JPS60181641A - 産業用ｘ線断層撮影装置 - Google Patents
産業用ｘ線断層撮影装置Info
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- JPS60181641A JPS60181641A JP59037598A JP3759884A JPS60181641A JP S60181641 A JPS60181641 A JP S60181641A JP 59037598 A JP59037598 A JP 59037598A JP 3759884 A JP3759884 A JP 3759884A JP S60181641 A JPS60181641 A JP S60181641A
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- 238000003325 tomography Methods 0.000 claims description 12
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 3
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 3
- 238000001514 detection method Methods 0.000 abstract description 12
- 239000000428 dust Substances 0.000 abstract description 6
- 239000002184 metal Substances 0.000 abstract description 6
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 abstract description 6
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 6
- 239000004033 plastic Substances 0.000 abstract description 3
- 229920003023 plastic Polymers 0.000 abstract description 3
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 abstract 2
- 239000011819 refractory material Substances 0.000 description 6
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 6
- 230000005484 gravity Effects 0.000 description 4
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 4
- 229910001369 Brass Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010951 brass Substances 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 238000005192 partition Methods 0.000 description 2
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000001788 irregular Effects 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 238000009659 non-destructive testing Methods 0.000 description 1
- 230000000704 physical effect Effects 0.000 description 1
- 239000011148 porous material Substances 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/04—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
- G01N23/046—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material using tomography, e.g. computed tomography [CT]
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
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- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
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- General Health & Medical Sciences (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は産業用Ｘ線断層撮影装置に関する。
耐火物の被破壊検査は種々の方法で行なわれているか、
所定の断面を精密に４１１１定することは行なわれてい
ない。そこで、Ｘ線断層撮影装置を用いることか考えら
れる。
所定の断面を精密に４１１１定することは行なわれてい
ない。そこで、Ｘ線断層撮影装置を用いることか考えら
れる。
ところで、従来、Ｘ線断層撮影装置（以下、Ｘ線ＣＴ装
置と略称する）は主に人体検査用として使用され、産業
用としては応用されていなかった。これは以下のような
理由による。
置と略称する）は主に人体検査用として使用され、産業
用としては応用されていなかった。これは以下のような
理由による。
（１）医療用のＸ線ＣＴでは、人体のｃ Ｔ Ｍがほぼ
−１０００〜＋１０００（空気（７）ＣＴイｔｒｉを一
１ｏｏｏ、水のＣＴ値を０としたとき）の範囲であるこ
とと、人体被曝量をできるだけ抑えるという要請がある
ために、Ｘ線の最大出力は１２０ｋＶ、２００ｍＡ以下
であり、しかも短時間だけ照射を行なっている。このた
め、ＣＴ （１７ｊの高い耐火物、金属等は断層撮影が
できないことが多い。
−１０００〜＋１０００（空気（７）ＣＴイｔｒｉを一
１ｏｏｏ、水のＣＴ値を０としたとき）の範囲であるこ
とと、人体被曝量をできるだけ抑えるという要請がある
ために、Ｘ線の最大出力は１２０ｋＶ、２００ｍＡ以下
であり、しかも短時間だけ照射を行なっている。このた
め、ＣＴ （１７ｊの高い耐火物、金属等は断層撮影が
できないことが多い。
（２）被検体（患者）を動かすことは困難であるため、
被検体を静止状態とし、Ｘ線−省球及び検出部を被検体
の周りで回転させて断層撮影を行なう手法が確立されて
いる。しかし、Ｘ線管球と検出部との間に回転に伴なう
ブレが生じるため、耐火物製品のような異形状のもので
は測定精度が悪くなり、高品位の再構成画像を得ること
ができない。
被検体を静止状態とし、Ｘ線−省球及び検出部を被検体
の周りで回転させて断層撮影を行なう手法が確立されて
いる。しかし、Ｘ線管球と検出部との間に回転に伴なう
ブレが生じるため、耐火物製品のような異形状のもので
は測定精度が悪くなり、高品位の再構成画像を得ること
ができない。
（３）医療用のＸ線ＣＴは比較的清潔な環境下に設置さ
れているが、装置（特に検出部、演ａ部、計算機等）か
ら粉塵、振動を避けることが必要であるため、産業用に
応用するためには更に厳しい粉塵、振動対策を要求され
る。
れているが、装置（特に検出部、演ａ部、計算機等）か
ら粉塵、振動を避けることが必要であるため、産業用に
応用するためには更に厳しい粉塵、振動対策を要求され
る。
本発明は上記！ｌｒ情に鑑みてなされたものであり、従
来不ｎ（能であった耐火物、金属、ブラスチンク等の断
層像を得ることができる産業用Ｘ線断鳳撮影装置を提供
しようとするものである。
来不ｎ（能であった耐火物、金属、ブラスチンク等の断
層像を得ることができる産業用Ｘ線断鳳撮影装置を提供
しようとするものである。
すなわち本発明の産業用Ｘ線断層撮影装置は、Ｘ線照射
部、試ネ゛］室及び検査部をそれぞれ隔離し、前記Ｘ線
照射部に１２０ｋＶ、２００ｍＡ以１−の出力をイ９す
るＸ線源を設置するとともにｒｔｉＪ記試ネ゛ｌ室に被
検査物を回転させる機構を設けたことを特徴とするもの
である。
部、試ネ゛］室及び検査部をそれぞれ隔離し、前記Ｘ線
照射部に１２０ｋＶ、２００ｍＡ以１−の出力をイ９す
るＸ線源を設置するとともにｒｔｉＪ記試ネ゛ｌ室に被
検査物を回転させる機構を設けたことを特徴とするもの
である。
このような産業用Ｘ線断層撮影装必によれば。
出力が大きいことからＣＴ値の高い１耐大物等でも断層
撮影を行なうことができ、しかも被検査物の方を回°転
させる方式であるため、回転ブレによる＋Ｑｌ構成画像
の品位の低ドを避けることができる。
撮影を行なうことができ、しかも被検査物の方を回°転
させる方式であるため、回転ブレによる＋Ｑｌ構成画像
の品位の低ドを避けることができる。
また、Ｘ線照射部、試料室及び検査部かそれぞれ隔離さ
れているため、Ｉ場のような環境下でも粉塵を避けるこ
とができる。
れているため、Ｉ場のような環境下でも粉塵を避けるこ
とができる。
以ト、本発明の実施例を第１図及び第２図を°参照して
説明する。
説明する。
図中１は試ネ・１室であり、この試ネ゛［室ｌを挟んで
両側にＸ線照射部２と検出部３とが設けられている。こ
れら試料室１、Ｘ線照射部２及び検出部３はそれぞれ隔
離されている。
両側にＸ線照射部２と検出部３とが設けられている。こ
れら試料室１、Ｘ線照射部２及び検出部３はそれぞれ隔
離されている。
前記試料室１の中央にはカイｌ；’４．４〜に沿って水
平移動が１丁能な試料台５が設置されている。この試料
台５には」二下動Ｎ（能なテーブル６が取伺けられ、こ
のテーブル６上には被検査物を載せる回転台７が設けら
れている。また、試料室ｌの底部には振、動を防止する
ためにラバー８．８が配設されているわ また、Ｘ線照射部２には１２０ｋＶ、２００ｍＡ以」―
の出力を有するＸ線管球９が設置されている。Ｘ線はＸ
線照射部２と試料室ｌとの間の隔壁に設けられた照射窓
１０かも試料室ｌ内の回転台７十の被検査物を透過して
検出部３方向に照射される。また、！ＩＱ射窓１０の側
方には投光窓１１か設けられている。なお、操作時の状
態は図示しない試料出し入れ扉の窓から監視できるよう
になっている。 − Ｘ線省球９からのｘＶＡは試料室１と検出部３との間の
隔壁に設けられた検出′Ｉ：、１２かも検出部３内の検
出器１３にｊｊ４ｊ用され、検出器１３に接続された図
示しない、ｔ１９機”Ｊによって処理され、この結果断
層像を得ることができる。
平移動が１丁能な試料台５が設置されている。この試料
台５には」二下動Ｎ（能なテーブル６が取伺けられ、こ
のテーブル６上には被検査物を載せる回転台７が設けら
れている。また、試料室ｌの底部には振、動を防止する
ためにラバー８．８が配設されているわ また、Ｘ線照射部２には１２０ｋＶ、２００ｍＡ以」―
の出力を有するＸ線管球９が設置されている。Ｘ線はＸ
線照射部２と試料室ｌとの間の隔壁に設けられた照射窓
１０かも試料室ｌ内の回転台７十の被検査物を透過して
検出部３方向に照射される。また、！ＩＱ射窓１０の側
方には投光窓１１か設けられている。なお、操作時の状
態は図示しない試料出し入れ扉の窓から監視できるよう
になっている。 − Ｘ線省球９からのｘＶＡは試料室１と検出部３との間の
隔壁に設けられた検出′Ｉ：、１２かも検出部３内の検
出器１３にｊｊ４ｊ用され、検出器１３に接続された図
示しない、ｔ１９機”Ｊによって処理され、この結果断
層像を得ることができる。
しかして１．記Ｘ線ＣＴ装４によれば、Ｘ線省球９の出
力がｊ２０ｋＶ、２００ｍＡ以１−テあるので、ＣＴ値
が＋１ｏｏｏり＋８０００以上の耐火物、金属、ブラス
チンク等の断層撮影も可能である。また、回転台７トで
被検査物を回転させ、Ｘ線源及び検出器は固定されてい
るので、回転ブレの影響を避けて高品位のｉｆｆ構成画
像を得ることができる。史に、試料室１．Ｘ線照射部２
及び検出部３がそれぞれ隔頗されているので、粉塵等の
多い１．場等の環境ドでも使用することができる。また
、−試料室１の底部にラバー８．８を配設しているので
、振動対策も充分である。
力がｊ２０ｋＶ、２００ｍＡ以１−テあるので、ＣＴ値
が＋１ｏｏｏり＋８０００以上の耐火物、金属、ブラス
チンク等の断層撮影も可能である。また、回転台７トで
被検査物を回転させ、Ｘ線源及び検出器は固定されてい
るので、回転ブレの影響を避けて高品位のｉｆｆ構成画
像を得ることができる。史に、試料室１．Ｘ線照射部２
及び検出部３がそれぞれ隔頗されているので、粉塵等の
多い１．場等の環境ドでも使用することができる。また
、−試料室１の底部にラバー８．８を配設しているので
、振動対策も充分である。
実際にド記表に示すような耐火物の断層撮影を１ｒなっ
たところ、いずれの耐火物でも解析ｎｆ能で訊スー）−
Ｍ赫嶋−め１飴す− また、第３１ｄ（ａ）及び（ｂ）に示す高アルミナ質（
Ａ ｌ ２０３＞ ８０％）、カサ比重３．１０のスラ
イディングノズルのプレー）１４について、図中Ｘ−Ｘ
線に沿って断層撮影を行なったところ、断面中心部に亀
裂が認められた。
たところ、いずれの耐火物でも解析ｎｆ能で訊スー）−
Ｍ赫嶋−め１飴す− また、第３１ｄ（ａ）及び（ｂ）に示す高アルミナ質（
Ａ ｌ ２０３＞ ８０％）、カサ比重３．１０のスラ
イディングノズルのプレー）１４について、図中Ｘ−Ｘ
線に沿って断層撮影を行なったところ、断面中心部に亀
裂が認められた。
更に、ｘ−Ｘ線−に沿うＣＴ値と、第３図（ａ）及び（
ｂ）中斜線を施した部分から採取した試料について従来
の測定法により測定した見掛気イレト及びカサ比重とを
対応させて第４図に示す。なお、ＣＴ値の最大値は約＋
２３００であった。第４図から明らかなように、本発明
のＸ！！ａＣＴ装路により断面内の物性イ１へかほぼ予
測できることが確認された。
ｂ）中斜線を施した部分から採取した試料について従来
の測定法により測定した見掛気イレト及びカサ比重とを
対応させて第４図に示す。なお、ＣＴ値の最大値は約＋
２３００であった。第４図から明らかなように、本発明
のＸ！！ａＣＴ装路により断面内の物性イ１へかほぼ予
測できることが確認された。
以上詳述した如く本発明の産業用Ｘ線断層撮影装置によ
れは、耐火物、金属、プラスチフク等Ｖ）断層像を得る
ことができ、これらの物質の非破壊検査に人きく′＾゛
′ノするものである。
れは、耐火物、金属、プラスチフク等Ｖ）断層像を得る
ことができ、これらの物質の非破壊検査に人きく′＾゛
′ノするものである。
第１図は本発明の実施例におけるＸ線ＣＴ装置買のに四
Ｒ３を示すｒｒｉ而図面第２図は同装置の正面図、第３
１図（ａ）は１．記装置により測定されたスライプイン
グツスルのプレートの１ｊ−面図、同図（ｂ）は同１図
（ａ）の・１・＋ｒｔｉ ｌ閾、第４図は同プレートの
ＣＴイ的と従来の力法により測定された見掛気孔イｉ及
びカサ比重との関係を示す線図である。 ■・・・試料室、２・・・Ｘ線照射８１ｉ、３・・・検
出ｉ’ｆｌ（，４・・・カイ）・、５・・・試才Ｉ台、
６・・テーブル、７・・・回転台、８・・・ラバー、９
・・・Ｘ線管球、ｌＯ・・・Ｘ線照射窓、１１・・・投
光窓、１２・・・検出窓、１３・・・検出部、１４・・
・ブレーｌ−０
Ｒ３を示すｒｒｉ而図面第２図は同装置の正面図、第３
１図（ａ）は１．記装置により測定されたスライプイン
グツスルのプレートの１ｊ−面図、同図（ｂ）は同１図
（ａ）の・１・＋ｒｔｉ ｌ閾、第４図は同プレートの
ＣＴイ的と従来の力法により測定された見掛気孔イｉ及
びカサ比重との関係を示す線図である。 ■・・・試料室、２・・・Ｘ線照射８１ｉ、３・・・検
出ｉ’ｆｌ（，４・・・カイ）・、５・・・試才Ｉ台、
６・・テーブル、７・・・回転台、８・・・ラバー、９
・・・Ｘ線管球、ｌＯ・・・Ｘ線照射窓、１１・・・投
光窓、１２・・・検出窓、１３・・・検出部、１４・・
・ブレーｌ−０
Claims (1)
- Ｘ線照射部、試料室及び検査部をそれぞれ隔離し、前記
Ｘ線！１（１射部に１２０．ｋＶ、２００ｒｎＡ以」二
の出力を有するｘ Ｖａ ｉ＋を設置するとともに前記
試料室に被検査物を回転させる機構を設けたことを特徴
とする産業用Ｘ線断層撮影装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59037598A JPS60181641A (ja) | 1984-02-29 | 1984-02-29 | 産業用ｘ線断層撮影装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59037598A JPS60181641A (ja) | 1984-02-29 | 1984-02-29 | 産業用ｘ線断層撮影装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60181641A true JPS60181641A (ja) | 1985-09-17 |
Family
ID=12501999
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59037598A Pending JPS60181641A (ja) | 1984-02-29 | 1984-02-29 | 産業用ｘ線断層撮影装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60181641A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP2282165A3 (de) * | 2004-05-26 | 2011-02-16 | Werth Messtechnik GmbH | Koordinatenmessgerät und Verfahren zum Messen eines Objektes |
-
1984
- 1984-02-29 JP JP59037598A patent/JPS60181641A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP2282165A3 (de) * | 2004-05-26 | 2011-02-16 | Werth Messtechnik GmbH | Koordinatenmessgerät und Verfahren zum Messen eines Objektes |
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