JPS5927237A - 光学系の検査装置 - Google Patents
光学系の検査装置Info
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- JPS5927237A JPS5927237A JP57136369A JP13636982A JPS5927237A JP S5927237 A JPS5927237 A JP S5927237A JP 57136369 A JP57136369 A JP 57136369A JP 13636982 A JP13636982 A JP 13636982A JP S5927237 A JPS5927237 A JP S5927237A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
本発明は、ｍ学系の球面度数、鉦視度数。
乱視軸方向、プリズム度数、プリズム基底方向を測定す
る装置、特に主として眼鏡レンズの屈折！時性を自動的
に測定するだめのいわゆる自動レンズメータに関する。 自動レンズメーターに関しては従来、種々の方法が提案
されている。これらの中で、近年一般的に提案されてい
る方法は、被検レンズに平行光を入射させ、被検レンズ
を通過してその屈折特性によって曲けられたビームの偏
シ金光電的に検出１−１この偏りがら枦倹レンズの屈折
特性全１．出しようと−！−るものである。そして、ビ
ームの偏りの書出とその処理の方法に欅々の工夫がなさ
れており、次のような公知例が存在する。 ■ ％開用５２−４４９号公報 （ｚ ｌ特開昭５４−１４７５７号公報■号公報間昭５
６−８６３２７号公報 。 ■ 特開昭５６−１６８１４０号公報 （■ 特開昭５７−２９９２３＠公報 以下、これら従来技術の問題点を指摘する。 公報α）では、投光ビームと１次元位置感知性検出器と
を同期して回転させなりればならず、また被検レンズに
プリズムがある場合にはこれを補償する隈械的な装置ａ
が必陶であるため、煩雑な構成となり製造もｄ易ではな
い。 公報■では、１ｌｌ１１定に１史用される投光ビームの
数が少ないので、ビーｌ＼の喘りの検出には非ｐな動梢
度？必要とするため、製造及び調整が難しく、そうでな
りれＶ、ｒ測〆槽１絹全簡く維持することができない。 公報（３）でｔよ、電気部材である１酊Ａ１１Ｊ！状ホ
トダイオ一ドアレイ全回転させる必要があシ、製作上の
曲順がある。また、被検レンズにプリズムがある」Ａ−
片ｉ［ＦＮがＦＪＪ雑になり、プロセッサの処理時間が
長くなり迅速な（ｉｌｌｌ定には不利である。 公報■でｔよ、被検レンズに乱視がある楊曾は、ダイＡ
−ド列を回転させて乱視軸を補正する機械的な装置が必
要であり、さらに被検レンズにプリズムがあるｔｓ ｈ
には、これ全補償する機械的な装置も必要であり、よシ
完全な測定装置４とするためには構成のｉ！ＩＩ ＃ｆ
ｆ＋化が避けられない、 公報■では、充分な分解力′に口′する２次元センサー
を得ることが帷しく製作上の問題がある。また、２次元
センサーからの出力信号を用いて結￥−紮葬出するには
護雑な泪榊が必要であり、演棹装置の煩雑化並びに処理
時間が長くなって好゛ましくない。 本発明やよ、これらの問題点を解決１１１、単糾な１゛
簿成で、特に高偵ＩＷで硬体なｑ成を必・堤とせず、短
時間でυ（り尾結果の得られる光学系の検査ＡＡｌ聞金
提共する半金目的とするり本発明による備前装置は、破
恢光学系へ光束金共給するとともに測定用基準光軸を設
定する光束供給手段と、該基準光軸外の直線大部分で光
束全１択的に制限する遮光部材と、前記被検光学系及び
前記背光部材全通過した光束を受光する受光部月と、前
記被検光学系を通過する光束に対して前記理光部利と前
記受光部祠と全問１（弓基準光’ｉｌｌ ｆ、：回転中
心と
る装置、特に主として眼鏡レンズの屈折！時性を自動的
に測定するだめのいわゆる自動レンズメータに関する。 自動レンズメーターに関しては従来、種々の方法が提案
されている。これらの中で、近年一般的に提案されてい
る方法は、被検レンズに平行光を入射させ、被検レンズ
を通過してその屈折特性によって曲けられたビームの偏
シ金光電的に検出１−１この偏りがら枦倹レンズの屈折
特性全１．出しようと−！−るものである。そして、ビ
ームの偏りの書出とその処理の方法に欅々の工夫がなさ
れており、次のような公知例が存在する。 ■ ％開用５２−４４９号公報 （ｚ ｌ特開昭５４−１４７５７号公報■号公報間昭５
６−８６３２７号公報 。 ■ 特開昭５６−１６８１４０号公報 （■ 特開昭５７−２９９２３＠公報 以下、これら従来技術の問題点を指摘する。 公報α）では、投光ビームと１次元位置感知性検出器と
を同期して回転させなりればならず、また被検レンズに
プリズムがある場合にはこれを補償する隈械的な装置ａ
が必陶であるため、煩雑な構成となり製造もｄ易ではな
い。 公報■では、１ｌｌ１１定に１史用される投光ビームの
数が少ないので、ビーｌ＼の喘りの検出には非ｐな動梢
度？必要とするため、製造及び調整が難しく、そうでな
りれＶ、ｒ測〆槽１絹全簡く維持することができない。 公報（３）でｔよ、電気部材である１酊Ａ１１Ｊ！状ホ
トダイオ一ドアレイ全回転させる必要があシ、製作上の
曲順がある。また、被検レンズにプリズムがある」Ａ−
片ｉ［ＦＮがＦＪＪ雑になり、プロセッサの処理時間が
長くなり迅速な（ｉｌｌｌ定には不利である。 公報■でｔよ、被検レンズに乱視がある楊曾は、ダイＡ
−ド列を回転させて乱視軸を補正する機械的な装置が必
要であり、さらに被検レンズにプリズムがあるｔｓ ｈ
には、これ全補償する機械的な装置も必要であり、よシ
完全な測定装置４とするためには構成のｉ！ＩＩ ＃ｆ
ｆ＋化が避けられない、 公報■では、充分な分解力′に口′する２次元センサー
を得ることが帷しく製作上の問題がある。また、２次元
センサーからの出力信号を用いて結￥−紮葬出するには
護雑な泪榊が必要であり、演棹装置の煩雑化並びに処理
時間が長くなって好゛ましくない。 本発明やよ、これらの問題点を解決１１１、単糾な１゛
簿成で、特に高偵ＩＷで硬体なｑ成を必・堤とせず、短
時間でυ（り尾結果の得られる光学系の検査ＡＡｌ聞金
提共する半金目的とするり本発明による備前装置は、破
恢光学系へ光束金共給するとともに測定用基準光軸を設
定する光束供給手段と、該基準光軸外の直線大部分で光
束全１択的に制限する遮光部材と、前記被検光学系及び
前記背光部材全通過した光束を受光する受光部月と、前
記被検光学系を通過する光束に対して前記理光部利と前
記受光部祠と全問１（弓基準光’ｉｌｌ ｆ、：回転中
心と
【７て相対的に回転さ峰る回転子Ｉぜと葡設け、前
記受光部材上での前記ｊ１■光１■１材により制限され
た直線状部分に対応する位１ｉ′ｆによシ前記被倹光学
系のｌ１ｉｌ尉↑＾報紮暎出−するもｔ／）−’Ｑある
。 ナず、本発明の原理全４１図に１．たがっ−Ｃ説明する
。光源１より発し九九は、コリメーターレンズ２によ−
って千行光東となり、被検１ノンズＩＩ、）に入射し、
その屈折！１！￥＋Ｉｂに応じて屈折される。被検１メ
ンズの近傍には、光軸１ｏに対して対称Ａ１つ互に平行
（Ｘ方向）な２本のスリット伏開ロ部３ａ、ａｂｉ光軸
外に有するマスク３が配置されており、マスク３がら光
軸上ｊ：）ｉ ノ可の距離だけ離れて、光軸に垂ｉ白か
つｆｌは対称にして前１４１ｕスリツト３ｓ、３ｂに垂
直（３・方向）に１次元検出アｌノイ（以下単にフォト
アレイと称す）４が配置１りＩされでいる。 マスク３を通った光ｔｉｔ、フォトアレイ４に到達し、
２本のスリットに対応し７て２本の縞３ａ′。 ａｂ’ｔ＋＋−ｓ成する。フォトアレイ４と縞３Ｂ’。 ３ｂ′との位ｌｆ関係は１、被検レンズに乱視とプリズ
ムがないｖ４合には第２図（Ａ）のようになる。この、
鳴合フォトアレイと光軸との交点を座＋＃４原点にとシ
、フォトアレイ４の方向ヲｙ軸にとり、２本の縞３ａ／
、３ｂ／がフォトアレイを切る点の位置を夫々Ｖ＋＋
３’２とすると、この場付はＦｚ＝−Ｆｔ となセ、縞
の間隔７ｓ Ｆｔが被検レンズのｙ方向での球面度数
に対応する。また乱視がなく、プリズムがある場合ＬＬ
例えば第２図（Ｂ）のようになり、２本の縞３ａ’、３
ｂ’の中心の原点からのずれＰがプリズム度数に剌１応
し、ずれのｙ軸成分（ｙＩ ＋ｙ！ ）／２がプリズム
度数のｙ軸方向の成分に対応する。マＳらに、乱視とプ
リズム両方があり、乱視１１１１Ｉもｙ軸（測定ドア、
線方向）と一致１７ないような一般的な場合は第２図Ｃ
）のようになる。２本（゛）縞３８′。 ３ｂ’の間隔’Ｉ、 Ｖｔはレンズ度数のｙ軸方向の
