JPS61111855A - 放電加工装置 - Google Patents
放電加工装置Info
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- JPS61111855A JPS61111855A JP23281384A JP23281384A JPS61111855A JP S61111855 A JPS61111855 A JP S61111855A JP 23281384 A JP23281384 A JP 23281384A JP 23281384 A JP23281384 A JP 23281384A JP S61111855 A JPS61111855 A JP S61111855A
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- Japan
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- inspection
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23H—WORKING OF METAL BY THE ACTION OF A HIGH CONCENTRATION OF ELECTRIC CURRENT ON A WORKPIECE USING AN ELECTRODE WHICH TAKES THE PLACE OF A TOOL; SUCH WORKING COMBINED WITH OTHER FORMS OF WORKING OF METAL
- B23H7/00—Processes or apparatus applicable to both electrical discharge machining and electrochemical machining
- B23H7/14—Electric circuits specially adapted therefor, e.g. power supply
- B23H7/20—Electric circuits specially adapted therefor, e.g. power supply for programme-control, e.g. adaptive
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23H—WORKING OF METAL BY THE ACTION OF A HIGH CONCENTRATION OF ELECTRIC CURRENT ON A WORKPIECE USING AN ELECTRODE WHICH TAKES THE PLACE OF A TOOL; SUCH WORKING COMBINED WITH OTHER FORMS OF WORKING OF METAL
- B23H3/00—Electrochemical machining, i.e. removing metal by passing current between an electrode and a workpiece in the presence of an electrolyte
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- Engineering & Computer Science (AREA)
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- Electrochemistry (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Electrical Discharge Machining, Electrochemical Machining, And Combined Machining (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野）
この発明は、族ＩＦ７１１１工装置のｆｌｉｌ制御用に
作成さｈた数値制御プログラム（以下こｈをＮＣプログ
ラムという。）の内容、すなわち電断の移動軌跡。
作成さｈた数値制御プログラム（以下こｈをＮＣプログ
ラムという。）の内容、すなわち電断の移動軌跡。
移動軌跡に対応する！８座ａ＋ｑｍ、あるいはＮｏプロ
グリムで設定さねている電気的条件等、又はこのＮＣプ
ログラムにより加工される被加工体、あるｈは被加工体
を加工する工具である電極を自動でＣＲＴ表示装置に最
適な位置へ出力させることにより作成したＮＣプログラ
ムが、所定の加工を行なうかどうか全目視によって簡単
かつ正確に検査できるようにした放電加工装置に関する
ものである。
グリムで設定さねている電気的条件等、又はこのＮＣプ
ログラムにより加工される被加工体、あるｈは被加工体
を加工する工具である電極を自動でＣＲＴ表示装置に最
適な位置へ出力させることにより作成したＮＣプログラ
ムが、所定の加工を行なうかどうか全目視によって簡単
かつ正確に検査できるようにした放電加工装置に関する
ものである。
第１図は従来のこの種ＶＷｌ加工装闘の構Ｗを示すブロ
ック図である。（１）は被加工物（２）に所定間隙をあ
けて対向し、放電加工装置の主軸（イ）ＶＣｗＣ自脱に
取付けられた加工用ｗ憧で、この如工用璽樺（１）Ｖｉ
Ｚ軸用石流廿−ボモータ（５）により回転駆動されるボ
ールネジ（４）の正逆回転によって所定速膚で昇降する
よう１ｃ７）さｈている。（３）は、上記被加工物（２
）を固定しかつ加工液を収容し８た加工槽で、この加工
槽（３）はＸ軸出直流サーボモータ（６）と、Ｙ軸中直
流サーボモータ（７）とによってＸ軸方向とＹ軸方向と
に自在に移ｋｌｌＬ、’４るようになされている。（８
）は入力スイッチ、００けＮｏテープ（９）のプログラ
ムを読み取るテープリーダ、ａｌ）はこのテープリーダ
砿 沖） ０Ｉから入力されたプログラムを記憶するとともに。
ック図である。（１）は被加工物（２）に所定間隙をあ
けて対向し、放電加工装置の主軸（イ）ＶＣｗＣ自脱に
取付けられた加工用ｗ憧で、この如工用璽樺（１）Ｖｉ
