JPS5922179B2 - 磁性金属体の欠陥形状測定装置 - Google Patents
磁性金属体の欠陥形状測定装置Info
- Publication number
- JPS5922179B2 JPS5922179B2 JP517676A JP517676A JPS5922179B2 JP S5922179 B2 JPS5922179 B2 JP S5922179B2 JP 517676 A JP517676 A JP 517676A JP 517676 A JP517676 A JP 517676A JP S5922179 B2 JPS5922179 B2 JP S5922179B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- magnetic field
- phase
- signal
- detection
- excitation
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は磁気特性を利用して鋼板等磁性金属体の内部に
存在する欠陥の性状すなわち欠陥深さ、方位及び形状を
測定する装置に関する。
存在する欠陥の性状すなわち欠陥深さ、方位及び形状を
測定する装置に関する。
磁性金属体に存在する欠陥のうち磁性金属体の外表面に
ある大形の欠陥は、存在部位さえ探知できればその形状
は目視観察によつて容易にこれを知り得るのでその補修
ないしは削除に何ら支障はないが、磁性金属体の外表面
にある微小欠陥や内部に隠れている欠陥は目視観察する
ことが不可能であるため在来の磁気探傷装置を使用して
その存在部位を探知した後、更にその形状測定を行う必
要がある。
ある大形の欠陥は、存在部位さえ探知できればその形状
は目視観察によつて容易にこれを知り得るのでその補修
ないしは削除に何ら支障はないが、磁性金属体の外表面
にある微小欠陥や内部に隠れている欠陥は目視観察する
ことが不可能であるため在来の磁気探傷装置を使用して
その存在部位を探知した後、更にその形状測定を行う必
要がある。
しかしながら、磁気特性を利用して磁性金属体内部に存
在する欠陥の形状を測定する装置として実用に供し得る
ものは未だ現出しておらず、この種装置の開発は磁気探
傷の分野における永年の課題であつた。本発明は、鋼板
等の磁性金属体に存在する、目視観察が不可能な微小表
面欠陥や内部欠陥について、その長さ寸法及び長さ方向
を回転磁界の原理を応用して磁気的に測定する全く新規
な欠陥形状測定装置を提供することを目的とする。
在する欠陥の形状を測定する装置として実用に供し得る
ものは未だ現出しておらず、この種装置の開発は磁気探
傷の分野における永年の課題であつた。本発明は、鋼板
等の磁性金属体に存在する、目視観察が不可能な微小表
面欠陥や内部欠陥について、その長さ寸法及び長さ方向
を回転磁界の原理を応用して磁気的に測定する全く新規
な欠陥形状測定装置を提供することを目的とする。
本発明をその実施例を示す図面に基いて説明すると以下
のとおりである。
のとおりである。
すなわち本発明に係る磁性金属体内部の欠陥形状測定装
置（以下、本発明装置という）は、第１図に示す如く位
相をπ／２だけ異にする交流電源Ｐｌ，Ｐ２によつてそ
れぞれ励磁される電磁石Ｍｌ，Ｍ２の各磁極端面Ｑｎ，
Ｑｌ２及びＱ２ｌ，Ｑ２２がいずれも同一円周上に位置
し且つ互に等間隔離隔するように電磁石Ｍ，，Ｍ２を交
叉配置させて回転磁界を生じさせると共に、回転磁界の
回転中心となるべき電磁石交叉部分下方の空間には適宜
の支持部材３を用いてホール素子等の磁場検出素子２を
配設してなる測定子１と、前記交流電源Ｐ１及び巻線Ｗ
，で構成される電磁石Ｍ１の励磁回路Ｅ，に設けた適宜
の位相検知手段４（一点鎖線で囲んで図示）と、前記磁
場検出素子２が発する磁場信号及び前記位相検知手段４
から出力される位相信号を入力し、磁場信号を、前記位
相検知手段４により位相検知された励磁電流又は励磁電
圧に同期させて表示するシンクロスコープ等の信号表示
器５とからなるものであつて、本実施例においては位相
検知手段４として、入力電圧の位相が２ｎπ（但しｎは
整数）になる都度１個の尖頭パルスを出力するように波
形変換回路微分回路等を用いて構成されたパルス発生器
Ｓを前置のバツフアアンプＢ１を介して励磁回路Ｅ１中
の挿入抵抗Ｒ１の両端に接続してなるものを用いている
