JPS61195367A - Circuit substrate inspection instrument - Google Patents
Circuit substrate inspection instrumentInfo
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- JPS61195367A JPS61195367A JP60036147A JP3614785A JPS61195367A JP S61195367 A JPS61195367 A JP S61195367A JP 60036147 A JP60036147 A JP 60036147A JP 3614785 A JP3614785 A JP 3614785A JP S61195367 A JPS61195367 A JP S61195367A
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- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は、扁平な回路基板に各種の電子部品を装着して
組立てられた被検査体としての実装回路基板（以下、た
んに回路基板という）を最終的に導通検査する回路基板
検査装置に係り、特に、各種の電子部品を回路基板の両
面に挿着して両面回路基板検査装置に関する。[Detailed Description of the Invention] [Technical Field of the Invention] The present invention relates to a mounted circuit board (hereinafter simply referred to as a circuit board) as an object to be inspected, which is assembled by mounting various electronic components on a flat circuit board. The present invention relates to a circuit board testing device that ultimately conducts a continuity test, and particularly relates to a double-sided circuit board testing device that inserts various electronic components onto both sides of a circuit board.
既に提案されているこの種の回路基板検査装置は、回路
基板の片面のみに各種の電子部品を挿着した被検査体と
して回路基板を多数のコンタクトピン（コンタクトプロ
ーブともいう）で導通検査している。This type of circuit board testing equipment, which has already been proposed, uses a large number of contact pins (also called contact probes) to test the circuit board for continuity, with various electronic components inserted on only one side of the circuit board. There is.
即ち、上述した回路基板検査装置は、ピンボード上に多
数のコンタクトピンを弾発的に植設し、この各コンタク
トピンに回路基板の片側のみに挿着された各電子部品を
接触させ、他方、上記回路基板の裏面に付設された各端
子に導通検査用の他のコンタクトピンを弾発的に上方又
は下方から昇降させて圧接し、これによって測定電流に
よる導通検査を施すようになっている。That is, the above-mentioned circuit board inspection device has a large number of contact pins elastically planted on a pin board, each contact pin is brought into contact with each electronic component inserted on only one side of the circuit board, and the other is brought into contact with each contact pin. , other contact pins for continuity testing are brought into pressure contact with each terminal attached to the back surface of the circuit board by elastically raising and lowering them from above or below, thereby conducting a continuity test using a measured current. .
このように、被検査体としての回路基板は、その片側の
みに各種電子部品による突出部を形成しており、回路基
板の裏面は、検査回路面を形成している関係上、コンタ
クトピンを被検査体の下がわから配設し、他のコンタク
トピンを備えた可動ピンボードを上方から降下させて回
路基板に接触導通するのが、検査作業上容易とされてい
る。In this way, the circuit board as the object to be tested has protrusions made of various electronic components on only one side, and the back side of the circuit board is covered with contact pins because it forms the test circuit surface. Inspection work is facilitated by placing a movable pin board with other contact pins on the test object so that the bottom of the test object is visible, and lowering a movable pin board with other contact pins from above to make contact with the circuit board.
しかしながら、最近の回路基板に使用される各種の電子
部品は、超小型化するために、高密度配列化を余儀なく
され、これに起因して、回路基板の表裏、つまり、両面
にそれぞれ各電子部品を挿着して使用されるため、これ
らの両面回路基板の導通検査は、両面回路基板の上・下
方向から同時に、しかも、−挙に一工程で導通検査する
ことが望まれている。However, in order to miniaturize the various electronic components used in recent circuit boards, they are forced to be arranged in high-density arrangements. Therefore, it is desirable to test the continuity of these double-sided circuit boards from the top and bottom of the double-sided circuit board at the same time, and moreover, all in one step.
