JPH08210947A - レンズメーター - Google Patents
レンズメーターInfo
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- JPH08210947A JPH08210947A JP27734795A JP27734795A JPH08210947A JP H08210947 A JPH08210947 A JP H08210947A JP 27734795 A JP27734795 A JP 27734795A JP 27734795 A JP27734795 A JP 27734795A JP H08210947 A JPH08210947 A JP H08210947A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- lens
- measurement
- light beam
- measuring
- changed
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Abstract
(57)【要約】
【課題】累進多焦点レンズやコンタクトレンズなど測定
野の小さいレンズも測定できるレンズメーターを提供す
ること。 【解決手段】測定光束投射手段からの測定光束を被検レ
ンズＬに投射して、被検レンズＬを透過した測定光束を
介して光検出器17上で受光することにより、被検レンズ
Ｌの屈折力を測定する測定光学系が設けられたレンズメ
ーターに於て、前記測定光束の被検レンズＬへの投射位
置を被検レンズＬの半径方向へ可変させる投射位置変更
手段を有するレンズメーター。
野の小さいレンズも測定できるレンズメーターを提供す
ること。 【解決手段】測定光束投射手段からの測定光束を被検レ
ンズＬに投射して、被検レンズＬを透過した測定光束を
介して光検出器17上で受光することにより、被検レンズ
Ｌの屈折力を測定する測定光学系が設けられたレンズメ
ーターに於て、前記測定光束の被検レンズＬへの投射位
置を被検レンズＬの半径方向へ可変させる投射位置変更
手段を有するレンズメーター。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、眼鏡レンズやコンタク
トレンズの屈折特性、すなわち球面度数、円柱度数、円
柱軸度数等を自動的に測定するレンズメーターに関す
る。
トレンズの屈折特性、すなわち球面度数、円柱度数、円
柱軸度数等を自動的に測定するレンズメーターに関す
る。
【０００２】
【従来の技術】従来のレンズメーターとしては、例えば
実公昭４４−２２９１２号公報に示されたように、被検
レンズに平行な照明光束を投影して、この被検レンズを
透過した照明光束を可変絞りと視標を介して接眼レンズ
で観察することにより、乱視軸や屈折度の測定を行うよ
うにしたものがある。このレンズメーターは、乱視軸の
測定においては可変絞りの口径を大きくし、屈折度測定
においては可変絞りの口径を小さくすることにより、乱
視軸や屈折度の測定をできるようにしたものである。
実公昭４４−２２９１２号公報に示されたように、被検
レンズに平行な照明光束を投影して、この被検レンズを
透過した照明光束を可変絞りと視標を介して接眼レンズ
で観察することにより、乱視軸や屈折度の測定を行うよ
うにしたものがある。このレンズメーターは、乱視軸の
測定においては可変絞りの口径を大きくし、屈折度測定
においては可変絞りの口径を小さくすることにより、乱
視軸や屈折度の測定をできるようにしたものである。
【０００３】また、従来のレンズメーターとしては、例
えば特開昭６０−２１０７３５号公報に開示されたよう
に、照明光源からの照明光を拡散板で拡散して、この拡
散した照明光を回転体の半径方向に延びるスリットから
対物レンズを介して被検レンズに投影し、この被検レン
ズを透過した光束を絞り板に設けた複数の小孔及び投影
レンズを介して一次元位置検出素子に投影するようにし
たものがある。尚、絞り板の小孔は所定半径の円周状に
六角形を為すように配置されている。
えば特開昭６０−２１０７３５号公報に開示されたよう
に、照明光源からの照明光を拡散板で拡散して、この拡
散した照明光を回転体の半径方向に延びるスリットから
対物レンズを介して被検レンズに投影し、この被検レン
ズを透過した光束を絞り板に設けた複数の小孔及び投影
レンズを介して一次元位置検出素子に投影するようにし
たものがある。尚、絞り板の小孔は所定半径の円周状に
六角形を為すように配置されている。
