JPS6018769A - 電力ケ−ブルの絶縁劣化測定方法 - Google Patents

電力ケ−ブルの絶縁劣化測定方法

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JPS6018769A
JPS6018769A JP12597383A JP12597383A JPS6018769A JP S6018769 A JPS6018769 A JP S6018769A JP 12597383 A JP12597383 A JP 12597383A JP 12597383 A JP12597383 A JP 12597383A JP S6018769 A JPS6018769 A JP S6018769A
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JP
Japan
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cable
current
insulator
measured
voltage
Prior art date
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JP12597383A
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JPH0423224B2 (ja
Inventor
Yasumitsu Ebinuma
康光 海老沼
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SWCC Corp
Original Assignee
Showa Electric Wire and Cable Co
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (発明の技術分野) 不発明は、電カケーブルの絶縁状態を判断する几めに用
いられる電カケーブルの絶縁劣化測定方法に関する。
(発明の技術的背景) この椙の測定方法としては、誘電緩和現象全利用する誘
電正接測定法が知られている。
この測定法は、被測定ケーブルに商用周波交流電圧を印
加し、標準コンデンサを組み込んだシエーリング会ブリ
ッジのφ衡をとるこによりtan gをめ、このjan
 8からケーブルの絶縁状態を利足する方法である。
(背景技術の問題点) しかし、この測定法では、破測冗ケーブルが長尺化し、
ケーブルに大きな光′WL電流を流す8賛が生じると、
商用周波交流電圧を利用するため、容量の大きな変圧器
等の電源装置、即ち大形で重量の大きな電源装置を用意
しなければならない。また、このように商用周波数電圧
を利用すると、被測定ケーブルと並行する他の同一周波
利用ケーブルからのm磁誘導や近接する架空線からの静
電誘導により測定回路に誘導電圧が誘起されてしまい、
従って、測定誤差が生じてしまう。
(発明の目的) 不発明の目的は、小形の電源装置を用いて、しかも他の
活線からの影41を受けずに正確に絶縁測定全行うこと
ができる盲、カケ−プルの絶縁劣化測定方法を提供する
ことにある。
(発明の概要) 不発明は、商用周波交流電圧ではなく、直流電源により
時間的に比例して上昇する直流電圧を被測定ケーブルの
絶縁体に印77I] L 、この絶縁体に徐々に増加し
て流れる電流の変化量とケーブルの静電容量で決まる充
電電流とを測定し、これらの測定値から従来のtan 
gに対応する童をめることを特徴とする。 − (発明の実施例) 以下、本発明の実施例を図面を参照して説明する。
第1図には不発明に係る測定方法に用いる装置の一例が
示され、測定すべき電カケーブルの絶縁体1はCR’(
r並列接続して成る等価回路で表わされている。
即ち、Rは?!縁体1の絶縁低抗を、又Cはケーブル自
体の靜宵容−1t’にそれぞれ示している。この絶縁体
1には直流電源2と電流測定回路3とが直列に接続され
ている。電流測定回路3はマイクロコンピュータ4と接
続され、その測定電流値が入力されるようになっている
マイクロコンピュータ4は後に述べる演算ヲ行い、かつ
制御回路として直流電源2の出力電圧を制御する。
本発明に係る測定方法は、マイクロコンピュータ4の制
御NIr作により直流電源2から時間に比例して上昇す
るfc流電圧を出力させ、この直流電圧′(i″F3縁
体1に印加する。この直流電圧は、時間tの関数として
、■=αtで表わすことができる。
但し、αは定数である。
このように絶縁体1に両流電圧V=αtを印加すると、
絶縁体1には、第2図に示すように、Rで決まるiVi
流IRと、Cで決まる充電電流ICとの合成電流■が流
れる。電流IRと充電電流ICは、次式で示す値になる
■R−−N−−−一α RRt・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
・・11C−」−(α1−C)α0曲・・四−叩…・ 
2t 従って合成電流■は、これらが加算さ几たものとなり、
次式で示す値になる。
□α ■=αC+ t・・・・・・・・・・・・・−・・・・
・・・・・・・・・・・・・・・・・3上記した充を電
流ICと合成電流Iとは電流測定回fjP13にて測定
され、それぞれマイクロコンピュータ4に入力される。
マイクロコンピュータ4は合成電IAt、 Iの入力で
、その直流電圧変化に伴う変化量を演算する。即ち、 1 (−−)=”−・・・・・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・・・・4at R 乞演算する。
そして、マイクロコンピュータ4は、この演算結果を利
用して、更にこの変化量と充電電流ICとの比をめる。
x <−−−−) / i C−−−/αC−1・・・・・
・・・・・・・5dt RCR 尚、充電を流ICは理論的には限りなく小さい時間t→
()での電流値になるので、 Ic =I (t=o)=αC・・・・・・・・・・・
・・・・・・ 6の如く算出することができるが、実際
には安定するまで2〜3秒位かかるので、絶縁体1に電
圧を印加して2〜3秒後の電流値をICとして利用する
。さて5式でめた値1/CRは、従来のtanSが1/
 CRで表わすことができることから、このjan 3
に比例しているのが判る。
従って、この値1 /CRの大小によって従来同様に絶
縁体1の絶縁の状態を判定することができる。
このように、不発明の測定方法では商用周波数を利用せ
ずに絶縁劣化測定を行うことができる。
ところで、最近、新しい原理に基づく電カケーブル絶縁
劣化判定装置が開発された。その原理は、直流電圧でケ
ーブルを充電、しt後、充電用電源を開放して、ケーブ
ルの自己放電による残留電圧の変化を調べてケーブルの
劣化を判定するものである。そして、この判定装置は、
マイクロコンピュータ制御により所定の電圧まで昇圧さ
れる直流電源を備えるので、直流電圧の昇圧過程におけ
る絶縁体1に流れる電流の変化量(4)式参照)を利用
し、かつマイクロコンピュータに前記演算プログラムを
入力するだけで、装置不米の直流もれ電流に対応する量
の測定と不発明の測定方法による測定とを実行すること
ができる。
従って、ケーブルの絶縁劣化全両面からとらえることが
可能になるので、複雑な市カケーブルの絶縁状態を精度
よく判断することができる。
(発明の効果) 不発明によれば、被測足ケーブルの絶縁体に時間に比例
して上昇する直流電圧を印訓し、絶縁体へ流れる電流の
変化量とケーブルの静電容量で決まる充電電流とを測定
すると共に従来のtan Sに対応する狛としてこれら
測定値の比の変化を調べることで、商用周波交流電圧を
利用することなく電カケーブルの絶縁劣化の判定を行う
ことができる。従って、誘導障害の無い、非常に精度の
高い測定結3I1.に基づく絶縁状態の判断が可能とな
る。
また、直流電圧を印刀口することから、小形化が容易な
直流電源を用いることができ、従って、被測足ケーブル
が長尺化されても電圧装置をそれほど大形化する必をが
ないので、測定現場への運搬や移動が容易であり、又峰
済的でもある。
【図面の簡単な説明】
第1図は不発明に係る測定方法に用いる装置の回路構成
図、第2図はケーブル絶縁体に流れる電流変化を示す線
図である。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 被測定ケーブルの絶縁体に、時間に比例して上昇する直
    流電圧ケ印馴し、前記絶縁体へ流れる電流の変化量及び
    前記ケーブルの静電容量で決まる充電電流を測定し、前
    記電流の変化量と前記充電電流との比の変化を調べるこ
    とf、特徴とする電カケーブルの絶縁劣化測定方法。
JP12597383A 1983-07-11 1983-07-11 電力ケ−ブルの絶縁劣化測定方法 Granted JPS6018769A (ja)

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JPS6018769A true JPS6018769A (ja) 1985-01-30
JPH0423224B2 JPH0423224B2 (ja) 1992-04-21

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03163369A (ja) * 1989-11-22 1991-07-15 Hitachi Ltd 加入者線路測定方法及びその測定装置

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03163369A (ja) * 1989-11-22 1991-07-15 Hitachi Ltd 加入者線路測定方法及びその測定装置

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JPH0423224B2 (ja) 1992-04-21

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