JPS61259150A - 板材エツジ部の線状疵検出方法 - Google Patents
板材エツジ部の線状疵検出方法Info
- Publication number
- JPS61259150A JPS61259150A JP10111885A JP10111885A JPS61259150A JP S61259150 A JPS61259150 A JP S61259150A JP 10111885 A JP10111885 A JP 10111885A JP 10111885 A JP10111885 A JP 10111885A JP S61259150 A JPS61259150 A JP S61259150A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- plate
- width direction
- flaw
- steel plate
- light spot
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
- G01N21/8901—Optical details; Scanning details
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Textile Engineering (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
この発明は、鋼板等の板材のエツジ部における、板材幅
方向の線状疵を検出する方法の改良に関する。
方向の線状疵を検出する方法の改良に関する。
鋼板等の板状被検査物の、ライン進行方向に直交するエ
ツジ近傍の疵の検出については、板材進行方向に伸びた
線状疵や点状疵を検出するための装置、例えばスキャン
方向がライン進行方向に直交する飛点走査型や飛像走査
型の検出装置を利用することも考えられるが、この場合
は、疵の方向とスキャン方向が平行になるために疵信号
のレベル（Ｓ／Ｎ＞が小さく、検出が困難である。 又、上記のような検出装置において、そのスキャン方向
を、庇と直交する方向に変えた場合は、検出が可能とは
なるが、検出部を多数並設しないと探傷できない不感帯
が生じ、検出精度の低下やコスト増大をもたらすという
問題点がある。
ツジ近傍の疵の検出については、板材進行方向に伸びた
線状疵や点状疵を検出するための装置、例えばスキャン
方向がライン進行方向に直交する飛点走査型や飛像走査
型の検出装置を利用することも考えられるが、この場合
は、疵の方向とスキャン方向が平行になるために疵信号
のレベル（Ｓ／Ｎ＞が小さく、検出が困難である。 又、上記のような検出装置において、そのスキャン方向
を、庇と直交する方向に変えた場合は、検出が可能とは
なるが、検出部を多数並設しないと探傷できない不感帯
が生じ、検出精度の低下やコスト増大をもたらすという
問題点がある。
【発明が解決しようとする問題点］
この発明は、上記従来の問題点に鑑みてなされたもので
あって、進行する板材のエツジ部から幅方向に入った連
続線状疵を少数の検出器で容易に判別することができる
ようにした板材エツジ部の線状疵検出方法を提供するこ
とを目的とする。 ［問題点を解決するための手段］ この発明は、光源から射出された光スポットを回転ミラ
ーにより回転走査光スポットに変換して、該回転走査光
スポットにより移動する板材のエツジ表面を走査し、該
板材のエツジ表面からの反射光を受光して検出部から出
力される出力信号に基づき、前記エツジ部の線状疵を検
出する板材エツジ部の線状疵検出方法において、前記回
転走査光スポットを前記板材のエツジ表面で長軸が板材
幅方向となる長円形状とすると共に、該回転走査光スポ
ットの走査方向を、前記エツジ部と斜めに交差ブる方向
とし、且つ、前記検出部からの出力信号を予め設定した
レベルで弁別し、該レベルを越えた出力信号を量子化し
、この量子化信号を板材の幅方向画像フィルタを通して
、幅方向疵プロフィルを作り、該幅方向疵プロフィルの
高さに基づき、板材エツジ部における板材幅方向の連続
線状疵の長さを判定することにより上記目的を達成する
ものである。 又、この発明は、前記幅方向疵ブＯフィルが不連続のと