【０００４】一方、近年、屈折矯正に累進多焦点レンズ
やコンタクトレンズが多用されるようになってきた。さ
らにコンタクトレンズも遠近両用にするため回転非球面
でその屈折面を形成した、いわゆるバイフォーカルコン
タクトレンズが実用化されている。
やコンタクトレンズが多用されるようになってきた。さ
らにコンタクトレンズも遠近両用にするため回転非球面
でその屈折面を形成した、いわゆるバイフォーカルコン
タクトレンズが実用化されている。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】これら累進多焦点レン
ズやバイフォーカルコンタクトレンズのように非球面の
屈折面を有するレンズにおいて、その遠用及び近用の屈
折特性を測定するには、測定野（測定光束を被検レンズ
に入射させうる領域）を小さくしなければならない。
ズやバイフォーカルコンタクトレンズのように非球面の
屈折面を有するレンズにおいて、その遠用及び近用の屈
折特性を測定するには、測定野（測定光束を被検レンズ
に入射させうる領域）を小さくしなければならない。
【０００６】しかし、上述した実公昭４４−２２９１２
号公報に開示されたレンズメーターは、指標を被検レン
ズを介して投影し、この指標像を顕微鏡で観察し、指標
像が合焦状態になるまで光学系を調整し、その合焦位置
から被検レンズの屈折度を算出するものであるため、開
口数が検出精度に大きく影響し、どの位置が合焦位置で
あるかの特定が困難となり、累進多焦点レンズやバイフ
ォーカルコンタクトレンズ等の測定が困難であった。
号公報に開示されたレンズメーターは、指標を被検レン
ズを介して投影し、この指標像を顕微鏡で観察し、指標
像が合焦状態になるまで光学系を調整し、その合焦位置
から被検レンズの屈折度を算出するものであるため、開
口数が検出精度に大きく影響し、どの位置が合焦位置で
あるかの特定が困難となり、累進多焦点レンズやバイフ
ォーカルコンタクトレンズ等の測定が困難であった。
【０００７】即ち、この公報のレンズメーターでは、開
口数が小さいときは焦点深度が深いため、どの位置が合
焦位置であるかを正確に特定することが困難となり、指
標像も暗くなるため読取りも困難になり、又、開口数が
大きいときは鮮明な指標像が観察できなくなり、どの位
置が合焦位置であるかの特定が困難となる。従って、こ
のレンズメーターの測定原理からすれば、測定領域を変
えることは、測定精度をも変えることになるから、必要
な測定精度を保ちつつ、測定領域を変えることはできな
いものであった。この結果、実公昭４４−２２９１２号
公報に開示されたレンズメーターでは、上述した累進多
焦点レンズやバイフォーカルコンタクトレンズ等の測定
が困難であった。
口数が小さいときは焦点深度が深いため、どの位置が合
焦位置であるかを正確に特定することが困難となり、指
標像も暗くなるため読取りも困難になり、又、開口数が
大きいときは鮮明な指標像が観察できなくなり、どの位
置が合焦位置であるかの特定が困難となる。従って、こ
のレンズメーターの測定原理からすれば、測定領域を変
えることは、測定精度をも変えることになるから、必要
な測定精度を保ちつつ、測定領域を変えることはできな
いものであった。この結果、実公昭４４−２２９１２号
公報に開示されたレンズメーターでは、上述した累進多
焦点レンズやバイフォーカルコンタクトレンズ等の測定
が困難であった。
【０００８】また、特開昭６０−２１０７３５号公報に
開示されたレンズメーターでは、回転体を回転させて被
検レンズ上でスリット像の透過位置を周方向に変化させ
ているが、被検レンズに投影されるスリット像の大きさ
は変化しないから、測定領域は変化しない。従って、こ
のレンズメーターでは累進多焦点レンズ等の測定領域の
小さいレンズの測定はできない。
開示されたレンズメーターでは、回転体を回転させて被
検レンズ上でスリット像の透過位置を周方向に変化させ
ているが、被検レンズに投影されるスリット像の大きさ
は変化しないから、測定領域は変化しない。従って、こ
のレンズメーターでは累進多焦点レンズ等の測定領域の
小さいレンズの測定はできない。
【０００９】この様に従来のレンズメーターでは、測定
野を可変に出来ないため、中央部と周辺輪帯部の両方を
測定しなければならない様なバイォーカルコンタクトレ
ンズの測定が不可能であった。
野を可変に出来ないため、中央部と周辺輪帯部の両方を
測定しなければならない様なバイォーカルコンタクトレ
ンズの測定が不可能であった。
【００１０】本発明は、係る技術背景に基づいてなされ
たもので、累進多焦点レンズやコンタクトレンズなど測