成分にメＪ１５Ｌ、、絹の中心位置（３’＋＋Ｆｔ）／
２はプリズム度数のｙ軸方向の成分に対応する。そこで
、マスク３とフォトアレイ４とを一体として光ｆｉＩＩ
ＩＩｋ中ノ［？に、誠倹レンズに対して相対的に回転さ
ｕ−ｉｔ、 を丁、各経線方向のレンズ１（数とブ′リ
ズム１ｇ−劣只を（ξ用足”！る事ができる。そし−〔
、レンズ度数が、最大と最小のとき、２本の主経線方向
のレンズ度数が得られ、このときの回転角位置より乱視
１１’ｌ１１方向が４１）られる。また、プリズム度数
が最大のときの値が、ヰ皮検レンズのプリズム度数とな
υ、このときの回転角位ｒｔｔｔよりプリズム基底方向
が得られる。 ハ）３図は以上の原理に基づいた第１実施例の概略ｔ：
Ｖ成図である。マスク３とフォトアレイ４とは一体的に
、ステッピングモータ５の回＋ｉｌべｆｌ’ｌｌｌに数
句けられ、う’に ＋ＩＩｌ＋ １０ ′（ｉ：中心と
して回転可能である。ステッピングモータ５はモータ１
ソ１にｒ＋ｒｂ回１．各１１によｐ駆ｔｌｉ！＋され、
フォトアレイ４上での２本の縞の位置が光、（負出回路
１２により検出される。光検出回路１２及びモータ駆ｉ
！ｉ’ｌＪ回路１１はインターフェイス回路１３を介し
てマ・ｒクロプロセラ（す１４に接続されている。マイ
クロプロセッサ１４ではマスク３とフォトアレイ４との
各回転位置ごとに前述のごとく、Ｙｔ −’！２ よ
り１］シズｅ教を、また（ ｙ １＋ ｙ ｔ ）
／ ２よりプリズム度＆？ を検出し、マスク３とフォ
トアレイ４との少なくとも１８０°にわたる回転範囲に
おいて％３’ｌ ３’２の最大１１η及び最小直を
求めこれらに対応するマスク及びフォトアレイの回転角
度位置により乱視度数と乱視軸を求めるまた、プリズム
度数の最大値とこれ依二対応するマスク及びフォトアレ
イの回転角度位置によりプリズム度数とプリズム方向を
求める。 そ【−て、これらの１直はそれぞれ１′９に望の表示型
式で表４モ装置１５によシ表示される。 本発明による帛２夾施ｔ・すは第４図の概略構成図に示
したごとく、マスク３とフォトアレイ４との間に投影レ
ンズ６が配置、され、フォトアレイ４の位置は投影レン
ズ６の陵側焦点位置には理合致している。第４図図中ｆ
ｔ ３−図と同一の符号は第１実施例と同等の部材を表
わ【７、信号処理系は第１実施ｙＩＩとｔｌは同一で為
るので省略した。仁の構成においては、被検レンズ（υ
が測定光路中にない場合又は被検レンズ（Ｌ）に全＜
Ｊｉｉｔ折力がない、嚇合、コリメーターレンズ２を射
出する平行光束が、マスク３投影レンズ６を通シフオド
７レイ４の中心部ぢ元軸１０上に集光される。従つ−〔
、この場゛合マスク３上の２つのスリット３ ｇ ＋
３ ｂ ｆ通過する光りは図中点線で示しだごとく全て
フォトアレイ４の中心に達し、２木の縞は形成場れない
。図示のごとく正屈折力の被検レンズα、）が光路中の
マスク３に隣接して設けられると、英純で示したごとく
マスク３の２つのスリンｌ”３ａ、３ｂに対応（７て２
本の縞３ａ’、３ｂ’が）第１・アレイ４−ヒに形成さ
れる。被検レンズ（Ｌ）が負）＋７’＝折力である場合
は２本の縞３ａ′、３ｂ′の位置は図中で上下逆転する
。従って、このような投影レンズ６を設けることによシ
、被・険しシズ０．）の屈折力が零の時を基準として、
フォトアレイ４上での２つの縞の相対的の間隔が被険レ
ンズの屈折力の絶対値に対応することとなり、＋ｌＩ’
ｌ定が１＃６単かつ正確となＩ）製造、調整も容易にな
る。 第５図を土木発明による小３実施例の光学系を示す概略
断面図である。本実施例では、被検レンズ（ｇの後方に
リレーレンズγが設けられ、このリレーレンズ１に関し
て被検レンズ色）とはぼ共役な位置に２つのスリット３
ｍ。 ３ｂを有するマスク３が設けられている。リレーレンズ
Ｔとマスク３との曲には光束回転手段としてのイメージ
ローチーター８が配置されている。マスク３の後方には
第１正レンズ６ａがマスク３に隣接して設けられ、また
やや離れて第２正レンズ６ｂが設けられている。第１正
レンズ６＆と第２正レンズ６ｂとは両者の合成系によっ
て上記の没影レンズ６としての作用金有する。１４ を
正レンズ６８の前側焦点はリレーレンズＴの後ｆＨＩＪ
焦点に合致するように配置され、第２正レンズ６ｂの後
側焦点位置にフォトアレー１４が配置されている。従っ
て、被検レンズ（Ｌ）が測定光路中にない嚇合、又は被
検レンズ■の屈折力が零である場合には、す１ノーレン
ズ７ ｋ ７ｊｈる光線は常５図中に点線で示【７たと
とく、イメージローチーター８、マスク３、ｈＺ １
ｊＥ’、 Ｉ／ンズ６ｍ’（ｒ通過した両光１＋１１１
１０に平行となり、４２正レンズ６ｂの後側焦点、すな
わち）Ａドアレイ４の中心に集光される。この時フォト
アレー４からの出力ＩＮ号においてｙ、−ｙ＠ ＝ｏと
なる。被検レンズ（■−が正屈折力の揚台は図中実線で
示したごとく、マスク３の２つのスリット３ａ、３ｈｉ
通る光線は−それぞれフォトアレイ４上に達し、光の縞
３ａ’、３ｂ’を形成する２、被検１ノンズ（Ｑが負屈
折力の揚台には２つの光のｉ３ｇ’、３ｂ’の位置が逆
転する。 このように本実施例におい゛〔も、ｊｄ ４図に示した
第２実施例と同ｆｉＰに被検ｌノノズの光学特性を測定
することができる。イバ号処理系は第３図とほぼ同様で
可能である。本実施例は前ｌ己の実施例において、ステ
ツビノグモータによりマスク３とフォト７レイ４とを一
体で回転させる代りに、イメージローチーター８を回転
させる事で同じ効果ｋ （ｒｆるものである。 これは前記の実施例でマスク３と電気部品である〕場ド
アレイ４とｉ−１ト的に回転さぜるのに対し、イメージ
ローチータ８のみが同転し、他は同定であるため簡がか
つ小型ＶＣ，溝成で籾、製作上もずっと容易である。ｌ
また、本実細別ではイメージｌ１Ｊ−データ８の住方に
マスクを配置しな番゛フれば乃２らず、マスクを？Ｉ＆
＋酊しンズ近湾に配置４．−ノーることかできないの
で、リレーレンズ７によ・つてマスク３の保全被検レン
ズル）の頂点位置近傍にｒｔｔ成し、同じ効果を得てい
る。従って、マスク３を被塗レンズＬ）の近傍に配置位
しなくてよいので、被検レンズ周辺の１膚は設計上の自
由度が増すとともに、測足者によってマスクが場つりも
れたり、汚されたりする危険がないという利点も生ずる
つイメージローチーター８はネに検しノズｔ）とリレー
レンズＴとの間、又はリレーレンズ１とマスク３との閣
のどちらに置いても作１１１は同じであるが、ｔｌＩＩ
Ｉ足光束はリレー１ノ：ノズＴとマスク３との曲ｅ、一
度光軸近くにれ一井るのＣ１この付近に１４＜方が小さ
くできてｂｒ都合である。イメージローチーターとして
は公知の傭々のものを用いることができるが、／’ｌ）
６図（Ａ）及び田）に示したごと巻２つのプリズム８
ｇ。 ８ｂからなるもの’ｉｒ−Ｉｌｌいることが望マしい。 ４６図Ｃｌのイメージローチーターｅ１１１．＼°Ｌプ
リズムとしてよく）１１いられるいわゆる・（’ｆ−ヤ
ンプリズムからダハ面ヲ１乍いたもＣバ「二あり、小型
に（１４成する仁とがｒ：きる。また単６図（）ｌ）の
イメージｔ」−データーはアツベ型といわれるものでペ
チャン型より大きくなるが、２ （ＩＡＩのプリズム８
ｃ、８ｒｌｔ貼り合わせる仁とができるため、ペフＺ１
フン型上りｖ１作上客易になる。 □また、４λ
１正１ノンス６ ａ ’％〜マスク３の近傍に配置＃、
す、６代りに、マスク３と４１ 、ｉＥｌノノズｔｈｋ
−１本化−することもできる。すなわちマスク３に正の
屈折力を持たせるのである。 マスクの構成と１．てｔよ金属板にスリット孔をあけて
もよいが、硝子板にスリットパターン全蒸着さするのが
止子１市でありう。ξのｇ４合。 ７Ａ着しないかの而を凸面に形１曳［７１！−のｊｒｌ
折力全与、＋るととによって、実Ｉ″ｌ的にＭ１ｉＥｌ
ノンズの（幾能を持た忙ることができる。、さらに、マ
スク３とフォトアレイ４との間に４１ ｉＥ、レンズ６
ａと第２正レンズ６ｂとを分離した上記の構成において
は、リレー１ノンズＴと第１正レンズ（ｉａとのけ酸系
がアフォーカル糸？形成するため？！！ ｉｌｔ・調整
が容易となるが、ｒ゛ａ１、第２正レンズｆｉａ、６ｂ
ｔ１つの正レンズで置き遵えることも町１１目でイ〕る
。この場合にも、リレー１ノンズＴの後（ＫＩ焦点がフ
ォトアレイ４の中１１）（ｆＩ：輔との交点）と共役に
なる構成とすれば、被検レンズが１ｌｉｌｌ定毘路中に
ない、Ｗ合又は被検Ｌ・ンズの屈折力が零である。７４
準状態において、フォトアレイ４の出力ｆｆｉ号のうち
