JPS6040538A - 光学的情報読取装置 - Google Patents
光学的情報読取装置Info
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- JPS6040538A JPS6040538A JP58149051A JP14905183A JPS6040538A JP S6040538 A JPS6040538 A JP S6040538A JP 58149051 A JP58149051 A JP 58149051A JP 14905183 A JP14905183 A JP 14905183A JP S6040538 A JPS6040538 A JP S6040538A
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- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
- G11B7/135—Means for guiding the beam from the source to the record carrier or from the record carrier to the detector
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
この発明は、情報記録担体の情報を光学的に読取る光学
的情報読取装置に係シ、特に情報記録担体より反射した
情報を含んだレーデ光ビームを受光して電気信号に変換
する光検出器に関する。
的情報読取装置に係シ、特に情報記録担体より反射した
情報を含んだレーデ光ビームを受光して電気信号に変換
する光検出器に関する。
従来、光学的情報読取装置は第１図に示すように構成さ
れ、半導体レーザ１よシレーザ光ビーム２−１が出射し
、コリメータレンズ３に入射して平行光となり、偏光ビ
ームスシリツタ４．１／４波長板５を透過し、円偏光の
レーザ光ビームは対物レンズ６によシ情報記録面７に微
小スポットを形成する。この情報記録面７で反射された
レーザ光ビームは逆回りの円偏光となり、対物レンズ６
％１／４波長板５を逆行１−１半導体レーザ出射光の直
線偏波面とは略９０°回転した直線偏波光になる。そし
て、偏光ビームスプリッタ４で光路が直角に変向され、
シリンドリカルレンズ８と集光レンズ９とで形成される
非点収差レンズ系によシ光軸に垂直に配設される光検知
器１０面上に集光される。情報記録面７の位置が対物レ
ンズ６の集点面上にあるときは、略円形のスヂットが光
検知器１０面上にできる。
れ、半導体レーザ１よシレーザ光ビーム２−１が出射し
、コリメータレンズ３に入射して平行光となり、偏光ビ
ームスシリツタ４．１／４波長板５を透過し、円偏光の
レーザ光ビームは対物レンズ６によシ情報記録面７に微
小スポットを形成する。この情報記録面７で反射された
レーザ光ビームは逆回りの円偏光となり、対物レンズ６
％１／４波長板５を逆行１−１半導体レーザ出射光の直
線偏波面とは略９０°回転した直線偏波光になる。そし
て、偏光ビームスプリッタ４で光路が直角に変向され、
シリンドリカルレンズ８と集光レンズ９とで形成される
非点収差レンズ系によシ光軸に垂直に配設される光検知
器１０面上に集光される。情報記録面７の位置が対物レ
ンズ６の集点面上にあるときは、略円形のスヂットが光
検知器１０面上にできる。
情報記録面７が対物レンズ６の集点面よシ外れ、遠くも
しくけ近くになると、光検知器１０面上のス４？ットは
略円形よシ楕円になシ、更に線像と変化する。これらの
光信号は、光検知器１θで光電変換され、電気信号１１
が得られる。次に演算増幅器１２により再生信号（情報
信号）１３と制御信号１４とに処理され、制御信号１４
けサーボ増幅器１５に入力され、その出力は電磁力等に
より対物レンズ６をフォーカス方向（２軸）及びトラッ
キング方向（Ｙ軸）に追従制御させる。このようにして
情報記録面７の位置変動に対して正確に追従制御をし、
再生信号１３が欠落しないように構成されている。
