JPS59136640A - 半透明容器の検査装置および検査方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明は半透明容器の検査装置および検査方法、特に半
透明容器内の放射状反射性欠陥を検出する装置および方
法に関する。

〔発明の技術的背景〕

ガラス容器は通常、鋳型中の半溶融ガラス塊内部に気体
を送υ込んで成形される。半溶融ガラス塊は、鋳型の内
壁を伝わって広がり、容器の底、側面、そして口を形成
する環状縁ができあがる。

このような形成過程において種々の型の欠陥も形成され
ることになるが、これらの中のいくつかは容器から取除
かねばならぬ欠陥である。ｒ　５ｐｌｉ　ｔｓｅａｍｓ
　Ｊやｒｖｅｒｔｉｃａｌ　ｃｈｅｃｋｓｊ　　として
知られる欠陥は容器の側面に存在し、こ扛がその側面の
肉厚の部分を貫通する抜でに発展し、容器を満たしたり
、栓をしたり、あるいはその後の取扱いの最中に、容器
もれが生じたシ、とぎには粉砕してしまうほどまでに容
器を劣化させることにもなりつる。

ｒｓｐｌｉｔ　ｓｅａｍｓＪ　ＪＰｌ−ｖｅｒｔｉｃａ
ｌ　ｃｈｅｃｋｓＪ　は鏡状、即ち、反射性のひびであ
り、容器の長手方向の軸に平行な面内に存在し、通常は
この容器の長手方向の軸から放射状に伸びている。ここ
では便宜上、「５ｐｌｉｔ　ｓｅａｍＪ　　欠陥および
ｒｖｅｒｔｉｃａｌ　ｃｂｅｃｋＪ欠陥をともに放射状
反射性欠陥と総称することにする。

放射状反射性欠陥を検出する検査装置の一例は、Ｂ、Ｂ
、　Ｍａｔｈｉａｓ等の発明により本願出願人の出願に
係る米国特許第３１７１０３３号に開示されている。

この検査装置では、容器の材質を透過することの。

できる放射エネルギビームは、容器の縁の内壁に、半径
を含む面に対し鋭角に照射され、単一のスポットとなる
よう焦点調節される。放射状反射性欠陥の部分では−そ
の欠陥の反射面によってビームは反射し、その他の部分
ではビームは屈折する。

容器の縁へ向かうビームの方向に対して７５°〜１０５
°の角度に視野が向くようにビームの放射エネルキ検出
器が配置される。従ってビームの単一スポットの通路内
に放射状反射性欠陥が存在すると、この放射エネルギ検
出器が反応することに１ｆる。この検出器の視野線上に
、この検出器に向かうビームの一部分が検出器の受光面
に焦点ケ茫ふようにさせるための装置が置かれる。検出
器が反応すると、それに応じてその容器を拒絶するメカ
ニズムが作動する。この兄明Ｋ　ｉ６いて未解決の大き
な問題点は、放射状反射性欠陥の検出に単一スポット照
射を用いていることに起因する制限である。単一スポッ
トは容器の縁の部分のみに照射されるため、縁に存在す
る放射状反射性欠陥のみが検出可能である。しかしなが
ら、放射状欠陥は容器の側壁のあらゆるところに形成さ
れるのである。

Ｙ、Ｍ、Ｍｉｍａ　　等に１９７９年１０月１６日に付
与された米国特許第４１７１４８１号には、放射エネル
ギービームを利用した同様の検査装置が開示されでいる
。

しかしこの装置では更に回転多面鏡が設けられ、これが
回転しながらビームを反射し、容器の側壁を長手方向に
ビーム走査させている。この装置には、また、一対の楕
円柱状鏡が設けられ、集光した光を光電素子アレイ上に
焦点合わせできる。この装置は容器側面の走査を行なう
のであるが、走査を行なうために要求される鏡の形状が
複雑であり、また動作環境の条件が悪いと保守が困難で
ある。

〔発明の概要〕

本発明の目的は半透明容器の放射状反射性欠陥を検出し
、この反射性欠陥の存在を示す拒絶信号に応じてその容
器を拒絶する、半透明容器の検査装置および横歪方法を
提供１−ることである。本装置は、容器の被検査部分に
沿ってこの容器の長手方向の軸にほぼ平行な方向に延び
る細長いイメージを形成させるように光の放射ビームを
焦点合わせして容器に照射する装置を有する。このビー
ムは照射領域の内側表面に、容器の中心から外側に向か
う放射状面に対して鋭角を１ｆ丁角度で照射される。不
装債はまた、容器の照射部分からの反射光強度を検出す
るために容器の照射部分に焦点合わせされ、照射光の光
路に対し７５°〜１０５°　の角度をもって照射部分を
とらえることのできる反射光強度検出装置を有する。こ
の反射光強度検出装置は、容器の照射部分の各小部分か
らの各反射光強度にそれぞれ対応した複数の電気信号を
発生する。本装置は更に、この複数の電気イぎ号を監視
し、反射性欠陥の存在に反応してこれら複数の電気信号
のうち１つでもよ）らかしめ設定されたしきい値を越え
た場合に拒絶信号を発生する装置を有する。

