JPS60198438A - ガラス瓶の欠陥検査方法およびその装置 - Google Patents

ガラス瓶の欠陥検査方法およびその装置

Info

Publication number
JPS60198438A
JPS60198438A JP5465884A JP5465884A JPS60198438A JP S60198438 A JPS60198438 A JP S60198438A JP 5465884 A JP5465884 A JP 5465884A JP 5465884 A JP5465884 A JP 5465884A JP S60198438 A JPS60198438 A JP S60198438A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
bottle
light
inspected
source
rotating
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP5465884A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0423746B2 (ja
Inventor
Yukio Saito
之男 斎藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kamaya Kagaku Kogyo Co Ltd
Original Assignee
Kamaya Kagaku Kogyo Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Kamaya Kagaku Kogyo Co Ltd filed Critical Kamaya Kagaku Kogyo Co Ltd
Priority to JP5465884A priority Critical patent/JPS60198438A/ja
Publication of JPS60198438A publication Critical patent/JPS60198438A/ja
Publication of JPH0423746B2 publication Critical patent/JPH0423746B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/90Investigating the presence of flaws or contamination in a container or its contents
    • G01N21/9072Investigating the presence of flaws or contamination in a container or its contents with illumination or detection from inside the container
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/90Investigating the presence of flaws or contamination in a container or its contents
    • G01N21/9054Inspection of sealing surface and container finish

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 「産業上の利用分野」 不発明は、透光性を旬するガラス瓶の欠陥を光学的に検
査するガラス瓶の欠陥検査方法およびその装置に関する
「従来技術」 ガラス瓶の欠陥の中でも、一般に「びり」と称されてい
るひび@れな検査する方法として、列えは瓶の被検査部
分に対し外Sから″f’s照射し、そこに欠陥が存在丁
ればその欠陥部分により発生丁る異常反射光を・受光装
置で捉らえることによって、その欠陥のM無を判別Tる
方法が知られている。
しかしながら、このように外部から光を照射する方法で
は、・吟にヲ丸口の外周におねじやリングなどが設けら
れている場合、これらが凹凸面ケ形成するため、その部
分の表口で照射光が乱反射する帖釆、それらの乱反射光
が受光装置にノイズとししまうなどの現象により、欠陥
部だけを種度よ(判別することは困難であった。
そこで、元?被横歪瓶の口元から内部に投光し、外部に
配した受光装置で異盾反射光な受光する方法も提案され
ているが、この方法では瓶口が小さくなるにしたが(・
投光口」並は範囲も伏(なるため、瓶口の人ささによっ
てはこれt光分な範囲にわたって横歪することができは
いはn)りでなく、瓶の胴部やj弐部などの部分につい
ては当然ながら検査子0]能であった。
[発明の目+J′XIJ 本発明は、以上のような点を考慮して/:cされたもの
で、ねじ部やリング部あるいはその近1労に発生してい
る判別困難な大小の欠陥(びり)を篩種度に検知でき、
かつfBt検介瓶全不にったって充分に横歪し得るガラ
ス瓶の欠陥t4I1食力法およびその装置を提供しよう
とするものである。
「発明の構成」 本発明によるガラス瓶の犬薗慣正号法は、光源と光学的
に接続され、た導光筒の出光部を破・演f瓶内に挿入し
、その出光部fi)ら破イ9tf:瓶の内面に向けて収
束光を照射し、M検f)vi、の外部に出た元を受光し
てこ7′t、を電気信号に変換する受光装置の出力に基
づいて破横歪栽の欠陥を瑛′J41するガラス瓶の欠陥
検査方法であって、1u=a仮検査瓶をその中心軸回り
に回転させる工程と、1lJdピ収束尤による照射位置
を被検査瓶の局方間に病って回転させる工程と、8iJ
記収束元による照射1q酋を被検査瓶の軸方向に浴って
移動させる工程とな勺する点に特徴がある。また、この
方法?実施するための装置としては、被検IIf瓶をそ
の中心軸回りに回転させるための駆動装置付きターンテ
ーブルと、被検盆瓶の1=方に配され、昇14装置によ
って被検査瓶の中心軸方向に昇14移jd叶n目な司励
台と、一端が光源に接続され他端が目「記EiJ動台に
ホルダをブrして1幽1定された光学ファイバと、この
光学ファイバと光学的に接続された状態で自オの軸回り
に回転自在なように削i己口」動台に文飾され、かつ1
元源からの元なm恢食瓶内に導いてそこから収束光とし
て照射するための出光部をMする導光筒と、この噂元向
をその軸回りに回転させるための駆動モータと、被検査
瓶の外部に出た元を受光してこれ馨畦気信号に変懐する
受光装置とを真向する構成である。
「実施例」 以下、本発明を図面に示す実類例に基づいて詳述する。
第1図は、不発明による方法を実施する際に利用される
装置の具体列を示すもので、同図におい℃符号lは、被
検査瓶Aiその縦中心軸回りに回転させるためのターン
テーブルであ6゜このターンテーブル1は、実/M例で
は回1蔽軸2?有し、この回転軸2には、=Sモータ3
の出刃11111に設けられたビニオン4と一合するギ
ヤ5が設けられている。また、ターンテーブルlよには
破模f瓶Aiターンテーブルlの回転中心tにii’L
 t#を決ぬするためのガイドs6が設けられている。
被検査瓶Aの上方には、昇v4嫉置7によって被検査瓶
Aの中心軸方向に昇降移動用叱なり動台8が設けられる
。昇降装置d7は、oT!glI台8の一部に設けられ
たねじ穴7aと、このねじ穴7aに螺合するねじ棒7b
と、このねじV47bを回転駆動するモータ7Cとから
構成される。なH1川動台8は図示しないガイド機悔に
よりねじ俸7bの軸回りの回転を規制された状態でねじ
褌7bの軸方向にのみ摺動可能に支持される。
可動金8には、一端が光源9に接続さに1.た光学ファ
イバlOの他端がファイバホルダllt’弁して固定さ
れる。そしてさらに、この動台台8には、光学ファイバ
lOと光学旧に接続さtl、た状態で目身の一1回りに
回転自在なようにベアリング12およびターンホルダ1
3を介して支持される4光筒J4が設けられる。この纏
yt、簡j4を支持するターンホルダ】3にはギヤ15
が設けられ、このギヤ15に歯合するビニオン16t’
4Wする=励モータ17が可動台8に収り付けられる。
尋九向14は、破+fA査瓶A内に挿入可能な外径に形
成され。
七の先端m(図中下端部)には光源fJ)ら尋いた光を
収、東元として1v倹食瓶の内面へ同ばである所定の角
度で照射するための出光部が設けられる。そして、仮模
f瓶への周囲のうち予め決められた位置に、丁なわ)破
倹責瓶Aに欠陥が存在するとざの反射光を受光し得るよ
うは1q置に1元1変換素子?内戚する受光装置M18
が配される、この受光装置】8としては、平面的に配列
された多くの微小な光硫変換素子(画素]をもついわゆ
る2次元エリアセンサなどが好適である。受光−$装置
18の111には8蒙に応じてスリット板や偏光板など
のフィルタ19が配される。フィルタ19が、配列され
た多数のスリットを有するスリット板である場合につい
て述べると、スリット自体の幅およびスリット相圧の間
隔等は、欠陥部よりの反射光の蘭面径とほぼ等しいか若
干人き目程度に設定さ比る。
受光装rt、18から出力される電気イぽ号は、特に図
示していないが、その電A信号レベルに基ついて欠陥の
判別を何はう醒子回路咎に県、@され、欠陥が存任丁れ
ば欠陥信号として取り出丁ことができるように設計され
る。
第2図は、Fjil記導元向14の出光部の構成例を示
すもので、4光筒14の先端開口を閉じる層脱自仕な栓
体14aが設けられ、また導光筒14の先端近くの周壁
には開口14bが設けられ、そして、FJi1日ピ栓体
14aの内14開に、光源からの尤げ)を屈折させて開
口14by+)も山元させるための反射鏡140が設け
られる。なR開口14bには、必要に応じ収束レンズや
偏光板などのフィルタ20が着脱川面なように取り付け
られる。ここで、反射鏡14Cの取付角度θとしては、
55°〜75゜の範囲が好ましいが、実験の結末65°
程嵐が最良であった。丁なわら、瓶A内面に対する入射
角が臨界角に近い40°程度のとき、欠陥部が最も良好
に検ガ1された。したがって、瓶入内聞の頑斜が!4な
る部分を横歪する場合には反射鏡14cの取付角度θを
それに対応させて変えた他の栓体14aと交換して使用
さrする。
以上のU口<構成された伏奔装置を4u用して破倹青瓶
んの欠陥を検査する場合について第1図を参照して述べ
る。
被横歪′tLNの例えばねじ部あたりを横倉丁石場合に
は、IK動モータ17の駆動により0]動台8の昇14
位置Y、J壷し、第1図に示す如(、導光筒8の出光部
を仮検査瓶A内におけるそのねじ部の近くに位置させ、
被検嚢胞への内面に向は収束光を照射する。そして、こ
の状態において被検萱瓶A(以下単に瓶Aと呼ぶ)なそ
の中心軸回りに、例えば図中矢印Pで示す方向に回転さ
せる。ここで、出′yt、部から照射された収束光は瓶
への被検青部分を透過し、その一部は受光装置により受
光されて邂気信号として出力されるが、この際、その被
検青部分に欠陥が存在しない場合には当然その欠陥信号
は出力されないが、欠陥が存在する場合には欠陥信号が
出力される。
第3図は瓶への被検を部分に存在している欠陥とその位
置平形状な示し、第4図はこの第3図の欠陥に対応して
得られた受光装置18(エリアセンサ)の出力を例示し
たものである。これらの図においてそれぞれ同一符号で
示されるものが互いに対応する欠陥とその出刃である。
ところで、瓶へのみ馨回転させた場合1次のような不具
合が生じることがある。t++えは第5図に示すように
出光部より照射された収束光(ロ)が瓶Aを透過する際
に欠陥■で反射されて反射光虻→の如(屈折した場合に
は受光装置1!t18の図示する位置ではその反射光ビ
1を受光することができない。そして瓶Aが矢印方向に
回転しても、収束光(ロ)の照射方向は一定であるため
今度は反射光が得られなくなり、何れにしても受光され
ない。したかつ王。
これを受光できるよう受光装置の数を増や丁必蒙がある
。このような不具合は反射光e1が′fgLAの周方向
に大きく屈折する場合のときだけでなく、瓶Aの軸方向
に人ざ(屈折した場合にも生じる。
しかるに、本発明によれば、導光筒」4自体も回転可能
′M、jび軸方向に移動可能に構成されているため、例
えば第5図において鎖線で示す如(導光筒14を回転さ
せることにより収束光(ロ)の照射方向?変えれば、そ
の欠陥■による反射光ヒイは受光装置18により受光さ
れることになる。
なお、4元鳩14をその軸方向に移動させてその出光部
化瓶への口元から底部まで往復後@させれば瓶へのほぼ
全体にわたって検査口]能となる。
また導光筒14を瓶Aの回転方向と逆方向に回転させれ
ばその分、横歪速度を早くすることが0]′能となる。
なお、瓶入を回転させるための駆動モータ3゜導光筒1
4を回転Sよび軸方向に移動させる駆動モータJ7およ
び7Cの駆動制御は、瓶への被検査部分に目励釣に朽応
するよう、予めプロゲラもングされた制御装置によりそ
れぞれ制御するようにしても良い。
以よ詳述したように、不発明によれば、導光筒の出光部
を被検査瓶内に挿入し、その出光部から被検査瓶の内面
に向けて収束光を照射し、被検査瓶の外部に出た光を受
光するようにしているのでねじ部やリングなどによる乱
反射光が効果的に抑制され、このため判別困難な部位に
ある大小の欠陥でも効果的に検知でさ、ざらに導光面自
体も回転および軸方向へ移動させるようにしているから
、被検査瓶全体にわたって光分に検査できるなどの優れ
た効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
第1図〜第5図は、不発・明の実施例を示すもので、第
1図は検f、装置の概略断面図、第2図は導光筒先端の
出光部の断面図、第3図は破Wl量瓶に存在する欠陥?
示す部分正面図、第4図は受光装置の出力電気イぎ号を
示す線図、第5図は欠陥による反射光例を示工作用説明
図である。 A・・・被検査瓶、l・・・ターンテーブル、3・・・
駆動モータ、7・・・昇降装置、8・・・可動金、9・
・・光源、10・・・光学ファイバ、11・・・ファイ
バホルダ、14・・・導光筒、17・・・駆動モータ、
18・・受光装置。 出1願人 f # 之 男 出願人 釜屋比学工粟休式会社

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 (1,)光源と光学的に嵌絖された等元部の出元部?被
    検査瓶内に挿入し、その出光部から被検査瓶の内面に向
    けて1置束元を照射し、被1411嚢胞の4肯Sに出た
    光を受光してこれを1気偏すに変換する受光装置の出力
    に基づいて仮伎會瓶の欠陥を慣矧するガラス瓶の欠陥+
    4J1食方法であって、m+1把破検被検をその中心軸
    回りに回転さ忙る工程と、削記収束元による照射位置を
    被検f瓶の周方向に清って回転させる工程と、811記
    収束光による照射へ7置を被検f瓶の軸方向に旧って4
    4−励させる工程とをMするガラス瓶の欠陥検査方法。 。 (2,) M*fJ氏を七の中心軸回りに回転させるた
    めの駆動装置付きターンテーブルと、破+9を嚢胞の上
    方に配され、昇14装置によって被検査瓶の中心軸方向
    に昇降移動aJ舵なuJ制動台、−喘が光源に接続され
    他端が前記可動台にホルダを弁して固定された光学ファ
    イバと、この光学ファイバと光学的に接続された状態で
    自身の軸回りに回転自任なように前記可動台に交付され
    、かつ、光源からの元?被$を査瓶内に導いてそこから
    収束光として照射するための出光部を有する尋光筒と、
    この4元向をその軸回りに回転させるための駆動モータ
    と、被検査瓶の外部に出た光を受光してこれをa気偏号
    に変換する受光装置とを具備するガラス瓶の欠陥検査方
    法。
JP5465884A 1984-03-22 1984-03-22 ガラス瓶の欠陥検査方法およびその装置 Granted JPS60198438A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5465884A JPS60198438A (ja) 1984-03-22 1984-03-22 ガラス瓶の欠陥検査方法およびその装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5465884A JPS60198438A (ja) 1984-03-22 1984-03-22 ガラス瓶の欠陥検査方法およびその装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS60198438A true JPS60198438A (ja) 1985-10-07
JPH0423746B2 JPH0423746B2 (ja) 1992-04-23

Family

ID=12976883

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP5465884A Granted JPS60198438A (ja) 1984-03-22 1984-03-22 ガラス瓶の欠陥検査方法およびその装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS60198438A (ja)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01107140A (ja) * 1987-07-21 1989-04-25 Emhart Ind Inc 製品漏洩検査装置
JPH0298608A (ja) * 1988-10-06 1990-04-11 Dainippon Printing Co Ltd 合成樹脂製容器の肉厚検査装置
FR2719119A1 (fr) * 1994-04-20 1995-10-27 Souchon Neuvesel Verreries Dispositif pour détecter par traitement d'images des défauts réfléchissant la lumière et présentés par un objet creux transparent.
JP2009085597A (ja) * 2007-09-27 2009-04-23 Toyo Seikan Kaisha Ltd 検査装置及び検査方法
JP2010054231A (ja) * 2008-08-26 2010-03-11 Kirin Techno-System Co Ltd 異物検査装置及び異物検査システム
JP2015096858A (ja) * 2013-07-17 2015-05-21 キリンテクノシステム株式会社 容器の検査装置

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4733351U (ja) * 1971-05-06 1972-12-14
JPS52135788A (en) * 1976-05-07 1977-11-14 Sony Corp Detection of impurities

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4733351U (ja) * 1971-05-06 1972-12-14
JPS52135788A (en) * 1976-05-07 1977-11-14 Sony Corp Detection of impurities

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01107140A (ja) * 1987-07-21 1989-04-25 Emhart Ind Inc 製品漏洩検査装置
JPH0298608A (ja) * 1988-10-06 1990-04-11 Dainippon Printing Co Ltd 合成樹脂製容器の肉厚検査装置
FR2719119A1 (fr) * 1994-04-20 1995-10-27 Souchon Neuvesel Verreries Dispositif pour détecter par traitement d'images des défauts réfléchissant la lumière et présentés par un objet creux transparent.
JP2009085597A (ja) * 2007-09-27 2009-04-23 Toyo Seikan Kaisha Ltd 検査装置及び検査方法
JP2010054231A (ja) * 2008-08-26 2010-03-11 Kirin Techno-System Co Ltd 異物検査装置及び異物検査システム
JP2015096858A (ja) * 2013-07-17 2015-05-21 キリンテクノシステム株式会社 容器の検査装置

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0423746B2 (ja) 1992-04-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3698637B2 (ja) 容器のネックのひび割れの検出
US6294793B1 (en) High speed optical inspection apparatus for a transparent disk using gaussian distribution analysis and method therefor
CA1245200A (en) Lighting device for inspecting objects for flaws
US6621569B2 (en) Illuminator for machine vision
JPH03125947A (ja) ビン等の開口部を検査するための装置
CN1090323C (zh) 透明或半透明容器的检验方法
JP2019045470A (ja) 外観検査装置及びその方法
JPS60198438A (ja) ガラス瓶の欠陥検査方法およびその装置
CN212301367U (zh) 一种镜片检测装置
US3180994A (en) Method and apparatus for inspecting glass containers
JPH0386249A (ja) 石英ルツボの光学的非破壊検査法とその装置
WO2022107470A1 (ja) 検査装置及び検査方法
JP3618545B2 (ja) 欠陥検査方法
JPH02116742A (ja) ガラス瓶の欠陥検査装置
JP2021110674A (ja) ボア内面の検査方法及び検査装置
CN220438126U (zh) 一种瓶体瑕疵的检测装置
JPH09288063A (ja) 透明基板の傷検査装置
JPH11287764A (ja) 欠陥検査方法
JPH1062359A (ja) 欠陥検査方法およびその装置
JP2525846B2 (ja) 表面欠陥検査装置
JPS5928858B2 (ja) 壜底傷検査方法
CA1214260A (en) High resolution electronic automatic imaging and inspection system
JP2012063223A (ja) 表面検査装置
JPH08271240A (ja) 中空糸モジュールの検査装置および中空糸モジュールの検査方法
KR100842509B1 (ko) 웨이퍼 표면검사를 위한 레이저 스캐닝장치