JPS582740A - 角鋼の検査方法 - Google Patents

角鋼の検査方法

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Publication number
JPS582740A
JPS582740A JP56101422A JP10142281A JPS582740A JP S582740 A JPS582740 A JP S582740A JP 56101422 A JP56101422 A JP 56101422A JP 10142281 A JP10142281 A JP 10142281A JP S582740 A JPS582740 A JP S582740A
Authority
JP
Japan
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square steel
flaw detection
flaws
flaw
length
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP56101422A
Other languages
English (en)
Inventor
Koji Inazaki
稲崎 宏治
Kozo Ozaki
小崎 巧三
Tsugio Matsumoto
松本 次男
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nippon Steel Corp
Original Assignee
Nippon Steel Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Steel Corp filed Critical Nippon Steel Corp
Priority to JP56101422A priority Critical patent/JPS582740A/ja
Publication of JPS582740A publication Critical patent/JPS582740A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N29/00Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
    • G01N29/22Details, e.g. general constructional or apparatus details
    • G01N29/26Arrangements for orientation or scanning by relative movement of the head and the sensor

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は断面が正方形の長尺鋼材(以下角鋼と称する)
の検査方法に関するものである。
最近角鋼の品質要求水準状一段と高度化してきており、
これに対処するため渦流探傷・磁気探傷に代表される表
面検査及び超音波探傷に代表される内面検査等の各種非
破壊検査が品質保証手段としてとり入れられてきている
。特に内質欠陥については最近、連続鋳造法の普及によ
シ、全断面にわたって均等に欠陥が発生する傾向がある
ため、角鋼中心部の欠陥は勿論のこと表面直下の皮下介
在物を含めた全断面、全長にわたっての厳しい検査が要
求されてきている。
一方、従来の角鋼の超音波探傷は鞍型の偉い装置による
上部2面からの水膜法及びタシク貫通による上2面又は
下・2面からの水浸法にて行われてきたが、はとんど中
心探傷用としてのみで皮下近傍を含めた全断面の探傷は
行われていなかった。
即ち、第1図に示すように角鋼1を断面からみて上面よ
り垂直に10−づ2にて超音波3を発受信して角鋼1内
を探傷すると角鋼表面からの反射エコー6ムは不感帯W
aを有してお抄、この部分に存在する欠陥はこの信号と
重複するため検出不可能であ抄、又角鋼は一般に厚板、
バイづ等に比べ表面肌が悪いこともあって不感帯Waは
20−程度生じていた。図中5ムは内部欠陥5の探傷エ
コーである。又、l−3o−づ当妙のビーム幅は通常2
0〜30■であるが、従来は中心部探傷用として1衝当
D1〜2個配置されているに過ぎなかった。この丸め最
近底面部の不感帯wbが小さいことに着目して、形状に
よる底面エコー7ムの位曾変動による不感帯増を、底面
エコー7ムの位置を基準としてゲート4の幅を制御する
ことにより解消して不感帯幅を2■以下まで縮少させ、
角鋼の幅方向k1面当り複数個のづ0−プ2,2.2を
配列して、づ0−プに相対する面一の皮下近傍の欠陥を
全幅に亘って検出する方法が本発明者勢によって提案さ
れているが、この場合全面に亘って探傷するためには角
鋼の4面からの探傷が必要となる。
図中7は角鋼の面B上に配置した一5o−づであり、こ
の面からの探傷状況を不感帯Wa I lb 。
探傷エコー5ム′、ゲート4′として示す。
又、第2図に示すように、磁気及び渦流探傷に代表され
る角鋼の表置疵検査においても探傷づ0−18,8′を
上面より複数個配置するととKよ抄角鋼1のム、B面に
おける探傷は可能であるが、全面検査上残りの2面0.
Dを含めた4面からの探傷が必要である。
しかしながら、これら4面からの探傷を全長に亘って行
うには、角鋼固定、探傷ヘッド走行方式では、上2面か
らの探傷のみのため一般の探傷には適さず、探傷ヘッド
を固定し角鋼を長さ方向に移送させながら上下面からの
貫通方式にて探傷を行うのが有利であるが、との場合搬
送時の振動等が曲り、ネジレ等の大きい未矯正材の場合
問題となり、一般に矯正を施し丸材料のみしか適さず、
特に高速探傷時において問題が多く、大幅に処理能力を
落さざゐを得ないという問題があった。
本発明はこのような問題を有利に解決するために創案し
たものであ)、被検材固彎、探傷ヘッド走行方式によ抄
全長の探傷を行う角鋼の検査方法において、−一の隣接
する2面に上面から倣う破型探傷用ヘッドを備えた探傷
装置と、該角鋼に対する180度断面金転機を設け、角
鋼を上面の隣接する2面より全長にわたって探傷した後
180度断面金反転させて残りの2面から再度探傷する
ことを特徴とす為角鋼の検査方法である。
以下本発明を図面に基づいて詳細に説明する。
第3図は本発明方法の実施態様を説明する断面図である
。本発明社第3図に示すように角鋼lを固定しその上面
ム、Bに倣って探傷ヘッド14ムを角鋼の長さ方向に走
行させるととKより探傷した後角鋼1を180度反転せ
しめてC10面を上面として探傷ヘッド14Bを走行さ
せて角鋼1の全面を全長にわたって探傷せしめるもので
ある。
第4図は本発明の実施例を示す平面図であり、第5図社
その側面図である。本発明において使用する検査装置は
第4図に示すように多数のVO−う−10ム、10B・
・・・からなる搬送装置10と角鋼を上2面から探傷す
る探傷ヘッドト4ム。
14Bを備えてレール13上を角鋼の長さ方向に走行す
る探傷装置12と、探傷ヘッド14ムにて一度探傷した
角鋼lの断面方向の位置を180度反転させて横方向へ
移載する反転装置11とからなる。
伺、探傷装置12には角鋼lと平行に敷設されたレール
13上を移動可能な台車にアー617を設け、緩衝装置
15ム、15Bを介してそれぞれ複数個の10−づを備
えた探傷ヘッド14ム、14Bを吊設し、エアーシリジ
ター等の駆動装置18にて探傷ヘッド14ム、14Bを
上下移動可能としである。
従って角鋼lを人情搬送装置10により第4図右側から
固定ストッパー19に当るまで搬送し固定すると、第1
の探傷ヘッド14ムを走行させて上部2面からの探傷を
行いその後、角鋼lを反転装置11にて断面方向を半転
した後、探傷台16に移載し、探傷ヘッド14Bを走行
させて残りの2面を全長にわたや探傷する。
角鋼1を2度にわたって探傷する際、探傷ライプの処理
能力を落とさすオシうイシにて検査可能とするため2台
の探傷ヘッド14ム、14Bと、反転装置11を組み合
わせて構成した。伺、探傷ヘッドを1台とし、同一位置
にて角鋼を半転させ全断面の検査を行いうろことは勿論
である。
以上述べたように、本発明によれば角鋼の全断面の非破
壊検査を角鋼搬送時の振動の悪影響を受けずに全長に亘
って精度良く安定して検査することが可能であ抄、角鋼
の品質保証上大きな効果を奏するものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は角鋼の超音波探傷を説明する断面図、11E2
図は角鋼の表面探傷を説明する断面図、第3図は本発明
を説明する断面図、第4図は本発明の詳細な説明する平
面図、第5図はその側面図である。 l・・・角鋼     2・・・づ0−づ3・・・超音
波     5・・・欠16・・・表面エコー   7
・・・底面エコー8・・・探傷用づ0−づ 10・・・
搬送装置11・・・反転装置    12・・・探傷装
置13・・・ロー1,14ム、14B・・・探傷ヘッド
15ム、15B・・・緩衝装[16・・・探傷台1B・
・・駆動装置。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 被検材固定、探傷ヘッド走行方式により全長の探傷を行
    う角鋼の検査方法において、角鋼の隣接する2面に上面
    から倣う鞍型探傷用ヘッドを備えた探傷装置と、該角鋼
    に対する180度断面金転機構を設け、角鋼を上面の隣
    接する2面より全長にわたって探傷した後180度断面
    金反転させて残りの2面から再賓探傷することを特徴と
    する角鋼の検査方法。
JP56101422A 1981-06-30 1981-06-30 角鋼の検査方法 Pending JPS582740A (ja)

