JPS5917914B2 - ジツタ測定装置 - Google Patents
ジツタ測定装置Info
- Publication number
- JPS5917914B2 JPS5917914B2 JP54017667A JP1766779A JPS5917914B2 JP S5917914 B2 JPS5917914 B2 JP S5917914B2 JP 54017667 A JP54017667 A JP 54017667A JP 1766779 A JP1766779 A JP 1766779A JP S5917914 B2 JPS5917914 B2 JP S5917914B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- jitter
- length
- digital signal
- single point
- under test
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04L—TRANSMISSION OF DIGITAL INFORMATION, e.g. TELEGRAPHIC COMMUNICATION
- H04L1/00—Arrangements for detecting or preventing errors in the information received
- H04L1/20—Arrangements for detecting or preventing errors in the information received using signal quality detector
- H04L1/205—Arrangements for detecting or preventing errors in the information received using signal quality detector jitter monitoring
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Dc Digital Transmission (AREA)
- Synchronisation In Digital Transmission Systems (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は伝送路において生じるデジタル信号のエッジ
の時間的ゆらぎ、いわゆるジッタを測定するジッタ測定
装置に関する。
の時間的ゆらぎ、いわゆるジッタを測定するジッタ測定
装置に関する。
デジタル信号を伝送するとその伝送路におけるジッタに
よりその立上り立下り、つまり信号のエッジが時間的に
前後に変動する。
よりその立上り立下り、つまり信号のエッジが時間的に
前後に変動する。
この変動即ちジッタ量を測定するにはその伝送された信
号と基準のクロック信号とが必要である。つまりジッタ
を受けてない基準クロック信号と伝送された信号とを比
較して伝送された各信号のエッジの基準クロック信号に
対するずれからジッタ量が測定される。そのような基準
クロック信号が得られない場合においては伝送するテジ
タル信号としてその各単点長即ち１ピット毎に高レベル
”１”と低レベル”０”とを繰返す特殊信号を伝送し、
その”ｌ”及び”ｏ”の間隔を測定することによりジッ
タ量を測定していた。通常のゼータを伝送している場合
においてはそのデータに応じて高レベルや低レベルの長
さが変化するため、そのエッジの位置の変動を測定する
ごとができない。このため上述した特殊データを測定の
ため送る必要があつた。受信された通常のデータにより
、そのクロックつまＤ単点長で高レベル、低レベルを繰
返す信号を発生する電圧制御発振器を位相同期ループ、
いわゆるＰＬＬによつて位相同期をかけて到来デジタル
信号のクロックに同期したクロックを作ク、これを基準
として到来デジタル信号のジッタを測定することも考え
られる。しかしこの場合はそのデジタル信号が比較的長
い高レベル或いは低レベル状態となる場合においてはそ
の位相同期ループの時定数を長くしなければならず、そ
のようにすると高レベル、低レベルの繰返しが速くなる
とＰＬＬが追従できなくなるため実用的でな％この発明
の目的は伝送されたデジタル信号の基準クロックが存在