定野の小さいレンズも測定できるレンズメーターを提供
することを目的としている。
たもので、累進多焦点レンズやコンタクトレンズなど測
定野の小さいレンズも測定できるレンズメーターを提供
することを目的としている。
【００１１】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するた
め、請求項１の発明は、測定光束投影手段からの測定光
束を被検レンズに投射して、前記被検レンズを透過した
前記測定光束を介して光検出器上で受光することによ
り、前記被検レンズの屈折力を測定する測定光学系が設
けられたレンズメーターに於て、前記測定光束投影手段
は前記測定光束の前記被検レンズへの投射位置を前記被
検レンズの半径方向へ可変させる投射位置変更手段を有
するレンズメーターとしたことを特徴とする。
め、請求項１の発明は、測定光束投影手段からの測定光
束を被検レンズに投射して、前記被検レンズを透過した
前記測定光束を介して光検出器上で受光することによ
り、前記被検レンズの屈折力を測定する測定光学系が設
けられたレンズメーターに於て、前記測定光束投影手段
は前記測定光束の前記被検レンズへの投射位置を前記被
検レンズの半径方向へ可変させる投射位置変更手段を有
するレンズメーターとしたことを特徴とする。
【００１２】また、請求項２の発明は、光源からの光を
被検レンズを介して光検出器に導いて、被検レンズの屈
折特性を測定する測定光学系が設けられたレンズメータ
ーにおいて、前記被検レンズを前記測定光学系に配置し
ない場合の前記光検出器に入射する光束の投射位置を前
記測定光学系の測定光軸の半径方向に可変にする光束投
射位置変更手段を設けたレンズメーターとしたことを特
徴とする。
被検レンズを介して光検出器に導いて、被検レンズの屈
折特性を測定する測定光学系が設けられたレンズメータ
ーにおいて、前記被検レンズを前記測定光学系に配置し
ない場合の前記光検出器に入射する光束の投射位置を前
記測定光学系の測定光軸の半径方向に可変にする光束投
射位置変更手段を設けたレンズメーターとしたことを特
徴とする。
【００１３】
＜第１実施例＞本発明のレンズメーターの測定光学系
は、所定パターンの測定光束の被検レンズＬへの投射位
置を被検レンズＬの半径方向へ可変させる測定光束投射
手段を有する。この測定光束投射手段は、光源10，円錐
プリズム11（光束投射位置変更手段），マスク12，及び
コリメータレンズ13を有する。また、測定光学系は、被
検レンズＬを透過した測定光束を光検出器17上に案内す
る結像レンズを受光光学系として有する。
は、所定パターンの測定光束の被検レンズＬへの投射位
置を被検レンズＬの半径方向へ可変させる測定光束投射
手段を有する。この測定光束投射手段は、光源10，円錐
プリズム11（光束投射位置変更手段），マスク12，及び
コリメータレンズ13を有する。また、測定光学系は、被
検レンズＬを透過した測定光束を光検出器17上に案内す
る結像レンズを受光光学系として有する。
【００１４】円錐プリズム11は、装置光軸Ｏ上に頂点11
aを有し、光軸Ｏ外に基底 11bを有すると共に、矢印18
で示した光軸Ｏに沿う方向に移動調整可能に設けられて
いる。また、円錐プリズム11の後方には、第２図に示す
ように、円環状の開口12aを透光部として有するマスク
板 12が配置されている。
aを有し、光軸Ｏ外に基底 11bを有すると共に、矢印18
で示した光軸Ｏに沿う方向に移動調整可能に設けられて
いる。また、円錐プリズム11の後方には、第２図に示す
ように、円環状の開口12aを透光部として有するマスク
板 12が配置されている。
【００１５】コリメータレンズ13は、その前側焦点をマ
スク板12の開口12aを含む平面内に有するように配置さ
れている。このため、開口12aを通過したリング状の光
束は被検レンズＬが光路内にないときにはコリメータレ
ンズ13で平行光束とされてミラー14で反射された後、結
像レンズ16で、例えば光軸上に固定配置されたエリアCC
Dからなる光検器17上に円環状パターンとして結像され
る。尚、光源10のコリメータレンズ13による光学的共役
位置はＣの位置にある。また、前述の結像レンズ16の前
側焦点はこの共役位置Ｃの位置にある。
スク板12の開口12aを含む平面内に有するように配置さ
れている。このため、開口12aを通過したリング状の光
束は被検レンズＬが光路内にないときにはコリメータレ
ンズ13で平行光束とされてミラー14で反射された後、結
像レンズ16で、例えば光軸上に固定配置されたエリアCC
