JP2011027738A - X線照射を使用して複数の実質的に同一の部品(components)を自動的に検査しおよび/または測定するためのシステム - Google Patents
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Abstract
【解決手段】X線照射によって複数の実質的に同一の部品(components)(12)を自動的に検査しおよび/または測定するためのシステム(10)は、X線装置(24、25)を備えた検査/測定装置(11)と、検査/測定装置を取り囲む保護キャビン(15)と、検査/測定装置へまたはそれから離れて部品(components)を連続して搬送するための搬送装置(13)と、制御/評価ユニット(14)であって、システムを自動的に制御するためにおよびX線信号を評価するために設定される制御/評価ユニット(14)とを備える。検査/測定装置は、サポート(17)と、連続して回転可能であるようにサポートに装着されたロータ(18)とを備え、X線装置は、ロータに配置され、搬送装置は、ロータを通って部品を順次搬送するように設定される。
【選択図】図1
Description
Claims (15)
- X線照射によって複数の実質的に同一の部品(components)(12)を自動的に検査し、更に/または測定するためのシステム(10)であって、
X線装置(24、25)を備えた検査/測定装置(11)と;
前記検査/測定装置(11)を取り囲む保護キャビン(15)と;
部品(components)(12)を前記検査/測定装置(11)に対して、またはそこから連続して搬送するための搬送装置(13)と;
前記システム(10)を自動的に制御し、X線信号を評価するために設けられた制御/評価ユニット(14)と;を備え、
前記検査/測定装置(11)は、サポート(17)と、連続して回転可能な状態で前記サポート(17)に装着されたロータ(18)と、を備え、
前記X線装置(24、25)は前記ロータ(18)に配置され、
前記搬送装置(13)は、前記ロータ(11)を通って前記部品(components)(12)を順次搬送するように設定され、
前記制御/評価ユニット(14)は、前記X線信号のコンピュータ断層撮影評価用に設定されるシステム。 - 前記保護キャビン(15)は、周囲環境に対して実質的に気密式に封止される、請求項1に記載のシステム。
- 前記ロータ(18)を通って延出し搬送トンネル(46)を画成するパイプ(43)を備える、請求項1または2に記載のシステム。
- 前記パイプ(43)は、前記保護キャビン(15)に気密式に接続される、請求項3に記載のシステム。
- 前記保護キャビン(15)の内部を冷却するための冷却ユニット(46)を備える、請求項1に記載のシステム。
- 前記保護キャビン(15)を加圧するための手段(47、48)を備える、請求項1に記載のシステム。
- 前記保護キャビン(15)は、X線照射に対して周囲環境を防護するように設定される、請求項1に記載のシステム。
- 前記制御/評価ユニット(14)は、検査または測定される部品(components)(12)のタイプに依存して、前記システム(10)の操作パラメータを個別調整するように設定される、請求項1に記載のシステム。
- 前記制御/評価ユニット(14)は、材料欠陥、たとえば、気体含有物、多孔、または、実質的に均質な材料におけるより高い密度の材料含有物を自動的に識別するように設定される、請求項1に記載のシステム。
- 前記システムは、X線画像における1mm以下の解像度を達成するように設定される、請求項1に記載のシステム。
- 前記搬送装置(13)は、前記検査/測定装置(11)の領域において実質的に一定の伸び率で前記部品(components)(12)を搬送するように設定される、請求項1に記載のシステム。
- 前記搬送装置(13)は、前記検査/測定装置(11)を通る中断なしでガイドされるコンベヤベルト(34)を備える、請求項1に記載のシステム。
- 前記搬送装置(13)は、前記検査/測定装置(11)の領域で高さ調整可能である、請求項1に記載のシステム。
- 前記X線源(24)は、少なくとも80kVの電圧で操作される、請求項1に記載のシステム。
- 前記X線源(24)は、少なくとも1kWの連続電力で操作される、請求項1に記載のシステム。
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