き、前記板材長手方向単位長さ当りで、設定値以上のプ
ロフィル高さを有する疵の数が所定個数以上検出した場
合に、板材幅方向の連続線状疵有りと判定することによ
り上記目的を達成するものである。 （作用］ この発明においては、板材幅方向に長い長円形の光スポ
ットを、板材幅方向の線状疵と交差させるようにして走
査し、これによって検出信号のＳＺＮ比を大きくして、
少数の検出器により板材幅方向の線状疵を確実に検出す
る。 【実施例】 以下、本発明の実施例を図面を参照して詳細に説明する
。 この実施例は、第１図及び第２図に示されるように、光
源であるレーザ発生器１０から射出された光スポットを
ポリゴンミラー等の回転ミラー１２により回転走査光ス
ポット１４に変換して、該回転走査光スポット１４によ
り移動する鋼板１６の表面を走査し、該鋼板１６の表面
からの反射光１８を受光して検出部２ｏから出力される
出力信号に基づき、前記鋼板１６のエツジ部１６Ａの線
状疵２２を検出する板材エツジ部の線状疵検出方法にお
いて、前記回転走査光スポット１４を前記鋼板１６のエ
ツジ表面で長軸が板材幅方向となる長円形状とすると共
に、該回転走査光スポット１４の走査方向を、前記エツ
ジ部１６Ａと斜めに交差する方向とし、且つ、前記検出
部２０からの出力信号を予め設定したレベルでフィルタ
２４で弁別し、該レベルを越えた出力信号をディジタル
処理装置２６において量子化し、この量子化信号を鋼板
１６の幅方向画像フィルタを通して、幅方向疵プロフィ
ル（第５図参照）を作り、該幅方向疵ブＯフィルの高さ
に基づき、鋼板１６のエツジ部１６Ａにおける鋼板幅方
向の連続線状疵２２の長さを判定するようにしたもので
ある。 前記検出部２ｏは光電子増倍管とされ、反射光１８が集
光レンズ２８を介して入射するようされている。 この検出部２０は、受光した光を電気信号に変換してフ
ォトマル信号ｊとして（第３図参照）アンプ３０に出力
する。 このアンプ３０はフォトマル信号ｊを微分して同第３図
に示されるような微分信号ｋを前記フィルタ２４に出力
する。 このフィルタ２４は予め設定された弁別レベル！、ぶ−
を越えた信号ｍを庇信号として前記デジタル処理装置２
６に出力する。 このディジタル処理装置２６は、内蔵する量子化画像レ
ジスタ３２（第４図参照）に量子化画像信号をメモリす
るようにされている。 この場合、量子化の寸法としては、鋼板１６の幅方向に
は４〜５ ｍｍ 、ライン方向には２〜３ｎが適当であ
る。 又、前記ディジタル処理装ｆ１２６は第５図に示される
ような幅方向画像フィルタ３４を備え、前記量子化画像
レジスタ３２にメモリされた信号をプロフィル処理する
ことができるようされている。 第５図は第４図の１部にメモリされた信号をプロフィル
処理した状態を示す。 前記回転走査光スポット１４の、鋼板１６の表面での形
状は、前述の如く鋼板１６の幅方向に長い長円形とされ
ているが、この場合、長円形とは長軸が短軸の３倍以上
の場合を言う。ここで、前記回転走査光スポット１４の
走査方向は、第２図に示されるように、鋼板１６のエツ
ジ部１６Ａに対して約６０°の角度をなして傾いて設定
されている。 この６０°の角度は、回転走査光スポット１４の鋼板１
６表面における反射信号におけるＳ／Ｎ比の値と、検出
器を鋼板１６の幅方向に配置する数との関係から最適の
値として決定される。 又、前記回転走査光スポット１４の、鋼板１６表面にお
ける長円形の長軸と短軸の比は、Ｓ／Ｎ比と照明強度と
の関係から、３倍程度が好ましい。 鋼板１６表面における線状疵２２の長さは、前記幅方向
画像フィルタ３４におけるプロフィルの高さに基づき判
定されるが、この判定するための信号が単発信号では誤
判定の可能性があることから、鋼板１６のライン方向の
単位長さく例えば量子化画像の大きさから２５０ ｍｌ
）当りＮ回以上発生した場合に限り、実際の疵があると
判定するようにディジタル処理装置２６を構成させる。 この場合のＮの値は、線状疵の程度にもよるが、３〜５
にセットすることがより実際に合致する。 上記実施例においては、回転走査光スポット１４が、長
軸が鋼板１６の幅方向となるような長円形とされ、これ
が、線状疵２２と交差するように回転走査されるので、
鋼板１６の表面での反射光のＳ／Ｎ比が第３図に示され
