JPS6141976A - 遅延時間モニタ回路 - Google Patents
遅延時間モニタ回路Info
- Publication number
- JPS6141976A JPS6141976A JP16444884A JP16444884A JPS6141976A JP S6141976 A JPS6141976 A JP S6141976A JP 16444884 A JP16444884 A JP 16444884A JP 16444884 A JP16444884 A JP 16444884A JP S6141976 A JPS6141976 A JP S6141976A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit
- counting
- output
- ring oscillator
- delay time
- Prior art date
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- Pending
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- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、半導体集積回路の遅延時間をモヨタする回路
に関する。
に関する。
従来、半導体集積回路の遅延時間を測定する方法として
、入力パルスを印加してから出力パルスが得られるまで
の時間の絶対償金計測する方法がとられてき比。
、入力パルスを印加してから出力パルスが得られるまで
の時間の絶対償金計測する方法がとられてき比。
しかしながら、このような測定績は、集積回路の高速化
、大規模化に伴ない、精度のよい測定値を得ることが非
常に困難になってき友。これは特に大規模化による測定
条件設定の困難さ、おLび計測機器の測定誤差に起因す
る。
、大規模化に伴ない、精度のよい測定値を得ることが非
常に困難になってき友。これは特に大規模化による測定
条件設定の困難さ、おLび計測機器の測定誤差に起因す
る。
従って本発明の目的は、特別な測定機器を用いることな
く、111度よく集積回路の遅延時間がモニタできる回
路を提供することにある。
く、111度よく集積回路の遅延時間がモニタできる回
路を提供することにある。
本発明によれば、半導体集積回路の遅延時間を測定する
ために、予め半導体集積回路内にリングオシレータ及び
その発振周波数を計数する計数回路を設け、計数回路の
計数償金モニタすることにより、集a回路の遅延時間を
測定する遅延時間モ二タ回路が得られる。
ために、予め半導体集積回路内にリングオシレータ及び
その発振周波数を計数する計数回路を設け、計数回路の
計数償金モニタすることにより、集a回路の遅延時間を
測定する遅延時間モ二タ回路が得られる。
次に、本発明の実施例を示す図面を参照して本発明の詳
細な説明する。
細な説明する。
本発明の第一〇実施例を示す第1図において。
集積回路上には、リングオシレータ4とソノ出力パルス
を計数する計数回路とが設けられている。
を計数する計数回路とが設けられている。
リングオンレータ4は2!11段(偶数段)のシリアル
接続されtインバータ回路1と、前記インバータ回路の
最終段の出力10を一方の入力とし半導体集積回路の入
力端子2を他の入力11とする崩、−ND回路3とを有
し、NAND 回路3の出力12がインバータ回路l
の初段入力にフィードパ、りされている。計数回路5は
NAND回路3の出力12をクロ、りとし、このクロッ
クに応じて計数値をカウントアツプ又はカウントダウン
させる。この計数回路5はリセット入力13によ)その
内容をクリアされ、計数結果上モニタ出力14として出
力する。
接続されtインバータ回路1と、前記インバータ回路の
最終段の出力10を一方の入力とし半導体集積回路の入
力端子2を他の入力11とする崩、−ND回路3とを有
し、NAND 回路3の出力12がインバータ回路l
の初段入力にフィードパ、りされている。計数回路5は
NAND回路3の出力12をクロ、りとし、このクロッ
クに応じて計数値をカウントアツプ又はカウントダウン
させる。この計数回路5はリセット入力13によ)その
内容をクリアされ、計数結果上モニタ出力14として出
力する。
計数回j135のモニタ出力14は、計数回路5のスリ
ップ・フロップの内容をそのままパラレルに出力し、半
導体集積回路の出力端子でモニタすることも可能である
。ま九計数回路5の各7リツプ・フロップをシフトレジ
スタ構成にして、シリアルシフト出力をモニタしてもよ
い。
ップ・フロップの内容をそのままパラレルに出力し、半
導体集積回路の出力端子でモニタすることも可能である
。ま九計数回路5の各7リツプ・フロップをシフトレジ
スタ構成にして、シリアルシフト出力をモニタしてもよ
い。
遅延時間のモニタは入力端子2にあらかじめ定められた
パルス幅の入力波形上入力し、その期間のリングオシレ
ータクロ、り出力12t−計数回路5で計数し、その計
数結果をモニタすることによって得られる。パルス幅の
長さ及びパルス幅の精度に応じたインバータの段数選択
を行りことにエフ、実用上さしつかえない範囲の誤差で
リングオシレータ4の発振周波数を計測できる。
パルス幅の入力波形上入力し、その期間のリングオシレ
ータクロ、り出力12t−計数回路5で計数し、その計
数結果をモニタすることによって得られる。パルス幅の
長さ及びパルス幅の精度に応じたインバータの段数選択
を行りことにエフ、実用上さしつかえない範囲の誤差で
リングオシレータ4の発振周波数を計測できる。
第2図江第−の実施例の回路の各部の波形及び計数結果
の例を示す。第2図(a)は入力端子2に与えるパルス
波形であfi、(b)はリングオシレータの出力に、す
なわち計数回路5に与えられるクロックである。今、計
数回路5をあらかじめalloにリセットし、カウント
ラップさせると、クロック入力(b)により、計数回路
5の内容は00101(5)となる、この計数結果の下
位ビットは、計数誤差の可能性があるため周波数測定に
に用いず、上位ビ、トのみを比較チェ、りすることによ
フ、遅延時間のモニタができる。
の例を示す。第2図(a)は入力端子2に与えるパルス
波形であfi、(b)はリングオシレータの出力に、す
なわち計数回路5に与えられるクロックである。今、計
数回路5をあらかじめalloにリセットし、カウント
ラップさせると、クロック入力(b)により、計数回路
5の内容は00101(5)となる、この計数結果の下
位ビットは、計数誤差の可能性があるため周波数測定に
に用いず、上位ビ、トのみを比較チェ、りすることによ
フ、遅延時間のモニタができる。
次に本発明の第二の実施例上水す第3図において、集積
回路上には第一の実施例と同様にリングオシレータ34
お工び計数回路35が設けられる。
回路上には第一の実施例と同様にリングオシレータ34
お工び計数回路35が設けられる。
2n+1(4数段)のシリアル接続されたインバータ回
路31t−有し、インバータ回路31の最後段出力は初
段入力にフィードバックされている。
路31t−有し、インバータ回路31の最後段出力は初
段入力にフィードバックされている。
計ioo路35はリングオシレータ34の出力をクロ、
りとし、クロ、りに応じてその内容tカウントアツプ又
はカウントダウンさせる。この計数回路35は、その内
容をモニタするモニタ出力34とをそなえた構成になっ
ている。
りとし、クロ、りに応じてその内容tカウントアツプ又
はカウントダウンさせる。この計数回路35は、その内
容をモニタするモニタ出力34とをそなえた構成になっ
ている。
計数回路35のそニタ出力34は、計数回路35の計数
結果を出力するので、半導体集積回路の出力端子で周波
数としてモニタすることが可能である。すなわち、遅延
時間の測定は、リングオシレーターの出力32をクロッ
クとする計数回路35で、クロックの周波敷金計数し、
その計数結果をモニタすることによって得られる。計数
回路35のビット数及びリングオシレータ34の段数選
択全行なうことにより、実用上さしつかえない範囲の誤
差でリングオシレータの発振周波数を計数回路35の発
振周波数で計測できる。
結果を出力するので、半導体集積回路の出力端子で周波
数としてモニタすることが可能である。すなわち、遅延
時間の測定は、リングオシレーターの出力32をクロッ
クとする計数回路35で、クロックの周波敷金計数し、
その計数結果をモニタすることによって得られる。計数
回路35のビット数及びリングオシレータ34の段数選
択全行なうことにより、実用上さしつかえない範囲の誤
差でリングオシレータの発振周波数を計数回路35の発
振周波数で計測できる。
第4図は第二の実施例の回路の各部の波形及び計数結果
の例を示す。第4図Calはリングオシレータ34出力
2の出力、すなわち計数回路35に与えられるクロック
であり1b)d計数回路35の計数結果の上位ビットの
波形である。
の例を示す。第4図Calはリングオシレータ34出力
2の出力、すなわち計数回路35に与えられるクロック
であり1b)d計数回路35の計数結果の上位ビットの
波形である。
今、計数回路35をmbitの計数回路であるとすると
、計数結果の出力34から1周波数として上が得られる
。従って高精度でない測定機でも遅n 延時間を測定できる。
、計数結果の出力34から1周波数として上が得られる
。従って高精度でない測定機でも遅n 延時間を測定できる。
本発明に以上説明したように、半導体集積回路にリング
オシレータとこのリングオシレータの発振周波数全計数
する計数回路とを内蔵させ、計数回路の計数結果の有効
ビット全機能検査することにより1w単に遅延時間のモ
ニタができるという効果がある。
オシレータとこのリングオシレータの発振周波数全計数
する計数回路とを内蔵させ、計数回路の計数結果の有効
ビット全機能検査することにより1w単に遅延時間のモ
ニタができるという効果がある。
第1図は本発明の第一の実施例を示すプロ、り図、第2
図は本発明の第一の実施例の動作を示すタイムチャート
、第3図は本発明の第二の実施例上水すプロ、り図、第