。また、信号表示器５のＹ軸入力端子５ｙから入力する
磁場信号を励磁回路Ｅ，の励磁電流に同期して表示させ
るために位相検知手段４の出力端子は信号表示器５のト
リガ端子５ｔに接続しておく。
置（以下、本発明装置という）は、第１図に示す如く位
相をπ／２だけ異にする交流電源Ｐｌ，Ｐ２によつてそ
れぞれ励磁される電磁石Ｍｌ，Ｍ２の各磁極端面Ｑｎ，
Ｑｌ２及びＱ２ｌ，Ｑ２２がいずれも同一円周上に位置
し且つ互に等間隔離隔するように電磁石Ｍ，，Ｍ２を交
叉配置させて回転磁界を生じさせると共に、回転磁界の
回転中心となるべき電磁石交叉部分下方の空間には適宜
の支持部材３を用いてホール素子等の磁場検出素子２を
配設してなる測定子１と、前記交流電源Ｐ１及び巻線Ｗ
，で構成される電磁石Ｍ１の励磁回路Ｅ，に設けた適宜
の位相検知手段４（一点鎖線で囲んで図示）と、前記磁
場検出素子２が発する磁場信号及び前記位相検知手段４
から出力される位相信号を入力し、磁場信号を、前記位
相検知手段４により位相検知された励磁電流又は励磁電
圧に同期させて表示するシンクロスコープ等の信号表示
器５とからなるものであつて、本実施例においては位相
検知手段４として、入力電圧の位相が２ｎπ（但しｎは
整数）になる都度１個の尖頭パルスを出力するように波
形変換回路微分回路等を用いて構成されたパルス発生器
Ｓを前置のバツフアアンプＢ１を介して励磁回路Ｅ１中
の挿入抵抗Ｒ１の両端に接続してなるものを用いている
。また、信号表示器５のＹ軸入力端子５ｙから入力する
磁場信号を励磁回路Ｅ，の励磁電流に同期して表示させ
るために位相検知手段４の出力端子は信号表示器５のト
リガ端子５ｔに接続しておく。
上記の如く構成した本発明装置は、その測定子１を第１
図に示す如く電磁石Ｍｌ，Ｍ２の各磁極端面が鋼板等の
磁性金属体６表面に平行になり且つ磁場検出素子２が磁
性金属体表面に当接するようにして使用するが、磁性金
属体６の表面には、第２図に示す如き内部欠陥７又は微
小表面欠陥の存在部位を示すマーク８が、予め行われた
探傷検査の際に施されているので、該内部欠陥７の形状
測定を行うには前記マーク８上に前記磁場検出素子２が
位置するように測定子１の位置設定を行う。上述の如く
測定子１の位置を設定した場合、磁性金属体６の表面に
は前記マーク８上に位置する磁場検出素子２を回転中心
とする回転磁界が与えられる。該回転磁界の回転方向は
電磁石Ｍ２を励磁する交流電源Ｐ２と電磁石Ｍ１を励磁
する交流電源Ｒ１の位相関係によつて決定され、前者が
後者より進相（その位相差は前述の如くπ／２である）
であるときは第２図に円弧状矢符で示す如く反時計方向
に回転する。ところで、回転磁界が与えられた磁性金属
体６の表面からは内部欠陥７に基因する磁束の漏洩が生
じる。
図に示す如く電磁石Ｍｌ，Ｍ２の各磁極端面が鋼板等の
磁性金属体６表面に平行になり且つ磁場検出素子２が磁
性金属体表面に当接するようにして使用するが、磁性金
属体６の表面には、第２図に示す如き内部欠陥７又は微
小表面欠陥の存在部位を示すマーク８が、予め行われた
探傷検査の際に施されているので、該内部欠陥７の形状
測定を行うには前記マーク８上に前記磁場検出素子２が
位置するように測定子１の位置設定を行う。上述の如く
測定子１の位置を設定した場合、磁性金属体６の表面に
は前記マーク８上に位置する磁場検出素子２を回転中心
とする回転磁界が与えられる。該回転磁界の回転方向は
電磁石Ｍ２を励磁する交流電源Ｐ２と電磁石Ｍ１を励磁
する交流電源Ｒ１の位相関係によつて決定され、前者が
後者より進相（その位相差は前述の如くπ／２である）
であるときは第２図に円弧状矢符で示す如く反時計方向
に回転する。ところで、回転磁界が与えられた磁性金属
体６の表面からは内部欠陥７に基因する磁束の漏洩が生
じる。
漏洩磁束の分布状態は回転磁界の磁場方向、つまり内部
欠陥７の長手方向に対して如何なる角度で磁場が作用す
るかによつて異ならざるを得ない。いまこれを回転磁界
の磁場方向が内部欠陥７の長手方向に一致している場合
と、これに直角をなす場合とを例にとつて説明すると、
内部欠陥７の長手方向に一致している場合は第４図Ａに
破線で示す如くなだらかな高原状に漏洩磁束が分布する
のに対し、内部欠陥７に垂直である場合は第４図Ｂに破
線で示す如く急峻な山形状に漏洩磁束が分布する。従つ
て、それぞれの場合における漏洩磁束の磁性金属体６表
