると、補正量演算記憶部１３には測定板厚設定部
１５から演算回路切替スイッチ１２Ｃを介して上記設定
された目標厚さが入力され、これに応じて補正ｍ演算記
憶部１３は、上述のようにして求めた１５ＩＩＩ＃Ｉの
基準板対に対する両厚さ計の器差特性の差と２０ｍ＋の
基準板対に対する両厚さ計の器差特性の差との関係から
、例えば内挿法により１７＃に対する両厚さ計の器差特
性の差を予測演算して、これを補正ａとして記憶する。Then, when the crown measurement mode shown in No. 111(c) is entered, the target thickness set above is inputted to the correction amount calculation storage section 13 from the measurement plate thickness setting section 15 via the calculation circuit changeover switch 12C. , Correspondingly, the correction m calculation storage unit 13 calculates the difference in the instrumental error characteristics of both thickness gauges for the 15III#I reference plate pair obtained as described above and the two thickness gauges for the 20m+ reference plate pair. From the relationship with the difference in the instrumental error characteristics, the difference in the instrumental error characteristics of both thickness gauges for 17# is predicted and calculated by, for example, an interpolation method, and this is stored as correction a.
そしてこの記憶された補正量は演算回路切替スイッチ１
２ｄを介してクラウンｍ演算部１４に与えられ、クラウ
ンｍ演算部１４は上述したように両厚さ計の板厚演算部
５．６の出力の差を求めるのみでなく、上記補正量に基
いて両厚さ計の器差特性の差を補正して、正確なりラウ
ン聞を算出する。This stored correction amount is calculated by the calculation circuit changeover switch 1.
2d to the crown m calculation unit 14, and the crown m calculation unit 14 not only calculates the difference between the outputs of the plate thickness calculation units 5.6 of both thickness gauges as described above, but also calculates the Then, the difference in the instrumental error characteristics of both thickness gauges is corrected to calculate the accurate round height.
このように、基準板セット１６を用いた校正においては
、目標厚さに最も近い上下の基準板に対してそれぞれ測
定を行なって、例えば内挿法を利用して目標厚さに対す
る補正量を求めるのである。In this way, in calibration using the reference plate set 16, measurements are performed on the upper and lower reference plates closest to the target thickness, and the correction amount for the target thickness is determined using, for example, an interpolation method. It is.
したがって基準板セット１６における基準板対としては
、予想される目標厚さの範囲に応じて数種類の厚さのも
のを予め準備しておけばよい。また目標厚さが準備した
基準板対の厚さと一致するときには、上記内挿法による
までもなく、１回の測定で補正量を算出できることはも
ちろんである。Therefore, the reference plate pairs in the reference plate set 16 may be prepared in advance with several different thicknesses depending on the expected target thickness range. Furthermore, when the target thickness matches the thickness of the prepared reference plate pair, it goes without saying that the correction amount can be calculated by one measurement, without using the interpolation method described above.
本発明の方法によれれば、校正単幅と手順が簡便であり
、かつその作業は極く短時間で完了できるため、校正の
頻度を増しても操業への影響は軽微でありながらクラウ
ン測定の信頼性が確保できる。従来の校正方式と比較し
た本発明の利点としては、次のような事項を挙げること
ができる。According to the method of the present invention, the single calibration width and procedure are simple, and the work can be completed in an extremely short time. Therefore, even if the frequency of calibration is increased, the effect on operation is slight, and crown measurement is possible. reliability can be ensured. The advantages of the present invention compared to conventional calibration methods include the following.
（１）基準板セット１６を使用することにより、各厚さ
計をメンテナンスエリアに移動させることなく、オンラ
イン位置で容易に各厚さ計相互の器差特性の比較（補正
値を得ること）ができるようになる。(1) By using the reference plate set 16, it is possible to easily compare the inter-instrumental error characteristics of each thickness gauge (obtain correction values) in an online position without moving each thickness gauge to a maintenance area. become able to.
（２）基準板セット１６の板厚の組み合わせを適当に選
択することにより、任急の測定厚さに対して、厚さ計相
互間の器差特性の補正が可能になる。(2) By appropriately selecting the combination of plate thicknesses of the reference plate set 16, it is possible to correct the instrumental error characteristics between the thickness gauges for the suddenly measured thickness.
（３） 厚さ計相互間の器差特性を補正するための校
正が手軽にできるように−なるため、操業上にＪ３いて
も無理なく、校正の頻度を増すことができる。(3) Since calibration for correcting instrumental error characteristics between thickness gauges can be easily performed, it is possible to increase the frequency of calibration without any difficulty even if J3 is in operation.
（４） 上記の結果、厚さ品１相互間の器差補正のた
めの校正が適時に実施できるようになり、クララン測定
における測定値の信頼性が高くなり、加えて器差の経時
変化に対しても、これに適切に対応することが可能にな
る。(4) As a result of the above, it is now possible to perform timely calibration to correct instrumental errors between thick products, increasing the reliability of measured values in Claran measurements, and in addition, improving the reliability of measurement values over time. However, it becomes possible to respond appropriately to this situation.
なお、上述の第１図（ａ）の校正を、本発明の基準板セ
ット１６を用いて行なうことも可能である。Note that the above-described calibration shown in FIG. 1(a) can also be performed using the reference plate set 16 of the present invention.
さらにこの発明は上述の実施例に限定されるものでなく
、例えば以下のような変形を行なうことが可能である。Further, the present invention is not limited to the above-described embodiments, and for example, the following modifications can be made.
（１） 上記実施例では鋼板厚さ計としているが、鋼
板外の材料の測定についても本発明の適用が可能である
。(1) Although the above embodiment uses a steel plate thickness gauge, the present invention can also be applied to measurement of materials other than steel plates.