Dからなる光検器17上に円環状パターンとして結像され
る。尚、光源10のコリメータレンズ13による光学的共役
位置はＣの位置にある。また、前述の結像レンズ16の前
側焦点はこの共役位置Ｃの位置にある。
【００１６】被検レンズＬは共役位置Ｃに近接して、図
示しないレンズ受け台に載置され光路内に置かれる。そ
して、円錐プリズム11を矢印18方向に移動させると、光
源10からの光束の偏向位置が変化するため、マスク板12
の開口12aを通過する円環状パターン（円形）の測定光
束の光軸Ｏ（測定光軸）に対する傾斜角が変化して、こ
の測定光束の被検レンズＬへの投射位置が被検レンズＬ
の半径方向に変化させられ、被検レンズＬを通るリング
状の測定光束の径が変化するので、測定野を変えること
ができる。尚、被検レンズＬが測定光学系に配置されて
いない場合には、マスク板12の開口12aを通過する円環
状パターン（円形）の測定光束の光軸Ｏに対する傾斜角
が変化して、光検出器17への測定光束の投射位置が測定
光軸Ｏの半径方向に変化させられることになる。即ち、
被検レンズＬを透過する測定光束の被検レンズＬ半径方
向における検出器17側への取出位置を可変させることが
できることになる。
示しないレンズ受け台に載置され光路内に置かれる。そ
して、円錐プリズム11を矢印18方向に移動させると、光
源10からの光束の偏向位置が変化するため、マスク板12
の開口12aを通過する円環状パターン（円形）の測定光
束の光軸Ｏ（測定光軸）に対する傾斜角が変化して、こ
の測定光束の被検レンズＬへの投射位置が被検レンズＬ
の半径方向に変化させられ、被検レンズＬを通るリング
状の測定光束の径が変化するので、測定野を変えること
ができる。尚、被検レンズＬが測定光学系に配置されて
いない場合には、マスク板12の開口12aを通過する円環
状パターン（円形）の測定光束の光軸Ｏに対する傾斜角
が変化して、光検出器17への測定光束の投射位置が測定
光軸Ｏの半径方向に変化させられることになる。即ち、
被検レンズＬを透過する測定光束の被検レンズＬ半径方
向における検出器17側への取出位置を可変させることが
できることになる。
【００１７】第３図は、光検出器17上へ投射された円環
状パターン(被検レンズが円柱度数を有するときは楕円
形状となる)の大きさから被検レンズの屈折特性を求め
る方法を示すものである。
状パターン(被検レンズが円柱度数を有するときは楕円
形状となる)の大きさから被検レンズの屈折特性を求め
る方法を示すものである。
【００１８】被検レンズＬが光路内にないときの光検出
器17上の円環状パターンの半径ａ0は結像レンズ16の焦
点距離をｆとすると、第３図より、 ａ0＝ｆtanθ0 …(1) また、共役位置Ｃに被検レンズＬを挿置したと考えると
光検出器17上の円環状パターンの半径がａに変化した場
合には、aは ａ＝ｆtanθ …(2) として表わされる。
器17上の円環状パターンの半径ａ0は結像レンズ16の焦
点距離をｆとすると、第３図より、 ａ0＝ｆtanθ0 …(1) また、共役位置Ｃに被検レンズＬを挿置したと考えると
光検出器17上の円環状パターンの半径がａに変化した場
合には、aは ａ＝ｆtanθ …(2) として表わされる。
【００１９】マスク板12の円環状開口12aが被検レンズL
により光検出器17上に結像されたとき、この被検レンズ
Lによる円環状開口12aの結像位置Xでの像の半径ｙ（結
像レンズ16の屈折作用は考えないとする)は、共役位置
Ｃの光源リング像の半径をｈとし、共役位置Ｃと結像位
置Xまでの距離をＤとすると、 ｙ＝Ｄtanθ0 …(3) ｙ＝Ｄtanθ−ｈ …(4) となり、(3),(4)式より、 Ｄ（tanθ0−tanθ)＝ −ｈ ゆえに、 Ｄ＝−ｈ／（tanθ0 −tanθ） …(5) となる。前記(1),(2)式と上記(5)式により、 Ｄ＝−ｈ／[（ａ0／ｆ）−（ａ／ｆ）] Ｄ＝−ｆ・ｈ／（ａ0 −ａ） が得られる。実際には被検レンズＬは共役位置Ｃから離
れているから、共役位置Ｃと被検レンズＬとの距離をΔ
ｄとすると、 Ｓ＝（ａ −ａ0）／[ｆｈ＋Δd（ａ0−ａ）] …(6) として求められる。
により光検出器17上に結像されたとき、この被検レンズ
Lによる円環状開口12aの結像位置Xでの像の半径ｙ（結
像レンズ16の屈折作用は考えないとする)は、共役位置
Ｃの光源リング像の半径をｈとし、共役位置Ｃと結像位
