JPS6194246A - 光学式ヘッドのトラッキング誤差検出方法 - Google Patents
光学式ヘッドのトラッキング誤差検出方法Info
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- JPS6194246A JPS6194246A JP59215860A JP21586084A JPS6194246A JP S6194246 A JPS6194246 A JP S6194246A JP 59215860 A JP59215860 A JP 59215860A JP 21586084 A JP21586084 A JP 21586084A JP S6194246 A JPS6194246 A JP S6194246A
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- G11B7/095—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following specially adapted for discs, e.g. for compensation of eccentricity or wobble
- G11B7/0956—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following specially adapted for discs, e.g. for compensation of eccentricity or wobble to compensate for tilt, skew, warp or inclination of the disc, i.e. maintain the optical axis at right angles to the disc
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
本発明は、光学式ヘッドのいわゆるプッシュプル方式の
トラッキング誤差検出方式に関する。
トラッキング誤差検出方式に関する。
［従来の技術］
以下°に第１１図を参照して、従来の光学式トラッキン
グ誤差検出方式について説明する。（１）はレーザ光源
としての半導体レーザ素子（レーザダイオード）で、こ
れよりの発散レーザビームはコリメータレンズ（２）を
通過することにより平行ビームになされ、ビームスプリ
フタ（３）によって９０度偏向せしめられた後、対物レ
ンズ（４）に入射する。この対物レンズ（４）よりの集
束ビームは、光学式記録媒体としての光ディスク（５）
を照射して、そこに焦点を結ぶ、光ディスク（５）より
の出射ビーム、即ち反射ビームは再び対物レンズ（４）
入射して平行ビームとなされ、ビームスプリンタ（３）
通過して２分割光検出器（６）に入射する。
グ誤差検出方式について説明する。（１）はレーザ光源
としての半導体レーザ素子（レーザダイオード）で、こ
れよりの発散レーザビームはコリメータレンズ（２）を
通過することにより平行ビームになされ、ビームスプリ
フタ（３）によって９０度偏向せしめられた後、対物レ
ンズ（４）に入射する。この対物レンズ（４）よりの集
束ビームは、光学式記録媒体としての光ディスク（５）
を照射して、そこに焦点を結ぶ、光ディスク（５）より
の出射ビーム、即ち反射ビームは再び対物レンズ（４）
入射して平行ビームとなされ、ビームスプリンタ（３）
通過して２分割光検出器（６）に入射する。
この２分割光検出器（６）は、第１２図に示すように２
つの光検出部（６Ａ）、（６Ｂ）からなっており、対物
レンズ（４）からの平行ビームによる円形のスポットＳ
Ｐが２つの光検出部（６Ａ）、（６Ｂ）にわたって丁度
半分ずつ位置している場合は、対物レンズ（４）よりの
集束ビームが光ディスク（５）のトランクの丁度真中を
走査していることになる。従って、これら２つの光検出
部（６Ａ）、（６Ｂ）からの両検出出力を差動増幅器（
７）に供給してその差を採れば、出方端子（８）にトラ
ッキング誤差信号が得られる。
つの光検出部（６Ａ）、（６Ｂ）からなっており、対物
レンズ（４）からの平行ビームによる円形のスポットＳ
Ｐが２つの光検出部（６Ａ）、（６Ｂ）にわたって丁度
半分ずつ位置している場合は、対物レンズ（４）よりの