面に垂直な成分（以下Ｚ軸成分という）は第４図Ａ，Ｂ
に実線で示す如き波形となる。回転磁界の回転中心に配
設された磁場検出素仔２はその検出面に垂直な磁束成分
すなわちＺ軸成分のみを検出する機能を有し、その検出
面の大きさは凡そ１．５ｍｕ×１．５ｍｍ程度のもので
あるから回転磁界の磁場方向が内部欠陥７の長手方向に
垂直である場合は第４図Ｂに示す如く欠陥幅が０．１〜
ｉｌ程度の内部欠陥７に基因する漏洩磁束のＺ軸成分最
大値を常に検知し得るのに対し、回転磁界の磁場方向が
内部欠陥７の長手方向に一致する場合は、第４図Ａに示
す如く内部欠陥７の欠陥長さが略々３ｍｍ以上あると該
内部欠陥７に基因する漏洩磁束のＺ軸成分最大値を検出
せず、極めて微小なＺ軸成分を検知するにすぎない。従
つて磁場検出素子２が発する磁場信号のレベルは、回転
磁界の回転につれて変動し回転磁界の磁場方向が内部欠
陥７の長手方向に対して９０の及び２７０部の角度をな
すときに正の極大値又は負の極小値をとる。他方、交流
電源Ｐ２が交流電源Ｐ１に対してπ／２だけ進相である
場合６こおいては、電磁石縞の巻線Ｗ，に流れる励磁電
流１１は第３図Ａに、また電磁石Ｍ２の巻線Ｗ２に流れ
る励磁電流１２は第３図Ｂに示す如き波形となり、位相
検知手段４の挿入抵抗Ｒ１の端子間電圧は前記励磁電流
１１と同一位相であるから、該挿入抵抗Ｒ１の端子間電
圧の位相が２ｎπになる都度、パルス発生器Ｓから発せ
られる尖頭パルスｐの発生位相は第３図Ｃに示す如くな
る。
欠陥７の長手方向に対して如何なる角度で磁場が作用す
るかによつて異ならざるを得ない。いまこれを回転磁界
の磁場方向が内部欠陥７の長手方向に一致している場合
と、これに直角をなす場合とを例にとつて説明すると、
内部欠陥７の長手方向に一致している場合は第４図Ａに
破線で示す如くなだらかな高原状に漏洩磁束が分布する
のに対し、内部欠陥７に垂直である場合は第４図Ｂに破
線で示す如く急峻な山形状に漏洩磁束が分布する。従つ
て、それぞれの場合における漏洩磁束の磁性金属体６表
面に垂直な成分（以下Ｚ軸成分という）は第４図Ａ，Ｂ
に実線で示す如き波形となる。回転磁界の回転中心に配
設された磁場検出素仔２はその検出面に垂直な磁束成分
すなわちＺ軸成分のみを検出する機能を有し、その検出
面の大きさは凡そ１．５ｍｕ×１．５ｍｍ程度のもので
あるから回転磁界の磁場方向が内部欠陥７の長手方向に
垂直である場合は第４図Ｂに示す如く欠陥幅が０．１〜
ｉｌ程度の内部欠陥７に基因する漏洩磁束のＺ軸成分最
大値を常に検知し得るのに対し、回転磁界の磁場方向が
内部欠陥７の長手方向に一致する場合は、第４図Ａに示
す如く内部欠陥７の欠陥長さが略々３ｍｍ以上あると該
内部欠陥７に基因する漏洩磁束のＺ軸成分最大値を検出
せず、極めて微小なＺ軸成分を検知するにすぎない。従
つて磁場検出素子２が発する磁場信号のレベルは、回転
磁界の回転につれて変動し回転磁界の磁場方向が内部欠
陥７の長手方向に対して９０の及び２７０部の角度をな
すときに正の極大値又は負の極小値をとる。他方、交流
電源Ｐ２が交流電源Ｐ１に対してπ／２だけ進相である
場合６こおいては、電磁石縞の巻線Ｗ，に流れる励磁電
流１１は第３図Ａに、また電磁石Ｍ２の巻線Ｗ２に流れ
る励磁電流１２は第３図Ｂに示す如き波形となり、位相
検知手段４の挿入抵抗Ｒ１の端子間電圧は前記励磁電流
１１と同一位相であるから、該挿入抵抗Ｒ１の端子間電
圧の位相が２ｎπになる都度、パルス発生器Ｓから発せ
られる尖頭パルスｐの発生位相は第３図Ｃに示す如くな
る。
従つて尖頭パルスｐの発生時点においては前記励磁電流
１２が極大値をとるので、励磁電流１１，ｉ２の位相関
係に応じて反時計方向に回転している回転磁界の該時点
における磁場方向は第２図に白抜き矢符で示す如く常に
電磁石Ｍ２の磁極端面Ｑ２ｌからＱ２２へ向かう方向（
以下ｙ軸方向という）に一致している。いま、前記ｙ軸
と内部欠陥７の幅方向とがなす角をθとすると磁場検出
素子２の発する磁場信号は、第２図に白抜き矢符で示す
回転磁界が円弧状矢符の方向へθだけ回転した時点にお
いて前述の如く正の極大値（又は負の極小値）をとり、
（θ＋π）だけ回転した時点において負の極小値（又は
正の極大値）をとるので、位相検知手段４が出力する前
記尖頭パルスｐによつてトリガされる信号表示器５上に
おける磁場信号の表示波形は例えは第５図に示す如き波
形となり、回転磁界がｙ軸に一致する時点を位相角０及