Ｙ＋ Ｖ鵞”Ｃ零とすることができる。 上１１己の共役関係、ｉｌＦびにリレーレンズＴに関す
るマスク３と被検レンズ（１１のｍ点との共役関係は必
ずしも厳密に維持される必９は表いが、最も望ましい構
成である。 ｉ ５１’；？ｌに示した第３実施例ではさらに、プリ
ズム度数の測定範囲を拡大するために、コリメーターレ
ンズ２と被検レンズ（１ンとの間にロータリープリズム
９が設置されている。ロータリープリズムというのは二
１１・ηの楔プリズムよりなり、互に逆回転させ“る事
に、しってプリズム置数を連Ｕｔ的に変える事ができ、
全体全回転させる事によりプリズム基底方向を変える事
がＣきる光学部材である。この場合は、測定者が手−！
ＩＪ１で操作し−Ｃもよく、また、サーボ機構全イ１加
して自動的に動作さぜる事も可能である。 乱；ｆ５ｉ ４１＋とフォトアレイの方向が一致しない
場合には第２図（Ｃ）に例示したように縞３ａ′。 ３ｂ’とフォトアレイかよ斜めに交わる。そこで、第７
図の平面図のように互に平行な２本のフオトア１ノイ４
ｍ、４ｂ金配置１！！、すれば、測定紅腺方向が被検レ
ンズの乱視軸の一方に合致した時、フォトアレイ４ａｅ
４１＋に対して縞が垂ｉｒｊに父わるから、縞３ａ’
、３ｂ’七の交点の座痺が２本のフォトアレイで等しい
こと全１負出することによりｉ’ｉＬ、イ児東Ｉｔ ｆ
を利足することができる。この構成に１ｔＬｔよレン
ズ通数の極１代の検出と合わ、忙て、（ガ高い精１ｒＩ
ｉで乱視軸を測定することができる。′また、鳩８図（
４）のがｌ境図に示した上うにビームスプリッタ−４０
ケ１！Ｐ、川して２本以りのフォトアレ−ｆ４１゜４２
を実際１継［１なく樅に連結する早ができ、測定範囲の
拡大またはｄ１尾積！Ｗの向上を行なうことがｔｊＪ能
で凌）、イ）。ずなわらヒームスプリッターで分岐され
ろ２つのｔ ＩＩ’−；ｓ−Ｊ二にしれそれフォトアレ
イ４１．４２’ｉ丸いの位置ｔずらヒて配置、すれｔＪ
’、・０８図（Ｂ）の平面図に示（７たととく実質的に
より長い一本のフォト７レイとして機能させることがで
きる。 第９図に示１．た帛４実カ゛１（同は、リレーレンズと
イメージし１−テークとの曲の場合ぜ紫有するものであ
り、図中では前述の実施例と同一機能の部材ケ同−符号
で示した。この実ｈＩＩ１例では半砿過プリズム８ａと
面角プリズム８ｂとがイメージローデータ会・（１４成
する。リレーレンズ１を、端面した光）１−ロ、ビーム
スブ′リッタとしての半ＸＭ、過プリスム９ ｍ （ｃ
秀Ｊｌｌｉ Ｌ、、直角三角形プリズム８ｂで占び半１
層過プリズム８ａの方へ反射される。そし′Ｃ１’ｔ’
ｉＭ ｙｉＡプリズム８ａで反射され、マスク３ （
ｃ＋ｌＦｉつてフォトアレイ４に達する。本実施例Ｃも
リレーレンズＴに関（７て被＋衷レンズＵ−の頂点近傍
とマスク３とが共役である。ここで直角三角形ブリスｈ
［１ｈケ光１痢１０′に回転中ｌＬ？と［２て図示な
きモーターにより回転さＩすることによ°−）て、被検
１ノンスＩＬ）ケ超過する光束ケマスク３とフォト７レ
イ４とに対して相対的に回Ｉ曹させることが′Ｃ＾、曲
目１２の実施例と回（・−に被検レンズ（シ）のあらゆ
る？ｔ’７東方向での＋ｌｌｌ ＞１２ ｆ行なうこと
ができる。 上記のような各（１ケ成におい乙は破（嫂レンズが多少
イー心して配置されでも、スリット状開［］部に対応す
る光の縞が７３ドアレイ上にあれば、被検レンズの光学
緒特性を測定することができる。（７かし、被検１ノン
スの飼心液が大きくなると、第１０図の仁とく、岐検レ
ンズ（１，１は光軸上でプリズム作用金持たなくともそ
の軸り１ではプリズム作用を持っカ・−め、スリット状
開１１部３８，３ｂに一幻応する光の縞３ａ／ 、３ｂ
’がフォトアレイ４がら離れてしまい測定することがで
きなくなる。また、＄ｊｌＪ足中フォトアレイ４ Ｋ対
鳥もしだに倹レンズの各経線方向は必らず【−もケシ側
１１涌んでいないので、プリズム度数に乱睨度数による
プリズム作用メｐ−加わることがあり、被検レンズに強
瓜の札祝がある場合にはプリズムｔｆｃ、数とプリズム
基既方向の測定Ｖ（−誤差を生じ易い。 これらの間断を刈１）るため番′へ、本発明においてｅ
」さらに、スリッド（チ”、１ｅＦｉ １１ ｆ−＊す
るマスクとフォト７レイとの間にスリット状開口の長手
方向に屈折カラ・侍で）円柱レンズを配置（７、スリッ
ト状開口部の長手方向と光軸とに平行な面内でマスクノ
ーフオトアＥノイとが共役になるように構成した。第１
１図はこの状態の原理を示す斜視図であシ、円柱レンズ
２０が挿入されまた被検レンズ（Ｑが偏心して配置され
ている他は第１図と全く同じ構成である。マスク３上の
スリット状開口部３ａ、３ｂの長手方向がＸ軸に平行で
あるとすると、フォトアレイの長手方向はｙ軸に平行で
あり、これらの間に円柱レンズ２０が設けられている。 円柱レンズは光軸１０とＸ軸とを含む面内で正の屈折力
を有し、この面に平行な面内でマスク３とフォトアレイ
４とが円柱レンズ２０に関して共役である。従って、ス
リット状開口部３ａ、３ｂｉ通る光線は全てフォトアレ
イ４を中心としてＸ軸方向で所定の範囲内に集光され、
もはや光の縞３．／ 、３ｂ／がフォトアレイから離れ
ることはない。この場合のフォトアレイ４上での縞３ａ
’、３ｂ′の状態は第１２図■、第１２図（Ｂ）又は第
１２図（Ｃ）のごとき状態のいずれかであり、被検レン
ズにプリズム度数が加わっていたとしても前述した第２
図（Ｂ） 、 １４％ ２図（Ｃ） ／／−）ように縞
が片寄ることはない。すなわちＡｌ １２図（Ａ）はイ
Ｉ！＋倹レンズに乱視とプリズム作用ない場合、第１２
図（Ｂ）はプリズムが、ちる場合１．ｉ％ １２図（Ｃ
））二１乱視とプリズムとがあり乱睨軸がｙ軸（測定経
線方向）と一致しない一般的な場合であも。そ［７て、
２本のＡ）ｇｌのフォトアレイ上でのｒ〜ｉｉｊ“イ、
ｙ、。 ｙ、を検出しＳ３’１Ｆ！ より１ノンズ朋数金、ま
た（ｙ＋ ÷ｙ＋＋）／２よりプリズム度数を測定す
ることがＣへる。その最大１直が被検レンズのプリズム
度数であり、その回転角度位置がプリズム基１Ｆ（方向
となる。この、１４合、フォトアレイ４に対１６する経
線方向は常に光軸１０を含んでいるので、乱？１ＡＩｔ
ｓ数によるプリズム作用ｔよ加わらず、純粋にプリズム
＋１ ｐ ’ｑ：測定することができる２、被ＩＡレン
ズの各経線方向での測定のだめには、マスク３、円柱レ
ンズ２０及びフォトアレイ４ｆｔ−ｆｌ的に光ｔｌａ＋
１０のまわりに回転させればよい。 このような円柱ｌノンズを用いて被検レンズの（ロ）心
付ＩＦ７．Ｃも：ｄ（１定１−得る第５実施例の信成′
ｆｃ第１３（図（Ａ）及び（）１）に示す。本実施例れ
ｔ前述したｘ＋ｃ ３ 実施例（１３５図）に内性しン
ズケ加えた構成Ｃを】る。第１３図（Ａ） １１スリッ
ト伏開ロ部３Ｒ，３ｂの長手方向に（ｉｐ１μＪ〜なわ
ちフォトアレイ４に平行な面内での光路図であり、第１
３図（Ｂ）な３１．スリット状開口１ｆｉ１３ａ、３ｂ
の長手方間に’ｌ’−ｒＪ”ｊなわちフォトアレイ４に
堆Ｉａな面内での３１；分光路（〉４である。内柱レン
ズ２０は第１正１ノンズ６ａと第２正し／ンズ６ｂとの
間に配に！され、スリット状開１’、、ｌ ｆｎｓ ３
ｓ 。 ３ｂの長手方向にのみ正屈近力？ｒ角［７ている。 従って、円柱レンズ２０は２１番１３図（Ａ）では１ｆ
′−行平面ガラスとしてｆ幾能【２、第１３図（Ｂ）で
正レンズとしで惧＋’ｉＵ している。図中、被検レン
ズがない喝ａの光線全実線で１．ｉＥ ｙｌｉｌ ！斥
力の被沃レンズ（点線で図示）が測定される際の光ｉｔ
点線でそれぞれ示した。、ＩＭ、マスク３までの光路は
回転対称であ）て、第１３図（Ｂ）では４１３図（Ａ）
と等価であるため一部省略１．た。 １６１３ ｐ、Ｉ （Ｂ）に示（７丸ごとくスリット状
開口部３ａの両）喘Ｐ、ｔ’、１４１Ｊ’、常にフォト
アレイ４に四し７て対称な位にバＰ／、Ｑ／と兵役であ
り、この図の面内ではスリット状開口の貫がフォト７レ
イヒで帛に一定位ＩＩ７にあることが判る。 本実施例でもイメージローチーター８を図示なき駆動手
段によって＞Ｙ、： ｌ′ｔｉｌ＋ １０を中心としで
回転させ１しげ、彼ｔ〜レンズのＩにてのｌ！！Ｉ早方
向での測定がなされる。１ｄ号処理系として（・ま弔３
図に示したのと同様の摺４ ｔ １１４いれはよい。 円柱レンズ２０と！８２止１ノンズ６ｂ、Ｌ：ｆｆ１−
１＋化Ｌ、１１円のトーリックレンズで４７ｆｂＶする
ことも可能である。 上ｎ＋２の各実ＭＩＩ例ではいずれもマスク３に２つの
スリツト状開ロ部ｆ：設けたが、２つに限る必要はなく
３つば上でありてもよい。フォト７レイ４と（７で例え