本発明の光照射装置は、複雑な鋭による構成を避け、光
源と−この光源と容器との間に置かれ容器の長手方向の
軸にほぼ平行な方向に伸びる細長い光のイメージを形成
させる円柱状レンズと金柑いている。−！た、反射光強
度検出装置は、電気信号を発生する光検出素子から成る
複数の画素と、この画素と容器との間に債かれ容器の照
射部分の像を複数の画素上に結ばせるレンズとを有する
。

従って本発明によれば、複雑で調整が困難な鏡機構を用
いることＴｘ　Ｉ、に、容器を回転させて容器の長手方
向の全部分について放射状反射性欠陥を発見する検査を
行なうことができる。

〔発明の実施例〕

第１図は、放射状反射性欠陥１１（以下単にＲＲ欠陥１
１と呼ぶ。）を有するガラス製容器１００部分断面図で
ある。ＲＲ欠陥１１は鏡状の反射性のひびであり、長手
方向面１２内に存任し、容器１０の長手方向軸１３に対
し通常は平行である。また、通常は容器］Ｏの長手方向
軸１３から放射状に延びている。

容器１０には光の放射ビームＢが焦点合わせされて照射
される。このビームＢは、容器１０の被検査部分１４に
沿って容器１０の長手方向軸１３にほぼ平行な方向に延
びる細長いイメージを形成させる。ビームＢは容器１０
の被検査部分１４の内側表面】５に向けて照射され、被
検査部分１４の外側表面１６を通じて放出される。従っ
て容器１０を照射する細長いイメージは、容器１０の被
検査部分１４のそれぞれ内側表面１りおよび外側表面１
６にビームＢそれ自身によって境界が決定されることに
より形成される。

ビームＢは容器の内側１表面１５に向かって、長手方向
面１２に対して鋭角Ａをな１−ように方向づけられる。

この鋭角Ａは約４０°〜５０’の間の角度であればよい
が、Ｂ　、Ｂ　、　Ｍａｔｂｉａｓ等に付与された米国
特許第３１７１０３３号に述べられているように、４５
°に１−るのが好複しい。ガラス製容器１０か長手方向
軸１；つの周シを矢印１７に示す方向に回転されＲＲ欠
陥１１がビームＢの光路に入ると、このＲＲ欠陥１１は
ビームＢの一部分Ｂ′を約８０’〜１．０００　　の角
度で反射する。鋭角Ａが約４５°であオｔば、このＲＲ
欠陥１１がビームＢｔ反射する角度は約９０’となる。

米国特許第３１７１０３３号に開示されているよｅ）に
、反射したビームＢ′の強度を検知τるために容器１０
の被検査部分１４に焦点が合わさｉｔた検出装置１８ば
、入射ビーム１３０光路に対しｆ１７５″〜１０５°　
の角度をもつ位置に設けられる。

容器１０は、Ｊ　、　Ｒ，Ｊｏｈｎｓｏｎに付与された
米国特許第３３１３４０９号に開示された瓶検査装置に
−よって扱われる。この検査装置の一部分を第２図およ
び第３図に示す。この検査装置は、図で加と一般的に示
した星型輪を有゛しておシ、この星型輪は通常円筒状で
あるハブ２１によって形成され、このハブ２１は中心か
ら外側へ放射状に延びる水平部２２を有する。ハブ２１
の水平部２２にはその外周に一定間隔をおいて下側に延
びる方向にアーム器が取付けられる。この下側に延びる
アーム器は水平部討を有し、この水平部討は外側に放射
状に延び、更に下側に延びる垂直端部あへとつながる。

