JPS59159291A - レ−ザ焦点合せ方法 - Google Patents
レ−ザ焦点合せ方法Info
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- JPS59159291A JPS59159291A JP58034955A JP3495583A JPS59159291A JP S59159291 A JPS59159291 A JP S59159291A JP 58034955 A JP58034955 A JP 58034955A JP 3495583 A JP3495583 A JP 3495583A JP S59159291 A JPS59159291 A JP S59159291A
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/42—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
- G01J1/4257—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors applied to monitoring the characteristics of a beam, e.g. laser beam, headlamp beam
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
- B23K26/00—Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring
- B23K26/02—Positioning or observing the workpiece, e.g. with respect to the point of impact; Aligning, aiming or focusing the laser beam
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- G—PHYSICS
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- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
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-
- G—PHYSICS
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- G01J1/0407—Optical elements not provided otherwise, e.g. manifolds, windows, holograms, gratings
- G01J1/0418—Optical elements not provided otherwise, e.g. manifolds, windows, holograms, gratings using attenuators
-
- G—PHYSICS
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- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
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- G01J1/0448—Adjustable, e.g. focussing
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B7/00—Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
- G02B7/28—Systems for automatic generation of focusing signals
- G02B7/36—Systems for automatic generation of focusing signals using image sharpness techniques, e.g. image processing techniques for generating autofocus signals
- G02B7/38—Systems for automatic generation of focusing signals using image sharpness techniques, e.g. image processing techniques for generating autofocus signals measured at different points on the optical axis, e.g. focussing on two or more planes and comparing image data
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
不発、明は、レーデビームによるレーザ加工の除用、い
られるレーデ焦点合せ方法・に、、、、関す石。
られるレーデ焦点合せ方法・に、、、、関す石。
近年、レーザ溶接およびレーザ切断等Ω、区−ザ加工は
、高い精度で加工を行なうこと、がアきるなどの理由に
よシ、各種の技術分野で多用されている。このようなレ
ーザ加工では1.凸、レンズ等に、よ、シ、集光した。
、高い精度で加工を行なうこと、がアきるなどの理由に
よシ、各種の技術分野で多用されている。このようなレ
ーザ加工では1.凸、レンズ等に、よ、シ、集光した。
レーザビームの焦点を被加工物の表面に正確にセヒトす
、る、必要があ、、b r、 、、、、、:その焦点、
位置精度は通常許容値、とじて、±0.5m前後であ、
ろ。 、 ・・ 、、、・、とこφで1.加、
、1用し−、、デビ、、−不の波長悼、赤外領域の、も
9が、多、く不可視、であるため、−慇的、には、焦、
点の位、置を正確(把握することは困難で、あ、る。、
作法では、第1図に、、委すように、集光、、レンズ、
2ど被加工物3と、P距、離H,を:変化させて・模、
般的にレーザビーム1を、照射して、溶接また。は、切
断を、行なっている。こ、の、模擬照、射によ、シ、最
も、加工性、の良い距離Hを求め1.、、このときし、
ニザビー、ム1の焦点と被、加工物3の、表面が=致t
、、たと判定す、る、、。−j、、シて、集光レンズ2
の高さ方向、、の位置を固牢し1.その後来、際に被加
工物3吟、対して、溶接、、切断等のレーザ加工を行な
うこ:、とにな、る。、 5 、
、、 、 、。
、る、必要があ、、b r、 、、、、、:その焦点、
位置精度は通常許容値、とじて、±0.5m前後であ、
ろ。 、 ・・ 、、、・、とこφで1.加、
、1用し−、、デビ、、−不の波長悼、赤外領域の、も
9が、多、く不可視、であるため、−慇的、には、焦、
点の位、置を正確(把握することは困難で、あ、る。、
作法では、第1図に、、委すように、集光、、レンズ、
2ど被加工物3と、P距、離H,を:変化させて・模、
般的にレーザビーム1を、照射して、溶接また。は、切
断を、行なっている。こ、の、模擬照、射によ、シ、最
も、加工性、の良い距離Hを求め1.、、このときし、
ニザビー、ム1の焦点と被、加工物3の、表面が=致t
、、たと判定す、る、、。−j、、シて、集光レンズ2
の高さ方向、、の位置を固牢し1.その後来、際に被加
工物3吟、対して、溶接、、切断等のレーザ加工を行な
うこ:、とにな、る。、 5 、
、、 、 、。
し、か、シ、なから、上記の、:ような、従、来のレー
ザ、焦点合せ、方法では1.実際の、溶接、切断等の、
加工風、前に、、かなシ、多くの焦点合せ用の溶接、切
断作業が柔要となシ・、秩業千程および材料:r、、、
<トな5,8層圓、ヵt6ケ魚7、ありえ。 □ 蛸
呵不発明準上記の事↑W、に鑑みてなされた■(や・社
、::その、目的、は、レーザビーム加工において被加
工物に対しぞ焦点合せ用の加工を行表うことなく・、。
ザ、焦点合せ、方法では1.実際の、溶接、切断等の、
加工風、前に、、かなシ、多くの焦点合せ用の溶接、切
断作業が柔要となシ・、秩業千程および材料:r、、、
<トな5,8層圓、ヵt6ケ魚7、ありえ。 □ 蛸
呵不発明準上記の事↑W、に鑑みてなされた■(や・社
、::その、目的、は、レーザビーム加工において被加
工物に対しぞ焦点合せ用の加工を行表うことなく・、。
簡単で高M度のレーザー−ム:の焦点合せを行なうこと
ができる后−ザ蕪蔗□合1方法を提供すること、にある
。
ができる后−ザ蕪蔗□合1方法を提供すること、にある
。
以下図面を参照して不発□明の一実施例について説明す
、乞。第2□図は本発明に係る構成を示すもので、4は
高分解能撮像□装置で、集光レンズ2を通して照射され
るし」ザビー人1の光軸に垂門に股、置□される7こ□
の□場合□、レーザビーム1はi表器5で十分に減蓑さ
れた後、集光レンズ2全通して集光、される。さらに、
6はテレビモニタ、で1.、高1分解能撮像装置4.今
らのレーザビー′ ム1の像7を表示する。高分解能撮
像装置4とし、工は、ビジコン、赤外線テレビモニタ、
、焦電ビジコン等の電子線管型またはCCD 、亦外C
CD、MO8型撮像素子等の固体型などがあシ、感度波
長、分解能的に適正なものを適宜選定すること、旨:1
−1・ −にカる。′ 1酢:□と、jヤような構成において、動作を説明する
。
、乞。第2□図は本発明に係る構成を示すもので、4は
高分解能撮像□装置で、集光レンズ2を通して照射され
るし」ザビー人1の光軸に垂門に股、置□される7こ□
の□場合□、レーザビーム1はi表器5で十分に減蓑さ
れた後、集光レンズ2全通して集光、される。さらに、
6はテレビモニタ、で1.、高1分解能撮像装置4.今
らのレーザビー′ ム1の像7を表示する。高分解能撮
像装置4とし、工は、ビジコン、赤外線テレビモニタ、
、焦電ビジコン等の電子線管型またはCCD 、亦外C
CD、MO8型撮像素子等の固体型などがあシ、感度波
長、分解能的に適正なものを適宜選定すること、旨:1
−1・ −にカる。′ 1酢:□と、jヤような構成において、動作を説明する
。
1:1111
V 7 f ″−1を減竺器”1十分に、減衰させた、
、後、集光レン−e2に而して撮、像、装置□4に集光
さ1□1 せる。そして、撮像装置4を上下方向に移動させること
によシ、テレビモニタ6上のレーザビーム像7の大きさ
は変化する。即ち、作業者はテレビモニ□り6に・よシ
、□し・−・ザビー・・ム・1の・集光状況を直接観察
することが□でき□る。テレビモニタ6上のレーザビー
ム像2が最も小さくなった11−11 とき、撮像装置4の撮像面がルニザビーム1の焦点と一
致:したことを示す。□しだがって、□そのときの撮像
装置4の位置裳被加工物の表面がくるよづに被々ロエ、
物をセットす゛ることによシ、し” 1.、”
’I’・ ′1−.′、・・−ザビーム1の焦点合せ
、が高い精度で行なわれ:′・、: たことになる。なお、撮摩装置イの撮像面と被□111
1 J 1 :りu工竺シa工平面♀
高さ::々肉位置を四−にするためには、両者の絶対位
置を計測する必要がある。これについては、所定の基準
水平線を設けて□おき、その基準よ)撮像面または被加
工1の表面までの鉛直万両距離を機械方式□または□光
学式□′(光マイクロ等)′、磁気式′、□:工7′4
イ□ゲロ等の非接触方式で高精度に計測すればよ匠。□
□具体□的に本発明を□適用した例を以下に示す。
、後、集光レン−e2に而して撮、像、装置□4に集光
さ1□1 せる。そして、撮像装置4を上下方向に移動させること
によシ、テレビモニタ6上のレーザビーム像7の大きさ
は変化する。即ち、作業者はテレビモニ□り6に・よシ
、□し・−・ザビー・・ム・1の・集光状況を直接観察
することが□でき□る。テレビモニタ6上のレーザビー
ム像2が最も小さくなった11−11 とき、撮像装置4の撮像面がルニザビーム1の焦点と一
致:したことを示す。□しだがって、□そのときの撮像
装置4の位置裳被加工物の表面がくるよづに被々ロエ、
物をセットす゛ることによシ、し” 1.、”
’I’・ ′1−.′、・・−ザビーム1の焦点合せ
、が高い精度で行なわれ:′・、: たことになる。なお、撮摩装置イの撮像面と被□111
1 J 1 :りu工竺シa工平面♀
高さ::々肉位置を四−にするためには、両者の絶対位
置を計測する必要がある。これについては、所定の基準
水平線を設けて□おき、その基準よ)撮像面または被加
工1の表面までの鉛直万両距離を機械方式□または□光
学式□′(光マイクロ等)′、磁気式′、□:工7′4
イ□ゲロ等の非接触方式で高精度に計測すればよ匠。□
□具体□的に本発明を□適用した例を以下に示す。
□ど”の適用□例では、薄□板突合せ溶□接におけ・る
:レーザ1ビ」ム□焦点合せ方法め場合で□ある。まず
ミ溶接1に用いたレーザ□は、C02レーザ(出力10
60W)であるが、焦点合せの際にはビ―r減衰器□に
よシlW以下に出力□を低下させる□。その後□、集:
光ルン、ズを通してjmlm素像にし」ザビーム雀集□
光させ、焦点位置検出を行なう。こめ場合、撮像素□子
には□赤外CCDセンサを用いて、テレビモニタ”上で
レーザビームの集光状態□を観察する。撮像素子はビー
ム焦点近蓚で鉛直方向1〇−程度の範囲で移動させFビ
ーム径の′変化を測定□し、その結果を第3図妊示す。
:レーザ1ビ」ム□焦点合せ方法め場合で□ある。まず
ミ溶接1に用いたレーザ□は、C02レーザ(出力10
60W)であるが、焦点合せの際にはビ―r減衰器□に
よシlW以下に出力□を低下させる□。その後□、集:
光ルン、ズを通してjmlm素像にし」ザビーム雀集□
光させ、焦点位置検出を行なう。こめ場合、撮像素□子
には□赤外CCDセンサを用いて、テレビモニタ”上で
レーザビームの集光状態□を観察する。撮像素子はビー
ム焦点近蓚で鉛直方向1〇−程度の範囲で移動させFビ
ーム径の′変化を測定□し、その結果を第3図妊示す。
ビーム径の最小値をとる領域は、焦点近傍約壬0,5−
の範囲□に限定される。そして、撮像面の高さ方向1の
絶□対位置を光学式□測長−C測長精度±0.□11−
)で把−した後、撮像面め代シに実際の被加工物をセッ
トする。この場合、被加工物の高さ方向の絶対位・置を
上記撮像面と一致さ□昼た・:後、レーザ溶接を行々う
。このレーザ溶接の場合には、・ビーム減衰益金し―:
ザ光路よシ取□外すこ□とは当然である。
の範囲□に限定される。そして、撮像面の高さ方向1の
絶□対位置を光学式□測長−C測長精度±0.□11−
)で把−した後、撮像面め代シに実際の被加工物をセッ
トする。この場合、被加工物の高さ方向の絶対位・置を
上記撮像面と一致さ□昼た・:後、レーザ溶接を行々う
。このレーザ溶接の場合には、・ビーム減衰益金し―:
ザ光路よシ取□外すこ□とは当然である。
□以上詳述したように″本発明に1れば、ゾーザ加工に
お・けるレー・ザ漁点合せ□方法におい七、レーザビー
ムの価直断□面:を・高分解能撮像装置で・直接観察し
、□レーザビーにめ集光状態およびその焦点位置を漱実
に検出1す不ど□とがで:きる=した示っ七ミー被加工
物に対□しそ焦点合せ用の加工を行なうことな□く、簡
単で□高精膚めレーザビームの焦点合せを行なう:こと
がで□きるもので奈る−6
お・けるレー・ザ漁点合せ□方法におい七、レーザビー
ムの価直断□面:を・高分解能撮像装置で・直接観察し
、□レーザビーにめ集光状態およびその焦点位置を漱実
に検出1す不ど□とがで:きる=した示っ七ミー被加工
物に対□しそ焦点合せ用の加工を行なうことな□く、簡
単で□高精膚めレーザビームの焦点合せを行なう:こと
がで□きるもので奈る−6
鯖1′図は従来のレーザ焦点合せ方法を説明するためめ
構成図、第′2″図□は本発明の・一実施例に係るゾニ
1ザ焦点合せ方□法を□説:明けるだめの構成図□、第
3図は第′2図の□具体・的適用例を説明するだめの撮
゛像面尚さに対□するレーザビーム径の測定値を示子図
□であ□る。 ′1:)心・集:′光しツズ、3・・・被加工物、4・
・・高分解能撮像装置、5・・・減衰器、6・・・テレ
ビモニタ。 出願人復代理人 弁理士 鈴 江 武 彦第1図 第2図 479−
構成図、第′2″図□は本発明の・一実施例に係るゾニ
1ザ焦点合せ方□法を□説:明けるだめの構成図□、第
3図は第′2図の□具体・的適用例を説明するだめの撮
゛像面尚さに対□するレーザビーム径の測定値を示子図
□であ□る。 ′1:)心・集:′光しツズ、3・・・被加工物、4・
・・高分解能撮像装置、5・・・減衰器、6・・・テレ
ビモニタ。 出願人復代理人 弁理士 鈴 江 武 彦第1図 第2図 479−
Claims (1)
- 被加工物の表面に集光レンズを通過したY−ザビームを
照射する工程と、この集光レン、ズを通過したレーデビ
ームの垂直断面を、高分解能撮像装置を用、いて直接観
察する工程と、この観察結果に基づいて上記集光レンズ
と上記高分解能撮像装置間の距離の変化に応じ、、たレ
ーザビームの径が最小になる。位置が上記被加、工物の
表面に一致するように調整する。工程とからなると、と
を特徴とするレーザ焦点合せ方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58034955A JPS59159291A (ja) | 1983-03-03 | 1983-03-03 | レ−ザ焦点合せ方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58034955A JPS59159291A (ja) | 1983-03-03 | 1983-03-03 | レ−ザ焦点合せ方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS59159291A true JPS59159291A (ja) | 1984-09-08 |
Family
ID=12428578
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP58034955A Pending JPS59159291A (ja) | 1983-03-03 | 1983-03-03 | レ−ザ焦点合せ方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS59159291A (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0236008A1 (en) * | 1986-02-22 | 1987-09-09 | Austin Rover Group Limited | Monitoring a laser beam |
WO1991004828A1 (en) * | 1989-09-27 | 1991-04-18 | Australian Electro Optics Pty. Ltd. | High power, multi axis laser beam cutter with image processing monitor |
USRE36983E (en) * | 1983-11-02 | 2000-12-12 | Petroferm Inc. | Pre-atomized fuels and process for producing same |
JP2004066340A (ja) * | 2002-07-31 | 2004-03-04 | Miyachi Technos Corp | レーザ溶接モニタ装置及び方法 |
JP2010082663A (ja) * | 2008-09-30 | 2010-04-15 | Sunx Ltd | レーザ加工機 |
JP2013151002A (ja) * | 2012-01-25 | 2013-08-08 | Disco Corp | レーザー光線のスポット形状検出方法およびスポット形状検出装置 |
-
1983
- 1983-03-03 JP JP58034955A patent/JPS59159291A/ja active Pending
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
USRE36983E (en) * | 1983-11-02 | 2000-12-12 | Petroferm Inc. | Pre-atomized fuels and process for producing same |
EP0236008A1 (en) * | 1986-02-22 | 1987-09-09 | Austin Rover Group Limited | Monitoring a laser beam |
WO1991004828A1 (en) * | 1989-09-27 | 1991-04-18 | Australian Electro Optics Pty. Ltd. | High power, multi axis laser beam cutter with image processing monitor |
JP2004066340A (ja) * | 2002-07-31 | 2004-03-04 | Miyachi Technos Corp | レーザ溶接モニタ装置及び方法 |
JP2010082663A (ja) * | 2008-09-30 | 2010-04-15 | Sunx Ltd | レーザ加工機 |
JP2013151002A (ja) * | 2012-01-25 | 2013-08-08 | Disco Corp | レーザー光線のスポット形状検出方法およびスポット形状検出装置 |
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