JPS6196453A - 検査装置 - Google Patents
検査装置Info
- Publication number
- JPS6196453A JPS6196453A JP59217907A JP21790784A JPS6196453A JP S6196453 A JPS6196453 A JP S6196453A JP 59217907 A JP59217907 A JP 59217907A JP 21790784 A JP21790784 A JP 21790784A JP S6196453 A JPS6196453 A JP S6196453A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sector
- center point
- inspected
- ultrasonic
- ultrasonic wave
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/22—Details, e.g. general constructional or apparatus details
- G01N29/24—Probes
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
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- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は例えば超音波を用いて被検材中の欠陥や介在
物の有無を検査する検査装置、特にその超音波入射中心
点の位置ずれ防止に関するものである。
物の有無を検査する検査装置、特にその超音波入射中心
点の位置ずれ防止に関するものである。
第４図は従来の検査装置を示す斜視図、第５図はその断
面図、第６図は動作を説明するための断面図−Ｃあり、
（ｌｌゆ被検材、（□）は。。被検材（１）Ｋ対向する
超音波プローブ、 （３１Ｕこの超音波プローブを保持
するホルダ、（４）はこのホルダに取り付けられかつ被
検材（１）に接触するシューである。また（５）は第１
のジンバルフレーム、（６）はこの第１のジンバルフレ
ームに取り付けられかつホルダ（３）ヲ回転支持する第
１のピン、（７）は第２のジンバルフレーム、（８）は
この第２のジンバルフレームに取り付けられ、かつ第１
のジンバルフレーム（５）ヲ回転支持する第２のピンで
ありジンバル機構を構成している。
面図、第６図は動作を説明するための断面図−Ｃあり、
（ｌｌゆ被検材、（□）は。。被検材（１）Ｋ対向する
超音波プローブ、 （３１Ｕこの超音波プローブを保持
するホルダ、（４）はこのホルダに取り付けられかつ被
検材（１）に接触するシューである。また（５）は第１
のジンバルフレーム、（６）はこの第１のジンバルフレ
ームに取り付けられかつホルダ（３）ヲ回転支持する第
１のピン、（７）は第２のジンバルフレーム、（８）は
この第２のジンバルフレームに取り付けられ、かつ第１
のジンバルフレーム（５）ヲ回転支持する第２のピンで
ありジンバル機構を構成している。
従来の検査装置は上記のように構成され９例えは被検材
（１１が搬送されてくると、第２のジンバルフレーム（
７）勿第２のピン（８）とげ、水平かつ直角方向に支持
する検査装置押し付は機構（図示せず）によって、シュ
ー（４）は被検材（１）に接触させられる。
（１１が搬送されてくると、第２のジンバルフレーム（
７）勿第２のピン（８）とげ、水平かつ直角方向に支持
する検査装置押し付は機構（図示せず）によって、シュ
ー（４）は被検材（１）に接触させられる。
被検材（１）に曲が夛等の不整がある場合は、ホルダ（
３）およびシュー（４）が、上記被検材（１１の不整に
対し第１のピン（６）とホルダ（３）および、第２のピ
ン（８）と第１のジンバルフレーム（５）との回転動作
さらに。
３）およびシュー（４）が、上記被検材（１１の不整に
対し第１のピン（６）とホルダ（３）および、第２のピ
ン（８）と第１のジンバルフレーム（５）との回転動作
さらに。
検査装置押し付は機構による上下動作によって倣い、超
音波プローブ（２）が、被検材（１）の表面の法線方向
に一致するようになっている。
音波プローブ（２）が、被検材（１）の表面の法線方向
に一致するようになっている。
上記のような従来の検査装置では９例えば被検材（１）
の左端からＬのところに超音波入射中心点Ａを定め検査
する場合、第５図に示すように被検材（１）が水平状態
の場合は、第２のピン（８）の回転中心Ｂと、超音波入
射中心黒人は共に被検材（１）の左端からＬの距離のと
ころにあシ所定の検査をすることができるが、第６図に
示すように被検材（１１が例えば超音波入射中心点Ａま
わシに左方上に傾いた場合には、第２のピン（８）の回
転中心Ｂは、被検材（１）の左端からＬの距離のところ
におるが、超音波入射中心点Ａは、第２のピン（８）の
回転中心Ｂのまわシに回転、左方上Ｘに移動する。従っ
て超音波入射中心点は水平距離換算でΔＬだけ左方に移
動しておシ、被検材（１１の左端からＬの距離のところ
の検査音することができないという問題点があった。
の左端からＬのところに超音波入射中心点Ａを定め検査
する場合、第５図に示すように被検材（１）が水平状態
の場合は、第２のピン（８）の回転中心Ｂと、超音波入