Ｚ軸用石流廿−ボモータ（５）により回転駆動されるボ
ールネジ（４）の正逆回転によって所定速膚で昇降する
よう１ｃ７）さｈている。（３）は、上記被加工物（２
）を固定しかつ加工液を収容し８た加工槽で、この加工
槽（３）はＸ軸出直流サーボモータ（６）と、Ｙ軸中直
流サーボモータ（７）とによってＸ軸方向とＹ軸方向と
に自在に移ｋｌｌＬ、’４るようになされている。（８
）は入力スイッチ、００けＮｏテープ（９）のプログラ
ムを読み取るテープリーダ、ａｌ）はこのテープリーダ
砿 沖） ０Ｉから入力されたプログラムを記憶するとともに。
論」１回路αυにデータを出力する記憶装置、０６・け
サーボ制御回路、０ηはサーボそ一タ駆動回路、Ｏｍけ
百流市源、０【◆けパルス発生器（イ）によって「ＯＮ
」［０ＦＦＪ制御されるスイッチング用トランジスタで
、このトランジスタＯＩは−ヒＰ直流電源面の電圧を所
定のパルス璽、圧として上記加工用ｆｆ、ｌ’ｌ （１
）と、被加工物（２）との間の放電加工間隙に可変抵抗
器（イ）を介して印加するために設けらｈだものである
。
サーボ制御回路、０ηはサーボそ一タ駆動回路、Ｏｍけ
百流市源、０【◆けパルス発生器（イ）によって「ＯＮ
」［０ＦＦＪ制御されるスイッチング用トランジスタで
、このトランジスタＯＩは−ヒＰ直流電源面の電圧を所
定のパルス璽、圧として上記加工用ｆｆ、ｌ’ｌ （１
）と、被加工物（２）との間の放電加工間隙に可変抵抗
器（イ）を介して印加するために設けらｈだものである
。
なお、この可変抵抗露暢と、上記スイッチング用トラン
ジスタＯＩと、バルヌ発生器（イ）とによって放電加工
用電源回路ａｌ）を構成するよりに六償灼でいる。翰は
上記主軸（ハ）、ポールネジ（４）、７７ｒｌ工槽（３
）。
ジスタＯＩと、バルヌ発生器（イ）とによって放電加工
用電源回路ａｌ）を構成するよりに六償灼でいる。翰は
上記主軸（ハ）、ポールネジ（４）、７７ｒｌ工槽（３
）。
Ｘ軸出直流サーボモータ（６）、Ｙ軸用直僚サーボモー
タ（７）および２軸用直流サーボモータ（５）等を支持
するぺ・ソドで、接地してｂる床面に対し相対的に位置
を変えないようになされている。に）はこのベッド翰に
固定されたテーブル、翰は上記加工槽（３）に取付けら
ねたベン吹付器、翰け）Ｔ Ｃプログラム析させるだけ
にして、その解析結果により上記各サーボモータ（５）
（６）（７）が駆動されないようにし、かつｔ源回路
（財）に電流が流れないようにするためのマシンロック
スイッチである。又、０１Ｊは論理回路（至）によって
設定されたＮＣプログラムにより放電加工する場合、そ
のスタート信号を送るスタートスイッチ、 （１４はこ
のスタートスイッチ句刀により加ニスタート信号を受け
た論理回路（至）からの信号により、この論理回路α３
によって設定されたＮＣプログラムを解析するＮＣプロ
グラム解析装置、（ハ）はこのＮＣプログラム解析装置
αωによって作成された解析データ金床存する解析テー
ブルで、この解析テーブル（ハ）のデータをもとに、さ
らに加工用データを加工データ作成装置備によって作成
するようになされており、この加工データ作成波＠（ハ
）によって作成されたデータを加工データテーブル翰に
医管するように構成されてめる。更に又、＠は検査者の
入力したデータや放電加工装置が設定しているデータを
画面に表示するＣＲＴ表示装置である。
タ（７）および２軸用直流サーボモータ（５）等を支持
するぺ・ソドで、接地してｂる床面に対し相対的に位置
を変えないようになされている。に）はこのベッド翰に
固定されたテーブル、翰は上記加工槽（３）に取付けら
ねたベン吹付器、翰け）Ｔ Ｃプログラム析させるだけ
にして、その解析結果により上記各サーボモータ（５）
（６）（７）が駆動されないようにし、かつｔ源回路
（財）に電流が流れないようにするためのマシンロック
スイッチである。又、０１Ｊは論理回路（至）によって
設定されたＮＣプログラムにより放電加工する場合、そ
のスタート信号を送るスタートスイッチ、 （１４はこ
のスタートスイッチ句刀により加ニスタート信号を受け
た論理回路（至）からの信号により、この論理回路α３
によって設定されたＮＣプログラムを解析するＮＣプロ
グラム解析装置、（ハ）はこのＮＣプログラム解析装置
αωによって作成された解析データ金床存する解析テー
ブルで、この解析テーブル（ハ）のデータをもとに、さ
らに加工用データを加工データ作成装置備によって作成
するようになされており、この加工データ作成波＠（ハ
）によって作成されたデータを加工データテーブル翰に
医管するように構成されてめる。更に又、＠は検査者の
入力したデータや放電加工装置が設定しているデータを
画面に表示するＣＲＴ表示装置である。
従来の放電加工装置は、上記のように構成さ幻ており、
ＮＣプログリムの検査方法について詩、明すると次の涌
りである。すなわち、ＮＣプログラムの検査け、このＮ
Ｃプログラムを賽際に機械にかけ、放電加工装置を加工
時と同様に作動させて行なうようになさｈており、〜憂
ず、ＮＣプログラムを放電加工装置にセットするわけで
あるが、このセットの方法としては、ＮＣプログラムヲ
ＮＯテープ（９）Ｋ：書き込み、テープリーダＱ１にＮ
（３テープ（９）をかける方法、ｆたはＣＲＴ表示装置
＋ｆｉＫＮＣプログラムを書き込んでセットする方法、
あるいは記憶装置ａ１）に記憶されているＮＣプログラ
ムをプログラム番号を入力スイ・ソチ（８）より指定し
、てセットする方法等がある。このようにしてＮＣプロ
グラムをセットしたのち、スタート信号６υを押圧する
と、その信号全入力した論理回路α時はＮＯプログラム
解析装賄０→を起動するとともにＮｏプロクラムが解析
さね、その結果がＮｏプログラム解析装置（４）により
解析データテープＩＬ／因に設定される。このようにし
て解析データテーブル（ハ）に設定されたデータは、加
工データ作成装置ｔ（ハ）によって加工用データに変換
され、加工データテープ〜（ホ）にこの変換されたデー
タを設定するようになされて匹る。
ＮＣプログリムの検査方法について詩、明すると次の涌
りである。すなわち、ＮＣプログラムの検査け、このＮ
Ｃプログラムを賽際に機械にかけ、放電加工装置を加工