本発明は、上述した事情に鑑みてなされたものであって
、回路基板の両面に挿着された各種の電子部品を基板の
上・下方向から一工程で一挙に、しかも、確実に導通検
査して検査作業の能率化及び信頼性の向上を図るように
したことを目的とする回路基板検査装置を提供するもの
である。The present invention has been made in view of the above-mentioned circumstances, and allows continuity testing of various electronic components inserted on both sides of a circuit board from the top and bottom of the board in one process and moreover, reliably. The purpose of the present invention is to provide a circuit board inspection device which aims to improve the efficiency and reliability of inspection work.
本発明は、支持基板に複数の案内支柱を植設し、この各
案内支柱の上部に上部ピンボードを備えた固定板を設け
、この固定板の下位の上記各案内支柱に上向きのコンタ
クトピンを有する下部ピンボードを設け、この下部ピン
ボードの上位の上記各案内支柱に保持部材を各ばねを介
して浮動状態に１装し、上記保持部材の両側に各一対の
ブラケットを付設し、この両ブラケットに被検査体を載
せる抽出板と一体の各ガイド軸を水平に摺動自在に設け
て、被検査体としての両面回路基板を一工程で確実に導
通検査し得るように構成したものである。In the present invention, a plurality of guide columns are planted on a support substrate, a fixed plate with an upper pin board is provided on the upper part of each guide column, and upward contact pins are provided on each of the guide columns below this fixed plate. A lower pin board is provided, a holding member is mounted in a floating state on each of the guide columns above the lower pin board via each spring, a pair of brackets are attached to each side of the holding member, and a pair of brackets are attached to both sides of the holding member. Each guide shaft, which is integrated with the extractor plate for placing the object to be tested on the bracket, is provided so as to be able to slide horizontally, so that continuity testing can be performed reliably in one step on a double-sided circuit board as the object to be tested. .
以下、本発明を図示の一実施例について説明する。 Hereinafter, the present invention will be described with reference to an illustrated embodiment.
第１図乃至第５図において、符号１は、扁平な支持基板
であって、この支持基板１の一側には、下部コネクタ２
が検査表示器３にリード線を介して接続するようにして
設けられており、上記支持基板１の他側には、電源に接
続したパイロットランプ４が付設されている。又、上記
支持基板１上の各角隅部には、複数（図では４本）の案
内支柱５が植設されており、この案内支柱５の上部には
固定板６が水平にして固着されている。さらに、この固
定板６には、上部コネクタ７が上記検査表示器３にリー
ド線を介して接続されており、この上部コネクタ７を上
記下部コネクタ２の電流とが流れて上記検査表示器３で
導通検査表示するようになっ−でいる。1 to 5, reference numeral 1 denotes a flat support board, and on one side of this support board 1 is a lower connector 2.
is connected to the inspection display 3 via a lead wire, and a pilot lamp 4 connected to a power source is attached to the other side of the support substrate 1. Further, a plurality of (four in the figure) guide columns 5 are planted in each corner of the support substrate 1, and a fixing plate 6 is horizontally fixed to the upper part of the guide columns 5. ing. Further, an upper connector 7 is connected to the inspection display 3 via a lead wire to the fixed plate 6, and the current of the lower connector 2 flows through the upper connector 7 to connect the inspection display 3 to the inspection display 3. Continuity test is now displayed.
