JPS5992307A - プロフイ−ルメ−タ - Google Patents

プロフイ−ルメ−タ

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Publication number
JPS5992307A
JPS5992307A JP57202048A JP20204882A JPS5992307A JP S5992307 A JPS5992307 A JP S5992307A JP 57202048 A JP57202048 A JP 57202048A JP 20204882 A JP20204882 A JP 20204882A JP S5992307 A JPS5992307 A JP S5992307A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
radiation
measured
radiation source
channel
output
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP57202048A
Other languages
English (en)
Inventor
Junichi Murakami
純一 村上
Kazunori Masanobu
正信 和則
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP57202048A priority Critical patent/JPS5992307A/ja
Publication of JPS5992307A publication Critical patent/JPS5992307A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B15/00Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons
    • G01B15/04Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons for measuring contours or curvatures
    • G01B15/045Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons for measuring contours or curvatures by measuring absorption

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明は、移動中の帯板状被測定物のプロフィール(断
面形状)を放射線を利用して測定するプロフィールメー
タに関する。
〔発明の技術的背景とその問題点〕
移動中の帯板状被測定物、例えば延圧ラインを移送され
ている鋼板のプロフィールを測定する装置として第1図
に示すようなX線プロフィールメータがある。これは、
矢符A方向へ移動している板(1)の中央部の厚さを測
定するための固定形検出部(2)および制御部(4)か
らなる固定形の厚さ計と、板(1)と直角な方向に往復
運動を行なって板(1)の各点の厚さを測定する走査形
検出部(3)および制御部(5)からなる走査形の厚さ
計とを組合わせて、各検出部で求めた厚さの差をプロフ
ィール演算部(6)で演算して求め、パターンとして表
示装置(力に表示する。したがって、実際に測定してい
るところは破線で示した軌跡であわ、板のエツジ部には
測定できない部分がある。このプロフィールメータの欠
点は、走査形の厚さ計の検出部を機械的に走査しなけれ
ばならないこと、1回の測定に1分近くかかること、2
台の厚さ計量の距離を補正しなければ々らないこと、さ
らに測定しているのは板の直角な断面ではなく、斜めの
断面であること等である。
〔発明の目的〕
本発明は、機械的走査は全く不要で移動中の帯板状被測
定物のほぼ直角方向断面のプロフィールを測定できるプ
ロフィールメータを提供することを目的とする。
〔発明の概要〕
本発明は、水平方向に移送される帯板状の被浬1定物の
移動方向と直角に且つ前記被測定物の面から所定距離離
間して配置され前記被測定物の幅よシ犬なる幅にわたっ
て被測定物の面に直交する帯状ビーム放射線を発生する
放射線源と、この放射線源に被測定物を間において対向
する如く配置され被測定物を透過した放射線を検出する
多チャンネル放射線検出器と、前記放射線源の放射線の
強度を安定化する放射線制御部と、前記多チャンネル放
射線検出器の各チャンネル毎に接続されその出力をAD
変換するAn2換器と、これら各AD変換器の出力を受
けて厚さに変換し被測定物の断面のプロフィールパター
ンを示す信号を演算にょシ求めて出力する演算部と、こ
の演算部からの信号によりプロフィールパターンを表示
する表示装置とを具備してなるプロフィールメータを実
現して所期の目的を達成した。
〔発明の実施例〕
以下、本発明の実施例を図面を参照して説明する。
本発明一実施例のプロフィールメータを第2図および第
3図に示す。第2図は検出部の断面を示し、第3図は検
出部の測定系統図である。
第2図において、(11は水平方向(紙面に垂直な方向
)に移送される例えば鋼板などの帯板状被測定物である
。圓はC形フレームで、車輪を有し、図示の測定位置か
ら図示右方の退避位置まで移動可能になされている。α
2は放射線源で、C形フレーム(11)が図示の測定位
置に来た時に、被測定物(1)の移動方向と直角に且つ
被測定物(1)の面から所定距離離間して位置するよう
KC形フレームαDの上側の腕に配置収納され、被測定
物f1.)の幅より犬なる幅にわたって破卵]定物(1
70面に直交する帯状ビーム放射線Hを発生する。この
放射線源α2)は、熱陰極から放出された電子流を偏向
コイルにより偏向させ、被測定物(1)の幅より長い帯
