JPS6039573A - 電子部品温度試験装置 - Google Patents
電子部品温度試験装置Info
- Publication number
- JPS6039573A JPS6039573A JP58147597A JP14759783A JPS6039573A JP S6039573 A JPS6039573 A JP S6039573A JP 58147597 A JP58147597 A JP 58147597A JP 14759783 A JP14759783 A JP 14759783A JP S6039573 A JPS6039573 A JP S6039573A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit board
- printed circuit
- temperature
- damper
- device side
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
この発明は軍、子部品の温度試験装置に関するものであ
るっ 〔従来技術〕 従来この棟の装置として第1図に示すものかあつた。図
において(1)は温度試験装置、旧)は冷却コイル、Q
望は加熱ヒータ、(13)はダンパ、a→は冷風用の送
風ファン、αOは熱風用の送風ファン、αQは扉、tt
nif:観測用窓、121 II it 子部品用シャ
ーシー、(31ハブリント基板であるう温度試験装置+
11の外壁とダンパ11:1、扉anで区切られる空間
が恒温槽を形成し、冷却コイルαυとファンQ4とで冷
却装置6ヲ構成し、加熱ヒータ(2)とファンαQによ
シ加熱装置f:柘成する。
るっ 〔従来技術〕 従来この棟の装置として第1図に示すものかあつた。図
において(1)は温度試験装置、旧)は冷却コイル、Q
望は加熱ヒータ、(13)はダンパ、a→は冷風用の送
風ファン、αOは熱風用の送風ファン、αQは扉、tt
nif:観測用窓、121 II it 子部品用シャ
ーシー、(31ハブリント基板であるう温度試験装置+
11の外壁とダンパ11:1、扉anで区切られる空間
が恒温槽を形成し、冷却コイルαυとファンQ4とで冷
却装置6ヲ構成し、加熱ヒータ(2)とファンαQによ
シ加熱装置f:柘成する。
゛電子部品の温度特性は低温、常温、高温のそれぞれの
状態において測定する必要があり、低温と高温の状態で
の測定は温度試験装置(11内で行われる。
状態において測定する必要があり、低温と高温の状態で
の測定は温度試験装置(11内で行われる。
、第2図は温度試験装置はjの温度制御の一例を示す図
で、横軸は時間、縦軸は温度を示す。常温から低温にす
るには、第1図に示すように加熱装置側のダンパf13
1を閉鎖し、冷却装置側のダンパu31を開放し、冷却
コイル(1)によって冷却した空気をファンα◆によっ
てプリント基板に通す。指定の低温に達すると、冷却装
置側及び加熱装置側のダンパ(1濁の開閉によって温度
−節をイ]い、指定された低温を維持する。
で、横軸は時間、縦軸は温度を示す。常温から低温にす
るには、第1図に示すように加熱装置側のダンパf13
1を閉鎖し、冷却装置側のダンパu31を開放し、冷却
コイル(1)によって冷却した空気をファンα◆によっ
てプリント基板に通す。指定の低温に達すると、冷却装
置側及び加熱装置側のダンパ(1濁の開閉によって温度
−節をイ]い、指定された低温を維持する。
低温状態から高温状態に移るには一1冷却装置側のダン
パ(131を閉鎖し、力「熱装置側のダンパ(131を
開放し、加熱ヒータα埠で力0熱された空気をファン(
ト)によってプリント基板(31に送る。所定の高温に
達しこの高温を維持するには加熱装置側及び冷却装置側
のダンパの開閉によって制御する。
パ(131を閉鎖し、力「熱装置側のダンパ(131を
開放し、加熱ヒータα埠で力0熱された空気をファン(
ト)によってプリント基板(31に送る。所定の高温に
達しこの高温を維持するには加熱装置側及び冷却装置側
のダンパの開閉によって制御する。
従来の装置は以上のように構成されているので、プリン
ト基板13+の発熱量が多い場合は、これを冷却するた
め、冷却装置に余分のエネルギー全必要とするという欠
点があり、また温度降下の場合の勾配を指定曲りにする
ことができないという欠点があった。
ト基板13+の発熱量が多い場合は、これを冷却するた
め、冷却装置に余分のエネルギー全必要とするという欠
点があり、また温度降下の場合の勾配を指定曲りにする
ことができないという欠点があった。
この発tjI′Jは上記のような従来のものの欠点を除
去するためになされたもので、この発明では第1図に示
すプリント基板+31中から温度試験の対象となる部品
を含む回路だけを温度試験装置(11内に残し、他の部
分を装置外にうつすことによって、温度試験装置(11
内での発熱量を低減するのである。
去するためになされたもので、この発明では第1図に示
すプリント基板+31中から温度試験の対象となる部品
を含む回路だけを温度試験装置(11内に残し、他の部
分を装置外にうつすことによって、温度試験装置(11
内での発熱量を低減するのである。
第1図に示すプリント基板(3)内には試験対象となる
部分を含む回路と、この回路との間そ制御信号の入出力
を行うが、温度試験の対象となる部品の含まれてない回
路とが存在しており、これらが1体となってシャシ−1
21に収蔵されているため、シャシ−+2)に収蔵され
ているプリント基板金1体として温度試験を行っていた
ものであるが、これらを分離して、温度試験の対象とな
る部品を含むプリント基板だけを温度試験すればよいこ
とは申すまでもない。
部分を含む回路と、この回路との間そ制御信号の入出力
を行うが、温度試験の対象となる部品の含まれてない回
路とが存在しており、これらが1体となってシャシ−1
21に収蔵されているため、シャシ−+2)に収蔵され
ているプリント基板金1体として温度試験を行っていた
ものであるが、これらを分離して、温度試験の対象とな
る部品を含むプリント基板だけを温度試験すればよいこ
とは申すまでもない。
密閉筐体内の温度上昇をΔTとすると
6122971kg +rcpV・・・(1) である
。ここにΣQは内部発熱量(kcat/hr )、kは
筺体の熱通過率(kcat/m2hr ℃)、8は各筐
体壁の面積<m2)、rは空気の比重量(kg/m3)
、Cは空気の定圧比熱(kcat/kr℃)、■は換気
風量で与えられるが、ΣQ’t−低減することによって
冷却(Δ’l’<O) の際に必要とする風量Vt−減
少して省エネルギー効果をあげることができる。
。ここにΣQは内部発熱量(kcat/hr )、kは
筺体の熱通過率(kcat/m2hr ℃)、8は各筐
体壁の面積<m2)、rは空気の比重量(kg/m3)
、Cは空気の定圧比熱(kcat/kr℃)、■は換気
風量で与えられるが、ΣQ’t−低減することによって
冷却(Δ’l’<O) の際に必要とする風量Vt−減
少して省エネルギー効果をあげることができる。
以下この発明の実施例を図面について説明する。
第3図はこの発明の一実施例を示す説明図であシ、第1
図と同一符号は同−又は相当部分を示し、aυは温度試
験装置(1)と電子部分用シャーシ(2)の換気を防止
するカバー、(21)Itバッグボード基板、(22)
はコネクタ、(31)線試験の対象となる電子部品が装
着されたプリント基板、(32)はプリント基板(31
)の回路の制御部が装着されたプリント基板である。第
4図は温度試験の試験対象となる電子部品を含む回路と
、この回路を制御する制御部との構成を示すブロック図
であって、(41は電子部品部、(51は電子部品部(
41の駆動用ライン、(61はボート、(7)はCPU
部、181はアドレスバス、(9)はデータバスである
。
図と同一符号は同−又は相当部分を示し、aυは温度試
験装置(1)と電子部分用シャーシ(2)の換気を防止
するカバー、(21)Itバッグボード基板、(22)
はコネクタ、(31)線試験の対象となる電子部品が装
着されたプリント基板、(32)はプリント基板(31
)の回路の制御部が装着されたプリント基板である。第
4図は温度試験の試験対象となる電子部品を含む回路と
、この回路を制御する制御部との構成を示すブロック図
であって、(41は電子部品部、(51は電子部品部(
41の駆動用ライン、(61はボート、(7)はCPU
部、181はアドレスバス、(9)はデータバスである
。
′電子部品部(41がプリント基板(31)に相当し、
其他の部分がプリント基板(32)に相当し、駆動用ラ
イン(5)はコイ、フタ(22)を介して電子部品部(
41とポーN61とを接続する。バンクボード基板(2
1)とカバー〇81は恒温槽の内外(温度試験装置(1
)の槽の内外)を熱的に絶縁する。。従って、式il+
における総発熱量ΣQは、プリント基板(31)とプリ
ント基板(32)のそれぞれの発熱量ΣQ1とΣQ2と
に分離されΣQ 十ΣQ2=ΣQ・・・+21 である
から、恒温槽内の発熱量はΣQ2 だけ減少したことに
なり、それだけ冷却装置のエネルギーを節約することが
できる。
其他の部分がプリント基板(32)に相当し、駆動用ラ
イン(5)はコイ、フタ(22)を介して電子部品部(
41とポーN61とを接続する。バンクボード基板(2
1)とカバー〇81は恒温槽の内外(温度試験装置(1
)の槽の内外)を熱的に絶縁する。。従って、式il+
における総発熱量ΣQは、プリント基板(31)とプリ
ント基板(32)のそれぞれの発熱量ΣQ1とΣQ2と
に分離されΣQ 十ΣQ2=ΣQ・・・+21 である
から、恒温槽内の発熱量はΣQ2 だけ減少したことに
なり、それだけ冷却装置のエネルギーを節約することが
できる。
以上のようにこの発明によれば、温度試験の対象である
電子部品が装着され/こプリント基板だけを恒温槽内に
収蔵したので、冷却装置に対し省エネルギー効果を得る
ことができる。
電子部品が装着され/こプリント基板だけを恒温槽内に
収蔵したので、冷却装置に対し省エネルギー効果を得る
ことができる。
第1図は従来の装置を示す説明図、第2図は温度制御の
一例を示す図、第3図はこの発明の一実施例を示す説明
図、第4図は温度試験の試験対象となる電子部品金倉む
回路と、この回路’fr: 1till 1b+:する
制御部との構成を示すブロック図である。 +11・・・温度試験装置、(111・・・冷却コイル
、α→・・・加熱ヒータ、峙・・・ダンパ、α◆、αυ
・・・それぞれファン、uトー・カバー 、(21)・
・・バックボード基板、(22)・・・コネクタ、(3
1)・・・試験の対象となる電子部品が装着されたプリ
ント基板、(32)・・・制御部が装着されたプリント
基板。 尚、各図中同一符号は同−又は相当部分を示す。 代理人 大岩増雄 第1図 第2図 時間 第3図 第4図
一例を示す図、第3図はこの発明の一実施例を示す説明
図、第4図は温度試験の試験対象となる電子部品金倉む
回路と、この回路’fr: 1till 1b+:する
制御部との構成を示すブロック図である。 +11・・・温度試験装置、(111・・・冷却コイル
、α→・・・加熱ヒータ、峙・・・ダンパ、α◆、αυ
・・・それぞれファン、uトー・カバー 、(21)・
・・バックボード基板、(22)・・・コネクタ、(3
1)・・・試験の対象となる電子部品が装着されたプリ
ント基板、(32)・・・制御部が装着されたプリント
基板。 尚、各図中同一符号は同−又は相当部分を示す。 代理人 大岩増雄 第1図 第2図 時間 第3図 第4図
Claims (1)
- 温度試験の対象となる電子部品が装着されたプリント基
板を収蔵する恒温槽と、この恒温槽の温度を所定の温度
範囲内において任意の温度に保持するだめの冷却装置及
び力l熱装置と、上記プリント基板に接続される電線を
上記恒温槽外に導出し上記プリント基板に接続すべき電
気回路を接続するに適した構造に形成した接続装置とを
備えた電子部品温度試験装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58147597A JPS6039573A (ja) | 1983-08-12 | 1983-08-12 | 電子部品温度試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58147597A JPS6039573A (ja) | 1983-08-12 | 1983-08-12 | 電子部品温度試験装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6039573A true JPS6039573A (ja) | 1985-03-01 |
Family
ID=15433940
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP58147597A Pending JPS6039573A (ja) | 1983-08-12 | 1983-08-12 | 電子部品温度試験装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6039573A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62102178U (ja) * | 1985-12-18 | 1987-06-29 | ||
JPS63158472A (ja) * | 1986-12-23 | 1988-07-01 | Orion Mach Co Ltd | 冷熱衝撃試験装置 |
US5195384A (en) * | 1991-01-28 | 1993-03-23 | Duesler Jr Ira D | Environmental stress screening device transfer apparatus |
US20200064207A1 (en) * | 2018-08-24 | 2020-02-27 | Siemens Industry, Inc. | Temperature sensor of thermal monitoring system for use in power distribution systems |
US20220074795A1 (en) * | 2018-12-25 | 2022-03-10 | Ozyegin Universitesi | System for measuring junction temperature of photonics devices |
-
1983
- 1983-08-12 JP JP58147597A patent/JPS6039573A/ja active Pending
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62102178U (ja) * | 1985-12-18 | 1987-06-29 | ||
JPS63158472A (ja) * | 1986-12-23 | 1988-07-01 | Orion Mach Co Ltd | 冷熱衝撃試験装置 |
US5195384A (en) * | 1991-01-28 | 1993-03-23 | Duesler Jr Ira D | Environmental stress screening device transfer apparatus |
US20200064207A1 (en) * | 2018-08-24 | 2020-02-27 | Siemens Industry, Inc. | Temperature sensor of thermal monitoring system for use in power distribution systems |
US10852198B2 (en) * | 2018-08-24 | 2020-12-01 | Siemens Industry, Inc. | Temperature sensor of thermal monitoring system for use in power distribution systems |
US20220074795A1 (en) * | 2018-12-25 | 2022-03-10 | Ozyegin Universitesi | System for measuring junction temperature of photonics devices |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPH07270303A (ja) | 環境試験装置 | |
CN101852551B (zh) | 用于对电子元器件进行高温测试的炉 | |
KR102092830B1 (ko) | 밀폐공간에서 내부열 배출을 위한 방열장치를 구비한 방수 가능 전자장치용 하우징 및 그 하우징을 이용한 방열방법 | |
KR100742291B1 (ko) | 메모리모듈 검사용 냉/온기 발생장치 | |
JPS6039573A (ja) | 電子部品温度試験装置 | |
JP4815466B2 (ja) | 環境試験装置 | |
JPH04320399A (ja) | 電子機器の冷却装置 | |
JPH0322579B2 (ja) | ||
CN110779748A (zh) | 多温区运输制冷机组性能测试试验装置及测试方法 | |
JPH05157676A (ja) | 冷熱湿度衝撃試験機 | |
JP2014025861A (ja) | 環境試験装器連結システム | |
CN115151110A (zh) | 液冷数据中心测试设备及液冷数据中心测试*** | |
CN112023988B (zh) | 电子产品的恒温测试箱 | |
CN113432730A (zh) | 一种防结霜低温面源黑体 | |
KR100814414B1 (ko) | 발열량 측정장치 및 방법 | |
JPS58196025A (ja) | 半導体等のエ−ジング装置 | |
JPH08219630A (ja) | 恒温槽 | |
JP2000004090A (ja) | 電子機器筐体の熱交換装置 | |
JPH0247483Y2 (ja) | ||
JPH08146097A (ja) | 半導体ic試験装置用一体型密閉筐体冷却装置 | |
CN219802946U (zh) | 一种用于芯片老化测试***的电源及驱动板冷却机构 | |
JP3364711B2 (ja) | 環境試験装置 | |
JPS63158472A (ja) | 冷熱衝撃試験装置 | |
JPH03137707A (ja) | 発熱試料処理用恒温器の温度制御方法 | |
JPS63188757A (ja) | 恒温槽 |