4図は本発明の第二の実施例の動作を示すタイムチャー
トである。 1.31・・・・・・インバータ回路、3・・・・・・
NAND回路、4.34・・・・・・リングオシレータ
、5,35・・・・・・計数回路。 第1図 (鎖ル) 第2図
図は本発明の第一の実施例の動作を示すタイムチャート
、第3図は本発明の第二の実施例上水すプロ、り図、第
4図は本発明の第二の実施例の動作を示すタイムチャー
トである。 1.31・・・・・・インバータ回路、3・・・・・・
NAND回路、4.34・・・・・・リングオシレータ
、5,35・・・・・・計数回路。 第1図 (鎖ル) 第2図
Claims (1)
- 半導体集積回路上に、シリアル接続された複数個のイン
バータ回路を有し、前記インバータ回路の最終段の出力
を前記インバータ回路の初段入力にフィードバックさせ
て構成したリングオシレータ回路と、前記リングオシレ
ータのクロック出力を計数する計数回路とを設け、前記
計数回路の内容をモニタすることによって前記集積回路
の遅延時間を測定することを特徴とする遅延時間モニタ
回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP16444884A JPS6141976A (ja) | 1984-08-06 | 1984-08-06 | 遅延時間モニタ回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP16444884A JPS6141976A (ja) | 1984-08-06 | 1984-08-06 | 遅延時間モニタ回路 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6141976A true JPS6141976A (ja) | 1986-02-28 |
Family
ID=15793358
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP16444884A Pending JPS6141976A (ja) | 1984-08-06 | 1984-08-06 | 遅延時間モニタ回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6141976A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008203112A (ja) * | 2007-02-21 | 2008-09-04 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 超音波流速計 |
JP2008203111A (ja) * | 2007-02-21 | 2008-09-04 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 超音波流速計 |
JP2009194459A (ja) * | 2008-02-12 | 2009-08-27 | Nec Corp | モニタ回路およびリソース制御方法 |
US7768303B2 (en) | 2007-12-27 | 2010-08-03 | Nec Corporation | Apparatus, circuit and method of monitoring performance |
-
1984
- 1984-08-06 JP JP16444884A patent/JPS6141976A/ja active Pending
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008203112A (ja) * | 2007-02-21 | 2008-09-04 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 超音波流速計 |
JP2008203111A (ja) * | 2007-02-21 | 2008-09-04 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 超音波流速計 |
US7768303B2 (en) | 2007-12-27 | 2010-08-03 | Nec Corporation | Apparatus, circuit and method of monitoring performance |
JP2009194459A (ja) * | 2008-02-12 | 2009-08-27 | Nec Corp | モニタ回路およびリソース制御方法 |
US8018240B2 (en) | 2008-02-12 | 2011-09-13 | Nec Corporation | Apparatus, circuit and method of monitoring leakage current characteristics |
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