集束ビームが光ディスク（５）のトランクの丁度真中を
走査していることになる。従って、これら２つの光検出
部（６Ａ）、（６Ｂ）からの両検出出力を差動増幅器（
７）に供給してその差を採れば、出方端子（８）にトラ
ッキング誤差信号が得られる。
［発明が解決しようとする問題点］
しかしながら、かかる従来の光学式ヘッドのトラッキン
グ誤差検出方式では、第１１図に破線で示すように、対
物レンズ（４）が光ディスク（５）に対し平行に移動す
ると、２分割光検出器（６）は固定されているため、そ
の上のスッポ）ＳＰの位置が、第１２図に破線で示すよ
うにずれて、出力端子（８）よりのトラッキングＲ差信
号に直流変動が生じる。即ち、第４図Ａに示す如く、対
物レンズ（４）の位置が変動すると、トラッキング誤差
信号は第４図Ｂに示す如く、その直流が変動してしまう
。
グ誤差検出方式では、第１１図に破線で示すように、対
物レンズ（４）が光ディスク（５）に対し平行に移動す
ると、２分割光検出器（６）は固定されているため、そ
の上のスッポ）ＳＰの位置が、第１２図に破線で示すよ
うにずれて、出力端子（８）よりのトラッキングＲ差信
号に直流変動が生じる。即ち、第４図Ａに示す如く、対
物レンズ（４）の位置が変動すると、トラッキング誤差
信号は第４図Ｂに示す如く、その直流が変動してしまう
。
又、第１３図に示す如く、光ディスク（５）にラディア
ルスキューが生じると、同様に２分割光検出器（６）は
固定されているため、その上のスソポ）ＳＰの位置が、
第１４図に破線で示すようにずれて、出力端子（８）よ
りのトラッキング誤差信号に直流変動が生じる。従って
、この場合も、トラッキング誤差信号は第４図Ｂに示す
如く、その直流が変動してしまう。
ルスキューが生じると、同様に２分割光検出器（６）は
固定されているため、その上のスソポ）ＳＰの位置が、
第１４図に破線で示すようにずれて、出力端子（８）よ
りのトラッキング誤差信号に直流変動が生じる。従って
、この場合も、トラッキング誤差信号は第４図Ｂに示す
如く、その直流が変動してしまう。
かかる点に鑑み本発明は、対物レンズの横移動や光学式
記録媒体のラディアルスキューによる、トラッキング誤
差信号の直流変動を除去することのできる光学式ヘッド
のトラッキング誤差検出方式を提案しようとするもので
ある。
記録媒体のラディアルスキューによる、トラッキング誤
差信号の直流変動を除去することのできる光学式ヘッド
のトラッキング誤差検出方式を提案しようとするもので
ある。
［問題点を解決するための手段］
本発明による光学式ヘッドのトラッキング誤差検出方式
は、一対のビームを対物レンズ（４）をを介して光学式
記録媒体（５）に対し、そのトラックピッチの略１／２
の奇数倍の間隔を以て照射せしめ、光学式記録媒体（５
）よりの一対の出射ビームを夫々一対の２分割光検出素
子（６１）、（６２）に入射せしめ、この一対の２分割
光検出素子（６，）、（６２）よりの各両検出出力の各
差出力の差からトラッキング誤差信号を得るようにした
ことを特徴とするものである。
は、一対のビームを対物レンズ（４）をを介して光学式
記録媒体（５）に対し、そのトラックピッチの略１／２
の奇数倍の間隔を以て照射せしめ、光学式記録媒体（５
）よりの一対の出射ビームを夫々一対の２分割光検出素
子（６１）、（６２）に入射せしめ、この一対の２分割
光検出素子（６，）、（６２）よりの各両検出出力の各
差出力の差からトラッキング誤差信号を得るようにした
ことを特徴とするものである。
［作用］
かかる本発明によれば、一対の２分割光検出素子（６１
）、（６２）よりの各両検出出力の各差出力の差から得
たトラッキング誤差信号には、直流変動は殆ど含まれな
いことになる。
）、（６２）よりの各両検出出力の各差出力の差から得
たトラッキング誤差信号には、直流変動は殆ど含まれな
いことになる。
［実施例］
以下に第１図を参照して、本発明の一実施例を詳細に説
明する。第１図において、（１１）及び′（１２）は互
いに波長をλ１、λ２の如く異にする半導体レーザ素子
（レーザダイオード）であって、夫々よりの発散レーザ
ビームは夫々コリメータレンズ（２１）、（２２）に入
射することによって平行ビームになされる。
明する。第１図において、（１１）及び′（１２）は互
いに波長をλ１、λ２の如く異にする半導体レーザ素子