しなくても、又その基準クロックを作ることなく、その
信号におけるジッタを測定することができるジッタ測定
装置を提供するものである。以下この発明によるジッタ
測定装置を図面を参照して説明しよう。
号と基準のクロック信号とが必要である。つまりジッタ
を受けてない基準クロック信号と伝送された信号とを比
較して伝送された各信号のエッジの基準クロック信号に
対するずれからジッタ量が測定される。そのような基準
クロック信号が得られない場合においては伝送するテジ
タル信号としてその各単点長即ち１ピット毎に高レベル
”１”と低レベル”０”とを繰返す特殊信号を伝送し、
その”ｌ”及び”ｏ”の間隔を測定することによりジッ
タ量を測定していた。通常のゼータを伝送している場合
においてはそのデータに応じて高レベルや低レベルの長
さが変化するため、そのエッジの位置の変動を測定する
ごとができない。このため上述した特殊データを測定の
ため送る必要があつた。受信された通常のデータにより
、そのクロックつまＤ単点長で高レベル、低レベルを繰
返す信号を発生する電圧制御発振器を位相同期ループ、
いわゆるＰＬＬによつて位相同期をかけて到来デジタル
信号のクロックに同期したクロックを作ク、これを基準
として到来デジタル信号のジッタを測定することも考え
られる。しかしこの場合はそのデジタル信号が比較的長
い高レベル或いは低レベル状態となる場合においてはそ
の位相同期ループの時定数を長くしなければならず、そ
のようにすると高レベル、低レベルの繰返しが速くなる
とＰＬＬが追従できなくなるため実用的でな％この発明
の目的は伝送されたデジタル信号の基準クロックが存在
しなくても、又その基準クロックを作ることなく、その
信号におけるジッタを測定することができるジッタ測定
装置を提供するものである。以下この発明によるジッタ
測定装置を図面を参照して説明しよう。
被測定デジタル信号は第１図の端子１１よりゲート１２
及びフリツプフロツプ１３のセツト端子に与えられてい
る。端子１４から第２図Ａに示すような起動パルスがフ
リツプフロツプ１５のセツト端子に与えられると、その
フリツプフロツプ１５のＱ出力は第２図Ｂに示すように
高レベルとなり、この出力によりフリツプフロツプ１３
は動作状態となる。従つて起動パルスの発生した直後の
端子１１よりの第２図Ｃに示す被測定デジタル信号の立
上ジによつて、第２図Ｄに示すようにフリツプフロツプ
１３の出力は高レベルとなる。被測定デジタル信号の立
上り、立下ｂはジツタにより△Ｔｌ，△Ｔ２，△Ｔ３・
・・だけ変動している。このフリツプフロツプ１３の出
力によりゲート１２，１６及び１７が開かれる。
及びフリツプフロツプ１３のセツト端子に与えられてい
る。端子１４から第２図Ａに示すような起動パルスがフ
リツプフロツプ１５のセツト端子に与えられると、その
フリツプフロツプ１５のＱ出力は第２図Ｂに示すように
高レベルとなり、この出力によりフリツプフロツプ１３
は動作状態となる。従つて起動パルスの発生した直後の
端子１１よりの第２図Ｃに示す被測定デジタル信号の立
上ジによつて、第２図Ｄに示すようにフリツプフロツプ
１３の出力は高レベルとなる。被測定デジタル信号の立
上り、立下ｂはジツタにより△Ｔｌ，△Ｔ２，△Ｔ３・
・・だけ変動している。このフリツプフロツプ１３の出
力によりゲート１２，１６及び１７が開かれる。
その開かれたゲート１２を端子１１よりの被測定デジタ
ル信号が通過してゲート１６に与えられ、又ゲート１２
の出力はインバータ１８で反転されてゲート１７に与え
られる。つまりゲート１２を通過する信号は第２図Ｅの
ようになり、インバータ１８の出力は第２図Ｆのように
なる。一方クロツク発振器１９より第２図Ｇに示すクロ
ツクがゲート１６及び１７に与えられている。
ル信号が通過してゲート１６に与えられ、又ゲート１２
の出力はインバータ１８で反転されてゲート１７に与え
られる。つまりゲート１２を通過する信号は第２図Ｅの
ようになり、インバータ１８の出力は第２図Ｆのように
なる。一方クロツク発振器１９より第２図Ｇに示すクロ
ツクがゲート１６及び１７に与えられている。
従つてゲート１６より、被測定デジタル信号の高レベル
区間は第２図Ｊに示すようにクロツクパルスが通過し、
カウンタ２１に供給される。同様に被測定デジタル信号
の低レベル区間の間第２図Ｋに示すようにゲート１７を
クロツクパルスが通過してカウンタ２２に供給される。