射中心黒人は共に被検材（１）の左端からＬの距離のと
ころにあシ所定の検査をすることができるが、第６図に
示すように被検材（１１が例えば超音波入射中心点Ａま
わシに左方上に傾いた場合には、第２のピン（８）の回
転中心Ｂは、被検材（１）の左端からＬの距離のところ
におるが、超音波入射中心点Ａは、第２のピン（８）の
回転中心Ｂのまわシに回転、左方上Ｘに移動する。従っ
て超音波入射中心点は水平距離換算でΔＬだけ左方に移
動しておシ、被検材（１１の左端からＬの距離のところ
の検査音することができないという問題点があった。
ここでは第２のピン（８）の回転中心Ｂのまわりについ
て述べたが、第１のピン（６）の回転についても同様の
問題点があった。
て述べたが、第１のピン（６）の回転についても同様の
問題点があった。
この発明は、かかる問題点を解決するためになされたも
ので、被検材が例えば超音波入射中心点まわシに傾いた
場合でも、超音波入射中心点が移動せず所定の位置の検
査をすることができる検査装［１１−得ることを目的と
する。
ので、被検材が例えば超音波入射中心点まわシに傾いた
場合でも、超音波入射中心点が移動せず所定の位置の検
査をすることができる検査装［１１−得ることを目的と
する。
この発明に係る検査装置は、超音波入射中心点を中心に
、超音波プローブを保持するホルダおよびシューが揺動
動作できるように構成した揺動部をフレームに取りつけ
たものでおる。
、超音波プローブを保持するホルダおよびシューが揺動
動作できるように構成した揺動部をフレームに取りつけ
たものでおる。
〔作用〕。
この発明においては、超音波入射中心点と、超音波プロ
ーブの回転中心が一致しているので、被検材が例えば超
音波入射中心点まわシに傾いていても、超音波入射中心
点が移動することがない。
ーブの回転中心が一致しているので、被検材が例えば超
音波入射中心点まわシに傾いていても、超音波入射中心
点が移動することがない。
第１図はこの発明の一実施例を示す斜視図、第２図はそ
の断面図、第３図は動作を説明するための断面図でろ、
ｊ５．（１）は被検材、（２）〜（４）は上記従来装置
と全く同一のものである。（９）はホルダ（３）全支持
し超音波入射中心点を中心とする円の一部で作られた第
１のセクタ、員はこの第１のセクタを揺動動作させる第
１のセクタガイド、住υは上記第１のセクタガイドａ１
に取り付けられ、上記第１のセクタ（９）および第１の
セクタガイド顛による揺動動作方向とは直角方向に揺動
動作しかつ超音波入射中心点を中心とする円の一部で作
られた第２のセクタ、（ｔ２はこの第２のセクタを揺動
動作させる第２のセクタガイドであり、揺動部を構成し
ている。
の断面図、第３図は動作を説明するための断面図でろ、
ｊ５．（１）は被検材、（２）〜（４）は上記従来装置
と全く同一のものである。（９）はホルダ（３）全支持
し超音波入射中心点を中心とする円の一部で作られた第
１のセクタ、員はこの第１のセクタを揺動動作させる第
１のセクタガイド、住υは上記第１のセクタガイドａ１
に取り付けられ、上記第１のセクタ（９）および第１の
セクタガイド顛による揺動動作方向とは直角方向に揺動
動作しかつ超音波入射中心点を中心とする円の一部で作
られた第２のセクタ、（ｔ２はこの第２のセクタを揺動
動作させる第２のセクタガイドであり、揺動部を構成し
ている。
また（Ｉ３は第２のセクタガイドｆｉ３’を支持するフ
レームである。
レームである。
上記のように構成された検査装置においては。
第１のセクタ（９）および第２のセクタαυとも超音波
入射中心点を中心にもつ円の一部で作られているので、
超音波プローブ（２）、ホルダ＋３）およびシュー（４
）は、超音波入射中心点すわりに揺動動作することがで
きるので、被検材（１）の左端からＬのところに超音波
入射中心点Ａｖｒ一定め検査する場合、第２図に示すよ
うに被検材（１）が水平状態でも、第３図に示すように
被検材（１）が例えば超音波入射中心点Ａｔわりに左方
上に傾いた状態においても、超音波プローブ（２）の、
超音波入射中心点Ａは移動せずに、被検材（１）の左端
からＬのところにあって検査することができる。
入射中心点を中心にもつ円の一部で作られているので、
超音波プローブ（２）、ホルダ＋３）およびシュー（４
）は、超音波入射中心点すわりに揺動動作することがで
きるので、被検材（１）の左端からＬのところに超音波
入射中心点Ａｖｒ一定め検査する場合、第２図に示すよ
うに被検材（１）が水平状態でも、第３図に示すように
被検材（１）が例えば超音波入射中心点Ａｔわりに左方
上に傾いた状態においても、超音波プローブ（２）の、
超音波入射中心点Ａは移動せずに、被検材（１）の左端
からＬのところにあって検査することができる。
この発明は以上説明したとおシ、超音波スロープが超音
波入射中心点を中心に持つ円の一部で作られたセクタ上
を揺動動作することにより、被検材が傾いた場合でも超
音波入射中心点が位置ずれを起こさないという効果があ
る。
波入射中心点を中心に持つ円の一部で作られたセクタ上
を揺動動作することにより、被検材が傾いた場合でも超
音波入射中心点が位置ずれを起こさないという効果があ
る。
第１図はこの発明の一実施例を示す斜視図、第２図はそ
の断面図、第３図は動作を説明するための断面図、第４
図は従来の検査装置の斜視図、第５図はその断面図、第
