JPS6175235A - 露点検出器 - Google Patents
露点検出器Info
- Publication number
- JPS6175235A JPS6175235A JP19734384A JP19734384A JPS6175235A JP S6175235 A JPS6175235 A JP S6175235A JP 19734384 A JP19734384 A JP 19734384A JP 19734384 A JP19734384 A JP 19734384A JP S6175235 A JPS6175235 A JP S6175235A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- temperature
- mirror
- thermoelectric cooling
- dew point
- cooling element
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N25/00—Investigating or analyzing materials by the use of thermal means
- G01N25/56—Investigating or analyzing materials by the use of thermal means by investigating moisture content
- G01N25/66—Investigating or analyzing materials by the use of thermal means by investigating moisture content by investigating dew-point
- G01N25/68—Investigating or analyzing materials by the use of thermal means by investigating moisture content by investigating dew-point by varying the temperature of a condensing surface
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は露点検出器、特に検出容器中に設置された鏡の
面が結露する温度を測定することにより、検出容器中に
流入される気体の露点を検出する露点検出器に関する。
面が結露する温度を測定することにより、検出容器中に
流入される気体の露点を検出する露点検出器に関する。
(従来の技術)
紙、繊維等の製品品質の維持向上を計るためには、保管
倉庫の空気の湿度の調節は欠くことはできない。湿度測
定法としては、測定気体の温度を低下させ、水蒸気の一
部を結露させたときの温度を測定して露点を検出する露
点検出法が知られている。この露点検出法による湿度測
定器としては、「工業計測法ハンドブック」 (昭51
゜9.30、朝倉書店、P297)に記載されるような
露点検出器が知られている。この露点検出器は、第2図
に示されるように測定気体が流入される検出容器Iの内
部に設置された鏡2が熱電冷却素子3によって冷却され
るようになっている。鏡2の温度は白金抵抗体等の温度
検出素子4により測定される。
倉庫の空気の湿度の調節は欠くことはできない。湿度測
定法としては、測定気体の温度を低下させ、水蒸気の一
部を結露させたときの温度を測定して露点を検出する露
点検出法が知られている。この露点検出法による湿度測
定器としては、「工業計測法ハンドブック」 (昭51
゜9.30、朝倉書店、P297)に記載されるような
露点検出器が知られている。この露点検出器は、第2図
に示されるように測定気体が流入される検出容器Iの内
部に設置された鏡2が熱電冷却素子3によって冷却され
るようになっている。鏡2の温度は白金抵抗体等の温度
検出素子4により測定される。
この鏡2には発光ダイオード等の発光素子5からの光が
照射され、鏡2の面が結露していない場合は反射光が受
光素子6に受光されるようになっている。従って、受光
素子6によって一所の強度の光が、鏡2の結露によって
得られなくなった時点における鏡2の温度が測定気体の
露点となる。この露点検出器は、露点を直示する。低湿
度の測定ができる。精度がよい。連続記録、遠隔測定お
よび自動制御ができる等の利点を有している。
