JPS59142258A - フオトレジスト用組成物 - Google Patents

フオトレジスト用組成物

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JPS59142258A
JPS59142258A JP1716783A JP1716783A JPS59142258A JP S59142258 A JPS59142258 A JP S59142258A JP 1716783 A JP1716783 A JP 1716783A JP 1716783 A JP1716783 A JP 1716783A JP S59142258 A JPS59142258 A JP S59142258A
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compd
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cured
holes
weight
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JP1716783A
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Keiichi Naito
内藤 啓一
Satoshi Takahashi
敏 高橋
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Sony Corp
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Sony Corp
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Publication date
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    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/0073Masks not provided for in groups H05K3/02 - H05K3/46, e.g. for photomechanical production of patterned surfaces
    • H05K3/0076Masks not provided for in groups H05K3/02 - H05K3/46, e.g. for photomechanical production of patterned surfaces characterised by the composition of the mask
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/0094Filling or covering plated through-holes or blind plated vias, e.g. for masking or for mechanical reinforcement
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/02Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which the conductive material is applied to the surface of the insulating support and is thereafter removed from such areas of the surface which are not intended for current conducting or shielding
    • H05K3/06Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which the conductive material is applied to the surface of the insulating support and is thereafter removed from such areas of the surface which are not intended for current conducting or shielding the conductive material being removed chemically or electrolytically, e.g. by photo-etch process
    • H05K3/061Etching masks
    • H05K3/064Photoresists

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  • Polymerisation Methods In General (AREA)
  • Paints Or Removers (AREA)
  • Addition Polymer Or Copolymer, Post-Treatments, Or Chemical Modifications (AREA)
  • Manufacturing Of Printed Circuit Boards (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は光硬化型塗膜組成物に関するものであり、特に
スルーホールを有する両面配線基板のスルーホールのエ
ツチングレジストインキとして使用して好適な光硬化型
塗膜組成物に関するものである。
従来、スルーホールを有する両面配線基板のスルーホー
ルのエツチングレジストインキは溶剤乾燥型であって、
その硬化には長時間を要していた。
また、両面配線基板はその厚みが通常1.6 mm程度
あり、この基板に設けられたスルーホールの孔埋めがで
きかつ短時間に硬化できて、その上エッチング工程後容
易に剥離できなくてはならないという相反する性質を兼
ね備えたエツチングレジストインキはこれまで入手でき
なかった。
また、塗膜を硬化させるときに溶剤が飛散し、それによ
りスルーホール内のインキの充填状態か悪くなり中央部
が窪んでしまい、エツチング工程においてスルーホール
内の導電体が破壊きれてしまう場合も生じていた。更に
、従来の溶剤乾燥型インキは溶媒″として有機溶剤を使
用しているため、溶剤飛散による環境汚染という問題も
生じ、環境を汚染しない形式のスルーホール用エツチン
クレジストインキが要請されていた。
上記の問題点に鑑みてスルーホールのエツチングレジス
トインキに使用することができるアクリレートあるいは
メタクリレートを主成分とする光硬化型塗膜組成物が提
案された。しかし該光硬化型塗膜組成物は硬化してしす
うと容易に剥離させることかできないという欠点があっ
た。具体的にいえば、通常スルーホールのエツチングレ
ジストインキは光によって硬化し、エツチング工程を経
た後剥#されるが、この場合アルカリ水浴液に溶解させ
て剥離する。上述したアクリレートあるいはメタクリレ
ートを主成分とする光硬化型塗膜組成物は、硬化後はア
ルカリ水浴液により膨潤するだけで溶解しにくいという
欠点がある。
基 またカルボキシルもしくはカルボキシル基から誘導され
る置換基を有Tるアクリレートまたはメタクリレートを
主成分とする光硬化型塗膜組成物は、硬化後、アルカリ
水溶液に溶解するかその溶解速度か遅く、作条性の点で
問題がある。
本発明は、従来のスルーホールのエツチングレジストイ
ンキの欠点を改善した優れた性5に含有するスルーホー
ルのエツチングレジストインキに使用して好適な光硬化
型塗膜組成物を提供するものである。
すなわち、本発明は一般式: %式% (式中、R1は水素原子またはアルカリ金属原子を表わ
し、R2、■−L3及び■t4はそれぞれ水素原子、か
ら成る群より選ばれた基を有するアクリレートまたはメ
タクリレート化合物と、子オール化合物と、N−ニトロ
ソ化合物とを含有することを特徴とする光硬化型塗膜組
成物に関するものである。
カル、ホキシル基もしくはカルボキシル基から誘導され
る置換基を有するアクリレートまたはメタクリレート化
合物にチオール化合物を添加した塗膜組成物を硬化させ
た場合、硬化物はアルカリ水溶液で容易に溶解する。才
だ、連鎖移動剤としてチオール化合物を使用すると硬化
物の重合度すなわち分子量を小さくすることができ、従
って硬化物のアルカリ溶解速度を速くすることができる
しかしチオール化合物を含有する組成物の貯蔵安定性は
極端に悪いという欠点がある。貯蔵安定性を改善するた
めに、本発明においては上記組成物に更にヘーニトロソ
化合物を添加するものである。
したがって本発明の如くカルボキシル基もしくはカルボ
キシル基から誘導される置換基を有するアクリレートま
たはメタクリレート化合物とチオール化合物とへ一ニト
ロソ化合物とを含有する光硬化型塗膜組成物は貯蔵安定
性が良く、またその硬化物はアルカリ水溶液に容易に溶
解するものである。
本発明において使用されるカルボキシル基またはカルボ
キシル基から誘導される置換基を有するアクリレートま
たはメタクリレート化合物としては下記の一般式で表わ
される化合物が挙げられム(式中X1は水素またはメチ
ル基、X2は炭素原子数1〜4のメチレン基、X3は炭
素原子数1〜4のメチレン基才たはフェニレン基(但し
o−1m−1p −基または炭素原子数1〜4のヒドロ
キシアルキル基)を表わす。) 前記一般式で表わされる化合物のうち、本発明・におい
て特に好ましいものとしては次のものが挙げられる。
(アクリロイルオキシエチルモノフタレート)(メタク
ロイルオキシエチルモノフタレート〕(アクリロイルオ
キシエチル七ノテレフタレート〕(メタクロイルオキシ
エナルモノテレフタレート)(カリウムアクリロイルオ
キシエチルモノフタレート〕(アクリロイルオキシエチ
ルモノフタレートアンモニウム塩〕 (メタクロイルオキシエチルモノフタレートアンモニウ
ム塩〕 (アクリロイルオキシエチルモノフタレートトリエチル
アンモニウム塩〕 (メタクロイルオキシエチルモノフタレートトリエチル
アンモニウム塩〕 (メタクロイルオキシエチルモノフタレートトリ(ヒド
ロキシエテルつアンモニウム塩〕OOH (メタクロイルオキシエチルモノサクシネート〕また本
発明において使用されるチオール化合物としては、n−
ドデシルメルカプタン、オクタデシルメルカプタン、チ
オフェノール、p−tertブチルチオフェノール、2
−アミノエタンチオール、0−アミンベンゼンチオール
、チオグリコール酸、チオサリチル酸、β−メルカプト
プロピオン酸、r−メルカプトプロピルトリメトキシシ
ラン等が挙げられる。
チオール化合物の添加量は、カルボキシル基もしくはカ
ルボキシル基から誘導される置換基を有するアクリレー
トまたはメタクリレート化合物を主成分とした樹脂10
0重量部に対して05重量部〜2.0重量部であるのが
好ましい。この添加量か0.5重量部未満では硬化物が
アルカリ水溶液に溶解せず、また2、0重量部を越える
と硬化物の硬化の程度が不充分で柔らかくなり、表面が
粘着性をしめ丁ようになる。
また本発明において使用されるN−ニトロソ化合物とし
ては、ヘーニトロンジメチルアミン、N−ニトロソジエ
チルアミン、N−二トロッジフェニルアミン、N−ニト
ロソグアニジン等が挙げられる。
N−ニトロソ化合物の添加量は、カルボキシル基もしく
はカルボキシル基から誘導されるR換基を有するアクリ
レートまたはメタクリレート化合物を主成分とした樹脂
100重量部に対して002重量部〜0.5重量部であ
るのが好ましい。この添加量が0.02重量部未満では
塗膜組成物の貯蔵安定性を改善Tることができず、また
、0.5重量部を越えると硬化物表面が粘着性をしめす
ようになる。
本発明に係る塗膜組成物には通電性われているように重
合開始剤や増量剤を添加してもよい。
本発明において使用できる重合開始剤は、本発明に係る
塗膜組成物を光硬化させるための重合を開始させる機能
を有するものであれば特に限定されるものではなく、例
えば、ベンゾインエーテル類、α−アクロキシムエステ
ル類、塩素化アセトフェノン系やジアルコキシアセトフ
ェノン系などのアセトフェノン類、ケトン/アミン混合
物、ベンジルケタール類などが挙げられる。
上記した重合開始剤の添加量は、本発明による光硬化型
塗膜組成物100重量部に対して、0.1重量部〜10
重量部であるのが好ましい。
また本発明において使用できる増量剤としては、タルク
、酸化硅素、硫酸バリウム、酸化チタン、炭酸カルシウ
ムなどの無機顔料や、アビエチン酸などのロジン類、セ
ラック、ノボラック、β−ナフタレンスルホン酸塩など
の有機フィラーが挙げられる。
増量剤は本発明に係る光硬化型塗膜組成物の粘度を調整
するために必要に応じて用いられるが、その添加量の上
限は本発明lこ係る光硬化型塗膜組成物100重量部に
対して200重量部であるのが好ましい。
前述したような組成を有する本発明に係る光硬化型塗膜
組成物は通常の方法によって、例えばスルーホールを有
する両面配線基板のスルーホールのエツチングレジスト
として使用することができる。
スルーホールを有する両面配線基板のスルーホールの処
理は、基板の両面にまず銅箔などの導電性物質を被覆し
た後、スルーホールの表面を銅などの導電性物質によっ
てメッキして、基板の両面をスルーホールを介して電気
的に接続きせるようにする。次に、そのスルーホールに
本発明に係る光硬化型塗膜組成物を通常の方法、例えば
スクリーン印刷などによって孔埋めを施して塗膜を形成
し、この孔埋めした部分の組成物を例えば紫外線照射に
よって硬化させる。孔埋めして硬化させた部分の表面を
基板の表面と合致させるように例えばパフにて研摩して
平滑にする。この後、常法に従って、パターン印刷を施
し、次いでエツチング工程を施すことによってその基板
上の導電性物質で被覆されている不要部分を除去する。
この処理後、スルーホールを埋めている硬化された塗膜
層をアルカリ溶液、例えば水酸化ナトリウム溶液によっ
て処理することによって剥離して所望のスルーホールを
有する両面配線基板を得ることができる。
前述したようにスルーホールを有する両面配線基板を製
造する工程自体は常法の工程ζこ従って実施することが
できる。
前述した方法のうち、本発明に係る光硬化型塗膜組成物
を用いて孔埋めした後この組成物を硬化させる工程は、
波長的200ないし約70011mの紫外線を照射する
ことによって行うことができる。紫外線の照射源として
は何ら限定されるものではなく、メタルハライドランプ
、水銀ランプなどが挙げられるか、特に使用する重合開
始剤の特性に合せて選択するのが好ましい。しかし、逆
に、紫外線照射源に従って、重合開始剤を便宜選択して
よいのは轟然である。いずれの場合においても、光と熱
によって硬化を促進する重合開始剤を用いると紫外線照
射源の熱によっても重合が促進されることになるので、
かかる重合開始剤を選択するのが特に好ましい。更に、
紫外線などの照射時間も従来のものに比べて極めて短時
間ですみ極めて有利である。例えば、1 mm程度の膜
厚のものでも、従来の溶剤乾燥型のものであれば2時間
程度要していたのに対し、本発明に係る光硬化型塗膜組
成物を使用した場合には、30秒程度の短時間紫外線を
照射するだけでよい。また、本発明に係る塗膜組成物で
は、従来の溶剤乾燥型のものと組成が異なっていて、溶
剤が使用されていないので、硬化に当って、何ら窪みが
生ずることはなく、エツチングに際して、スルーホール
かエッチャントによる損傷を受けることがなく、また、
その後の工程においてもその硬化した塗膜をアルカリ溶
液で容易に剥離でき極めて有利である。
以上述べたように、本発明に係る光硬化型塗膜組成物は
従来のものにない優れた性能を有するものであり、特に
スルーホールの孔埋めをした塗膜の硬化を極めて短時間
で行うことができることになり、従来の方法では不可能
であったスルーホールを有する両面配線基板の製造工程
のコンベヤーライン化を可能にし、実用上極めて有利で
ある。
更に短時間で塗膜を硬化させることができるとともに、
アルカリ溶液によって硬化した塗膜を容易に剥離するこ
とができ、スルーホールを有する両面配線基板の製造を
連続的に行うことができるので工業上非常に有利である
以下、本発明を実施例によって詳細に説明する。
実施例1 カルボキシル基を有するメタクリレート化合物としての
メタクロイルエチルモノサクシネート(ヒドロキシエチ
ルメタクリレートとコハク酸とのエステル化物)100
重量部、チオサリチル酸08重量部、N−ニトロソジフ
ェニルアミン01重量部、重合開始剤(商標名イルガキ
ュア651;チバガイギー社製)2重量部、増量剤(タ
ルク950重量部をよく攪拌溶解させ、ペイントミルに
て分散させた。該混合物はB型粘度計による25Cの粘
度が20 + OOOcpの粘稠な液であった。この粘
稠液をI DcmX 15cmのガラス板上に約100
μの厚さで塗布した。該塗膜組成物を出力1.6KW(
80W/cm2、ランプ長20cm)の紫外線ランプを
用い、該塗膜組成物から10cm離れた所から30秒間
照射した。
上記により得られた硬化物の表面硬度を測定したところ
、鉛筆硬度Hであり、表面タックはなかった。
才た硬化物を5チのNaOH水溶液(温度25C)中に
浸漬させて硬化物のアルカリ溶解性を調べたところ、該
硬化物は60秒で完全に溶解し、ゲル分は残らなかった
また該粘稠液約300.ji’%カラスピンにとり、4
0C雰囲気の暗所に放置し、該粘稠液の粘度の経口変化
を測定した。その結果、該粘稠液の7日後の粘度は20
,500 cp%15日後の粘度は20 、700cp
、30日後の粘度は20 + 500 Cpであり、貯
蔵安定性は良好であった。
以上の結果を表1に示す。
実施例2〜12 表1に示す如くカルボキシル基を有するアクリレートt
たけメタクリレート化合物、連鎖移動剤のチオール化合
物、貯蔵安定剤のN−ニトロン化合物の種類及び量を変
えた以外は、実施例1と同様にこれらを配合して、粘稠
液を得た。該粘稠液を用い実施例1と同様な方法により
硬化物を得島該硬化物の表面硬度、表面タック、5 %
 NaOH水溶液による溶解速度及び40C雰囲気の暗
所における粘度の変化を測定した。測定結果を表1に示
す。
(以下余白、次頁に続く〕 表1の結果より本発明に係る塗膜組成物を用いた場合に
は、硬化時間を著しく短縮するこさができ、また短時間
の紫外線照射でも硬化物表面のタックがなく、硬化物が
アルカリにより容易に溶解するという大きな利点があり
、また塗膜組成物の貯蔵安定性も良好であることが明ら
かである。
代理人 土産 勝 〃  常包芳男 〃  杉浦俊貴

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 一般式゛、2 −coort1及び−COONH−R34 (式中、R1は水素原子またはアルカリ金属原子を表し
    、R2、R,及びR4はそれぞれ水素原子、炭から成る
    群より選ばれた基を有するアクリレートまたはメタクリ
    レート化合物と、チオール化合物と、N−ニトロソ化合
    物とを含有することを特徴とする光硬化型塗膜組成物。
JP1716783A 1983-02-04 1983-02-04 フオトレジスト用組成物 Granted JPS59142258A (ja)

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JPS6215082B2 JPS6215082B2 (ja) 1987-04-06

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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61254605A (ja) * 1985-05-07 1986-11-12 Asahi Chem Ind Co Ltd 感光性組成物
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US4777190A (en) * 1985-05-13 1988-10-11 Mitsubishi Rayon Company Limited Photopolymerizable composition based on a vinyl compound, a sulfur-containing compound and an α-diketone
JPH03134669A (ja) * 1989-10-13 1991-06-07 Tsuaitowan Fuaaren Konie Jishiyuu Ienjiou Yuen チオール化合物を含む水性の現像可能なフオトレジスト
JP2010053177A (ja) * 2008-08-26 2010-03-11 Nisshin Steel Co Ltd エッチングレジスト用インクジェットインキ組成物

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