一方、第２図に示されるように、上記固定板６の下位の
上記各案内支柱５には、下部ピンボード８が上・下方向
に摺動自在に嵌装されており、この下部ピンボード８の
上面には多数のコンタクトピン９が上向きして、しかも
弾発的に昇降するようにして設けられている。なお、こ
の各コンタクトピン９は、上記下部コネクタ２に各導電
線を通して連結されている。又、上記下部ピンボード８
の上位の上記各案内支柱５には、扁平な保持部材１０が
上・下方向に摺動自在に嵌装されており、この保持部材
１０と上記下部ピンボード８とは、後述する各コイルば
ね１４と１５とによって浮動状態に保持されている。即
ち、上記下部ピンボード８の中程には、第２図に示され
るように、各一対をなすガイドビン１１が立設されてお
り、この各ガイドビン１１の直上に位置する上記保持部
材１０には各一対をなすガイドビン１２が構過して植設
されている。さらに、この各ガイドビン１２の直上に位
装置する上記固定板６には、各一対をなすガイドビン１
３が垂設されている。ざらに又、この各ガイドビン１１
と１２との間に位置する上記下部ピンボード８と上記保
持部材１０との間には、各コイルばね１４が弾発的に介
装されており、上記各ガイドビン１２と１３との間に位
置する上記保持部材１０と上記固定板６との間には、各
コイルばね１５が弾発的に介装されており、特に、上記
各コイルばね１４は他のコイルばね１５の弾力より強く
形成されている。On the other hand, as shown in FIG. 2, a lower pin board 8 is fitted into each of the guide columns 5 below the fixed plate 6 so as to be slidable upwardly and downwardly. A large number of contact pins 9 are provided on the upper surface of the contact pin 8 so as to face upward and move up and down elastically. The contact pins 9 are connected to the lower connector 2 through conductive wires. In addition, the lower pin board 8
A flat holding member 10 is fitted to each of the upper guide columns 5 so as to be able to slide upwardly and downwardly, and this holding member 10 and the lower pin board 8 are connected to each coil spring described later. 14 and 15 to keep it floating. That is, in the middle of the lower pin board 8, as shown in FIG. A pair of guide bins 12 are installed in each of the holes. Furthermore, each pair of guide bins 1 is attached to the fixed plate 6 located directly above each of the guide bins 12.
3 is installed vertically. Zaranimata, each guide bin 11
Coil springs 14 are resiliently interposed between the lower pin board 8 and the holding member 10, which are located between the guide pins 12 and 13. Each coil spring 15 is elastically interposed between the holding member 10 and the fixing plate 6, and in particular, each coil spring 14 is formed to have a stronger elasticity than the other coil springs 15. has been done.
他方、第１図及び第３図に示されるように、上記両案内
支柱５に近接した上記保持部材１０上の両側には、軸受
１６ａを備えた各ブラケット１６が並設されており、こ
の各軸受１６ａには、把手１７を有する抽出板１８と一
体をなす各ガイド軸１９が水平にして摺動自在に設けら
れている。又、略四角形をなす上記抽出板１８の上面の
対角線上には、一対の案内ビン２０が被検査体としての
回路基板Ｗ＠着脱自在に嵌合して位置規制するようにし
て植設されている。On the other hand, as shown in FIGS. 1 and 3, brackets 16 each having a bearing 16a are arranged in parallel on both sides of the holding member 10 close to both the guide columns 5. Each guide shaft 19, which is integral with an extraction plate 18 having a handle 17, is horizontally and slidably provided on the bearing 16a. Further, a pair of guide bins 20 are implanted on the diagonal lines of the upper surface of the extraction plate 18, which has a substantially rectangular shape, so as to removably fit into a circuit board W as an object to be inspected to regulate its position. There is.
なお、上記回路基板Ｗの両面には、前述したように、そ
の両面に、各種の電子部品が添設されており、上記回路
基板Ｗの下面は、前記各コンタクトピン９に弾発的に当
接し得るようになっている。As mentioned above, various electronic components are attached to both sides of the circuit board W, and the bottom surface of the circuit board W elastically contacts each of the contact pins 9. It is now accessible.
（第３図参照）。(See Figure 3).
又一方、上記被検査体Ｗを載せた上記抽出板１８の直上
前記固定板６には、上部ピンボード２１が垂設されてお
り、この上部ピンボード２１の下面には、多数のコンタ
クトピン２２がユニット化されて、しかも、着脱自在に
付設されており、この各コンタクトピン２２は、上記被
検査体Ｗの導通接触部に弾発的に接触するようになって
いる。On the other hand, an upper pin board 21 is vertically installed on the fixed plate 6 directly above the extraction plate 18 on which the object W to be inspected is mounted, and a large number of contact pins 22 are installed on the lower surface of the upper pin board 21. are unitized and detachably attached, and each contact pin 22 is adapted to resiliently contact a conductive contact portion of the object W to be inspected.
