JPS60505A - Diagnostic device of plant - Google Patents

Abstract

PURPOSE:To output highly dense information to a plant operator by calculating a time, in which a potentially active node becomes active, from the difference between an observed value to be used and a reference value by referring the table of estimated times and displaying an expected time. CONSTITUTION:An operation processor 9 fetches primary node information regarding a node which becomes potentially active from a storage device 4 storing a cause-result tree and difference between the information and the reference value regarding the primary node from another storage device 10. Then the processor 9 fetches the value of an estimated time to the difference from a table 11 of the estimated time to the difference. Thereafter, the device 9 inserts estimated times to differences between reference values inputted from the device 10 for every primary nodes, for which abnormality causes are brought into existence, by using the table 11. In this case, the shortest time is adopted among the estimated times to each primary node and the adopted time is outputted to a display device 8 together with a potentially active message.

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は、大規模プラントの異常事象をオンライン・
リアル・タイムで同定するプラント診断装置に関するも
のである。[Detailed Description of the Invention] This invention allows abnormal events in large-scale plants to be detected online.
This invention relates to a plant diagnostic device that performs real-time identification.

従来、この種の装置として第１図に示すものがあった。Conventionally, there has been a device of this type as shown in FIG.

図において、１は図示なしのプロセスからのデータＸＩ
（ｉ＝１．２・・・・・・Ｎ）を読み込むため、アナロ
グ・ディジタル変換器を含むデータ収集装置、２はプロ
セス・データを基準値と比較し、許容範囲内にあれば０
”、範囲外にあれば′″ｌ”に変換するための演算処理
装置、３は演算処理装置２が演算処理した結果を格納す
るための記憶装置、４は原因結果ツリー（以下ＯＣＴと
記す）を記憶しておく記憶装置、５は記憶装置３と、４
に格納しであるプロセス情報とＯＣＴを用いて、すべて
のノードの論理演算値の計算を実行するための演算処理
装置、６は演算処理装置５でめた各ノードの論理演算値
を格納する記憶装置、１は演算処理装置５から得られる
ＯＣＴのロジックに関して、記憶装置３からの観測デー
タと記憶装置６からの論理演算値との比較によりエント
リ・ノードの変化検出、原因同定及び予測を行うための
演算処理装置、８は診断結果を表示するためのブラウン
管表示装置である。In the figure, 1 is data XI from a process not shown.
In order to read (i=1.2...N), the data acquisition device including an analog-to-digital converter, 2, compares the process data with the reference value and if it is within the tolerance range, it is zero.
", if it is out of the range, it is converted to '"l''; 3 is a storage device for storing the result of the arithmetic processing by the arithmetic processing unit 2; 4 is a cause-and-effect tree (hereinafter referred to as OCT). A storage device 5 stores storage devices 3 and 4.
An arithmetic processing unit for calculating the logical operation values of all nodes using the process information and OCT stored in the arithmetic processing unit 5, and 6 a memory for storing the logical operation values of each node determined by the arithmetic processing unit 5. A device 1 is for detecting changes in entry nodes, identifying causes, and predicting them by comparing observation data from a storage device 3 and logical operation values from a storage device 6 with respect to OCT logic obtained from an arithmetic processing device 5. 8 is an arithmetic processing unit, and 8 is a cathode ray tube display device for displaying diagnostic results.

次に、動作について説明する。Next, the operation will be explained.

プロセスのデータＸｉがデータ収集装置１により量子化
されて演算処理装置２に入力されると、これは次の（１
）式に示す処理を施こし、その結果の観測ステータスＳ
ｓ（ｔ−１＃　２　＋・＝＠　Ｎ　）、及ヒ観測ステー
タスＳｉ＃”０”から１′１”へ変化した時刻ｔｃを記
憶装置３に格納する。When the process data Xi is quantized by the data collection device 1 and input to the arithmetic processing device 2, it becomes the following (1
), and the resulting observation status S
s(t-1#2+.=@N), and the time tc at which the observation status Si# changed from "0" to 1'1" is stored in the storage device 3.

