JPS60253884A - 恒温装置 - Google Patents
恒温装置Info
- Publication number
- JPS60253884A JPS60253884A JP11248584A JP11248584A JPS60253884A JP S60253884 A JPS60253884 A JP S60253884A JP 11248584 A JP11248584 A JP 11248584A JP 11248584 A JP11248584 A JP 11248584A JP S60253884 A JPS60253884 A JP S60253884A
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- JP
- Japan
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- constant temperature
- temperature
- chamber
- elastic member
- signal line
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- Pending
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- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Testing Resistance To Weather, Investigating Materials By Mechanical Methods (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
この発明は実験用卓上恒温槽等の恒温装置に関するもの
である。
である。
従来のこの種恒温装置としては、第１図に示す。即ち第
１図において、（１）は被試験体を収納すると共に、図
示しない温度七ングや温度を均一にするためのファンを
内蔵した恒温１１（２）は恒温槽（１）の前面に設けら
れ気密保持用のパツキン等を有する扉、（８）は扉（２
）に設けられ恒温槽（１） 、内を観察するためのガラ
ス等で作られた窓、（４）は恒温槽（１）内に冷気およ
び温気を送り込むための冷却器および加熱器を内蔵己た
恒温淵部、（５）は電源スィッチ（６）１動作状態を示
す表示器（７）、温度設定器および表示器（８）等を有
する制御部である。
１図において、（１）は被試験体を収納すると共に、図
示しない温度七ングや温度を均一にするためのファンを
内蔵した恒温１１（２）は恒温槽（１）の前面に設けら
れ気密保持用のパツキン等を有する扉、（８）は扉（２
）に設けられ恒温槽（１） 、内を観察するためのガラ
ス等で作られた窓、（４）は恒温槽（１）内に冷気およ
び温気を送り込むための冷却器および加熱器を内蔵己た
恒温淵部、（５）は電源スィッチ（６）１動作状態を示
す表示器（７）、温度設定器および表示器（８）等を有
する制御部である。
この従来のものでは、被試験体を収納する恒温槽（１）
と冷却器や加熱器等が内蔵されている恒温淵部（４）と
制御部（５）とが一体に構成されており、恒温槽（１）
内の温度センサと制御部（５）内の温度設定器（８）に
よって恒温槽（１）内が設定温度に；るよう恒温一部（
４）が制御される。
と冷却器や加熱器等が内蔵されている恒温淵部（４）と
制御部（５）とが一体に構成されており、恒温槽（１）
内の温度センサと制御部（５）内の温度設定器（８）に
よって恒温槽（１）内が設定温度に；るよう恒温一部（
４）が制御される。
この従来のものを使用する場合は、扉（２）を開けて被
試験体を恒温槽（１）内に入れて扉を閉じ、電源スィッ
チ（６）を投入して温度設定器（８）を必要な試験温度
に設定し、恒温淵部（４）から恒温槽（１）内に供給さ
れる熱源によって恒温槽（１）を所定温度にして被試験
体の温度による影響等を試験する。
試験体を恒温槽（１）内に入れて扉を閉じ、電源スィッ
チ（６）を投入して温度設定器（８）を必要な試験温度
に設定し、恒温淵部（４）から恒温槽（１）内に供給さ
れる熱源によって恒温槽（１）を所定温度にして被試験
体の温度による影響等を試験する。
被試験体が例えば半導体部品を多数取付けたプリント基
板などの場合には、恒温槽（１）の横または上部などに
適当な穴を設けその穴を通して槽外から信号線や電源の
供給線をプリント基板に接続し半導体部品を動作させな
