JPS60195619A - Diagnostic device of plant - Google Patents

Abstract

PURPOSE:To output a highly reliable message when a logical operation value is calculated, by finding the estimated phenomena occurring times of each node other than the primary node of a cause-result tree and including the estimated times also in diagnoses. CONSTITUTION:The phenomenon occurring time of a primary node is stored in a storage device 3 together with the processed result of an operation processor 2. Another operation processor 5 inputs the status of the primary node and cyclicly executes all other logical operations at every time and, at the same time, finds the estimated phenomena occurring times of each node other than the primary node of a cause-result tree (CCT) from the phenomenon occurring time from the device 3 and time delays written on the CCT and stores the found estimated times in a storage device 6. At an operation processor 7 the estimated times are compared with actually occurring times. Therefore, messages can be outputted in accordance with the phenomenon occurring times in more detail.

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 この発明は、大規模プラントの運転信頼性、稼動率の向
上に寄与するために、プラントの異常事象をオンライン
・リアルタイムで同定するプラント診断装置に関するも
のである。[Detailed Description of the Invention] [Technical Field of the Invention] The present invention relates to a plant diagnostic device that identifies abnormal events in a plant online and in real time, in order to contribute to improving the operational reliability and availability of large-scale plants. It is something.

〔従来技術〕[Prior art]

従来、この種の装置として第１図に示すものがあった。 Conventionally, there has been a device of this type as shown in FIG.

図において、１はプロセスデータを読み込むためのデー
タ収集装置（アナログ・ディジタル変換器を含む。）、
２はプロセスデータを基準値と比較し、許容範囲内圧あ
れば０”（又は”偽”）、範囲外にあればｌ”（又は”
真″）に変換するだめの演算処理装置、３は演算処理装
置２が演算処理した結果を格納しておく記憶装置、４は
原因結果ツリー（以下、ＣＣＴと記す）を記憶しておく
記憶装置、５は記憶装置３及び４に格納しであるプロセ
ス情報とＯＣＴを用いて、すべてのノードの論理演算値
の計算を笑行する論理演算部のための演算処理装置、６
は演算処理装置５でめた各ノードの論理演算値（ノード
のステータスと推定事象発生時刻）を格納する記憶装置
、Ｔは記憶装置４から得られるＣＣＴロジックに関して
、記憶装置３がらの観測データと記憶装置６からの論理
演算値との間の一致を比較するととＫよ、す、エントリ
ーΦノードの変化を検出し、原因同定及び予測を行う診
断解析部のための演算処理装置、８は診断結果をブラウ
ン管上忙表示するための表示装置である。In the figure, 1 is a data acquisition device (including an analog-to-digital converter) for reading process data;
2 compares the process data with the standard value, and if the pressure is within the allowable range, it will be 0" (or "false"), and if it is outside the range, it will be 0" (or "false").
3 is a storage device that stores the results of the calculation processing performed by the calculation processing device 2, and 4 is a storage device that stores the cause-and-effect tree (hereinafter referred to as CCT). , 5 is an arithmetic processing unit for a logic operation unit that calculates logic operation values of all nodes using process information stored in the storage devices 3 and 4 and OCT; 6
is a storage device that stores logical operation values (node status and estimated event occurrence time) of each node determined by the arithmetic processing unit 5, and T is a storage device that stores observation data from the storage device 3 regarding the CCT logic obtained from the storage device 4. Comparing the correspondence between the logical operation values from the storage device 6, K is the arithmetic processing unit for the diagnostic analysis unit that detects changes in the entry Φ node, identifies causes, and makes predictions; This is a display device for displaying the results on a cathode ray tube.

次に動作釦ついて説明する。Next, the operation buttons will be explained.

プロセス・データをＸ＋　（＋−１＋　２　＋・・・Ｎ
）とする。Ｘｉ　はデータ収集装置ＩＫより量子化され
る。演算処理装置２は量子化されたデータＸｉを入力と
して０式に示す処理をし、その結果８４（４＝１．２．
・・・、Ｎ）及び事象発生時刻を記憶装置ＦＫ格納する
。Process data is X+ (+-1+ 2 +...N
). Xi is quantized by the data acquisition device IK. The arithmetic processing unit 2 inputs the quantized data Xi and performs the processing shown in equation 0, resulting in 84 (4=1.2.
..., N) and the event occurrence time are stored in the storage device FK.