置Xまでの距離をＤとすると、 ｙ＝Ｄtanθ0 …(3) ｙ＝Ｄtanθ−ｈ …(4) となり、(3),(4)式より、 Ｄ（tanθ0−tanθ)＝ −ｈ ゆえに、 Ｄ＝−ｈ／（tanθ0 −tanθ） …(5) となる。前記(1),(2)式と上記(5)式により、 Ｄ＝−ｈ／[（ａ0／ｆ）−（ａ／ｆ）] Ｄ＝−ｆ・ｈ／（ａ0 −ａ） が得られる。実際には被検レンズＬは共役位置Ｃから離
れているから、共役位置Ｃと被検レンズＬとの距離をΔ
ｄとすると、 Ｓ＝（ａ −ａ0）／[ｆｈ＋Δd（ａ0−ａ）] …(6) として求められる。
【００２０】被検レンズＬが乱視レンズの場合は、光検
出器17上に投射された楕円パターンの短径と長径及びそ
れの軸角度から（6）式を利用して屈折特性を求めるこ
とができる。
出器17上に投射された楕円パターンの短径と長径及びそ
れの軸角度から（6）式を利用して屈折特性を求めるこ
とができる。
【００２１】なお、本発明では、光検出器17は固定配置
されているので、光検出器17上に投射されたパターンが
被検レンズの屈折レンズの屈折力によりボケたパターン
となるが、パターンの中心位置を求めることにより円ま
たは楕円形状を求めることができるので、測定が可能で
ある。
されているので、光検出器17上に投射されたパターンが
被検レンズの屈折レンズの屈折力によりボケたパターン
となるが、パターンの中心位置を求めることにより円ま
たは楕円形状を求めることができるので、測定が可能で
ある。
【００２２】上記(6)式による演算はマイクロプロセッ
サ等から構成される演算制御回路20で実行され、その演
算結果は表示器21に表示されるとともに必要に応じてプ
リンタ22で印字出力される。
サ等から構成される演算制御回路20で実行され、その演
算結果は表示器21に表示されるとともに必要に応じてプ
リンタ22で印字出力される。
【００２３】本実施例においては、上述したように円錐
プリズム11を光軸Ｏにそって移動させることにより第４
図(A)及び第４図(B)に示すように被検レンズＬの測定野
φを変化させることができるため、累進焦点レンズやバ
イフォーカルコンタクトレンズ等の測定野の小さいレン
ズや、あるいは測定野をかえなければならないレンズ等
も測定可能となる。
プリズム11を光軸Ｏにそって移動させることにより第４
図(A)及び第４図(B)に示すように被検レンズＬの測定野
φを変化させることができるため、累進焦点レンズやバ
イフォーカルコンタクトレンズ等の測定野の小さいレン
ズや、あるいは測定野をかえなければならないレンズ等
も測定可能となる。
【００２４】なお、本実施例は、被検レンズＬの厚さが
薄く、その両屈折面の曲率差が小さく、第4図(A)のｈが
レンズによって変化しない場合に適用できる。
薄く、その両屈折面の曲率差が小さく、第4図(A)のｈが
レンズによって変化しない場合に適用できる。
【００２５】被検レンズの屈折面の曲形状や厚さが大き
いときには、共役装置Ｃに円環状開口15aをもつ絞り15a
を第４図示すように配置し、その絞り開口を円錐プリズ
ムの移動に応じて変化させるとよい。
いときには、共役装置Ｃに円環状開口15aをもつ絞り15a
を第４図示すように配置し、その絞り開口を円錐プリズ
ムの移動に応じて変化させるとよい。
【００２６】＜第２実施例＞第２実施例は円錐プリズム
11の移動量Ｐに応じて絞り15（光束投射位置変更手段）
の円環状開口15aの半径ｈを可変にした例を示したもの
で、第５図に示す構成を有する。尚、上述の第１実施例
と同一の構成要素には同一の符号を附して説明の重複を
さける。
11の移動量Ｐに応じて絞り15（光束投射位置変更手段）
の円環状開口15aの半径ｈを可変にした例を示したもの
で、第５図に示す構成を有する。尚、上述の第１実施例
と同一の構成要素には同一の符号を附して説明の重複を
さける。
【００２７】絞り15は、第６図に示すように互いに半径
の異なる同心の円環状透光部151,152,153が例えば液晶
素子やフォトクロミック素子等の光電素子で構成され、
各透光部151,152,153に設けられたパターン電極(図示せ
ず)はスイッチ回路205 の接点 205a,205b,205cに接続
されている。他方、共通の(−)側電極(図示せず)は直流
電源206の(−)側に接続されている。しかも、この電源2
06の(＋)側はスイッチ回路205の可動接点205dに接続さ
れている。このスイッチ回路205は固定接点205a,205b,2
05cと可動接点205dを有していて、可動接点205dは制御
回路204の制御を受けて固定接点205a,205b,205cの何れ
かに切換え接続し得る様になっている。これにより、測
定光束は絞り15の透光部151ないし 153のいずれか一つ