時と同様に作動させて行なうようになさｈており、〜憂
ず、ＮＣプログラムを放電加工装置にセットするわけで
あるが、このセットの方法としては、ＮＣプログラムヲ
ＮＯテープ（９）Ｋ：書き込み、テープリーダＱ１にＮ
（３テープ（９）をかける方法、ｆたはＣＲＴ表示装置
＋ｆｉＫＮＣプログラムを書き込んでセットする方法、
あるいは記憶装置ａ１）に記憶されているＮＣプログラ
ムをプログラム番号を入力スイ・ソチ（８）より指定し
、てセットする方法等がある。このようにしてＮＣプロ
グラムをセットしたのち、スタート信号６υを押圧する
と、その信号全入力した論理回路α時はＮＯプログラム
解析装賄０→を起動するとともにＮｏプロクラムが解析
さね、その結果がＮｏプログラム解析装置（４）により
解析データテープＩＬ／因に設定される。このようにし
て解析データテーブル（ハ）に設定されたデータは、加
工データ作成装置ｔ（ハ）によって加工用データに変換
され、加工データテープ〜（ホ）にこの変換されたデー
タを設定するようになされて匹る。
約上述べたＮｏプログラムの検査方法を第２図（Ｎｏプ
ログリムの検査時に作成される一つの直線移動、あるい
は円弧移動におけるデータを示す図面）によって詳細に
説明すると次の通りである。
ログリムの検査時に作成される一つの直線移動、あるい
は円弧移動におけるデータを示す図面）によって詳細に
説明すると次の通りである。
まず１円弧移動のＮＣプログラムがＮＣプログラム解析
装置１Ｑ→によって解析され、データが解析データテー
ブル（ハ）に設定される。この場合、円弧移動のＮｏプ
ログラムから円弧移動する移動開始点Ｐ鳳の座標（Ｘ８
、ｙｓ ）、円弧移動による移動終点「Ｐ３」ノ座標
（ｘｅ、ｙｅ）１円弧の中心点Ｐ！の座標（ｘｏ、ｙｏ
）および円弧回転方向「右回り」をデータとして解析デ
ータテーブル（ハ）に設定すると。
装置１Ｑ→によって解析され、データが解析データテー
ブル（ハ）に設定される。この場合、円弧移動のＮｏプ
ログラムから円弧移動する移動開始点Ｐ鳳の座標（Ｘ８
、ｙｓ ）、円弧移動による移動終点「Ｐ３」ノ座標
（ｘｅ、ｙｅ）１円弧の中心点Ｐ！の座標（ｘｏ、ｙｏ
）および円弧回転方向「右回り」をデータとして解析デ
ータテーブル（ハ）に設定すると。
このデータから加工データ作成装＠（イ）はデータの形
で受は取った円弧移動の円弧ＡＪを、８点から１点まで
の間において細かく分割し１円弧を小さな円弧、すなわ
ち１円弧ＡＢ１円１１１１１ Ｂ Ｏ、円弧Ｃ３′Ｄと
、多数の連続する円弧を作成する。そして。
で受は取った円弧移動の円弧ＡＪを、８点から１点まで
の間において細かく分割し１円弧を小さな円弧、すなわ
ち１円弧ＡＢ１円１１１１１ Ｂ Ｏ、円弧Ｃ３′Ｄと
、多数の連続する円弧を作成する。そして。
この１つの小円弧につｂて１つの円弧移動データが作耐
さ幻る。たとえば小円弧ＡＢＶｒついては。
さ幻る。たとえば小円弧ＡＢＶｒついては。
この小円弧ＡＢｆ：移動するときの始点Ａの座標（ａｌ
、ａｔ ）、移動の終点Ｂの座標（ｂｌ 、ｂｔ ）
、小円弧ＡＢの中心点（０１，０２）、および回転方
向「右回り」のデータが作成されるわけである。さら弧
ＥＦ、小円弧ＦＧ、小円弧ＧＨ，小円弧Ｈ工。
、ａｔ ）、移動の終点Ｂの座標（ｂｌ 、ｂｔ ）
、小円弧ＡＢの中心点（０１，０２）、および回転方
向「右回り」のデータが作成されるわけである。さら弧
ＥＦ、小円弧ＦＧ、小円弧ＧＨ，小円弧Ｈ工。
および小円弧１．ｌｊついても、始点、終点、および中
心点の座佼（と１円弧方向のデータを作成する。
心点の座佼（と１円弧方向のデータを作成する。
なお、直線移＄１７１ Ｋついても上記円弧移動と同様
に解析データとして始点、終点が設定されると、との線
分を加工データ作成装置（ハ）は複数の小線分につｂて
加工データ會作成するように構Ｗさｈている。このよう
にして作成された多数の加工用データをもとに工具は移
動し、その移動速度は、同時 １に加工データ
テーブル（至）に設定さｈている指令速度Ｆｌｌ（Ｗ／
分）に基づいて指令される。
に解析データとして始点、終点が設定されると、との線
分を加工データ作成装置（ハ）は複数の小線分につｂて
加工データ會作成するように構Ｗさｈている。このよう
にして作成された多数の加工用データをもとに工具は移
動し、その移動速度は、同時 １に加工データ
テーブル（至）に設定さｈている指令速度Ｆｌｌ（Ｗ／
分）に基づいて指令される。
ＪＪ上述べた要１１０によって動作する放電加工装置の
動作を操作者が見てＮＣプログラムの検査を行なうわけ
であるが、ＮＣプログラムのフォーマット、あるｂはＮ
（３プログリムにょっτ設定さｈたデータの大きさにエ
リ−があると、ＮＣプログラム解析装置０１０を杼てＣ
ＲＴ表示装眩に）にエリ−が表示される。また、ＮＣプ
ログリムの内界についての検査は、操作賃が放電加工装
置ｆの動作を−１で行なうものであるが、この検査のと
きに、マシンロックスイッチ（至）を押圧しておくと、
各サーボモータ（ｆｉ）（６）（７）および電源回路Ｑ
Ｄを作動させｈいで。
動作を操作者が見てＮＣプログラムの検査を行なうわけ
であるが、ＮＣプログラムのフォーマット、あるｂはＮ
（３プログリムにょっτ設定さｈたデータの大きさにエ
リ−があると、ＮＣプログラム解析装置０１０を杼てＣ
ＲＴ表示装眩に）にエリ−が表示される。また、ＮＣプ
ログリムの内界についての検査は、操作賃が放電加工装
置ｆの動作を−１で行なうものであるが、この検査のと
きに、マシンロックスイッチ（至）を押圧しておくと、
各サーボモータ（ｆｉ）（６）（７）および電源回路Ｑ
Ｄを作動させｈいで。
Ｎ（３プログラム解析装置α４および加工データ作Ｗ装
肯（ハ）のみを作動させて、プログラムのフォーマット
エラー、およびＮＣプログラムによって設定さｈたデー
タの大きさに関するエリ−等をＣＲＴ表示装置（至）に
表示するようになされてｂる。さらに、放電加工装置を
実際に作動させて検査するときに、ベッド翰に固定され
たテーブル（ホ）に記録紙をセットし、加工１１１（３
）に固定さねたベン敗付器−にペンを装着しておけば、
水平ｆｋｎｄであるＸ−Ｙ平面の工具の動作を記録紙上
に記録することができ、これによって検査することも可