ここで、Ｓｉ　をデータＸｉ　の観測されたステータス
と呼ぶ。また、ステータスＳｊが０”から１”となった
時刻を事象発生時刻と呼ぶ。Here, Si is called the observed status of data Xi. Further, the time when the status Sj changes from 0'' to 1'' is called the event occurrence time.

記憶装置４に格納されているＣＣＴの一部分の例を第２
図に示す。A second example of a portion of the CCT stored in the storage device 4
As shown in the figure.

第２図において、Ｍ１〜Ｍ８は出力されるべき診断メツ
セージ、τ１〜τ、は事象間のタイム書ディレィ、Ｇｌ
ｌ　〜Ｇ１１ｔはアンドｅゲート、Ｇ１５〜Ｇ１ｇはオ
ア・ゲートを示す。ＯＣＴにおいて、ステータスＳｉが
定義される位置をノード（観測ノード）、メツセージＭ
ｉがついているだけでデータＸｉのステータスＳｉが決
定されないノードを非観測ノード（例えば８１１１　Ｓ
１！ｌ　）と呼ぶ。ステータス８゜〜Ｓ２０　（ただし
、ステータス８１１　、Ｓ１５を除く）は、記憶装置３
に格納されている。ＯＣＴの処理は記憶装置３，４．６
からの情報を基に演算処理装置５及び７で行なわれる。In FIG. 2, M1 to M8 are diagnostic messages to be output, τ1 to τ are time book delays between events, and Gl
1 to G11t represent AND e gates, and G15 to G1g represent OR gates. In OCT, the position where status Si is defined is defined as a node (observation node) and message M
A node with an i attached but whose status Si of data Xi is not determined is an unobserved node (for example, 8111 S
1! l ). Statuses 8° to S20 (excluding statuses 811 and S15) are stored in the storage device 3.
is stored in. OCT processing is performed on storage devices 3, 4.6
The processing is performed by the arithmetic processing units 5 and 7 based on the information from.

演算処理装置５では記憶装置３内のプライマリ−ｅノー
ド（ＣＣＴ上の最下位のノード）のステータスＳｉ　を
入力とじて、記憶装置４のＣＣＴゲート・ロジックに従
い、他のすべての論理演算を毎回サイクリックに実行し
、他のすべてのノードＳＩＬ〜Ｓ２ｏの論理演算値を記
憶装置６に格納する。この演算はプライマリ−・ノード
のステータスＳｉの値の変化Ｋかかわらずサンプリング
周期毎に毎回ＣＣＴの上位に向けて実行される。ここで
処理するプログラムは対象ＣＣＴが決まれば一意的に決
まるものであるから、ＯＣＴツリー図毎にオブジェクト
・モジュールを作成する方式を採用する。The arithmetic processing unit 5 inputs the status Si of the primary e-node (the lowest node on the CCT) in the storage device 3, and executes all other logical operations every time according to the CCT gate logic of the storage device 4. The logical operation values of all other nodes SIL to S2o are stored in the storage device 6. This calculation is executed toward the higher end of the CCT every sampling period, regardless of the change K in the value of the status Si of the primary node. Since the program to be processed here is uniquely determined once the target CCT is determined, a method is adopted in which an object module is created for each OCT tree diagram.

演算処理装置Ｉは、記憶装置６に格納された論理演算部
の解析結果を基にＯＣＴの診断処理を行うが、診断内容
はエントリー・ノードの変化検出、原因同定及び予測に
分けられる。エントリー・ノードは、解析を始めるノー
ドとしてあらかじめ指定され、第２図の８１６．Ｓ□７
のようにツリーの途中に設けられる。The arithmetic processing unit I performs OCT diagnostic processing based on the analysis results of the logic operation section stored in the storage device 6, and the diagnostic content is divided into entry node change detection, cause identification, and prediction. The entry node is specified in advance as the node from which the analysis starts, and is 816. in FIG. S□7
It is placed in the middle of the tree like this.

エントリー・ノードの変化は、プラントが正常。If the entry node changes, the plant is normal.

異常発生、異常事象継続又は異常回復であるかを調べて
診断処理の必要性を判断するために必要とされるもので
、サンプリング周期毎にエントリー・ノードのステータ
スを調べることＫよって検出される。即ち、記憶装置３
から今回のサンプリングでの観測ステータス及び前回の
観測ステータスをチェックし、そのチェック結果よりス
テータス−インジケータを割り当て、そのインジケータ
に応じて原因同定、予測等の診断又は次のエン）　ＩＪ
−・ノードの検索をする。This is necessary to determine the necessity of diagnostic processing by checking whether an abnormality has occurred, a continuation of an abnormal event, or an abnormal recovery.It is detected by checking the status of the entry node at every sampling period. That is, storage device 3
Check the observation status of the current sampling and the previous observation status, assign a status indicator based on the check results, and perform diagnosis such as cause identification, prediction, etc. or the next en) IJ according to the indicator.
−・Search for nodes.

