JPS608737A - 金属物体の表面探傷方法 - Google Patents
金属物体の表面探傷方法Info
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- JPS608737A JPS608737A JP11744483A JP11744483A JPS608737A JP S608737 A JPS608737 A JP S608737A JP 11744483 A JP11744483 A JP 11744483A JP 11744483 A JP11744483 A JP 11744483A JP S608737 A JPS608737 A JP S608737A
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
- G01N21/8901—Optical details; Scanning details
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- Pathology (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は金属物体の表面探傷方法に係り、特に、走行中
の被検体の表面に外部から光を照射し、被検体からの反
射光を受光して、被検体の表面を探傷づるようにした金
属物体の表面探（扁方法の改良に関する。
の被検体の表面に外部から光を照射し、被検体からの反
射光を受光して、被検体の表面を探傷づるようにした金
属物体の表面探（扁方法の改良に関する。
金属物体、特に、走行中の連鋳スラブ等の高温状態にあ
る板状金属物体の表面疵をオンラインで検出づる技術と
して、光学的方法が広く利用されている。
る板状金属物体の表面疵をオンラインで検出づる技術と
して、光学的方法が広く利用されている。
従来光学的な表面探傷方法として、小さい径の点状とな
し／＝光を走査し、その反射光を受光づるフライング・
スポット法や、一定の面積をもつ照射野からの反射光を
小視野の受光系を走査づることにより、疵を検出するフ
ライング・イメージ法等が考案されている。
し／＝光を走査し、その反射光を受光づるフライング・
スポット法や、一定の面積をもつ照射野からの反射光を
小視野の受光系を走査づることにより、疵を検出するフ
ライング・イメージ法等が考案されている。
また、従来の投光に関づる公知の技術として、白色光を
集光して帯状に投光するもの、或いは、レーザ光を帯状
に広げて投光づるもの等が存在づる。
集光して帯状に投光するもの、或いは、レーザ光を帯状
に広げて投光づるもの等が存在づる。
受光に関する公知の技術としては、微小視野の情報を光
電変換した後、電気的に一定周期で走査して読み出−！
ｌ’、ＣＣＤ等によるリニヤ・イメージセンサを利用Ｊ
るもの等が知られている。この受光系としてリニヤ・イ
メージ・センサを利用する手法は、投光の光源として白
色光、或いはレーザ光のいずれを用いる場合も、従来の
フライングイメージ法のような回転多面鏡が不要となる
ので技術的に優れている。又、この手法の受光系を利用
した場合、帯状の視野のみで充分であるため、被検体面
への照射も帯状で足りる。従って、面状に広げた投光系
より同一パワーの光源を用いた場合に、より照射光量密
度の高い反射光が１ｑられるので右利である。
電変換した後、電気的に一定周期で走査して読み出−！
ｌ’、ＣＣＤ等によるリニヤ・イメージセンサを利用Ｊ
るもの等が知られている。この受光系としてリニヤ・イ
メージ・センサを利用する手法は、投光の光源として白
色光、或いはレーザ光のいずれを用いる場合も、従来の
フライングイメージ法のような回転多面鏡が不要となる
ので技術的に優れている。又、この手法の受光系を利用
した場合、帯状の視野のみで充分であるため、被検体面
への照射も帯状で足りる。従って、面状に広げた投光系
より同一パワーの光源を用いた場合に、より照射光量密
度の高い反射光が１ｑられるので右利である。
又、従来の反射の技術としては、走行中の被検体に、幅
方向（走行方向に直交する方向）に広がった帯状照射野
を与え、その反射光量変化をＣＯＤセンサ等で検知しで
、疵を検出するものが知られ（いる。ところで、連鋳ス
ラブ等の金属表面疵は、主として割れ疵である。その形
状は走行方向に平行な縦割れ、走行方向に直交づる横割
れ（この中にはコーナ部の鍵割れ等も含まれる）等が主
たるものである。この外にスター・クラック等の復雑な
形状の疵も存在覆る。又通富、縦割れ、横割れと呼ばれ
ている疵も、微細に観察−４−ると多少どもジグザグな
形状を呈しており、走行方向に直交づる成分と平行な成
分を持っている。
方向（走行方向に直交する方向）に広がった帯状照射野
を与え、その反射光量変化をＣＯＤセンサ等で検知しで
、疵を検出するものが知られ（いる。ところで、連鋳ス
ラブ等の金属表面疵は、主として割れ疵である。その形
状は走行方向に平行な縦割れ、走行方向に直交づる横割
れ（この中にはコーナ部の鍵割れ等も含まれる）等が主
たるものである。この外にスター・クラック等の復雑な
形状の疵も存在覆る。又通富、縦割れ、横割れと呼ばれ
ている疵も、微細に観察−４−ると多少どもジグザグな
形状を呈しており、走行方向に直交づる成分と平行な成
分を持っている。
しかしながら前記従来の幅方向に広がった帯状照射野を
与えるという手法は、被検体走行方面に平行／ｊ縦割れ
疵の検出には比較的有利であったが、走行方向に直交づ
る債割れ疵、又は直交方向に近い疵の検出には極めて不
利であった。そしてたとえ検出で・きたとしてもそのｊ
ｑられた疵信号は完全に連続したものとはならないで、
とぎれとぎれのものが多いというのが実情であった。
与えるという手法は、被検体走行方面に平行／ｊ縦割れ
疵の検出には比較的有利であったが、走行方向に直交づ
る債割れ疵、又は直交方向に近い疵の検出には極めて不
利であった。そしてたとえ検出で・きたとしてもそのｊ
ｑられた疵信号は完全に連続したものとはならないで、
とぎれとぎれのものが多いというのが実情であった。
Ａ発明はこのような従来の問題点に鑑みてなされたもの
であって、リニヤ・イメージ・センサを利用する利点を
そのまま生かしつつ、縦割れのみならず横割れ或いはス
タークラックのような複雑な形状の疵等においても、高
精度な探傷を可能とし、しかも、その探傷が容易な金属
物体の表面探傷装置を提供することをその目的としＣい
る。
であって、リニヤ・イメージ・センサを利用する利点を
そのまま生かしつつ、縦割れのみならず横割れ或いはス
タークラックのような複雑な形状の疵等においても、高
精度な探傷を可能とし、しかも、その探傷が容易な金属
物体の表面探傷装置を提供することをその目的としＣい
る。
本発明は、走行中の被検体の表面に外部がら光を照射し
、被検体からの反射光を受光して、被検体の表面を探傷
するようにした金属物体の表面探傷７５Ｆ１において、
被検体の斜め上方に配した投光部から被検体表面上に、
被検体の走行方向と所定の角度をなすように斜めに、且
つ帯状に外部光を照射し、この反射光を、該帯状照射野
を視野としたリニヤ・イメージ・センサにて受光し、該
受光信号に基いて被検体の表面を探傷することとし上記
目的を達成したものである。
、被検体からの反射光を受光して、被検体の表面を探傷
するようにした金属物体の表面探傷７５Ｆ１において、
被検体の斜め上方に配した投光部から被検体表面上に、
被検体の走行方向と所定の角度をなすように斜めに、且
つ帯状に外部光を照射し、この反射光を、該帯状照射野
を視野としたリニヤ・イメージ・センサにて受光し、該
受光信号に基いて被検体の表面を探傷することとし上記
目的を達成したものである。
以下図面を参照しつつ本発明の詳細な説明する。
第１図に本発明方法の一実施例が採用された、金属物体
の表面探傷装置の一例を示り。図において１０が投光系
で、発光源１２と、投光部１４とに分離されており、こ
れが光ファイバ１６によって結合されている。投光部１
４は、被検体１８の斜め上方に配され、被検体１８の表
面上に、被検体１８の走行方向Ｙと所定の角度θをなづ
帯状の光を照射可能である。この帯状照射野２０からの
反射光を受光ＪるリニＡ７・イメージ・センサを含む受
光部２２は、投光部１４と一体的橢造とされ単一の投受
光部２４を形成している。
の表面探傷装置の一例を示り。図において１０が投光系
で、発光源１２と、投光部１４とに分離されており、こ
れが光ファイバ１６によって結合されている。投光部１
４は、被検体１８の斜め上方に配され、被検体１８の表
面上に、被検体１８の走行方向Ｙと所定の角度θをなづ
帯状の光を照射可能である。この帯状照射野２０からの
反射光を受光ＪるリニＡ７・イメージ・センサを含む受
光部２２は、投光部１４と一体的橢造とされ単一の投受
光部２４を形成している。
帯状照射野２０をリニヤ・イメージ・センサによつＣ搬
像する場合、投受光部２４は一体構造とした方が視野調
整が容易で、保守性、作業性の面からし右利である。投
光系１０の発光源１２としでレーザ光源を用いると、レ
ーザ光は、パワーの集光性が極めて良好で距離よる減衰
が小さく、波長がそろっているので、干渉フィルタを用
いて効果的に自然光成分等の背ｍノイズをカットするこ
とがＣきる。発光源１２から出力されるレーザ光は、極
めて小さいスポットであるので、これをシリンドリカル
・レンズで広げると、極めて幅ｑ法の小さい帯状照射野
２０が得られる。なお、第１図Ｃ１２６は搬送ロール、
２８は信号処理回路、３０は記録計を示プ。
像する場合、投受光部２４は一体構造とした方が視野調
整が容易で、保守性、作業性の面からし右利である。投
光系１０の発光源１２としでレーザ光源を用いると、レ
ーザ光は、パワーの集光性が極めて良好で距離よる減衰
が小さく、波長がそろっているので、干渉フィルタを用
いて効果的に自然光成分等の背ｍノイズをカットするこ
とがＣきる。発光源１２から出力されるレーザ光は、極
めて小さいスポットであるので、これをシリンドリカル
・レンズで広げると、極めて幅ｑ法の小さい帯状照射野
２０が得られる。なお、第１図Ｃ１２６は搬送ロール、
２８は信号処理回路、３０は記録計を示プ。
第２図は、被検体１８上の走行方向Ｙに平行な縦割れ疵
、垂直な横割れ疵に対づる本発明に基づく探傷装置の検
出能を、被検体走行方向Ｙと帯状照射野２０とのなす角
度θを変えて評価したものである。走行方向Ｙに垂直な
横割れ疵はθがＯ度〜８５度までの範囲で９０％以上の
検出率が得られている。走行方向Ｙに平行な縦割れ疵に
関しでは、θが２０度〜９０度までの範囲で９０％以上
の検出率が得られている。このように横削れ疵にあって
はθが８５度以上、縦割れ疵にあつ′Ｃはθが２０度未
満の範囲で検出率が落ちるのは、疵の方向と帯状照射野
２０とのなず角が零に近くなるためであると考えられる
。ところで、θをあまり小さく設定しＪぎると、帯状照
射野２０の被検体幅方向Ｘをカバーづる長さが短くなり
、幅方向Ｘを全面走査するための装置の台数が増えると
いう欠点が生じる。このため実用上θの値としては、３
０度〜８５度までの角度範囲が有効である。従つＣ１こ
の範囲のある一定の角度θだけ被検体走行方向Ｙから傾
斜して帯状光を照射し、その反射光量変化から被検体表
面の異常部（疵）を検出する。
、垂直な横割れ疵に対づる本発明に基づく探傷装置の検
出能を、被検体走行方向Ｙと帯状照射野２０とのなす角
度θを変えて評価したものである。走行方向Ｙに垂直な
横割れ疵はθがＯ度〜８５度までの範囲で９０％以上の
検出率が得られている。走行方向Ｙに平行な縦割れ疵に
関しでは、θが２０度〜９０度までの範囲で９０％以上
の検出率が得られている。このように横削れ疵にあって
はθが８５度以上、縦割れ疵にあつ′Ｃはθが２０度未
満の範囲で検出率が落ちるのは、疵の方向と帯状照射野
２０とのなず角が零に近くなるためであると考えられる
。ところで、θをあまり小さく設定しＪぎると、帯状照
射野２０の被検体幅方向Ｘをカバーづる長さが短くなり
、幅方向Ｘを全面走査するための装置の台数が増えると
いう欠点が生じる。このため実用上θの値としては、３
０度〜８５度までの角度範囲が有効である。従つＣ１こ
の範囲のある一定の角度θだけ被検体走行方向Ｙから傾
斜して帯状光を照射し、その反射光量変化から被検体表
面の異常部（疵）を検出する。
疵の形状は以下の手順により判定される。
（なわも、被検体の検査面上の適当な基準熱を原点とし
、仮想的に直交座標を設定し、幅方向Ｘを×軸、走行方
向Ｙをｙ軸とづる。今１時間の関数として得られる疵信
号の座標上の値が、（１）式のようになった場合、縦割
れ疵と判定づる。
、仮想的に直交座標を設定し、幅方向Ｘを×軸、走行方
向Ｙをｙ軸とづる。今１時間の関数として得られる疵信
号の座標上の値が、（１）式のようになった場合、縦割