Ｆｆ、１次元ＣＣＤアレイケ用いれば、？）１． ／＝
、Ｑの光位信訴・検出することができるからであるった
だ１７、スリット状開口部があまり多いとフォトアレイ
」二でσ）縞との状開Ｌ１都ケ３つ設ける場合１例えば
襖１４１シ（の平面図に示すごとく、マスク３の中／Ｌ
？（光軸位置）外の一方に２本のスリット３訊、。 ３８、全隣接して設は他方にξれり、と平行にＭ ３の
スリット３ｂを設けれケよ、ノ４゛Ｉ・アレイ上でＶ４
ｍする２本の縞ともう１本の縞とが形成される。このよ
うにマスク上の一方のスリット’ｔ−１ｉｙＪ 接する
２木のスリットとｊ−ることにより前述した２つのスリ
ット状開口部３色。 ３ ｂ （１）識別を可能にすることができる。従って
、既に述べた通り、マスクとフォトアレイとの同の投影
レンズの作用′により被検レンズの屈折力が正か負かに
よってフォトアレイ上での２本の編３ｍ’ 、３ｂ’の
位数が逆転する場合に、■！・か負かの↑α別金容易帳
することがで合る。 また、スリット状開口部を１′−）のみ設けた構成によ
っても被検レンズの光学的緒特性を測にすることができ
る。この場ローの原理を第１５図の斜視図に、井た′フ
ォトアレイ上での縞の状態金’ＪＴ １ ｆｔ Ｍ （
Ａ） 〜（Ｃ） Ｋ： 示Ｌ７）−０小１５図の状態ｅ
よ第１図におい”で一方のスリット状開口部３ｂ’ｆｒ
除いた伏襲に５［７い。この様な構成においては、ある
経をψ方向の測定のためにマスク３を回転させ、マスク
３が１８０゜回転する始めと終りのそれぞれの時のＭ＋
３ａ’の位ＩＮ ｅ Ｆｆ４出す２）ことが心安である
。 ７８ｔ 。 図偽）は被検レンズが球面レンズである場８０例、（Ｂ
）はプリズム電数を持つ場合の例、（Ｃ）は乱視レンズ
であって乱？Ｊ′ｉ！軸が＋）１１１足径線方向に一致
していない、場合の■であり、マスクが１８０°回転す
る始めの時の縞３軌′を実線で、粋すの時の縞ｓａ”を
点線でそれぞれ示り、り、ｌ ＭＸ １６ （ｘｉ（Ａ
ｔ 〜＜Ｌ’Ｈ”Ｃｊｒ’、した、状態は前述した第２
図（４）〜（Ｃ）の状ｋ、（４と実・鱈的に同一であり
、同様に’Ｊ＋ −Ｆｔ よりレンズＦ８−数を、（
ｙ＋”ｙ、）／２よシブリズム１ルー数全検出すること
ができる。このようなスリット状開口部が１つのみであ
る１崎台にも前述した各実施例のごとく、投影レンズや
リレーレンズ、イメージローデータ′＝−ヲ用い同様に
構成することができる。また前述したようにマスクとフ
ォトアレイとの間に円柱レンズを配置することも同様に
有効である。 淘、スリット状開口部全１つだけ設ける場合には、受光
部材として１次元ＣＣＤアレイ等のフォトアレイの代り
にポジションセンサーといわれる１次元位置検出素子を
用いることができる。ポジションセンサーは大きさを持
った光スポットが当るとその荷重平均位１胤全出力し、
同時には受光面上での１点のみしか検出することができ
女いが、はぼ瞬時に読出し可能でありＣＣＤアレイのよ
うな読出しのタイムラグがなく、連続的な読出しも可能
である。但しｔ・スリット状開口部を２つ設ける場合に
は被検１ノンズを通る光束に対してマスクと受光部材と
を１８０°回転させれば全ての測定を完了することがで
きるが、スリット状開口部が１つだけの場合には少なく
とも３６００の回転が必要である。また、この場合前述
したようにある経線方向での測定のためにも１８０°回
転させてその前後の２つの信号が対と力って初めて測定
されるため、測定中に被検レンズが動けば測定誤差を生
じ品い。スリット大開口部が光軸をはさんで複数ある場
合にはこのような問題が生ずることはない。 さて、上記の構成においては、点光源とコリメーターレ
ンズとを用いて被検レンズへ平行光束を投射し之が、こ
れに限られるものではない。平行光束は最も簡単である
が、むしろ平行状態？はずすことによって測定レンジ全
拡大することめ；できる。例えば第１７図に示したごと
く、コリメーターレンズ２の前側焦点Ｆ上に第１の発光
ダイオード１ ａ ’ｃ 、その前後にＭ２＋第３の発
光ダイオード１ｂ。 Ｉｃｅ設け、必要に応じて選択的に用いることができる
っ第１発光ダイオード１ａによれば点線で示したごとく
役検レンズし）へ平行光束を供給できるが、第２発光ダ
イオード１ｂを発光させれば実線で示したごとく被検レ
ンズ（υへ収斂光束が供給され、被検レンズ０．）が強
い負屈折力をＩテつ、喝合の測定に有利でめるり第３発
光ダイＪ−ドｌｃ’を用いれば被検レンズへ発敗光東が
供給され被検レンズが強度の正レンズである場合に有利
である。このような測定レンジの拡大は、マスクと受光
部材との間に正又は負のレンズ全選択的に挿入しても達
成することができる。また、被検レンズオコリメーター
レンズの後側焦点位置に配置すれば、光源の位置と被検
１ノンズに入射°Ｊ“る光束のディオプターとの関係が
リニアーになり好本（を合である仁とはいうまでもない
。 尚、上ＮＬの説明では全てマスクにスリット状の開口部
ｔ・設ける構成としたが、逆にスリット状部分を萌九部
とし他の部分を透過させる構成とすることもで自る。こ
の場合に受光部材は光の明線ではなく暗線のもｔ ＋ｒ
ｔ ′ｆｃ検出すれば、同ｌＩ＋、の測定が可能である
。本発明においては、被検レンズ上で光軸外のｉｋ線部
分を通る光線束に対応する情報４得ることのみが必要で
あり、とのｒｉ１？Ａに部分と他の部分との光電的判別
さえＣきればその手段は問わない。 光の調光による分離や波長域の選択的透過でも可ｆｉ目
である。また光源としては、発光ダイオードに限らず、
半導体レーザーでもよい（７、タングステンランプ等の
一般的杭球からの光束を集光レンズによりピンホール上
に投影しこのピンホールを実質的九（ｒ”？、とじて用
いることも可能である。 以上のように、本発明によれは４１１１定−）Ｙ；蛸を
挾む２本の１１紳状光栄のイルツー＋楓から、破１呻レ
ンズの球面度数、古１． ′ｙＡである場合の円柱Ｉｔ
’（’、数と乱視１Ｍ方向、及びプリズム１＃；用があ
る１４合のプリズム＃、ａとぞの基底方向を含め全ての
）ｒ７１Ｆｒ特性を検出することができ、比較的同鵬な
構成で高ｆＪ Ｉ＆に測定することができる。１７かも
受光素子は一次元素子で十分であり、−次元素子上での
光位置の１六癩から全ての６１１１ ！がなされるため
浦号処理系の構成も闇単であり演）γｌｉｔ、−間も（
参めて短時間であｉ）迅連なａｌｌｌｌｌｌ桁合うとと
一′バできる。 ｌｒ＋Ｊ ｓ上［１［］の、説明ではレンズの副＞Ｉｉ
装置＾゛、螢中心に述べたが、これに限らず本発明をよ
眼の屈折特性のｄｉｌＪ屋や角膜等の曲面の曲率半径の
測定にも応用することがで角、いずれの場合にもマイク
ロ：」ンビューターとの和合ぜにより全ての測′Ａピｋ
・自動化ノ゛ることかできる。
記受光部材上での前記ｊ１■光１■１材により制限され
た直線状部分に対応する位１ｉ′ｆによシ前記被倹光学
系のｌ１ｉｌ尉↑＾報紮暎出−するもｔ／）−’Ｑある
。 ナず、本発明の原理全４１図に１．たがっ−Ｃ説明する
。光源１より発し九九は、コリメーターレンズ２によ−
って千行光東となり、被検１ノンズＩＩ、）に入射し、
その屈折！１！￥＋Ｉｂに応じて屈折される。被検１メ
ンズの近傍には、光軸１ｏに対して対称Ａ１つ互に平行
（Ｘ方向）な２本のスリット伏開ロ部３ａ、ａｂｉ光軸
外に有するマスク３が配置されており、マスク３がら光
軸上ｊ：）ｉ ノ可の距離だけ離れて、光軸に垂ｉ白か
つｆｌは対称にして前１４１ｕスリツト３ｓ、３ｂに垂
直（３・方向）に１次元検出アｌノイ（以下単にフォト
アレイと称す）４が配置１りＩされでいる。 マスク３を通った光ｔｉｔ、フォトアレイ４に到達し、
２本のスリットに対応し７て２本の縞３ａ′。 ａｂ’ｔ＋＋−ｓ成する。フォトアレイ４と縞３Ｂ’。 ３ｂ′との位ｌｆ関係は１、被検レンズに乱視とプリズ
ムがないｖ４合には第２図（Ａ）のようになる。この、
鳴合フォトアレイと光軸との交点を座＋＃４原点にとシ
、フォトアレイ４の方向ヲｙ軸にとり、２本の縞３ａ／
、３ｂ／がフォトアレイを切る点の位置を夫々Ｖ＋＋
３’２とすると、この場付はＦｚ＝−Ｆｔ となセ、縞
の間隔７ｓ Ｆｔが被検レンズのｙ方向での球面度数
に対応する。また乱視がなく、プリズムがある場合ＬＬ
例えば第２図（Ｂ）のようになり、２本の縞３ａ’、３
ｂ’の中心の原点からのずれＰがプリズム度数に剌１応
し、ずれのｙ軸成分（ｙＩ ＋ｙ！ ）／２がプリズム
度数のｙ軸方向の成分に対応する。マＳらに、乱視とプ
リズム両方があり、乱視１１１１Ｉもｙ軸（測定ドア、
線方向）と一致１７ないような一般的な場合は第２図Ｃ