のみを通過できる。なお、絞り15の透光部151〜153以外
の部分、即ち、154で示した中央部の部分は光不透過の
円形遮光部として、又、155で示した周縁部の部分は光
不透過の遮光帯として構成されている。
の異なる同心の円環状透光部151,152,153が例えば液晶
素子やフォトクロミック素子等の光電素子で構成され、
各透光部151,152,153に設けられたパターン電極(図示せ
ず)はスイッチ回路205 の接点 205a,205b,205cに接続
されている。他方、共通の(−)側電極(図示せず)は直流
電源206の(−)側に接続されている。しかも、この電源2
06の(＋)側はスイッチ回路205の可動接点205dに接続さ
れている。このスイッチ回路205は固定接点205a,205b,2
05cと可動接点205dを有していて、可動接点205dは制御
回路204の制御を受けて固定接点205a,205b,205cの何れ
かに切換え接続し得る様になっている。これにより、測
定光束は絞り15の透光部151ないし 153のいずれか一つ
のみを通過できる。なお、絞り15の透光部151〜153以外
の部分、即ち、154で示した中央部の部分は光不透過の
円形遮光部として、又、155で示した周縁部の部分は光
不透過の遮光帯として構成されている。
【００２８】錐プリズム301の移動量はボリューム201か
らの電圧変化としてとらえられ、その出力電圧Ｑは比較
器202,203の一方の入力端子に入力される。しかも、比
較器202の他方の入力端子には基準電圧aVが入力され、
比較器203の他方の入力端子には基準電圧bV(a＞ｂ）が
入力されている。比較器２０２はボリューム２０１から
の出力電圧Ｑが基準電圧aより大きくなると信号S1を制
御回路204へ出力し、比較器203はボリューム201からの
出力Ｑが基準電圧ｂより小さくなると信号S2を制御回路
に出力するように構成されている。 制御回路204は、
比較器202からの信号S1を受けると、円錐プリズム11が
マスク板12側にあると判断して、スイッチ回路205を制
御して図示するように可動接点 205dを固定接点205aに
接続し、 外側の透光部151のパターン電極(図示せず)に
通電し、 透光部151のみが光を通過できるようにする。
らの電圧変化としてとらえられ、その出力電圧Ｑは比較
器202,203の一方の入力端子に入力される。しかも、比
較器202の他方の入力端子には基準電圧aVが入力され、
比較器203の他方の入力端子には基準電圧bV(a＞ｂ）が
入力されている。比較器２０２はボリューム２０１から
の出力電圧Ｑが基準電圧aより大きくなると信号S1を制
御回路204へ出力し、比較器203はボリューム201からの
出力Ｑが基準電圧ｂより小さくなると信号S2を制御回路
に出力するように構成されている。 制御回路204は、
比較器202からの信号S1を受けると、円錐プリズム11が
マスク板12側にあると判断して、スイッチ回路205を制
御して図示するように可動接点 205dを固定接点205aに
接続し、 外側の透光部151のパターン電極(図示せず)に
通電し、 透光部151のみが光を通過できるようにする。
【００２９】比較器202,203ともに信号出力がないとき
には、ボリューム201の出力Ｑと基準電圧a,bVとがａ＞
Ｑ＞ｂとなっている。 このときには、 制御回路204
は、スイッチ回路205の可動接点205dを固定接点205bに
接続して、中央の透光部152のパターン電極(図示せず)
に通電し、この透光部152のみを測定光が通過できるよ
うにする。 さらに比較器203からの信号S2が制御回路2
04に入力されたときには、円錐プリズム11はもっとも光
源側に移動している。このときには制御回路204は、ス
イッチ回路205の可動接点205dを固定接点205cに接続し
て、内側の透光部153のパターン電極(図示せず)に通電
し、この透光部153のみを測定光束が通過できるように
する。
には、ボリューム201の出力Ｑと基準電圧a,bVとがａ＞
Ｑ＞ｂとなっている。 このときには、 制御回路204
は、スイッチ回路205の可動接点205dを固定接点205bに
接続して、中央の透光部152のパターン電極(図示せず)
に通電し、この透光部152のみを測定光が通過できるよ
うにする。 さらに比較器203からの信号S2が制御回路2
04に入力されたときには、円錐プリズム11はもっとも光
源側に移動している。このときには制御回路204は、ス
イッチ回路205の可動接点205dを固定接点205cに接続し
て、内側の透光部153のパターン電極(図示せず)に通電
し、この透光部153のみを測定光束が通過できるように
する。
【００３０】この様に、透光部151,152,153のいずれか
ひとつを測定光束が透過するように選択することによ
り、測定光束が測定光軸Ｏの半径方向に可変させられる
ことになる。即ち、被検レンズＬを透過する測定光束の
被検レンズＬ半径方向における検出器17側への取出位置
を可変させることができることになる。
ひとつを測定光束が透過するように選択することによ
り、測定光束が測定光軸Ｏの半径方向に可変させられる
ことになる。即ち、被検レンズＬを透過する測定光束の
被検レンズＬ半径方向における検出器17側への取出位置
を可変させることができることになる。
【００３１】また、 円錐プリズム11の移動量Ｐを大き
くし測定野φの変化量を大きくしたことにより、測定範
囲を確保するために、マスク板12の開口12aの半径を変
える必要がある場合、或いは、被検レンズの屈折特性に
より、その測定範囲を確保するためにマスク板12の開口
12aの半径を変える必要がある場合には、前記絞り15と
同様の構成で互いに半径の異なる複数の透光部を選択で
きるマスク板を構成すればよい。この場合、光源10，円
錐プリズム11，マスク12に代えて用いられる絞り15と同
様な構成のマスク、コリメータレンズ13等が測定光束投
射手段となり、このマスクが光束投射位置変更手段とな
る。
くし測定野φの変化量を大きくしたことにより、測定範
囲を確保するために、マスク板12の開口12aの半径を変
える必要がある場合、或いは、被検レンズの屈折特性に
より、その測定範囲を確保するためにマスク板12の開口
12aの半径を変える必要がある場合には、前記絞り15と
同様の構成で互いに半径の異なる複数の透光部を選択で
きるマスク板を構成すればよい。この場合、光源10，円
錐プリズム11，マスク12に代えて用いられる絞り15と同
様な構成のマスク、コリメータレンズ13等が測定光束投
射手段となり、このマスクが光束投射位置変更手段とな
る。
【００３２】更に、光源10からの照明光束が平行光束で
あれば、マスク12に代えて用いられる絞り15と同様な構
成のマスクを組み合わせたものが光束投射位置変更手段
手段となる。
あれば、マスク12に代えて用いられる絞り15と同様な構
成のマスクを組み合わせたものが光束投射位置変更手段
手段となる。
【００３３】
【発明の効果】本発明は、以上説明したように、構成し
たので、累進多焦点レンズやコンタクトレンズ等の測定
野が小さく、且つこの小さい測定野が測定光学系の光学
中心から半径方向のいずれの位置にあったとしても、測
定光束の被検レンズへの半径方向への投射位置を変更し
て、又は被検レンズを透過した測定光束の内の被検レン
ズの半径方向に於ける取出位置を変更して、測定光束の
光検出器に入射する位置を測定光学系の光軸の半径方向
に変更することができる。この結果、従来測定が困難で
あった累進多焦点レンズやコンタクトレンズ等の測定野
が小さいレンズの測定が可能となると共に、測定領域を
変えて測定野が大きいレンズの測定も正確にできる。
たので、累進多焦点レンズやコンタクトレンズ等の測定
野が小さく、且つこの小さい測定野が測定光学系の光学
中心から半径方向のいずれの位置にあったとしても、測
定光束の被検レンズへの半径方向への投射位置を変更し
て、又は被検レンズを透過した測定光束の内の被検レン
ズの半径方向に於ける取出位置を変更して、測定光束の
光検出器に入射する位置を測定光学系の光軸の半径方向
に変更することができる。この結果、従来測定が困難で
あった累進多焦点レンズやコンタクトレンズ等の測定野
が小さいレンズの測定が可能となると共に、測定領域を
変えて測定野が大きいレンズの測定も正確にできる。
【図１】本発明に係るレンズメーターの第１実施例を示
す光学配置図である。
す光学配置図である。
【図２】図１に示したマスク板及び絞り板の開口形状を
示す平面図である。
示す平面図である。
【図３】図１の被検レンズの屈折力を求める方法を説明
するための光路図である。
するための光路図である。
【図４】(A)及び(B)は、第１の実施例の作用を示す光路
図である。
図である。
【図５】本発明に係るレンズメーターの第２実施例を示
す光路配置図及びブロック図である。
す光路配置図及びブロック図である。
【図６】図５の絞りの構成を示す平面図である。
【符号の説明】 10…光源 11…円錐プリズム 12…マスク板 12a…開口(透光部) 13…コリメーターレンズ 15…絞り 151,152,153…透光部 16…結像レンズ 17…光検出器 Ｌ…被検レンズ