れ疵と判定づる。
ここで、Ａ、Ｂは定数、■は被検体走行速度、［は疵信
号発生時〆１からの経過時間である。
号発生時〆１からの経過時間である。
一方、座標上の１０が（２）式のようになつ１こ場合は
、横割れと判定づる。
、横割れと判定づる。
ｘ ＝ （Ｃ−ｖｔ） Ｄ、 Ｖ ＝Ｃ・・・（２）こ
こで、Ｃ，Ｄは定数である。
こで、Ｃ，Ｄは定数である。
更に、〈３）式のように座標位置が変化づる場合は、一
般に被検体走行方向Ｙとある傾角αをなづ線状疵と判別
づる。
般に被検体走行方向Ｙとある傾角αをなづ線状疵と判別
づる。
Ｘ ＝ （ｖＬ−Ｅ）／ （Ｆ−ｔａｎ （π／２−θ
））ｙ ＝ （Ｆ−ｖｔ−Ｅ ・ しａｎ（ｙｒ／２
− θ ） ）７（’ｉニーｔａｎ （π／２−〇＞）
−−−（３）ここで、Ｅ、Ｆは定数である。そして、任
意の時間の座標値ｘ、■の値からＦを算出し、（４）式
よりその疵の傾角αをめる。
））ｙ ＝ （Ｆ−ｖｔ−Ｅ ・ しａｎ（ｙｒ／２
− θ ） ）７（’ｉニーｔａｎ （π／２−〇＞）
−−−（３）ここで、Ｅ、Ｆは定数である。そして、任
意の時間の座標値ｘ、■の値からＦを算出し、（４）式
よりその疵の傾角αをめる。
ｔａｎ −ｉＦ −（ｖｔ−［）’／ｘ）＝π／２−’
ｃｙ・＜４）また、それぞれの場合に、疵信号の発生時
点からの経過時間により、疵の長さを計算することがで
きる。
ｃｙ・＜４）また、それぞれの場合に、疵信号の発生時
点からの経過時間により、疵の長さを計算することがで
きる。
次に、本発明の実施例を熱間で連鋳スラブの表面疵を検
出りるために適用した例について述べる。
出りるために適用した例について述べる。
連鋳スラブの表面疵は、全長あるいは部分的に直線状を
なＪ゛割れ疵が殆んどである。部分的に直線状をなすジ
グザグな形状の割れ疵や、スター・クラックなどの複雑
な形状の割れ疵も、この方法の探傷では、とぎれること
のない疵情報が得られる。
なＪ゛割れ疵が殆んどである。部分的に直線状をなすジ
グザグな形状の割れ疵や、スター・クラックなどの複雑
な形状の割れ疵も、この方法の探傷では、とぎれること
のない疵情報が得られる。
本実施例Ｃは、ローラ・エプロン出側（ピンチロール出
側）に°Ｃ１トーチカット前の連防スラブ表面探偏の場
合を示づ。この位置での探傷の特徴は、トーチカット後
の場合と比べると、（１）より上流であるので、鋳込み
操業の適正化への表面情報のフィードバックが容易であ
る；（２）附加重量などを考慮したスラブ切断長の」ン
トロールが可能である；などておる。
側）に°Ｃ１トーチカット前の連防スラブ表面探偏の場
合を示づ。この位置での探傷の特徴は、トーチカット後
の場合と比べると、（１）より上流であるので、鋳込み
操業の適正化への表面情報のフィードバックが容易であ
る；（２）附加重量などを考慮したスラブ切断長の」ン
トロールが可能である；などておる。
投射光としては、レーザ光を用いた。レーザ光の波長は
、投射光からの反射成分をより効果的に受光づべく、被
検体自発光のエネルギの小さいスペクトル領域、即ち、
なるべく赤外領域を外した領域である可視の短波長を選
ぶことが望ましく、本実施例では、波長５００ｎｍ近傍
のレーザ光を発振するアルゴン・レーザが最適な発光源
として選択された。この発光源と投光部とは、光ファイ
バで結合し、１００ｍ近い距離を高い伝送効率で伝送し
た。これにより、設置条件の厳しい現場でも容易に装置
の設置ができた。尚、レーザ発光源と投光部との間の光
ファイバは、４００ｍｍ以上の波長を持つ９Ｗ以上の出
力のレーザ光を、該光ファイバへの受熱温度が２００℃
以下の条件下で、１００ｍの長さ当たりの伝送パワーの
減衰退が５ｄＢ以下という高い伝送効率を持っている。
、投射光からの反射成分をより効果的に受光づべく、被
検体自発光のエネルギの小さいスペクトル領域、即ち、
なるべく赤外領域を外した領域である可視の短波長を選
ぶことが望ましく、本実施例では、波長５００ｎｍ近傍
のレーザ光を発振するアルゴン・レーザが最適な発光源
として選択された。この発光源と投光部とは、光ファイ
バで結合し、１００ｍ近い距離を高い伝送効率で伝送し
た。これにより、設置条件の厳しい現場でも容易に装置
の設置ができた。尚、レーザ発光源と投光部との間の光
ファイバは、４００ｍｍ以上の波長を持つ９Ｗ以上の出
力のレーザ光を、該光ファイバへの受熱温度が２００℃
以下の条件下で、１００ｍの長さ当たりの伝送パワーの
減衰退が５ｄＢ以下という高い伝送効率を持っている。
その為、投、受光部のレンズ系を含めたものでも、パワ
ーの減衰は、約９０１１１の光ファイバ長の場合でわず
か５０％以下であった。投光部より出力されるレーザ光
はシリンドリカルレンズによって、被検体上で幅約３龍
、長さ′約１ｍの帯状に照射される。この帯状照射野と
スラブ走行方向Ｙとのなづ所定の角度θは４５°とした
。帯状照射野がらの反射光は、１ｏ２４素子あるいは２
ｏ４８素子をしつり−ア・イメージ・センサにて受光し
、その光量変化から只常部（疵）を高分解能で判別づる
こととした。
ーの減衰は、約９０１１１の光ファイバ長の場合でわず
か５０％以下であった。投光部より出力されるレーザ光
はシリンドリカルレンズによって、被検体上で幅約３龍
、長さ′約１ｍの帯状に照射される。この帯状照射野と
スラブ走行方向Ｙとのなづ所定の角度θは４５°とした
。帯状照射野がらの反射光は、１ｏ２４素子あるいは２
ｏ４８素子をしつり−ア・イメージ・センサにて受光し
、その光量変化から只常部（疵）を高分解能で判別づる
こととした。
今、スラブ表面上、検査開始時の帯状照射野の左端を原
点とし、軸方向Ｘにｘ軸、走行方向Ｙにｙ＠Ｉｌを仮想
的に設定づる。レーザ光で照射される走査範囲内で得ら
れる疵信号の各時刻のＸ、ｙ座標を検知し、一方では、
適当な条件で疵の閾がりを判定づる。そして、繋がりあ
りと判定された疵に関し、疵信号の発生時点からの経過
時間から疵長さを締出する。
点とし、軸方向Ｘにｘ軸、走行方向Ｙにｙ＠Ｉｌを仮想
的に設定づる。レーザ光で照射される走査範囲内で得ら
れる疵信号の各時刻のＸ、ｙ座標を検知し、一方では、
適当な条件で疵の閾がりを判定づる。そして、繋がりあ
りと判定された疵に関し、疵信号の発生時点からの経過
時間から疵長さを締出する。
第３図にその具体的流れを示づ。まず、疵のｙ座標が一
定かどうかの判断を行う。もし、一定であればそれは、
オシレーションマークか横割れである。オシレーション
マークと横割れの区別は以下の手順で行う。まず、オシ
レーションマークはほぼ等間隔に出現づることからそれ
らの疵信号の出方が等間隔かとうかの判別を実行づる。
定かどうかの判断を行う。もし、一定であればそれは、
オシレーションマークか横割れである。オシレーション
マークと横割れの区別は以下の手順で行う。まず、オシ
レーションマークはほぼ等間隔に出現づることからそれ
らの疵信号の出方が等間隔かとうかの判別を実行づる。
次に、Ａ−シレーションマータと疵とでは信号の周波数
成分が異なる。第４図に波形を例示覆る。同図（ａ ）
は周波数解析により得られたオシレージ門ンンークの波
形である。同図（１））は受光系によって１ｑられた波
形である。この波形からオシレーションマークの波形成
分を差し引くと同図（Ｃ）の波形のような真の疵波形が
得られる。この図にみられるＪ、うにオシレーションマ
ーク底部の横割れ波形も分離できる。ｊス上の２つの操
作により精度よく（各割れと副シレーションンータとは
区別される。
成分が異なる。第４図に波形を例示覆る。同図（ａ ）
は周波数解析により得られたオシレージ門ンンークの波
形である。同図（１））は受光系によって１ｑられた波
形である。この波形からオシレーションマークの波形成
分を差し引くと同図（Ｃ）の波形のような真の疵波形が
得られる。この図にみられるＪ、うにオシレーションマ
ーク底部の横割れ波形も分離できる。ｊス上の２つの操
作により精度よく（各割れと副シレーションンータとは
区別される。
オシレーションマークの情報は不要なので出力せず、横
割れの被検体上のｘｙ座標位置とその長さを出力づる。
割れの被検体上のｘｙ座標位置とその長さを出力づる。
次に、疵のｙ座標が一定でない信号のうち、Ｘ座標が一
定かどうかの判別を実行し、もし、それが一定であれば
、縦割れと判定し、同様にその被検体上のｘｙ座標位置
とその長さを出力−４る。
定かどうかの判別を実行し、もし、それが一定であれば
、縦割れと判定し、同様にその被検体上のｘｙ座標位置
とその長さを出力−４る。
次に、疵のＸ座標が一定でない疵信号を対象に前記く４
）式の計算方法でその傾角αをめる。
）式の計算方法でその傾角αをめる。
傾角σがある長さごとに変化づる疵信号については、順
次変化したその傾角αを計算するとともに、伯９の繋り
を判別し、繋り有りと判別された場合は１個のジグザグ
状の割れと判定して出力する。
次変化したその傾角αを計算するとともに、伯９の繋り
を判別し、繋り有りと判別された場合は１個のジグザグ
状の割れと判定して出力する。
そしてこれら走行方向Ｙに対して傾角をもつ疵について
もそれらの被検体上のｘｙ座標位置とその長さを出力づ
る。
もそれらの被検体上のｘｙ座標位置とその長さを出力づ
る。
これら疵判定フローにおいて、計算機内では、Ｘ軸方向
およびｙ軸方向のアドレスが極くわずかに離れた疵信号
はたがいに連続したものであるとする最適ブロッキング
パラメータ、疵として判定した後ある値以下の小さいも
のはノイズとして無視づる最適フィルタリングパラメー
タ等が設定されている。
およびｙ軸方向のアドレスが極くわずかに離れた疵信号
はたがいに連続したものであるとする最適ブロッキング
パラメータ、疵として判定した後ある値以下の小さいも
のはノイズとして無視づる最適フィルタリングパラメー
タ等が設定されている。
この方法を用いて連鋳スラブの表面疵を熱間オンライン
で検査した結果、下流工程、製品において有害とみなさ
れる各種紙は、従来に比し極めて精度よく検出できるこ
とが確認された。
で検査した結果、下流工程、製品において有害とみなさ
れる各種紙は、従来に比し極めて精度よく検出できるこ
とが確認された。
不発司の用途は、本実施例に限定されることなく、熱延
鋼板、酸洗鋼板、冷延鋼板、表面処理鋼板、などの分野
で有効に利用できる。ｊ；た、本発明は、これら鋼材、
鋼板だ（ブでなく他の板状金属板、紙などのシー１−状
非金属被検体の高速走行のＡンライン検査に適用しても
極めて良好な結果が得られる。
鋼板、酸洗鋼板、冷延鋼板、表面処理鋼板、などの分野
で有効に利用できる。ｊ；た、本発明は、これら鋼材、
鋼板だ（ブでなく他の板状金属板、紙などのシー１−状
非金属被検体の高速走行のＡンライン検査に適用しても
極めて良好な結果が得られる。
ｊス上説明して来た如く、本発明によれば、縦割れ９み
ならず横割れ、或いはスタークラックのような複雑な形
状の表面疵等（Ｃつぃ（も高精度に探傷できるという効
果が得られる。
ならず横割れ、或いはスタークラックのような複雑な形
状の表面疵等（Ｃつぃ（も高精度に探傷できるという効
果が得られる。
しかも受光にあたって、リニヤ・イメージ・センサを利
用づるようにしたため、発光源として白色光、あるいは
レーザ光のいずれを用いる場合であっても、従来のフラ
イング・イメージ法のような回転多面鏡を必要とせず、
更に、帯状の視野による検出ができるため、投光を面状
に拡げる場合に比し、それだ（ブ照射光量密度を高く維
持できるという、リニヤ・イメージ・センサを用いた効
果が相乗的に得られるものである。
用づるようにしたため、発光源として白色光、あるいは
レーザ光のいずれを用いる場合であっても、従来のフラ
イング・イメージ法のような回転多面鏡を必要とせず、
更に、帯状の視野による検出ができるため、投光を面状
に拡げる場合に比し、それだ（ブ照射光量密度を高く維
持できるという、リニヤ・イメージ・センサを用いた効
果が相乗的に得られるものである。
第１図は、本発明方法の一実施例が採用された、金属物
体の表面探傷装圃の斜視説明図、第２図は、被検体の走
行方向と帯状照射野とのなＪ所定の角度θを変えた場合
の縦割れと横割れの検出率の変化を示１線図、 第３図は、前記装置で用いられ−Ｃいる、各種紙の判別
手順を示Ｊ流れ図、 第４図（ａ）（ｂ）（ｃ）は、Ａシレージョンマークと
横割れとの判別を説明するだめの線図である。 １２・・・発光源、 １４・・・投光部、１８・・・被
検体、 ２０・・・帯状照射野、２２・・・リ−１７・
イメージ・センサ、Ｘ・・・幅方向、 Ｙ・・・走行方
向、θ・・・所定の角度。 代理人 高 矢 論 （ほか１名） 第１図 第２図 ”−−一、線割れ庇 □積別れ逃 ＯＯ３０ａ ６００ ９０″ □θ 第３図
体の表面探傷装圃の斜視説明図、第２図は、被検体の走
行方向と帯状照射野とのなＪ所定の角度θを変えた場合
の縦割れと横割れの検出率の変化を示１線図、 第３図は、前記装置で用いられ−Ｃいる、各種紙の判別
手順を示Ｊ流れ図、 第４図（ａ）（ｂ）（ｃ）は、Ａシレージョンマークと
横割れとの判別を説明するだめの線図である。 １２・・・発光源、 １４・・・投光部、１８・・・被
検体、 ２０・・・帯状照射野、２２・・・リ−１７・
イメージ・センサ、Ｘ・・・幅方向、 Ｙ・・・走行方
向、θ・・・所定の角度。 代理人 高 矢 論 （ほか１名） 第１図 第２図 ”−−一、線割れ庇 □積別れ逃 ＯＯ３０ａ ６００ ９０″ □θ 第３図
Claims (2)
- （１）走行中の被検体の表面に外部から光を照射し、被
検体からの反射光を受光して、被検体の表面を探傷する
ようにした金属物体の表面探傷方法において、被検体の
斜め上方に配した投光部から被検体表面上に、被検体の
走行方向と所定の角度をなすように斜めに、且つ帯状に
外部光を照射し、この反射光を、該帯状照射野を視野と
したリニヤ・イメージ・センサにて受光し、該受光信号
に基いて被検体の表面を探傷する金属物体の表面探傷方
法。 - （２）前記所定の角度を、３０度〜８５度とした特許請
求の範囲第１項記載の金属物体の表面探傷方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11744483A JPS608737A (ja) | 1983-06-29 | 1983-06-29 | 金属物体の表面探傷方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11744483A JPS608737A (ja) | 1983-06-29 | 1983-06-29 | 金属物体の表面探傷方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS608737A true JPS608737A (ja) | 1985-01-17 |
Family
ID=14711799
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11744483A Pending JPS608737A (ja) | 1983-06-29 | 1983-06-29 | 金属物体の表面探傷方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS608737A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009168580A (ja) * | 2008-01-15 | 2009-07-30 | Saki Corp:Kk | 被検査体の検査装置 |
| ITVR20090029A1 (it) * | 2009-03-10 | 2010-09-11 | Microtec Srl | Metodo per l'individuazione di difetti nel legname . |
| JP2010230450A (ja) * | 2009-03-26 | 2010-10-14 | Panasonic Electric Works Co Ltd | 物体表面検査装置 |
-
1983
- 1983-06-29 JP JP11744483A patent/JPS608737A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009168580A (ja) * | 2008-01-15 | 2009-07-30 | Saki Corp:Kk | 被検査体の検査装置 |
| ITVR20090029A1 (it) * | 2009-03-10 | 2010-09-11 | Microtec Srl | Metodo per l'individuazione di difetti nel legname . |
| JP2010230450A (ja) * | 2009-03-26 | 2010-10-14 | Panasonic Electric Works Co Ltd | 物体表面検査装置 |
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