るように大きくなり、従って、線状疵２２を確実に検出
できる。 又、回転走査光スポット１４が、前述の如く、鋼板１６
の幅方向に長い長円形であるので、検出器の設置台数が
少なくても、線状疵２２と交差しない不感帯が生じない
という利点がある。 なお、上記実施例は、鋼板１６のエツジ部１６Ａにおけ
る線状疵２２を検出するためのものであるが、本発明は
鋼板に限定されるものでなく、連続して移動する板材に
一般的に適用されるものである。 又、前記回転走査光スポット１４の光源として、上記実
施例はレーザ発生器からのレーザ光線を利用したもので
あるが、これは、回転走査光スポットを利用するもので
あれば、他の光源であってもよい。 又、上記実施例は、回転走査光スポット１４の走査方向
が、鋼板１６のエツジ部１６Ａと６０゜の角度をなすよ
うに傾斜したものであるが、この傾斜角度は６０°に限
定されるものでなく、鋼板表面における反射光のＳ／Ｎ
比の値と、鋼板の幅方向に配置する検出器の数との関係
から決定されるものである。 又、回転走査光スポット１４の長円形における長軸と短
軸の比は、鋼板１６表面における反射光のＳ／Ｎ比と照
明強度との関係から決定されるものであり、必ずしも長
軸と短軸の比が３倍に限定されるものでない。 更に、上記実施例は、検出部２０として光電子増倍管を
利用したものであるが、本発明はこれに限定されるもの
でなく、検出ＩＩ！２０は鋼板１６からの回転走査光ス
ポット１４の反射光を受光して、これを電気信号に変換
して出力できるものであればよい。 従って、例えばフォトトランジスタのような光Ｎ素子で
あってもよい。 又、上記実施例は、単発信号では誤判定の可能性がある
ことから、鋼板１６のライン方向の単位長さく２５Ｏｎ
）当り３〜５回以上所定の信号が発生した場合に限り実
際の疵となるように判定しているが、これは、誤判定の
可能性がなければこのような条件を設ける必要がなく、
又、誤判定の可能性がある場合でも、単位長さ当りのＮ
の値は実施例に限定されるものでない。
あって、進行する板材のエツジ部から幅方向に入った連
続線状疵を少数の検出器で容易に判別することができる
ようにした板材エツジ部の線状疵検出方法を提供するこ
とを目的とする。 ［問題点を解決するための手段］ この発明は、光源から射出された光スポットを回転ミラ
ーにより回転走査光スポットに変換して、該回転走査光
スポットにより移動する板材のエツジ表面を走査し、該
板材のエツジ表面からの反射光を受光して検出部から出
力される出力信号に基づき、前記エツジ部の線状疵を検
出する板材エツジ部の線状疵検出方法において、前記回
転走査光スポットを前記板材のエツジ表面で長軸が板材
幅方向となる長円形状とすると共に、該回転走査光スポ
ットの走査方向を、前記エツジ部と斜めに交差ブる方向
とし、且つ、前記検出部からの出力信号を予め設定した
レベルで弁別し、該レベルを越えた出力信号を量子化し
、この量子化信号を板材の幅方向画像フィルタを通して
、幅方向疵プロフィルを作り、該幅方向疵プロフィルの
高さに基づき、板材エツジ部における板材幅方向の連続
線状疵の長さを判定することにより上記目的を達成する
ものである。 又、この発明は、前記幅方向疵ブＯフィルが不連続のと
き、前記板材長手方向単位長さ当りで、設定値以上のプ
ロフィル高さを有する疵の数が所定個数以上検出した場
合に、板材幅方向の連続線状疵有りと判定することによ
り上記目的を達成するものである。 （作用］ この発明においては、板材幅方向に長い長円形の光スポ
ットを、板材幅方向の線状疵と交差させるようにして走
査し、これによって検出信号のＳＺＮ比を大きくして、
少数の検出器により板材幅方向の線状疵を確実に検出す
る。 【実施例】 以下、本発明の実施例を図面を参照して詳細に説明する
。 この実施例は、第１図及び第２図に示されるように、光
源であるレーザ発生器１０から射出された光スポットを
ポリゴンミラー等の回転ミラー１２により回転走査光ス
ポット１４に変換して、該回転走査光スポット１４によ
り移動する鋼板１６の表面を走査し、該鋼板１６の表面
からの反射光１８を受光して検出部２ｏから出力される
出力信号に基づき、前記鋼板１６のエツジ部１６Ａの線