又、上記上部ピンボード２１の下面には、複数の押圧ビ
ン２３が上記被検査体Ｗの上面を押圧し得るようにして
設けられており、この各押圧ビン２３は上記被検査体Ｗ
の浮上りを防止するようになっている。又、上記多数の
コンタクトピン２２は、上記上部コネクタ７に各導電線
を介して接続されており、この上部コネクタ７は、上述
したように前記検査表器３にリード線で接続されている
。Further, a plurality of pressure bottles 23 are provided on the lower surface of the upper pin board 21 so as to be able to press the upper surface of the object W to be inspected.
It is designed to prevent the surface from floating up. Further, the plurality of contact pins 22 are connected to the upper connector 7 through conductive wires, and the upper connector 7 is connected to the test table 3 through lead wires as described above.
さらに、上記両ガイド軸１９の両端部には、第２図に示
されるように、各ストッパ２４．２５が付設されており
、この両ストッパ２４と２５は、抽出板１８を把手１７
で抽出したとき及び挿入したときの位置規制をし得るよ
うになっている。さらに、上記抽出板１８の正面両側に
は、第１図及び第４図に示されるように、一対の軸受２
６が垂直方向に嵌装されており、この両軸受２６の頂面
には、各係合孔２６ａが垂直に穿設されている。又、こ
の両軸受２６には、各ロックハンドル２７が扱は出ない
ようにして摺動自在にして嵌装されており、この各ロッ
クハンドル２７の偏倚した位置に垂下した各係合ビン２
８は、上記各係合孔２６ａに係合するようになっている
。さらに、上記各ロックハンドル２７の支軸２７ａの直
下に位置する上記保持部材１０の管軸１０ａには、各作
動スイッチ５１８２が、第５図に示される作動開始用の
タイマＴ１に通電し得るようにして設けられている。従
って、上記両口ツクハンドル２７は、抽出板１８を挿入
した後、両軸受２６の周りに回動することにより、上記
各係合ビン２８が各係合孔２６ａに係合すると、上記各
支軸２７ａの下端部は上山管軸１０ａに嵌合して抽出板
１８の移動を一時的に固定すると共に、各作動スイッチ
５１８２をｏｎし、これによってタイマＴ１を作動して
、導通検査を開始するようになっている。Furthermore, as shown in FIG. 2, stoppers 24 and 25 are attached to both ends of the guide shafts 19, and these stoppers 24 and 25 are used to hold the extractor plate 18 between the handles 17 and 17.
The position can be controlled when extracted and inserted. Furthermore, a pair of bearings 2 are provided on both front sides of the extraction plate 18, as shown in FIGS. 1 and 4.
6 is fitted in the vertical direction, and each engagement hole 26a is perpendicularly bored in the top surface of both bearings 26. Further, each lock handle 27 is fitted into both bearings 26 so as to be slidable so that it cannot be handled, and each engagement pin 2 that hangs down from a biased position of each lock handle 27
8 is designed to engage with each of the engagement holes 26a. Further, on the tube shaft 10a of the holding member 10 located directly below the support shaft 27a of each of the lock handles 27, each actuation switch 5182 is configured to energize the timer T1 for starting the operation shown in FIG. It's set up. Therefore, after the extraction plate 18 is inserted, the double-ended handle 27 rotates around both bearings 26, and when each of the engaging pins 28 engages with each of the engaging holes 26a, each of the above-mentioned supports is rotated. The lower end of the shaft 27a fits into the upper tube shaft 10a to temporarily fix the movement of the extraction plate 18, and turns on each operating switch 5182, thereby activating the timer T1 and starting the continuity test. It looks like this.