第２図Ｅに示したゲート１２の出力信号はラツチ回路２
３にも与えられ、その信号が立下がる毎にカウンタ２１
の計数値がラツチ回路２３にラツチされる。
区間は第２図Ｊに示すようにクロツクパルスが通過し、
カウンタ２１に供給される。同様に被測定デジタル信号
の低レベル区間の間第２図Ｋに示すようにゲート１７を
クロツクパルスが通過してカウンタ２２に供給される。
第２図Ｅに示したゲート１２の出力信号はラツチ回路２
３にも与えられ、その信号が立下がる毎にカウンタ２１
の計数値がラツチ回路２３にラツチされる。
インバータ１８の出力はラツチ回路２４にも与えられ、
その信号が立下る毎にカウンタ２２の計数値がラツチ回
路２４にラツチされる。更にゲート１２の出力はトグル
フリツプフロツプ２５にも与えられ、これにより１／２
に分周され第２図Ｈに示す信号が得られる。このフリツ
プフロツプ２５の出力が変化する時点、つまり立上り及
び立下りに｝いて加算回路２６が駆動され、ラツチ回路
２３，２４に保持されている計数値が加算される。フリ
ツプフロツプ２５の出力はアドレスカウンタ２７にも供
給され、アドレスカウンタ２７はその入力の状態が反転
する毎に計数を歩進し、アドレスカウンタ２７の計数値
がアドレスとしてメモリ２８に与えられ、そのアドレス
カウンタの内容に指定されたメモリ２８に加算回路２６
の加算値が記憶される。ゲート１２の出力は測定時間計
数用カウンタ２９にも与えられ、カウンタ２９は一定数
を計数すると第２図１に示すような終了パルスを発生す
る。
その信号が立下る毎にカウンタ２２の計数値がラツチ回
路２４にラツチされる。更にゲート１２の出力はトグル
フリツプフロツプ２５にも与えられ、これにより１／２
に分周され第２図Ｈに示す信号が得られる。このフリツ
プフロツプ２５の出力が変化する時点、つまり立上り及
び立下りに｝いて加算回路２６が駆動され、ラツチ回路
２３，２４に保持されている計数値が加算される。フリ
ツプフロツプ２５の出力はアドレスカウンタ２７にも供
給され、アドレスカウンタ２７はその入力の状態が反転
する毎に計数を歩進し、アドレスカウンタ２７の計数値
がアドレスとしてメモリ２８に与えられ、そのアドレス
カウンタの内容に指定されたメモリ２８に加算回路２６
の加算値が記憶される。ゲート１２の出力は測定時間計
数用カウンタ２９にも与えられ、カウンタ２９は一定数
を計数すると第２図１に示すような終了パルスを発生す
る。
この終了パルスによりフリツプフロツプ１３及び１５は
りセツトされてフリツプフロツプ１３の出力は第２図Ｄ
に示すように低レベルとなり、従つてゲート１２が閉じ
る。又フリツプフロツプ１５の出力も第２図Ｂに示すよ
うに低レベルとなる。更に第２図１の終了パルスはデー
タ処理装置３１にも供給される。データ処理装置３１は
メモリ２８に記憶されたデータを読出して、その処理を
開始するメモリ２８には第２図Ｈに示す信号の状態が変
化する毎に加算回路２６の加算値が記憶され、従つて第
２図Ａの起動パルスの発生からの例に訃いては入力デー
タの最初の立上りから次の立上りまでの長さｔｌが一番
地に記憶され、二番地には最初の立上りから二番目の立
上りまでの長さＴ２が、三番地には最初の立上りから三
番目の立上りまでの長さＴ３がそれぞれ記憶される。以
下同様にして最初の立上りから順次各立上りまでのクロ
ツクの計数値、つまり長さに対応した値がメモリ２８に
記憶され、最初の立上りから最後の立上りまでの長さＴ
ｎｉｌ．ｎ番地に記憶される。このようにして起動パル
スから終了パルスまでに｝ける被測定デジタル信号の最
初の立上ジから最後の立上りまでの長さＴｎが測定され
ろＯ被測定デジタル信号の公称伝送速度、つまり単位時
間当りの情報量は予め知られており、従つて上記Ｔｎと
公称伝送速度とから、期間Ｔｎ内に｝けるその被測定テ
ジタル信号の単点長に対応した期間が含まれる数Ｎｎが
演算される。測定時間Ｔｎ中に実際に含まれる単点長の
個数Ｎｎは整数でなければならない。従つて例えば公称
伝送速度が毎秒１Ｍｂｉｔ１測定時間Ｔｎが１１９．９
μｓの場合はＮｎ＝１２０とされる。この単点長の数Ｎ
ｎによつて上記測定時間Ｔｎを割算することによつてデ
ジタル信号の単点長と対応した長さτｓが求まる。ジツ
タはランダムに発生し、平均すればＯになる。従つて測
定時間Ｔｎを充分長くすれば、このＴｎはジツタの影響