この原因同定又は予測等の診断の処理の流れ図を第３図
に示す。すなわち、原因同定は、エントリー・ノードの
観測ステータスが事象発生を示したとき、及び事象発生
が継続していてかつ原因が不明なときに行われ、論理演
算値が“１”又は”真”になっているノードについてい
るメツセージのうちエントリー・ノードに関係するもの
をすべて出力する。A flowchart of the diagnostic processing such as cause identification or prediction is shown in FIG. In other words, cause identification is performed when the observed status of the entry node indicates that an event has occurred, and when the event continues to occur and the cause is unknown, and when the logical operation value is “1” or “true”. Outputs all messages related to the entry node among the messages attached to the node.

次に予測機能について説明する。Next, the prediction function will be explained.

予測は、エントリー−ノードより上位側の各ノードに対
して行われるが（第２図参照）、そのノードの種類によ
り処理が異なるため、各項目別に記述する。Prediction is performed for each node above the entry node (see FIG. 2), but since the processing differs depending on the type of node, it will be described for each item.

（１）上位ノードの論理演算結果とステータスとが等し
い場合； この場合、論理演算の結果も観測結果も等しいので、こ
の結果は正しいと言える。従って６偽”であれば終了し
、６真”であればアクティブなノードとする。(1) When the logical operation result and status of the upper node are equal; In this case, since the logical operation result and the observation result are equal, this result can be said to be correct. Therefore, if it is 6 false, it is terminated, and if it is 6 true, it is considered an active node.

（Ｉｆ）上位のノードの論理演算値とステータスとが等
しくない場合； 上位のノードはまだ事象が生じていないと考えられるの
で、ポテンシャリー・アクティブなノードとして終了す
る。(If) If the logical operation value and status of the upper node are not equal; Since it is considered that no event has occurred in the upper node yet, it ends as a potentially active node.

以上、原因同定及び予測等の診断処理により、外乱の発
生から将来の伝搬までをシーケンシャルに表わすツリー
が決定できる。As described above, through diagnostic processing such as cause identification and prediction, a tree that sequentially represents the disturbance from its occurrence to its future propagation can be determined.

この該当ノードに接続されているメツセージの内容をリ
ストアンプして、各々状態メツセージ（アクティブ）、
予測メツセージ（ボテンシャリーアクティブ）として表
示装置８に出力する。The contents of the messages connected to this corresponding node are listed and the status messages (active),
It is output to the display device 8 as a predicted message (potentially active).

従来のＣＣＴＫよる診断装置では、以上の様に構成され
、実行処理されていたので、例えば検出器の故障等によ
りＣＣＴ上の上位側のノードの事象が生じたと検出され
ると、実際に事象が発生すると考えられる時刻よりも前
であっても論理演算でめたステータスと観測されたステ
ータスとを比較し、その“一致”、′不一致”を調らべ
、それらに応じて状態メツセージ又は予測メツセージを
出力しており、その各ノードの事象発生時刻を考慮しな
かったため、表示装置上に診断結果として・、不必要な
メツセージあるいは、現在の状態にそぐわないメツセー
ジを表示すると言う欠点があった。Conventional CCTK-based diagnostic equipment is configured and executed as described above, so when it is detected that an event has occurred in a higher node on the CCT due to a detector failure, for example, the event is not actually detected. Compare the status determined by logical operation and the observed status even before the time when it is expected to occur, check whether they match or do not match, and send a status message or predicted message accordingly. However, since the time of occurrence of the event at each node was not taken into consideration, there was a drawback that unnecessary messages or messages that did not match the current status were displayed as diagnosis results on the display device.

〔発明の概要〕[Summary of the invention]

この発明は、上記のような従来のものの欠点を除去する
ためになされたもので、論理演算値を計算する時Ｋ、プ
ライマリ−・ノードの事象発生時刻とＣＣＴ上に記入さ
れているタイムディレィから、ＣＣＴのプライマリ−・
ノード以外の各ノードの事象発生推定時刻をめ、この推
定時刻も診断に含めることＫより、信頼性の高いメツセ
ージを出力することができるプラント診断装置を提供す
ることを目的としている。This invention was made in order to eliminate the drawbacks of the conventional ones as described above. , CCT primary -
It is an object of the present invention to provide a plant diagnosis device capable of outputting highly reliable messages by determining the estimated time of occurrence of an event at each node other than the node and including this estimated time in the diagnosis.

〔発明の実施例〕[Embodiments of the invention]

以下、この発明の一実施例を説明する。 An embodiment of this invention will be described below.

この発明によるプラント診断装置のブロック構成は、第
１図に示した従来のものと同一である。The block configuration of the plant diagnosis system according to the present invention is the same as the conventional system shown in FIG.

ただし、この発明では記憶装置３に事象発生時刻、また
記憶装置６に計算でめた事象発生推定時刻をそれぞれ格
納するエリアを設けている。However, in the present invention, the storage device 3 is provided with an area for storing the event occurrence time, and the storage device 6 is provided with an area for storing the calculated estimated event occurrence time.

この発明によるＯＣＴ実行処理の流れ図を第５図に示す
。従来のＣＣＴロジックの構成は既知であるから、各サ
ンプリング周期の最初に全プライマリ−・ノードのステ
ータスを監視し、その観測結果を用いて、全ＯＣＴの各
ノードのステータスを演算してめていた。A flowchart of the OCT execution process according to the present invention is shown in FIG. Since the configuration of conventional CCT logic is known, the status of all primary nodes is monitored at the beginning of each sampling period, and the observed results are used to calculate the status of each node of all OCTs. .

この発明では、その演算と同時にプライマリ−・ノード
から順に上位のノード側に全ノードの事象発生推定時刻
を計算し、第１図の記憶装置６に格納する。計算方式は
、サン・ノードとの間のゲート・ロジックにより異なり
、以下４つの規則に従う。In the present invention, at the same time as the calculation, the estimated event occurrence times of all nodes in order from the primary node to the upper nodes are calculated and stored in the storage device 6 of FIG. The calculation method differs depending on the gate logic between the sun node and follows the following four rules.

（ａ）　Ａ　Ｎ　Ｄゲート（第４図ａに示す）の場合各
サン・ノード（Ｎ２．Ｎ、、Ｎ、）について、そのサン
・ノードの事象発生時刻（Ｔ１．Ｔ２．ただしＴ１＜Ｔ
２）とＣＣＴに記述されているタイム・ディレィとの和
を計算し、その中で最大のものをそのノード（ゲートの
出力ノード）の事象発生推定時刻とする。(a) In the case of the A N D gate (shown in Figure 4a), for each sun node (N2.N,,N,), the event occurrence time of that sun node (T1.T2, where T1<T
2) and the time delay described in the CCT is calculated, and the maximum among them is taken as the estimated time of occurrence of the event at that node (output node of the gate).

ただし、観測値が偽であるノードの事象発生時刻には無
限大が入る。例として、ノードＮ１の事象発生推定時刻
をめた結果を第４図（ａ）　（ｂ）にそれぞれ事象Ｎ３
が発生していないとき、これが発生したときに分けて示
す。However, infinity is entered in the event occurrence time of a node whose observed value is false. As an example, the results of calculating the estimated time of event occurrence for node N1 are shown in Figure 4 (a) and (b), respectively, for event N3.
We will separately show when this has not occurred and when this has occurred.

（ｂ）ＯＲゲートの場合 各サン豊ノードについて、そのサン豐メートの事象発生
時刻とＣＣＴに記述されているタイム・ディレィとの和
を計算し、その中で最小のものをそのノード（ゲートの
出力ノード）の事象発生推定時刻とする。(b) In the case of an OR gate, for each Sanfuku node, calculate the sum of the event occurrence time of that Sanfuku mate and the time delay described in the CCT, and calculate the minimum among them as the sum of the time delay of that node (gate). This is the estimated time of occurrence of the event (output node).

（ｃ）論理ゲートがなく、ノードとノードが結ばれてい
る場合 サン・ノードの事象発生時刻とＣＣＴＫ記述されている
タイムディレィとの和を計算し、その値を上位側のノー
ドの事象発生推定時刻とする。(c) When there is no logic gate and the nodes are connected, calculate the sum of the event occurrence time of the sun node and the time delay written in the CCTK, and use that value to estimate the event occurrence of the upper node. Time.