照射され、鏡2の面が結露していない場合は反射光が受
光素子6に受光されるようになっている。従って、受光
素子6によって一所の強度の光が、鏡2の結露によって
得られなくなった時点における鏡2の温度が測定気体の
露点となる。この露点検出器は、露点を直示する。低湿
度の測定ができる。精度がよい。連続記録、遠隔測定お
よび自動制御ができる等の利点を有している。
(発明が解決しようとする問題点)
露点の測定下限は熱電冷却素子の低温側を何度まで冷却
できるかによって決まる。従来の露点検出器においては
、熱電冷却素子の高温側が検出容器の一部に接着され、
高温側に発生する熱は容器自体あるいは容器に取り付け
られた放熱フィン7(第2図)によって十分に放散され
るようになっている。従って、熱電冷却素子の高温側は
検出容器とほぼ同じ室温程度となる。通常の熱電冷却素
子は低温側を高温側より約40’低くすることができる
ので、高温側が例えば25℃であるとすると、低温側は
一15°Cまで冷却可能であり、測定範囲は25℃〜−
15℃となる。より低い露点を測定する場合は、熱電冷
却素子の高温側を冷却水等を用いてより低温にすればよ
いが、このようにして熱電冷却素子の高温側を冷却する
と、検出容器までも冷却されることになる。露点の測定
上限は検出容器の温度によって決まるので、測定範囲自
体は広くならず、測定範囲がシフトするのみである。ま
た、測定気体の露点が室温より高い場合は検出容器をこ
の露点温度以上に保温する必要がある。例えば、最高露
点が80℃の気体を測定するには検出容器は80℃以上
にする必要があるが、この場合の測定範囲も80°〜4
0℃であり、測定範囲がシフトしただけである。40℃
以下の露点を測定する場合は、熱電冷却素子の高温側即
ち検出容器の温度を下げればよいが、変動する露点を連
続的に測定する場合前もってこの変動を予測することは
不可能に近い。また、検出容器をも含めた熱容量の大き
なものの温度を急峻に変化することはできないので、従
来の露点検出器において、熱電冷却素子の高温側即ち検
出容器の温度を測定中に変化させることは全く非現実的
である。
できるかによって決まる。従来の露点検出器においては
、熱電冷却素子の高温側が検出容器の一部に接着され、
高温側に発生する熱は容器自体あるいは容器に取り付け
られた放熱フィン7(第2図)によって十分に放散され
るようになっている。従って、熱電冷却素子の高温側は
検出容器とほぼ同じ室温程度となる。通常の熱電冷却素
子は低温側を高温側より約40’低くすることができる
ので、高温側が例えば25℃であるとすると、低温側は
一15°Cまで冷却可能であり、測定範囲は25℃〜−
15℃となる。より低い露点を測定する場合は、熱電冷
却素子の高温側を冷却水等を用いてより低温にすればよ
いが、このようにして熱電冷却素子の高温側を冷却する
と、検出容器までも冷却されることになる。露点の測定
上限は検出容器の温度によって決まるので、測定範囲自
体は広くならず、測定範囲がシフトするのみである。ま
た、測定気体の露点が室温より高い場合は検出容器をこ
の露点温度以上に保温する必要がある。例えば、最高露
点が80℃の気体を測定するには検出容器は80℃以上
にする必要があるが、この場合の測定範囲も80°〜4
0℃であり、測定範囲がシフトしただけである。40℃
以下の露点を測定する場合は、熱電冷却素子の高温側即
ち検出容器の温度を下げればよいが、変動する露点を連
続的に測定する場合前もってこの変動を予測することは
不可能に近い。また、検出容器をも含めた熱容量の大き
なものの温度を急峻に変化することはできないので、従
来の露点検出器において、熱電冷却素子の高温側即ち検
出容器の温度を測定中に変化させることは全く非現実的
である。
本発明の目的は、測定範囲がより広い露点検出器を提供
することにある。
することにある。
(問題点を解決するための手段)
本発明は、検出容器を保温手段により露点温度以上に保
温し、熱電冷却素子を保温手段に熱絶縁して取り付け、
熱電冷却素子の高温側に発生する熱を放熱手段により放
散するようにしたことを特徴とする。
温し、熱電冷却素子を保温手段に熱絶縁して取り付け、
熱電冷却素子の高温側に発生する熱を放熱手段により放
散するようにしたことを特徴とする。
(作 用)
本発明においては、熱電冷却素子が検出容器とは熱絶縁
されているので、検出容器と熱電冷却素子の高温側とを
それぞれ独立して加熱、冷却することができるので、露
点の測定範囲が拡がる。
されているので、検出容器と熱電冷却素子の高温側とを