はほとんど受けず、τＳを正しく求めることができる。
この単点長に対応した長さτｓと上記最初の立上りより
順次次の立上りまでの長さＴ，，ｔ２，ｔ３，・・・・
・・からジツタ量を演算する。例えばこれ等長さＴ，，
ｔ２，ｔ３，・・・・・・に卦ける情報量、つまり単点
長と対応した長さの数（整数）を公称伝送速度により計
算してＮｌ，Ｎ２，Ｎ３，・・・・・・を求める。
りセツトされてフリツプフロツプ１３の出力は第２図Ｄ
に示すように低レベルとなり、従つてゲート１２が閉じ
る。又フリツプフロツプ１５の出力も第２図Ｂに示すよ
うに低レベルとなる。更に第２図１の終了パルスはデー
タ処理装置３１にも供給される。データ処理装置３１は
メモリ２８に記憶されたデータを読出して、その処理を
開始するメモリ２８には第２図Ｈに示す信号の状態が変
化する毎に加算回路２６の加算値が記憶され、従つて第
２図Ａの起動パルスの発生からの例に訃いては入力デー
タの最初の立上りから次の立上りまでの長さｔｌが一番
地に記憶され、二番地には最初の立上りから二番目の立
上りまでの長さＴ２が、三番地には最初の立上りから三
番目の立上りまでの長さＴ３がそれぞれ記憶される。以
下同様にして最初の立上りから順次各立上りまでのクロ
ツクの計数値、つまり長さに対応した値がメモリ２８に
記憶され、最初の立上りから最後の立上りまでの長さＴ
ｎｉｌ．ｎ番地に記憶される。このようにして起動パル
スから終了パルスまでに｝ける被測定デジタル信号の最
初の立上ジから最後の立上りまでの長さＴｎが測定され
ろＯ被測定デジタル信号の公称伝送速度、つまり単位時
間当りの情報量は予め知られており、従つて上記Ｔｎと
公称伝送速度とから、期間Ｔｎ内に｝けるその被測定テ
ジタル信号の単点長に対応した期間が含まれる数Ｎｎが
演算される。測定時間Ｔｎ中に実際に含まれる単点長の
個数Ｎｎは整数でなければならない。従つて例えば公称
伝送速度が毎秒１Ｍｂｉｔ１測定時間Ｔｎが１１９．９
μｓの場合はＮｎ＝１２０とされる。この単点長の数Ｎ
ｎによつて上記測定時間Ｔｎを割算することによつてデ
ジタル信号の単点長と対応した長さτｓが求まる。ジツ
タはランダムに発生し、平均すればＯになる。従つて測
定時間Ｔｎを充分長くすれば、このＴｎはジツタの影響
はほとんど受けず、τＳを正しく求めることができる。
この単点長に対応した長さτｓと上記最初の立上りより
順次次の立上りまでの長さＴ，，ｔ２，ｔ３，・・・・
・・からジツタ量を演算する。例えばこれ等長さＴ，，
ｔ２，ｔ３，・・・・・・に卦ける情報量、つまり単点
長と対応した長さの数（整数）を公称伝送速度により計
算してＮｌ，Ｎ２，Ｎ３，・・・・・・を求める。
次にＮ，とτｓとを掛算し、このジツタがない値Ｎ，τ
ｓと、Ｔ，との差よりジツタ量△Ｔ２が求まる。同様に
次の立上りまでの長さＴ２とＮ２τｓとの差が次の立上
りでのジツタ量△Ｔ４である。以下同様にしてジツタ量
Ｎ３τＳ，・・・・・・Ｎｎτｓ−Ｔｎを求める。先に
述べたようにジツタはランダムに発生し、平均すればＯ
となると考えられる。
ｓと、Ｔ，との差よりジツタ量△Ｔ２が求まる。同様に
次の立上りまでの長さＴ２とＮ２τｓとの差が次の立上
りでのジツタ量△Ｔ４である。以下同様にしてジツタ量
Ｎ３τＳ，・・・・・・Ｎｎτｓ−Ｔｎを求める。先に
述べたようにジツタはランダムに発生し、平均すればＯ
となると考えられる。
もしそうでなければ被測定デジタル信号の周波数乃至速
度が段段速くなり或いは遅くなることになる。速度が一
定であれば長い時間にわたつて平均すれぱそのジツタは
Ｏとなり、平均ジツタ０の状態でτｓを演算することに
なり、正確なτｓが求まる。到来するデジタル信号につ
き、前述したようにしてメモリ２８にそのＴｌ，ｔ２，
ｔ３，・・・・・・を順次記憶していくことにより、い
つでもその記憶信号から基準クロツクが存在しなくても
、又基準クロツクを作らなくても演算によつてジツタを
求めることができ、かつ被測定伝送路に対しては測定の
ための特殊なデータを送る必要はない。
度が段段速くなり或いは遅くなることになる。速度が一
定であれば長い時間にわたつて平均すれぱそのジツタは
Ｏとなり、平均ジツタ０の状態でτｓを演算することに
なり、正確なτｓが求まる。到来するデジタル信号につ
き、前述したようにしてメモリ２８にそのＴｌ，ｔ２，
ｔ３，・・・・・・を順次記憶していくことにより、い