能である。
肯（ハ）のみを作動させて、プログラムのフォーマット
エラー、およびＮＣプログラムによって設定さｈたデー
タの大きさに関するエリ−等をＣＲＴ表示装置（至）に
表示するようになされてｂる。さらに、放電加工装置を
実際に作動させて検査するときに、ベッド翰に固定され
たテーブル（ホ）に記録紙をセットし、加工１１１（３
）に固定さねたベン敗付器−にペンを装着しておけば、
水平ｆｋｎｄであるＸ−Ｙ平面の工具の動作を記録紙上
に記録することができ、これによって検査することも可
能である。
従来の放電加工装置は上述したように、ＮＣプログラム
のチェックを行なう場合にはこのＮＧ−プログラムによ
って実際に放電、７１ｎ工装置を作動させながらプログ
ラム検査を行なうため、無駄な作業はもちろん必要以、
Ｅの時間を必要とするばかりでなく１円弧移動の場合を
例に示したように移動経路を多数の点に分割しその多数
の分割点の座標を求めて１つの円弧移動指令ケ多数の座
標値捷での移奮りの集合に変換するように構成さｈてい
るため。
のチェックを行なう場合にはこのＮＧ−プログラムによ
って実際に放電、７１ｎ工装置を作動させながらプログ
ラム検査を行なうため、無駄な作業はもちろん必要以、
Ｅの時間を必要とするばかりでなく１円弧移動の場合を
例に示したように移動経路を多数の点に分割しその多数
の分割点の座標を求めて１つの円弧移動指令ケ多数の座
標値捷での移奮りの集合に変換するように構成さｈてい
るため。
相当の作業時間を１１４稗とし、プログラム槍査峠率と
、放電加工装置の稼動率を督【５〈低下させる欠点があ
る。さらに、マシンロックスイッチ（至）を押圧せずに
放電加工装置を作動させて検査を行々う場合には、被加
工物（２）全装置にセットすることがマきず、これまた
放電加工装置の稼動率全低下させる原因になって匹る。
、放電加工装置の稼動率を督【５〈低下させる欠点があ
る。さらに、マシンロックスイッチ（至）を押圧せずに
放電加工装置を作動させて検査を行々う場合には、被加
工物（２）全装置にセットすることがマきず、これまた
放電加工装置の稼動率全低下させる原因になって匹る。
さらにまた、マシンロックスイッチ（至）を押圧してＮ
Ｃプログラムの検査を行なう場合には、工具の動作をＣ
ＲＴ表示装Ｆｆに表示さｈた座標値の変化によって読み
とる１壇外になく１プログラムのフォーマットエラー、
およびＮＣプログラム中にセットしたデータの範囲のオ
ーバなど、ＣＲＴ表示装置上にエリ−として表示される
エラー以外の移馴方向の指定ミス、および移ＩＩ７＋量
の設定ミスなどを発見することＦｉ極めて困難である。
Ｃプログラムの検査を行なう場合には、工具の動作をＣ
ＲＴ表示装Ｆｆに表示さｈた座標値の変化によって読み
とる１壇外になく１プログラムのフォーマットエラー、
およびＮＣプログラム中にセットしたデータの範囲のオ
ーバなど、ＣＲＴ表示装置上にエリ−として表示される
エラー以外の移馴方向の指定ミス、および移ＩＩ７＋量
の設定ミスなどを発見することＦｉ極めて困難である。
この発明はか〃）る点に着目してなされたもので、放電
加工装置を静止させ；ｔままの状態でＣＲ’Ｉ’表示装
置上に工具軌跡や被加工体を自動で最適な位置へ表示さ
せることにより、ＮＣプログラムの内容を目視によって
簡単・迅速かつ正確に検査できるようにした＃電加工装
置を提供しようとするものである。
加工装置を静止させ；ｔままの状態でＣＲ’Ｉ’表示装
置上に工具軌跡や被加工体を自動で最適な位置へ表示さ
せることにより、ＮＣプログラムの内容を目視によって
簡単・迅速かつ正確に検査できるようにした＃電加工装
置を提供しようとするものである。
Ｗｇ８図〜第７図は何れもこの発明の一ヂ施例を示すも
のであるが、上述した従来のもの（第１図）と同一符号
は同一構成部材につきその説明を−・部省略する。
のであるが、上述した従来のもの（第１図）と同一符号
は同一構成部材につきその説明を−・部省略する。
まず、＠８図に示すこの発明にかかる放電加工装置のブ
ロック図におりて、明けＮＣテープ（９）のプログラム
を読み取るテープリーダ、（８）はＮＣプログラムの指
定、データの入力、あるいは、各装置を作物させる場合
に使用する入力ヌイ・フチ、１′ｌθはこの入力スイッ
チ（８）によって指定されたプログラムをセ・ソトした
り各装置を作動させる論理回路。
ロック図におりて、明けＮＣテープ（９）のプログラム
を読み取るテープリーダ、（８）はＮＣプログラムの指
定、データの入力、あるいは、各装置を作物させる場合
に使用する入力ヌイ・フチ、１′ｌθはこの入力スイッ
チ（８）によって指定されたプログラムをセ・ソトした
り各装置を作動させる論理回路。
（財）は操作者が設定したデータあるいは指定したプロ
グラムを表示したり、各装置からの出力を表示するＣＲ
Ｔ表示装置、ａｌ）はＮＣプログラムを記憶し、必要に
応じてこれを呼び出す記憶装置、０３は論理回路ＯＱに
よって設定されたＮＣプログラムを検査するＮＣプログ
ラム検査装置、０４）はこのＮＣプログラム検査装置０
浄によって起動さｉｑ、、 設定さハたＮＣプログラム
を解析するＮＣプログラム解析装装置蜘はこのＮＯプロ
グラムｆ’Ｅ 析’Ａ ＠ ０４）ＴＫよって解析デー
タがセットされる解析データテーブル、（至）はこの解
析データテーブル翰に設定されているデータをもとに、
ＮＣプログラム検査装＠０３がＣＢＴ表示装附翰甲に変
換し５たデータを設定する表示データテーブル、＜撥け
Ｎ ｃプログラム検査全行なうときにＮＣプログリム検
査装装置浄を起動するための信号を論理回路Ｑｉに入力
するための検査スタートスイヮチ、（至）は検査する１
１プログラムが加工する被加工体や電極を入力するだめ
のワーク・電極データ設定スイリチ、（至）は以上のよ
うにして設定された被加工体や電極のデータをもとにＣ
ＲＴ表示装置（ロ）の画面中心を最適な座標値に設定す
るだめの最適中心座標値を計算する中心座標値設定装置
である。
グラムを表示したり、各装置からの出力を表示するＣＲ
Ｔ表示装置、ａｌ）はＮＣプログラムを記憶し、必要に
応じてこれを呼び出す記憶装置、０３は論理回路ＯＱに
よって設定されたＮＣプログラムを検査するＮＣプログ
ラム検査装置、０４）はこのＮＣプログラム検査装置０