それぞれ独立して加熱、冷却することができるので、露
点の測定範囲が拡がる。
(実施例)
以下、本発明の露点検出器を実施例に基づいて説明する
。第1図は本発明の一実施例の概略図である。
。第1図は本発明の一実施例の概略図である。
検出容器1は保温槽8に入れられており、検出容器1は
、この検出容器lに流入される測定気体の露点以上の温
度に保温される。熱電冷却素子3が断熱材9により検出
容器1に熱的に絶縁され、低温側が検出容器l内方に向
けられて取り付けられている。熱電冷却素子3の低温側
には鏡2が設置されており、鏡2に熱電冷却素子3によ
って冷却されるようになっている。この鏡2には発光素
子5によって光が照射される。発光素子5によって照射
されかつ鏡2によって反射された光は受光素子6によっ
て受光されるようになっている。熱電冷却素子3の高温
側には銅、アルミニウム、ヒートパイプ等の熱伝導体1
0の一方の端部が熱的に接続されており、この熱伝導体
lOの他方の端部には本実施例においては放熱フィン1
1が接続されており、熱電冷却素子3の高温側に発生す
る熱が放散されるようになっている。即ち、本実施例に
おいて放熱手段は放熱フィン11と熱伝導体10とから
なるが、この熱伝導体10は保温槽8から図示されるよ
うに熱的に絶縁されていることが好ましい。放熱フィン
11の代わりに水等の冷媒を用いることにより効率よく
熱電冷却素子3の高温側の熱を放散することができる。
、この検出容器lに流入される測定気体の露点以上の温
度に保温される。熱電冷却素子3が断熱材9により検出
容器1に熱的に絶縁され、低温側が検出容器l内方に向
けられて取り付けられている。熱電冷却素子3の低温側
には鏡2が設置されており、鏡2に熱電冷却素子3によ
って冷却されるようになっている。この鏡2には発光素
子5によって光が照射される。発光素子5によって照射
されかつ鏡2によって反射された光は受光素子6によっ
て受光されるようになっている。熱電冷却素子3の高温
側には銅、アルミニウム、ヒートパイプ等の熱伝導体1
0の一方の端部が熱的に接続されており、この熱伝導体
lOの他方の端部には本実施例においては放熱フィン1
1が接続されており、熱電冷却素子3の高温側に発生す
る熱が放散されるようになっている。即ち、本実施例に
おいて放熱手段は放熱フィン11と熱伝導体10とから
なるが、この熱伝導体10は保温槽8から図示されるよ
うに熱的に絶縁されていることが好ましい。放熱フィン
11の代わりに水等の冷媒を用いることにより効率よく
熱電冷却素子3の高温側の熱を放散することができる。
鏡2の温度が温度検出素子4によって検出されることは
従来技術と同じである。
従来技術と同じである。
このように構成された露点検出器において、検出容器の
温度が80℃、放熱フィン11近傍の温度が20°Cの
場合、熱電冷却素子3に電流を流さない状態で鏡4の温
度は62℃、電流を流した状態で鏡2の温度は最低21
”Cまで低下した。熱電冷却素子3に印加する電位の
極性を反転するとこれにともなって低温側と高温側が反
転するので、鏡2の温度を62℃以上にすることができ
る。従って、測定範囲は検出容器1の温度80℃と鏡2
の最低温度21℃との間である。検出容器1の温度が9
0°C170“Cのとき鏡2の温度はそれぞれ28℃、
15℃まで冷却可能となり、測定範囲もそれぞれ62度
、55度となる。これらの結果は、低温側と高温側との
温度差が最大40度の熱電冷却素子を使用しても55度
から60度以上の広い温度範囲にわたって露点の検出が
可能となったことを示している。
温度が80℃、放熱フィン11近傍の温度が20°Cの
場合、熱電冷却素子3に電流を流さない状態で鏡4の温
度は62℃、電流を流した状態で鏡2の温度は最低21
”Cまで低下した。熱電冷却素子3に印加する電位の
極性を反転するとこれにともなって低温側と高温側が反
転するので、鏡2の温度を62℃以上にすることができ
る。従って、測定範囲は検出容器1の温度80℃と鏡2
の最低温度21℃との間である。検出容器1の温度が9
0°C170“Cのとき鏡2の温度はそれぞれ28℃、
15℃まで冷却可能となり、測定範囲もそれぞれ62度
、55度となる。これらの結果は、低温側と高温側との
温度差が最大40度の熱電冷却素子を使用しても55度
から60度以上の広い温度範囲にわたって露点の検出が
可能となったことを示している。
なお、上記実施例においては、保温手段として検出容器
全体を包囲する保温槽が使用されたが、保温槽以外であ