（レーザダイオード）であって、夫々よりの発散レーザ
ビームは夫々コリメータレンズ（２１）、（２２）に入
射することによって平行ビームになされる。
（１０）は光学素子で、図において下から上に順に、ダ
イクロイックミラー（１５） 、１／２波長板（１４）
、偏光ビームスプリッタ（１１）、ダイクロイックミ
ラー（１２）が一体に形成されている。
イクロイックミラー（１５） 、１／２波長板（１４）
、偏光ビームスプリッタ（１１）、ダイクロイックミ
ラー（１２）が一体に形成されている。
しかして、コリメータレンズ（２）よりの平行ビームは
、ダイクロイックミラー（１２）によって９０度偏向せ
しめられ、１／４波長板（１３）を通じて対物レンズ（
４）に入射し、これよりの集束ビームは光ディスク（５
）に入射する。又、コリメータレンズ（２１）よりの平
行ビームは、偏光ビームスプリッタ（１１）によって９
０度偏向せしめられた後、ダイクロイックミラー（１２
）−１／４波長板（１３）を通じて対物レンズ（４）に
入射し、これよりの集束ビームは光ディスク（５）に入
射する。
、ダイクロイックミラー（１２）によって９０度偏向せ
しめられ、１／４波長板（１３）を通じて対物レンズ（
４）に入射し、これよりの集束ビームは光ディスク（５
）に入射する。又、コリメータレンズ（２１）よりの平
行ビームは、偏光ビームスプリッタ（１１）によって９
０度偏向せしめられた後、ダイクロイックミラー（１２
）−１／４波長板（１３）を通じて対物レンズ（４）に
入射し、これよりの集束ビームは光ディスク（５）に入
射する。
光ディスク（５）よりの反射ビームは蛤物レンズ（４）
゛に入射して平行ビームとなされ、その平行ビームが、
１／４波長板（１３）−ダイクロイックミラー（１２）
−偏光ビームスプリソタ（１１）を通じて１７２波長板
（１４）に入射する。１７２波長板（１４）よりのビー
ムのうち、波長がλ１のビームはダイクロイックミラー
（１５）を通過して一方の２分割光検出器（６Ｉ）に入
射し、波長がλ２のビームはグイクロインクミラー（１
５）によって９０度偏光せしめられて他方の２分割光検
出器（６２）に入射する。
゛に入射して平行ビームとなされ、その平行ビームが、
１／４波長板（１３）−ダイクロイックミラー（１２）
−偏光ビームスプリソタ（１１）を通じて１７２波長板
（１４）に入射する。１７２波長板（１４）よりのビー
ムのうち、波長がλ１のビームはダイクロイックミラー
（１５）を通過して一方の２分割光検出器（６Ｉ）に入
射し、波長がλ２のビームはグイクロインクミラー（１
５）によって９０度偏光せしめられて他方の２分割光検
出器（６２）に入射する。
次ぎに、第３図を参照して、光ディスク（５）上のビー
ムの位置関係について説明する。この場合の光ディスク
（５）は第３図Ａに示すように、情報信号を記録すべき
渦巻き状のプリグループＧＲとその間のランド部ＬＤと
を有し、このプリグループＧＲに記録トラックが形成さ
れる。第３図Ｂにおいて、Ｐはトランクピンチを示す。
ムの位置関係について説明する。この場合の光ディスク
（５）は第３図Ａに示すように、情報信号を記録すべき
渦巻き状のプリグループＧＲとその間のランド部ＬＤと
を有し、このプリグループＧＲに記録トラックが形成さ
れる。第３図Ｂにおいて、Ｐはトランクピンチを示す。
半導体レーザ素子（１１）、（１２）の位置決めにより
、対物レンズ（４）からの波長がλ１のビームのスポッ
トＳＰ１及び波長がλ２のビームのスポットＳＰ２の間
隔が丁度トラックピッチＰの１／２となるように設定す
る。
、対物レンズ（４）からの波長がλ１のビームのスポッ
トＳＰ１及び波長がλ２のビームのスポットＳＰ２の間
隔が丁度トラックピッチＰの１／２となるように設定す
る。
この第１図の実施例の構成は、２分割光検出器（６１）
、（６２）の配置が容易であり、その位置決めの精度も
低くてよい。
、（６２）の配置が容易であり、その位置決めの精度も
低くてよい。
次ぎに、第２図を参照して、この実施例の回路系を説明
する。一方の２分割光検出器（６１）の２つの光検出部
（６Ａ１）、（６Ｂ＋）よりの両検出出力は差動増幅器
（７１）に供給されて、差出力ＴＥ、が得られる。他方
の２分割光検出器（６２）の２つの光検出部（６Ａ２）
、（６Ｂ２）よりの両検出出力は差動増幅器（７□）に