浄によって起動さｉｑ、、 設定さハたＮＣプログラム
を解析するＮＣプログラム解析装装置蜘はこのＮＯプロ
グラムｆ’Ｅ 析’Ａ ＠ ０４）ＴＫよって解析デー
タがセットされる解析データテーブル、（至）はこの解
析データテーブル翰に設定されているデータをもとに、
ＮＣプログラム検査装＠０３がＣＢＴ表示装附翰甲に変
換し５たデータを設定する表示データテーブル、＜撥け
Ｎ ｃプログラム検査全行なうときにＮＣプログリム検
査装装置浄を起動するための信号を論理回路Ｑｉに入力
するための検査スタートスイヮチ、（至）は検査する１
１プログラムが加工する被加工体や電極を入力するだめ
のワーク・電極データ設定スイリチ、（至）は以上のよ
うにして設定された被加工体や電極のデータをもとにＣ
ＲＴ表示装置（ロ）の画面中心を最適な座標値に設定す
るだめの最適中心座標値を計算する中心座標値設定装置
である。
この発明の放電加工装置は上記のように横吹されて匹る
ので、ＮＣプログラム検査に先立って。
ので、ＮＣプログラム検査に先立って。
まず検査員は検査したいＮＣプログラムを論理回路αυ
にセットする。このセット要領は従来放電加工を行なう
ときにＮＣプログラムをセットする要領と全く同様で、
たとえばＮＣテープによってプログラムをセットしたり
、またけ記憶装置＃４１）のＮＣプログラム金指定した
り、あるいはＣＲＴ表示装置（財）上に入力スイッチに
よりＮ Ｏプログリムを書いてセットするような多様の
手段でセットすわばよい。
にセットする。このセット要領は従来放電加工を行なう
ときにＮＣプログラムをセットする要領と全く同様で、
たとえばＮＣテープによってプログラムをセットしたり
、またけ記憶装置＃４１）のＮＣプログラム金指定した
り、あるいはＣＲＴ表示装置（財）上に入力スイッチに
よりＮ Ｏプログリムを書いてセットするような多様の
手段でセットすわばよい。
さらに、実際に加工した場合にｔ極の動きやその位置と
被加工体の位置との関係をＣＲＴ表示装置（財）上で確
認するため、被加工体や電極を設定する。被加工体や電
極のデータを設定するためには。
被加工体の位置との関係をＣＲＴ表示装置（財）上で確
認するため、被加工体や電極を設定する。被加工体や電
極のデータを設定するためには。
まず、ワーク・電極データ設定スイッチ（至）を押圧す
る。次に、キー人カスイ・フチ（８）より、被加工体あ
るｂは電極の形を準備さねたいくつかの形状の中から選
び、その形に対応する番号を入力する。
る。次に、キー人カスイ・フチ（８）より、被加工体あ
るｂは電極の形を準備さねたいくつかの形状の中から選
び、その形に対応する番号を入力する。
次に、その形の各寸法を入力する。被加工体や電極のデ
ータが入力されると、ＮＣプログラム検査装置ｉ１α締
はこれらのデータと画面に設定する次元・平面情報を自
動中心座標値設定装置（至）に速る。ＸＣプログラム検
査装置（ｋｌから自動中心座標値設定装置（至）に送ら
れてきたデータは、被加工体の形状と大きさ、電極の形
状と大きさ、被加工体と電極の位置関係データ、′ｗＬ
極の座標値である。これらのデータより被加工体の所定
の点の座ｍａｗ計算する。こわらのデータと被加工体の
所定の１壱の座標値の算出の例を第４図を用いて説明す
る。
ータが入力されると、ＮＣプログラム検査装置ｉ１α締
はこれらのデータと画面に設定する次元・平面情報を自
動中心座標値設定装置（至）に速る。ＸＣプログラム検
査装置（ｋｌから自動中心座標値設定装置（至）に送ら
れてきたデータは、被加工体の形状と大きさ、電極の形
状と大きさ、被加工体と電極の位置関係データ、′ｗＬ
極の座標値である。これらのデータより被加工体の所定
の点の座ｍａｗ計算する。こわらのデータと被加工体の
所定の１壱の座標値の算出の例を第４図を用いて説明す
る。
即ち、渠４図にお＾で電極と被加工体の形快け直方体で
あり、各辺は各軸に平行とする。電極と被加工体の各々
の大きさは電柵横長（Ｔｘｅ ） 、縦長（’ｒｙｅ
）、長さく ’ｒｚｅ ） 、被加工体横長（Ｗｘｅ）
、縦長（Ｗｙｅ ） 、厚み（ＷｚＱ ）であり１位置
関係は電極と被加工体のＸ軸方自互１ｌｌｌ（ＳＸ）、
Ｙ軸方向距離（Ｓｙ）、Ｚ軸方向距離（Ｓ２ｉ）である
。またｗ、 Ｗ （７）底面中ｔｃ＞Ｏ座標［ｔｊ：Ｘ
＝ （Ｘｔｌ 、 ７＝（Ｙｔ） 、 Ｚ＝ （ｚｔ）
テある。
あり、各辺は各軸に平行とする。電極と被加工体の各々
の大きさは電柵横長（Ｔｘｅ ） 、縦長（’ｒｙｅ
）、長さく ’ｒｚｅ ） 、被加工体横長（Ｗｘｅ）
、縦長（Ｗｙｅ ） 、厚み（ＷｚＱ ）であり１位置
関係は電極と被加工体のＸ軸方自互１ｌｌｌ（ＳＸ）、
Ｙ軸方向距離（Ｓｙ）、Ｚ軸方向距離（Ｓ２ｉ）である
。またｗ、 Ｗ （７）底面中ｔｃ＞Ｏ座標［ｔｊ：Ｘ
＝ （Ｘｔｌ 、 ７＝（Ｙｔ） 、 Ｚ＝ （ｚｔ）
テある。
被加工体の所定の位置を被加工体の中心とすると、被加
工体の中心座標値は、Ｘ＝（Ｘｔ＋ＳＸ）。
工体の中心座標値は、Ｘ＝（Ｘｔ＋ＳＸ）。
Ｙ＝（Ｙｔ＋Ｓｙ）、Ｚ＝（Ｚｔ＋Ｓｚ）となる。こノ
座標値を画面の中心座標値としてＮｏプログラム検査装
置αつに送る。一方、ＮＣプログラム検査装置０３は入
力設定された電極の大きさ、被加工体の大きさと画面に
設定される座標養系とからスケール値を計算する。スケ
ールｆ［け画面に出力される各座標軸の目盛数と、この
軸Ｖｒ対応する被加工体と！樺の長さから各軸の１目盛
のばさを算出し、このｌ目盛数の長さの最も太きｈもの
をスケール値として記憶する。そして検査者が、検査ス
タートスイッチ（至）を押圧すると、ＮＣプログリム検
査装置＊Ｑｌは検査のためあ準備として画面中・６座標
値とスケール値を表示データテーブル（至）に設定しＣ
ＲＴ表示装冒ｅ４に起動をかける。こ１１によりＣＲＴ
表示装＠（財）の−面には、被加工体の中心が画面の中
心となり、被加工体が画面に最も大きく出力されるスケ
ール値をもった座標系がセットされる。
座標値を画面の中心座標値としてＮｏプログラム検査装
置αつに送る。一方、ＮＣプログラム検査装置０３は入
力設定された電極の大きさ、被加工体の大きさと画面に
設定される座標養系とからスケール値を計算する。スケ