っても、検出容器を一定の温度に加熱保持することので
きるものであればいかなる手段をも使用できることは言
うまでもない。また、放熱手段としても、熱伝導体を用
いずに、放熱フィン等を直接検出容器あるいは熱電冷却
素子の高温側に取り付けるようにしてもよい。
全体を包囲する保温槽が使用されたが、保温槽以外であ
っても、検出容器を一定の温度に加熱保持することので
きるものであればいかなる手段をも使用できることは言
うまでもない。また、放熱手段としても、熱伝導体を用
いずに、放熱フィン等を直接検出容器あるいは熱電冷却
素子の高温側に取り付けるようにしてもよい。
(発明の効果)
以上詳細に説明したように、熱電冷却素子が検出容器に
熱絶縁して取付けられているので、熱電冷却素子の冷却
能力以上にわたって測定気体の露点を検出することがで
きる。従って、経時変化する気体の露点を連続的に検出
することができるので、結果として紙、繊維等の製品品
質がより向上される。
熱絶縁して取付けられているので、熱電冷却素子の冷却
能力以上にわたって測定気体の露点を検出することがで
きる。従って、経時変化する気体の露点を連続的に検出
することができるので、結果として紙、繊維等の製品品
質がより向上される。
第1図は本発明の露点検出器の一実施例の概略図、
第2図は従来の露点検出器の概略図。
■・・・検出容器、2・・・鏡、3・・・熱電冷却素子
、4・・・温度検出素子、5・・・発光素子、6・・・
受光素子、7・・・放熱フィン、8・・・保温槽、9・
・・断熱材、10・・・熱伝導体、11・・・放熱フィ
ン。
、4・・・温度検出素子、5・・・発光素子、6・・・
受光素子、7・・・放熱フィン、8・・・保温槽、9・
・・断熱材、10・・・熱伝導体、11・・・放熱フィ
ン。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 測定気体が流入される検出容器、 この検出容器を保温する保温手段、 前記検出容器とは熱絶縁されており、前記検出容器内方
に低温側が向けられた熱電冷却素子、この熱電冷却素子
の低温側に設けられた鏡、この鏡の温度を検出する温度
検出素子、 前記鏡に光を照射する発光素子、 この発光素子から照射され、前記鏡によって反射された
光を受光する受光素子、及び 前記熱電冷却素子の高温側に熱的に接続され、前記高温
側に発生する熱を放散させる放熱手段からなる露点検出
器。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19734384A JPS6175235A (ja) | 1984-09-20 | 1984-09-20 | 露点検出器 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19734384A JPS6175235A (ja) | 1984-09-20 | 1984-09-20 | 露点検出器 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6175235A true JPS6175235A (ja) | 1986-04-17 |
Family
ID=16372894
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP19734384A Pending JPS6175235A (ja) | 1984-09-20 | 1984-09-20 | 露点検出器 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6175235A (ja) |
Cited By (15)
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---|---|---|---|---|
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JPH01118345U (ja) * | 1988-01-29 | 1989-08-10 | ||
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-
1984
- 1984-09-20 JP JP19734384A patent/JPS6175235A/ja active Pending
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