他方、第１図及び第２図において、上記支持基板１の後
部上面には、ブレーキ付のモータ２９が設置されており
、このモータ２９の出力軸２９ａには、第１カム部材３
０．及び第２カム部材３１が軸装されている。又この第
１カム部材３０の回転通路上に位置する上記支持基板１
には、各ブラケット３２が付設されており、この各ブラ
ケット３２には各作動積杆３３が各支軸３４によって軸
装されている。さらに、この各作動積杆３３の一端部３
３ａは上記第１カム部材３０の一部に接触しており、上
記各作動積杆３３の他端部３３ｂは、上記下部ピンボー
ド８の底面に付設された各当接杆８ａに前記各コイルば
ね１４．１５の弾力によって弾発的に当接している。ざ
らに又、上記第２カム部材３１の回転通路上には、上限
スイッチＳ３と下限スイッチＳ４とが設けられており、
この上限スイッチＳ３は、上記下部ピンボード８が最上
位置に扛上したとき、上記モータ２９の回転を停止する
ものであり、上記下限スイッチＳ４は、導通検査用のタ
イマＴ２が動作し、その終了後に、再び、上記モータ２
９を駆動して約１８０°回動して上記回動じて上記下部
ピンボード８を最上位置に降下したときに作動するよう
になっている。On the other hand, in FIGS. 1 and 2, a motor 29 with a brake is installed on the rear upper surface of the support substrate 1, and an output shaft 29a of this motor 29 has a first cam member 3.
0. and a second cam member 31 are mounted on the shaft. Further, the support substrate 1 located on the rotation path of the first cam member 30
Each bracket 32 is attached to each of the brackets 32, and each operating rod 33 is mounted on each bracket 32 by a respective support shaft 34. Furthermore, one end 3 of each actuating rod 33
3a is in contact with a part of the first cam member 30, and the other end portion 33b of each of the actuating rods 33 is connected to each contact rod 8a attached to the bottom surface of the lower pin board 8. The springs 14 and 15 are resiliently brought into contact with each other. Furthermore, an upper limit switch S3 and a lower limit switch S4 are provided on the rotation path of the second cam member 31,
The upper limit switch S3 is for stopping the rotation of the motor 29 when the lower pin board 8 is lifted up to the uppermost position, and the lower limit switch S4 is for stopping the rotation of the motor 29 when the timer T2 for continuity testing is operated. Later, the motor 2
9 is rotated by about 180 degrees, and the lower pin board 8 is lowered to the uppermost position by the rotation.
第５図に示される電気回路は、本発明に組込まれる電気
回路であって、この電気回路の給電回路には、作動”開
始時のタイマＴ１を作動する作動スイッチＳ、Ｓ２．上
記タイマＴ１によるリレーで作動するモータ２９、上記
上限スイッチｓ３の作動によって作動開始し、しかも導
通検査所要時間を規制するタイマＴ２、上記下限スイッ
チＳ４の作動によって上記モータ２９の動作を制御する
各リレーＲ、Ｒ２，Ｒ３がそれぞれ付設されている。The electric circuit shown in FIG. 5 is an electric circuit incorporated in the present invention, and the power supply circuit of this electric circuit includes actuation switches S and S2 that actuate the timer T1 at the start of operation. A motor 29 operated by a relay, a timer T2 which starts operating when the upper limit switch s3 is operated and also regulates the time required for continuity testing, and relays R, R2, which control the operation of the motor 29 when the lower limit switch S4 is operated. R3 is attached to each.
以下、本発明の作用について説明する。Hereinafter, the effects of the present invention will be explained.
従って、今、被検査体としての両面回路基板Ｗを抽出板
１８に挿着するには、予め、上記両０ツクハンドル２７
を上方へ引き上げて僅かに外方へ回動することにより、
上記各係合孔２６ａから各係合ビン２８を引き抜く。こ
れによって、上記両口ツクハンドル２７の支軸２７ａは
保持部材１０の管軸１０ａから引き抜かれると共に、両
作動スイッチＳ１．Ｓ２をＯＦＦする。Therefore, in order to insert the double-sided circuit board W as the object to be inspected into the extraction plate 18, the above-mentioned double-sided circuit board W is inserted into the extraction plate 18 in advance.