び２πとし、極大値、極小値をとる位相角がそれぞれθ
，θ＋πに一致する。ところで電磁石Ｍ１及びＭ２は直
交しているので内部欠陥７の長手方向が電磁石Ｍ，の磁
極端面ＱｌｌからＱｌ２へ向かう方向（以下ｘ軸方向と
いう）となす角は前記θであるから信号表示器５の表示
波形から磁場信号が極大値又は極小値をとる位相角を読
取れば、第６図に示す如く内部欠陥７の長手方向つまり
内部欠陥７がＸｌｌｌｙ軸の交点０から如何なる方向に
伸びているかを容易に探知することができる。内部欠陥
７の長手方向を探知した後は、電磁石ＭｌｙＭ２の磁極
端面Ｑｌｌ？Ｑｌ２及びＱ２レＱ２２並びに磁場検出素
子２が該長手方向に沿つて平行移動するように測定子１
を移動させる。
１２が極大値をとるので、励磁電流１１，ｉ２の位相関
係に応じて反時計方向に回転している回転磁界の該時点
における磁場方向は第２図に白抜き矢符で示す如く常に
電磁石Ｍ２の磁極端面Ｑ２ｌからＱ２２へ向かう方向（
以下ｙ軸方向という）に一致している。いま、前記ｙ軸
と内部欠陥７の幅方向とがなす角をθとすると磁場検出
素子２の発する磁場信号は、第２図に白抜き矢符で示す
回転磁界が円弧状矢符の方向へθだけ回転した時点にお
いて前述の如く正の極大値（又は負の極小値）をとり、
（θ＋π）だけ回転した時点において負の極小値（又は
正の極大値）をとるので、位相検知手段４が出力する前
記尖頭パルスｐによつてトリガされる信号表示器５上に
おける磁場信号の表示波形は例えは第５図に示す如き波
形となり、回転磁界がｙ軸に一致する時点を位相角０及
び２πとし、極大値、極小値をとる位相角がそれぞれθ
，θ＋πに一致する。ところで電磁石Ｍ１及びＭ２は直
交しているので内部欠陥７の長手方向が電磁石Ｍ，の磁
極端面ＱｌｌからＱｌ２へ向かう方向（以下ｘ軸方向と
いう）となす角は前記θであるから信号表示器５の表示
波形から磁場信号が極大値又は極小値をとる位相角を読
取れば、第６図に示す如く内部欠陥７の長手方向つまり
内部欠陥７がＸｌｌｌｙ軸の交点０から如何なる方向に
伸びているかを容易に探知することができる。内部欠陥
７の長手方向を探知した後は、電磁石ＭｌｙＭ２の磁極
端面Ｑｌｌ？Ｑｌ２及びＱ２レＱ２２並びに磁場検出素
子２が該長手方向に沿つて平行移動するように測定子１
を移動させる。
この移動の結果磁場検出素子２が内部欠陥７の長手方向
端縁の直上に相当する磁性金属体６の表面部位を逸脱す
るに至ると漏洩磁束の急減により信号表示器５の表示波
形は位相角０から２πに至る全範囲において大きな凹凸
のない平担な波形に変化するので測定子１を前述の如く
移動させることにより内部欠陥７の長手方向における両
端部の位置を探知することができ、これにより内部欠陥
の長さ（実長ではなく平面図上での長さに相当するもの
）が判明する。更に前述の磁場信号の波形における極大
値又は極小値の値自体は内部欠陥７の深さに略々比例す
るので、極大値又は極小値の値を読みとることにより該
深さをも検知し得る。第７図に示すものは本発明の別態
様の実施例であつて、この場合は位相検知手段４は前記
励磁回路Ｅ１中の挿入抵抗Ｒ１及び該挿入抵抗Ｒ１に接
続されたバツフアアンプＢ１、並びに交流電源Ｐ２と巻
線Ｗ２で構成される電磁石Ｍ２の励磁回路凡中の挿入抵
抗Ｒ２及び該挿入抵抗Ｒ２に接続されたバツフアアンプ
Ｂ２により構成されている。
端縁の直上に相当する磁性金属体６の表面部位を逸脱す
るに至ると漏洩磁束の急減により信号表示器５の表示波
形は位相角０から２πに至る全範囲において大きな凹凸
のない平担な波形に変化するので測定子１を前述の如く
移動させることにより内部欠陥７の長手方向における両
端部の位置を探知することができ、これにより内部欠陥
の長さ（実長ではなく平面図上での長さに相当するもの
）が判明する。更に前述の磁場信号の波形における極大
値又は極小値の値自体は内部欠陥７の深さに略々比例す
るので、極大値又は極小値の値を読みとることにより該
深さをも検知し得る。第７図に示すものは本発明の別態
様の実施例であつて、この場合は位相検知手段４は前記
励磁回路Ｅ１中の挿入抵抗Ｒ１及び該挿入抵抗Ｒ１に接
続されたバツフアアンプＢ１、並びに交流電源Ｐ２と巻
線Ｗ２で構成される電磁石Ｍ２の励磁回路凡中の挿入抵
抗Ｒ２及び該挿入抵抗Ｒ２に接続されたバツフアアンプ
Ｂ２により構成されている。
該位相検知手段４のバツフアアンプＢｌ，Ｂ２から出力