）のようになる。２本（゛）縞３８′。 ３ｂ’の間隔’Ｉ、 Ｖｔはレンズ度数のｙ軸方向の
成分にメＪ１５Ｌ、、絹の中心位置（３’＋＋Ｆｔ）／
２はプリズム度数のｙ軸方向の成分に対応する。そこで
、マスク３とフォトアレイ４とを一体として光ｆｉＩＩ
ＩＩｋ中ノ［？に、誠倹レンズに対して相対的に回転さ
ｕ−ｉｔ、 を丁、各経線方向のレンズ１（数とブ′リ
ズム１ｇ−劣只を（ξ用足”！る事ができる。そし−〔
、レンズ度数が、最大と最小のとき、２本の主経線方向
のレンズ度数が得られ、このときの回転角位置より乱視
１１’ｌ１１方向が４１）られる。また、プリズム度数
が最大のときの値が、ヰ皮検レンズのプリズム度数とな
υ、このときの回転角位ｒｔｔｔよりプリズム基底方向
が得られる。 ハ）３図は以上の原理に基づいた第１実施例の概略ｔ：
Ｖ成図である。マスク３とフォトアレイ４とは一体的に
、ステッピングモータ５の回＋ｉｌべｆｌ’ｌｌｌに数
句けられ、う’に ＋ＩＩｌ＋ １０ ′（ｉ：中心と
して回転可能である。ステッピングモータ５はモータ１
ソ１にｒ＋ｒｂ回１．各１１によｐ駆ｔｌｉ！＋され、
フォトアレイ４上での２本の縞の位置が光、（負出回路
１２により検出される。光検出回路１２及びモータ駆ｉ
！ｉ’ｌＪ回路１１はインターフェイス回路１３を介し
てマ・ｒクロプロセラ（す１４に接続されている。マイ
クロプロセッサ１４ではマスク３とフォトアレイ４との
各回転位置ごとに前述のごとく、Ｙｔ −’！２ よ
り１］シズｅ教を、また（ ｙ １＋ ｙ ｔ ）
／ ２よりプリズム度＆？ を検出し、マスク３とフォ
トアレイ４との少なくとも１８０°にわたる回転範囲に
おいて％３’ｌ ３’２の最大１１η及び最小直を
求めこれらに対応するマスク及びフォトアレイの回転角
度位置により乱視度数と乱視軸を求めるまた、プリズム
度数の最大値とこれ依二対応するマスク及びフォトアレ
イの回転角度位置によりプリズム度数とプリズム方向を
求める。 そ【−て、これらの１直はそれぞれ１′９に望の表示型
式で表４モ装置１５によシ表示される。 本発明による帛２夾施ｔ・すは第４図の概略構成図に示
したごとく、マスク３とフォトアレイ４との間に投影レ
ンズ６が配置、され、フォトアレイ４の位置は投影レン
ズ６の陵側焦点位置には理合致している。第４図図中ｆ
ｔ ３−図と同一の符号は第１実施例と同等の部材を表
わ【７、信号処理系は第１実施ｙＩＩとｔｌは同一で為
るので省略した。仁の構成においては、被検レンズ（υ
が測定光路中にない場合又は被検レンズ（Ｌ）に全＜
Ｊｉｉｔ折力がない、嚇合、コリメーターレンズ２を射
出する平行光束が、マスク３投影レンズ６を通シフオド
７レイ４の中心部ぢ元軸１０上に集光される。従つ−〔
、この場゛合マスク３上の２つのスリット３ ｇ ＋
３ ｂ ｆ通過する光りは図中点線で示しだごとく全て
フォトアレイ４の中心に達し、２木の縞は形成場れない
。図示のごとく正屈折力の被検レンズα、）が光路中の
マスク３に隣接して設けられると、英純で示したごとく
マスク３の２つのスリンｌ”３ａ、３ｂに対応（７て２
本の縞３ａ’、３ｂ’が）第１・アレイ４−ヒに形成さ
れる。被検レンズ（Ｌ）が負）＋７’＝折力である場合
は２本の縞３ａ′、３ｂ′の位置は図中で上下逆転する
。従って、このような投影レンズ６を設けることによシ
、被・険しシズ０．）の屈折力が零の時を基準として、
フォトアレイ４上での２つの縞の相対的の間隔が被険レ
ンズの屈折力の絶対値に対応することとなり、＋ｌＩ’
ｌ定が１＃６単かつ正確となＩ）製造、調整も容易にな
る。 第５図を土木発明による小３実施例の光学系を示す概略
断面図である。本実施例では、被検レンズ（ｇの後方に
リレーレンズγが設けられ、このリレーレンズ１に関し
て被検レンズ色）とはぼ共役な位置に２つのスリット３
ｍ。 ３ｂを有するマスク３が設けられている。リレーレンズ
Ｔとマスク３との曲には光束回転手段としてのイメージ
ローチーター８が配置されている。マスク３の後方には
第１正レンズ６ａがマスク３に隣接して設けられ、また
やや離れて第２正レンズ６ｂが設けられている。第１正
レンズ６＆と第２正レンズ６ｂとは両者の合成系によっ
て上記の没影レンズ６としての作用金有する。１４ を
正レンズ６８の前側焦点はリレーレンズＴの後ｆＨＩＪ
焦点に合致するように配置され、第２正レンズ６ｂの後
側焦点位置にフォトアレー１４が配置されている。従っ
て、被検レンズ（Ｌ）が測定光路中にない嚇合、又は被
検レンズ■の屈折力が零である場合には、す１ノーレン
ズ７ ｋ ７ｊｈる光線は常５図中に点線で示【７たと
とく、イメージローチーター８、マスク３、ｈＺ １
ｊＥ’、 Ｉ／ンズ６ｍ’（ｒ通過した両光１＋１１１
１０に平行となり、４２正レンズ６ｂの後側焦点、すな
わち）Ａドアレイ４の中心に集光される。この時フォト
アレー４からの出力ＩＮ号においてｙ、−ｙ＠ ＝ｏと
なる。被検レンズ（■−が正屈折力の揚台は図中実線で
示したごとく、マスク３の２つのスリット３ａ、３ｈｉ
通る光線は−それぞれフォトアレイ４上に達し、光の縞
３ａ’、３ｂ’を形成する２、被検１ノンズ（Ｑが負屈
折力の揚台には２つの光のｉ３ｇ’、３ｂ’の位置が逆
転する。 このように本実施例におい゛〔も、ｊｄ ４図に示した
第２実施例と同ｆｉＰに被検ｌノノズの光学特性を測定
することができる。イバ号処理系は第３図とほぼ同様で
可能である。本実施例は前ｌ己の実施例において、ステ
ツビノグモータによりマスク３とフォト７レイ４とを一
体で回転させる代りに、イメージローチーター８を回転
させる事で同じ効果ｋ （ｒｆるものである。 これは前記の実施例でマスク３と電気部品である〕場ド
アレイ４とｉ−１ト的に回転さぜるのに対し、イメージ
ローチータ８のみが同転し、他は同定であるため簡がか
つ小型ＶＣ，溝成で籾、製作上もずっと容易である。ｌ
また、本実細別ではイメージｌ１Ｊ−データ８の住方に
マスクを配置しな番゛フれば乃２らず、マスクを？Ｉ＆
＋酊しンズ近湾に配置４．−ノーることかできないの
で、リレーレンズ７によ・つてマスク３の保全被検レン
ズル）の頂点位置近傍にｒｔｔ成し、同じ効果を得てい
る。従って、マスク３を被塗レンズＬ）の近傍に配置位
しなくてよいので、被検レンズ周辺の１膚は設計上の自
由度が増すとともに、測足者によってマスクが場つりも
れたり、汚されたりする危険がないという利点も生ずる
つイメージローチーター８はネに検しノズｔ）とリレー
レンズＴとの間、又はリレーレンズ１とマスク３との閣
のどちらに置いても作１１１は同じであるが、ｔｌＩＩ
Ｉ足光束はリレー１ノ：ノズＴとマスク３との曲ｅ、一
度光軸近くにれ一井るのＣ１この付近に１４＜方が小さ
くできてｂｒ都合である。イメージローチーターとして
は公知の傭々のものを用いることができるが、／’ｌ）
６図（Ａ）及び田）に示したごと巻２つのプリズム８
ｇ。 ８ｂからなるもの’ｉｒ−Ｉｌｌいることが望マしい。 ４６図Ｃｌのイメージローチーターｅ１１１．＼°Ｌプ
リズムとしてよく）１１いられるいわゆる・（’ｆ−ヤ
ンプリズムからダハ面ヲ１乍いたもＣバ「二あり、小型
に（１４成する仁とがｒ：きる。また単６図（）ｌ）の
イメージｔ」−データーはアツベ型といわれるものでペ
チャン型より大きくなるが、２ （ＩＡＩのプリズム８
ｃ、８ｒｌｔ貼り合わせる仁とができるため、ペフＺ１
フン型上りｖ１作上客易になる。 □また、４λ
１正１ノンス６ ａ ’％〜マスク３の近傍に配置＃、
す、６代りに、マスク３と４１ 、ｉＥｌノノズｔｈｋ
−１本化−することもできる。すなわちマスク３に正の
屈折力を持たせるのである。 マスクの構成と１．てｔよ金属板にスリット孔をあけて
もよいが、硝子板にスリットパターン全蒸着さするのが
止子１市でありう。ξのｇ４合。 ７Ａ着しないかの而を凸面に形１曳［７１！−のｊｒｌ
折力全与、＋るととによって、実Ｉ″ｌ的にＭ１ｉＥｌ
ノンズの（幾能を持た忙ることができる。、さらに、マ
スク３とフォトアレイ４との間に４１ ｉＥ、レンズ６
ａと第２正レンズ６ｂとを分離した上記の構成において
は、リレー１ノンズＴと第１正レンズ（ｉａとのけ酸系
がアフォーカル糸？形成するため？！！ ｉｌｔ・調整
が容易となるが、ｒ゛ａ１、第２正レンズｆｉａ、６ｂ
ｔ１つの正レンズで置き遵えることも町１１目でイ〕る
。この場合にも、リレー１ノンズＴの後（ＫＩ焦点がフ
ォトアレイ４の中１１）（ｆＩ：輔との交点）と共役に
なる構成とすれば、被検レンズが１ｌｉｌｌ定毘路中に
ない、Ｗ合又は被検Ｌ・ンズの屈折力が零である。７４
準状態において、フォトアレイ４の出力ｆｆｉ号のうち
Ｙ＋ Ｖ鵞”Ｃ零とすることができる。 上１１己の共役関係、ｉｌＦびにリレーレンズＴに関す
るマスク３と被検レンズ（１１のｍ点との共役関係は必
ずしも厳密に維持される必９は表いが、最も望ましい構
成である。 ｉ ５１’；？ｌに示した第３実施例ではさらに、プリ
ズム度数の測定範囲を拡大するために、コリメーターレ
ンズ２と被検レンズ（１ンとの間にロータリープリズム
９が設置されている。ロータリープリズムというのは二
１１・ηの楔プリズムよりなり、互に逆回転させ“る事
に、しってプリズム置数を連Ｕｔ的に変える事ができ、
全体全回転させる事によりプリズム基底方向を変える事
がＣきる光学部材である。この場合は、測定者が手−！
ＩＪ１で操作し−Ｃもよく、また、サーボ機構全イ１加
して自動的に動作さぜる事も可能である。 乱；ｆ５ｉ ４１＋とフォトアレイの方向が一致しない
場合には第２図（Ｃ）に例示したように縞３ａ′。 ３ｂ’とフォトアレイかよ斜めに交わる。そこで、第７
図の平面図のように互に平行な２本のフオトア１ノイ４
ｍ、４ｂ金配置１！！、すれば、測定紅腺方向が被検レ
ンズの乱視軸の一方に合致した時、フォトアレイ４ａｅ
４１＋に対して縞が垂ｉｒｊに父わるから、縞３ａ’
、３ｂ’七の交点の座痺が２本のフォトアレイで等しい
こと全１負出することによりｉ’ｉＬ、イ児東Ｉｔ ｆ
を利足することができる。この構成に１ｔＬｔよレン
ズ通数の極１代の検出と合わ、忙て、（ガ高い精１ｒＩ
ｉで乱視軸を測定することができる。′また、鳩８図（
４）のがｌ境図に示した上うにビームスプリッタ−４０
ケ１！Ｐ、川して２本以りのフォトアレ−ｆ４１゜４２
を実際１継［１なく樅に連結する早ができ、測定範囲の
拡大またはｄ１尾積！Ｗの向上を行なうことがｔｊＪ能
で凌）、イ）。ずなわらヒームスプリッターで分岐され
ろ２つのｔ ＩＩ’−；ｓ−Ｊ二にしれそれフォトアレ
イ４１．４２’ｉ丸いの位置ｔずらヒて配置、すれｔＪ
’、・０８図（Ｂ）の平面図に示（７たととく実質的に
より長い一本のフォト７レイとして機能させることがで
きる。 第９図に示１．た帛４実カ゛１（同は、リレーレンズと
イメージし１−テークとの曲の場合ぜ紫有するものであ
り、図中では前述の実施例と同一機能の部材ケ同−符号
で示した。この実ｈＩＩ１例では半砿過プリズム８ａと
面角プリズム８ｂとがイメージローデータ会・（１４成
する。リレーレンズ１を、端面した光）１−ロ、ビーム
スブ′リッタとしての半ＸＭ、過プリスム９ ｍ （ｃ
秀Ｊｌｌｉ Ｌ、、直角三角形プリズム８ｂで占び半１
層過プリズム８ａの方へ反射される。そし′Ｃ１’ｔ’
ｉＭ ｙｉＡプリズム８ａで反射され、マスク３ （
ｃ＋ｌＦｉつてフォトアレイ４に達する。本実施例Ｃも
リレーレンズＴに関（７て被＋衷レンズＵ−の頂点近傍
とマスク３とが共役である。ここで直角三角形ブリスｈ
［１ｈケ光１痢１０′に回転中ｌＬ？と［２て図示な
きモーターにより回転さＩすることによ°−）て、被検
１ノンスＩＬ）ケ超過する光束ケマスク３とフォト７レ
イ４とに対して相対的に回Ｉ曹させることが′Ｃ＾、曲
目１２の実施例と回（・−に被検レンズ（シ）のあらゆ
る？ｔ’７東方向での＋ｌｌｌ ＞１２ ｆ行なうこと
ができる。 上記のような各（１ケ成におい乙は破（嫂レンズが多少
イー心して配置されでも、スリット状開［］部に対応す
る光の縞が７３ドアレイ上にあれば、被検レンズの光学
緒特性を測定することができる。（７かし、被検１ノン
スの飼心液が大きくなると、第１０図の仁とく、岐検レ
ンズ（１，１は光軸上でプリズム作用金持たなくともそ
の軸り１ではプリズム作用を持っカ・−め、スリット状
開１１部３８，３ｂに一幻応する光の縞３ａ／ 、３ｂ
’がフォトアレイ４がら離れてしまい測定することがで
きなくなる。また、＄ｊｌＪ足中フォトアレイ４ Ｋ対
鳥もしだに倹レンズの各経線方向は必らず【−もケシ側
１１涌んでいないので、プリズム度数に乱睨度数による
プリズム作用メｐ−加わることがあり、被検レンズに強
瓜の札祝がある場合にはプリズムｔｆｃ、数とプリズム
基既方向の測定Ｖ（−誤差を生じ易い。 これらの間断を刈１）るため番′へ、本発明においてｅ
」さらに、スリッド（チ”、１ｅＦｉ １１ ｆ−＊す
るマスクとフォト７レイとの間にスリット状開口の長手
方向に屈折カラ・侍で）円柱レンズを配置（７、スリッ
ト状開口部の長手方向と光軸とに平行な面内でマスクノ
ーフオトアＥノイとが共役になるように構成した。第１
１図はこの状態の原理を示す斜視図であシ、円柱レンズ
２０が挿入されまた被検レンズ（Ｑが偏心して配置され
ている他は第１図と全く同じ構成である。マスク３上の
スリット状開口部３ａ、３ｂの長手方向がＸ軸に平行で
あるとすると、フォトアレイの長手方向はｙ軸に平行で
あり、これらの間に円柱レンズ２０が設けられている。 円柱レンズは光軸１０とＸ軸とを含む面内で正の屈折力
を有し、この面に平行な面内でマスク３とフォトアレイ
４とが円柱レンズ２０に関して共役である。従って、ス
リット状開口部３ａ、３ｂｉ通る光線は全てフォトアレ
イ４を中心としてＸ軸方向で所定の範囲内に集光され、
もはや光の縞３．／ 、３ｂ／がフォトアレイから離れ
ることはない。この場合のフォトアレイ４上での縞３ａ
’、３ｂ′の状態は第１２図■、第１２図（Ｂ）又は第
１２図（Ｃ）のごとき状態のいずれかであり、被検レン
ズにプリズム度数が加わっていたとしても前述した第２
図（Ｂ） 、 １４％ ２図（Ｃ） ／／−）ように縞
が片寄ることはない。すなわちＡｌ １２図（Ａ）はイ
Ｉ！＋倹レンズに乱視とプリズム作用ない場合、第１２
図（Ｂ）はプリズムが、ちる場合１．ｉ％ １２図（Ｃ
））二１乱視とプリズムとがあり乱睨軸がｙ軸（測定経
線方向）と一致しない一般的な場合であも。そ［７て、
２本のＡ）ｇｌのフォトアレイ上でのｒ〜ｉｉｊ“イ、
ｙ、。 ｙ、を検出しＳ３’１Ｆ！ より１ノンズ朋数金、ま
た（ｙ＋ ÷ｙ＋＋）／２よりプリズム度数を測定す
ることがＣへる。その最大１直が被検レンズのプリズム
度数であり、その回転角度位置がプリズム基１Ｆ（方向
となる。この、１４合、フォトアレイ４に対１６する経
線方向は常に光軸１０を含んでいるので、乱？１ＡＩｔ
ｓ数によるプリズム作用ｔよ加わらず、純粋にプリズム
＋１ ｐ ’ｑ：測定することができる２、被ＩＡレン
ズの各経線方向での測定のだめには、マスク３、円柱レ
ンズ２０及びフォトアレイ４ｆｔ−ｆｌ的に光ｔｌａ＋
１０のまわりに回転させればよい。 このような円柱ｌノンズを用いて被検レンズの（ロ）心
付ＩＦ７．Ｃも：ｄ（１定１−得る第５実施例の信成′
ｆｃ第１３（図（Ａ）及び（）１）に示す。本実施例れ
ｔ前述したｘ＋ｃ ３ 実施例（１３５図）に内性しン
ズケ加えた構成Ｃを】る。第１３図（Ａ） １１スリッ
ト伏開ロ部３Ｒ，３ｂの長手方向に（ｉｐ１μＪ〜なわ
ちフォトアレイ４に平行な面内での光路図であり、第１
３図（Ｂ）な３１．スリット状開口１ｆｉ１３ａ、３ｂ
の長手方間に’ｌ’−ｒＪ”ｊなわちフォトアレイ４に
堆Ｉａな面内での３１；分光路（〉４である。内柱レン
ズ２０は第１正１ノンズ６ａと第２正し／ンズ６ｂとの
間に配に！され、スリット状開１’、、ｌ ｆｎｓ ３
ｓ 。 ３ｂの長手方向にのみ正屈近力？ｒ角［７ている。 従って、円柱レンズ２０は２１番１３図（Ａ）では１ｆ
′−行平面ガラスとしてｆ幾能【２、第１３図（Ｂ）で
正レンズとしで惧＋’ｉＵ している。図中、被検レン
ズがない喝ａの光線全実線で１．ｉＥ ｙｌｉｌ ！斥
力の被沃レンズ（点線で図示）が測定される際の光ｉｔ
点線でそれぞれ示した。、ＩＭ、マスク３までの光路は
回転対称であ）て、第１３図（Ｂ）では４１３図（Ａ）
と等価であるため一部省略１．た。 １６１３ ｐ、Ｉ （Ｂ）に示（７丸ごとくスリット状
開口部３ａの両）喘Ｐ、ｔ’、１４１Ｊ’、常にフォト
アレイ４に四し７て対称な位にバＰ／、Ｑ／と兵役であ
り、この図の面内ではスリット状開口の貫がフォト７レ
イヒで帛に一定位ＩＩ７にあることが判る。 本実施例でもイメージローチーター８を図示なき駆動手
段によって＞Ｙ、： ｌ′ｔｉｌ＋ １０を中心としで
回転させ１しげ、彼ｔ〜レンズのＩにてのｌ！！Ｉ早方
向での測定がなされる。１ｄ号処理系として（・ま弔３
図に示したのと同様の摺４ ｔ １１４いれはよい。 円柱レンズ２０と！８２止１ノンズ６ｂ、Ｌ：ｆｆ１−
１＋化Ｌ、１１円のトーリックレンズで４７ｆｂＶする
ことも可能である。 上ｎ＋２の各実ＭＩＩ例ではいずれもマスク３に２つの