By pulling upward and rotating slightly outward,
Each engagement pin 28 is pulled out from each engagement hole 26a. As a result, the support shaft 27a of the double-ended handle 27 is pulled out from the tube shaft 10a of the holding member 10, and the dual-operation switch S1. Turn off S2.
次に、上記抽出板１８の把手１７を手で前方へ引き出す
ことにより、この抽出板１８と一体の両ガイド軸１９は
、各ブラケット１６の軸受１６ａに案内されて前方へ摺
動する。Next, by pulling the handle 17 of the extraction plate 18 forward by hand, both guide shafts 19 integrated with the extraction plate 18 are guided by the bearings 16a of each bracket 16 and slide forward.
このようにして前方へ引き出された上記抽出板１８の各
案内ビン２０には、第３図に示されるように、両面回路
基板Ｗが挿着される。次に再び、上記抽出板１８を原位
置に挿入すると共に、前記両ロックハンドルリ２７を互
に内がわに向って回動することにより、この両口ツクハ
ンドル２７の各係合ビン２８が各係合孔２６ａに係合し
て降下すると同時に、各作動スイッチＳ１．Ｓ２をＯＮ
する。すると、タイマＴ１が作動して、数秒後に、モー
タ２９が駆動する。すると、このモータ２９の出力軸２
９ａに軸装された第１カム部材３０と第２カム部材３１
は共に回転するので、この第１カム部材３０は、作動積
杆３３を支軸３４の周りに右旋する。これによって、こ
の作動積杆３３の他端部３３ａが下部ピンボード８及び
保持部材１０を上記各コイルばね１４，１５の弾力に抗
して扛上する。As shown in FIG. 3, a double-sided circuit board W is inserted into each guide bin 20 of the extraction plate 18 that has been pulled forward in this manner. Next, by inserting the extraction plate 18 into its original position again and rotating both the lock handles 27 inwardly, each engaging pin 28 of the double-ended handle 27 is opened. At the same time that each actuating switch S1. Turn on S2
do. Then, the timer T1 is activated and the motor 29 is driven several seconds later. Then, the output shaft 2 of this motor 29
The first cam member 30 and the second cam member 31 are mounted on the shaft 9a.
Since the first cam member 30 rotates together, the first cam member 30 rotates the operating rod 33 to the right around the support shaft 34. As a result, the other end 33a of the actuating stack 33 lifts the lower pin board 8 and the holding member 10 against the elasticity of the coil springs 14 and 15.
なお、こ−で注目すべき点は、上記コイルばね１５は他
のコイルばね１４よりも、弱い弾力で形成されている関
係上、上部ピンボード２１の各コンタクトピン２２に対
し、両面回路基板Ｗの各電子部品の導通接点を軽く接触
させる。これによって、被検査体として回路基板Ｗに無
理な応力を与えないようにしている。次に、上記下部ピ
ンボード８の各コンタクトピン９を上記両面回路基板Ｗ
の裏面の導通接点に圧接させる。このとき、第２カム部
材３１が上限スイッチＳ３をＯＮする。すると、タイマ
Ｔ２が設定時間中作動して前記検査表示器３に導通検査
による結果を表示する。しがして、タイマＴ２が一定時
間経過すると、リレが作動して上記モータ２９を駆動す
るので、上記第１カム部材３０が作動積杆３３を支軸３
４の周りに左旋するので、上記下部ピンボード８及び保
持部材１０は、共に自重によって下限位置に時下すると
同時に、第２カム部材３１が下限スイッチ＄４を作動す
るので、上記モータ２９の駆動は停止する。次に、上記
両口ツクハンドル２７を上方へ引き上げて外方へ回動す
ることにより、保持部材１０の管軸１０ａから支軸２７
ａを引き抜き、これによって、ロック解除した後、上記
抽出板１８の把手１７を手で前方へ引き出すことにより
、上記両面回路基板Ｗを取出すことができる。What should be noted here is that the coil spring 15 has a weaker elasticity than the other coil springs 14, so the contact pins 22 of the upper pin board 21 are Lightly touch the conductive contacts of each electronic component. This prevents excessive stress from being applied to the circuit board W as the object to be inspected. Next, each contact pin 9 of the lower pin board 8 is connected to the double-sided circuit board W.
Press the conductive contact on the back side of the At this time, the second cam member 31 turns on the upper limit switch S3. Then, the timer T2 operates for a set time and displays the result of the continuity test on the test display 3. However, when the timer T2 has elapsed for a certain period of time, the relay operates to drive the motor 29, so that the first cam member 30 moves the actuating rod 33 to the support shaft 3.
4, the lower pin board 8 and the holding member 10 are both lowered to the lower limit position by their own weight, and at the same time, the second cam member 31 operates the lower limit switch $4, so that the motor 29 is driven. stops. Next, by pulling up the double-ended handle 27 and rotating it outward, the support shaft 27 is moved from the tube shaft 10a of the holding member 10.
After the lock is released by pulling out the double-sided circuit board W, the handle 17 of the extraction plate 18 is pulled forward by hand to take out the double-sided circuit board W.
このようにして、上記両面回路基板Ｗの導通検査は、反
復継続して行われるようになっ・ている。In this way, the continuity test of the double-sided circuit board W is repeatedly and continuously performed.
以上述べたように本発明によれば、支持基板１に複数の
案内支柱５を植設し、この各案内支柱５の上部に、上部
ピンボード２１を備えた固定板６を設け、この固体板６
の下位の上記各案内支柱５に上向きのコンタクトピン９
を有する下部ピンボード８を設け、この下部ピンボード
８の上位の上記各案内支柱５に保持部材１０を各ばね１
４，１５を介して浮動状態に嵌装し、上記保持部材１０
０両側に各一対のブラケット１６を付設し、この両ブラ
ケット１６に被検査体Ｗを載せる抽出板１８と一体の各
ガイド１９を水平にして摺動自在に設けであるので、被
検査体Ｗとして両面回路基板の導通検査を一工程で一挙
に、しかも、確実に行うことができるばかりでなく、取
扱い操作もｌ！！１１１１であるとともに、上部ピンボ
ード２１や下部ピンボード８の微細な各コンタクトピン
９．２２を折曲げたり、損傷することなく長期に亘って
使用することができる。As described above, according to the present invention, a plurality of guide columns 5 are installed on the support substrate 1, a fixed plate 6 equipped with an upper pin board 21 is provided on the upper part of each guide column 5, and the solid plate 6
An upward contact pin 9 is attached to each of the above-mentioned guide columns 5 below the
A lower pin board 8 having a
4 and 15 in a floating state, and the holding member 10
A pair of brackets 16 are attached to each side of the object W to be inspected, and each guide 19 integrated with the extraction plate 18 on which the object W to be inspected is placed on both brackets 16 is horizontally slidably provided. Not only can you conduct a continuity test on double-sided circuit boards in one process and reliably, but you can also handle it easily! ! 1111, and can be used for a long period of time without bending or damaging the fine contact pins 9 and 22 of the upper pin board 21 and the lower pin board 8.
第１図は、本発明による回路基板検査装置の正面図、第
２図は同上側面図、第３図は、本発明の要部を取出して
示す拡大断面図、第４図は、第１図中の鎖円Ａ部の拡大
断面図、第５図は、本発明に組込まれる電気回路図であ
る。
１・・・支持基板、３・・・検査表示器、５・・・案内
支柱６・・・固定板、８・・・下部ピンボード、９・・
・コンタクトピン、１０・・・保持部材、１６・・・ブ
ラケット、１８・・・抽出板、２１・・・上部ピンボー
ド、２２・・・コンタクトピン、２７・・・ロックハン
ドル、２８・・・係合ビン、２９・・・モータ、３０・
・・第１カム部材、３１−・・第２カム部材、３３・・
・作動積杆。
出願人代理人 猪 股 清
手続補正書
昭和６０年６月１’？日FIG. 1 is a front view of a circuit board inspection apparatus according to the present invention, FIG. 2 is a side view of the same, FIG. 3 is an enlarged sectional view showing the main parts of the present invention, and FIG. 4 is the same as that shown in FIG. FIG. 5, which is an enlarged cross-sectional view of part A in the chain circle, is an electric circuit diagram incorporated in the present invention. DESCRIPTION OF SYMBOLS 1...Support board, 3...Inspection display, 5...Guiding column 6...Fixing plate, 8...Lower pin board, 9...