状のターゲットを有する陽極の両端間を走査する如く前
記ターゲットに衝突させることにより、前記ターゲット
から被11111定物(1)の面に直交する帯状ビーム
X線を発生する構成である。
圓は多チャンネル放射線検出器で、被測定物mを透過し
て来た放射線源(121からの放射線を受けるように、
放射線源(12)に被測定物け)を間において対向する
如くC形フレームUυの下側の腕に配置されている。多
チヤンネル放射線検出!(1Φはその長手方向に複数の
薄い鼠離箱が連続して所要長さにわたって配列された構
成である。
噛は基準板で、放射線源(121からの帯状ビーム放射
様03+に挿入されたり、避退されたり移動可能にC形
フレーム(1すの上側の腕に配置されている。
上記のように構成さhだ検出部の測定系統を第3図によ
シ説明する。第3図に示すように、放射線源(f21は
放射線制御部θ9tて接続でれておシ、この放射線側φ
1部0り(でよって、放出する放射線の強度が安定する
ようにその管蹴圧と管電流とを制御される、多チャンネ
ル放射線検出器(IQの各チャンネルの醒離箱はチャン
ネル毎にA D変侠器ユニット(161の各AD変換器
に接続されており、各AD変換器は各チャンネルの雇離
箱の出力をAD変換する。
演算部θ7)は各AD変換器の出力を受けて厚さに変換
し、被測定物(IIの断面のプロフィールパターンを示
す信号を演算により求めて出力する。また、演算部(を
力は放射線源α2および基準板(,7(Iiに対し測定
に必要な制御を行なう。演算部卸からの出力信号は表示
装置(7)に入力され、表示装置(力は被測定物(1)
のグロフィールバタンを表示する。
上記のように構成された本発明一実施例のプロフィール
メータにおいては、被測定物(1)が入って来ていない
ときに、基準板(20)を用いて校正動作を行なう。す
なわち、演算部07)は基準板(20)の厚さに対する
多チャンネル放射線検出器α4)の各チャンネルの電離
箱の出力電圧を1チヤンネル毎に測定しチャンネル毎の
検量線を作成し、演算部(17)内のメモリに記憶して
おく。校正動作終了後は基準板(20)を放射線ビーム
から外れた位置に退避させる。
被測定物(1)が入って来ると演算部出力は測定動作に
入シ、多チャンネル放射線検出器04)の各チャンネル
の出力から予め記憶しておいた検量線を用いて厚さを算
出し、被測定物の断面のプロフィールパターンを求め、
この信号を表示装置(力に送って被測定物のプロフィー
ルを表示させる。一般に演算部(171はプロフィール
パターン信号を0.1〜1秒周期で出力する。また、校
正動作は一般的に、移送されている被測定物が途切れた
(1巻の被測定物のコイルが通過し終った)都度性なわ
れる。
このように本発明一実施例のプロフィールメータでは、
放射線ビームが被測定物を垂直に透過するため、プロフ
ィールパターンを作成するときにビームの角度補正を行
々う必要がない。また、移動している被測定物の断面形
状を同時に測定するので、被測定物のエツジ部の不感帯
がなく、測定時間が短かく(高速応答)、従来装置にお
ける固定形厚さ計と走査形厚さ計との間の距離補正が不
要と々す、被測定物のほぼ直角な断面のプロフィールを
測定することができる。゛また、機械的に走査する部分
がないので、走行に伴なう雑音が全く発生せず、また信
頼性も高い。
なお、本発明は上述した実施例に限らず、下記のように
種々変形して実施することができる。
〔1〕  検出器を被測定物の上側に、放射線源を下側
に配置する構造にしてもよい。
〔2]測測定度の要求がゆるい場合には、基準板(20
)の装備をはふいてもよい。その場合には、測定ライン
にプロフィールの既知な板を置いて校正動作を行ない検
量線を求めればよい。
e〕 検出部を保持しているフレームはC形フレームに
限らず、0形フレームなどでもよい。
C〕 被測定物は、鋼板に限らずアルミニウム板、銅板
、ガラス板等、放射線厚さ計で測定可能な物なら何でも
よい。
〔発明の効果〕 以上詳述したように本発明によれば、被測定物の幅よp
犬なる幅にわたって被測定物の面に垂直な帯状ビーム放
射線を放射する放射線源を用い、被測定物を透過して来
た放射線を被測定物の幅方向に複数の薄い間離箱が連続
して配列されて々る多チャンネル放射線検出器を用いて
被測定物の幅方向に高い分解能で同時的に検出して、被
測定物の幅方向の厚さの分布を測定するようにしたので
下記のような効果が得られる。
α〕 放射線ビームが被測定物を垂直に透過するため、
プロフィールパターンを作成するときにビームの角度補
正を行なう必要がない。
〔2〕  同時に被測定物の断面形状(厚さの分布)を
測定するので、移動中の被測定物のエツジ部の不感帯が
なくなり、また測定時間が短かく、従来装置における固
定形厚さ計と走査形厚さ計との間の距離補正の必要がな
く、被測定物のほぼ直角な断面のプロフィールを測定す
ることができる。
$〕 機械的に走査する部分がないので、走行に伴なう
雑音が全く発生せず、また、信頼性も高い。
〔4〕  被測定物の幅も測定できるので、被測定物の
横振れを自己補正できる。(従来は別に設置した幅計の
信号を用いて補正していた。)し〕 従来の固定形厚さ
計と走査形厚さ計とを組合せていたプロフィールメータ
にくらべて、検出部が単一に構成できるので、装置が小
形化され設置スペースも小さくてすむ。
【図面の簡単な説明】
第1謔少ロフイールメータの従来例の構成を示す系統図
、第2図は本発明一実施例のプロフィールメータの検出
部を示す断面図、第3図は第2図の検出部の測定系統を
示す系統図である。 1・・・被測定物    11・・・C形フレーム12
・・・放射線源    13・・・帯状ビーム放射線1
4・・・多チャンネル放射線検出器 15・・・放射線制御部  16・・・AD変換ユニッ
ト17・・・演算部     7・・・表示装置20・
・・基準板 代理人 弁理士  井 上 −男 第  1  図 第3図 1ム   lγ

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 水平方向に移送される帯板状の被測定物の移動方向と直
    角に且つ前記被測定物の面から所定距離離間して配置さ
    れ前記被測定物の幅よυ犬なる幅にわたって被測定物の
    面に直交する帯状ビーム放射線を発生する放射線源と、
    この放射線源に被測定物を間において対向する如く配置
    され被測定物を透過した放射線を検出する多チャンネル
    放射線検出器と、前記放射線源の放射線の強度を安定化
    する放射線制御部と、前記多チャンネル放射線検出器の
    各チャンネル毎に接続されその出力をAD変換するAD
    変換器と、これら各AD変換器の出力を受けて厚さに変
    換し被測定物の断面のプロフィールパターンを示す信号
    を演算により求めて出力する演算部と、この演算部から
    の信号によシプロフィールパターンを表示する表示装置
    とを具備してなるプロフィールメータ。
JP57202048A 1982-11-19 1982-11-19 プロフイ−ルメ−タ Pending JPS5992307A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP57202048A JPS5992307A (ja) 1982-11-19 1982-11-19 プロフイ−ルメ−タ

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP57202048A JPS5992307A (ja) 1982-11-19 1982-11-19 プロフイ−ルメ−タ

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS5992307A true JPS5992307A (ja) 1984-05-28

Family

ID=16451062

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP57202048A Pending JPS5992307A (ja) 1982-11-19 1982-11-19 プロフイ−ルメ−タ

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