ールｆ［け画面に出力される各座標軸の目盛数と、この
軸Ｖｒ対応する被加工体と！樺の長さから各軸の１目盛
のばさを算出し、このｌ目盛数の長さの最も太きｈもの
をスケール値として記憶する。そして検査者が、検査ス
タートスイッチ（至）を押圧すると、ＮＣプログリム検
査装置＊Ｑｌは検査のためあ準備として画面中・６座標
値とスケール値を表示データテーブル（至）に設定しＣ
ＲＴ表示装冒ｅ４に起動をかける。こ１１によりＣＲＴ
表示装＠（財）の−面には、被加工体の中心が画面の中
心となり、被加工体が画面に最も大きく出力されるスケ
ール値をもった座標系がセットされる。
そして１画面に設定さハた座標系が例えば二平面のＸ−
Ｙ座標マある場合には第５図に示すように［Ｒ’Ｉ’表
示装＠鏝の画面上にＸ軸（５０２）と′Ｙ軸（ＦＩＯＩ
）とともに計算したスケール（５０８）と表示領穢の座
標ｆｉｔ（Ｆｔ０４１を画面に表示する。
Ｙ座標マある場合には第５図に示すように［Ｒ’Ｉ’表
示装＠鏝の画面上にＸ軸（５０２）と′Ｙ軸（ＦＩＯＩ
）とともに計算したスケール（５０８）と表示領穢の座
標ｆｉｔ（Ｆｔ０４１を画面に表示する。
さらに、入力さ灼たｆ−夕Ｓ Ｘ 、Ｓ ｙｅ Ｓ Ｚ
ｒ ＴＸｅ Ｉ力″ｅ、 Ｔｚｅをもとに電極も所
定の位置に描画される。例えば角柱のｗ極がＸ−Ｙ平面
上で被加工体の中心の位置にセットさねているとするよ
うな入力データの場合には第５図中の（５０５）で示す
ように表示される。また電極の座標値、ｉ！気条件、お
よび検査中のＮＣプログラム等ワレ一つかのデータＡ−
Ｆ（ｆｉ０６）も画面の隅部に表示する。
ｒ ＴＸｅ Ｉ力″ｅ、 Ｔｚｅをもとに電極も所
定の位置に描画される。例えば角柱のｗ極がＸ−Ｙ平面
上で被加工体の中心の位置にセットさねているとするよ
うな入力データの場合には第５図中の（５０５）で示す
ように表示される。また電極の座標値、ｉ！気条件、お
よび検査中のＮＣプログラム等ワレ一つかのデータＡ−
Ｆ（ｆｉ０６）も画面の隅部に表示する。
０匂
そして、ＮＧプログラム検査装＠０３は続すで被加工体
の各データを表示データテーブル８Ｉに設定し二ＯＲＴ
表示側Ｉ４１に起動をかけ画面に被加工体（５０７）を
表示す７３゜ このようにし、、て準備が完了したあと、ＮＯプログラ
ム解析装置０４會起動すると、このＮＯプログラム解析
装置ＦＱ４１け１１０９２分のＮＯプログラムの解析デ
ータを作成し、解析データテーブルｅ２４にデータをセ
ットしたあと、解析紹了の信号２ｈｃプログラム検査装
置α浄に入力する。これによりＮＯプログラム検査装置
Ｕカは、 ＣＲ１表示装置（ロ）用にデータをＶ換り、
１表示データテーブル（ト）にデータ金設定してＣＲＴ
表示技［Ｈ４會起動する。このデータ変換作業は、上述
【７た従来のもののように大散の計算をして多数のデー
タを作成しなければならなかった円弧移動も、単にＣＲ
１表示装置（財）用に並べかえて１つのデータ全作成す
るだけの簡単な作業で、迅速かつ正確に完了する。
の各データを表示データテーブル８Ｉに設定し二ＯＲＴ
表示側Ｉ４１に起動をかけ画面に被加工体（５０７）を
表示す７３゜ このようにし、、て準備が完了したあと、ＮＯプログラ
ム解析装置０４會起動すると、このＮＯプログラム解析
装置ＦＱ４１け１１０９２分のＮＯプログラムの解析デ
ータを作成し、解析データテーブルｅ２４にデータをセ
ットしたあと、解析紹了の信号２ｈｃプログラム検査装
置α浄に入力する。これによりＮＯプログラム検査装置
Ｕカは、 ＣＲ１表示装置（ロ）用にデータをＶ換り、
１表示データテーブル（ト）にデータ金設定してＣＲＴ
表示技［Ｈ４會起動する。このデータ変換作業は、上述
【７た従来のもののように大散の計算をして多数のデー
タを作成しなければならなかった円弧移動も、単にＣＲ
１表示装置（財）用に並べかえて１つのデータ全作成す
るだけの簡単な作業で、迅速かつ正確に完了する。
１ヰ、ヒ述べた動作ｒ、第６図によって更に詳細に説明
する。ＯＲ’Ｉ’表示装画（財）に円弧移動のＮＣプロ
グラムによる工具の移動軌跡を表示させるために、ＣＦ
？Ｔ表示装置（財）用にＮＯプログラム検査装置α１が
表示データテーブルａつに設定すべきデニタは、円弧軌
跡（６０１）の場合には円斬の始点座標値（Ｘｕ、Ｙ＋
ｔ） 、 円［（７）終点座標ｉ１［（Ｘｕ 、 Ｙ＋
ｔ）、円弧の中心座柳値（Ｘｅ＋ 、 Ｙａｋ）および
円弧回転方向［右回りＪ （６０２）であり、ｆた円弧
軌跡（６０，１）の場合には１円鎗の始点座標値（ＸＩ
２ 、 ＹＮ） 、’円弧の終点座梗譲（Ｘｅｘ 、
”、ｒａａ）、円弧の中心座標佃（Ｘｌｌｌ 、 Ｙｌ
１２） ｆｐヨび円弧回転方向「左１’ｉｌＤ Ｊ （
６（１４）である。
する。ＯＲ’Ｉ’表示装画（財）に円弧移動のＮＣプロ
グラムによる工具の移動軌跡を表示させるために、ＣＦ
？Ｔ表示装置（財）用にＮＯプログラム検査装置α１が
表示データテーブルａつに設定すべきデニタは、円弧軌
跡（６０１）の場合には円斬の始点座標値（Ｘｕ、Ｙ＋
ｔ） 、 円［（７）終点座標ｉ１［（Ｘｕ 、 Ｙ＋
ｔ）、円弧の中心座柳値（Ｘｅ＋ 、 Ｙａｋ）および
円弧回転方向［右回りＪ （６０２）であり、ｆた円弧
軌跡（６０，１）の場合には１円鎗の始点座標値（ＸＩ
２ 、 ＹＮ） 、’円弧の終点座梗譲（Ｘｅｘ 、
”、ｒａａ）、円弧の中心座標佃（Ｘｌｌｌ 、 Ｙｌ
１２） ｆｐヨび円弧回転方向「左１’ｉｌＤ Ｊ （
６（１４）である。
このようにしてＮｏプログラム解析装置０４１が作成し
たデータを、ｃａＴ表示表示釦用の座標ｆ直に変換する
わけであるが、ただ１つのデータに沙換するだけの作典
け、きわめて短時間に完了され。
たデータを、ｃａＴ表示表示釦用の座標ｆ直に変換する
わけであるが、ただ１つのデータに沙換するだけの作典
け、きわめて短時間に完了され。
ＣＲ１表示装置（至）げこのデータが設定さＪするとほ
ぼ同時に画面にその円ツは表示する。□、１献直線のｂ
合につｈてもＨ打に、始、σ、ママ。
ぼ同時に画面にその円ツは表示する。□、１献直線のｂ
合につｈてもＨ打に、始、σ、ママ。
点の座標値をｔ９Ｃプログラム便イｖｉｓａ；・が始点
。
。
終点の座Ｖ４電をＣ盲Ｔ表示装蒋←９用の座柳自汀に変
換シたデータを表示データテーブル（至）に設定し。