- Contact pin, 10... Holding member, 16... Bracket, 18... Extracting plate, 21... Upper pin board, 22... Contact pin, 27... Lock handle, 28... Engagement bin, 29... motor, 30...
...First cam member, 31-...Second cam member, 33...
- Actuation rod. Applicant's agent Inomata Sei Procedural Amendment June 1, 1985'? Day
Claims (1)
柱の上部に上部ピンボードを備えた固定板を設け、この
固定板の下位の上記各案内支柱に上向きのコンタクトピ
ンを有する下部ピンボードを設け、この下部ピンボード
の上位の上記各案内支柱に保持部材を各ばねを介して浮
動状態に嵌装し、上記保持部材の両側に各一対のブラケ
ットを付設し、この両ブラケットに被検査体を載せる抽
出板と一体の各ガイド軸を水平ににして摺動自在に設け
たことを特徴とする回路基板検査装置。 ２、下部ピンボードに位置するコイルばねを保持部材に
位置するコイルばねより強いばねにしたことを特徴とす
る特許請求の範囲第１項記載の回路基板検査装置。 ３、下部ピンボード及び保持部材をカム部材で直接若し
くは間接的に昇降し得るようにしたことを特徴とする特
許請求の範囲第１項又は第２項記載の回路基板検査装置
。[Claims] 1. A plurality of guide columns are installed on a support substrate, a fixing plate with an upper pin board is provided on the top of each guide column, and each of the guide columns below the fixing plate is provided with an upward direction. A lower pin board having contact pins is provided, a holding member is fitted in a floating state to each of the guide columns above the lower pin board via each spring, and a pair of brackets are attached to each side of the holding member. A circuit board inspection device characterized in that both brackets are provided with respective guide shafts that are integral with an extraction plate on which an object to be inspected is placed and are horizontally slidable. 2. The circuit board inspection device according to claim 1, wherein the coil spring located on the lower pin board is made stronger than the coil spring located on the holding member. 3. The circuit board inspection device according to claim 1 or 2, wherein the lower pin board and the holding member can be raised and lowered directly or indirectly by a cam member.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60036147A JPS61195367A (en) | 1985-02-25 | 1985-02-25 | Circuit substrate inspection instrument |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60036147A JPS61195367A (en) | 1985-02-25 | 1985-02-25 | Circuit substrate inspection instrument |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61195367A true JPS61195367A (en) | 1986-08-29 |
| JPH053913B2 JPH053913B2 (en) | 1993-01-18 |
Family
ID=12461677
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60036147A Granted JPS61195367A (en) | 1985-02-25 | 1985-02-25 | Circuit substrate inspection instrument |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61195367A (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN104111386A (en) * | 2013-04-18 | 2014-10-22 | 海洋王（东莞）照明科技有限公司 | PCB test device |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS55147363A (en) * | 1979-05-08 | 1980-11-17 | Toshiba Corp | Device for automatically testing wiring bedplate |
-
1985
- 1985-02-25 JP JP60036147A patent/JPS61195367A/en active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS55147363A (en) * | 1979-05-08 | 1980-11-17 | Toshiba Corp | Device for automatically testing wiring bedplate |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN104111386A (en) * | 2013-04-18 | 2014-10-22 | 海洋王（东莞）照明科技有限公司 | PCB test device |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH053913B2 (en) | 1993-01-18 |
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