（２） 上記実施例では対象装置を放射線式厚さ計と
しているが、その他の方式のオンライン厚さ計について
も本発明の適用が可能である。(2) In the above embodiment, the target device is a radiation type thickness meter, but the present invention can also be applied to other types of online thickness gauges.
（３） 上記実施例では被測定材が水平に置かれる場
合について述べているが、被測定材の姿勢は必ずしら水
平である必要はない。(3) Although the above embodiment describes the case where the material to be measured is placed horizontally, the posture of the material to be measured does not necessarily have to be horizontal.
（４） 上記実施例では２個の厚さ計を用いたクラウ
ン測定装置について説明したが、この発明による校正装
置は、所定間隔で配列された複数個の厚さ計を用いて被
測定材の所定の特性を測定する測定装置全般に対して広
く適用することができる。(4) In the above embodiment, a crown measuring device using two thickness gauges was explained, but the calibration device according to the present invention uses a plurality of thickness gauges arranged at predetermined intervals to measure the thickness of the material to be measured. It can be widely applied to all measurement devices that measure predetermined characteristics.
（発明の効果）
以上説明したように、この発明によれば、複数個の厚さ
計を用いて被測定材の所定の特性を測定する測定装置に
おいて、該複数個の厚さ削相互間の器差特性の相違とそ
の経時変化とを実際の操業上において簡便かつ容易に短
時間で補正することが可能であり、操業における測定の
信頼性を十分に高めることができる。(Effects of the Invention) As explained above, according to the present invention, in a measuring device that measures a predetermined characteristic of a material to be measured using a plurality of thickness gauges, the distance between the plurality of thickness gauges is Differences in instrumental error characteristics and their changes over time can be easily and easily corrected in a short time during actual operation, and the reliability of measurement during operation can be sufficiently increased.
第１図はこの発明による厚さ計の校正装置を適用した板
クラウン測定装置を示すブロック図、第２図は従来の板
クラウン測定装置を示すブロック図である。
１・・・センタ用放射線源
２・・・エツジ用放射線源
３・・・センタ用検出部
４・・・エツジ用検出部
５・・・センタ用板厚検出部
６・・・エツジ用板厚検出部
１３・・・クラウン量演算部
１４・・・補正量演算記憶部
１５・・・測定板厚設定部
１６・・・基準板セットFIG. 1 is a block diagram showing a plate crown measuring device to which the thickness gauge calibrating device according to the present invention is applied, and FIG. 2 is a block diagram showing a conventional plate crown measuring device. 1... Radiation source for center 2... Radiation source for edge 3... Detection section for center 4... Detection section for edge 5... Plate thickness detection section for center 6... Plate thickness for edge Detection section 13...Crown amount calculation section 14...Correction amount calculation storage section 15...Measurement plate thickness setting section 16...Reference plate set
Claims (1)
測定材の所定の特性を測定する測定装置に用いられて、
該複数個の厚さ計相互間の器差特性の相違を補正するた
めの校正装置であって、前記所定間隔の距離ごとに同一
の厚さの基準板が存在するように異なった厚さの複数の
基準板を配列した基準板セットと、 前記厚さ計の測定空間において前記基準板セットの基準
板の配列ピッチに関連して前記厚さ計と前記基準板セッ
トとを相対的に移動させるための移動制御手段と、 目標厚さを入力する手段と、 前記基準板セットに対する前記厚さ計の測定値と前記目
標厚さの値とから補正量を計算する手段と、 前記補正量に応じて前記被測定材に対する前記厚さ計の
実測値を補正する手段とを備える、厚さ計の校正装置。(1) Used in a measuring device that measures a predetermined characteristic of a material to be measured using a plurality of thickness gages arranged at predetermined intervals,
This is a calibration device for correcting differences in instrumental error characteristics between the plurality of thickness gauges, the calibration device being a calibration device for correcting differences in instrumental error characteristics between the plurality of thickness gauges, the thickness gauges having different thicknesses so that reference plates of the same thickness exist at each of the predetermined intervals. a reference plate set having a plurality of reference plates arranged; and relatively moving the thickness gauge and the reference plate set in relation to the arrangement pitch of the reference plates of the reference plate set in the measurement space of the thickness gauge. means for inputting a target thickness; means for calculating a correction amount from the measured value of the thickness gauge with respect to the reference plate set and the value of the target thickness; and means for correcting the actual measured value of the thickness gauge for the material to be measured.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60259163A JPS62118208A (en) | 1985-11-18 | 1985-11-18 | Correcting device for thickness gage |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60259163A JPS62118208A (en) | 1985-11-18 | 1985-11-18 | Correcting device for thickness gage |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62118208A true JPS62118208A (en) | 1987-05-29 |
Family
ID=17330221
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60259163A Pending JPS62118208A (en) | 1985-11-18 | 1985-11-18 | Correcting device for thickness gage |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62118208A (en) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009128471A (en) * | 2007-11-21 | 2009-06-11 | Hirose Electric Co Ltd | Connector for optical drop cable |
| JP6402272B1 (en) * | 2018-05-18 | 2018-10-10 | 大塚電子株式会社 | Thickness measuring device and thickness measuring method |
-
1985
- 1985-11-18 JP JP60259163A patent/JPS62118208A/en active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009128471A (en) * | 2007-11-21 | 2009-06-11 | Hirose Electric Co Ltd | Connector for optical drop cable |
| JP6402272B1 (en) * | 2018-05-18 | 2018-10-10 | 大塚電子株式会社 | Thickness measuring device and thickness measuring method |
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