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JP56101422A JPS582740A (ja) 1981-06-30 1981-06-30 角鋼の検査方法

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JP56101422A JPS582740A (ja) 1981-06-30 1981-06-30 角鋼の検査方法

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JPS582740A true JPS582740A (ja) 1983-01-08

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ID=14300265

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JP56101422A Pending JPS582740A (ja) 1981-06-30 1981-06-30 角鋼の検査方法

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60183552A (ja) * 1984-03-01 1985-09-19 Tokyo Keiki Co Ltd 角ビレツト表面疵の超音波探傷方法およびその装置
JPH0829407B2 (ja) * 1989-08-22 1996-03-27 クーパー インダストリーズ,インコーポレイテッド はんだ付け具
US6343503B1 (en) * 1998-12-08 2002-02-05 Samsung Electronics Co., Ltd. Module appearance inspection apparatus

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPS60183552A (ja) * 1984-03-01 1985-09-19 Tokyo Keiki Co Ltd 角ビレツト表面疵の超音波探傷方法およびその装置
JPH0829407B2 (ja) * 1989-08-22 1996-03-27 クーパー インダストリーズ,インコーポレイテッド はんだ付け具
US6343503B1 (en) * 1998-12-08 2002-02-05 Samsung Electronics Co., Ltd. Module appearance inspection apparatus

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