６図は動作を説明するための断面図である。 図において、（２）は超音波プローブ、（３）はホルダ
。 （４）けシュー、（９）は第１のセクタ、α値は第１の
セクタガイド、αυけ第２のセクタ、 （１２は第２の
セクタガイド、α１はフレームである。 なお１図中同一符号は同一または相当部分を示す。
の断面図、第３図は動作を説明するための断面図、第４
図は従来の検査装置の斜視図、第５図はその断面図、第
６図は動作を説明するための断面図である。 図において、（２）は超音波プローブ、（３）はホルダ
。 （４）けシュー、（９）は第１のセクタ、α値は第１の
セクタガイド、αυけ第２のセクタ、 （１２は第２の
セクタガイド、α１はフレームである。 なお１図中同一符号は同一または相当部分を示す。
Claims (1)
- 被検材に対向する超音波プローブ、この超音波プローブ
を保持するホルダ、このホルダに取り付けられ、上記被
検材に接触するシュー、上記超音波プローブの超音波入
射中心点を中心にもつ円の一部で作られた第１のセクタ
、この第１のセクタを揺動動作させる第１のセクタガイ
ド、上記第１のセクタガイドに取り付けられ、上記第１
のセクタおよび第１のセクタガイドの揺動動作方向とは
直角方向に揺動動作しかつ超音波入射中心点を中心にも
つ円の一部で作られた第２のセクタ、この第２のセクタ
を揺動動作をさせる第２のセクタガイドを備えたことを
特徴とする検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59217907A JPS6196453A (ja) | 1984-10-17 | 1984-10-17 | 検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59217907A JPS6196453A (ja) | 1984-10-17 | 1984-10-17 | 検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6196453A true JPS6196453A (ja) | 1986-05-15 |
Family
ID=16711616
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59217907A Pending JPS6196453A (ja) | 1984-10-17 | 1984-10-17 | 検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6196453A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2009051241A1 (ja) * | 2007-10-19 | 2009-04-23 | Kabushiki Kaisha Toshiba | 倣い装置 |
| WO2009051242A1 (ja) | 2007-10-19 | 2009-04-23 | Kabushiki Kaisha Toshiba | 倣い装置 |
-
1984
- 1984-10-17 JP JP59217907A patent/JPS6196453A/ja active Pending
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2009051241A1 (ja) * | 2007-10-19 | 2009-04-23 | Kabushiki Kaisha Toshiba | 倣い装置 |
| WO2009051242A1 (ja) | 2007-10-19 | 2009-04-23 | Kabushiki Kaisha Toshiba | 倣い装置 |
| JP2009101428A (ja) * | 2007-10-19 | 2009-05-14 | Toshiba Corp | 倣い装置 |
| JP2009115782A (ja) * | 2007-10-19 | 2009-05-28 | Toshiba Corp | 倣い装置 |
| EP2192406A1 (en) * | 2007-10-19 | 2010-06-02 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Profiling apparatus |
| EP2192406A4 (en) * | 2007-10-19 | 2011-05-04 | Toshiba Kk | PROFILE DEVICE |
| US7987723B2 (en) | 2007-10-19 | 2011-08-02 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Copying apparatus |
| KR101147368B1 (ko) * | 2007-10-19 | 2012-05-23 | 가부시끼가이샤 도시바 | 모방 장치 |
| US8191422B2 (en) | 2007-10-19 | 2012-06-05 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Copying apparatus |
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