しくけ近くになると、光検知器１０面上のス４？ットは
略円形よシ楕円になシ、更に線像と変化する。これらの
光信号は、光検知器１θで光電変換され、電気信号１１
が得られる。次に演算増幅器１２により再生信号（情報
信号）１３と制御信号１４とに処理され、制御信号１４
けサーボ増幅器１５に入力され、その出力は電磁力等に
より対物レンズ６をフォーカス方向（２軸）及びトラッ
キング方向（Ｙ軸）に追従制御させる。このようにして
情報記録面７の位置変動に対して正確に追従制御をし、
再生信号１３が欠落しないように構成されている。
〔背景技術の問題点〕
上記従来の光学的情報読取装置においては、半導体レー
ザ１の一方の端面から出た光が変調されて再びこの端面
に戻ると、上記半導体レーザ１は自己透過効果あるいは
ポンピング効果、発振モードの変化等によシ、レーザ出
力光が変動する。その結果、再生信号あるいはフォーカ
ス、トラッキング、制御信号に対して雑音成分が増大し
たことになり、信号対雑音比（Ｓハ）を劣化させ、安定
追従制御を阻害する主要因となる。この現象を逆に利用
した方式の光情報処理装置も提案されているが（例えば
特公昭５７−５８７３５）、未だ半導体レーザの安定性
に難があシ、実用化の域には至っていない。
ザ１の一方の端面から出た光が変調されて再びこの端面
に戻ると、上記半導体レーザ１は自己透過効果あるいは
ポンピング効果、発振モードの変化等によシ、レーザ出
力光が変動する。その結果、再生信号あるいはフォーカ
ス、トラッキング、制御信号に対して雑音成分が増大し
たことになり、信号対雑音比（Ｓハ）を劣化させ、安定
追従制御を阻害する主要因となる。この現象を逆に利用
した方式の光情報処理装置も提案されているが（例えば
特公昭５７−５８７３５）、未だ半導体レーザの安定性
に難があシ、実用化の域には至っていない。
上記半導体レーザ１への戻シ光となる原因には、下記の
点が考えられる。
点が考えられる。
■ 情報記録面７よりの反射。
■ 光学素子平面よシの反射（偏光ビームスプリッタ４
．１／４波長板５、シリンドリカルレンズ８の片面等） ■ 光検知器１０面よシの反射。
．１／４波長板５、シリンドリカルレンズ８の片面等） ■ 光検知器１０面よシの反射。
上記３項目のうち、情報記録面７つまりディスクが２軸
方向に変動した場合に、半導体レーザ１の外部共振器を
形成する面でディスク移動と同期して、等価共振器長を
移動させる主要素と々るものは■と■である。又■け各
端面を光軸に対して数度以内で傾斜させるか、あるいは
マルチ反射防止膜を施すことによシ容易に解決できる。
方向に変動した場合に、半導体レーザ１の外部共振器を
形成する面でディスク移動と同期して、等価共振器長を
移動させる主要素と々るものは■と■である。又■け各
端面を光軸に対して数度以内で傾斜させるか、あるいは
マルチ反射防止膜を施すことによシ容易に解決できる。
■については、基本的にはこの反射面より情報を得るこ
とが目的であるから、無くすことはできない。これに対
応するには、半導体レーザ１を戻シ光に強い特性のもの
を開発するか、偏向ビームスプリッタ４と１／４波長板
５で形成している光アイソレータの特性を向上させるこ
とである。■に関しては、戻シ光に対して強いレーザが
現状では入手難であり、光アイソレータの特性を向上さ
せてもこの反射光による雑音成分を低く抑えることが困
難である。
とが目的であるから、無くすことはできない。これに対
応するには、半導体レーザ１を戻シ光に強い特性のもの
を開発するか、偏向ビームスプリッタ４と１／４波長板
５で形成している光アイソレータの特性を向上させるこ
とである。■に関しては、戻シ光に対して強いレーザが
現状では入手難であり、光アイソレータの特性を向上さ
せてもこの反射光による雑音成分を低く抑えることが困
難である。
５−
通常、戻シ率（戻り光パワーと半導体レーザ発振出力パ
ワーの比で百分率で表わす）を略０．００１チ以下にす
る必要があることが実験結果よシ確Ｖされている。この
戻り光による雑音成分がディスクの位置変化に対してど