時刻ｔの計測は、各観測ステータスＳｉ　ごとに行なわ
れ、１サンプル前の観測ステータス８ｉ−１が０でこれ
に続く次の観測ステータスＳｉが１となった時刻を示す
。このような観測ステータスＳｉはその時刻ｔｃに関連
づけられて記憶装置３に格納される。Measurement of time t is performed for each observation status Si, and indicates the time when the observation status 8i-1 of one sample before becomes 0 and the following observation status Si becomes 1. Such observation status Si is stored in the storage device 3 in association with the time tc.

記憶装置４に格納されているＣＣＴのゲート・ロジック
の部分例を第２図に示す。第２図中、Ｍ６、Ｍ７は入力
される診断メツセージ、τは時間遅れ１Ｇｌｌ・Ｇ１２
は論理積ゲート、Ｇ２□、Ｇ２２は論理和ゲートをそれ
ぞれ示す。ここでは、ＣＣＴにおいて、Ｓｉが定義され
る位置をノード、最上位のノードをルート・ノード、最
下位のノードをプライマリ−ノード、各ノードの直上の
ノードをそのノードのファーザ・ノード、直下のノード
をサン・ノードと呼ぶ。A partial example of the gate logic of the CCT stored in the memory device 4 is shown in FIG. In Fig. 2, M6 and M7 are input diagnostic messages, and τ is the time delay 1Gll/G12.
indicates an AND gate, and G2□ and G22 indicate an OR gate, respectively. Here, in CCT, the position where Si is defined is the node, the highest node is the root node, the lowest node is the primary node, the node directly above each node is its father node, and the node directly below it. is called the sun node.

第２図に示したＣＣＴのゲート・ロジックは記憶装置３
に格納されている。ｃｃ’ｉ）辿る実行処理は、記憶装
置３，４．６からの情報を基托して診断処理装置５と７
で行われる。The gate logic of the CCT shown in FIG.
is stored in. cc'i) The execution process to be followed is based on the information from the storage devices 3, 4.6, and the diagnostic processing devices 5 and 7.
It will be held in

演算処理装置５は、記憶装置３内のプライマリ・ノード
の観測ステータスＳｉ　を入力として、記憶装置４０Ｏ
ＣＴのゲート・ロジックに従い、他のすべての論理演算
を毎回サイクリックに実行し、記憶装置６に格納する。The arithmetic processing unit 5 inputs the observation status Si of the primary node in the storage device 3, and inputs it to the storage device 40O.
According to the gate logic of the CT, all other logical operations are executed cyclically each time and stored in the memory device 6.

この演算結果を予測ステータスＳｉ　と呼ぶ。この演算
は、プライマリ−ノードの観測ステータスＳｉＱ値や変
化にかかわらず、サンプリング周期毎に毎回ＣＣＴの上
方に向けて演算される。ここで処理するプログ２ムは対
象のＯＣＴが決まれば一意的に決まるものであるから、
ＯＣＴのモジュール毎にオブジェクト−モジュールを作
成する方法を採用する。The result of this calculation is called prediction status Si. This calculation is performed upwards of the CCT every sampling period, regardless of the observation status SiQ value or change of the primary node. The program to be processed here is uniquely determined once the target OCT is determined, so
A method of creating an object module for each OCT module is adopted.

演算処理装置７は記憶装置６に格納された論理演算部の
解析結果を基にＯＣＴの診断処理を行ない、診断内容は
エントリ・ノードの変化検出、原因同定及び予測に分け
られる。エントリ・ノードとは解析を始めるノードとし
てあらかじめ指定しであるノードであり、第２図の８６
のようにＯＣＴの途中に設けられる。The arithmetic processing unit 7 performs OCT diagnostic processing based on the analysis results of the logic operation unit stored in the storage device 6, and the diagnostic content is divided into entry node change detection, cause identification, and prediction. The entry node is a node that is specified in advance as the node from which analysis will begin, and is indicated by 86 in Figure 2.
It is installed in the middle of OCT, as in