つでもその記憶信号から基準クロツクが存在しなくても
、又基準クロツクを作らなくても演算によつてジツタを
求めることができ、かつ被測定伝送路に対しては測定の
ための特殊なデータを送る必要はない。
上述に卦いては一定の時間に卦ける被測定デジタル信号
の最初の立上り点を基準にして、順次次の立上り時点に
おけるジツタ量を測定したが立上り点におけるジツタの
測定を行なうこともできる。その場合は第２図Ｃに示し
た被測定デジタル信号を反転して端子１１に供給すれば
第２図Ｃに示したデジタル信号の立下り点のジツタを測
定することができる。単点長に対応した長さτｓを求め
るには先に示したようにＮｎでＴｎを割算しても良いが
、更に正確にするには各計数値Ｔ，，ｔ２，ｔ３・・・
・・・を合計した値．ΣＴｉを、Ｎｌ，Ｎ２，Ｎ３・・
・・・・の加算１＝１値、．ＹＮｉで割算した値をτｓ
とすれば、よ１＝１り正確な値となる。
の最初の立上り点を基準にして、順次次の立上り時点に
おけるジツタ量を測定したが立上り点におけるジツタの
測定を行なうこともできる。その場合は第２図Ｃに示し
た被測定デジタル信号を反転して端子１１に供給すれば
第２図Ｃに示したデジタル信号の立下り点のジツタを測
定することができる。単点長に対応した長さτｓを求め
るには先に示したようにＮｎでＴｎを割算しても良いが
、更に正確にするには各計数値Ｔ，，ｔ２，ｔ３・・・
・・・を合計した値．ΣＴｉを、Ｎｌ，Ｎ２，Ｎ３・・
・・・・の加算１＝１値、．ＹＮｉで割算した値をτｓ
とすれば、よ１＝１り正確な値となる。
上述において用いら１れたτｓは第２図の説明から明ら
かなように実際の単点長の２倍の値である。
かなように実際の単点長の２倍の値である。
従つてτｓの２分の１を求めてジツタ測定を行つてもよ
い。また各立上り又は立下がりについて順次隣接間隔の
長さを測定し、その一番目及び二番目を加算したもの、
一番目乃至三番目を加算したものをそれぞれＴｌ，ｔ２
，ｔ３とし、以下同様にＴ，〜Ｔｎを測定しても良い。
しかしこの場合は各隣接間隔の測定値に±１の誤差が生
じ、これが加算されるため、第２図について示した処理
の方が高い精度となる。ゼータ処理装置３１としてはい
わゆるプログラム匍脚により行なわせることが可能であ
る。
い。また各立上り又は立下がりについて順次隣接間隔の
長さを測定し、その一番目及び二番目を加算したもの、
一番目乃至三番目を加算したものをそれぞれＴｌ，ｔ２
，ｔ３とし、以下同様にＴ，〜Ｔｎを測定しても良い。
しかしこの場合は各隣接間隔の測定値に±１の誤差が生
じ、これが加算されるため、第２図について示した処理
の方が高い精度となる。ゼータ処理装置３１としてはい
わゆるプログラム匍脚により行なわせることが可能であ
る。
又このようにして得られた各立上り又は立上りのジツタ
の度数分布を作ることもでき、ジツタ量を角度として演
算してそれを度数分布として表わすことも簡単である。
この角度として表わしたジツタ量を一定周期で出力して
デジタルアナログ信号に変換すれば、そのアナログ信号
はジツタ量の時間的変動量を現わして訃り、これを既存
の周波数分析計で分析すればジツタの周波数成分を容易
に測定することも可能である。以上述べたようにこの発
明のジツタ測定装置によれば基準となるクロツク周波数
は特に作り出す必要はなく、演算によつて得られるもの
であり、このため伝送路のような長距離のものに訃ける
ジツタも測定が可能であり、測定用データとして”１”
，”２”を繰返す特殊なものとする必要はない。
の度数分布を作ることもでき、ジツタ量を角度として演
算してそれを度数分布として表わすことも簡単である。
この角度として表わしたジツタ量を一定周期で出力して
デジタルアナログ信号に変換すれば、そのアナログ信号
はジツタ量の時間的変動量を現わして訃り、これを既存
の周波数分析計で分析すればジツタの周波数成分を容易
に測定することも可能である。以上述べたようにこの発
明のジツタ測定装置によれば基準となるクロツク周波数
は特に作り出す必要はなく、演算によつて得られるもの
であり、このため伝送路のような長距離のものに訃ける
ジツタも測定が可能であり、測定用データとして”１”
，”２”を繰返す特殊なものとする必要はない。
実際のゼータの伝送中にジツタを測定することができ、
従つてより実際に即したジツタの測定が行なえる。ジツ
タの分布の測定やジツタの周波数成分等も容易に得るこ
とが可能となり、従つてジツタの発生原因にまで解析す
ることもでき、そのため伝送系の設計に際して余裕度の
取り方の配分が簡単に正確に行なうことが可能となる。
従つてより実際に即したジツタの測定が行なえる。ジツ
タの分布の測定やジツタの周波数成分等も容易に得るこ
とが可能となり、従つてジツタの発生原因にまで解析す
ることもでき、そのため伝送系の設計に際して余裕度の
取り方の配分が簡単に正確に行なうことが可能となる。
第１図はこの発明によるジツタ測定装置の→１ｊを示す
プロツク図、第２図はその説明に供するための波形図で
ある。 １１：被測定デジタル信号入力端子、１３，１５，２５
：フリツプフロツプ、１４：起動信号入力端子、２１，
２２：カウンタ、２３，２４：ラツチ回路、２６：加算
回路、２７：アドレス回路、２８：メモｌ八 ２９：測
定時間決定用カウンタ、１９：クロツク発生器、３１：
データ処理器。
プロツク図、第２図はその説明に供するための波形図で
ある。 １１：被測定デジタル信号入力端子、１３，１５，２５
：フリツプフロツプ、１４：起動信号入力端子、２１，
２２：カウンタ、２３，２４：ラツチ回路、２６：加算
回路、２７：アドレス回路、２８：メモｌ八 ２９：測
定時間決定用カウンタ、１９：クロツク発生器、３１：
データ処理器。
Claims (1)
- １ 予め決められた期間における被測定デジタル信号の
立上り及び立下りの一方の最初から最後までの時間ｔｎ
を測定する手段と、上記被測定デジタル信号の予め知ら
れている公称伝送速度及び上記測定時間ｔｎからその被
測定テジタル信号の上記予め決められた期間内に含まれ
る単点長の数Ｎｎを求める手段と、少なくとも上記測定
時間ｔｎ及び単点長の数Ｎｎから上記被測定デジタル信
号の単点長の長さτｓを求める手段と、上記立上り及び
立下りの一方の最初のエッジから順次対応したエッジま
での各長さｔ＿１、ｔ＿２、ｔ＿３、・・・・・・を測
定する手段と、これ等測定されたｔ＿１、ｔ＿２、ｔ＿
３、・・・・・・及び上記単点長の長さτｓから各エッ
ジにおけるジッタ量を演算する手段とを具備するジッタ
測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP54017667A JPS5917914B2 (ja) | 1979-02-17 | 1979-02-17 | ジツタ測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP54017667A JPS5917914B2 (ja) | 1979-02-17 | 1979-02-17 | ジツタ測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS55110454A JPS55110454A (en) | 1980-08-25 |
| JPS5917914B2 true JPS5917914B2 (ja) | 1984-04-24 |
Family
ID=11950198
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP54017667A Expired JPS5917914B2 (ja) | 1979-02-17 | 1979-02-17 | ジツタ測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5917914B2 (ja) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5831500A (ja) * | 1981-08-17 | 1983-02-24 | 安藤電気株式会社 | ひずみ測定回路 |
| JPS5932873A (ja) * | 1982-08-18 | 1984-02-22 | Ando Electric Co Ltd | ひずみ測定回路 |
| US4876655A (en) * | 1985-12-02 | 1989-10-24 | Tektronix, Inc. | Method and apparatus for evaluating jitter |
| US6782353B2 (en) | 2001-02-23 | 2004-08-24 | Anritsu Corporation | Instrument for measuring characteristic of data transmission system with high accuracy and clock reproducing circuit used therefor |
| US7085668B2 (en) * | 2004-08-20 | 2006-08-01 | Teradyne, Inc. | Time measurement method using quadrature sine waves |
-
1979
- 1979-02-17 JP JP54017667A patent/JPS5917914B2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS55110454A (en) | 1980-08-25 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4875201A (en) | Electronic pulse time measurement apparatus | |
| US20080284477A1 (en) | On-chip jitter measurement circuit | |
| CA1259669A (en) | Method and circuit for digital frequency multiplication | |
| US4054747A (en) | Data buffer | |
| CA2182356C (en) | Time interval measurement system and a method applied therein | |
| US20090198467A1 (en) | Measuring Clock Jitter | |
| JPS5917914B2 (ja) | ジツタ測定装置 | |
| US4168467A (en) | Measurement of pulse duration | |
| EP1075745A1 (en) | Jitter measurement | |
| JPS6229028B2 (ja) | ||
| JPH0783980A (ja) | ジッタ／ワンダ解析装置 | |
| JPS6328266B2 (ja) | ||
| US3505594A (en) | Interpolating time interval counter with course count ambiguity eliminating means | |
| JPS6356503B2 (ja) | ||
| US7516032B2 (en) | Resolution in measuring the pulse width of digital signals | |
| US3553582A (en) | Method and apparatus for measuring a time interval | |
| RU2260830C1 (ru) | Устройство для измерения интервала времени | |
| US6940931B2 (en) | Clock-synchronism evaluating apparatus and method | |
| CN108063619B (zh) | 原子频标频率修正装置及原子频标 | |
| WO1994007150A1 (en) | Full and partial cycle counting apparatus and method | |
| Nizamani | A novel frequency comparator: applications in frequency meters and in difference clocks for generator frequency error monitors | |
| JP2559237Y2 (ja) | シリアルデータサンプリング信号発生装置 | |
| RU2007839C1 (ru) | Устройство термокомпенсации кварцевого генератора | |
| JP2885494B2 (ja) | クロックパルス発生回路 | |
| JP3341544B2 (ja) | 信号周期計測装置 |