JPS6052710A - 距離検知装置 - Google Patents
距離検知装置Info
- Publication number
- JPS6052710A JPS6052710A JP58161088A JP16108883A JPS6052710A JP S6052710 A JPS6052710 A JP S6052710A JP 58161088 A JP58161088 A JP 58161088A JP 16108883 A JP16108883 A JP 16108883A JP S6052710 A JPS6052710 A JP S6052710A
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- JP
- Japan
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- observation
- distance
- lens
- reflected
- point
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- Pending
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
- G01S17/00—Systems using the reflection or reradiation of electromagnetic waves other than radio waves, e.g. lidar systems
- G01S17/02—Systems using the reflection of electromagnetic waves other than radio waves
- G01S17/06—Systems determining position data of a target
- G01S17/46—Indirect determination of position data
- G01S17/48—Active triangulation systems, i.e. using the transmission and reflection of electromagnetic waves other than radio waves
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
- G01B11/25—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures by projecting a pattern, e.g. one or more lines, moiré fringes on the object
- G01B11/254—Projection of a pattern, viewing through a pattern, e.g. moiré
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
検知装置に係るものである。
立体形状や変形運動などの計測においては、３次元的な
距離計測が基本となっておシ、従来から距離計測法の７
例として３角測量の原理に基づいた計測方法が広く用い
られている。この距離計測法では、３角形において一辺
とその両端に２ける角度が定まると、３角形は一意的に
決定され、その一辺に相対する頂点の位置をめることが
できること？利用している。この原理に基づいた距離計
測系の／仇を第１図に示した。コつの観測光学系１，２
をある゛一定距Ｐｌ！Ｌだけ離し光軸が平行となる様に
配置する。そしてλつの観測光学系１。
距離計測が基本となっておシ、従来から距離計測法の７
例として３角測量の原理に基づいた計測方法が広く用い
られている。この距離計測法では、３角形において一辺
とその両端に２ける角度が定まると、３角形は一意的に
決定され、その一辺に相対する頂点の位置をめることが
できること？利用している。この原理に基づいた距離計
測系の／仇を第１図に示した。コつの観測光学系１，２
をある゛一定距Ｐｌ！Ｌだけ離し光軸が平行となる様に
配置する。そしてλつの観測光学系１。
２よシ被測定物体３の注目点Ｔ”までの距Ｉｋ１’ｃ
Ｚ ％注目点Ｔの像が」つの観測光学系１，２から距離
Ａだけ離れた観迎］位置で、それぞれの光軸よシそれぞ
れＸａ，Ｘｂの位置で検出されるものとすると、注目点
Ｔまでの距離Ｚは次式によ請求められる。
Ｚ ％注目点Ｔの像が」つの観測光学系１，２から距離
Ａだけ離れた観迎］位置で、それぞれの光軸よシそれぞ
れＸａ，Ｘｂの位置で検出されるものとすると、注目点
Ｔまでの距離Ｚは次式によ請求められる。
Ｚ＝Ａ − Ｌ／ （Ｘａ 十Ｘｂ ）しかし、この様
な従来の距離計測方法においては、測定精度上どうして
も一つの観測光学系間の距離Ｌを一定距離、離して配置
する必要がある。
な従来の距離計測方法においては、測定精度上どうして
も一つの観測光学系間の距離Ｌを一定距離、離して配置
する必要がある。
その結実装置全体として大きくなってしまい、内視鏡な
どの様に全体としてできるだけ小さくしたい場合には、
適用できないのが欠点であった。
どの様に全体としてできるだけ小さくしたい場合には、
適用できないのが欠点であった。
本発明の目的は、この様な従来の３角６１１ｊ量の原理
に基づいた距離計測方法の欠点全改良した新規な小型化
距離検知装置を提供することである。
に基づいた距離計測方法の欠点全改良した新規な小型化
距離検知装置を提供することである。
この目的は、本発明に従い７つの観測レンズと少なくと
も１つの反射体と全備え、被測定物体上の任意の一点か
らの光が直接入射し、且つ前記の任意の一点からの光が
前記の反射体によシ反射されて入射する位置に前記の観
測レンズ全配置して、観測レンズを通った直接入射光と
反射入射光との結像位置からあるいは複数の反射入射光
の結像位置から前記の任意の一点と観測レンズ節点との
距離を決定することを特徴とする距離検知装置えよシ達
成される。
も１つの反射体と全備え、被測定物体上の任意の一点か
らの光が直接入射し、且つ前記の任意の一点からの光が
前記の反射体によシ反射されて入射する位置に前記の観
測レンズ全配置して、観測レンズを通った直接入射光と
反射入射光との結像位置からあるいは複数の反射入射光
の結像位置から前記の任意の一点と観測レンズ節点との
距離を決定することを特徴とする距離検知装置えよシ達
成される。
第２図は本発明による三角測量の原理による距離検知装
置の構成の一例であシ観側レンズ５、観測レンズの光軸
６に対し観測レンズの節点Ｏの部分において光軸６よシ
距離ｄだけ離れた点を通シ観測レンズの光軸に平行な線
に対しφの角度傾いた線７上に反射体８會配置し被測定
物体３上の任意の／ａＴからの光が前記反射体８ ＆Ｃ
，１： ９反射され観測レンズ５によシ観測面９上のＴ
、に結像される。−力板測定物体３上の任意の一点丁か
らの、反射体で反射式れない光ｒ／′ｉ蜆測レンズｅＣ
，Ｉｌ′Ｉ）観測面上のＴｏに結像される。
置の構成の一例であシ観側レンズ５、観測レンズの光軸
６に対し観測レンズの節点Ｏの部分において光軸６よシ
距離ｄだけ離れた点を通シ観測レンズの光軸に平行な線
に対しφの角度傾いた線７上に反射体８會配置し被測定
物体３上の任意の／ａＴからの光が前記反射体８ ＆Ｃ
，１： ９反射され観測レンズ５によシ観測面９上のＴ
、に結像される。−力板測定物体３上の任意の一点丁か
らの、反射体で反射式れない光ｒ／′ｉ蜆測レンズｅＣ
，Ｉｌ′Ｉ）観測面上のＴｏに結像される。
反射体に対し観測レンズ５と対称な位置に配置された仮
想的なレンズ１０により仮想的な観測面１１上につくら
れるＴの仮想的な像Ｔｌｖは反射体８によシ反射され観
測面９上に結像されたＴの像Ｔ、と互いに線７に対し対
称の関係となシ、各観測レンズ５，１０に対する入射の
条件は等価でるる。像Ｔ。Ｆｉ観測レンズ５を通じて観
測されたものであり、又Ｔ、は線７に対し観測レンズ５
と鏡像の関係の位置に配置された仮想的なレンズ１゜を
通じて観測されたＴＩｖと等価である。但し観測面上で
Ｔ、とＴ、ｖとの検出される座標値の符号は反対である
。
想的なレンズ１０により仮想的な観測面１１上につくら
れるＴの仮想的な像Ｔｌｖは反射体８によシ反射され観
測面９上に結像されたＴの像Ｔ、と互いに線７に対し対
称の関係となシ、各観測レンズ５，１０に対する入射の
条件は等価でるる。像Ｔ。Ｆｉ観測レンズ５を通じて観
測されたものであり、又Ｔ、は線７に対し観測レンズ５
と鏡像の関係の位置に配置された仮想的なレンズ１゜を
通じて観測されたＴＩｖと等価である。但し観測面上で
Ｔ、とＴ、ｖとの検出される座標値の符号は反対である
。
これは観測レンズ５と仮想的なレンズ１０とによる従来
の三角測量における構成と等価であシ、第２図において
φ＝Ｑ、ｄ＝’／ とした自装置はコ 第７図に示した配置と基本的には同一となる。したがっ
て、反射体８と観測レンズ５全本発明に従い第一図の様
に配置することにより観測レンズと仮想的なレンズ全周
いた三角Ｊ（ｌ量の原理による距離計測検知装！全構成
したものと同様な効果全得るこ七ができる。しかもその
大きさは一つのレンズを使用した第１図の距離検知表置
に比べ約半分程度の大きさになシ装置全体金小型化でき
る。第２図の配置においては距離を算出する式は第７図
の場合よりやや複雑になる。
の三角測量における構成と等価であシ、第２図において
φ＝Ｑ、ｄ＝’／ とした自装置はコ 第７図に示した配置と基本的には同一となる。したがっ
て、反射体８と観測レンズ５全本発明に従い第一図の様
に配置することにより観測レンズと仮想的なレンズ全周
いた三角Ｊ（ｌ量の原理による距離計測検知装！全構成
したものと同様な効果全得るこ七ができる。しかもその
大きさは一つのレンズを使用した第１図の距離検知表置
に比べ約半分程度の大きさになシ装置全体金小型化でき
る。第２図の配置においては距離を算出する式は第７図
の場合よりやや複雑になる。
夢
すやＴ。ｌ Ｔ、の観測面上での座標値をそれぞれ、Ｘ
ｍｌ ＋ Ｘ ｍｌとすると、注目する／点Ｔ′ｌ！ｆ
での距離および×座標体は次式で与えられる。
ｍｌ ＋ Ｘ ｍｌとすると、注目する／点Ｔ′ｌ！ｆ
での距離および×座標体は次式で与えられる。
−）
第３図は平面鏡１２．１３を観測レンズ５の上下に各々
ｄｌ ＋ ｄｔの距離を離して光軸に平行に配置した場
合の実施例である。この配置において、反射体１２およ
び１３で反射でれた後に結像された注目する任意の／点
Ｔの像のＴＩ＋７２の位置よシ、距離を検知すること処
すれば、この配置Ｑユ、第１図に示した従来の三角測量
による距離検知装置の配置と等制約となシ、三角創世に
おける基線長し′は反射体１２．１３間の距離ｄ、 ＋
ｄｔの２倍となシ、（１）式と全く同様な弐葡用いて
距離を算出することができる。ここで１４．１５は反射
体１２．１３によって形成された仮、９Ｍ側レンズ、Ｔ
＃ｉ被測定物体３上の任意の７点を示し、Ｔｏは観測レ
ンズ５によってｉ現副面１６上ｒｃ ｍ １＃された■
の像である。Ｔ＋ 、 Ｔ２は各反射体１２．１３によ
シ反射されたのち観測レンズ５にょシ観測面１６上に結
像されたＴの像でろる。更＋ｃＴ、ｖ、Ｔ、ｖは仮想レ
ンズ１４．１５にょ１Ｌ糠Ｍ醐面１７゜１８上に＃像さ
れたＴの仮想線でるる。この配置により距離検知装置の
幅は、第１図に示した従来の三角測量の配置における装
置の巾に比べ約」程度に狭くすることができる。
ｄｌ ＋ ｄｔの距離を離して光軸に平行に配置した場
合の実施例である。この配置において、反射体１２およ
び１３で反射でれた後に結像された注目する任意の／点
Ｔの像のＴＩ＋７２の位置よシ、距離を検知すること処
すれば、この配置Ｑユ、第１図に示した従来の三角測量
による距離検知装置の配置と等制約となシ、三角創世に
おける基線長し′は反射体１２．１３間の距離ｄ、 ＋
ｄｔの２倍となシ、（１）式と全く同様な弐葡用いて
距離を算出することができる。ここで１４．１５は反射
体１２．１３によって形成された仮、９Ｍ側レンズ、Ｔ
＃ｉ被測定物体３上の任意の７点を示し、Ｔｏは観測レ
ンズ５によってｉ現副面１６上ｒｃ ｍ １＃された■
の像である。Ｔ＋ 、 Ｔ２は各反射体１２．１３によ
シ反射されたのち観測レンズ５にょシ観測面１６上に結
像されたＴの像でろる。更＋ｃＴ、ｖ、Ｔ、ｖは仮想レ
ンズ１４．１５にょ１Ｌ糠Ｍ醐面１７゜１８上に＃像さ
れたＴの仮想線でるる。この配置により距離検知装置の
幅は、第１図に示した従来の三角測量の配置における装
置の巾に比べ約」程度に狭くすることができる。
第４図は第３図と同＠に反射体１２．１３′ｆｔ：親祠
レンズ５の上下に各々距＠ ｄ＋ 、ｄｔ ＃ シて、
光軸に平行に配置した実施例であるが、この実施例の場
合被測定物体３上の任意の一点Ｔからの光が反射体１２
．１３の両方で計−回反射するまで観測レンズ５に↓シ
観測…」上ｒｔｃ箱像できるよう−一反射体１２．１３
の光軸方向の長さが′大きく選ばれている。この場合、
−回反射のものについては第３図の場合と全く同様であ
る。コ回反射のものについては三角測量におけるコつの
観測レンズが図中１９．２０の位置に配置されたと等価
となシ、三角測量における基線長はミラー間隔のグ倍１
Ｉ（ｄ＋ ＋ｄｔ ）と同等の効果が生じる。ここで、
１４゜１５Ｆｉ各々反射体１２．１３によシ形成された
仮想観測レンズ、１９は反射体１２及び１３Ｖｃより形
成されたλ回反射に対応する仮想レンズ、同様に２０は
１３及び１２によシ形成されたλ回反射に対応する仮想
レンズである。■は被測定物体３上の任意の一点、Ｔｏ
は観測レンズ５によシ観測面１６上に結像されたＴ（１
）像である。■、及びＴ！は各々反射体１２．１３によ
シ反射されてから観測レンズ５によシ観側面上に結像さ
れたＴの像である。ＴＩ！は反射体１２，１３Ｔ、、は
１３，１２の順に反射された後に観測面上に結像された
Ｔの像である。ＴＩ Ｖ＋ Ｔ１ｖ＋ Ｔｌ２ＶＩ Ｔ
２＋ｖは各々の仮想観測レンズによシ各々の仮想観測面
１７．１８゜２１．２２上に結像されるＴの仮想像であ
る。
レンズ５の上下に各々距＠ ｄ＋ 、ｄｔ ＃ シて、
光軸に平行に配置した実施例であるが、この実施例の場
合被測定物体３上の任意の一点Ｔからの光が反射体１２
．１３の両方で計−回反射するまで観測レンズ５に↓シ
観測…」上ｒｔｃ箱像できるよう−一反射体１２．１３
の光軸方向の長さが′大きく選ばれている。この場合、
−回反射のものについては第３図の場合と全く同様であ
る。コ回反射のものについては三角測量におけるコつの
観測レンズが図中１９．２０の位置に配置されたと等価
となシ、三角測量における基線長はミラー間隔のグ倍１
Ｉ（ｄ＋ ＋ｄｔ ）と同等の効果が生じる。ここで、
１４゜１５Ｆｉ各々反射体１２．１３によシ形成された
仮想観測レンズ、１９は反射体１２及び１３Ｖｃより形
成されたλ回反射に対応する仮想レンズ、同様に２０は
１３及び１２によシ形成されたλ回反射に対応する仮想
レンズである。■は被測定物体３上の任意の一点、Ｔｏ
は観測レンズ５によシ観測面１６上に結像されたＴ（１
）像である。■、及びＴ！は各々反射体１２．１３によ
シ反射されてから観測レンズ５によシ観側面上に結像さ
れたＴの像である。ＴＩ！は反射体１２，１３Ｔ、、は
１３，１２の順に反射された後に観測面上に結像された
Ｔの像である。ＴＩ Ｖ＋ Ｔ１ｖ＋ Ｔｌ２ＶＩ Ｔ
２＋ｖは各々の仮想観測レンズによシ各々の仮想観測面
１７．１８゜２１．２２上に結像されるＴの仮想像であ
る。
第３図は反射体２３，２４ｔｌ−光軸に対し反射面が観
測レンズ５の方向に向く様に傾斜させて配置した実施例
でろシ、この場合、三角測量において二つの観測系の光
軸２５，２６のなす角度θ１＋θ。
測レンズ５の方向に向く様に傾斜させて配置した実施例
でろシ、この場合、三角測量において二つの観測系の光
軸２５，２６のなす角度θ１＋θ。
金コφ簸十コφ！ （φ１．φ、は反射鏡の角度）とし
たのと等価な効果を持たせることができる。
たのと等価な効果を持たせることができる。
第６図は反射体として円筒状又は円錐状の反射鏡を用い
た本発明の概念図である。被測定物体３上の一点Ｔはこ
の反射体２７によシ反射されたのち観測レンズ５によシ
観測面１６上にＴｒで示す形状に結像される。観測面１
も上のＴｏは直接に観測レンズ５によシ結像されたＴの
像である。光軸２８と被測定物体３上の一点Ｔの作る平
面による断面を考えると前述した第コ、３図において述
べた場合と全く同様の配置と見なすことができ、光軸２
８の２方向短ｍｔ検知できる。■が光軸２８上に存在す
る場合には観測面１Ｇ上に得られるＴの像は観測面上の
原点Ｏを中心とした円となシ、■の２方向距離によって
その半径（原点からＩＪ！までの距離）が変化し、その
半径より２方向距離を検知できる。
た本発明の概念図である。被測定物体３上の一点Ｔはこ
の反射体２７によシ反射されたのち観測レンズ５によシ
観測面１６上にＴｒで示す形状に結像される。観測面１
も上のＴｏは直接に観測レンズ５によシ結像されたＴの
像である。光軸２８と被測定物体３上の一点Ｔの作る平
面による断面を考えると前述した第コ、３図において述
べた場合と全く同様の配置と見なすことができ、光軸２
８の２方向短ｍｔ検知できる。■が光軸２８上に存在す
る場合には観測面１Ｇ上に得られるＴの像は観測面上の
原点Ｏを中心とした円となシ、■の２方向距離によって
その半径（原点からＩＪ！までの距離）が変化し、その
半径より２方向距離を検知できる。
以上は被測定物体３上の任意の一点について考えたが、
この一点は被測定物体上に付した標点あるいは被測定物
体上に投影された輝点あるいは模様の場合であっても適
用できる。、また観ツ１す面上に標点位置検出素子ある
いは、像検出素子等を配置することにより、本方法によ
る距離検出の自動化を図ることが容易となる。特に輝点
位置検出用光センサを観測面の原点周囲に配置して先触
針法による計測に適用する場合には、輝点を観測系の光
軸方向に観測レンズ２通して被測定物体上に投影するこ
とができ、先触針装置を著るしく小型化することが可能
となる、又コ枚の反射体を使用し各々で反射されたのち
観測レンズにより観測面上に結像畑れた一次元的な像を
各々左右の目に対応させることに、しり、立体視が可能
となる。これは内 −視鏡等による立体視への適用が可
能となる。
この一点は被測定物体上に付した標点あるいは被測定物
体上に投影された輝点あるいは模様の場合であっても適
用できる。、また観ツ１す面上に標点位置検出素子ある
いは、像検出素子等を配置することにより、本方法によ
る距離検出の自動化を図ることが容易となる。特に輝点
位置検出用光センサを観測面の原点周囲に配置して先触
針法による計測に適用する場合には、輝点を観測系の光
軸方向に観測レンズ２通して被測定物体上に投影するこ
とができ、先触針装置を著るしく小型化することが可能
となる、又コ枚の反射体を使用し各々で反射されたのち
観測レンズにより観測面上に結像畑れた一次元的な像を
各々左右の目に対応させることに、しり、立体視が可能
となる。これは内 −視鏡等による立体視への適用が可
能となる。
第７図は、本発明によって実現される小型モアレ・トポ
クランイー装置ヶ示す。直線格子３１は観測レンズ５を
通じ反射体１３によシ反射され被測定物体３上に投影さ
れる。被測定物体によシ変形された直線格子の影は反射
体１２によシ反射さｎ観測レンズ５によシ観側面１Ｇ上
に設置した１ぼ線格子３２と重ね合せられ被ｍ＋］定物
体３の等高融を示すモアレ縞を生成することができる。
クランイー装置ヶ示す。直線格子３１は観測レンズ５を
通じ反射体１３によシ反射され被測定物体３上に投影さ
れる。被測定物体によシ変形された直線格子の影は反射
体１２によシ反射さｎ観測レンズ５によシ観側面１Ｇ上
に設置した１ぼ線格子３２と重ね合せられ被ｍ＋］定物
体３の等高融を示すモアレ縞を生成することができる。
これは本発明による観測レンズ１４ｉ５ｔ−用いたモア
レ・トポグラフィ−装置と同様な効果全得ることができ
ること全示し、モアレ・トポグラフィ−による形状計測
装置全署るしく小型化することができる。ここで３３は
照明用光源である。
レ・トポグラフィ−装置と同様な効果全得ることができ
ること全示し、モアレ・トポグラフィ−による形状計測
装置全署るしく小型化することができる。ここで３３は
照明用光源である。
なお、第７図の配置において、観測面中央部よシ格子を
投影し、観測面３１．３２において観測される格子像を
重ね合せてモアレ縞等高線画像を生成することにすれば
、照明の方向性の影響を小きくできる。
投影し、観測面３１．３２において観測される格子像を
重ね合せてモアレ縞等高線画像を生成することにすれば
、照明の方向性の影響を小きくできる。
第１図は従来の距離計測法の説明口であシ、２゜３．４
ｔおよび５図は本発明ＶＣよる距離検知装置の実施例を
示す。第６図は反射体として円筒状又は円錐状の反射鏡
を用いた実施例を示す。第７図ね本発明による小製モア
ン・トポグラフィ−装置Ｃｉ埋を説明する図である。（
図中５：観測レン］８、ｉ２，１３，２３，２４，２７
：反射体、３：被測定物体） 第１図 〉 ７、
ｔおよび５図は本発明ＶＣよる距離検知装置の実施例を
示す。第６図は反射体として円筒状又は円錐状の反射鏡
を用いた実施例を示す。第７図ね本発明による小製モア
ン・トポグラフィ−装置Ｃｉ埋を説明する図である。（
図中５：観測レン］８、ｉ２，１３，２３，２４，２７
：反射体、３：被測定物体） 第１図 〉 ７、
Claims (1)
- ／りの観測レンズと少なくとも７つの反射体とを備え、
被測定物体上の任意の一点からの光が直接入射し、且つ
前記の任意の一点からの光が前記の反射体によシ反射さ
れて入射する位置に前記の観測レンズ全配置したことを
特徴とする距離検知装置。
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58161088A JPS6052710A (ja) | 1983-09-01 | 1983-09-01 | 距離検知装置 |
| US06/642,139 US4637715A (en) | 1983-09-01 | 1984-08-17 | Optical distance measuring apparatus |
| DE198484110399T DE140029T1 (de) | 1983-09-01 | 1984-08-31 | Optische abstandsmessvorrichtung. |
| EP84110399A EP0140029B1 (en) | 1983-09-01 | 1984-08-31 | Optical distance measuring apparatus |
| DE8484110399T DE3482003D1 (de) | 1983-09-01 | 1984-08-31 | Optische abstandsmessvorrichtung. |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58161088A JPS6052710A (ja) | 1983-09-01 | 1983-09-01 | 距離検知装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6052710A true JPS6052710A (ja) | 1985-03-26 |
Family
ID=15728381
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58161088A Pending JPS6052710A (ja) | 1983-09-01 | 1983-09-01 | 距離検知装置 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4637715A (ja) |
| EP (1) | EP0140029B1 (ja) |
| JP (1) | JPS6052710A (ja) |
| DE (2) | DE140029T1 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6266111A (ja) * | 1985-09-19 | 1987-03-25 | Rikagaku Kenkyusho | 光学的距離検出装置 |
| WO2011055418A1 (ja) * | 2009-11-09 | 2011-05-12 | トヨタ自動車株式会社 | 距離測定装置、及び距離測定方法 |
| JP2018116038A (ja) * | 2017-01-20 | 2018-07-26 | 瑞柯科技股▲ふん▼有限公司 | 距離計および距離測定方法 |
Families Citing this family (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4986262A (en) * | 1987-03-31 | 1991-01-22 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Measuring endoscope |
| DE3920133A1 (de) * | 1989-06-20 | 1991-01-03 | Siemens Ag | Optischer sensor zur untersuchung der lage und/oder der kontur eines objekts |
| DE3924290A1 (de) * | 1989-07-22 | 1991-01-31 | Fraunhofer Ges Forschung | Vorrichtung zur optischen abstandsmessung |
| DE4032361A1 (de) * | 1990-10-12 | 1992-04-16 | Dirk Prof Dr Ing Jansen | Distanzmesskopf fuer drehmaschinen |
| DE19815201A1 (de) * | 1998-04-04 | 1999-10-07 | Link Johann & Ernst Gmbh & Co | Meßanordnung zur Erfassung von Dimensionen von Prüflingen, vorzugsweise von Hohlkörpern, insbesondere von Bohrungen in Werkstücken, sowie Verfahren zur Messung solcher Dimensionen |
| DE10132142A1 (de) | 2001-05-17 | 2003-02-13 | Busch Dieter & Co Prueftech | Vorrichtung und Verfahren zum Ausrichten von Maschinenwellen |
| DE102007003024A1 (de) * | 2007-01-20 | 2008-07-31 | Sick Ag | Triangulationssensor mit Entfernungsbestimmung aus Lichtfleckposition und -form |
| US8035823B2 (en) * | 2008-09-05 | 2011-10-11 | 3Dm Devices Inc. | Hand-held surface profiler |
| EP2428765A1 (de) * | 2010-09-14 | 2012-03-14 | Siemens Aktiengesellschaft | Verfahren und Vorrichtung zur Behandlung von Turbinenschaufeln |
| US8900126B2 (en) | 2011-03-23 | 2014-12-02 | United Sciences, Llc | Optical scanning device |
| US8900125B2 (en) | 2012-03-12 | 2014-12-02 | United Sciences, Llc | Otoscanning with 3D modeling |
Family Cites Families (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US1531693A (en) * | 1921-11-12 | 1925-03-31 | Leon F Douglass | Method and apparatus for producing novel and double-image effects in photography |
| US3614921A (en) * | 1968-12-25 | 1971-10-26 | Canon Kk | Photoelectric device for detecting the focusing |
| DE2225557A1 (de) * | 1971-06-23 | 1973-03-15 | Hauser Raimund | Entfernungsmesser |
| US3749493A (en) * | 1972-01-05 | 1973-07-31 | Stanford Research Inst | Method and apparatus for producing a contour map of a surface area |
| FR2363779A1 (fr) * | 1976-09-02 | 1978-03-31 | Iria | Procede et appareil optiques pour la determination tridimensionnelle de la forme d'objets a l'aide d'un calculateur |
| US4198164A (en) * | 1976-10-07 | 1980-04-15 | Ensco, Inc. | Proximity sensor and method and apparatus for continuously measuring rail gauge |
| US4204772A (en) * | 1978-09-25 | 1980-05-27 | Recognition Systems, Inc. | Optical measuring system |
-
1983
- 1983-09-01 JP JP58161088A patent/JPS6052710A/ja active Pending
-
1984
- 1984-08-17 US US06/642,139 patent/US4637715A/en not_active Expired - Lifetime
- 1984-08-31 EP EP84110399A patent/EP0140029B1/en not_active Expired
- 1984-08-31 DE DE198484110399T patent/DE140029T1/de active Pending
- 1984-08-31 DE DE8484110399T patent/DE3482003D1/de not_active Expired - Lifetime
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6266111A (ja) * | 1985-09-19 | 1987-03-25 | Rikagaku Kenkyusho | 光学的距離検出装置 |
| WO2011055418A1 (ja) * | 2009-11-09 | 2011-05-12 | トヨタ自動車株式会社 | 距離測定装置、及び距離測定方法 |
| JP5051405B2 (ja) * | 2009-11-09 | 2012-10-17 | トヨタ自動車株式会社 | 距離測定装置、及び距離測定方法 |
| US8760632B2 (en) | 2009-11-09 | 2014-06-24 | Toyota Jidosha Kabushiki Kaisha | Distance measuring apparatus and distance measuring method |
| JP2018116038A (ja) * | 2017-01-20 | 2018-07-26 | 瑞柯科技股▲ふん▼有限公司 | 距離計および距離測定方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0140029A2 (en) | 1985-05-08 |
| DE3482003D1 (de) | 1990-05-23 |
| EP0140029A3 (en) | 1987-06-10 |
| DE140029T1 (de) | 1985-09-26 |
| EP0140029B1 (en) | 1990-04-18 |
| US4637715A (en) | 1987-01-20 |
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