がら、温度を北上させて動作状態を試験する。
板などの場合には、恒温槽（１）の横または上部などに
適当な穴を設けその穴を通して槽外から信号線や電源の
供給線をプリント基板に接続し半導体部品を動作させな
がら、温度を北上させて動作状態を試験する。
従って一度恒温槽外で動作確認し、調整したプリントカ
ーＦなどを被試験体として恒温槽に入れて温度テスト等
を行う場合には、試験用の信゛号線などを外して、恒温
槽の穴を通して再びプリント基板に接続し直して行う必
要がある。また動作中の波形やタイミング測定などのた
めに測定器を接続する必要があるが、これらの測定用プ
ローブは長さの制限があり、従来の恒温槽内の被試験体
には接続できないものも多くあった。さらに微小信号で
動作するプリント基板などでは、恒温槽の制御信号ノイ
ズの影響を受け誤動作するものもあった。
ーＦなどを被試験体として恒温槽に入れて温度テスト等
を行う場合には、試験用の信゛号線などを外して、恒温
槽の穴を通して再びプリント基板に接続し直して行う必
要がある。また動作中の波形やタイミング測定などのた
めに測定器を接続する必要があるが、これらの測定用プ
ローブは長さの制限があり、従来の恒温槽内の被試験体
には接続できないものも多くあった。さらに微小信号で
動作するプリント基板などでは、恒温槽の制御信号ノイ
ズの影響を受け誤動作するものもあった。
この発明は、このような従来のものの欠点を除去するた
めになされたもので、互に接離自在に当接される複数個
の筐体からなる恒温槽内に被試験体を収納し、恒温槽の
当腰部分の一部に被試験体への信号線等を気密状態で通
過させる弾性部材を設けたもので、恒温槽外で調整、動
作を確認したプリント基板等を試験用結線を外さないま
ま恒温槽内に収納し、その後加熱気体又は冷却気体を供
給して温度試験を実施できる恒温装置を提供する。
めになされたもので、互に接離自在に当接される複数個
の筐体からなる恒温槽内に被試験体を収納し、恒温槽の
当腰部分の一部に被試験体への信号線等を気密状態で通
過させる弾性部材を設けたもので、恒温槽外で調整、動
作を確認したプリント基板等を試験用結線を外さないま
ま恒温槽内に収納し、その後加熱気体又は冷却気体を供
給して温度試験を実施できる恒温装置を提供する。
以下この発明の一実施例を第２図にもとづいて説明、す
る。即ち第２図において、叫は開口部が互に突合わされ
る２個の筐体（１０１） （１０２）からな如内部に被
試験体を収納する恒温槽、（ロ）は筐体（１０１）（１
０２）の突合せ面に設けられた気密保持用のパツキン等
のシール材、（２）は被試験体に接続された信号線や計
測用のプローブ等を挾み込む部分の各筐体（ｔｏｌ）（
１０２）に設けられた気密保持可能なスポンジ様の弾性
部材、（２）は恒温槽←Ｏ）内の温度を検出し図示しな
い制御部にリード線ａ４を介して信号を送る温度センサ
明は電源コード（ＩＱを介して給電され、恒温槽α０）
内の温度を均一にするよう攪拌するファン、（ロ）は導
管（至）゛を介して恒温槽（１０）内に冷気または熱気
が矢印方向に送給される給気口、ＱｌＧは導管（１）を
介して恒温槽に）内の気体を矢印方向に排気する排気口
である。ここで温度センサα葎の貫通部、ファンαＧの
取付部１給排気口ＩＩＩηα９と導管０８ＧＯの接合部
等も気密構造に構成されている。
る。即ち第２図において、叫は開口部が互に突合わされ
る２個の筐体（１０１） （１０２）からな如内部に被
試験体を収納する恒温槽、（ロ）は筐体（１０１）（１
０２）の突合せ面に設けられた気密保持用のパツキン等
のシール材、（２）は被試験体に接続された信号線や計
測用のプローブ等を挾み込む部分の各筐体（ｔｏｌ）（
１０２）に設けられた気密保持可能なスポンジ様の弾性
部材、（２）は恒温槽←Ｏ）内の温度を検出し図示しな
い制御部にリード線ａ４を介して信号を送る温度センサ
明は電源コード（ＩＱを介して給電され、恒温槽α０）
内の温度を均一にするよう攪拌するファン、（ロ）は導
管（至）゛を介して恒温槽（１０）内に冷気または熱気
が矢印方向に送給される給気口、ＱｌＧは導管（１）を
介して恒温槽に）内の気体を矢印方向に排気する排気口
である。ここで温度センサα葎の貫通部、ファンαＧの
取付部１給排気口ＩＩＩηα９と導管０８ＧＯの接合部
等も気密構造に構成されている。
このように構成されたものでは、信号線や測定プローブ
などを接続したままの被試験体となるプリント基板を両
筐体（１０１Ｘ１０２）内に置き信号線等の引出し部を
弾性部材（２）の部分に挾み込み、両筐体を突合わせて
適宜の手段で閉成固定する。
などを接続したままの被試験体となるプリント基板を両
筐体（１０１Ｘ１０２）内に置き信号線等の引出し部を
弾性部材（２）の部分に挾み込み、両筐体を突合わせて
適宜の手段で閉成固定する。
しかる後図示しない別置の制御部によって制御される図
示しない恒温淵部から導管に）を介して給気口＠から冷
気または熱気を恒温槽（１ｏ）内に送給すると共にファ
ンμｓを駆動して恒温槽（ｉｏ）内の温度を均一にする
。ここで恒温槽（１０）内の温度は制御部において設定
されｆＣ温変に保たれる。
示しない恒温淵部から導管に）を介して給気口＠から冷
気または熱気を恒温槽（１ｏ）内に送給すると共にファ
ンμｓを駆動して恒温槽（ｉｏ）内の温度を均一にする
。ここで恒温槽（１０）内の温度は制御部において設定
されｆＣ温変に保たれる。
従ってプリント基板の温度試験用として初期の調整、動
作確認が終ったままの状態、即ち結線したまま或は測定
状態で恒温槽Ｃｌ０）に入れることが可能であるため、
結線のつなぎ替えや試験器具の再設置等が゛不要となる
。装置全体として小型になるため高速信号や微小信号検
出も測定距離が短かくなるため可能となる。
作確認が終ったままの状態、即ち結線したまま或は測定
状態で恒温槽Ｃｌ０）に入れることが可能であるため、
結線のつなぎ替えや試験器具の再設置等が゛不要となる
。装置全体として小型になるため高速信号や微小信号検
出も測定距離が短かくなるため可能となる。
恒温淵部および制御部と恒温槽が分離されているため、
制御部、恒温淵部で発生するノイズが被試験体に加わら
なくなり、高速微小信号を扱うものまで試験が可能とな
る。
制御部、恒温淵部で発生するノイズが被試験体に加わら
なくなり、高速微小信号を扱うものまで試験が可能とな
る。
プリントカードはユニット盤に組込まれて使用されるの
が普通であるが、保守時、特定のカードのみ温度試験を
行ないながら、しかもユニット盤に組込んで動作させた
い時等にも対処できる。
が普通であるが、保守時、特定のカードのみ温度試験を
行ないながら、しかもユニット盤に組込んで動作させた
い時等にも対処できる。
種々の恒温淵部、制御部との組合せが可能であるため、
被試験体の熱容量に合せたものを選ぶことができる。
被試験体の熱容量に合せたものを選ぶことができる。
なお上記実施例では、恒温槽を２分割した例であるが、
８分割以上でもよく、互に形状寸法が異なっでもよい。
８分割以上でもよく、互に形状寸法が異なっでもよい。
また排気用の導管（１）は省略してもよい。
また測定用の貫通端子を各筐体（１０１） （１０２）
に設けると測定プローブ等の接続が容易となる。弾性部
材＠の半円形状にしてもよく、延長基板等を収納するも
のでは、弾性部材を大きくすればよい。
に設けると測定プローブ等の接続が容易となる。弾性部
材＠の半円形状にしてもよく、延長基板等を収納するも
のでは、弾性部材を大きくすればよい。
この発明による恒温装置は、恒温槽を分割可能に構成し
被試験体を試験用結線状態のままで収納できるようにし
たもので簡素な構成で試験が容易となる。
被試験体を試験用結線状態のままで収納できるようにし
たもので簡素な構成で試験が容易となる。
第１図は従来のこの種恒温装置を示す正面図、第２図は
この発明の一実施例を示す斜視図である。 図中、［１） （１０）は恒温槽、（２）は扉、（３）
は窓、（４）は恒温淵部、（５）は制御部、（１０１）
（１０２）は筐体、圓はシール材、（ロ）は弾性部材
、□□□は温度センサ、σＱはファン、αηは給気口、
四は排気口である。 代理人 大 岩 増 雄 第１図
この発明の一実施例を示す斜視図である。 図中、［１） （１０）は恒温槽、（２）は扉、（３）
は窓、（４）は恒温淵部、（５）は制御部、（１０１）
（１０２）は筐体、圓はシール材、（ロ）は弾性部材
、□□□は温度センサ、σＱはファン、αηは給気口、
四は排気口である。 代理人 大 岩 増 雄 第１図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 （１）相互に接離自在に当接される複数個の筐体からな
り、内部に被試験体を収納すると共に所定温度の気体が
送給され乙恒温槽、この恒温槽の各節“体の当接部の一
部に設けられ、上記被試験体への信号線等を気密状態で
通過させる弾性部材を備えた恒温装置。 （２）恒温槽には給気口と排気口が設けられている特許
請求の範囲第１項記載の恒温装置。 （８）恒温槽には温度センサが設けられている特許請求
の範囲第１項または第２項記載の恒温装置０
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11248584A JPS60253884A (ja) | 1984-05-30 | 1984-05-30 | 恒温装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11248584A JPS60253884A (ja) | 1984-05-30 | 1984-05-30 | 恒温装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60253884A true JPS60253884A (ja) | 1985-12-14 |
Family
ID=14587820
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11248584A Pending JPS60253884A (ja) | 1984-05-30 | 1984-05-30 | 恒温装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60253884A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02101251U (ja) * | 1989-01-27 | 1990-08-13 | ||
| JPH0376182U (ja) * | 1989-11-27 | 1991-07-30 | ||
| JPH0718249U (ja) * | 1993-09-03 | 1995-03-31 | タバイエスペック株式会社 | 開口を備えた扉付き環境試験装置 |
| JP2009530588A (ja) * | 2006-03-20 | 2009-08-27 | テンプトロニック コーポレイション | 温度チャンバ及び温度制御システムならびに自動閉鎖ケーブル貫通モジュール |
| CN106016887A (zh) * | 2016-05-13 | 2016-10-12 | 国家***第三海洋研究所 | 一种海冰冻融过程实验室内模拟*** |
-
1984
- 1984-05-30 JP JP11248584A patent/JPS60253884A/ja active Pending
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02101251U (ja) * | 1989-01-27 | 1990-08-13 | ||
| JPH0376182U (ja) * | 1989-11-27 | 1991-07-30 | ||
| JPH0718249U (ja) * | 1993-09-03 | 1995-03-31 | タバイエスペック株式会社 | 開口を備えた扉付き環境試験装置 |
| JP2009530588A (ja) * | 2006-03-20 | 2009-08-27 | テンプトロニック コーポレイション | 温度チャンバ及び温度制御システムならびに自動閉鎖ケーブル貫通モジュール |
| US8408020B2 (en) | 2006-03-20 | 2013-04-02 | Temptronic Corporation | Temperature-controlled enclosures and temperature control system using the same |
| US10060668B2 (en) | 2006-03-20 | 2018-08-28 | Temptronic Corporation | Temperature-controlled enclosures and temperature control system using the same |
| CN106016887A (zh) * | 2016-05-13 | 2016-10-12 | 国家***第三海洋研究所 | 一种海冰冻融过程实验室内模拟*** |
| CN106016887B (zh) * | 2016-05-13 | 2018-06-22 | 国家***第三海洋研究所 | 一种海冰冻融过程实验室内模拟*** |
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