された位相信号は夫々乗算器Ｎｌ，Ｎ２に入力されてい
る。他方、磁場検出素子２は絶対値検波回路Ｔを介して
乗算器Ｎ１及びＮ２に接続され、更に乗算器Ｎ１及びＮ
２はシンクロスコープ等の信号表示器５のＹ軸入力端子
５ｙ及びＸ軸入力端子５ｘに接続されている外は第１図
に示す前述の実施例と同様の構成を有している。本実施
例による場合は信号表示器５に表示される信号波形が前
述の実施例の場合と異る。
された位相信号は夫々乗算器Ｎｌ，Ｎ２に入力されてい
る。他方、磁場検出素子２は絶対値検波回路Ｔを介して
乗算器Ｎ１及びＮ２に接続され、更に乗算器Ｎ１及びＮ
２はシンクロスコープ等の信号表示器５のＹ軸入力端子
５ｙ及びＸ軸入力端子５ｘに接続されている外は第１図
に示す前述の実施例と同様の構成を有している。本実施
例による場合は信号表示器５に表示される信号波形が前
述の実施例の場合と異る。
すなわち、本実施例においては、τだけ位相が異る）
） ２電磁石Ｍ１及びＭ
２の励磁電流とそれぞれ同位相である挿入抵抗Ｒ１及び
Ｒ２の端子間電圧ａ１及びＡ２がバツフアアンプＢ１及
びＢ２を経た後、乗算器Ｎ１及びＮ２＆こおいて、磁場
検出素子２の発する磁場信号ｍが絶対値検波回路Ｔによ
つて検波された信号ｍ′により変調され、この変調波Ｅ
，及びＥ２がそれぞれ信号表示器５のＹ軸入力端子５ｙ
及びＸ軸入力端子５ｘに入力される。
） ２電磁石Ｍ１及びＭ
２の励磁電流とそれぞれ同位相である挿入抵抗Ｒ１及び
Ｒ２の端子間電圧ａ１及びＡ２がバツフアアンプＢ１及
びＢ２を経た後、乗算器Ｎ１及びＮ２＆こおいて、磁場
検出素子２の発する磁場信号ｍが絶対値検波回路Ｔによ
つて検波された信号ｍ′により変調され、この変調波Ｅ
，及びＥ２がそれぞれ信号表示器５のＹ軸入力端子５ｙ
及びＸ軸入力端子５ｘに入力される。
変調波ｅ１及びＥ２は、その搬送波即ち、前記端子間電
圧ａ１及びＡ２が磁性金属体６に対面してＸ軸方向及び
ｙ軸方向に配設された電磁石Ｍ１及びＭ２の励磁電流と
同一位相であるのに対し、信号表示器５においては逆に
Ｙ軸入力端子５ｙ及びＸ軸入力端子５ｘに入力されるの
で、信号表示器５には回転磁界は９０力（又は２７０信
）だけ角度が進められて表わされる。変調波ｅ１及びＥ
２の信号波即ち信号ｍ′は、前述の如く磁場信号ｍが回
転磁界の磁場方向が内部欠陥７の幅方向に一致するとき
に正の極大値又は負の極小値をとり、これに対応して極
大値をとるが、信号表示器５においては叙上の如く回転
磁界は９００（又は２７００）だけ角度が進められて表
わされるので、第２図に示す如きｙ軸と内部欠陥７の幅
方向とがなす角度がθである内部欠陥７が存在する場合
は、信号表示器５には第８図に示す如く信号表示器５の
Ｘ軸と角度θで交わるリサージユ波形が現れる。従つて
信号表示器５に現れるリサージユ波形をみかけ通りに、
即る信号表示器５におけるＸ軸，Ｙ軸を磁性金属体６に
おけるＸ軸，ｙ軸であるかの如くみなすときは、リサー
ジユ波形の極大値又は極小値が信号表示器５台こおける
Ｘ軸方向又はＹ軸方向となす角度をそのまま内部欠陥７
の長手方向がＸ軸方向又はｙ軸方向となす角度であると
判断し得るので、本実施例は直視的に内部欠陥７がｘ軸
ｙ軸の交点０から如何なる方向に伸びているかを探知す
ることができる。また前同様に測定子１を移動させるこ
とにより内部欠陥の長さを求め、且つリサージユ波形の
長さから内部欠陥７の深さを検知し得ることは勿論であ
る。なお上記２つの実施例においては使用する電磁石の
数を２個としたが第１図に示す実施例ではｋ個（ｋは自
然数）、第７図に示す実施例では２ｋ個の電磁石を使用
し該電磁石の磁極端面が同一円の周縁上に等間隔離隔す
るように配設し、各電磁石を第１図に示す実施例ではπ
／ｋ位相の異るｋ個の、第７図に示す実施例ではπ／２
ｋ位相の異る２ｋ個の交流電源でそれぞれ励磁すること
によつて磁性金属体６に回転磁界を与え、前同様に表示
を行わせるよう構成し得ることは勿論である。
圧ａ１及びＡ２が磁性金属体６に対面してＸ軸方向及び
ｙ軸方向に配設された電磁石Ｍ１及びＭ２の励磁電流と
同一位相であるのに対し、信号表示器５においては逆に
Ｙ軸入力端子５ｙ及びＸ軸入力端子５ｘに入力されるの
で、信号表示器５には回転磁界は９０力（又は２７０信
）だけ角度が進められて表わされる。変調波ｅ１及びＥ
２の信号波即ち信号ｍ′は、前述の如く磁場信号ｍが回
転磁界の磁場方向が内部欠陥７の幅方向に一致するとき