（ｄ）Ｎ　ｏｕｔ　ｏｆ　Ｍゲートの場合各サン・ノー
ドについて、そのサン壷ノードの事象発生時刻とＣＣＴ
Ｋ記述されているタイム・ディレィとの和を計算し、そ
の中でＮ番目に小さい値を、そのノードの事象発生時刻
とする。(d) In the case of N out of M gates, for each sun node, the event occurrence time and CCT of that sun urn node
The sum of the K described time delays is calculated, and the Nth smallest value among them is set as the event occurrence time of that node.

ただし、プライマリ−・ノードの事象発生時刻は、記憶
装置３に格納されているため、論理ゲートの階層が深い
場合−ブライマリ−・ノードの事象の発生時刻より最初
にめた事象発生推定時刻を事象発生時刻とを考え、更に
上位のノードについて、上記の計算方法により各ノード
の事象発生推定時刻を順次求めていく。However, since the event occurrence time of the primary node is stored in the storage device 3, if the logic gate hierarchy is deep, the event occurrence time estimated first from the event occurrence time of the primary node is used as the event occurrence time. Considering the event occurrence time, the estimated time of event occurrence for each node is sequentially determined using the above calculation method for higher-order nodes.

この方法でめられた事象発生推定時刻は「タイムディレ
ィを考慮した予測」の部分での処理に使用される。The estimated event occurrence time determined by this method is used in the "prediction taking into account time delay" processing.

従来、この予測の部分では、観測結果と論理演算結果で
ある「真」、「偽」との一致、不一致だけを調べ、その
結果に応じてメツセージ出力していたが、本発明では、
それ以外に観測された事象発生時刻と上記の計算方法に
よりめた事象発生推定時刻とを比較することＫより、よ
り詳細に事象の発生時刻に応じてメツセージ出力するも
のである。予測処理において、ノードの論理演算結果と
観測結果とが等しい場合において、以下の２通りを考え
る。Conventionally, in this prediction part, only the coincidence or mismatch between the observation result and the logical operation result "true" or "false" was checked, and a message was output according to the result, but in the present invention,
By comparing the observed event occurrence time with the estimated event occurrence time determined by the above calculation method, a message is output in more detail according to the event occurrence time. In the prediction process, when the logical operation result of a node and the observation result are equal, the following two cases are considered.

（ａ）　観測された事象発生時刻≧計算でめた事象発生
推定時刻のとき そのノードにメツセージがあれば状態メツセージとして
出力し、更にその上のノードについても検索を実行する
。(a) When the observed event occurrence time≧calculated estimated event occurrence time, if there is a message at that node, it is output as a status message, and the nodes above it are also searched.

（ｂ）　観測された事象発生時刻〈計算でめた事象発生
推定時刻のとき、 （ｂｌ）その上のノードの観測値が偽又はそのノードの
上にファーザ・ノードがないときは、そのノードについ
ているメツセージがあれば予測メツセージとして出力し
、予測終了する。(b) When the observed event occurrence time is the estimated event occurrence time determined by calculation, (bl) If the observed value of the node above it is false or there is no further node above that node, then If there is a message, it is output as a predicted message and the prediction ends.

（ｂ２）その上のノードの観測値が真であるときは、そ
のノードについているメツセージがあれば状態メツセー
ジとして出力し、更にその上のノードについても検索を
実行する。(b2) When the observed value of the node above it is true, if there is a message attached to that node, it is output as a status message, and the node above it is also searched.

これＫより予測終了のルーチンに入るまで「タイムディ
レィを考慮した予測」処理を実施する。From this point K, the "prediction taking time delay into account" processing is executed until the routine enters the prediction completion routine.

第５図の処理の流れＫおけるその他の部分は従来と同様
である。The other parts of the process flow K in FIG. 5 are the same as the conventional process.

なお、上記実施例では、論理演算を行なう演算処理装置
３と診断処理を行なう演算処理装置７を別々なものとし
て表現したが、この発明による処理方式を適用し、前記
機能を有していれば、・・−ドウエアとして１つの装置
としても上記実施例と同等の効果を奏する。In the above embodiment, the arithmetic processing device 3 that performs logical operations and the arithmetic processing device 7 that performs diagnostic processing are expressed as separate entities, but if the processing method according to the present invention is applied and the arithmetic processing device 7 has the above functions, , . . . - Even when used as a single device, the same effects as in the above embodiment can be achieved.