エントリ・ノードの変化検出は、プラントが正常、異常
発生、異常事象継続又は異常回復となっているかを調べ
、診断処理の必要性を判断するためにサンプリング周期
毎にエントリ・ノードの観測ステータスＳｉを調べるこ
とによって実行される。即ち、記憶装置３から今回のサ
ンプリングでの観測ステータスＳｉ及び前回の観測ステ
ータスＳ　ｉ−１をチェックし、そのチェック結果より
ステータス・インジケータを割り当て、そのインジケー
タに応じて原因同定、予測等の診断又は次のエントリ・
ノードの検索をする。Entry node change detection checks whether the plant is normal, an abnormality has occurred, an abnormal event continues, or an abnormal recovery, and the observation status Si of the entry node is checked every sampling period to determine the necessity of diagnostic processing. It is carried out by examining. That is, the observation status Si for the current sampling and the previous observation status S i-1 are checked from the storage device 3, a status indicator is assigned based on the check results, and diagnosis such as cause identification, prediction, etc. is performed according to the indicator. Next entry/
Search for nodes.

この処理の流れを第３図に示す。The flow of this process is shown in FIG.

原因同定の処理の流れを第４図に示す。Figure 4 shows the process flow for cause identification.

原因同定はエントリ・ノードの観測ステータスＳｉ　が
事象発生を示したとき及び事象発生が継続していてかつ
原因が不明なとき行われる。Cause identification is performed when the observation status Si of the entry node indicates that an event has occurred, and when the event continues to occur and the cause is unknown.

以下、原因同定の処理を第４図のフロー−チャートに従
って述べる。まず、ホールの検出を行う。The cause identification process will be described below according to the flowchart of FIG. First, holes are detected.

ホールとは観測ステータス８４　とプライマリ・ノード
の観測ステータスＳｉから演算される予測ステータスＳ
ｉ′とが異なっていることを指し、プライマリ・ノード
を除き、全観測点のものがこの比較により検出される。A hole is a predicted status S calculated from the observation status 84 and the observation status Si of the primary node.
This means that i' is different, and those of all observation points except the primary node are detected by this comparison.

プライマリ・ノードが信号誤りであった場合、演算結果
を示す予測ステータスＳｉ′は１０」となるので、エン
トリ・ノードはホールとなり、原因同定は失敗としてセ
カンド・ベスト・メツセージを出す。これは、エントリ
ｅノードがホールか否かを調べるだけでプライマリ・ノ
ードに信号誤りがあることを指摘できる。また、ホール
の数が一定数を越えた場合も原因同定失敗とする。さら
に、親子関係にある２つの可観測ノード（途中に非観測
ノードが含まれていてもよい）がともにホールである場
合、たとえ全ホールの数がＮ個以下であっても原因同定
は失敗とする。If the primary node has a signal error, the prediction status Si' indicating the calculation result becomes 10'', so the entry node becomes a hole, and a second best message is issued indicating that the cause identification has failed. This means that it is possible to point out that there is a signal error in the primary node simply by checking whether the entry e-node is a hole. Furthermore, if the number of holes exceeds a certain number, it is also determined that the cause identification has failed. Furthermore, if two observable nodes in a parent-child relationship (an unobservable node may be included in between) are both holes, cause identification will fail even if the total number of holes is N or less. do.

Ｎｊは、あらかじめ指定された値である。連続した２つ
のノードがともにホールである場合は、とのノードに連
なるプライマリ・ノードの観測器が故障又は計器遅れで
あると考えられる。この場合、プライマリ・ノードの観
測器が不具合であるから、通常は、それより上位に位置
したすべてのノードはホールになる。プライマリ・ノー
ドの不都合は原因同定不能であるからこれを原因同定失
敗とする。Nj is a value specified in advance. If two consecutive nodes are both holes, it is considered that the observation device of the primary node connected to the node is out of order or has an instrument delay. In this case, since the primary node's observer is defective, all nodes located higher than it usually become holes. Since the cause of the primary node's inconvenience cannot be identified, this is considered to be a cause identification failure.

このように、ホールが連続する場合は一様に原因同定失
敗としてもよいが、そのホールはエントリ・ノードの予
測ステータスＳｉ′力げ１”となったことを原因としな
い場合もあるので、エントリ・ノードとの関連性を調べ
る。In this way, if there are consecutive holes, it may be assumed that the cause identification has failed, but the hole may not be caused by the entry node's predicted status Si′ being 1”. - Examine the relationship with the node.

以上の処理によって原因同定が成功する場合は次の場合
である。The cases in which the cause can be successfully identified through the above processing are as follows.

エントリ・ノードは観測ステータスＳｉ及び予測ステー
タスＳｉ′ともに１″である。ホールの数はＮ−１個以
下（通常１〜２以下）であり、かつ連続してホールにな
っているものはエントリ・ノードとの関連性はない。こ
のことより、ＯＣＴの階層が浅い（２〜３段）とき及び
ノード数が極端に少ないときは次のことが言える。The entry node has an observed status Si and a predicted status Si' of 1". If the number of holes is N-1 or less (usually 1 to 2 or less) and there are consecutive holes, the entry node is There is no relationship with the node.From this, the following can be said when the OCT hierarchy is shallow (2 to 3 levels) and when the number of nodes is extremely small.

（ａｌプライマリ・ノードの観測ステータス８ｉは信用
でき、従って予測ステータスＳｉ′は正しい。(The observed status 8i of the al primary node is reliable, so the predicted status Si' is correct.

（ｂ）ホールになっているものは、観測器が故障してい
るか計器遅れになっている。(b) If there is a hole, the observation instrument is out of order or the instrument is delayed.

従って、予測ステータス８ｉを信用し、予測ステータス
Ｓｉ′が′１″になっているノードにつＸ、Ｓているメ
ツセージのうちエントリ・ノードに関係するものをすべ
て出力する。Therefore, the prediction status 8i is trusted, and all messages related to the entry node among the messages in X and S for the node whose prediction status Si' is '1'' are output.

次に、予測処理を第５図のフロｍ−チャートに従って説
明する。予測処理は論理演算結果が正しいとして進めて
行くのでノードの予測ステータスＳｉ′と観測ステータ
スＳｉが異なっていれば、その原因は次のいずれかであ
ると言える。Next, the prediction process will be explained according to the flowchart of FIG. The prediction process proceeds on the assumption that the logical operation result is correct, so if the prediction status Si' and observation status Si of a node are different, the cause can be said to be one of the following.

（ａｌ計器故障のため、観測ステータスＳｉが誤ってい
る。(Observation status Si is incorrect due to al instrument failure.

（ｂ）事象は、すでにおこっているが計器遅れのため、
まだ観測ステータスＳｉ　に表われていない。(b) The event has already occurred, but because the instrument is delayed,
It has not yet appeared in the observation status Si.

（Ｃ）事象は、まだ生起していない。(C) The event has not yet occurred.

このうち（ａ）と（Ｃ）は計器出口において同一の結果
をもたらしているので、同一の扱いができる。従って、
以下、（ａ）を故障、（ｂ）　、　（ｄを遅れと呼ぶこ
とにする。予測処理は、エントリ・ノードより上位側の
各ノードに対して行われるが、そのノードの種類により
処理が異なるため、各項目別に記述する。Of these, (a) and (C) give the same result at the instrument outlet, so they can be treated as the same. Therefore,
Hereinafter, (a) will be referred to as failure, and (b) and (d will be referred to as delay. Prediction processing is performed for each node above the entry node, but the processing differs depending on the type of node. Therefore, each item will be described separately.

（１）上位ノードが非観測の場合。(1) When the upper node is unobserved.

この場合、予測ステータス８ｉ’Ｌかな（、かつこれは
正しいのであるから′ｌ”ならばアクティブ（活性）と
し、′０″ならば終了し、次のエントリ・ノードへ行く
。In this case, the prediction status is 8i'L (and this is correct, so if it is 'l', it is set as active, and if it is '0', it ends and goes to the next entry node.

（１）上位ノードの予測ステータスｓｉ′と観測ステー
タスＳｉが等しい場合。(1) When the predicted status si' and observed status Si of the upper node are equal.

この場合、論理演算の結果も観測結果も等しいので、こ
の結果は正しいと言える。従って、これが０”であれば
終了し、１”であればアクティブなノードとする。In this case, the result of the logical operation and the observation result are the same, so this result can be said to be correct. Therefore, if this is 0'', the node is terminated, and if it is 1'', it is an active node.

１１ｉ１上位のノードの予測ステータスＳｉ′と観測ス
テータスＳｉが等しくない場合。11i1 When the predicted status Si' and observed status Si of the upper node are not equal.

この時、予測ステータス　、／が”０”で観測ステータ
スＳｉが１”の場合とその逆が考えられる。原因同定成
功したことにより１．予測ステータスＳｉ′は、正しい
のであるから、前者の場合、計器故障である。後者の場
合、観測器が故障か遅れである。このいずれであるかは
、このノードだけでは判断できないので、更に上位の可
観測点を調べる。At this time, it is possible that the predicted status / is "0" and the observed status Si is 1", and vice versa. Due to successful cause identification, 1. The predicted status Si' is correct, so in the former case, This is an instrument failure. In the latter case, the observation instrument is either out of order or delayed. Since this node alone cannot determine whether this is the case, higher observable points are checked.

（ＩＶＩ上位ノードの上位ノードの観測ステータスＳｉ
が′″１”の場合。(Observation status Si of the upper node of the IVI upper node
If is ``1''.

この場合は上位ノードの予測ステータスＳｉ′は′１″
、観測ステータスＳｉは０”、次の上位ノードの予測ス
テータスＳｉ′は６１″で、観測ステータスＳｉは”１
”である。In this case, the predicted status Si' of the upper node is '1''
, the observation status Si is 0", the predicted status Si' of the next higher node is 61", and the observation status Si is "1".
” is.

上位の上位ノードは′１”なので、少なくとも上位の上
位ノードが遅れているとは考えられない。Since the higher-ranking node is '1'', it cannot be considered that at least the higher-ranking node is behind.

また、２つの観測器が連続して故障していることは考え
ないとすると、これは、上位ノードが故障のため′０”
となり、上位の上位ノードは正常で１″を示したと考え
、上位ノードは６１”と見なしてアクティブとして上位
へ進む。Also, assuming that we do not consider that two observation devices are out of order in succession, this is because the upper node is out of order.
Therefore, the upper node is considered to be normal and indicates 1'', and the upper node is assumed to be 61'' and proceeds to the upper level as active.

（Ｖ１次の上位ノードの観測ステータスが０”の場合。(If the observation status of the V1-order upper node is 0.

このとき、上位ノードの予測ステータスｓｉ′は１１″
、観測ステータスＳｉは１０″、次の上位ノードの予測
ステータスＳｉ′力げ１”で観測ステータスＳｉが′０
”である。At this time, the predicted status si′ of the upper node is 11″
, the observation status Si is 10'', the prediction status Si' of the next higher node is 1'', and the observation status Si is '0''.
” is.

この場合も２つの観測器が連続して故障していることは
考えないとすると、これは、上位のノードは遅れのため
０”になっていると考えられる。In this case as well, if we do not consider that two observers are out of order in a row, it is considered that the higher node is 0'' due to a delay.

そこでとのノードをボテンシャリ・アクティブとして終
了する。Then, end the node as potentially active.

もし、上位ノードは、故障のため”０”となり、次の上
位ノードは遅れのため′″０″であったとしても、本来
故障しているのであるからアクティブとしなければなら
ないものをボテンシャリ・アクティブとしただけであり
、これも上位ノードが時間が来て１１′となれば（１ｖ
）のロジックより故障が発見でき、予測処理を実行でき
る。Even if an upper node becomes ``0'' due to a failure and the next upper node is ``0'' due to a delay, the node that should be made active because it is originally failed will be made potentially active. This is also true if the upper node reaches 11' (1v
) can detect failures and perform predictive processing.

以上、原因同定及び予測処理により、外乱の発生から将
来の伝搬までをシーケン／キルに表わすツリーが決定で
きる。As described above, through the cause identification and prediction processing, it is possible to determine a tree that represents the sequence/kill from the occurrence of a disturbance to its future propagation.

この該当ノードに接続されているメツセージの内容をリ
スト・アップして表示装置８に出力する。The contents of the messages connected to this corresponding node are listed up and output to the display device 8.

この時表示するものは以下のものが基本となる。The following items are basically displayed at this time.

（ａｌ原因同定で発見されたメツセージ。(A message discovered by identifying the cause of al.

（ｂｌ予測処理でアクティブとなったノードに付加され
ていたメツセージとポテンシャリ・アクティブとなった
ノードに付いたメツセージ。(The message that was attached to the node that became active in the bl prediction process and the message that was attached to the node that became potentially active.