に正の極大値又は負の極小値をとり、これに対応して極
大値をとるが、信号表示器５においては叙上の如く回転
磁界は９００（又は２７００）だけ角度が進められて表
わされるので、第２図に示す如きｙ軸と内部欠陥７の幅
方向とがなす角度がθである内部欠陥７が存在する場合
は、信号表示器５には第８図に示す如く信号表示器５の
Ｘ軸と角度θで交わるリサージユ波形が現れる。従つて
信号表示器５に現れるリサージユ波形をみかけ通りに、
即る信号表示器５におけるＸ軸，Ｙ軸を磁性金属体６に
おけるＸ軸，ｙ軸であるかの如くみなすときは、リサー
ジユ波形の極大値又は極小値が信号表示器５台こおける
Ｘ軸方向又はＹ軸方向となす角度をそのまま内部欠陥７
の長手方向がＸ軸方向又はｙ軸方向となす角度であると
判断し得るので、本実施例は直視的に内部欠陥７がｘ軸
ｙ軸の交点０から如何なる方向に伸びているかを探知す
ることができる。また前同様に測定子１を移動させるこ
とにより内部欠陥の長さを求め、且つリサージユ波形の
長さから内部欠陥７の深さを検知し得ることは勿論であ
る。なお上記２つの実施例においては使用する電磁石の
数を２個としたが第１図に示す実施例ではｋ個（ｋは自
然数）、第７図に示す実施例では２ｋ個の電磁石を使用
し該電磁石の磁極端面が同一円の周縁上に等間隔離隔す
るように配設し、各電磁石を第１図に示す実施例ではπ
／ｋ位相の異るｋ個の、第７図に示す実施例ではπ／２
ｋ位相の異る２ｋ個の交流電源でそれぞれ励磁すること
によつて磁性金属体６に回転磁界を与え、前同様に表示
を行わせるよう構成し得ることは勿論である。
また位相検知手段４は励磁回路Ｅ１又はＥ，の励磁電流
の位相を検知するよう構成したが、これらの励磁電圧の
位相を検知するように構成し得ることは言うまでもない
。以上詳述した如く本発明装置は在来の磁気探傷装置に
よつては不可能であつた内部欠陥又は微小表面欠陥の性
状の測定を容易且つ正確に行うことを可能とするもので
あつて磁気探傷の応用分野を拡大し、探傷技術の向上に
寄与する所が多大である。
の位相を検知するよう構成したが、これらの励磁電圧の
位相を検知するように構成し得ることは言うまでもない
。以上詳述した如く本発明装置は在来の磁気探傷装置に
よつては不可能であつた内部欠陥又は微小表面欠陥の性
状の測定を容易且つ正確に行うことを可能とするもので
あつて磁気探傷の応用分野を拡大し、探傷技術の向上に
寄与する所が多大である。
図面は本発明の実施例を示すものであつて、第１図は測
定子の斜視図と共に示す本発明装置のプロツク線図、第
２図は回転磁界と内部欠陥の角度関係を説明するための
略示平面図、第３図Ａ，Ｂ及びＣはそれぞれ電磁石Ｍ，
の励磁電流１，、電磁石Ｍ２の励磁電流１２及び尖頭パ
ルスｐの波形図、第４図Ａ，Ｂは第２図におけるＡ−Ａ
線及びＢ−Ｂ線における断面図、第５図は信号表示器に
おける信号波形図、第６図は回転磁界と内部欠陥の角度
関係を説明するためのｘ−ｙ座標図、第７図は測定子と
共に示す本発明装置の別態様の実施例のプロツク線図、
第８図は第７図に示す本発明装置の信号表示器に現れる
リサージユ波形図である。 １・・・・・・測定子、２・・・・・・磁場検出素子、
３・・・・・・支持部材、４・・・・・・位相検知手段
、５・・・・・・信号表示器、６・・・・・・磁性金属
体、７・・・・・・内部欠陥、８・・・・・・マーク、
Ｍ，，Ｍ２・・・・・・電磁石、Ｐｌ，Ｐ２・・・・・
・交流電源、Ｅ，，Ｅ２・・・・・・励磁回路、Ｒ，，
Ｒ２・・・・・・挿入抵抗、Ｂｌ，Ｂ２・・・・・・バ
ツフアアンプ、Ｎ，，Ｎ，・・・・・・乗算器、Ｓ・・
・・・・パルス発生器。
定子の斜視図と共に示す本発明装置のプロツク線図、第
２図は回転磁界と内部欠陥の角度関係を説明するための
略示平面図、第３図Ａ，Ｂ及びＣはそれぞれ電磁石Ｍ，
の励磁電流１，、電磁石Ｍ２の励磁電流１２及び尖頭パ
ルスｐの波形図、第４図Ａ，Ｂは第２図におけるＡ−Ａ
線及びＢ−Ｂ線における断面図、第５図は信号表示器に
おける信号波形図、第６図は回転磁界と内部欠陥の角度
関係を説明するためのｘ−ｙ座標図、第７図は測定子と
共に示す本発明装置の別態様の実施例のプロツク線図、
第８図は第７図に示す本発明装置の信号表示器に現れる
リサージユ波形図である。 １・・・・・・測定子、２・・・・・・磁場検出素子、
３・・・・・・支持部材、４・・・・・・位相検知手段
、５・・・・・・信号表示器、６・・・・・・磁性金属
体、７・・・・・・内部欠陥、８・・・・・・マーク、
Ｍ，，Ｍ２・・・・・・電磁石、Ｐｌ，Ｐ２・・・・・
・交流電源、Ｅ，，Ｅ２・・・・・・励磁回路、Ｒ，，
Ｒ２・・・・・・挿入抵抗、Ｂｌ，Ｂ２・・・・・・バ
ツフアアンプ、Ｎ，，Ｎ，・・・・・・乗算器、Ｓ・・
・・・・パルス発生器。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ それぞれが異位相交流電源によつて励磁され、１個
の回転磁界を発生させるべく配置した適数個の電磁石と
、各電磁石の励磁回路のうち少なくとも１個の励磁回路
に設けられた適宜の位相検知手段と、前記回転磁界の回
転中心となるべき空間に適宜の支持部材を用いて配置さ
れた磁場検出素子と、該磁場検出素子の発する磁場信号
及び前記位相検知手段から出力される位相信号の両信号
を入力し、磁場信号を、前記位相検知手段により位相検
知された励磁電流又は励磁電圧に同期させて表示する信
号表示器を備えたことを特徴とする磁性金属体の欠陥形
状測定装置。 ２ 前記位相検知手段は、パルス発生器とその前置バッ
ファアンプを介して、π／２だけ位相の異なる２つの電
磁石の励磁回路に夫々介設された挿入抵抗の両端に接続
され、前記パルス発生器からの出力端子は、信号表示器
のトリガ端子に接続されていることを特徴とする特許請
求の範囲第１項記載の磁性金属体の欠陥形状測定装置。 ３ 前記磁場検出素子から出力された磁場信号は、絶対
値検波を行う絶対値検波回路に入力され、該絶対値検波
回路から出力される検波信号は、前記各位相検知手段か
ら出力された位相信号を別個に入力している２個の乗算
器に入力され、該各乗算器において前記検波信号により
変調された夫々の位相信号は前記信号表示器のＸ軸入力
端子及びＹ軸入力端子に個別に入力されて、リサージユ
波形が表示されるようになされていることを特徴とする
特許請求の範囲第１項記載の磁性金属体の欠陥形状測定
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP517676A JPS5922179B2 (ja) | 1976-01-19 | 1976-01-19 | 磁性金属体の欠陥形状測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP517676A JPS5922179B2 (ja) | 1976-01-19 | 1976-01-19 | 磁性金属体の欠陥形状測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5288392A JPS5288392A (en) | 1977-07-23 |
| JPS5922179B2 true JPS5922179B2 (ja) | 1984-05-24 |
Family
ID=11603918
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP517676A Expired JPS5922179B2 (ja) | 1976-01-19 | 1976-01-19 | 磁性金属体の欠陥形状測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5922179B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1996000386A1 (fr) * | 1994-06-23 | 1996-01-04 | Sumitomo Metal Industries Limited | Procede et dispositif de detection de defauts au moyen d'un flux de fuite, et detecteur de defauts utilisant un flux de fuite |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5153274B2 (ja) * | 2007-09-18 | 2013-02-27 | 北斗電子工業株式会社 | 検査対象物の探傷装置 |
| JP5140214B2 (ja) * | 2008-04-11 | 2013-02-06 | 学校法人日本大学 | 回転渦電流探傷プローブ |
-
1976
- 1976-01-19 JP JP517676A patent/JPS5922179B2/ja not_active Expired
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1996000386A1 (fr) * | 1994-06-23 | 1996-01-04 | Sumitomo Metal Industries Limited | Procede et dispositif de detection de defauts au moyen d'un flux de fuite, et detecteur de defauts utilisant un flux de fuite |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5288392A (en) | 1977-07-23 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| TWI279547B (en) | Probe card and method for testing magnetic sensor | |
| JPS5877653A (ja) | 非破壊検査装置 | |
| JP2003215107A (ja) | 渦流探傷用プローブ | |
| BRPI0912722B1 (pt) | Método de ensaio magnético e aparelhagem de ensaio magnético | |
| JPH08273952A (ja) | 平面電流検出器 | |
| JP4835995B2 (ja) | 漏洩磁束探傷法及び漏洩磁束探傷装置 | |
| JPS6333601A (ja) | 非磁性体材料内に埋設された強磁性物体の測定方法と装置 | |
| US3944911A (en) | Apparatus for magnetically detecting faults in metal bodies utilizing a multiphase generator to generate a rotating field in the body | |
| JPS5922179B2 (ja) | 磁性金属体の欠陥形状測定装置 | |
| CN110455313A (zh) | 一种光纤陀螺的检测装置 | |
| JPH0545184B2 (ja) | ||
| EP1877767A2 (en) | Near fieldtm and combination near fieldtm - remote field electromagnetic testing (et) probes for inspecting ferromagnetic pipes and tubes such as those used in heat exchangers | |
| JP2002214202A (ja) | 渦流探傷用プローブ | |
| JP3979606B2 (ja) | 渦電流探傷用プローブとそのプローブを用いた渦電流探傷装置 | |
| JPS59217158A (ja) | 欠陥検出装置 | |
| JPH0820421B2 (ja) | 探傷方法及び探傷装置 | |
| JP2803917B2 (ja) | 鋼板の磁気異方性検出方法 | |
| JPS5910499B2 (ja) | 感磁性素子による鋼索の磁気探傷装置 | |
| JPH06242076A (ja) | 電磁気探傷装置 | |
| JP2606043Y2 (ja) | 渦電流探傷装置 | |
| Wang et al. | Fiducialization of the small-aperture quadrupoles based on the vibrating wire method | |
| CA1122656A (en) | Three phase eddy current instrument | |
| JPH0311694Y2 (ja) | ||
| STANĚK et al. | Experimental Gaussmeter For Circular Magnetization | |
| JPH03135780A (ja) | 磁気測定方法およびその装置 |