Claims (2)
- 【請求項１】 測定光束投影手段からの測定光束を被検
レンズに投射して、前記被検レンズを透過した前記測定
光束を介して光検出器上で受光することにより、前記被
検レンズの屈折力を測定する測定光学系が設けられたレ
ンズメーターに於て、 前記測定光束投影手段は前記測定光束の前記被検レンズ
への投射位置を前記被検レンズの半径方向へ可変させる
投射位置変更手段を有することを特徴とするレンズメー
ター。 - 【請求項２】 光源からの光を被検レンズを介して光検
出器に導いて、被検レンズの屈折特性を測定する測定光
学系が設けられたレンズメーターにおいて、 前記被検レンズを前記測定光学系に配置しない場合の前
記光検出器に入射する光束の投射位置を前記測定光学系
の測定光軸の半径方向に可変にする光束投射位置変更手
段を設けたことを特徴とするレンズメーター。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7277347A JP2598247B2 (ja) | 1995-10-25 | 1995-10-25 | レンズメーター |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7277347A JP2598247B2 (ja) | 1995-10-25 | 1995-10-25 | レンズメーター |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08210947A true JPH08210947A (ja) | 1996-08-20 |
| JP2598247B2 JP2598247B2 (ja) | 1997-04-09 |
Family
ID=17582267
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7277347A Expired - Fee Related JP2598247B2 (ja) | 1995-10-25 | 1995-10-25 | レンズメーター |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2598247B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN1325894C (zh) * | 2001-10-01 | 2007-07-11 | 株式会社拓普康 | 镜片测量仪 |
| JP2008151680A (ja) * | 2006-12-19 | 2008-07-03 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | レンズ測定装置およびレンズ測定用アパーチャ |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58223033A (ja) * | 1982-06-22 | 1983-12-24 | Nippon Sheet Glass Co Ltd | 屈折率分布型レンズの収差測定方法 |
-
1995
- 1995-10-25 JP JP7277347A patent/JP2598247B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58223033A (ja) * | 1982-06-22 | 1983-12-24 | Nippon Sheet Glass Co Ltd | 屈折率分布型レンズの収差測定方法 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN1325894C (zh) * | 2001-10-01 | 2007-07-11 | 株式会社拓普康 | 镜片测量仪 |
| JP2008151680A (ja) * | 2006-12-19 | 2008-07-03 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | レンズ測定装置およびレンズ測定用アパーチャ |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2598247B2 (ja) | 1997-04-09 |
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|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |