JPS59162671U - 半導体装置用高温試験装置 - Google Patents

半導体装置用高温試験装置

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JPS59162671U
JPS59162671U JP4119384U JP4119384U JPS59162671U JP S59162671 U JPS59162671 U JP S59162671U JP 4119384 U JP4119384 U JP 4119384U JP 4119384 U JP4119384 U JP 4119384U JP S59162671 U JPS59162671 U JP S59162671U
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JP
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high temperature
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spring
semiconductor devices
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JP4119384U
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山室 寿也
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富士通株式会社
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
図面は本考案に係る高温試験装置の実施例の構成図であ
る。 1・・・半導体装置、2・・・リード端子、3・・・測
定台、4・・・孔、7・・・ケーブル、8・・・高温印
加回路、9・・・高温プローブ、11・・・加熱板、1
2・・・ネジ、14・・・スプリング。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 半導体装置のリード端子挿入用孔を有する測定台上に試
    験すべき半導体装置を搭載し、該半導体装置の上面にケ
    ーブルを介して高温印加回路と番結した高温プローブを
    接触させて該半導体装置を加熱する高温試験装置におい
    て、上記高温プロー゛ ブの半導体装置との接触部に上
    記半導体装置形状に対応した形状の加熱板を着脱交換可
    能に設け、該加熱板を上記半導体装置上面に押圧しつつ
    該高温プローブを上記測定台上に保持するための抑圧固
    定手段を備え、該押圧固定手段はスプリングからなり、
    その一端を高温プローブ又は測定台の一方に取付け、他
    方に突起を設け、該突起に上記スプリングの他端を係止
    可能に構成したことを特徴とする半導体装置用高温試験
    装置。
JP4119384U 1984-03-24 1984-03-24 半導体装置用高温試験装置 Granted JPS59162671U (ja)

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US9011624B2 (en) * 2009-07-14 2015-04-21 Hitachi Chemical Company, Ltd. Adhesive sheet and method for manufacturing adhesive sheets

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