（Ｃ１事象発生時刻ｔｃ 事象発生時刻ｔ。は各メツセージと関連づけて表示され
ることが多（、メツセージの出力されていない観測ステ
ータスＳｉ事象発生時刻ｔｃは表示されない。(C1 Event occurrence time tc Event occurrence time t. is often displayed in association with each message (, observation status Si where no message is output. Event occurrence time tc is not displayed.

従来のプラント診断装置は、以上のように構成されてい
るので、異常事象の発生した時刻を表示装置に表示する
ことはできるが、ボテンシャリ・アクティブとなったノ
ードに付いたメツセージがアクティブになる時間を予想
して表示することはできなかった。Conventional plant diagnostic equipment is configured as described above, so it is possible to display the time when an abnormal event occurs on the display device, but the time at which a message attached to a node that becomes potentially active becomes active is not displayed. could not be predicted and displayed.

このため、次に生じる事象は予想できても、その緊急性
を判断できないなどの欠点があった。For this reason, even if the next event can be predicted, its urgency cannot be determined.

この発明は、上記のような従来のものの欠点を除去する
ためになされたもので、プライマリ・ノードのステータ
スを判定する際に、使用する観測値の基準値との偏差に
より、予めテーブルとしてもっておいた予測時間のテー
ブルを参照し、ポテンシャリ・アクティブとなったノー
ドがアクティブになる時間を計算する演算処理装置を設
けることで、予想時間を表示できるプラント診断装置を
提供しようとするものである。This invention was made in order to eliminate the drawbacks of the conventional methods as described above. The present invention aims to provide a plant diagnostic device that can display predicted times by providing an arithmetic processing unit that calculates the time when a node that has become potentially active will become active by referring to a table of predicted times.

以下、この発明の一実施例を図について説明する。An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings.

第６図において１〜８は従来のものと同一のものである
。９はボテンシャリ・アクティブとなりたノードがアク
ティブになるまでの時間を計算する演算処理装置である
。１０はプライマリ・ノードの観測値と基準値の偏差を
記憶する記憶装置４．１１は各プライマリ・ノードに関
して、各異常の大きさに対する予測時間のテーブル（メ
モリ）である。In FIG. 6, numerals 1 to 8 are the same as the conventional one. 9 is an arithmetic processing unit that calculates the time until a node that becomes potentially active becomes active. 10 is a storage device 4 for storing the deviation between the observed value of the primary node and the reference value. 11 is a table (memory) of predicted times for the magnitude of each abnormality for each primary node.

本発明のＯＣＴ実行処理方式を説明する。The OCT execution processing method of the present invention will be explained.

診断を行なう演算処理装置７で琳因同定及び予測を行な
うところまでは、従来のものと同一である。The steps up to the point where cause identification and prediction are performed by the arithmetic processing unit 7 that performs the diagnosis are the same as those of the conventional system.

ここでは、演算処理装置９の働きについて述べることに
する。Here, the function of the arithmetic processing unit 9 will be described.

演算処理装置９は各種メツセージとポテンシャル−アク
ティブなノードに付いたメツセージ以外のメツセージの
発生時刻を演算処理装置７から受け取る。The arithmetic processing unit 9 receives various messages and the generation times of messages other than messages attached to potential-active nodes from the arithmetic processing unit 7.

次に、演算処理装置９はＣＣＴを記憶している記憶装置
４より、ボテンシャリ・アクティブとなったノードに関
するプライマリ・ノードの情報を取り出し、記憶装置１
０よりそのプライマリ・ノ−ドに関する基準値との偏差
を取り出す。Next, the arithmetic processing unit 9 retrieves primary node information regarding the node that has become potentially active from the storage device 4 that stores the CCT, and stores it in the storage device 1.
The deviation from the reference value for that primary node is extracted from 0.