供給されて、差出力ＴＥ２が得られる。差動増幅器（７
，）よりの差出力ＴＥ、は他の差動増幅器（２２）に供
給される。差動増幅器（７２）よりの出力ＴＥ２は、可
変利得増幅器（その利得をＧとする）（２１）を介して
差動増幅器（２２）に供給される。そして、差動増幅器
（２２）よりの差出力ＴＥがトラッキング誤差信号とし
て出力端子（８）に得られる。
する。一方の２分割光検出器（６１）の２つの光検出部
（６Ａ１）、（６Ｂ＋）よりの両検出出力は差動増幅器
（７１）に供給されて、差出力ＴＥ、が得られる。他方
の２分割光検出器（６２）の２つの光検出部（６Ａ２）
、（６Ｂ２）よりの両検出出力は差動増幅器（７□）に
供給されて、差出力ＴＥ２が得られる。差動増幅器（７
，）よりの差出力ＴＥ、は他の差動増幅器（２２）に供
給される。差動増幅器（７２）よりの出力ＴＥ２は、可
変利得増幅器（その利得をＧとする）（２１）を介して
差動増幅器（２２）に供給される。そして、差動増幅器
（２２）よりの差出力ＴＥがトラッキング誤差信号とし
て出力端子（８）に得られる。
次ぎに、この差動増幅器（２２）から得られるトラッキ
ング誤差信号は、殆ど直流変動が無いことを、第４図を
も参照して、数式を用いて説明しよう。
ング誤差信号は、殆ど直流変動が無いことを、第４図を
も参照して、数式を用いて説明しよう。
まず、対物レンズ（４）の移動位置Ｘ（第４図Ｃ参照）
を次式のように表す。
を次式のように表す。
Ｘ ＝Ｘ （１ｓｉｎ （２πＴ ／Ｔ ｏ）但し、
Ｘｏは振幅、Ｔは時間、Ｔ、は周期である。
Ｘｏは振幅、Ｔは時間、Ｔ、は周期である。
かくすると、差動増幅器（７１）の差出力ＴＥ。
（第４図Ｃ参照）は次式のように表される。
ＴＥｌ ＝Ａ １ｓｉｎ （２πＸ／Ｐ）＋Ｂ Ｈ
ｓｉｎ （２ｒｒＴ ／Ｔ ｏ）但し、Ａ、はトラバ
ース信号成分の振幅、Ｂ。
ｓｉｎ （２ｒｒＴ ／Ｔ ｏ）但し、Ａ、はトラバ
ース信号成分の振幅、Ｂ。
は直流変動分の振幅である。
又、差動増幅器（７２）の差出力ＴＥ２（第４図Ｃ参照
）は次式のように表される。
）は次式のように表される。
ＴＥ２＝Ａ２ｓｉｎ （２π（Ｘ＋Ｐ／２）／Ｐ）十８
２ ｓｉｎ （２ｙｃＴ ／Ｔ ｇ ）＝ −Ａ ２
ｓｉｎ （２πＸ／Ｐ）＋８２ｓｉｎ （２πＴ
／Ｔｏ） 可変利得増幅器（２１）の利得ＧをＢｌ／Ｂ２に設定す
る。かくすると、差動増幅器（２２）の差出力ＴＥ（第
４図り参照）は次式の如く表される。
２ ｓｉｎ （２ｙｃＴ ／Ｔ ｇ ）＝ −Ａ ２
ｓｉｎ （２πＸ／Ｐ）＋８２ｓｉｎ （２πＴ
／Ｔｏ） 可変利得増幅器（２１）の利得ＧをＢｌ／Ｂ２に設定す
る。かくすると、差動増幅器（２２）の差出力ＴＥ（第
４図り参照）は次式の如く表される。
ＴＥ＝ＴＥ＋ （Ｂ ＋ ／Ｂ ２ ） ＴＥ２＝
（Ａ＋ ＋ （Ｂ＋ ／Ｂ２ ）＾２） ・ｓｉｎ
（２πＸ ／Ｐ ） この式から、第２図の出力端子（８）に得られるトラッ
キング誤差信号には、直流変動分が含まれていないこと
が分かる。
（Ａ＋ ＋ （Ｂ＋ ／Ｂ２ ）＾２） ・ｓｉｎ
（２πＸ ／Ｐ ） この式から、第２図の出力端子（８）に得られるトラッ
キング誤差信号には、直流変動分が含まれていないこと
が分かる。
次ぎに、第５図を参照して、本発明の他の実施例を説明
する。半導体レーザ素子（１）よりの発散レーザビーム
をコリメータレンズ（２）に入射せしめて平行ビームに
した後、回折格子（１７）に入射せしめて０次及び＋１
次、−１次ビームに分割する。これらビームは偏光ビー
ムスプリッタ（１１）−１／４波長板（１３）を通じて
対物レンズ（４）に入射せしめ、その集束ビームを光デ
ィスク（５）に照射する。光ディスク（５）よりの反射
ビームは、対物レンズ（４）に入射して平行ビームにな
され、１／４波長板（１３）を通じて偏光ビームスプリ
ッタ（１１）に入射して９０度偏向せしめられた後、集
束レンズ（１８）によって集束せしめられて、２分割光
検出器（６）に入射せしめられる。この２分割光検出器
（６）は第６図にしめず如く、２つの２分割光検出器（
６，）、（６２）から構成されている。
する。半導体レーザ素子（１）よりの発散レーザビーム
をコリメータレンズ（２）に入射せしめて平行ビームに
した後、回折格子（１７）に入射せしめて０次及び＋１
次、−１次ビームに分割する。これらビームは偏光ビー
ムスプリッタ（１１）−１／４波長板（１３）を通じて
対物レンズ（４）に入射せしめ、その集束ビームを光デ
ィスク（５）に照射する。光ディスク（５）よりの反射
ビームは、対物レンズ（４）に入射して平行ビームにな
され、１／４波長板（１３）を通じて偏光ビームスプリ
ッタ（１１）に入射して９０度偏向せしめられた後、集
束レンズ（１８）によって集束せしめられて、２分割光
検出器（６）に入射せしめられる。この２分割光検出器
（６）は第６図にしめず如く、２つの２分割光検出器（
６，）、（６２）から構成されている。
光ディスク（５）上には、第７図に示す如く、０次及び
＋１次、−１次ビームに対応してスポットＳＰ２、ＳＰ
ｌ、ＳＦ３が形成されるが、回折格子（１７）を回転さ
せることにより、このうちスポットＳ Ｐ １、Ｓ Ｐ
２の間隔をトランクピッチＰの１／２に設定し、これ
らスポットを２分割光検出器（６１）、（６□）で検出
するようにし、スポットＳＰ３は使用しない。
＋１次、−１次ビームに対応してスポットＳＰ２、ＳＰ
ｌ、ＳＦ３が形成されるが、回折格子（１７）を回転さ
せることにより、このうちスポットＳ Ｐ １、Ｓ Ｐ
２の間隔をトランクピッチＰの１／２に設定し、これ
らスポットを２分割光検出器（６１）、（６□）で検出
するようにし、スポットＳＰ３は使用しない。
尚、電気系の構成は上述の第２図と同様であるので、重
複説明は省略する。
複説明は省略する。
この実施例は、半導体レーザ素子が１個で済み、又、両
２分割光検出器が同一平面上にあるため、２分割光検出
器の移動に対するスポットの位置の許容度が大となる等
の利点がある。
２分割光検出器が同一平面上にあるため、２分割光検出
器の移動に対するスポットの位置の許容度が大となる等
の利点がある。
上述の実施例では、光ディスク（５）上のスポット間隔
を厳密にトラックピッチＰの１７２に設定しないと、ト
ラッキング誤差信号の直流変動は完全には取り切れない
。そこで、光ディスク（５）上のスポット間隔を厳密に
トラックピッチＰの１／２に設定しなくても、直流変動
を確実に除去することができるようにした実施例を第８
図を参照して説明する。
を厳密にトラックピッチＰの１７２に設定しないと、ト
ラッキング誤差信号の直流変動は完全には取り切れない
。そこで、光ディスク（５）上のスポット間隔を厳密に
トラックピッチＰの１／２に設定しなくても、直流変動
を確実に除去することができるようにした実施例を第８
図を参照して説明する。
即ち、上述の第５図において、光ディスク（５）上には
、第７図及び第９図に示す如く、０次及び＋１次、−１
次ビームに対応してスポットＳＰ２．５ＰＩｓ ＳＰ３
が形成されるが、これらスポットＳＰＩ 、ＳＰ２ ％
ＳＰ３の間隔をトラックピッチＰの１／２に略均しい
Ｑに設定し、これらスポットを２分割光検出器（６１）
、（６２）、（６３）にて検出するようにする。
、第７図及び第９図に示す如く、０次及び＋１次、−１
次ビームに対応してスポットＳＰ２．５ＰＩｓ ＳＰ３
が形成されるが、これらスポットＳＰＩ 、ＳＰ２ ％
ＳＰ３の間隔をトラックピッチＰの１／２に略均しい
Ｑに設定し、これらスポットを２分割光検出器（６１）
、（６２）、（６３）にて検出するようにする。
そして、第１の２分割光検出器（６１）の２つの光検出
部（６ＡＩ）、（６Ｂ＋）よりの両検出出力は差動増幅
器（７１）に供給されて、差出力ＴＥ、が得られる。第
２の２分割光検出器（６２）の２つの光検出部（６Ａ２
）、（６Ｂ２）よりの両検出出力は差動増幅器（７２）
に供給されて、差出力ＴＥ２が得られる。第３の２分割
光検出器（６３）の２つの光検出部（６Ａ３）、（６Ｂ
３）よりの両検出出力は差動増幅器（７３）に供給され
て、差出力ＴＥ３が得られる。差動増幅器（７１）より
の差出力ＴＥ、は他の差動増幅器（２２）に供給される
。差動増幅器（７２）よりの出力ＴＥ２及び差動増幅器
（７１）よりの出力の可変利得増幅器（その利得を０２
とする）（２３）を介した出力を加算し、その加算出力
を、更に可変利得増幅器（その利得をＧ、とする）（２
１）を介して差動増幅器（２２）に供給する。そして、
差動増幅器（２２）よりの差出力ＴＥがトラッキング誤
差信号として出力端子（８）に得られる。
部（６ＡＩ）、（６Ｂ＋）よりの両検出出力は差動増幅
器（７１）に供給されて、差出力ＴＥ、が得られる。第
２の２分割光検出器（６２）の２つの光検出部（６Ａ２
）、（６Ｂ２）よりの両検出出力は差動増幅器（７２）
に供給されて、差出力ＴＥ２が得られる。第３の２分割
光検出器（６３）の２つの光検出部（６Ａ３）、（６Ｂ
３）よりの両検出出力は差動増幅器（７３）に供給され
て、差出力ＴＥ３が得られる。差動増幅器（７１）より
の差出力ＴＥ、は他の差動増幅器（２２）に供給される
。差動増幅器（７２）よりの出力ＴＥ２及び差動増幅器
（７１）よりの出力の可変利得増幅器（その利得を０２
とする）（２３）を介した出力を加算し、その加算出力
を、更に可変利得増幅器（その利得をＧ、とする）（２
１）を介して差動増幅器（２２）に供給する。そして、
差動増幅器（２２）よりの差出力ＴＥがトラッキング誤
差信号として出力端子（８）に得られる。
次ぎに、この差動増幅器（２２）から得られるトラッキ
ング誤差信号は、直流変動が無いことを数式を用いて説
明しよう。
ング誤差信号は、直流変動が無いことを数式を用いて説
明しよう。
差動増幅器（７，）の差出力ＴＥ、は次式のように表さ
れる。
れる。
ＴＥＩ ＝Ａ １ｓｉｎ （２πＸ ／Ｐ ）
＋８１ｓｉｎ （２πＴ ／Ｔ（１） 又、差動増幅器（７２）の差出力ＴＥ２は次式のように
表される。
＋８１ｓｉｎ （２πＴ ／Ｔ（１） 又、差動増幅器（７２）の差出力ＴＥ２は次式のように
表される。
Ｔｅ２ ＝Ａ２ｓｉｎ （２π（Ｘ ＋Ｑ） ／Ｐ）
＋８２ ｓｉｎ （２ｒｔＴ ／Ｔ ｏ）又、差動
増幅器（７３）の差出力ＴＥ３は次式のように表される
。
＋８２ ｓｉｎ （２ｒｔＴ ／Ｔ ｏ）又、差動
増幅器（７３）の差出力ＴＥ３は次式のように表される
。
Ｔｅ３−Ａ３ｓｉｎ （２ｆＣ（Ｘ Ｑ）／Ｐ）
＋Ｂ５５ｉｎ（２πＴ ／Ｔ ｏ ） ３つのスポットＳＰ１、ＳＰ２、ＳＰ３は、変調度及び
直流変動は等しいから、次式が成り立つ。
＋Ｂ５５ｉｎ（２πＴ ／Ｔ ｏ ） ３つのスポットＳＰ１、ＳＰ２、ＳＰ３は、変調度及び
直流変動は等しいから、次式が成り立つ。
Ｂｌ ／ＡＨ＝Ｂ２ ／Ａ２ ＝ｌ１３／Ａ３又、可変
利得増幅器（２１）、（２３）の利得を夫々 Ａ Ｈ／２Ａ２ 、Ａ ２ ／Ａ ３ に選ぶと、差動増幅器（２２）よりのトラッキング誤差
信号ＴＥは、次式のように表されれる。
利得増幅器（２１）、（２３）の利得を夫々 Ａ Ｈ／２Ａ２ 、Ａ ２ ／Ａ ３ に選ぶと、差動増幅器（２２）よりのトラッキング誤差
信号ＴＥは、次式のように表されれる。
ＴＥ＝ＴＥ、 −、（Ａ 、 ／２Ａ２） （Ｔｅ２
＋（Ａ２ ／Ａ３ ）Ｔｅ３ ） ”＝Ａ 、（１−ｃｏｓ （２πＱ ／Ｐ ） ）
・ｓｉｎ （２πＸ／Ｐ ） この式から分かるように、トラッキング誤差信号ＴＥは
Ｑの如何にかかわらず直流変動が含まれないことが分か
る。但し、変調度Ｍ Ｍ＝Ａ 、（１−ｃｏｓ （２πＱ ／Ｐ ） ）は
、第１０図に示すようにＱの値によって変化さるが、Ｑ
＝Ｐ／２のとき最大となり、Ｑ＝０及びＱ＝Ｐのとき最
小（零）となる。
＋（Ａ２ ／Ａ３ ）Ｔｅ３ ） ”＝Ａ 、（１−ｃｏｓ （２πＱ ／Ｐ ） ）
・ｓｉｎ （２πＸ／Ｐ ） この式から分かるように、トラッキング誤差信号ＴＥは
Ｑの如何にかかわらず直流変動が含まれないことが分か
る。但し、変調度Ｍ Ｍ＝Ａ 、（１−ｃｏｓ （２πＱ ／Ｐ ） ）は
、第１０図に示すようにＱの値によって変化さるが、Ｑ
＝Ｐ／２のとき最大となり、Ｑ＝０及びＱ＝Ｐのとき最
小（零）となる。
［発明の効果］
上述せる本発明によれば、対物レンズの横移動や光学式
記録媒体のラディアルスキエーによる、トラッキング誤
差信号の直流変動を除去することのできる光学式ヘッド
のトラッキング誤差検出方式を得ることができる。
記録媒体のラディアルスキエーによる、トラッキング誤
差信号の直流変動を除去することのできる光学式ヘッド
のトラッキング誤差検出方式を得ることができる。
第１図は本発明方式の１実施例の機械的構成を示す配置
図、第２図はその回路的構成を示す回路図、第３図はそ
の光ディスク及びその上のビームスポットの配置関係を
示す配置図、第４図は本発明の実施例の動作説明に供す
る波形図、第５図は本発明方式の他の実施例の機械的構
成を示す配置図、第６図はその２分割光検出器及びその
上のスポットの配置図、第７図はその光ディスク及びそ
の上のビームスポットの配置関係を示す配置図、第８図
は本発明の他の実施例の回路的構成を示す回路図、第９
図はその光ディスク及びその上のビームスポットの配置
関係を示す配置図、第１０図はその特性を示す曲線図、
第１１図及び第１２図は従来の光学式ヘッドのトラッキ
ング誤差検出方式の夫々機械的構成を示す配置図及び回
路的構成を示す回路図、第１３図及び第１４図はその動
作 □説明に供する第１１図及び第１２図に夫々対応
した配置図及び回路図である。 （１）、（１，）、（１２）は半導体レーザ素子（レー
ザ光源）、（４）は対物レンズ、（５）は光学式記録媒
体（光ディスク）、（６１）、（６□）、（６３）は２
分割光検出器である。 第４図 第８図 令 第１１図 第１３図 第１２図 第１４図 手続補正書 １．事件の表示 昭和５９年 特 許 願 第２１５８６０号２、発明の
名称 光学式ヘッドのトラッキング誤差検出方式 ３、補正をする者 事件との関係 特許出願人 住 所 東京部品用区北品用６丁目７番３５号名称（２
１８）ソニー株式会社 代表取締役 大 賀 典 雄 ４、代理人 住 所 東京都新宿区西新宿１丁目８番１号置 ０３−
３４３−５８２１１１（５（新宿ビル）６、補正により
増加する発明の数 （１１明ｍ書中、第１１頁５行「使用しない、」とある
を「トラッキング誤差検出には使用せず、データの書き
込み又はデータの統み取りに使用する。」と訂正する。 以上
図、第２図はその回路的構成を示す回路図、第３図はそ
の光ディスク及びその上のビームスポットの配置関係を
示す配置図、第４図は本発明の実施例の動作説明に供す
る波形図、第５図は本発明方式の他の実施例の機械的構
成を示す配置図、第６図はその２分割光検出器及びその
上のスポットの配置図、第７図はその光ディスク及びそ
の上のビームスポットの配置関係を示す配置図、第８図
は本発明の他の実施例の回路的構成を示す回路図、第９
図はその光ディスク及びその上のビームスポットの配置
関係を示す配置図、第１０図はその特性を示す曲線図、
第１１図及び第１２図は従来の光学式ヘッドのトラッキ
ング誤差検出方式の夫々機械的構成を示す配置図及び回
路的構成を示す回路図、第１３図及び第１４図はその動
作 □説明に供する第１１図及び第１２図に夫々対応
した配置図及び回路図である。 （１）、（１，）、（１２）は半導体レーザ素子（レー
ザ光源）、（４）は対物レンズ、（５）は光学式記録媒
体（光ディスク）、（６１）、（６□）、（６３）は２
分割光検出器である。 第４図 第８図 令 第１１図 第１３図 第１２図 第１４図 手続補正書 １．事件の表示 昭和５９年 特 許 願 第２１５８６０号２、発明の
名称 光学式ヘッドのトラッキング誤差検出方式 ３、補正をする者 事件との関係 特許出願人 住 所 東京部品用区北品用６丁目７番３５号名称（２
１８）ソニー株式会社 代表取締役 大 賀 典 雄 ４、代理人 住 所 東京都新宿区西新宿１丁目８番１号置 ０３−
３４３−５８２１１１（５（新宿ビル）６、補正により
増加する発明の数 （１１明ｍ書中、第１１頁５行「使用しない、」とある
を「トラッキング誤差検出には使用せず、データの書き
込み又はデータの統み取りに使用する。」と訂正する。 以上
Claims (1)
- 一対のビームを対物レンズを介して光学式記録媒体に対
し、そのトラックピッチの略１／２の奇数倍の間隔を以
て照射せしめ、上記光学式記録媒体よりの一対の出射ビ
ームを夫々一対の２分割光検出素子に入射せしめ、該一
対の２分割光検出素子よりの各両検出出力の各差出力の
差からトラッキング誤差信号を得るようにしたことを特
徴とする光学式ヘッドのトラッキング誤差検出方式。
Priority Applications (9)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59215860A JPS6194246A (ja) | 1984-10-15 | 1984-10-15 | 光学式ヘッドのトラッキング誤差検出方法 |
| DE8585904874T DE3581078D1 (de) | 1984-10-15 | 1985-10-03 | Spurnachfuehrungsfehlerdetektorsystem eines optischen kopfes. |
| US06/878,289 US4775968A (en) | 1984-10-15 | 1985-10-03 | Tracking error detecting system for optical head |
| EP85904874A EP0201603B1 (en) | 1984-10-15 | 1985-10-03 | System for detecting tracking error of an optical head |
| AU49629/85A AU581265B2 (en) | 1984-10-15 | 1985-10-03 | Tracking error detecting system for optical head |
| AT85904874T ATE59725T1 (de) | 1984-10-15 | 1985-10-03 | Spurnachfuehrungsfehlerdetektorsystem eines optischen kopfes. |
| KR1019860700356A KR930005784B1 (ko) | 1984-10-15 | 1985-10-15 | 광학식 헤드의 트랙킹 오차 검출방식 |
| PCT/JP1985/000546 WO1986002479A1 (en) | 1984-10-15 | 1985-10-15 | System for detecting tracking error of an optical head |
| CN85107597.5A CN1005368B (zh) | 1984-10-15 | 1985-10-15 | 光学式磁头的轨道误差检出方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59215860A JPS6194246A (ja) | 1984-10-15 | 1984-10-15 | 光学式ヘッドのトラッキング誤差検出方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6194246A true JPS6194246A (ja) | 1986-05-13 |
| JPH0434212B2 JPH0434212B2 (ja) | 1992-06-05 |
Family
ID=16679469
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59215860A Granted JPS6194246A (ja) | 1984-10-15 | 1984-10-15 | 光学式ヘッドのトラッキング誤差検出方法 |
Country Status (9)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4775968A (ja) |
| EP (1) | EP0201603B1 (ja) |
| JP (1) | JPS6194246A (ja) |
| KR (1) | KR930005784B1 (ja) |
| CN (1) | CN1005368B (ja) |
| AT (1) | ATE59725T1 (ja) |
| AU (1) | AU581265B2 (ja) |
| DE (1) | DE3581078D1 (ja) |
| WO (1) | WO1986002479A1 (ja) |
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| US8085631B2 (en) | 2009-06-05 | 2011-12-27 | Panasonic Corporation | Tracking control device, tracking control method, and optical disc apparatus |
| US8169863B2 (en) | 2009-04-23 | 2012-05-01 | Panasonic Corporation | Tracking control device, tracking control method, and optical disc device |
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