この垂直端部δの先は逆に内側に延び水平端部２６を形
成する。アームおり水平端部局は、その下面に取付けら
れるプレート２７の取付けに用いられる。各グレー）２
７は、それが取付けられている水平端部２６に沿って水
平に外側へ延びる。また各ツーレート２７はローラ四を
用いて両側に１本ずつの瓶を運ぶ。二股状プレート２９
はとなりあった２つのアーム器の間に架設される。各ア
ーム器には、アングル３１が適当な留め金具により調整
できるように留められる。各二股状プレート２９Ｆｉ一
対のローラ３２を有し、これらのローラはガラス製容器
１ｏの上端、即ちくびれた首の部分を保持できるように
なっている。ガラ・　ス製容器１０は第２図では実線、
第３図では二点鎖線で示されている。二股状プレート２
９には中央に切欠部３３が設けられている。この切欠部
３３は容器１０の首の部分を受は入れるのに十分な大ぎ
さをもつ。この切欠部３３．０奥の部分には容器１ｏの
首の部分を受けるための２つのローラ３２が、ハブ２１
の中心と受は入れられた容器１ｏの中心とを結ぶ直線に
対して対称位置に設けられる。

ハフ２１は円型グレート３４に取付けられ、この円型プ
レート３４はドライブシャフト３５の上端部に固定され
る。ドライブシャフト３５は適当な駆動装置（図［は示
されていない。）に接続される。この駆動装置によりド
ライブシャフト３５は回転させられ、星型輪２０全体が
回転することになる。星型輪２１Ｊｉ／ｉ容器１０′ｆ
ｃその保持位置、即ちポケットの部分［受は入れ、一連
の検査台へと運ぶ。このようにして、各容器は一連の検
査台を通過するように移動する。第３図には、これら一
連の検査台のうち、本発明に特に関連した１つだけを示
す。一連の検査台を通過する際、各容器は星型軸側のポ
ケットの内縁部とサイトレール３６とにはさまれて保持
される。このサイトレール３６は移動中に容器を十分安
定して保持できるような高さに設けられる。容器は、ま
た検査終了台（図には示されていない。）を通過する。

この検査終了台では、米国特許第３３１３４０９号に開
示されているように、欠陥のある容器のみが星型輪２ｏ
に残り、他の正常な容器はベルトコンベアにのせられる
。即ち、星型軸側が欠陥のある容器を検査終了台へ運ぶ
と、シリンダがこれに連結されているグランジャを駆動
させ、欠陥のある容器が星型軸側から離れるのを妨げる
ような位置にグランジャを動か丁。このシＩ／ンダは瓶
の検査装置に関連したシステム制御装置３７によって供
給される電気信号にょシ第３図の３′７ａに示す破線の
ようにグランジャを動かし、欠陥のある容器を残すので
ある。容器が６台から台へと回転移動するとぎ、容器の
底は、はぼ円型をし水平に取付けられたテーブル関の静
止面上をすべり動く。

サイトレール３６は、検査が行なわれている台にさしか
かるちょうど手ｍｌで切れる。容器１０が目的とする検
査台にさしかかると、その長手方向軸１３のまわりに少
なくとも３６００回転させられる、この長手方向軸１３
のまわりの容器１００回転は、糸状ゴム等が施された摩
擦面をもつ回転輪３９によって行なわれる。この回転輪
３９は垂直シャツ）４０の上端に固定され、この垂直シ
ャフト４０の下端は瓶の検査装置に関連した駆動装置（
図には示されていない。）［よって駆動さオする。垂直
シャフト４０と回転輪３９とは、容器１０の長手方向軸
に向かって、ある程度の弾力性をもって押しつげられて
いる。従って星型軸側が回転して容器］０が通過する際
に。

容器１０の肩の部分には過度の圧力がかかることはない
が、回転輪：う９の表面は、容器１０をその長手方向軸
１３のまわりに回転させるのに必要十分な圧力をもって
容器１０の肩の部分に接触することになる。

容器１０を照明するための照明装置４１は、円型テーブ
ルあに固定された腕金４２によって支持される。

照明装置４１は光源としての白熱電球４３と、この白熱
電球４３と容器１０との間に置かれる円柱状レンズ４４
を有する。円柱状レンズ４４は白熱電球４３からの光を
、容器１００円筒面上に沿って細長いイメージを形成す
るように焦点合わせする。白熱電球４３のフィラメント
は円柱状レンズ４４の長手方向軸に沿うように向けられ
ることが好ましい。白熱電球４３および円柱状レンズ４
４は、両方とも腕金４２によって支持されたハウジング
４５に取付けられている。

白熱電球４３からの光が円柱状レンズ４４の平板面を一
様に照らすよう広がるように、開口部４６が白熱電球４
３と円柱状レンズ４４との間に設けられる。照射光の細
長いイメージ１４は、容器１０の長手方向軸１３にほぼ
平行に伸びる。この様子は第３図に詳しく示されている
。この照射光の細長いイメージ１４は検出装置１８によ
ってとらえられる。この検出装置直１８には、例えば、
第３図に示すような照射光の細長いイメージ１４に焦点
合わせされたソリッドステートカメラ４７を用いること
ができ、第１図および第２図に示１−ように反射光のビ
ームＢ′の強度を検出する。カメラ４７は円型テーブル
３８によって支持された腕金４８に取付けられる。この
カメラには、例えば、カリフォルニアのＳ　ｕｎｎｙｖ
ａ　Ｉｅ　にあるＲｅｔｉｃｏｎ社製ＬＣ］、１０　型
線走査カメラを用いることができる。このカメラは、光
検出ダイオードから成ろ画素を２５６個集めた線形アレ
イ（図には示されていない。）と、この線形アレイ上に
細長いイメージ１４の像を結ばせるブこめに容器１０と
線形アレイとの間に置かれたレンズ３０を有する。線形
アレイは容器１０の長手方向軸１：脣こ平行になるよう
に配置され、アレイ上の各画素が容器１０の細長いイメ
ージ１４に沿って対応する各部分からの反射光強度にそ
れぞれ比例した電気イバ号を発生することになる。各画
素と容器１０との間に位置するよりにカメラ４７ｖｃ設
けらオしたレンズ３０は、細長いイメージ１４の像を各
画素上に結ばせるよう焦点合わせを行なう。従って、不
発明では回転輪３９が容器１０を少なくとも３６００回
転させている間、谷画素は細長いイメージ１４をとらえ
続けることになり、容器１０の全側面についてＲＲ欠陥
検出のための検査が可能となる。カメラ４７の感度を更
に高めるため、容器１０とカメラ４７との間に第二の円
柱状レンズ４９を置き、第１図の破線Ｂ〃に示すように
細長いイメージ１４内に存在するＲＲ欠陥１１からの反
射光ビームＢ′を集光して密度を高めることもできる。

本発明に係る装置は、また、カメラ４７内の各画素によ
って発生されバス５０を通じて送られる複数の電気信号
に反応する制御装置５１を有する。動作中システム制御
装置３７は、容器１０が検査台に位置し検査準備完了で
あることを示す存在信号を信号線５１ａを通じて制御装
置５１に送る。Ｔ（Ｒ欠陥が存在する場合は、カメラ４
７内の各画素から供給される複数の電気信号のうちの１
つが、あらかじめ設定されたしきい値を越え、これによ
シ制御装置５１は信号線５１．　ｂを通じてシステム制
御装置３７へ拒絶信号を送る。システム制御装置３７は
これに応答して、ｆＡ１述したように検査終了台におい
てその欠陥容器を拒絶するようにグランジャを駆動させ
る。

制御装置５１の詳細な回路構成図を第４図に示す。

カメラ４７と制御装置５１とを接続するバス犯は、各画
素からの複数の電気信号、即ちビデオ信号ＶＩＤを送る
信号線５０ａと、カメラ４７０個々の画素が参照される
周期を表わすクロック信号ＣＬＫを送る信号線５０ｂと
、カメラ４７の各画素の参照開始を表わす参照可能信号
ＥＮＤを送る信号線５０ｃと、ン：有する。ビデオ信号
ＶＩＤを送る信号線５０ａは増幅器５２０入力に接続さ
れ、この増幅器５２の出力はコンパレータ５３の非反転
入力に接続される。コンパレータ５３の反転入力は、一
端を接地した可変抵抗器５４の摺動端子に接続され、こ
の可変抵抗器の他の一端は正の電圧■をもつ電υｆに接
続される。

コンパレータ５３の出力は信号１５３ａにより三入力Ａ
ＮＤゲート５５０男−の入力に接続され、この三入力Ａ
ＮＤゲート５５の出力となる拒絶信号は信号ｇ５１ｂを
通じてシステム制御装置３７に入力される。

システム制御装置３７からの信号線５１ａは、三入力Ａ
ＮＤゲート５５の第二の入力に接続され、容器１０が検
査を行なうための必要な位置に存在するか否かを伝える
。説明を容易にするために、金玉入力ＡＮＤゲート５５
の入力が２つ、即ち５３ａおよび５１ａしかないと仮定
する。この場合、信号線５３ａがハイレベルになって欠
陥の存在を示し、かつ信号線５１−　ａ　カハイレペル
になって容器１０が検査を行なうための必要な位置に存
在することを示したとぎに、拒絶信号が出力、されるこ
とになる。一方、信号線５３　ａを通じてコンパレータ
５３によって出力される欠陥信号は、カメラ４７の各画
素からの複数の電気信号のうちのどれか１つでもＲＲ欠
陥１１の存在に反応して可変抵抗器５４によってあらか
じめ設定されたしきい値を越えた場合に出力される。

カメラ４７の各画素は細長いイメージ１４ヲ全長にわた
ってとらえることができろように焦点合わせされるが、
制御装置５１は、容器１０の検査中に集められたデータ
を一部分に制限する回路を更に有する。換言すれば、容
器１０の各部分のうち検査が必要とされる部分に対応す
る中間部分に位置する画素だけを選ぶような枠を設け、
その枠の中に入ったデータだけを対象とてｔはよいので
ある。再び第３図を参照してこのことを説明する。この
例では、容器１０の肩の部分の湾曲に沿った細長いイメ
ージ１４の上部湾曲部分と、容器１０の底に近い部分の
湾曲に沿った細長いイメージ１４の下部湾曲部分と、は
無視するのが好ましい。このような場合操作者は、容器
１０についての肩部データスイッチ５６を、検査を開始
すべき画素番号Ｓに設定し、容器１０についての底部デ
ータスイッチ５７を、検査を終了すべき画素番号■（に
設定する。データスイッチ５６および５７によってそれ
ぞれ設定されたカメラ２゛７のＳ番目の画素とＨ番目の
画素、即ち恢を開始画素と検査終了画素の間に位置する
画素が、カメラ４７の電子回路によって参照された時に
は、デジタルコンパレータ５８のＳ入力、Ｈ入力ともに
）・イレベルになる。これによつでナシタルコンパレー
タ５８は、Ｓ二１（であることを示す枠内信号即ち）・
イレベル信号を三入力ＡＮＤゲートの第三の入力に信号
線５８９を通じて送る。従って三入力ＡＮＤケート５５
からの拒絶信号は、コンパレータ５３カラノ欠陥伯号が
検査枠内で生じたとぎにのみ出力されることになり、こ
の決定はデジタルコンパレータ郭によって成される。

開始画素番号Ｓを設定するための回路は、データスイッ
チ５６と、データスイッチＳ１およびＳ２のそれぞれに
よってそのプリセット端子Ｐを通じて設定されるカウン
タ６１および６２と、フリップフロップ６３とＡＮＤゲ
ート６４とを有する制御ロジックと〜から成る。ここで
は２つのカウンタ６１および６２にそれぞれ対応する２
つのデータスイッチＳ１およびＳ２を示したが、これは
２つのカウンタで２桁の設定値まで扱える例を示したも
ので、開始画素番号を要求どおりの値に設定するのに必
吸１ｘ桁数に応じてカウンタを設ければよい。信号線５
０ｃを通じて与えらｎる参照可能は号ＥＮＢは、カウン
タ６１および６２の負荷端子ＬＤおよびフリップフロッ
プのセット人力Ｓに入力される。フリップフロップ６３
のＱ出力はＡＮＩ）ゲート６４の一方の入力に接続され
、ＡＮＤゲートｉｉ４の出力はカウンタ６１および６２
のカウントダウン入力ＤＮｉＣｍ続される。信号線５０
ｂによって供給さ２ｔ、るクロック個号ＣＬ　ＫばＡＮ
Ｄゲート６４のもう一方の入力に与えられる。カウンタ
６１のボロー出カバカウンタ６２のダウン人力りに接続
される。カウンタ６２のボロー出力は、デジタルコンパ
レータ５８のＳ人力と、フリツフフロツ７６３のリセッ
ト端子Ｒとに接続すれる。

動作は次のようになる。カメラ４７からの参照可能信号
ＥＮＢがカウンタ６】および６２の両方のＬ　Ｄ端子に
入力されろと、データスイッチｓ１およびＳ２（／Ｃよ
ってあらかじめ設定されていた数が谷カウンタにセント
される。この参照可ＭＵ（’Ｍ　号Ｅ　Ｎ　Ｂは、また
、フリップ７０ツ１６３をセットする。このフリラフ−
フロツブ６３バーカウンタ６１および６２へ供給される
クロック信号ＣＬ　Ｋのゲートとして働く。カウンタ６
１および６２は供給されたクロック信号ＣＬＫにより、
セットされた開始画素番号Ｓから０へとカウントダウン
動作を行なう。実際のカメラ４７内の画素の走査は、こ
れとは逆に０番目の画素からＳ番目の画素へと走査され
ることになる。