また、同様Ｋ、記憶装置４及び６についても、ハードウ
ェアとして１つの記憶装置としても上記実施例と同等の
効果を奏する。Similarly, the storage devices 4 and 6 can also be used as one hardware storage device to achieve the same effects as in the above embodiment.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上のように、この発明によれば、簡単な処理によって
診断の精度を向上させ不必要なメツセージが出力される
のを抑制できるため、マンマシン・システムとして運転
員に良好なガイドをすることができる。As described above, according to the present invention, it is possible to improve the accuracy of diagnosis and suppress the output of unnecessary messages through simple processing, so that it is possible to provide good guidance to operators as a man-machine system. can.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第１図は従来及び本発明によるプラント診断装置の構成
を示すブロック図、第２図は第１図装置に使われる記憶
装置のＣＣＴの一例を示す論理図、第３図は第１図に示
す装置の演算処理装置の処理の流れを示すフロー図、第
４図はタイムディレィの取扱い方（ＡＮＤゲートの場合
）を説明する図、第５図はこの発明による演算処理装置
の処理の流れを示したフロー図、第６図は第５図で示し
た「タイムディレィを考慮した予測」の部分の処理を詳
細に示したフロー図 １・・・データ収集装置、２，５．７・・・演算処理装
置、３．４．６・・・第１の記憶装置、８・・・表示装
置。 なお、図中、同一符号は同−又は相当部分を示す。 特許出願人　三菱１！機株式会社 「〈 ｓ−３へ 口１ トｊト 故障Ａ　故障Ｂ　故障Ｃ＠障り 第４図 （０） （ｂ） 手続補正書（自発） ↑４許庁長宮殿 １　事件の表示　特願昭５９−５０６４９号２、発明の
名称 プラント診断装置 ３、補正をするΔ 代表者片山仁へ部 ６、補正の内容 （１）　明細書をつぎのとおり訂正する。FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of a conventional plant diagnosis device and the present invention, FIG. 2 is a logic diagram showing an example of CCT of a storage device used in the device shown in FIG. 1, and FIG. 3 is shown in FIG. 1. FIG. 4 is a flowchart showing the processing flow of the arithmetic processing unit of the device, FIG. 4 is a diagram explaining how to handle time delay (in the case of an AND gate), and FIG. 5 shows the processing flow of the arithmetic processing device according to the present invention. Figure 6 is a flow diagram showing in detail the processing of the "prediction considering time delay" part shown in Figure 5. 1... Data collection device, 2, 5.7... Calculation Processing device, 3.4.6... First storage device, 8... Display device. In addition, in the figures, the same reference numerals indicate the same or corresponding parts. Patent applicant Mitsubishi 1! Machinery Co., Ltd. ``〈 s-3 口 1 TOJTO Failure A Failure B Failure C @ Failure Figure 4 (0) (b) Procedural amendment (voluntary) ↑4 Office Director's Palace 1 Display of case Patent application No. 59-50649 No. 2, Title of Invention Plant Diagnostic Device 3, Amendment Δ Representative: Hitoshi Katayama Section 6, Contents of Amendment (1) The description is amended as follows.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] メモｌＪ［記憶され、プラントに生ずる各種異常事象の
伝搬シーケンスからなる論理式の原因結果ツリーを演算
処理装置釦より演算することにより、異常の第１原因を
オンライン・リアル・タイムで同定し、かつ将来の状態
を予測し、プラント運転員の総合判断をサポートするよ
うＫしたプラント診断装置において、上記演算処理装置
は上記原因結果ツリー上のタイムディレーと上記メモリ
に記憶されたプライマリ−・ノードの事象発生時刻とか
ら上記原因結果ツリー上の他のノードの事象発生推定時
刻を計算すると共に、予測処理において上記事象発生時
刻と事象発生推定時刻とを比較することにより現在のプ
ラント状態を表わすメツセージを出力するようＫしたこ
とを特徴とするプラント診断装置。Memo 1J [Identifies the first cause of an abnormality online in real time by calculating a cause-and-effect tree of a logical formula consisting of the propagation sequence of various abnormal events that occur in the plant using a processor button, and In a plant diagnostic device designed to predict future conditions and support comprehensive judgment by plant operators, the arithmetic processing unit calculates the time delay on the cause-and-effect tree and the primary node events stored in the memory. Calculates the estimated event occurrence time of other nodes on the cause-and-effect tree from the occurrence time, and outputs a message representing the current plant status by comparing the event occurrence time and the estimated event occurrence time in prediction processing. A plant diagnostic device characterized in that it is configured to: