JP3088876B2 - Connector flat cable continuity withstand voltage tester - Google Patents
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Description
【０００１】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は、フラットケ−ブルに設
けたコネクタの電気的な試験を行うコネクタフラットケ
−ブル導通耐圧試験装置に関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a connector flat cable continuity withstand voltage test device for electrically testing a connector provided on a flat cable.
【０００２】[0002]
【従来の技術】従来、この種のコネクタフラットケ−ブ
ルの導通耐圧試験装置としては治具使用により手作業で
行われており、自動試験装置は見当らないのが現状であ
った。2. Description of the Related Art Conventionally, as a continuity withstand voltage test apparatus for a connector flat cable of this kind, a jig is used for manual operation, and there is no automatic test apparatus at present.
【０００３】[0003]
【発明が解決しようとする課題】上記のように、コネク
タフラットケ−ブルの電気的な試験が手動により行われ
ているために、効率化が図れないという問題点があっ
た。As described above, since the electrical test of the connector flat cable is performed manually, there is a problem that efficiency cannot be improved.
【０００４】本発明は、上記の問題点に着目して成され
たものであって、その第１の目的とするところは、フラ
ットケ−ブルコネクタの電気的な試験を自動的に行い得
て、効率化が図れるコネクタフラットケ−ブル導通耐圧
試験装置を提供することにある。SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above problems, and a first object of the present invention is to automatically perform an electrical test of a flat cable connector. It is an object of the present invention to provide a connector flat cable continuity withstand voltage test device capable of improving efficiency.
【０００５】また、本発明の第２の目的とするところ
は、電気的な試験時、コネクタの接触端子数にプロ−ブ
ヘッドを交換すること無く試験が行え作業性を向上させ
ることができるコネクタフラットケ−ブル導通耐圧試験
装置を提供することにある。A second object of the present invention is to provide a connector flat which can perform a test without changing the probe head to the number of contact terminals of the connector at the time of an electrical test, thereby improving workability. An object of the present invention is to provide a cable continuity withstand voltage test device.
【０００６】また、本発明の第３の目的とするところ
は、コネクタフラットケ−ブルの種々のケ−ブル長の検
出を確実に行い得るコネクタフラットケ−ブル導通耐圧
試験装置を提供することにある。A third object of the present invention is to provide a connector flat cable continuity withstand voltage test device capable of reliably detecting various cable lengths of the connector flat cable. is there.
【０００７】また、本発明の第４の目的とするところ
は、コネクタの逆差し防止突起部の位置が反転しても容
易に試験を行い得るコネクタフラットケ−ブル導通耐圧
試験装置を提供することにある。It is a fourth object of the present invention to provide a connector flat cable continuity withstand voltage test device capable of easily performing a test even if the position of the reverse insertion preventing projection of the connector is reversed. It is in.
【０００８】[0008]
【課題を解決するための手段】上記の第１の目的を達成
するために本発明は、コネクタフラットケ−ブルの導通
耐圧試験を行う試験部と、コネクタフラットケ−ブルを
ストックし供給するコネクタフラットケ−ブル供給部
と、このコネクタフラットケ−ブル供給部からコネクタ
フラットケ−ブルを取り込み搬送する搬送部と、この搬
送部から得たコネクタフラットケ−ブルの試験機構部へ
の位置決めを行う位置決め機構部と、位置決めされたコ
ネクタフラットケ−ブルの上部のコネクタを上記試験部
に接続する上部導通耐圧試験機構部と、位置決めされた
コネクタフラットケ−ブルの下部のコネクタを上記試験
部に接続する下部導通耐圧試験機構部とを備えたことを
特徴とする。SUMMARY OF THE INVENTION In order to achieve the first object, the present invention provides a test section for conducting a continuity withstand voltage test of a connector flat cable, and a connector for stocking and supplying the connector flat cable. A flat cable supply unit, a transport unit that takes in and transports the connector flat cable from the connector flat cable supply unit, and positions the connector flat cable obtained from the transport unit to the test mechanism unit. A positioning mechanism, an upper continuity withstand voltage test mechanism for connecting the upper connector of the positioned connector flat cable to the test section, and a lower connector of the positioned connector flat cable to the test section. And a lower continuity withstand voltage test mechanism.
【０００９】また第２の目的を達成するために本発明
は、請求項１記載のコネクタフラットケ−ブル導通耐圧
試験装置において、コネクタ位置決め機構部は、上部導
通耐圧試験機構部のプロ−ブヘッドの余分なプロ−ブピ
ンをマスクするマスクプレ−トを備え、プロ−ブヘッド
を交換すること無くコネクタ接触端子数に対応するよう
にした。According to a second aspect of the present invention, there is provided a connector flat cable continuity withstand voltage test device according to the first aspect of the present invention, wherein the connector positioning mechanism includes a probe head of the upper continuity withstand voltage test mechanism. A mask plate for masking extra probe pins is provided so that the number of connector contact terminals can be accommodated without replacing the probe head.
【００１０】また第３の目的を達成するために本発明
は、請求項１記載のコネクタフラットケ−ブル導通耐圧
試験装置において、下部導通耐圧試験機構部は、ガイド
レ−ルに沿うて昇降する絶縁部材を有し、この絶縁部材
に、コネクタフラットケ−ブルのケーブルを位置決めホ
ルダ−により左右から挟みこれら位置決めホルダ−の下
降により下部のコネクタを押さえて位置決めを行う位置
決めホルダ−機構と、この位置決めされた下部のコネク
タの一方の側面にストッパを当接させるストッパ機構
と、位置決めされた下部のコネクタの他方の側面側から
コネクタ端子にプローブピンを接触するテストヘッド機
構と、これら位置決めホルダ−機構、ストッパ機構、テ
ストヘッド機構のそれぞれの作動を行う作動用シリンダ
とを設け、絶縁部材を昇降シリンダにより昇降動させる
ようにした。According to a third aspect of the present invention, there is provided a connector flat cable continuity withstand voltage test device, wherein the lower continuity withstand voltage test mechanism section includes an insulating member which moves up and down along a guide rail. A positioning holder mechanism for holding a connector flat cable between the left and right by a positioning holder and holding down a lower connector by lowering the positioning holder; A stopper mechanism for abutting a stopper on one side of the lower connector, a test head mechanism for contacting a probe pin with a connector terminal from the other side of the positioned lower connector, a positioning holder mechanism, and a stopper. Mechanism and an operation cylinder for performing each operation of the test head mechanism. And so as to be moved up and down by the descending cylinder.
【００１１】また第４の目的を達成するために本発明
は、請求項１記載のコネクタフラットケ−ブル導通耐圧
試験装置において、搬送部は、そのコネクタ搬送案内レ
−ル部の一対の案内レ−ルにレベル差を設けて、コネク
タ形状に対応させた。According to a fourth aspect of the present invention, there is provided a connector flat cable continuity withstand voltage test device according to the first aspect of the present invention, wherein the transport section comprises a pair of guide rails of the connector transport guide rail section. A level difference is provided for the connector so as to correspond to the connector shape.
【００１２】[0012]
【作用】請求項１に記載のコネクタフラットケ−ブル導
通耐圧試験装置においては、コネクタフラットケ−ブル
供給部でコネクタフラットケ−ブルをストックおよび供
給し、搬送部で、コネクタフラットケ−ブル供給部から
コネクタフラットケ−ブルを取り込み搬送し、位置決め
機構部で、搬送部から得たコネクタフラットケ−ブルの
試験機構部への位置決めを行い、位置決めされたコネク
タフラットケ−ブルの上部のコネクタを上部導通耐圧試
験機構部で試験部に接続し、コネクタフラットケ−ブル
の下部のコネクタを下部導通耐圧試験機構部で試験部に
接続し、フラットケ−ブルコネクタの電気的な試験を自
動的に行い得て、効率化が図れる。In the connector flat cable continuity withstand voltage test device according to the first aspect, the connector flat cable supply section supplies and stores the connector flat cable, and the transport section supplies the connector flat cable. The connector flat cable is taken in from the section and transported, and the positioning mechanism section positions the connector flat cable obtained from the transport section to the test mechanism section, and the upper connector of the positioned connector flat cable is removed. The upper continuity withstand voltage test mechanism is connected to the test section, the lower connector of the connector flat cable is connected to the test section with the lower continuity withstand voltage test mechanism, and the electrical test of the flat cable connector is automatically performed. As a result, efficiency can be improved.
【００１３】また、請求項２に記載のコネクタフラット
ケ−ブル導通耐圧試験装置においては、マスクプレ−ト
で上部導通耐圧試験機構部のプロ−ブヘッドの余分なプ
ロ−ブピンをマスクすることにより、プロ−ブヘッドを
交換すること無くコネクタ接触端子数に対応し、プロ−
ブヘッドの交換を不要にして作業性を向上させることが
出来る。Further, in the connector flat cable continuity withstand voltage test device according to the present invention, an unnecessary probe pin of the probe head of the upper continuity withstand voltage test mechanism is masked by a mask plate, so that the probe is masked. -The number of connector contact terminals can be changed without replacing the
Workability can be improved by eliminating the need to replace the head.
【００１４】また、請求項３に記載のコネクタフラット
ケ−ブル導通耐圧試験装置においては、作動用シリンダ
の作動により位置決めホルダ−機構を作動してコネクタ
フラットケ−ブルのケ−ブルを挟み、昇降シリンダの作
動により絶縁部材を下降させてコネクタフラットケ−ブ
ルのケ−ブルを下方へ習わせ、この時、下部のコネクタ
の上部端面を位置決めホルダ−機構で保持する。次に、
作動用シリンダを作動してストッパ機構をコネクタの側
面へ押し当て、作動用シリンダの作動でプロ−ブヘッド
を前進させてコネクタのコネクタ端子へプロ−ブピンを
接触させ、その後、導通耐圧試験を行う。このように、
下部導通耐圧試験機構部を上昇、下降できるようにして
コネクタフラットケ−ブルのケ−ブル長に対して自在に
対応し得る。Further, in the connector flat cable continuity withstand voltage test device according to the third aspect, the positioning holder mechanism is operated by the operation of the operating cylinder to sandwich the cable of the connector flat cable and move up and down. The insulating member is lowered by the operation of the cylinder, so that the cable of the connector flat cable is moved downward. At this time, the upper end face of the lower connector is held by the positioning holder mechanism. next,
The operation cylinder is operated to press the stopper mechanism against the side surface of the connector, and the operation of the operation cylinder advances the probe head to bring the probe pin into contact with the connector terminal of the connector. in this way,
The lower continuity withstand voltage test mechanism can be raised and lowered so that the cable length of the connector flat cable can be freely adjusted.
【００１５】また、請求項４に記載のコネクタフラット
ケ−ブル導通耐圧試験装置においては、搬送案内レ−ル
部の案内レ−ルにレベル差を設けることにより、コネク
タフラットケ−ブルのコネクタの反転により、このコネ
クタに設けられた逆差し防止突起部が上下いずれかに位
置しても、コネクタ接触端子位置が変わらず同一機構で
試験が行い得る。Further, in the connector flat cable continuity withstand voltage test device according to the fourth aspect, by providing a level difference in the guide rail of the transport guide rail portion, the connector of the connector flat cable is provided. Due to the reversal, even if the reverse insertion prevention protrusion provided on the connector is located at either the upper or lower position, the test can be performed by the same mechanism without changing the position of the connector contact terminal.
【００１６】[0016]
【実施例】以下、本発明の一実施例を図面に基づいて説
明する。図１は、本発明に係るコネクタフラットケ−ブ
ル導通耐圧試験装置の平面図、図２は同コネクタフラッ
トケ−ブル導通耐圧試験装置の正面図、図３は同コネク
タフラットケ−ブル導通耐圧試験装置の左側面図であ
る。An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a plan view of a connector flat cable continuity withstand voltage test device according to the present invention, FIG. 2 is a front view of the connector flat cable continuity withstand voltage test device, and FIG. It is a left view of an apparatus.
【００１７】本発明に係るコネクタフラットケ−ブル導
通耐圧試験装置は、コネクタフラットケ−ブル供給部１
と、搬送案内レ−ル部３を含む搬送部２と、位置決め機
構部４と、上部導通耐圧試験機構部５と、下部導通耐圧
試験機構部６を備えている。The connector flat cable continuity withstand voltage test device according to the present invention comprises a connector flat cable supply unit 1.
And a transport section 2 including a transport guide rail section 3, a positioning mechanism section 4, an upper continuity breakdown voltage test mechanism section 5, and a lower continuity breakdown voltage test mechanism section 6.
【００１８】前記コネクタフラットケ−ブル供給部１
は、図４に示すようにコネクタフラットケ−ブル供給用
の一対の供給ガイドレ−ル８ａ、８ｂを備えており、こ
れらの供給ガイドレ−ル８ａ、８ｂは連結プレ−ト９で
互いに連結してある。そして、供給ガイドレ−ル８ａ、
８ｂは、搬送案内レ−ル部３に向かって傾斜させてあ
る。The connector flat cable supply section 1
Is provided with a pair of supply guide rails 8a and 8b for supplying a connector flat cable as shown in FIG. 4, and these supply guide rails 8a and 8b are connected to each other by a connection plate 9. is there. And a supply guide rail 8a,
8b is inclined toward the conveyance guide rail 3.
【００１９】前記搬送部２は搬送案内レ−ル部３を備え
ており、この搬送案内レ−ル部３は図４、図１４
（１）、（２）に示すように案内レ−ル１９、２０を有
し、これらはベ−スプレ−ト２１、２２に取り付けてあ
る。そして、案内レ−ル１９は、案内レ−ル２０より高
く両者にレベル差ｔが持たせてある。The transport section 2 has a transport guide rail section 3, which is shown in FIGS.
As shown in (1) and (2), guide rails 19 and 20 are provided, which are attached to base plates 21 and 22. The guide rail 19 is higher than the guide rail 20 and has a level difference t.
【００２０】また、前記搬送部２は、図５に示すよう支
持台１０上に設けたシリンダ１１ａ、１１ｂを備えてお
り、これらのシリンダ１１ａ、１１ｂのロッド先端にハ
ンド１２、１３が取り付けてあり、支持台１０は連結金
具１４にてタイミングベルト１５に連結されていて、タ
イミングベルト１５の送りによりガイドレ−ル１６上を
移動する。タイミングベルト１５はプ−リ１７と他のプ
−リ１７ａとの間に掛けてあり、プ−リ１７は、タイミ
ングベルト１６を回転走行させるためのモ−タ１８の出
力軸１８ａに取り付けてある。前記ハンド１２はフック
１２ａを有し、前記ハンド１３はフック１３ａ、１３ｂ
を有する。The transfer section 2 has cylinders 11a and 11b provided on a support table 10 as shown in FIG. 5, and hands 12 and 13 are attached to the rod ends of these cylinders 11a and 11b. The support 10 is connected to a timing belt 15 by a connection fitting 14, and is moved on a guide rail 16 by feeding of the timing belt 15. The timing belt 15 is hung between the pulley 17 and another pulley 17a, and the pulley 17 is attached to an output shaft 18a of a motor 18 for rotating the timing belt 16 to run. . The hand 12 has a hook 12a, and the hand 13 has hooks 13a, 13b.
Having.
【００２１】前記位置決め機構部４は、図６に示すよう
に支持台２３に支持されたシリンダ２４を備えており、
シリンダ２４のロッド２４ａ先端には支持金具２５が取
り付けてあり、この支持金具２５に移動可能にガイドレ
−ル２６が取り付けてある。このガイドレ−ル２６には
マスクプレ−ト２７が取り付けてあり、前記支持金具２
５にはマスクプレ−ト２７をガイドレ−ル２６と共に、
往復運動させるシリンダ２８が取り付けてある。The positioning mechanism 4 includes a cylinder 24 supported by a support 23 as shown in FIG.
A support bracket 25 is attached to the tip of the rod 24a of the cylinder 24, and a guide rail 26 is attached to the support bracket 25 so as to be movable. A mask plate 27 is attached to this guide rail 26, and the support fitting 2
5, a mask plate 27 is provided together with a guide rail 26.
A reciprocating cylinder 28 is mounted.
【００２２】前記上部導通耐圧試験機構部５は、図７に
示すように支持部材２９に取り付けられたプロ−ブ用シ
リンダ３０を備えており、プロ−ブ用シリンダ３０のロ
ッド３０ａには、プロ−ブヘッド３１が取り付けてあ
り、このプロ−ブヘッド３１には多数のプロ−ブピン３
２が設けてある。また、保持部材３３にシリンダ３４が
取り付けられており、このシリンダ３４のロッド３４ａ
には連結金具３５を介してスライドレ−ル３６がネジ止
めされており、このスライドレ−ル３６の先端にストッ
パ−部材３７が取り付けてある。このストッパ−部材３
７はシリンダ３４の作動により往復運動を行う。また、
前記支持部材２９に設けられた保持部材２９ａにはシリ
ンダ３８が取り付けてあり、このシリンダ３８のロッド
３８ａ先端にはコネクタ押さえ３９が固定されている。
尚、プローブピン３２は、フラットケーブルコネクタの
導通耐圧試験を行う試験部（図示せず）に電気的に接続
されているものである。As shown in FIG. 7, the upper continuity withstand voltage test mechanism section 5 includes a probe cylinder 30 attached to a support member 29, and a rod 30a of the probe cylinder 30 has a probe cylinder 30a. A plurality of probe pins 3 attached to the probe head 31;
2 are provided. A cylinder 34 is attached to the holding member 33, and a rod 34a of the cylinder 34
A slide rail 36 is screwed through a connecting bracket 35, and a stopper member 37 is attached to the tip of the slide rail 36. This stopper member 3
7 reciprocates by the operation of the cylinder 34. Also,
A cylinder 38 is attached to a holding member 29 a provided on the support member 29, and a connector holder 39 is fixed to a tip of a rod 38 a of the cylinder 38.
The probe pins 32 are electrically connected to a test unit (not shown) for conducting a continuity withstand voltage test of the flat cable connector.
【００２３】前記下部導通耐圧試験機構部６は、図８お
よび図９に示すようにベ−スプレ−ト４０を備えてお
り、このベ−スプレ−ト４０には固定部材４１、４２に
よりガイドレ−ル４３、４４の下部が固着してあり、こ
れらのガイドレ−ル４３、４４には絶縁部材４５が支持
部材４６、４７を介して昇降可能に設けてある。前記ベ
−スプレ−ト４０には昇降シリンダ４８が取り付けてあ
り、この昇降シリンダ４８のロッド４８ａ先端部にはド
グ４９が取り付けてある。また、前記絶縁部材４５に設
けた支持部材７９にはカムフォロア８０が支持されてい
る。前記シリンダ４８の上下動によりドグ４９がカムフ
ォロア８０に接して絶縁部材４５の昇降動作を操作す
る。また、ドグ４９によりマイクロスイッチ５０は開閉
作動する。このマイクロスイッチ５０は前記絶縁部材４
５に設けた保持部材５１に取り付けてある。The lower continuity withstand voltage test mechanism 6 has a base plate 40 as shown in FIGS. 8 and 9, and the base plate 40 is fixed to the guide rails by fixing members 41 and 42. The lower portions of the rails 43 and 44 are fixed, and an insulating member 45 is provided on these guide rails 43 and 44 via support members 46 and 47 so as to be able to move up and down. An elevating cylinder 48 is attached to the base plate 40, and a dog 49 is attached to a tip of a rod 48a of the elevating cylinder 48. A cam follower 80 is supported by a support member 79 provided on the insulating member 45. The dog 49 comes into contact with the cam follower 80 by the up and down movement of the cylinder 48 to operate the raising and lowering operation of the insulating member 45. The microswitch 50 is opened and closed by the dog 49. The micro switch 50 is provided with the insulating member 4.
5 is attached to the holding member 51 provided.
【００２４】前記絶縁部材４５にはＵ字形状のホルダー
５２が取り付けてあり、このホルダー５２には、位置決
めホルダ−機構５３、５４、ストッパ機構６３、テスト
ヘッド機構６４とが設けてある。位置決めホルダ−機構
５３、５４は、第１、第２のボ−ルベアリングホルダ５
３ａ、５４ａを有し、第１、第２のボ−ルベアリングホ
ルダ５３ａ、５４ａにはスライドシャフト５５、５６が
左右方向に移動可能に設けてあり、スライドシャフト５
５、５６の内端部には位置決めホルダ−５７、５８が、
スライドシャフト５５、５６の外端部にはエンドプレ−
ト５９、６０が取り付けてあり、スライドシャフト５
５、５６はスプリング６１、６２により外方に付勢され
ている。A U-shaped holder 52 is attached to the insulating member 45. The holder 52 is provided with positioning holder mechanisms 53 and 54, a stopper mechanism 63, and a test head mechanism 64. The positioning holder mechanisms 53 and 54 include the first and second ball bearing holders 5.
3a, 54a, slide shafts 55, 56 are provided on the first and second ball bearing holders 53a, 54a so as to be movable in the left-right direction.
Positioning holders 57, 58 are provided at the inner ends of 5, 56,
End plates are provided on the outer ends of the slide shafts 55 and 56.
And the slide shaft 5
5 and 56 are urged outward by springs 61 and 62.
【００２５】また、前記ストッパ機構６３は、第３のボ
−ルベアリングホルダ６３ａを備え、このボ−ルベアリ
ングホルダ６３ａには、スライドシャフト６５が左右方
向に移動可能に設けてあり、スライドシャフト６５の内
端部にはストッパー６７が、スライドシャフト６５の外
端部にはエンドプレ−ト６８が取り付けてあり、スライ
ドシャフト６５はスプリング６９により外方に付勢され
ている。The stopper mechanism 63 includes a third ball bearing holder 63a. A slide shaft 65 is provided on the ball bearing holder 63a so as to be movable in the left-right direction. A stopper 67 is attached to the end, and an end plate 68 is attached to the outer end of the slide shaft 65. The slide shaft 65 is urged outward by a spring 69.
【００２６】また、前記テストヘッド機構６４は第４の
ボ−ルベアリングホルダ６４ａを備え、このボ−ルベア
リングホルダ６４ａには、スライドシャフト６６が左右
方向に移動可能に設けてあり、このスライドシャフト６
６の内端部にはテストヘッド７０が取り付けてあり、こ
のテストヘッド７０に多数本のプロ−ブ７１が植設して
あり、また、スライドシャフト６６の外端部にはエンド
プレ−ト７２が取り付けてあり、スライドシャフト６６
はスプリング７３により外方に付勢されている。尚、プ
ローブ７１は前記試験部（図示せず）に電気的に接続さ
れているものである。The test head mechanism 64 has a fourth ball bearing holder 64a, and a slide shaft 66 is provided on the ball bearing holder 64a so as to be movable in the left-right direction.
A test head 70 is attached to an inner end of the slide shaft 6, a number of probes 71 are implanted in the test head 70, and an end plate 72 is mounted to an outer end of the slide shaft 66. Attached, slide shaft 66
Is urged outward by a spring 73. The probe 71 is electrically connected to the test section (not shown).
【００２７】前記絶縁部材４５には支持ブラケット７
４、７５が取り付けてあり、支持ブラケット７４、７５
には前記位置決めホルダ−機構５３、５４、ストッパ機
構６３、テストヘッド機構６４のそれぞれの作動用シリ
ンダ７６、７７、７８、８１が取り付けてある。The insulating member 45 includes a support bracket 7
4 and 75 are attached, and support brackets 74 and 75
The operating cylinders 76, 77, 78, 81 of the positioning holder mechanisms 53, 54, the stopper mechanism 63, and the test head mechanism 64 are attached to the actuator.
【００２８】また、図９に示すように前記絶縁部材４５
に取り付けられた支持ブラケット８２、８３には、支持
台８４が取り付けてあり、支持台８４にはシリンダ８５
が取り付けてある。このシリンダ８５のロッド８５ａ先
端には保持部材８６が取り付けてあって、この保持部材
８６にシリンダ８７が保持部材８８を介して取り付けて
ある。Further, as shown in FIG.
A support base 84 is mounted on the support brackets 82 and 83 mounted on the base.
Is attached. A holding member 86 is attached to the distal end of the rod 85 a of the cylinder 85, and a cylinder 87 is attached to the holding member 86 via a holding member 88.
【００２９】図１５にコネクタフラットケ−ブル７を示
す。このコネクタフラットケ−ブル７はフラットケ−ブ
ル部９０の上、下端部にコネクタ９１、９２を接続した
ものである。上部のコネクタ９１には逆差し防止突起部
９３が形成してある。FIG. 15 shows the connector flat cable 7. This connector flat cable 7 has connectors 91 and 92 connected to the upper and lower ends of a flat cable section 90. A reverse insertion prevention projection 93 is formed on the upper connector 91.
【００３０】次に、本発明に係るコネクタフラットケ−
ブル導通耐圧試験装置の作動について説明する。 （１）コネクタフラットケ−ブル供給部１の作動 図４に示すようにコネクタフラットケ−ブル供給部１の
傾斜した一対の供給用ガイドレ−ル８ａ、８ｂには、こ
の供給用ガイドレ−ル８ａ、８ｂに上部のコネクタ９１
を載せてコネクタフラットケ−ブル７が多数個並べてあ
る。そして、最前のコネクタフラットケ−ブル７は搬送
案内レ−ル部３の案内レール１９に当接している。Next, the connector flat case according to the present invention will be described.
The operation of the bull continuity withstand voltage test device will be described. (1) Operation of the connector flat cable supply section 1 As shown in FIG. 4, the pair of supply guide rails 8a and 8b of the connector flat cable supply section 1 are provided with the supply guide rail 8a. , 8b with the upper connector 91
And a number of connector flat cables 7 are arranged. The foremost connector flat cable 7 is in contact with the guide rail 19 of the transport guide rail portion 3.
【００３１】この状態で、搬送案内レ−ル部３のレ−ル
１９、２０と平行に配列されたハンド１２、１３がシリ
ンダ１１ａ、１１ｂにより前進作動し、モ−タ１８の作
動によりタイミングベルト１５を介して支持台１０をガ
イドレ−ル１６上を一定量移動させることにより、ハン
ド１３のフック１３ｂで最前のコネクタフラットケ−ブ
ル７を押して、図１４の（１）に示すようにコネクタフ
ラットケ−ブル７を搬送案内レ−ル部３の案内レール１
９、２０間に取り込む。したがって、次のコネクタフラ
ットケ−ブル７は供給用ガイドレ−ル８ａ、８ｂの傾斜
に沿って滑り、搬送案内レ−ル部３側に位置する。 （２）搬送部２の作動 上記のように搬送案内レ−ル部３のレ−ル１９、２０間
に位置したコネクタフラットケ−ブル７は、モ−タ１８
の作動によりタイミングベルト１５を介して移動する支
持台１０のハンド１３のフック１３ｂで引っ掛けられて
装置内へ搬送しされる。In this state, the hands 12, 13 arranged in parallel with the rails 19, 20 of the transport guide rail section 3 are advanced by the cylinders 11a, 11b, and the timing belt is operated by the operation of the motor 18. By moving the support base 10 by a fixed amount on the guide rail 16 via the reference numeral 15, the front connector flat cable 7 is pushed by the hook 13b of the hand 13, and the connector flat as shown in FIG. The cable 7 is connected to the guide rail 1 of the transport guide rail section 3.
Capture between 9 and 20. Therefore, the next connector flat cable 7 slides along the inclination of the supply guide rails 8a and 8b, and is located on the side of the transport guide rail portion 3. (2) Operation of the transport section 2 As described above, the connector flat cable 7 located between the rails 19 and 20 of the transport guide rail section 3 is a motor 18
Is moved by the hook 13b of the hand 13 of the support base 10 that moves via the timing belt 15 and is conveyed into the apparatus.
【００３２】次に、シリンダ１１ａ、１１ｂを後退作動
してハンド１２、１３を後退させ、モ−タ１８を反転作
動してハンド１２、１３を初期位置へ戻した後、前記動
作を繰り返してコネクタフラットケ−ブル７を装置内へ
取り込む。これと同時に最初に取り込んだコネクタフラ
ットケ−ブル７をハンド１３のフック１３ａに引っ掛け
て上、下導通耐圧試験機構部５、６への搬送を行う。Next, the cylinders 11a and 11b are moved backward to move the hands 12, 13 backward, and the motor 18 is turned over to return the hands 12, 13 to the initial position. The flat cable 7 is taken into the apparatus. At the same time, the connector flat cable 7 first taken in is hooked on the hook 13a of the hand 13 and transported to the upper and lower continuity withstand voltage test mechanisms 5, 6.
【００３３】また、試験終了後のコネクタフラットケ−
ブル７をハンド１２のフック１２ａに引っ掛けて排出す
る。試験結果不良判定時は、前記と同じくフック１２ａ
に引っ掛けて試験部より一定量移動後、停止してランプ
表示を行う。排出は、人手により行う。 （３）搬送案内レ−ル部３の作動 案内レ−ル１９、２０に上部のコネクタ９１を当接させ
てこのコネクタフラットケ−ブル７を吊り下げた状態で
このコネクタフラットケ−ブル７は案内レ−ル１９、２
０上を滑動する。この場合、前記コネクタフラットケ−
ブル７の上部のコネクタ９１の逆差し防止突起部９３は
下方に突出しているが、前記搬送案内レ−ル部３のレ−
ル１９、２０にはレベル差ｔが設けてあるために、逆差
し防止突起部９３はレベル差ｔに吸収されて円滑に搬送
される。 （４）位置決め機構部４の作動 搬送案内レ−ル部３上を搬送されたコネクタフラットケ
−ブル７が、位置決め機構部４のマスクプレ−ト２７の
先端より外側約１０ｍｍに位置した時に、シリンダ２４
の前進作動でマスクプレ−ト２７が搬送案内レ−ル部３
に沿ってコネクタフラットケ−ブル７の後方に位置し、
上部導通耐圧試験機構部５のストッパ部材３７を図１３
に示す位置に前進させた状態で、前記シリンダ２８が作
動してマスクプレ−ト２７の先端部でコネクタフラット
ケ−ブル７のコネクタ９１をストッパ部材３７の側面ま
で押し寄せて位置決めを行う。 （５）上部導通耐圧試験機構部５の作動 前記の位置決め機構部４により上部導通耐圧試験機構部
５位置に搬送されたコネクタフラットケ−ブル７は、シ
リンダ３８の下降でコネクタ押さえ３９によりコネクタ
９１を押さえ、水平方向の位置決めを行う。 （６）下部導通耐圧試験機構部６の作動 作動用シリンダ７６、７７の作動により位置決めホルダ
−５７、５８が間隔２ｍｍをあけてコネクタフラットケ
−ブル７のケ−ブル９０を挟み、昇降シリンダ４８の作
動により絶縁部材４５を下降させてコネクタフラットケ
−ブル７のケ−ブル９０を下方へ習わせる。Further, the connector flat case after the test is completed.
The bull 7 is hooked on the hook 12a of the hand 12 and discharged. When the test result is determined to be defective, the hook 12a is
After moving a certain amount from the test section, stop and display the lamp. Discharge is performed manually. (3) Operation of the transport guide rail portion 3 The connector flat cable 7 is suspended in a state where the upper connector 91 is brought into contact with the guide rails 19 and 20 and the connector flat cable 7 is suspended. Guide rails 19, 2
Glide over 0. In this case, the connector flat case
The reverse insertion preventing projection 93 of the connector 91 on the upper part of the cable 7 projects downward, but the rail of the conveyance guide rail 3
Since the level differences t are provided in the sockets 19 and 20, the reverse insertion preventing projection 93 is absorbed by the level difference t and is smoothly transported. (4) Operation of the positioning mechanism 4 When the connector flat cable 7 conveyed on the conveyance guide rail 3 is positioned about 10 mm outside the tip of the mask plate 27 of the positioning mechanism 4, the cylinder 24
The plate 27 is moved by the forward movement of the mask plate 27.
Is located behind the connector flat cable 7 along
FIG. 13 shows the stopper member 37 of the upper continuity withstand voltage test mechanism 5.
When the cylinder 28 is actuated to the position shown in (1), the tip of the mask plate 27 pushes the connector 91 of the connector flat cable 7 to the side of the stopper member 37 to perform positioning. (5) Operation of the upper continuity withstand voltage test mechanism 5 The connector flat cable 7 conveyed to the position of the upper continuity withstand voltage test mechanism 5 by the positioning mechanism 4 is moved downward by the cylinder 38 to the connector 91 by the connector holder 39. To perform horizontal positioning. (6) Operation of the lower continuity withstand voltage test mechanism 6 The operation of the operating cylinders 76 and 77 causes the positioning holders 57 and 58 to hold the cable 90 of the connector flat cable 7 at a distance of 2 mm, With the operation described above, the insulating member 45 is lowered, so that the cable 90 of the connector flat cable 7 is learned downward.
【００３４】この時、下部のコネクタ９２の上部端面を
位置決めホルダ−５７、５８の下面エッジで保持する
と、図１２に示すようにコネクタフラットケ−ブル７は
吊り下がった状態となる。At this time, when the upper end face of the lower connector 92 is held by the lower edges of the positioning holders 57 and 58, the connector flat cable 7 is suspended as shown in FIG.
【００３５】その後、図９に示すシリンダ８５を前進し
た後、シリンダ８７を前進させて下部のコネクタ９２の
側面を押し寄せて、位置決めホルダ−５７、５８の端面
へ位置決めを行う。Then, after the cylinder 85 shown in FIG. 9 is advanced, the cylinder 87 is advanced to push the side surface of the lower connector 92 to perform positioning on the end faces of the positioning holders 57 and 58.
【００３６】前記動作後、上部のコネクタ９１に対し前
記シリンダ３０を作動してプロ−ブヘッド３１を前進さ
せ、コネクタピン（図示せず）にプロ−ブピン３２が挿
入接触される。After the above operation, the cylinder 30 is operated with respect to the upper connector 91 to move the probe head 31 forward, and the probe pin 32 is inserted into contact with a connector pin (not shown).
【００３７】次に、下部のコネクタ９２に対し作動用シ
リンダ７８を作動してストッパ６７をコネクタ９２の側
面へ押し当て作動用シリンダ８１の作動でテストヘッド
７０が前進してコネクタ９２のコネクタ端子へプロ−ブ
ピン７１を接触させる。その後、前記試験部は、上部導
通耐圧試験機構部５に設けられているプローブヘッド３
１のプローブピン３２と、下部導通耐圧試験機構部６に
設けられているテストヘッド７０のプローブピン７１と
に、電圧を印加し、導通耐圧試験を行う。Next, the operating cylinder 78 is operated against the lower connector 92, and the stopper 67 is pressed against the side surface of the connector 92, whereby the test head 70 moves forward by the operation of the operating cylinder 81 to the connector terminal of the connector 92. The probe pin 71 is brought into contact. Thereafter, the test section is connected to the probe head 3 provided in the upper continuity withstand voltage test mechanism section 5.
A voltage is applied to one probe pin 32 and a probe pin 71 of a test head 70 provided in the lower continuity withstand voltage test mechanism 6 to conduct a continuity withstand voltage test.
【００３８】前記のプロ−ブピン３２は、最大ピン数５
０本で対応されており、コネクタピン数の種類によりプ
ロ−ブヘッド３１の交換を避けるためにコネクタピン数
に対し余分なピンをマスクプレ−ト２７でマスクするよ
うにしてプロ−ブピン３２の曲がりとプロ−ブヘッド３
１の交換を避ける。The probe pin 32 has a maximum pin number of 5
According to the number of connector pins, an extra pin is masked by the mask plate 27 with respect to the number of connector pins in order to avoid replacement of the probe head 31 depending on the type of connector pin. Probe head 3
Avoid replacing 1.
【００３９】また、前記コネクタフラットケ−ブル７の
コネクタ９１には逆差し防止用の突起９２が形成してあ
るが、前記搬送案内レ−ル部３の案内レ−ル１９、２０
にはレベル差ｔがあるために、逆差し防止突起部９３は
レベル差ｔに吸収されて円滑に搬送されるが、図１４の
（２）に示すように逆差し防止突起部９３が上方に向い
ている場合にも円滑に搬送される。The connector 91 of the connector flat cable 7 is formed with a projection 92 for preventing reverse insertion, but the guide rails 19 and 20 of the transport guide rail portion 3 are provided.
Since there is a level difference t, the reverse insertion preventing projection 93 is absorbed by the level difference t and is smoothly transported. However, as shown in FIG. Even when it is facing, it is transported smoothly.
【００４０】[0040]
【発明の効果】以上説明したように、本発明は、コネク
タフラットケ−ブルの導通耐圧試験を行う試験部と、コ
ネクタフラットケ−ブルをストックし供給するコネクタ
フラットケ−ブル供給部と、このコネクタフラットケ−
ブル供給部からコネクタフラットケ−ブルを取り込み搬
送する搬送部と、この搬送部から得たコネクタフラット
ケ−ブルの試験機構部への位置決めを行う位置決め機構
部と、位置決めされたコネクタフラットケ−ブルの上部
のコネクタを上記試験部に接続する上部導通耐圧試験機
構部と、コネクタフラットケ−ブルの下部のコネクタを
上記試験部に接続する下部導通耐圧試験機構部とを備え
たことから、コネクタフラットケ−ブル供給部でコネク
タフラットケ−ブルをストックおよび供給し、搬送部
で、コネクタフラットケ−ブル供給部からコネクタフラ
ットケ−ブルを取り込み搬送し、位置決め機構部で、搬
送部から得たコネクタフラットケ−ブルの試験機構部へ
の位置決めを行い、位置決めされたコネクタフラットケ
−ブルの上部のコネクタを上部導通耐圧試験機構部で上
記試験部に接続し、コネクタフラットケ−ブルの下部の
コネクタを下部導通耐圧試験機構部で上記試験部に接続
し、フラットケ−ブルコネクタの電気的な試験を自動的
に行い得る。As described above, the present invention provides a test section for conducting a continuity withstand voltage test of a connector flat cable, a connector flat cable supply section for stocking and supplying the connector flat cable, and Connector flat case
A transport unit that takes in and transports the connector flat cable from the cable supply unit, a positioning mechanism that positions the connector flat cable obtained from the transport unit to the test mechanism, and a positioned connector flat cable The upper connector has an upper continuity withstand voltage test mechanism for connecting the upper connector to the test section, and the lower continuity withstand voltage test mechanism for connecting the lower connector of the connector flat cable to the test section. The connector flat cable is stocked and supplied by the cable supply section, the connector flat cable is taken in from the connector flat cable supply section by the transport section, transported, and the connector obtained from the transport section by the positioning mechanism section. Position the flat cable to the test mechanism, and connect the upper connector of the positioned flat cable to the connector. The upper continuity withstand voltage test mechanism is connected to the test section, and the lower connector of the connector flat cable is connected to the test section with the lower continuity withstand voltage test mechanism to conduct an electrical test of the flat cable connector. Can be done automatically.
【００４１】また、本発明は、請求項１記載のコネクタ
フラットケ−ブル導通耐圧試験装置において、コネクタ
位置決め機構部は、上部導通耐圧試験機構部のプロ−ブ
ヘッドの余分なプロ−ブピンをマスクするマスクプレ−
トを備え、プロ−ブヘッドを交換すること無くコネクタ
接触端子数に対応するようにしたことから、マスクプレ
−トで上部導通耐圧試験機構部のプロ−ブヘッドの余分
なプロ−ブピンをマスクすることにより、プロ−ブヘッ
ドを交換すること無くコネクタ接触端子数に対応し、プ
ロ−ブヘッドの交換を不要にして作業性を向上させるこ
とが出来る。Further, according to the present invention, in the connector flat cable continuity withstand voltage test device, the connector positioning mechanism masks an extra probe pin of the probe head of the upper continuity withstand voltage test mechanism. Mask Play
Since the number of connector contact terminals can be adjusted without replacing the probe head, a mask plate can be used to mask the extra probe pins of the probe head of the upper continuity withstand voltage test mechanism. In addition, the number of connector contact terminals can be accommodated without replacing the probe head, so that the probe head does not need to be replaced and the workability can be improved.
【００４２】また、本発明は、請求項１記載のコネクタ
フラットケ−ブル導通耐圧試験装置において、下部導通
耐圧試験機構部は、ガイドレ−ルに沿うて昇降可能する
絶縁部材を有し、この絶縁部材に、コネクタフラットケ
−ブルのケーブルを位置決めホルダ−により左右から挟
みこれら位置決めホルダ−の下降により下部のコネクタ
を押さえて位置決めを行う位置決めホルダ−機構と、こ
の位置決めされた下部のコネクタの一方の側面にストッ
パを当接させるストッパ機構と、位置決めされた下部の
コネクタの他方の側面側からコネクタ端子にプローブピ
ンを接触するテストヘッド機構と、これら位置決めホル
ダ−機構、ストッパ機構、テストヘッド機構のそれぞれ
の作動を行う作動用シリンダとを設け、絶縁部材を昇降
シリンダにより昇降動させるようにしたことから、作動
用シリンダの作動により位置決めホルダ−機構を作動し
てコネクタフラットケ−ブルのケ−ブルを挟み、昇降シ
リンダの作動により絶縁部材を下降させてコネクタフラ
ットケ−ブルのケ−ブルを下方へ習わせ、この時、下部
のコネクタの上部端面を位置決めホルダ−機構で保持す
る。次に、作動用シリンダを作動してストッパ機構をコ
ネクタの側面へ押し当て、作動用シリンダの作動でプロ
−ブヘッドを前進させてコネクタのコネクタ端子へプロ
−ブピンを接触させ、その後、導通耐圧試験を行う。こ
のように、下部導通耐圧試験機構部を上昇、下降出来る
ようにしてコネクタフラットケ−ブルのケ−ブル長に対
して自在に対応出来得る。Further, according to the present invention, in the connector flat cable continuity withstand voltage test device according to the first aspect, the lower continuity withstand voltage test mechanism has an insulating member which can be moved up and down along the guide rail. A positioning holder mechanism for sandwiching the cable of the connector flat cable from the left and right by the positioning holder, holding down the lower connector by lowering the positioning holder, and one of the positioned lower connectors. A stopper mechanism for abutting a stopper on a side surface, a test head mechanism for contacting a probe pin to a connector terminal from the other side surface of the positioned lower connector, and a positioning holder mechanism, a stopper mechanism, and a test head mechanism, respectively. And an operating cylinder that operates the Since the moving cylinder is operated, the positioning holder mechanism is operated by the operation of the operation cylinder to pinch the cable of the connector flat cable, and the insulating member is lowered by the operation of the elevating cylinder to lower the connector flat cable. Of the lower connector, and at this time, the upper end face of the lower connector is held by the positioning holder mechanism. Next, the operating cylinder is operated to press the stopper mechanism against the side of the connector, and the probe head is advanced by operating the operating cylinder to bring the probe pin into contact with the connector terminal of the connector. I do. In this way, the lower continuity withstand voltage test mechanism can be raised and lowered so that the cable length of the connector flat cable can be freely adjusted.
【００４３】また、本発明は、請求項１記載のコネクタ
フラットケ−ブル導通耐圧試験装置において、搬送案内
レ−ル部の案内レ−ルのレベル差を設ける構成にしたこ
とから、コネクタフラットケ−ブルのコネクタに設けら
れた逆差し防止の突起部がコネクタの反転により、上下
いずれかに位置してもコネクタ接触端子位置が変わらず
同一機構で試験が行い得る。Further, according to the present invention, in the connector flat cable continuity withstand voltage test device, the level difference of the guide rail of the transport guide rail portion is provided, so that the connector flat cable is provided. Even if the protrusion for preventing reverse insertion provided on the connector of the cable is located up or down due to the inversion of the connector, the position of the connector contact terminal does not change and the test can be performed by the same mechanism.
【図１】本発明に係るコネクタフラットケ−ブル導通耐
圧試験装置の平面図である。FIG. 1 is a plan view of a connector flat cable continuity withstand voltage test device according to the present invention.
【図２】同コネクタフラットケ−ブル導通耐圧試験装置
の正面図である。FIG. 2 is a front view of the connector flat cable continuity withstand voltage test device.
【図３】同コネクタフラットケ−ブル導通耐圧試験装置
の左側面図である。FIG. 3 is a left side view of the connector flat cable continuity withstand voltage test device.
【図４】コネクタフラットケ−ブル供給部の斜視図であ
る。FIG. 4 is a perspective view of a connector flat cable supply unit.
【図５】搬送部の一部省略した斜視図である。FIG. 5 is a perspective view of a conveyance unit with a part thereof omitted;
【図６】位置決め機構部の斜視図である。FIG. 6 is a perspective view of a positioning mechanism.
【図７】上部導通耐圧試験機構部の斜視図である。FIG. 7 is a perspective view of an upper continuity withstand voltage test mechanism.
【図８】下部導通耐圧試験機構部の右側面図である。FIG. 8 is a right side view of a lower continuity withstand voltage test mechanism.
【図９】同下部導通耐圧試験機構部の平面図である。FIG. 9 is a plan view of the lower continuity withstand voltage test mechanism.
【図１０】下部導通耐圧試験機構部の一部省略した斜視
図である。FIG. 10 is a partially omitted perspective view of a lower continuity withstand voltage test mechanism.
【図１１】下部導通耐圧試験機構部とコネクタフラット
ケ−ブルの試験作業工程の説明図である。FIG. 11 is an explanatory view of a test operation process of a lower continuity withstand voltage test mechanism and a connector flat cable.
【図１２】同ケ−ブル長に習った試験作業工程の説明図
である。FIG. 12 is an explanatory diagram of a test operation process learned from the cable length.
【図１３】位置決め状態を示す斜視図である。FIG. 13 is a perspective view showing a positioning state.
【図１４】（１）はコネクタフラットケ−ブルと搬送案
内レ−ルの状態を示す斜視図である。（２）は、（１）
に示すコネクタの反転状態を示す斜視図である。FIG. 14A is a perspective view showing a state of a connector flat cable and a conveyance guide rail. (2) is (1)
FIG. 4 is a perspective view showing the inverted state of the connector shown in FIG.
【図１５】コネクタフラットケ−ブルの説明図である。FIG. 15 is an explanatory diagram of a connector flat cable.
１ コネクタフラットケ−ブル供給部 ２ 搬送部 ４ 位置決め機構部 ５ 上部導通耐圧試験機構部 ６ 下部導通耐圧試験機構部 ７ コネクタフラットケ−ブル ９１ 上部のコネクタ ９２ 下部のコネクタ DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Connector flat cable supply part 2 Transport part 4 Positioning mechanism part 5 Upper continuity withstand voltage test mechanism part 6 Lower continuity withstand voltage test mechanism part 7 Connector flat cable 91 Upper connector 92 Lower connector
Claims (4)
験を行う試験部と、コネクタフラットケ−ブルをストッ
クし供給するコネクタフラットケ−ブル供給部と、この
コネクタフラットケ−ブル供給部からコネクタフラット
ケ−ブルを取り込み搬送する搬送部と、この搬送部から
得たコネクタフラットケ−ブルの試験機構部への位置決
めを行う位置決め機構部と、位置決めされたコネクタフ
ラットケ−ブルの上部のコネクタを上記試験部に接続す
る上部導通耐圧試験機構部と、位置決めされたコネクタ
フラットケ−ブルの下部のコネクタを上記試験部に接続
する下部導通耐圧試験機構部とを備えたことを特徴とす
るコネクタフラットケ−ブル導通耐圧試験装置。1. A test section for conducting a withstand voltage test of a connector flat cable, a connector flat cable supply section for stocking and supplying the connector flat cable, and a connector flat from the connector flat cable supply section. The transport unit that takes in and transports the cable, the positioning mechanism that positions the connector flat cable obtained from the transport unit to the test mechanism, and the connector above the positioned connector flat cable are A connector flat cable comprising: an upper continuity withstand voltage test mechanism for connecting to a test section; and a lower continuity withstand voltage test mechanism for connecting a connector below the positioned connector flat cable to the test section. A bull continuity withstand voltage test device.
圧試験機構部のプロ−ブヘッドの余分なプロ−ブピンを
マスクするマスクプレ−トを備え、プロ−ブヘッドを交
換すること無くコネクタ接触端子数に対応するようにし
た請求項１記載のコネクタフラットケ−ブル導通耐圧試
験装置。2. The connector positioning mechanism section has a mask plate for masking an extra probe pin of a probe head of an upper continuity withstand voltage test mechanism section, and can cope with the number of connector contact terminals without replacing the probe head. The connector flat cable continuity withstand voltage test device according to claim 1, wherein
ルに沿うて昇降する絶縁部材を有し、この絶縁部材に、
コネクタフラットケ−ブルのケーブルを位置決めホルダ
−により左右から挟みこれら位置決めホルダ−の下降に
より下部のコネクタを押さえて位置決めを行う位置決め
ホルダ−機構と、この位置決めされた下部のコネクタの
一方の側面にストッパを当接させるストッパ機構と、位
置決めされた下部のコネクタの他方の側面側からコネク
タ端子にプローブピンを接触するテストヘッド機構と、
これら位置決めホルダ−機構、ストッパ機構、テストヘ
ッド機構のそれぞれの作動を行う作動用シリンダとを設
け、絶縁部材を昇降シリンダにより昇降動させるように
した請求項１記載のコネクタフラットケ−ブル導通耐圧
試験装置。3. The lower continuity withstand voltage test mechanism is provided with a guide rail.
Has an insulating member that moves up and down along the
A positioning holder mechanism for pinching the cable of the connector flat cable from the left and right by the positioning holder and holding the lower connector by lowering the positioning holder to perform positioning, and a stopper on one side of the positioned lower connector. And a test head mechanism for contacting the probe pins with the connector terminals from the other side of the positioned lower connector,
2. The continuity withstand voltage test according to claim 1, further comprising an operation cylinder for operating each of the positioning holder mechanism, the stopper mechanism, and the test head mechanism, and wherein the insulating member is moved up and down by an elevating cylinder. apparatus.
部の一対の案内レ−ルにレベル差を設けて、コネクタ形
状に対応させた請求項１記載のコネクタフラットケ−ブ
ル導通耐圧試験装置。4. The connector flat cable continuity withstand voltage test according to claim 1, wherein the transport section has a level difference between a pair of guide rails of the connector transport guide rail section so as to correspond to the connector shape. apparatus.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP05138923A JP3088876B2 (en) | 1993-05-18 | 1993-05-18 | Connector flat cable continuity withstand voltage tester |
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|---|---|---|---|
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| JPH06331689A JPH06331689A (en) | 1994-12-02 |
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