カウンタ６１は下位桁、カウンタ６２は上位桁に相当す
る。両カウンタの値がＯＩＣなると、即ち、カメラ４７
内でＳ番目の画素が走査されると、カウンタ６２によっ
て通常はローレベルにあるデジタルコンパレータ５８の
Ｓ人力がハイレベルにされる。更にコノ容器の検査の準
備を行なうため、カウンタ６２はフリツノフロップ６３
をリセットする。デジタルコンパレータ５８のＳ人力が
ハイレベルＫ　Ｔｘっだことは、枠内の中間部分の必要
とされる画素の走査が開始されたことを示す。

終了画素番号Ｈを設定するための回路は、データスイッ
チ５７と、データスイッチＨ１およびＨ２のそれぞれに
よってそのノリセット端子Ｐを通じてプリセットされる
カウンタ６５および６６と、フリツノフロップ６７とＡ
ＮＤゲート６８とを有する制御ロジックと、から成る。

この回路は上述の開始画素番号Ｓを設定するための回路
と同様に機能する。

しかしながら、カウンタ６６のボロー出カＢはインバー
タ６９ヲ介してデジタルコンパレータ５８のＨ入力に接
続されているため、Ｈ入力は通常はハイレベルになって
いる。従って通常はローレベルＶＣすつているデジタル
コンパレータ５８のＳ入力カハイレベルになると、Ｓ＝
Ｈ出力がハイレベルとなり、三入力ＡＮＤゲート５５に
検査枠内に入ったことを知らせる。あらかじめ設定され
た終了画素番号Ｈからカウントダウンすることによって
、カウンタ６５および６６の両方の値がＯになると、カ
ウンタ６６のボロー出力Ｂがハイレベルとなり、デジタ
ルコンパレータ５８のＨ入力がローレベルになる。Ｓ入
力とＨ入力との値が相違するため、Ｓ＝Ｈ出力がローレ
ヘルトＴｘす、三入力ＡＮＤゲート５５に検査枠内から
１ｌ−１′１“れたことを知らせる。これによって、三
入力ＡＮＤゲート５５はコンパレータ５３からの欠陥信
号が入力されても、拒絶信号を出力することは禁止され
る。

以上述べた内容は、本発明を実施する上で発明者によっ
て提案された最も好ましい実施例である。

しかしながら当業者が、本発明の趣旨から逸脱しない範
囲で、本明細書中の記述、添付図面の内容に基づいて実
施上の詳ａＩな部分に関して種々の変更をなしうろこと
は明白である。例えは、本発明によれは、細長いイメー
ジ１４ヲ容器１０の肩の部分までを照射するように形成
し、これに対応するように線形アレイを形成するかマト
リックスアレイを用い、細長いイメージ１４の輪郭全体
をとらえるようにすることにより、容器１００円筒状側
面のみならず肩の部分までをも検査することができる。

上述した実施例の詳細は、当業者が本発明を容易に実施
できるよう配慮したものであって、本発明は詳細にわた
って特冗した上述の実施例の範囲に限定されるべきもの
ではない。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明に係る装置による放射状反射性欠陥を検
出するための検査を示す説明図で、ガラス製容器および
カメラの水平断面が示されている。 第２図は本発明に係る放射状反射性欠陥を検出する装置
の一部分を示す機構図で、光源とカメラが取付けられて
いる状態が示されている。第３図は第２図に示す装置を
切断面３−３で切断した断面　　　　′図で、反射性欠
陥の検出に応答して拒絶信号を発生ずる制御装置があわ
せて示されている。第４図は本発明に係る第３図に示し
た制御装置の回路構成図である。 ］０・・・ガラス製容器−１１・・・放射状反射性（Ｒ
Ｒ）欠陥、１２・・・容器の長手方向面、１３・・容器
の長手方向側、１４・・・容器の被検査部分（照射光の
細長いイメージ）、１５・・・容器の内側表面、１６・
・・容器の外側表面、１７・・・矢印、１８・・・検出
装置、２０・・・星型輪、２１・・・ハブ、２２・・水
平部、詔　アーム、冴・・・水平部、謳・・・垂直端部
、２６・・・水平端部、２７・・・プレート、測・・ロ
ーラ、２９・・・二股状プレート、加・・・レンズ、３
１・・・アングル、３２・・・ローラ、３３・・・切欠
部、３４・・・円型グレート、３５・・・ドライブシャ
フト、３６・・・サイトレール、３７・・システム制御
装置、３８・・・円型テーブル、３９　　回転輪、４０
・・・垂直シャフト、４１・・・照明装置、４２・・読
会、４３・白熱電球、４４・・・円柱状レンズ、４５・
・・ノ・ウジング、４Ｇ・・・開口部、４７・・・ソリ
ッドステートカメラ、４８・・・読会、４９・・・ａ↓
二の円柱状レンズ、５０・・バス、５１・・・制御装置
−５１ａ、５１ｂ・・・信号線、５２・増幅器、５３・
・コンパレータ、５４・・・可変抵抗器−５５・・・三
入力ＡＮＤゲート、５６・・・肩部データスイッチ、５
７・・・底部データスイッチ、聞・・・デジタルコンパ
レータ、６１　、６２・・・カウンタ、６３・・・フリ
ップフロップ、６４・・・ＡＮＤゲート、６５　、６６
・・・カウンタ、６７・・・フリップフロップ、６８・
・・ＡＮＤゲート、６９・・・インバータ。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、半透明容器の放射状反射性欠陥の存在を示す拒絶信
   号に反応して容器を拒絶するための、容器の反射性欠陥
   を検出する半透明容器の検査装置ばてあって、 光の放射ビームを焦点合わせして照射し１、前記容器の
   被検青領域に沿って前記容器の長手方向軸にほぼ平行な
   方向に伸びる細長いイメージを形成させ、前記ビームが
   前記容器の照射部分の内側表面に回さ、かつ、ｉＪ記照
   射部分に向がって％記谷器の中心から外側に伸ひる放射
   状面に対して鋭角をなすような角度に向くように前記容
   器を照射する照射装置と、 ＭｉＪ記ビームの光路に対して約７５°〜約１０５゜の
   角度をもった方向からｍＪ記熱照射部分とらえ、前記照
   射部分からの反射光強度を検出するために前記容器の前
   記照射部分に焦点合わせされた装置であって、前記容器
   の前記照射部分の各対応した位置からの反射強度にそれ
   ぞれ比例した複数の電気信号を供給する検出装置と、Ｍ
   記複数の６気信号に反応し、反射性欠陥の存在によって
   前記複数の電気信号のうちのどれか１つでもあらかじめ
   設定されたしきい値を越えたとぎに拒絶信号を供給する
   装置と、をそなえることを特徴とする半透明容器の検査
   装置。 ２谷器を少なくとも３６０°回転させるドライブ機構を
   更にそなえ、検出装置が容器の放射状反射性欠陥を検査
   するために複数の電気信号の連続した組を供給すること
   を特徴とする特許請求の範囲第１項記載の半透明容器の
   検査装置。 ３鋭角が約４０°〜５０’の間の角度であることを特徴
   とする特許請求の範囲第１項記載の半透明容器の検査装
   置。 ４、照射装置が光源と、前記光源と容器との間に置かれ
   た円柱状レンズと、を有し、 前記レンズが、前記容器の円柱状壁面に沿って細長いイ
   メージを形成させるように前記光源からの光を焦点合わ
   せすることを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の半
   透明容器の検査装置。 ５、検出装置が、複数の電気信号のうちの１つをそれぞ
   れが供給する複数の画素と、前記複数の画素と容器との
   間に債かれた画素用レンズと、を有し、 前記画素用レンズが、ｍＪ記谷器の照射部分の像を前記
   複数の画素上に結ばせることを特徴とする特許請求の範
   囲第１項記載の半透明答器の検査装置。 ６画素用レンズと容器との間に更に円柱状レンズを設け
   、複数の画素上に像を結はせるために、前記容器の照射
   部分からの反射光’ｚＭｉＪ記円柱状レンズによってよ
   り多く集めるようにしたことを特徴とする特許請求の範
   囲第５項記載の半透明容器の検査装置。 ７、拒絶信号を供給する装置が、複数の電気信号に応じ
   た入力をもつ増幅器と、前記増幅器の出力に接続された
   非反転入力と反転入力とをもったコンパレータと、正の
   電源に接続することができ前記コンパレータの反転入力
   にあらかじめ設定されたしきい値を与えるための調整可
   能な装置と、を有し、 前記調整可能な装置は、増幅された前記複数の電気信号
   のうちの１つでも前記あらかじめ設定されたしきい値を
   越えたとぎに拒絶信号を出力することを特徴とする特許
   請求の範囲第１項記載の半透明容器の検査装置。 ８検出装置に応じて、複数の電気信号のうちの１つでも
   あらかじめ設定されたしきい値を越えたとぎに拒絶信号
   を有効にする装置を更に有することを特徴とする特許請
   求の範囲第５項記載の半透明容器の検査装置。 ９、検出装置が複数の電気信号を順番に供給するために
   複数の画素を順番に参照し、これに同期したクロック信
   号を供給し、 拒絶信号を有効にする装置が、 コンパレータの出力に接続された第１の入力と、第２の
   入力とを有するＡＮＤゲートと−２つの入力と、前記Ａ
   ＮＤゲートの第２の入力に接続され前記２つの入力が等
   しいことを示す出力とを有する入力値コンパレータと、
   前記クロック信号に応じ、クロックパルスの数が第１の
   設定値に達したら、前記入力値コンパレータの第１の入
   力に２つの状態のうちのどちらか１つを示す第１の信号
   を供給する第１のカウンタ装置と、 前記クロック信号に応じ、クロックパルスノ数が前記第
   １の設定値より大ぎい第２の設定値に達したら、前記入
   力値コンパレータの第２の入力に２つの状態のうちのど
   ちらか１つを示す第２の信号を供給する纂２のカウンタ
   装置と、を有し、 ｔ４Ｊ記クロックパルスの数が、前記第１の設定値と前
   記第２の設定値との間であるとぎに、前記入力値コンパ
   レータの出力が、前記ＡＮＤゲートから出力される前記
   拒絶信号を有効にすることを特徴とする特許請求の範囲
   第８項記載の半透明容器の検査装置。 １０、容器内の放射状反射性欠陥を検出し、放射状反射
   性欠陥の存在を示す拒絶信号に応じて前記容器を拒絶す
   る半透明容器の検査方法であって、前記容器の被検査領
   域に沿って、前記容器の長手方向軸にほぼ平行な方向に
   伸びる細長いイメージを形成するように光の放射ビーム
   を焦点合わせして前記容器に照射する段階と、前記ビー
   ムを前記容器の照射部分の内側表面に、かつ、前記照射
   部分に向かって前記容器の中心から外側に伸びる放射状
   面に対して鋭角をなすような角度に向ける段階と、 前記ビームの光路に対して約７５°〜約１０５゜の角度
   をもった方向から、前記照射部分からの反射光強度を検
   出する段階と、 前記容器の前記照射部分の各対応した位置からの反射強
   度にそれぞれ比例した複数の電気信号を供給する段階と
   、 反射性欠陥の存在によって、前記複数の電気信号のうち
   のどれか１つでもあらかじめ設定したしきい値を越えた
   とぎに拒絶信号を供給する段階と、 を有することを特徴とする半透明容器の検査方法。 １１、検査中容器を少なくとも３６０°回転し、前記容
   器が回転しているとぎに複数の電気信号の連続した組を
   供給し、前記容器の全側壁について放射状反射性欠陥の
   検査を行なう ことを特徴とする特許請求の範囲第１０項記載の半透明
   容器の検査方法。 １２、ビームが照射部分の表面に、かつ、放射状面に対
   して約４０’〜５０°の鋭角をなす方向に向けられるこ
   とを特徴とする特許請求の範囲第１０項記載の半透明容
   器の検査方法。 １３、検出される反射光強度を増加させるために、容器
   の照射部分からの反射光をより多く集める段階を更に■
   することを特徴とする特許請求の範囲第１０項記載の半
   透明容器の横置方法。 １４、複数の電気信号のうちの一部分があらかじめ設定
   されたしきい値を越えたとぎにだけ、拒絶信号を有効に
   する段階を更に有することを特徴とする特許請求の範囲
   第１０項記載の半透明容器の検査方法。 １５、半透明答器が少なくとも３６０°回転１−る間に
   、前記容器の放射状反射性欠陥を検出するために前記容
   器の全側壁を検査し、反射性欠陥の存在を示す拒絶信号
   に応じて前記容器を拒絶するシステムに用いる装置であ
   って、 光の放射ビームを焦点合わせして照射し、前記容器の被
   検査領域に沿って前記容器の長手方向軸にほぼ平行な方
   向に伸びる細長いイメージを形成させ、前記ビームカｉ
   ｉＪ記容器の照射部分の内側表面に向さ、かつ、前記照
   射部分に向かって前記容器の中心から外側に伸びる放射
   状面に対して鋭角をなすよう１よ角度に向くように前記
   容器を照射する照射装置と、 前記°ビームの光路に対して約７５°〜約１０５゜の角
   度をもった方向から前記照射部分をとらえ、前記照射部
   分からの反射光強度を検出するために＠記容器の前記照
   射部分に焦点合わせされた装置であって、前記容器の前
   記照射部分の各対応した位置からの反射強度にそれぞれ
   比例した複数の１を気信号を供給する検出装置と、ｉｉ
   Ｊ記伏数の電気信号に反応し、反射性欠陥の存在によっ
   て前記複数の電気信号のうちのどれか１つでもあらかじ
   め設定されたしきい値を越えたとぎに拒絶信号を供給す
   る装置と、をそなえることを特徴とする半透明容器の横
   歪装置。