JPS60259005A - 出力トランジスタの保護回路 - Google Patents

出力トランジスタの保護回路

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JPS60259005A
JPS60259005A JP59117195A JP11719584A JPS60259005A JP S60259005 A JPS60259005 A JP S60259005A JP 59117195 A JP59117195 A JP 59117195A JP 11719584 A JP11719584 A JP 11719584A JP S60259005 A JPS60259005 A JP S60259005A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
transistor
output
output transistor
heat
emitter
Prior art date
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Pending
Application number
JP59117195A
Other languages
English (en)
Inventor
Hitoshi Ishikawa
仁 石川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
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Publication of JPS60259005A publication Critical patent/JPS60259005A/ja
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    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F1/00Details of amplifiers with only discharge tubes, only semiconductor devices or only unspecified devices as amplifying elements
    • H03F1/52Circuit arrangements for protecting such amplifiers

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Amplifiers (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 この発明は半導体集積回路における出力トランジスタの
保護回路に関し、特に出力トランジスタを熱破壊から保
護するための熱遮断回路に関するものである。
〔従来技術〕
従来この種の熱遮断回路としては第1図に示すものがあ
った。図において、II、I2は定電流源、R1はバイ
アス用抵抗、Qlは熱検出トランジスタ、Q2は電流増
幅用トランジスタ、Q3は出力パワートランジスタであ
り、上記3つのトランジスタQ1〜Q3は同極性のもの
である。またR2は保護抵抗、RLは負荷である。
次に動作について説明する。出力端子Voと接地間の負
荷RLが大きくなり、出力端子Voがらの淀ヨ゛電宝J
Qυ丁が増大した場合、該雪疲l0UTは出力トランジ
スタQ3のコレクターエミッタ間を流れるため、該コレ
クターエミッタ間電圧をVCEとすると、トランジスタ
Q3において、P=VCEX 101JTなる電力が消
費され、その接合部分が発熱する。集積回路中トランジ
スタQ3の近くに位置するトランジスタQ1は常温にお
いて、VA=IIXR1なるベース電位(トランジスタ
Q1のON時のベース・エミッタ電圧VBEよりも低い
値)でバイアスされているため、該トランジスタQ1は
OFT”している。一般にトランジスタのVBEは約−
2m■/°Cという負の温度係数をもっているため、出
力パワートランジスタQ3の発熱の影響で熱検出トラン
ジスタQ1のベース・エミッタ電圧VBEが減少し、そ
の値が前記VA (−11xR1)以下になると該トラ
ンジスタQ1がONL、始め、ダーリントン接続されて
いるトランジスタQ2のベース電流であるI2を引っ張
るため、トランジスタQ2.Q3ばOFFし始め、出力
電流10UTが減少する。
従来の熱遮断回路は、以上のように構成されており、熱
検出トランジスタと出力トランジスタが別の半導体領域
(別の島)に位置するため、直接出力トランジスタの発
熱量が検出できないという欠点があった。つまり、熱検
出トランジスタと出力トランジスタとの間に半導体基板
が存在するため、基板の熱伝導率が大きく関与し、両ト
ランジスタの距離、発熱による熱伝導率の変化、過渡熱
抵抗の変化等により、検出温度の誤差がかなりあり、出
力トランジスタの適切な保護ができないという欠点があ
った。
〔発明の概要〕
この発明は、上記のような従来のものの欠点を除去する
ためになされたもので、熱検出トランジスタと出力トラ
ンジスタとを相互に近接して形成することにより、出力
トランジスタの発熱を正確に検出し、時間遅延なしに出
力トランジスタを遮断できる出力トランジスタの保護回
路を提供することを目的としている。
〔発明の実施例〕
以下、この発明の一実施例を図について説明する。第2
図は本発明の一実施例を示し、図におし1で、I]、、
I2は第1.第2の定電流源、Qlは電流増幅用トラン
ジスタ(第1のトランジスタ)、Q2は出力トランジス
タ、Q3は熱検出トランジスタ(第2のトランジスタ)
、Q4は遮断用トラ□□−乙 る。
上記トランジスタQl、Q3のコレクタおよび定電流源
11の正側は電源端子Vccに接続され、定電流源■1
の負側はトランジスタQ1のベースに接続され、かつ該
負側はトランジスタQ4のコレクタにも接続される。上
記トランジスタQ1のエミッタはトランジスタQ2.Q
3のベースに接続され、トランジスタQ2のエミッタは
抵抗R1を介して出力端子■0に接続される。またトラ
ンジスタQ3のコレクタはトランジスタQ2のコレクタ
とともに電源端子Vccに接続され、トランジスタQ3
のベース・エミッタ間には抵抗R2が接続され、そのエ
ミッタは定電流源■2の正側に接続され、かつトランジ
スタQ4のベースにも接続される。このトランジスタQ
4のエミ・ツタは出力端子vOに接続され、定電流源I
2の負側ば接地されている。なお上記4つのトランジス
タQ1〜Q4は同極性のものである。
また出力トランジスタQ2と熱検出トランジスタQ3と
はそのコレクタ、ベースがそれぞれ共通となっており、
同一半導体領域内に又は一体化されて相互に近接して形
成されている。
次に動作について説明する。
熱検出トランジスタQ3のベース−エミッタ間電位は抵
抗R2,定電流源工2によって該トランジスタQ3がO
FFする様な定数に設定しておく。
負荷RLが増大して負荷電流が増大し、出力トランジス
タQ2のコレクターエミッタ間を流れる電流が増大する
と、これに伴って該トランジスタQ2が発熱する。これ
とともにトランジスタQ3はそのVBEが一2mv/℃
という温度特性を有するため、設定温度を越えると、上
記の抵抗R2と定電流源工2により設定されたバイアス
電圧よりもVBEが低くなり、該1〜ランジスクQ3は
ONし始める。ここで、出力1ヘランジスタQ2のエミ
ッタ電流(負荷電流)をIEとし、該電流IEが VBE (Q2) →−TE−R1≧VBE (Q3)
 +VBE (Q4)という条件を満足すると、遮断用
!・ランジスタQ4もONL始め、定電流源11を引っ
張るためトランジスタQ1.Q2は0FFL始め、熱遮
断がかかることになる。
内に、あるいはさらに一体化して形成されているため、
両者の間に半導体基板の杯な介在物が無く、熱検出トラ
ンジスタQ+は出力トランジスタQ2の発熱を瞬時に検
出し、遮断トランジスタQ4を作動させることができる
。そのため、遮断温度の設定が簡単であり、従来の様に
各トランジスタのレイアウトや、半導体の濃度、比抵抗
を考慮する必要が無い。
また、本保護回路には、電流制限機能も含まれている。
以下、この機能について説明すると、パフケージに放熱
処理が施されていることにより、トランジスタの熱的な
破壊の問題が無い場合には、過電流によるトランジスタ
の破壊が問題となる。
しかるに本保護回路では、前述のようにトランジスタQ
2のエミソク電流IEが増大し7VBE (Q2> +
 IE −R1≧12・R2+ VBE (04)なる
条件になると、遮断トランジスタQ4がONし、定電流
源■1を引っ張るため、トランジスタQl、Q2が○F
FL始め、過電流がトランジスタQ2を流れることはな
くなり、該1−ランジスタQ2の破壊を防止できる。
この様に本実施例の構成によれば、熱遮断特性と電流制
御限特性を併せ持つ、優れた出力トランジスタの保護回
路を提供できるものである。
なお、上記実施例では、NPN型トランジスタを用いた
ものについて述べたが、PNP型を用いてもよく、また
その他の半導体材料による素子を用いても良い。
また、上記実施例では出力トランジスタの保護について
述べたが、本発明は一般に微小な熱変動を検出する場合
にこれを応用することができる。
〔発明の効果〕
以上の様に、この発明によれば、熱検出トランジスタと
被保護トランジスタとを相互に近接して形成するように
したので、被保護トランジスタの発熱を瞬時に検知して
熱遮断をかけることができ、さらに電流制限もかけられ
る効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の熱遮断回路を示す回路図、第2図はこの
発明の一実施例による出力l・ランジヌタの保護回路を
示す回路図である。 増幅用トランジスタ(第1のトランジスタ)、Q2・・
・出力トランジスタ、Q3・・・熱検出トランジスタ(
第2のトランジスタ)、Q4・・・遮断トランジスタ(
第3のトランジスタ)。 代理人 大 岩 増 雄 第1図 第2図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1) エミッタ抵抗を介して負荷をドライブする出力
    トランジスタの保護回路において、上記出力トランジス
    タと同極性の第1、第2のトランジスタのコレクタおよ
    び第1の定電流源の正側が電源端子に接続され、該第1
    の定電流源の負側は上記第1のトランジスタのベースに
    接続されるとともに該第1.第2のトランジスタと同極
    性の第3のトランジスタのコレクタに接続され、上記第
    1のトランジスタのエミッタは上記第2のトランジスタ
    および出力トランジスタのベースに接続され、上記第2
    のトランジスタのベース・エミッタ間には第2の抵抗が
    接続され、上記第2のトランジスタのコレクタは上記出
    力トランジスタのコレクタに接続され、該第3のトラン
    ジスタのエミッタは上記負荷に接続され、上記第2の定
    電流源の負側は接地されてなり、上記出力トランジスタ
    と第2のトランジスタとは相互に近接して形成されてい
    ることを特徴とする出力トランジスタの保護回路。
JP59117195A 1984-06-05 1984-06-05 出力トランジスタの保護回路 Pending JPS60259005A (ja)

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JP59117195A JPS60259005A (ja) 1984-06-05 1984-06-05 出力トランジスタの保護回路

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JP59117195A JPS60259005A (ja) 1984-06-05 1984-06-05 出力トランジスタの保護回路

Publications (1)

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JPS60259005A true JPS60259005A (ja) 1985-12-21

Family

ID=14705747

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP59117195A Pending JPS60259005A (ja) 1984-06-05 1984-06-05 出力トランジスタの保護回路

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JP (1) JPS60259005A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02135809A (ja) * 1988-11-16 1990-05-24 Sanyo Electric Co Ltd ドライバー回路

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02135809A (ja) * 1988-11-16 1990-05-24 Sanyo Electric Co Ltd ドライバー回路

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