スリツト状開ロ部ｆ：設けたが、２つに限る必要はなく
３つば上でありてもよい。フォト７レイ４と（７で例え
Ｆｆ、１次元ＣＣＤアレイケ用いれば、？）１． ／＝
、Ｑの光位信訴・検出することができるからであるった
だ１７、スリット状開口部があまり多いとフォトアレイ
」二でσ）縞との状開Ｌ１都ケ３つ設ける場合１例えば
襖１４１シ（の平面図に示すごとく、マスク３の中／Ｌ
？（光軸位置）外の一方に２本のスリット３訊、。 ３８、全隣接して設は他方にξれり、と平行にＭ ３の
スリット３ｂを設けれケよ、ノ４゛Ｉ・アレイ上でＶ４
ｍする２本の縞ともう１本の縞とが形成される。このよ
うにマスク上の一方のスリット’ｔ−１ｉｙＪ 接する
２木のスリットとｊ−ることにより前述した２つのスリ
ット状開口部３色。 ３ ｂ （１）識別を可能にすることができる。従って
、既に述べた通り、マスクとフォトアレイとの同の投影
レンズの作用′により被検レンズの屈折力が正か負かに
よってフォトアレイ上での２本の編３ｍ’ 、３ｂ’の
位数が逆転する場合に、■！・か負かの↑α別金容易帳
することがで合る。 また、スリット状開口部を１′−）のみ設けた構成によ
っても被検レンズの光学的緒特性を測にすることができ
る。この場ローの原理を第１５図の斜視図に、井た′フ
ォトアレイ上での縞の状態金’ＪＴ １ ｆｔ Ｍ （
Ａ） 〜（Ｃ） Ｋ： 示Ｌ７）−０小１５図の状態ｅ
よ第１図におい”で一方のスリット状開口部３ｂ’ｆｒ
除いた伏襲に５［７い。この様な構成においては、ある
経をψ方向の測定のためにマスク３を回転させ、マスク
３が１８０゜回転する始めと終りのそれぞれの時のＭ＋
３ａ’の位ＩＮ ｅ Ｆｆ４出す２）ことが心安である
。 ７８ｔ 。 図偽）は被検レンズが球面レンズである場８０例、（Ｂ
）はプリズム電数を持つ場合の例、（Ｃ）は乱視レンズ
であって乱？Ｊ′ｉ！軸が＋）１１１足径線方向に一致
していない、場合の■であり、マスクが１８０°回転す
る始めの時の縞３軌′を実線で、粋すの時の縞ｓａ”を
点線でそれぞれ示り、り、ｌ ＭＸ １６ （ｘｉ（Ａ
ｔ 〜＜Ｌ’Ｈ”Ｃｊｒ’、した、状態は前述した第２
図（４）〜（Ｃ）の状ｋ、（４と実・鱈的に同一であり
、同様に’Ｊ＋ −Ｆｔ よりレンズＦ８−数を、（
ｙ＋”ｙ、）／２よシブリズム１ルー数全検出すること
ができる。このようなスリット状開口部が１つのみであ
る１崎台にも前述した各実施例のごとく、投影レンズや
リレーレンズ、イメージローデータ′＝−ヲ用い同様に
構成することができる。また前述したようにマスクとフ
ォトアレイとの間に円柱レンズを配置することも同様に
有効である。 淘、スリット状開口部全１つだけ設ける場合には、受光
部材として１次元ＣＣＤアレイ等のフォトアレイの代り
にポジションセンサーといわれる１次元位置検出素子を
用いることができる。ポジションセンサーは大きさを持
った光スポットが当るとその荷重平均位１胤全出力し、
同時には受光面上での１点のみしか検出することができ
女いが、はぼ瞬時に読出し可能でありＣＣＤアレイのよ
うな読出しのタイムラグがなく、連続的な読出しも可能
である。但しｔ・スリット状開口部を２つ設ける場合に
は被検１ノンズを通る光束に対してマスクと受光部材と
を１８０°回転させれば全ての測定を完了することがで
きるが、スリット状開口部が１つだけの場合には少なく
とも３６００の回転が必要である。また、この場合前述
したようにある経線方向での測定のためにも１８０°回
転させてその前後の２つの信号が対と力って初めて測定
されるため、測定中に被検レンズが動けば測定誤差を生
じ品い。スリット大開口部が光軸をはさんで複数ある場
合にはこのような問題が生ずることはない。 さて、上記の構成においては、点光源とコリメーターレ
ンズとを用いて被検レンズへ平行光束を投射し之が、こ
れに限られるものではない。平行光束は最も簡単である
が、むしろ平行状態？はずすことによって測定レンジ全
拡大することめ；できる。例えば第１７図に示したごと
く、コリメーターレンズ２の前側焦点Ｆ上に第１の発光
ダイオード１ ａ ’ｃ 、その前後にＭ２＋第３の発
光ダイオード１ｂ。 Ｉｃｅ設け、必要に応じて選択的に用いることができる
っ第１発光ダイオード１ａによれば点線で示したごとく
役検レンズし）へ平行光束を供給できるが、第２発光ダ
イオード１ｂを発光させれば実線で示したごとく被検レ
ンズ（υへ収斂光束が供給され、被検レンズ０．）が強
い負屈折力をＩテつ、喝合の測定に有利でめるり第３発
光ダイＪ−ドｌｃ’を用いれば被検レンズへ発敗光東が
供給され被検レンズが強度の正レンズである場合に有利
である。このような測定レンジの拡大は、マスクと受光
部材との間に正又は負のレンズ全選択的に挿入しても達
成することができる。また、被検レンズオコリメーター
レンズの後側焦点位置に配置すれば、光源の位置と被検
１ノンズに入射°Ｊ“る光束のディオプターとの関係が
リニアーになり好本（を合である仁とはいうまでもない
。 尚、上ＮＬの説明では全てマスクにスリット状の開口部
ｔ・設ける構成としたが、逆にスリット状部分を萌九部
とし他の部分を透過させる構成とすることもで自る。こ
の場合に受光部材は光の明線ではなく暗線のもｔ ＋ｒ
ｔ ′ｆｃ検出すれば、同ｌＩ＋、の測定が可能である
。本発明においては、被検レンズ上で光軸外のｉｋ線部
分を通る光線束に対応する情報４得ることのみが必要で
あり、とのｒｉ１？Ａに部分と他の部分との光電的判別
さえＣきればその手段は問わない。 光の調光による分離や波長域の選択的透過でも可ｆｉ目
である。また光源としては、発光ダイオードに限らず、
半導体レーザーでもよい（７、タングステンランプ等の
一般的杭球からの光束を集光レンズによりピンホール上
に投影しこのピンホールを実質的九（ｒ”？、とじて用
いることも可能である。 以上のように、本発明によれは４１１１定−）Ｙ；蛸を
挾む２本の１１紳状光栄のイルツー＋楓から、破１呻レ
ンズの球面度数、古１． ′ｙＡである場合の円柱Ｉｔ
’（’、数と乱視１Ｍ方向、及びプリズム１＃；用があ
る１４合のプリズム＃、ａとぞの基底方向を含め全ての
）ｒ７１Ｆｒ特性を検出することができ、比較的同鵬な
構成で高ｆＪ Ｉ＆に測定することができる。１７かも
受光素子は一次元素子で十分であり、−次元素子上での
光位置の１六癩から全ての６１１１ ！がなされるため
浦号処理系の構成も闇単であり演）γｌｉｔ、−間も（
参めて短時間であｉ）迅連なａｌｌｌｌｌｌ桁合うとと
一′バできる。 ｌｒ＋Ｊ ｓ上［１［］の、説明ではレンズの副＞Ｉｉ
装置＾゛、螢中心に述べたが、これに限らず本発明をよ
眼の屈折特性のｄｉｌＪ屋や角膜等の曲面の曲率半径の
測定にも応用することがで角、いずれの場合にもマイク
ロ：」ンビューターとの和合ぜにより全ての測′Ａピｋ
・自動化ノ゛ることかできる。
第１図は本光明の原理を１況明する図、１１）２図はフ
ォト７レイと縞との位置間１糸を示す平面図で４２図図
仏は被検レンズに跣滉とプリズムがない場合、第２図（
Ｄ） 条Ｊ：乱視がなくプリズムがある中り第２図（Ｃ
）祉乱視とプリズムがある場ａ１第３図は本発明の第１
実施例の概略（ｎ底置、第４図ｔよ本発明の＃Ｅ ２
’μ施１りｌの概略Ｉｎｎ−１帛５図は本発明の第３
、Ｌ４ Ｍｄ例の光学系の概略断面図、第６図はイメー
ジローチーターのＩｙｌｊで４１ｉ ６固執）はペチャ
ンプリズムからダハ面金除いたもの、第６図（川をまア
ツベ型である。第７図は乱視軸とフォトアレイの方向が
一致【２ない場合２本のフォトアレイと縞との位置間係
を示す一乎面図、第８図偽）はフォトアレイを実際上継
目なくたてに連結した斜視図、第８図（Ｂ）１よ平面図
である。第９図線本発明の第４実施例、第ｔｏｒａ＋、
を被検レンズの偏心犠が大きい場けの説明図、２＋３ｉ
ｉ図はマスクと７オトアレイの間に円柱レンズを配置
【７た第１０図の間鴫？解決（７た原理図、第１２図は
第１１図でのフォトアレイーヒでの縞の状態で第１２図
（Ａ）は被検レンズに乱視とプリズムがない、鳴合、ｉ
ｌＺ図（Ｂ）はプリズムがある場合、第１２図（Ｃ）は
乱視とプリズムがあシ、乱視軸がｙ軸と一致しない、ｌ
Ｊ４汀ゲ示す。 第１３図は本発明の第５１６施トリで、＋１’、 １
ａ ＩνＪ（５）はフォトアレイに平行な曲内での光路
図、第１３図（１３）はフォトアレイに４Ｎ １ｔ４な
曲内での部分光路図である。第１４図はマスクに３つの
スリット状開口部を設けた平面図、第１５図はマスクに
スリット状開ロケ１つ設けた構成による被検レンズの光
学的緒特性の測定原理を示す斜視図、１１６（Ａ） 〜
ｉ１６図（Ｃ）は第１５図におけるフォトアレイ上の縞
の状態を示し、第１６図（４）は被検レンズが球面レン
ズである場合の例、第１６図■）はプリズム度数をもつ
場合の例、第１６図（Ｑは乱視レンズであって乱視軸が
測定経線方向に一致していない場合の例を示す。第１７
図は被検レンズへの光束を平行状態としない例（発光ダ
イオードを光源としだ例）を示す。 〔主要部分の符号の説明〕 １・・・・・光源 Ｌ・・・・・被検レンズ ２・・・・・コリメータレンズ ３・・・・・マスク ３ａ、３ｂ ・・・・・スリット状開口部４・・・・・
フォトアレイ １０・・・・・光軸 ５・・・・・ステッピングモータ ８ ・・・・・イメージローデータ（光束回転手段）２
０ ・・・・・円柱レンズ 出願人 ； Ｈ本光学工ｑ株式会社 矛１図 ＋２Ｅｌ （Ａ ）ＣＢ ’） （Ｃ） 第３図 ＋４凶 才５凶 （Ｂ） 矛７図 牙 第８図 （Ａ） （Ｂン １ ｚ 千９凶 ｒ： ：に１４図 矛１６図 矛１７凹 （
ォト７レイと縞との位置間１糸を示す平面図で４２図図
仏は被検レンズに跣滉とプリズムがない場合、第２図（
Ｄ） 条Ｊ：乱視がなくプリズムがある中り第２図（Ｃ
）祉乱視とプリズムがある場ａ１第３図は本発明の第１
実施例の概略（ｎ底置、第４図ｔよ本発明の＃Ｅ ２
’μ施１りｌの概略Ｉｎｎ−１帛５図は本発明の第３
、Ｌ４ Ｍｄ例の光学系の概略断面図、第６図はイメー
ジローチーターのＩｙｌｊで４１ｉ ６固執）はペチャ
ンプリズムからダハ面金除いたもの、第６図（川をまア
ツベ型である。第７図は乱視軸とフォトアレイの方向が
一致【２ない場合２本のフォトアレイと縞との位置間係
を示す一乎面図、第８図偽）はフォトアレイを実際上継
目なくたてに連結した斜視図、第８図（Ｂ）１よ平面図
である。第９図線本発明の第４実施例、第ｔｏｒａ＋、
を被検レンズの偏心犠が大きい場けの説明図、２＋３ｉ
ｉ図はマスクと７オトアレイの間に円柱レンズを配置
【７た第１０図の間鴫？解決（７た原理図、第１２図は
第１１図でのフォトアレイーヒでの縞の状態で第１２図
（Ａ）は被検レンズに乱視とプリズムがない、鳴合、ｉ
ｌＺ図（Ｂ）はプリズムがある場合、第１２図（Ｃ）は
乱視とプリズムがあシ、乱視軸がｙ軸と一致しない、ｌ
Ｊ４汀ゲ示す。 第１３図は本発明の第５１６施トリで、＋１’、 １
ａ ＩνＪ（５）はフォトアレイに平行な曲内での光路
図、第１３図（１３）はフォトアレイに４Ｎ １ｔ４な
曲内での部分光路図である。第１４図はマスクに３つの
スリット状開口部を設けた平面図、第１５図はマスクに
スリット状開ロケ１つ設けた構成による被検レンズの光
学的緒特性の測定原理を示す斜視図、１１６（Ａ） 〜
ｉ１６図（Ｃ）は第１５図におけるフォトアレイ上の縞
の状態を示し、第１６図（４）は被検レンズが球面レン
ズである場合の例、第１６図■）はプリズム度数をもつ
場合の例、第１６図（Ｑは乱視レンズであって乱視軸が
測定経線方向に一致していない場合の例を示す。第１７
図は被検レンズへの光束を平行状態としない例（発光ダ
イオードを光源としだ例）を示す。 〔主要部分の符号の説明〕 １・・・・・光源 Ｌ・・・・・被検レンズ ２・・・・・コリメータレンズ ３・・・・・マスク ３ａ、３ｂ ・・・・・スリット状開口部４・・・・・
フォトアレイ １０・・・・・光軸 ５・・・・・ステッピングモータ ８ ・・・・・イメージローデータ（光束回転手段）２
０ ・・・・・円柱レンズ 出願人 ； Ｈ本光学工ｑ株式会社 矛１図 ＋２Ｅｌ （Ａ ）ＣＢ ’） （Ｃ） 第３図 ＋４凶 才５凶 （Ｂ） 矛７図 牙 第８図 （Ａ） （Ｂン １ ｚ 千９凶 ｒ： ：に１４図 矛１６図 矛１７凹 （
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、被検光学系へ光束を供給するとともに測定用基準光
軸を設定する光束供給手段と、該基準光軸外の直線状部
分で光束を選択的に制限する遮光部材と、前記被検光学
系及び前記遮光部材を通過した光束を受光する受光部材
と、前記被検光学系を通過する光束に対、して前８１１
ｊｔｌ光部拐と前記受光部材とを前記基準光軸を回転
中心として相対的に回転させる回転手段と金設け、前Ｎ
Ｏ受光部利上での前配萌光部劇により制限された直線状
部分に対応する位置により前記被検光学系の居折情報全
検出すること全特徴とする光学系の検査装置縦。 λ 被検光学系へ光束を供給するとともに測定用基準光
軸全設定する光束供給手段と、該基準光軸外の直線状部
分で光束１ｃ選択的に制限する遮光部材と、前１１１被
倹光学系及び前１ｉｉ３ ｊｌｌ郡部４金通過した光束
を受光する受光部材と、前記遮光部材と前記受光部材と
の間に配置され、前記直線状部分の長手方向と光軸とに
平行な面内で前記遮光部材と前記受光部材とを共役に維
持するトーリックレンズと、前記遮光部材と前記受光部
材及び前記トーリックレンズと全曲−１３基準光軸を回
転中心として前記被検光学系を通過する光束に対して相
対的に回転させる回転手段全イ］し、前記受光部材上で
の前記遮光部材に、しり制限されたｉＩ￥線状部分に対
応する位置に」−シ前記被検光学系の屈折情報ｆ、像検
出ることをｌ時機とする光学系の検査装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57136369A JPS5927237A (ja) | 1982-08-06 | 1982-08-06 | 光学系の検査装置 |
| US06/519,538 US4641961A (en) | 1982-08-06 | 1983-08-01 | Apparatus for measuring the optical characteristics of an optical system to be examined |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57136369A JPS5927237A (ja) | 1982-08-06 | 1982-08-06 | 光学系の検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5927237A true JPS5927237A (ja) | 1984-02-13 |
| JPH0365488B2 JPH0365488B2 (ja) | 1991-10-14 |
Family
ID=15173551
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57136369A Granted JPS5927237A (ja) | 1982-08-06 | 1982-08-06 | 光学系の検査装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4641961A (ja) |
| JP (1) | JPS5927237A (ja) |
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| JPH0249558Y2 (ja) * | 1986-03-25 | 1990-12-27 | ||
| DE4011992A1 (de) * | 1990-02-02 | 1991-10-17 | Rodenstock Instr | Einrichtung zum messen von refraktionseigenschaften optischer systeme mit aussergewoehnlichen eigenschaften |
| JPH0476434A (ja) * | 1990-07-19 | 1992-03-11 | Nidek Co Ltd | 自動レンズメーター |
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-
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- 1982-08-06 JP JP57136369A patent/JPS5927237A/ja active Granted
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US4641961A (en) | 1987-02-10 |
| JPH0365488B2 (ja) | 1991-10-14 |
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