状疵２２を検出する板材エツジ部の線状疵検出方法にお
いて、前記回転走査光スポット１４を前記鋼板１６のエ
ツジ表面で長軸が板材幅方向となる長円形状とすると共
に、該回転走査光スポット１４の走査方向を、前記エツ
ジ部１６Ａと斜めに交差する方向とし、且つ、前記検出
部２０からの出力信号を予め設定したレベルでフィルタ
２４で弁別し、該レベルを越えた出力信号をディジタル
処理装置２６において量子化し、この量子化信号を鋼板
１６の幅方向画像フィルタを通して、幅方向疵プロフィ
ル（第５図参照）を作り、該幅方向疵ブＯフィルの高さ
に基づき、鋼板１６のエツジ部１６Ａにおける鋼板幅方
向の連続線状疵２２の長さを判定するようにしたもので
ある。 前記検出部２ｏは光電子増倍管とされ、反射光１８が集
光レンズ２８を介して入射するようされている。 この検出部２０は、受光した光を電気信号に変換してフ
ォトマル信号ｊとして（第３図参照）アンプ３０に出力
する。 このアンプ３０はフォトマル信号ｊを微分して同第３図
に示されるような微分信号ｋを前記フィルタ２４に出力
する。 このフィルタ２４は予め設定された弁別レベル！、ぶ−
を越えた信号ｍを庇信号として前記デジタル処理装置２
６に出力する。 このディジタル処理装置２６は、内蔵する量子化画像レ
ジスタ３２（第４図参照）に量子化画像信号をメモリす
るようにされている。 この場合、量子化の寸法としては、鋼板１６の幅方向に
は４〜５ ｍｍ 、ライン方向には２〜３ｎが適当であ
る。 又、前記ディジタル処理装ｆ１２６は第５図に示される
ような幅方向画像フィルタ３４を備え、前記量子化画像
レジスタ３２にメモリされた信号をプロフィル処理する
ことができるようされている。 第５図は第４図の１部にメモリされた信号をプロフィル
処理した状態を示す。 前記回転走査光スポット１４の、鋼板１６の表面での形
状は、前述の如く鋼板１６の幅方向に長い長円形とされ
ているが、この場合、長円形とは長軸が短軸の３倍以上
の場合を言う。ここで、前記回転走査光スポット１４の
走査方向は、第２図に示されるように、鋼板１６のエツ
ジ部１６Ａに対して約６０°の角度をなして傾いて設定
されている。 この６０°の角度は、回転走査光スポット１４の鋼板１
６表面における反射信号におけるＳ／Ｎ比の値と、検出
器を鋼板１６の幅方向に配置する数との関係から最適の
値として決定される。 又、前記回転走査光スポット１４の、鋼板１６表面にお
ける長円形の長軸と短軸の比は、Ｓ／Ｎ比と照明強度と
の関係から、３倍程度が好ましい。 鋼板１６表面における線状疵２２の長さは、前記幅方向
画像フィルタ３４におけるプロフィルの高さに基づき判
定されるが、この判定するための信号が単発信号では誤
判定の可能性があることから、鋼板１６のライン方向の
単位長さく例えば量子化画像の大きさから２５０ ｍｌ
）当りＮ回以上発生した場合に限り、実際の疵があると
判定するようにディジタル処理装置２６を構成させる。 この場合のＮの値は、線状疵の程度にもよるが、３〜５
にセットすることがより実際に合致する。 上記実施例においては、回転走査光スポット１４が、長
軸が鋼板１６の幅方向となるような長円形とされ、これ
が、線状疵２２と交差するように回転走査されるので、
鋼板１６の表面での反射光のＳ／Ｎ比が第３図に示され
るように大きくなり、従って、線状疵２２を確実に検出
できる。 又、回転走査光スポット１４が、前述の如く、鋼板１６
の幅方向に長い長円形であるので、検出器の設置台数が
少なくても、線状疵２２と交差しない不感帯が生じない
という利点がある。 なお、上記実施例は、鋼板１６のエツジ部１６Ａにおけ
る線状疵２２を検出するためのものであるが、本発明は
鋼板に限定されるものでなく、連続して移動する板材に
一般的に適用されるものである。 又、前記回転走査光スポット１４の光源として、上記実
施例はレーザ発生器からのレーザ光線を利用したもので
あるが、これは、回転走査光スポットを利用するもので
あれば、他の光源であってもよい。 又、上記実施例は、回転走査光スポット１４の走査方向
が、鋼板１６のエツジ部１６Ａと６０゜の角度をなすよ
うに傾斜したものであるが、この傾斜角度は６０°に限
定されるものでなく、鋼板表面における反射光のＳ／Ｎ
比の値と、鋼板の幅方向に配置する検出器の数との関係
から決定されるものである。 又、回転走査光スポット１４の長円形における長軸と短
軸の比は、鋼板１６表面における反射光のＳ／Ｎ比と照
明強度との関係から決定されるものであり、必ずしも長
軸と短軸の比が３倍に限定されるものでない。 更に、上記実施例は、検出部２０として光電子増倍管を
利用したものであるが、本発明はこれに限定されるもの
でなく、検出ＩＩ！２０は鋼板１６からの回転走査光ス
ポット１４の反射光を受光して、これを電気信号に変換
して出力できるものであればよい。 従って、例えばフォトトランジスタのような光Ｎ素子で
あってもよい。 又、上記実施例は、単発信号では誤判定の可能性がある
ことから、鋼板１６のライン方向の単位長さく２５Ｏｎ
）当り３〜５回以上所定の信号が発生した場合に限り実
際の疵となるように判定しているが、これは、誤判定の
可能性がなければこのような条件を設ける必要がなく、
又、誤判定の可能性がある場合でも、単位長さ当りのＮ
の値は実施例に限定されるものでない。
本発明は、上記のように構成したので、少ない検出器で
鋼板等の板材のエツジ部における幅方向線状疵を確実に
検出することができるという優れた効果を有する。
鋼板等の板材のエツジ部における幅方向線状疵を確実に
検出することができるという優れた効果を有する。
第１図は本発明に係る板材エツジ部の線状疵検出方法を
実施するだめの装置を示づ一部ブロック図を含む斜視図
、第２図は本発明に係る板材エツジ部の線状疵検出方法
における回転走査光スポットの走査方向と線状疵との関
係を示す略示平面図、第３図は第１図に示される装置に
おいて検出される信号を示す線図、第４図は第１図の装
置におけるディジタル処理装置内の量子化画像レジスタ
を示プ平面図、第５図は同ディジタル処理装置内の幅方
向画像フィルタを示す平面図である。 １０・・・レーザ発生器く光ｉ！り、 １２・・・回転ミラー、 １４・・・回転走査光スポット、 １６・・・鋼板、 １６Ａ・・・エツジ部、 １８・・・反射光、 ２０・・・検出部、 ２２・・・線状疵、 ２４・・・フィルタ、 ２６・・・ディジタル処理装置、 ３２・・・量子化画像レジスタ、 ３４・・・幅方向画像フィルタ、 ぶ、β−・・・設定レベル。
実施するだめの装置を示づ一部ブロック図を含む斜視図
、第２図は本発明に係る板材エツジ部の線状疵検出方法
における回転走査光スポットの走査方向と線状疵との関
係を示す略示平面図、第３図は第１図に示される装置に
おいて検出される信号を示す線図、第４図は第１図の装
置におけるディジタル処理装置内の量子化画像レジスタ
を示プ平面図、第５図は同ディジタル処理装置内の幅方
向画像フィルタを示す平面図である。 １０・・・レーザ発生器く光ｉ！り、 １２・・・回転ミラー、 １４・・・回転走査光スポット、 １６・・・鋼板、 １６Ａ・・・エツジ部、 １８・・・反射光、 ２０・・・検出部、 ２２・・・線状疵、 ２４・・・フィルタ、 ２６・・・ディジタル処理装置、 ３２・・・量子化画像レジスタ、 ３４・・・幅方向画像フィルタ、 ぶ、β−・・・設定レベル。
Claims (2)
- （１）光源から射出された光スポットを回転ミラーによ
り回転走査光スポットに変換して、該回転走査光スポッ
トにより移動する板材のエッジ表面を走査し、該板材の
エッジ表面からの反射光を受光して検出部から出力され
る出力信号に基づき、前記エッジ部の線状疵を検出する
板材エッジ部の線状疵検出方法において、前記回転走査
光スポットを前記板材のエッジ表面で長軸が板材幅方向
となる長円形状とすると共に、該回転走査光スポットの
走査方向を、前記エッジ部と斜めに交差する方向とし、
且つ、前記検出部からの出力信号を予め設定したレベル
で弁別し、該レベルを越えた出力信号を量子化し、この
量子化信号を板材の幅方向画像フィルタを通して、幅方
向疵プロフィルを作り、該幅方向疵プロフィルの高さに
基づき、板材エッジ部における板材幅方向の連続線状疵
の長さを判定することを特徴とする板材エッジ部の線状
疵検出方法。 - （２）前記幅方向疵プロフィルが不連続のとき、前記板
材長手方向単位長さ当りで、設定値以上のプロフィル高
さを有する疵の数が所定個数以上検出した場合に、板材
幅方向の連続線状疵有りと判定することを特徴とする特
許請求の範囲第１項記載の板材エッジ部の線状疵検出方
法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10111885A JPS61259150A (ja) | 1985-05-13 | 1985-05-13 | 板材エツジ部の線状疵検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10111885A JPS61259150A (ja) | 1985-05-13 | 1985-05-13 | 板材エツジ部の線状疵検出方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61259150A true JPS61259150A (ja) | 1986-11-17 |
Family
ID=14292159
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10111885A Pending JPS61259150A (ja) | 1985-05-13 | 1985-05-13 | 板材エツジ部の線状疵検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61259150A (ja) |
-
1985
- 1985-05-13 JP JP10111885A patent/JPS61259150A/ja active Pending
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPS6453139A (en) | Surface nature measuring apparatus and method | |
| JPH0128336B2 (ja) | ||
| KR970003760A (ko) | 이물검사방법 및 장치 | |
| DE69619591D1 (de) | Dichotomisches Abtastsystem zur Kantenbestimmung von Gegenständen mit relativ gleichförmigen Oberflächen | |
| JPS6223250B2 (ja) | ||
| US3589816A (en) | Apparatus for detecting imperfections on a web | |
| JPS6234097B2 (ja) | ||
| US4851696A (en) | Apparatus for receiving radiation only within predetermined angular limits | |
| JPS61259150A (ja) | 板材エツジ部の線状疵検出方法 | |
| US4705957A (en) | Wire surface monitor | |
| US3958128A (en) | System for determining a transversal position of any defect in a traveling sheet material | |
| JPH02216437A (ja) | シート状物の欠陥検出方法とその装置 | |
| JPH0511574B2 (ja) | ||
| JPH0511573B2 (ja) | ||
| JP3127107B2 (ja) | 球の探傷装置 | |
| JPH0228815B2 (ja) | ||
| JPH0330814B2 (ja) | ||
| JPH0617874B2 (ja) | 板状物表面の自動検査方法 | |
| JPS5813332Y2 (ja) | 欠点検出器 | |
| JPH05188004A (ja) | 異物検出装置 | |
| JPS6275203A (ja) | 目地幅の検出方法 | |
| JPS6319793Y2 (ja) | ||
| JPH0679016B2 (ja) | 凹形角部の超音波検査方法および装置 | |
| JPH045556A (ja) | 球体表面の傷検査装置 | |
| JP2594969B2 (ja) | 欠陥検出装置 |