換シたデータを表示データテーブル（至）に設定し。
これを入力したＣＲＴ表示装置（財）はその画面に直線
を表示するが、この作業もまたきわめて短時間で完了す
る。また、Ｃ！ＲＴ表示装置（財）に起動をかけると、
移動完了の信号を待つ必要がなりので。
を表示するが、この作業もまたきわめて短時間で完了す
る。また、Ｃ！ＲＴ表示装置（財）に起動をかけると、
移動完了の信号を待つ必要がなりので。
引続−ですぐにＮＣプログラムの次のブロックを解析す
るためにＮｏプログラム解析装ａｔａ４１ｅ起動するこ
とができる。
るためにＮｏプログラム解析装ａｔａ４１ｅ起動するこ
とができる。
さらにまた、ＮＣプログラム中に書かれて＾る移動速度
指令や、待ち時間を指定したプログラムには影響されな
いので、移動速度の遅す移動プログラムによる工具軌跡
も全て瞬時に表示することができる。また、＠７図に示
すように工具移動の種類、すなわち早送りによる移騨で
あるか１棟たは速度指定による移動であるか、あるｂは
接触感知したときに停止する場合の移動であるか等を区
別して０ＥＩＴ表示装置−に表示する場合の線の種類を
火線（７０１）、破線（７０２）、一点鎖線（７（１８
）等のように線の種類を指定するデータも同時に表示Ｒ
Ｔ表示装置（ロ）は線の種類を変化させて表示すること
ができる。
指令や、待ち時間を指定したプログラムには影響されな
いので、移動速度の遅す移動プログラムによる工具軌跡
も全て瞬時に表示することができる。また、＠７図に示
すように工具移動の種類、すなわち早送りによる移騨で
あるか１棟たは速度指定による移動であるか、あるｂは
接触感知したときに停止する場合の移動であるか等を区
別して０ＥＩＴ表示装置−に表示する場合の線の種類を
火線（７０１）、破線（７０２）、一点鎖線（７（１８
）等のように線の種類を指定するデータも同時に表示Ｒ
Ｔ表示装置（ロ）は線の種類を変化させて表示すること
ができる。
さらに、 ＣＲＴ表示装置０４は同時に表示データテー
ブル体１ｖｃセツトされている主要加工電気条件。
ブル体１ｖｃセツトされている主要加工電気条件。
または工具の座ｍ幀のデータ、あるいけ表示中のＮＣプ
ログラムブロック等も表示することができるもので、上
述した各種作業がＮＣプログラムの終了まで繰り返さ幻
て１本のＮＣプログラムの表示を行なうわけである。
ログラムブロック等も表示することができるもので、上
述した各種作業がＮＣプログラムの終了まで繰り返さ幻
て１本のＮＣプログラムの表示を行なうわけである。
なお、上述【、たーヂ施例はＮＣプログラムを１ブロツ
クずつ解析して表示するようにした場合につめて述べた
が、解析と表示の関係は、ｌブロック毎、または数ブロ
ツク毎、あるいけ全て解析した後に表示するものであっ
ても同様の効果が得られることけｈうまでもない。捷だ
、軌跡の他に幇気条件や送り速度等のように、加工に関
するデータを同時に表示することも可能であり、また検
査するＮＣプログラムの設定は、検査する画面に設定用
の機畦をもたせることもできる。
クずつ解析して表示するようにした場合につめて述べた
が、解析と表示の関係は、ｌブロック毎、または数ブロ
ツク毎、あるいけ全て解析した後に表示するものであっ
ても同様の効果が得られることけｈうまでもない。捷だ
、軌跡の他に幇気条件や送り速度等のように、加工に関
するデータを同時に表示することも可能であり、また検
査するＮＣプログラムの設定は、検査する画面に設定用
の機畦をもたせることもできる。
匂上述べたように、この発明によれば、従来の検査方法
によって判明したプログラムのフォーマットエラーはも
ちろん、データの範囲オーバ等も従来のものと同様にＴ
！ｉ電加工装置からのメツセージで明らかになるばかり
でなく、ＮＣプログラムによる工具の移動軌跡がＣＲＴ
表示装置（財）上に線で表示されるため、従来のように
放電加工装置を作動させ力ければ、ＣＲＴ表示装置上に
表示される数値のみからでは発見することができなかっ
たＮＣプログラムの内容のエラー、たとえば移動量の指
定ミスや、移動方向指定ミスなどのエリ−についても目
視によってわかるようになった。また。
によって判明したプログラムのフォーマットエラーはも
ちろん、データの範囲オーバ等も従来のものと同様にＴ
！ｉ電加工装置からのメツセージで明らかになるばかり
でなく、ＮＣプログラムによる工具の移動軌跡がＣＲＴ
表示装置（財）上に線で表示されるため、従来のように
放電加工装置を作動させ力ければ、ＣＲＴ表示装置上に
表示される数値のみからでは発見することができなかっ
たＮＣプログラムの内容のエラー、たとえば移動量の指
定ミスや、移動方向指定ミスなどのエリ−についても目
視によってわかるようになった。また。
従来は加工用データ作成装＠（ホ）まで作動させてＮＣ
プログリムを突際の加工に必要な大量のデータに変換し
てＮｏプログラムの検査を行なってｂたため、相当の検
査作業時間を・必要とし、放電加工装置の稼【率を低下
させて＾だが、この発明によればＮＣプログラム検査装
置０３を用いるためＮＣプログラムが解析さＪすると同
時に、瞬時にＣＲＴ表示装置＆鱒上に軌跡が表示され、
ＮＣプログラムが著しく短時間に検査処理される効果が
ある。
プログリムを突際の加工に必要な大量のデータに変換し
てＮｏプログラムの検査を行なってｂたため、相当の検
査作業時間を・必要とし、放電加工装置の稼【率を低下
させて＾だが、この発明によればＮＣプログラム検査装
置０３を用いるためＮＣプログラムが解析さＪすると同
時に、瞬時にＣＲＴ表示装置＆鱒上に軌跡が表示され、
ＮＣプログラムが著しく短時間に検査処理される効果が
ある。
ＮＣプログラムの検査は所望の加工ができるかどうかに
つｂて行なうのであるから画面には被加工体全体を出し
て確關するのがふつうである。放電加工装置で行なう加
工は大量生産はほとんどなく単品であることがほとんど
であり、そのため被加工体も加工毎に形状や大きさが異
なる。従って被加工体を画面に適切に出力させるために
画面の中心座標を計算し、その値を設定することが検査
するときの毎回の作業となるが、この発明では。
つｂて行なうのであるから画面には被加工体全体を出し
て確關するのがふつうである。放電加工装置で行なう加
工は大量生産はほとんどなく単品であることがほとんど
であり、そのため被加工体も加工毎に形状や大きさが異
なる。従って被加工体を画面に適切に出力させるために
画面の中心座標を計算し、その値を設定することが検査
するときの毎回の作業となるが、この発明では。
ワークの中心が自動で画面中心として設定され。
また、ＮＣプログラム検査装置がワークの大きさにより
ワークが画面に入りきるスケールを設定するので常にワ
ークが適切に画面に出力され、検査の効率を非常に向上
させることができる。
ワークが画面に入りきるスケールを設定するので常にワ
ークが適切に画面に出力され、検査の効率を非常に向上
させることができる。
また、工具や加工槽を作動させないでＮｏプログラムの
検査ができるので、プログラムの検査中にこれと並行し
て被加工物を設置し、加工の鵡備をすることができるた
め、ｔ＆直加工装置の稼動率を著しく向上させることが
できる効果がある。さらに、この発明によればプログラ
ムの検査のために放電加工装置を作動させなりので、ｔ
カエネルギの節減にもなることはめ５″！ｆでもない。
検査ができるので、プログラムの検査中にこれと並行し
て被加工物を設置し、加工の鵡備をすることができるた
め、ｔ＆直加工装置の稼動率を著しく向上させることが
できる効果がある。さらに、この発明によればプログラ
ムの検査のために放電加工装置を作動させなりので、ｔ
カエネルギの節減にもなることはめ５″！ｆでもない。
第１図は従来の放電加工装置の構成を示すブロック図、
第２図は従来のＮＯプログラムの検査時に作成される１
つの直線移動罫よび円弧移動に；けるデータ図面、＠８
図〜第７藺は何れもこの発明の一賽施例管示すもので、
！８図は放電加工装置のｍ成を示すブロック図、第４図
〜第７図はＯＲＴ表示装置の画面を示す表示画面説明図
である。 肉中、（１）は加工用！樺、（２）は彼加工物、（９）
はＮＯｆ−ｆ、 （１０１２？−）ｌ −タ、 Ｑｌ）
ｔｌ’記ｆｌ装ｆｆ１． ＱｌはＮＣプログラム検査装
置ｉｔ、α◆はＮＯプログツム解析装置、 （ＩＩは論
理回路、０・はサーボ制御回路。 Ｑ′ｈはサーボモータ駆動回路、ａｎｒ；を電源回路、
（財）は解析データテーブル、ｅｉｅ−ｉ表示データテ
ーブル。 （ロ）はＣＲＴ表示装財、（至）は自動中心座標値設定
装置である。 なお１図中同一符号は同一または相当部分なボー・ す。 代坤人 大岩増雄 （ハ）
第２図は従来のＮＯプログラムの検査時に作成される１
つの直線移動罫よび円弧移動に；けるデータ図面、＠８
図〜第７藺は何れもこの発明の一賽施例管示すもので、
！８図は放電加工装置のｍ成を示すブロック図、第４図
〜第７図はＯＲＴ表示装置の画面を示す表示画面説明図
である。 肉中、（１）は加工用！樺、（２）は彼加工物、（９）
はＮＯｆ−ｆ、 （１０１２？−）ｌ −タ、 Ｑｌ）
ｔｌ’記ｆｌ装ｆｆ１． ＱｌはＮＣプログラム検査装
置ｉｔ、α◆はＮＯプログツム解析装置、 （ＩＩは論
理回路、０・はサーボ制御回路。 Ｑ′ｈはサーボモータ駆動回路、ａｎｒ；を電源回路、
（財）は解析データテーブル、ｅｉｅ−ｉ表示データテ
ーブル。 （ロ）はＣＲＴ表示装財、（至）は自動中心座標値設定
装置である。 なお１図中同一符号は同一または相当部分なボー・ す。 代坤人 大岩増雄 （ハ）
Claims (4)
- （１）所定の加工プログラムを設定する論理回路と、こ
の論理回路によって選択されたＮＣプログラムを解析す
るＮＣプログラム解析装置と、ＮＣプログラム解析装置
の解析データをもとにＣＲＴ表示装置に表示させるため
の表示内容を設定し、表示のための必要なデータを表示
データテーブルを経てＣＲＴ表示装置に入力するＮＣプ
ログラム検査装置と、このＣＲＴ表示装置の画面に被加
工体や電極や電極の軌跡を最も検査しやすい位置に描画
するための中心座標値を計算してＮＣプログラム検査装
置にこの計算により得た中心座標値を送る自動中心座標
値設定装置を備えたことを特徴とする放電加工装置。 - （２）ＮＣプログラム検査装置には、これを起動するた
めの信号を論理回路に入力するための検査スタートスイ
ッチが接続されていることを特徴とする特許請求の範囲
第１項記載の放電加工装置。 - （３）ＮＣプログラム検査装置には解析データをセット
する解析データテーブルが接続されていることを特徴と
する特許請求の範囲第１項記載の放電加工装置。 - （４）表示データテーブルは、解析データテーブルに設
定されているデータをもとに、ＮＣプログラム検査装置
がＣＲＴ表示装置用に変換したデータを設定するために
設けられていることを特徴とする特許請求の範囲第１項
または第３項記載の放電加工装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23281384A JPS61111855A (ja) | 1984-11-05 | 1984-11-05 | 放電加工装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23281384A JPS61111855A (ja) | 1984-11-05 | 1984-11-05 | 放電加工装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61111855A true JPS61111855A (ja) | 1986-05-29 |
Family
ID=16945170
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP23281384A Pending JPS61111855A (ja) | 1984-11-05 | 1984-11-05 | 放電加工装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61111855A (ja) |
-
1984
- 1984-11-05 JP JP23281384A patent/JPS61111855A/ja active Pending
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