次に、プライマリ・ノードの基準値との偏差に対する予
測時間のテーブル１１より偏差に対する予測時間の値を
取り出す。演算処理装置９は、異常原因が成立した各プ
ライマリ・ノード毎に、基準値との偏差に対する予測時
間のテーブルを用い、記憶装置１０より入力した基準値
との偏差に対する予測時間を内挿する。各プライマリ・
ノードに関する予測時間の中で最短の時間を採用する。Next, the value of the predicted time for the deviation is extracted from the table 11 of the predicted time for the deviation from the reference value of the primary node. The arithmetic processing unit 9 interpolates the predicted time for the deviation from the reference value inputted from the storage device 10 using the table of predicted times for the deviation from the reference value for each primary node where the cause of the abnormality has been established. Each primary
The shortest time among the predicted times for the node is adopted.

この予測時間をポテンシャリ・アクティブなメツセージ
と対にして表示装置８に出力する。This predicted time is paired with a potentially active message and output to the display device 8.

以上のように、この発明によればプラント診断装置に次
に生じる事象が発生するまでの時間を予想する機能を加
味する構成としたので、マンマシン・システムとして運
転員に密度の濃い情報を出力できるという効果がある。As described above, according to the present invention, the plant diagnosis device is configured to include a function to predict the time until the next event occurs, so it outputs dense information to the operator as a man-machine system. There is an effect that it can be done.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第１図は従来のプラント診断装置を示すブロック図、第
２図はＯＣＴを示す図、第３図は従来の診断解析部の処
理フローを示す図、第４図は原因同定の処理フローを示
す図、第５図は予測の処理フローを示す図、第６図は本
発明によるプラント診断装置のブロック図。 １・・・データ収集装置、２，５，７．９−・・演算処
理装置、３，４，６．１０・・・記憶装置、８・・・表
示装置、１１・・・テーブル。 なお、図中、同一符号は同−又は相当部分を示す０ 代理人　大岩増雄 第２図 第　３　図 上位しへルヘ 手続補正書（自発） １．事件の表示　特願昭５８−１０８６１６号２、発明
の名称 プラント診断装置 ３、補正をする者 代表者片山仁へ部 ４、代理人 ５、補正の対象 明細書の発明の詳細な説明の欄 ６、補正の内容 明細畏第１４頁第３行目「記憶装置４．」とあるのを「
記憶装置、」と補正する。 以上 ２１−Figure 1 is a block diagram showing a conventional plant diagnostic device, Figure 2 is a diagram showing OCT, Figure 3 is a diagram showing the processing flow of a conventional diagnosis analysis unit, and Figure 4 is a diagram showing the processing flow for cause identification. 5 is a diagram showing a prediction processing flow, and FIG. 6 is a block diagram of a plant diagnosis device according to the present invention. DESCRIPTION OF SYMBOLS 1... Data collection device, 2, 5, 7.9-... Arithmetic processing unit, 3, 4, 6.10... Storage device, 8... Display device, 11... Table. In addition, in the figures, the same reference numerals indicate the same or equivalent parts 0 Agent Masuo Oiwa Figure 2 Figure 3 Procedural amendment to the higher authority (voluntary) 1. Display of the case: Japanese Patent Application No. 58-108616 2, Name of the invention: Plant diagnosis device 3, Representative of the person making the amendment: Hitoshi Katayama Department 4, Agent 5, Column 6 for detailed explanation of the invention in the specification to be amended. , in the 3rd line of page 14 of the details of the amendment, "Storage device 4." was replaced with "
"Storage device," he corrected. Above 21-

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] プラントで生じる各種異常事象の伝搬シーケンスを論理
式で記述した原因結果ツリーを演算処理することにより
、異常の第１原因をオンライン・リアル・タイムで同定
し、かつ将来の予測をするプラント診断装置において、
予測時に予め故障の大きさにより予測事象が発生するま
でのテーブルを備え、このテーブルを参照して異常原因
の大きさを同定して次の事象が発生するまでの時間を予
測するようにしたことを特徴とするプラント診断装置。A plant diagnostic device that identifies the first cause of an abnormality online in real time and predicts the future by processing a cause-and-effect tree that describes the propagation sequence of various abnormal events that occur in the plant using logical formulas. ,
At the time of prediction, a table is provided in advance that shows the time until the predicted event occurs depending on the size of the failure, and this table is referenced to identify the size of the cause of the abnormality and predict the time until the next event occurs. A plant diagnostic device featuring: