JP2011027738A - X線照射を使用して複数の実質的に同一の部品(components)を自動的に検査しおよび/または測定するためのシステム - Google Patents

X線照射を使用して複数の実質的に同一の部品(components)を自動的に検査しおよび/または測定するためのシステム Download PDF

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Abstract

【課題】部品(components)のインライン検査に適切なシステムを提供する。
【解決手段】X線照射によって複数の実質的に同一の部品(components)(12)を自動的に検査しおよび/または測定するためのシステム(10)は、X線装置(24、25)を備えた検査/測定装置(11)と、検査/測定装置を取り囲む保護キャビン(15)と、検査/測定装置へまたはそれから離れて部品(components)を連続して搬送するための搬送装置(13)と、制御/評価ユニット(14)であって、システムを自動的に制御するためにおよびX線信号を評価するために設定される制御/評価ユニット(14)とを備える。検査/測定装置は、サポート(17)と、連続して回転可能であるようにサポートに装着されたロータ(18)とを備え、X線装置は、ロータに配置され、搬送装置は、ロータを通って部品を順次搬送するように設定される。
【選択図】図1

Description

本発明は、X線照射を使用して複数の実質的に同一の部品(components)を自動的に検査しおよび/または測定するためのシステムに関する。
そのようなシステムは、たとえば、鋳物(castings)の自動連続検査のために使用され、システムは、製造業者の生産ライン内に接続される(インライン検査)。このタイプの公知のシステムでは、X線源およびディテクタが多軸マニピュレータに配置され、簡単な放射線写真術によって、検査対象のX線画像が記録され評価される。しかし、検査された部品(components)の体積(vlume)をX線画像上に投射することは、部品(components)の内部構造物に関して限られた結論しか求められない。
部品(components)の三次元内部構造に関する精密な情報を得るために、高解像度マイクロ断層撮影システムによって個別部品(components)を実験室検査することは公知である。複数の並進運動軸を中心にして調整可能であるようにX線チューブおよびディテクタが固定サポートに装着され、部品(components)は回転テーブルによって垂直軸を中心にして回転する。そのようなシステムは、特に、取り扱いに必要な長時間および部品(components)の高解像度調査が、生産ラインのサイクルタイムとは両立しないため、部品(components)の自動連続インライン検査にはふさわしくない。
本発明の目的は、部品(components)のインライン検査に適切なシステムを提供することであり、それによって、部品(components)の内部構造物に関する情報が得られる。
本発明は、独立請求項に見られる手段でこの目的を達成する。X線信号のコンピュータ断層撮影評価が、それ自体公知のやり方で、部品(components)の三次元内部構造に関する情報、たとえば、鋳物(castings)の空気含有物の正確な場所および形状、を得ることを可能にする。連続的に回転可能なロータ上にX線装置を配置することによって、検査中に順次ロータを通って部品(components)を搬送することが可能であり、たとえば回転テーブル等の追加マニピュレータは不要である。このようにして、部品(components)の自動順次調査が短期間で行われてもよく、これは、生産ラインのサイクルタイムと両立する。
本発明は、いずれの所望の手荷物内容物をカバーする評価が極めて広く設定される手荷物検査システムとは異なる。その代わり、複数の実質的に同一の部品(components)を調査するための、本発明に係るシステムは、検査される部品(components)に、または、限定された数の部品(components)タイプの混合物に、適応させることができる。したがって、これらのシステムは、特にX線パラメータおよび評価アルゴリズムに関して、完全に異なって構成される。本発明に係る検査/測定システムは、便宜上、材料欠陥、たとえば、気体含有物、多孔、または、実質的に均質な材料におけるより高い密度の材料含有物を自動的に識別するように設定される。しかし、本発明に係るシステムは、追加して、または、代替的に、内部および外部の部品(components)構造物を測定するための材料検査用に使用されてもよい(計測学)。次いで、個別の座標測定機械をなしで済ますことが、任意に可能である。
好ましくは、システムは、X線画像における1mm以下の体積(vlume)解像度を達成するように設定される。このようにしても、本発明は、手荷物の品目を検査するためのシステムとは区別されてもよく、それは一般に、数mmの解像度で作動する。
ミリメートル未満の解像度を達成するために、搬送装置は、好ましくは、環状ユニットの領域で、実質的に一定の伸び率(rate of advance)を備えた搬送手段を備える。実質的に一定とは、好ましくは、伸び率の変動が、せいぜい10%、好ましくはせいぜい5%であることを意味する。
製造環境たとえば鋳造工場で広く行われているおおよその状態に関して、保護キャビンは、埃および湿気が保護キャビンおよびその中に配置された検査/測定装置内に浸透するのを防止するために、周囲環境に対して実質的に気密式に封止されることが好ましい。部品(components)を中におよび外へ搬送するための開口を通して埃および汚れが浸透するのを防止するために、システムは、好ましくは、ロータを通って延出し閉鎖搬送ダクトを画成する、2つの開口を接続するパイプを備え、それは、さらに好ましくは、気密式に保護キャビンに接続される。さらに、好ましくは、保護キャビンの内部を冷却するために、冷却ユニットが設けられる。最後に、システムは、好ましくは、周囲環境に対して保護キャビンを加圧するための手段を備える。好ましくは、保護キャビンは、周囲環境をX線照射に対して、特にX線吸収層たとえば鉛含有層によって、防護するように設定される。
好ましくは、搬送装置は、検査/測定装置を通る中断なしでガイドされ放射線に対して大部分が透明であるコンベヤベルトを備え、それによって、簡単なやり方で搬送装置の測定ギャップに関連した問題を防止する。
好ましくは、搬送装置は、部品(components)が、実質的に高さの中心で検査/測定装置を通って進んでもよいように、異なる寸法を備えた部品(components)に適合するために検査/測定装置の領域で高さ調整可能であってもよい。
本発明は、添付の図面を参照して、有利な実施形態によって下記に例証される。
生産ラインで部品(components)を検査するためのシステムである。 部品(components)を検査するための装置の別の実施形態である。
システム10は、検査/測定装置11と、連続して検査される複数の実質的に同一の部品(components)12を、検査/測定装置11へおよびそれから離れて搬送するための搬送装置13と、制御/評価ユニット14と、検査/測定装置11を取り囲む保護キャビン15と、を備える。検査/測定装置は、ここでは、検査および/または測定装置を意味すると理解されなければならない。検査/測定装置システム10は、たとえば、金属鋳物(castings)12用の鋳造工場の生産ライン内に接続するのに適切である。
検査/測定装置11は、検査中に固定されるサポート17と、環状ロータ18と、を備える。サポート17は、基部プレート23に固定された台19と、上記台上にあり、ここでは八角形プレートの形態の環状支持要素22と、を備える。環状支持要素22は、ロータ18用に環状回転軸受20を形成する。回転軸受20、ロータ18および任意に支持要素22は、環状ユニット16を形成し、それは、環状ユニット16を通って部品(components)12を搬送するために中心環状開口26を備える。水平配向を可能にするために、環状ユニット16は、図面に示されるように、水平スイベル軸受21によって、たとえば、台19に対して±30度の範囲で傾斜してもよい。図1および2にしたがった実施形態を参照のこと。部品(components)12は、好ましくは、軸方向に平行なやり方で、すなわち、ロータ軸に平行に、ロータ18を通って搬送される。
X線チューブ24およびX線ディテクタ25は、ロータ18上で互いに反対に締められる。X線チューブ24は、好ましくは、回転アノードチューブの形態を取り、好ましくは、扇ビームタイプまたは円錐ビームタイプである。X線チューブ24は、ディテクタ25全体を照明するために都合よく設定され、この目的のために、好ましくは、一方向に、少なくとも40度、好ましくは少なくとも60度のビーム角を有する。ミリメートル未満の画像解像度を達成するために、X線ビームの焦点サイズは、好ましくは1mm未満、より好ましくは0.7mm未満である。チューブ24は、好ましくは、少なくとも80kVのエネルギで操作され、より好ましくは少なくとも100kV、より好ましくは少なくとも120kV、たとえばおよそ140kVである。高い浸透能力が好ましい場合には、450kVまでのより高いX線エネルギが実現可能である。検査および/または測定の持続期間を減少するために、X線チューブ24は、好ましくは、少なくとも1kWの連続出力で操作される。過剰な熱生成による問題を避けるために、連続出力は、好ましくは、10kW未満になる。
図示されていない実施形態では、チューブ24のみがロータ18に締めてもよく、一方、静止ディテクタ25は360度リングを形成する。
X線ディテクタ25は、好ましくはデジタルであり、衝突X線照射が電気計数に直接転換され、これは、複数の、好ましくは少なくとも16の、平行線を備えたライン走査ディテクタであることが好ましい。ディテクタ25は、好ましくは、チューブ24によって発せられるX線照射の最大可能な角度範囲を検出するのに充分である長さを備える。これは、好ましくは、検知区域ができるだけどこの場所でもX線チューブ24のソース点から実質的に一定の距離であるように、バナナ形状に折られる。ミリメートル未満の画像解像度を達成するために、ディテクタ25のピクセルサイズは、せいぜい1mmであり、好ましくは、せいぜい0.7mmである。
ビームの硬化効果を補償するために制御/評価ユニット14に都合よく行われた訂正は、典型的な材料、たとえば、金属、合金、複合材料、アルミニウム、鉄等の調査に調整される。
部品(components)12のX線検査中に、ロータ18は、支持要素22に締結された回転ドライブ(図示せず)によって、環状ユニット16の中心長手方向軸を中心にして連続して回転され、部品(components)12ひとつ当たりロータ18の多数の完全360度回転が行われる。電気がX線チューブ24に加えられ、X線ディテクタ25はロータ18と支持要素22との間に配置されたスリップリング配置27によってロータ18とともに回転する。ロータ18の回転の軸または環状ユニット16の長手方向軸は、部品(components)が検査/測定装置11を通って搬送される方向に実質的に平行に配向され、好ましくは、実質的に水平である。
搬送装置13は、好ましくは、図1にしたがった例示的な実施形態にあるように、コンベヤライン、すなわち、並進コンベヤの形態を取る。部品(components)12用の生産ライン内に接続するために、コンベヤラインは、積み込みセクション28および積み下ろしセクション29を備える。コンベヤライン13の積み込みは、図1にしたがった例示的な実施形態では、ロボット30によって進行し、一方、積み下ろしは、手動で行われる。積み込みおよび積み下ろしはまた別のやり方で進行してもよいことは言うまでもない。
図1にしたがった例示的な実施形態において、搬送装置13は、それぞれ、1つの部品(components)12を収容するための搬送キャリッジ31と、少なくとも1本のレール32とを備え、それに沿って搬送キャリッジ31が変位可能にガイドされる。しかし、搬送装置13はまた、特にコンベヤベルトを使用して、異なって構造されてもよい。
搬送装置13は、好ましくは、実質的に一定の伸び率で、すなわち、10%未満の伸び率の変動で、好ましくは5%未満で、検査/測定装置11を通って部品(components)12を搬送するように設定される。この目的のために、搬送装置13は、好ましくは、検査/測定装置11の領域に、好ましくはサーボモータを備えた別個のドライブ34を備え、要請された一定の伸び率を達成する。したがって、検査/測定装置11を通って搬送するためのドライブ34は、検査/測定装置11へおよびそれから搬送するために他のドライブ(図示せず)よりも一定の割合を適切に表示する。
図2にしたがった好適な実施形態において、連続した途切れのない搬送手段34、特にコンベヤベルトを備えた別個の搬送手段33が、検査/測定装置11を通って部品(components)12を搬送するために、設けられる。搬送手段34は、便宜上、X線照射に対して実質的に透過である。連続した途切れのない、大いに放射線透過な搬送手段34は、搬送手段33がX線照射を可能にするのに通るギャップを備える必要がないという利点を有する。
他方、図1にしたがった例示的な実施形態において、搬送装置13は、X線照射が妨げられずに進むために最小可能なギャップ35が残るように、両側から検査/測定装置11内に進む。この場合、検査/測定装置11の領域にレール32および搬送キャリッジ31を備えた搬送装置13の実施形態が有利であるが、それは、搬送キャリッジ31が、位置および伸び率に関して正確なやり方でギャップの橋渡しを可能にするからである。
上記にしたがって、搬送装置13は、積み込みセクション28と積み下ろしセクション29との間で搬送距離全体にわたって並進運動構造である。したがって、部品(components)12をコンベヤライン13から検査/測定装置11へおよび戻って搬送するために、複雑な回転台型の旋回コンベヤをなしで済ますことが可能である。部品(components)12の他の操作、たとえば、X線調査中に部品(components)12を垂直軸を中心にして回転するのをなしで済ませてもよい。
ロータ18の回転の軸に平行な検査/測定装置11を通って検査される部品(components)12の、検査中に発生する、並進搬送、および、検査される部品(components)12を中心にしたX線システム24、25の同時連続回転は、結果として、検査される部品(components)12を中心にしたX線システム24、25の全体的ならせん運動になる。制御/評価ユニット14は、記録されたX線データをらせん形状から体積(vlume)またはボクセル表示に転換するための急速CT再建アルゴリズムを備える。制御/評価ユニット14は、意図された用途に依存して、体積(vlume)画像を分析するためのアルゴリズムをさらに備える。これは、原則として公知であり、したがってさらに詳細に説明する必要がない所定の検査パラメータを使用して、部品(components)12の内部欠陥または異常、たとえば空気含有物を自動的に識別することを特に備える。各部品(components)は、「適合した」または「不適合な」として任意に分類されてもよく、それに応じて任意に光学的にマークされてもよく、または、自動的に拒否されてもよい。最後に、制御/評価ユニット14は、外部ユニット、たとえば製造プラントの中央制御装置へ、データを送信するために通信ユニットを備えてもよい。
らせん走査モードに加えて、または、その代替として、制御/評価ユニット14はまた、軸方向走査、および/または、部品(components)12の1つの部分のみの、たとえば個別スライスのまたは特定の位置の走査を実行してもよい。
代替的にまたは加えて、部品(components)12の内部欠陥または異常を識別するために、制御/評価ユニット14はまた、X線データから、部品(components)12、すなわち内部および外部の部品(components)構造物の三次元形状寸法を決定するように設定されてもよい。次いで、個別の座標測定装置をなしで済ますことは、任意に可能である。
X線チューブ24によって生成されたX線照射に対して周囲環境を防護するために、システム10は、検査/測定装置11を取り囲む放射線保護キャビン15を備える。放射線保護キャビン15は、フレーム36を備え、これは、たとえば、金属チューブまたはロッドから構成されてもよく、および、プレート形状の壁要素37a、37b、37c、37d等を備え、これらは、単に、図2に、頂壁37a、観察者から離れた側壁37b、観察者に面し部品(components)12が保護キャビン15内に搬送されるのに通る前壁37c、および、観察者から離れ部品(components)12が保護キャビン15から搬送されるのに通る後壁37d用に、示されているだけである。壁要素37は、充分な厚さの、X線吸収層、特に、鉛含有層を含む。
入口開口39および対応する出口開口40が、保護キャビン15を通って部品(components)12を搬送するために、壁要素37c、37dに設けられる。各場合に各通路開口39、40は、それに連結した通路ロック41、42を有し、それぞれ、通路ロック41、42の入口開口を閉じるためのスライド41a、42a、および、それぞれ、通路ロック41、42の出口開口を閉じるためのスライド41b、42bを備える。通路ロック41、42およびスライド41a、41b、42a、42bは、同様に、X線照射を実質的に完全に吸収するために設定される。操作において、それぞれ、通路ロック41、42の一方のスライド41a、41bまたは42a、42bは、常に閉じており、放射線保護が常に確実にされるようにする。
埃および湿気が保護キャビン15内に浸透するのを防止するために、後者は、たとえば、壁要素37とフレーム36と基部プレート23との間の封止要素38の助けで、気密式に閉じられる。検査/測定装置11用に実質的に完全に封止された内部を達成するために、すなわち、空調開口は別として、都合よく実質的に放射線透過のパイプ43が設けられ、これは、保護キャビン15を通って一方の通路開口39から他方の通路開口40へ伸び、環状ユニット16の環状開口26を通って進む。搬送装置13は、検査/測定装置11の領域でパイプ43を通って進み、上記パイプは搬送ダクト46または搬送トンネルを画成する。パイプ43は、好ましくは、パイプ壁に開口がなく、搬送装置13またはその上に配置された部品(components)12とともに運ばれた埃粒子が、検査/測定装置11に入ることができないようにする。その端で、パイプは、好ましくは、通路開口39、40を画成する縁で壁要素37c、37dに、特に対応する封止要素44、45の助けで、気密式に接続される。パイプ43の直径は、最大可能な部品(components)12の検査を可能にするために、環状ユニット16の内径に都合よく適合される。上記にしたがって、検査/測定装置11は、保護キャビン15内に実質的に完全に入れられる。
検査/測定装置11が操作されおよび非常に暑い環境たとえば鋳造工場内であっても保護キャビン15の内部を充分に低い操作温度に保つときに生成された熱を消散するために、少なくとも1つの温度制御された、特に電気操作された冷却ユニット46たとえば空調システムが、保護キャビン15に取り付けられる。
漏れがある場合に、および、たとえば空調システム46用の排気開口等のいずれの機能的開口を通って、埃/湿気が保護キャビン15に入ることができないように、キャビン15を加圧するための手段が設けられることが好ましい。これは、たとえば、圧縮空気接続47であってもよく、これは、圧縮空気ライン48を経由して、外部圧縮空気源に接続されてもよい。加圧はまた、代替的に、冷却ユニット46によって進行してもよい。
保護キャビン15およびパイプ43はまた位置不良の部品(components)12による損傷から環状ユニット16を保護するが、その保護キャビン15およびパイプ43の結果として、環状ユニット16には別個のハウジングが必要ではない。環状ユニット16用にそのようなハウジングをなしで済ますことは、今度は、環状ユニット16からの熱除去を簡略化する。
搬送装置13は、異なる寸法を備えた部品(components)12が、実質的に中心で環状ユニット16を通って進んでもよいように、異なる寸法を備えた部品(components)12に適合するために検査/測定装置11の領域で高さ調整可能であってもよい。
システム10は、たとえば光学カメラおよび画像認識アルゴリズムの助けで、部品(components)のタイプを識別するために、検査/測定装置11の上流に接続された装置50を任意に備えてもよい。識別の結果に応じて、検査/測定装置11のパラメータは、それぞれの部品(components)のタイプに調整されてもよく、および/または、X線調査の結果が、たとえば整理番号によって、個別部品(components)12に関連づけられてもよい。あるいは、部品(components)のタイプの識別はまた、対応する認識アルゴリズムによって三次元X線画像から行われてもよい。

Claims (15)

  1. X線照射によって複数の実質的に同一の部品(components)(12)を自動的に検査し、更に/または測定するためのシステム(10)であって、
    X線装置(24、25)を備えた検査/測定装置(11)と;
    前記検査/測定装置(11)を取り囲む保護キャビン(15)と;
    部品(components)(12)を前記検査/測定装置(11)に対して、またはそこから連続して搬送するための搬送装置(13)と;
    前記システム(10)を自動的に制御し、X線信号を評価するために設けられた制御/評価ユニット(14)と;を備え、
    前記検査/測定装置(11)は、サポート(17)と、連続して回転可能な状態で前記サポート(17)に装着されたロータ(18)と、を備え、
    前記X線装置(24、25)は前記ロータ(18)に配置され、
    前記搬送装置(13)は、前記ロータ(11)を通って前記部品(components)(12)を順次搬送するように設定され、
    前記制御/評価ユニット(14)は、前記X線信号のコンピュータ断層撮影評価用に設定されるシステム。
  2. 前記保護キャビン(15)は、周囲環境に対して実質的に気密式に封止される、請求項1に記載のシステム。
  3. 前記ロータ(18)を通って延出し搬送トンネル(46)を画成するパイプ(43)を備える、請求項1または2に記載のシステム。
  4. 前記パイプ(43)は、前記保護キャビン(15)に気密式に接続される、請求項3に記載のシステム。
  5. 前記保護キャビン(15)の内部を冷却するための冷却ユニット(46)を備える、請求項1に記載のシステム。
  6. 前記保護キャビン(15)を加圧するための手段(47、48)を備える、請求項1に記載のシステム。
  7. 前記保護キャビン(15)は、X線照射に対して周囲環境を防護するように設定される、請求項1に記載のシステム。
  8. 前記制御/評価ユニット(14)は、検査または測定される部品(components)(12)のタイプに依存して、前記システム(10)の操作パラメータを個別調整するように設定される、請求項1に記載のシステム。
  9. 前記制御/評価ユニット(14)は、材料欠陥、たとえば、気体含有物、多孔、または、実質的に均質な材料におけるより高い密度の材料含有物を自動的に識別するように設定される、請求項1に記載のシステム。
  10. 前記システムは、X線画像における1mm以下の解像度を達成するように設定される、請求項1に記載のシステム。
  11. 前記搬送装置(13)は、前記検査/測定装置(11)の領域において実質的に一定の伸び率で前記部品(components)(12)を搬送するように設定される、請求項1に記載のシステム。
  12. 前記搬送装置(13)は、前記検査/測定装置(11)を通る中断なしでガイドされるコンベヤベルト(34)を備える、請求項1に記載のシステム。
  13. 前記搬送装置(13)は、前記検査/測定装置(11)の領域で高さ調整可能である、請求項1に記載のシステム。
  14. 前記X線源(24)は、少なくとも80kVの電圧で操作される、請求項1に記載のシステム。
  15. 前記X線源(24)は、少なくとも1kWの連続電力で操作される、請求項1に記載のシステム。
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