のようガ特性を示すかを第２図を参照して説明する。
ワーの比で百分率で表わす）を略０．００１チ以下にす
る必要があることが実験結果よシ確Ｖされている。この
戻り光による雑音成分がディスクの位置変化に対してど
のようガ特性を示すかを第２図を参照して説明する。
第１図の光学系の構成によシ４分割８ｌ−ＰＩＮフォト
ダイオードを光検知器に用いている。４分割された光検
知器の各々対角線上に配置されている素子の出力和とそ
れぞれの和出力の差分をフォーカスエラー信号とすると
、第２図のＡに示すＳカーブが得られる。この正負のピ
ーク値の点が非点収差レンズ系で形成される前側及び後
側の焦線面に尚り、こわらの間隙がディスクに対物レン
ズが追従できる引込範囲となる。
ダイオードを光検知器に用いている。４分割された光検
知器の各々対角線上に配置されている素子の出力和とそ
れぞれの和出力の差分をフォーカスエラー信号とすると
、第２図のＡに示すＳカーブが得られる。この正負のピ
ーク値の点が非点収差レンズ系で形成される前側及び後
側の焦線面に尚り、こわらの間隙がディスクに対物レン
ズが追従できる引込範囲となる。
このＳカーブに対応１７て反射光によるノイズ成分の特
性をＢで示すことができる。このＢ特性曲線の■との目
引込時のスタートポイントでノイズが増大することを示
す。＠はディスクの位置が対物レンズ６の焦点深度内に
あり、従って６一 光検知器１０面上では略円形の最小錯乱円が形成されて
いる。そして、主と１−て情報記録面７よりの反射に起
因し、それに光検知器面よりの反射がノイズ成分に加算
され、安定追従制御の阻害要因どなる。
性をＢで示すことができる。このＢ特性曲線の■との目
引込時のスタートポイントでノイズが増大することを示
す。＠はディスクの位置が対物レンズ６の焦点深度内に
あり、従って６一 光検知器１０面上では略円形の最小錯乱円が形成されて
いる。そして、主と１−て情報記録面７よりの反射に起
因し、それに光検知器面よりの反射がノイズ成分に加算
され、安定追従制御の阻害要因どなる。
この発明の目的は、反射光が半導体レーザに戻るために
発生するノイズ成分を低減させることにより、フォーカ
シング、トラッキングの追従制御を安定化し、再生信号
の欠落を減少させ、高品質な情報を光学的に読取ること
ができる光学的情報ｈ・にηｙ装置を提供することであ
る。
発生するノイズ成分を低減させることにより、フォーカ
シング、トラッキングの追従制御を安定化し、再生信号
の欠落を減少させ、高品質な情報を光学的に読取ること
ができる光学的情報ｈ・にηｙ装置を提供することであ
る。
〔発明の碩１要〕
この発明は、半導体レーザと、情報記録面に上記半導体
レーザからのレーザ光ビームを微小スポットに収束させ
る対物レンズと、上記情報記録面よυの反射回折光が上
記半導体レーザに戻るのを阻止する光アイソレータと、
上記反射回折光を集光する集光レンズと、この集光レン
ズによυ集光さねた反射回折光を光電変換して電気信号
を得る光検知器とを少なくとも具備りだ光学的情報読取
装置において、特に光アイソレータがあってもその効果
が少々い光検知器面よυの反射光に基く半導体レーザの
出力変動を低減させるために、光検知器面を光軸に対し
て所定角度ψだけ傾斜させて位置を微調整して固定部に
固着させるようにした光学的情報読取装置である。
レーザからのレーザ光ビームを微小スポットに収束させ
る対物レンズと、上記情報記録面よυの反射回折光が上
記半導体レーザに戻るのを阻止する光アイソレータと、
上記反射回折光を集光する集光レンズと、この集光レン
ズによυ集光さねた反射回折光を光電変換して電気信号
を得る光検知器とを少なくとも具備りだ光学的情報読取
装置において、特に光アイソレータがあってもその効果
が少々い光検知器面よυの反射光に基く半導体レーザの
出力変動を低減させるために、光検知器面を光軸に対し
て所定角度ψだけ傾斜させて位置を微調整して固定部に
固着させるようにした光学的情報読取装置である。
この発明の光学的情報読取装置は第３図に示すように構
成され、従来例（第１図）と同一箇所は同一符号を付す
ことにする。
成され、従来例（第１図）と同一箇所は同一符号を付す
ことにする。
即ち、図示のように半導体レーザ１、コリメータレンズ
３、光アイソレータを構成する偏向ビームスシリツタ’
、１／４波長板５、対物レンズ６、及び情報記録面７が
同一軸線上に所定間隔をおいて配設され、更に上記偏向
ビームスノリツタ４の側方には、非点収差レンズ系を形
成するシリンドリカルレンズ８、集光レンズ９、及び光
検知器１０が配設されている。この光検知器１０は演算
増幅器１２に接続され、この演算増幅器１２はサーが増
幅回路１５に接続され、このサーが増幅回路１５は電磁
力のような駆動手段であるアクチェータ１６を介して上
記対物レンズ６を駆動している。
３、光アイソレータを構成する偏向ビームスシリツタ’
、１／４波長板５、対物レンズ６、及び情報記録面７が
同一軸線上に所定間隔をおいて配設され、更に上記偏向
ビームスノリツタ４の側方には、非点収差レンズ系を形
成するシリンドリカルレンズ８、集光レンズ９、及び光
検知器１０が配設されている。この光検知器１０は演算
増幅器１２に接続され、この演算増幅器１２はサーが増
幅回路１５に接続され、このサーが増幅回路１５は電磁
力のような駆動手段であるアクチェータ１６を介して上
記対物レンズ６を駆動している。
上記の場合、光検知器１０面は光軸に対して上記集光レ
ンズ９の開口数ＮＡよりめられる所定角度ψだけ傾斜し
ておシ、この所定角度ψは下記範囲内に設定されている
。
ンズ９の開口数ＮＡよりめられる所定角度ψだけ傾斜し
ておシ、この所定角度ψは下記範囲内に設定されている
。
但し、ｎは集光レンズ９及び光検知器１０の周囲媒体の
屈折率。
屈折率。
尚、開口数ＮＡは次式で表わされる。
ＮＡ＝ｎｓ石 θ
但し、θは光軸と集光レンズ９からの出射ビームの最外
径光束とのなす角。
径光束とのなす角。
さて、動作時には半導体レーザ１より出射したレーザ光
ビーム２−１は、コリメータレンズ３で平行光束となり
、光アイソレータを形成す９− る偏光ビームスプリッタ４と１／４波長板５を透過し、
対物レンズ６によって情報記録面７に微小光束に収束さ
れる。−ヒ記情報記録面７で反射された回折光は対物レ
ンズ６．１７４波長板５、偏光ビームスプリッタ４を介
してシリンドリカルレンズ８、集光レンズ９で光検知器
１０ＶＣ８かれる。光検知器１０は光軸に対１−て所定
角度ψ（ζ１１〜１２度）だけ傾けて配設されているが
、この光検知器１０の電気出力信号１１は演算増幅器１
２で再生信号１３と制御信号１４とに処理される。この
制御信号１４はサーが増幅回路１５でフォーカシング及
びトラッキングの２軸制御信号を得て、電磁力で対物レ
ンズ６を２軸及びＸ軸方向に駆動させる手段を有してい
る。
ビーム２−１は、コリメータレンズ３で平行光束となり
、光アイソレータを形成す９− る偏光ビームスプリッタ４と１／４波長板５を透過し、
対物レンズ６によって情報記録面７に微小光束に収束さ
れる。−ヒ記情報記録面７で反射された回折光は対物レ
ンズ６．１７４波長板５、偏光ビームスプリッタ４を介
してシリンドリカルレンズ８、集光レンズ９で光検知器
１０ＶＣ８かれる。光検知器１０は光軸に対１−て所定
角度ψ（ζ１１〜１２度）だけ傾けて配設されているが
、この光検知器１０の電気出力信号１１は演算増幅器１
２で再生信号１３と制御信号１４とに処理される。この
制御信号１４はサーが増幅回路１５でフォーカシング及
びトラッキングの２軸制御信号を得て、電磁力で対物レ
ンズ６を２軸及びＸ軸方向に駆動させる手段を有してい
る。
この実施例の集光レンズ９とシリンドリカルレンズ８に
よって生じさせている非点隔差は略１四であシ、その略
中間の最小錯乱円の位置にＳｉのＭＮ構造の７オトデイ
テクタを配設している。この場合の集光レンズ９の開口
数ＮＡとじ１０− ては、前側もしくは後側焦点の長手端部と最小錯乱円の
最外径を直線で結んだ時になす光軸中心との角度θをも
ってＮ Ａ ＝ｅ ｎ ｓｉｎθ（但し、ｎは集光レン
ズ及び光検知器の周囲媒体の屈折率）と１〜て等測的に
表わし、光検知器面の所定傾角〔ψり５ｉｎ−１（”
） ］けｎ ＝ １、ＮＡ＝０．１６の場合でψ＝９．
２〜１３．８度の範囲で固定光学系部品とのマウント部
に固定する。そして、傾角ψが大きく々ると、最小錯乱
円が疑似楕円となり、第２図で示したＳカーブのゼロク
ロス点における位置調整が困離と々す、残留エラー成分
が発生し易く、ジャストフす−カス点を定めるのが容易
で々い。
よって生じさせている非点隔差は略１四であシ、その略
中間の最小錯乱円の位置にＳｉのＭＮ構造の７オトデイ
テクタを配設している。この場合の集光レンズ９の開口
数ＮＡとじ１０− ては、前側もしくは後側焦点の長手端部と最小錯乱円の
最外径を直線で結んだ時になす光軸中心との角度θをも
ってＮ Ａ ＝ｅ ｎ ｓｉｎθ（但し、ｎは集光レン
ズ及び光検知器の周囲媒体の屈折率）と１〜て等測的に
表わし、光検知器面の所定傾角〔ψり５ｉｎ−１（”
） ］けｎ ＝ １、ＮＡ＝０．１６の場合でψ＝９．
２〜１３．８度の範囲で固定光学系部品とのマウント部
に固定する。そして、傾角ψが大きく々ると、最小錯乱
円が疑似楕円となり、第２図で示したＳカーブのゼロク
ロス点における位置調整が困離と々す、残留エラー成分
が発生し易く、ジャストフす−カス点を定めるのが容易
で々い。
」−記のように構成した光情報￥１７１′取装置におい
て、反射光による半導体レーザ１への戻Ｖ光による雑音
特性は第４図のようにガシ、縦軸に反射雑音のレベル、
横軸にディスクの位置を変えた値（変位量μｍ）を示し
ている。そして、従来のように光検知器１０を光軸に略
垂直に配置した時をＢ（２点鎖線）とすると、傾角１１
°で実線に示すように前側及び後側焦線面において、大
きく出ていた■、θの雑音成分は約３０ｄＢ以上低減さ
れ、更にジャスト・フォーカス・ポイント＠においても
減少していることが判る。
て、反射光による半導体レーザ１への戻Ｖ光による雑音
特性は第４図のようにガシ、縦軸に反射雑音のレベル、
横軸にディスクの位置を変えた値（変位量μｍ）を示し
ている。そして、従来のように光検知器１０を光軸に略
垂直に配置した時をＢ（２点鎖線）とすると、傾角１１
°で実線に示すように前側及び後側焦線面において、大
きく出ていた■、θの雑音成分は約３０ｄＢ以上低減さ
れ、更にジャスト・フォーカス・ポイント＠においても
減少していることが判る。
又、全体の雑音レベルも低下している。信号成分Ｓは低
減していないので、制御信号、再生信号ともＳ／Ｎが良
好になり、フす−カッレンズ、トラッキング制御の安定
追従制御に寄与し、高品質な再生信号なイＩＩることか
できた。
減していないので、制御信号、再生信号ともＳ／Ｎが良
好になり、フす−カッレンズ、トラッキング制御の安定
追従制御に寄与し、高品質な再生信号なイＩＩることか
できた。
尚、第５図はこの発明の変形例を示したものである。こ
の変形例でに、コリメータレンズ３ヲ偏光ビームスプリ
ツタ４とＩＡ波長板５との間に置いて、対物レンズ６に
よって情報記録面７に収束される光ビームが上記情報記
録面２で反射した光束を光検知器１０に導くための役割
を兼ねたものである。更に、検出方式としては、対物レ
ンズ６と情報記録面７との間隔が対物レンズ６の焦点面
よシ僅か例れると、光検知器面上のスポットが拡大もし
くは収束することを利用してフォーカス制御を行なう通
称ビームサイズ法と呼ばれる方式である。このようガ光
学系においても、光検知器１０の受光面をコリメータレ
ンズ３の開口数ＮＡで決まる〔θ＝ｓｉｎ−１（”）］
所定傾角ψを用いることが有効であることは言う迄もな
い。
の変形例でに、コリメータレンズ３ヲ偏光ビームスプリ
ツタ４とＩＡ波長板５との間に置いて、対物レンズ６に
よって情報記録面７に収束される光ビームが上記情報記
録面２で反射した光束を光検知器１０に導くための役割
を兼ねたものである。更に、検出方式としては、対物レ
ンズ６と情報記録面７との間隔が対物レンズ６の焦点面
よシ僅か例れると、光検知器面上のスポットが拡大もし
くは収束することを利用してフォーカス制御を行なう通
称ビームサイズ法と呼ばれる方式である。このようガ光
学系においても、光検知器１０の受光面をコリメータレ
ンズ３の開口数ＮＡで決まる〔θ＝ｓｉｎ−１（”）］
所定傾角ψを用いることが有効であることは言う迄もな
い。
この発明によれば、半導体レーザ一端面と外部共振器を
形成する情報記録面７及び光検知器１０面によって等価
レーザ共振器長が変動することによ多発生する雑音（情
報記録面の変位量がレーザ発振波長のλ／２毎に生ずる
低周波ｆ０雑音と、上記変位量がλ／４毎に発生する光
検知器面による約２７６ ’Ａ音）のうち、光検知器１
０面が作用して起る半導体レーザ出力光の変Ａ 動（雑音）を集光レンズ９の集光角（θ−５ｉｎ−’
−）以上に光検知器１０面を光軸に対して傾けることに
よシ低減させることができた。これに伴々って、フォー
カス及びトラッキングエラー信号等の制御信号のＳ／Ｎ
が良くなシ、安価な追従制御が得られた。又、角化信号
の欠落が少なくなり、誤り率が低下して高品位信号の再
生が可能と々った。
形成する情報記録面７及び光検知器１０面によって等価
レーザ共振器長が変動することによ多発生する雑音（情
報記録面の変位量がレーザ発振波長のλ／２毎に生ずる
低周波ｆ０雑音と、上記変位量がλ／４毎に発生する光
検知器面による約２７６ ’Ａ音）のうち、光検知器１
０面が作用して起る半導体レーザ出力光の変Ａ 動（雑音）を集光レンズ９の集光角（θ−５ｉｎ−’
−）以上に光検知器１０面を光軸に対して傾けることに
よシ低減させることができた。これに伴々って、フォー
カス及びトラッキングエラー信号等の制御信号のＳ／Ｎ
が良くなシ、安価な追従制御が得られた。又、角化信号
の欠落が少なくなり、誤り率が低下して高品位信号の再
生が可能と々った。
第１図は従来の光情報読取装置を示す概略構成図、第２
図は従来の装置におけるフす−カスエラー信号及びレー
ザ発光出力の変動（反射ノイズ）とディスクの変位量と
の関係を示す特性曲線図、第３図はこの発明の一実施例
に係る光情報読取装置を示す概略構成図、第４図は従来
の装置とこの発明の装置におけるレーザ発光出力の変動
（反射ノイズ）とディスクの変位量との関係を示す特性
曲線図、第５図はこの発明の変形例を示す概略構成図で
ある。 １・・・半導体レーザ、２−１・・・半導体レーザから
の放射ビーム、２−２・・・戻り光、３・・・コリメー
タレンズ、４・・・偏光ビームスプリッタ、５・・・１
７４波長板、６・・・対物レンズ、７・・・情報記録面
、８・・・シリンドリカルレンズ、９・・・集光レンズ
、１０・・・光検知器、１１・・・光電変換された電気
信号、１２・・・演算増幅器、１３・・・再生信号、１
４１４− ・・・制御信号、１５・・・サーが増幅回路、１６・・
・アクチェータ。 Ｉｌｌ ｆｆ１ｆｉ人代理人 弁理士 鈴 江 武 彦
１５− 第１図 ］Ｚ 第２図 第３図 第４図 ム ラ１スゲ変位量 第５図
図は従来の装置におけるフす−カスエラー信号及びレー
ザ発光出力の変動（反射ノイズ）とディスクの変位量と
の関係を示す特性曲線図、第３図はこの発明の一実施例
に係る光情報読取装置を示す概略構成図、第４図は従来
の装置とこの発明の装置におけるレーザ発光出力の変動
（反射ノイズ）とディスクの変位量との関係を示す特性
曲線図、第５図はこの発明の変形例を示す概略構成図で
ある。 １・・・半導体レーザ、２−１・・・半導体レーザから
の放射ビーム、２−２・・・戻り光、３・・・コリメー
タレンズ、４・・・偏光ビームスプリッタ、５・・・１
７４波長板、６・・・対物レンズ、７・・・情報記録面
、８・・・シリンドリカルレンズ、９・・・集光レンズ
、１０・・・光検知器、１１・・・光電変換された電気
信号、１２・・・演算増幅器、１３・・・再生信号、１
４１４− ・・・制御信号、１５・・・サーが増幅回路、１６・・
・アクチェータ。 Ｉｌｌ ｆｆ１ｆｉ人代理人 弁理士 鈴 江 武 彦
１５− 第１図 ］Ｚ 第２図 第３図 第４図 ム ラ１スゲ変位量 第５図
Claims (2)
- （１）半導体レーザと、情報記録面に上記半導体レーデ
からのレーデ光ビームを微小スポットに収束させる対物
レンズと、上記情報記録面よシの反射回折光が上記半導
体レーデに戻るのを阻止する光アイソレータと、上記反
射回折光を集光する集光レンズと、この集光レンズによ
り集光された反射回折光を光電変換して電気信号を得る
光検知器とを少なくとも具備した光学的情報読取装置に
おいて、 上記光検知器面を光軸に対して上記集光レンズの開口数
ＮＡよ請求まる所定角度ψだけ傾斜させたことを特徴と
する光学的情報読取装置。 - （２）上記所定角度ψは、下記範囲内に設定されている
特許請求の範囲第１項記載の光学的情報読取装置。 但し、ｎは集光レンズ及び光検知器の周囲媒体の屈折率
。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58149051A JPS6040538A (ja) | 1983-08-15 | 1983-08-15 | 光学的情報読取装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58149051A JPS6040538A (ja) | 1983-08-15 | 1983-08-15 | 光学的情報読取装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6040538A true JPS6040538A (ja) | 1985-03-02 |
Family
ID=15466576
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58149051A Pending JPS6040538A (ja) | 1983-08-15 | 1983-08-15 | 光学的情報読取装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6040538A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61170119U (ja) * | 1985-04-12 | 1986-10-22 | ||
| JPS61172355U (ja) * | 1985-04-12 | 1986-10-25 | ||
| JPS62124641A (ja) * | 1985-11-22 | 1987-06-05 | Mitsubishi Electric Corp | 光磁気情報記録再生装置 |
| JPS62142724U (ja) * | 1986-02-28 | 1987-09-09 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS55163636A (en) * | 1979-06-06 | 1980-12-19 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Optical recorder/reproducer |
| JPS56158494A (en) * | 1980-05-12 | 1981-12-07 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Output control device for semiconductor laser |
-
1983
- 1983-08-15 JP JP58149051A patent/JPS6040538A/ja active Pending
Patent Citations (2)
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| JPH082814Y2 (ja) * | 1986-02-28 | 1996-01-29 | パイオニア株式会社 | 光学式ピツクアツプ装置 |
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