JPS5912351A - 超音波探傷装置 - Google Patents
超音波探傷装置Info
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- JPS5912351A JPS5912351A JP57121002A JP12100282A JPS5912351A JP S5912351 A JPS5912351 A JP S5912351A JP 57121002 A JP57121002 A JP 57121002A JP 12100282 A JP12100282 A JP 12100282A JP S5912351 A JPS5912351 A JP S5912351A
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- Japan
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- reflected wave
- defect
- reflected
- circuit
- ultrasonic
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- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/04—Analysing solids
- G01N29/07—Analysing solids by measuring propagation velocity or propagation time of acoustic waves
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/04—Analysing solids
- G01N29/06—Visualisation of the interior, e.g. acoustic microscopy
- G01N29/0609—Display arrangements, e.g. colour displays
- G01N29/0618—Display arrangements, e.g. colour displays synchronised with scanning, e.g. in real-time
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- G—PHYSICS
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- G—PHYSICS
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- G—PHYSICS
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- G01N2291/26—Scanned objects
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- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は原子力発電設備の原子炉圧力容器、配管等を超
音波探傷する装置に関する。
音波探傷する装置に関する。
第1図ないし第4図を参照して従来の超音波探傷装置を
説明する。図中Lは走査機構であつ1て、互に直交する
方向に配置された嵯杆2,3およびこれを駆動するモー
タ4,5によって超音波探触子6を互に直交する2方向
に移動させて走査するように構成されている。そして、
上記超音波探触子6からは第2図に示す如く超音波が斜
め方向に発振され、その反射波を受信するように構成さ
れている。そして、被検査゛体Aに欠陥Eがあると、発
振された超音波がこの欠陥Eで反射し、その反射波は超
音波探触子6で受信され、第3図に示す如き反射波信号
Fを出力する。そして、この反射波信号は信号処理回路
7に送られ、反射波信号の有無、反射波の受信時間To
および超音波探触子6の位置等から欠陥Eの有無、位置
等を検出し、この結果を表示機構8上に表示するように
構成されている。
説明する。図中Lは走査機構であつ1て、互に直交する
方向に配置された嵯杆2,3およびこれを駆動するモー
タ4,5によって超音波探触子6を互に直交する2方向
に移動させて走査するように構成されている。そして、
上記超音波探触子6からは第2図に示す如く超音波が斜
め方向に発振され、その反射波を受信するように構成さ
れている。そして、被検査゛体Aに欠陥Eがあると、発
振された超音波がこの欠陥Eで反射し、その反射波は超
音波探触子6で受信され、第3図に示す如き反射波信号
Fを出力する。そして、この反射波信号は信号処理回路
7に送られ、反射波信号の有無、反射波の受信時間To
および超音波探触子6の位置等から欠陥Eの有無、位置
等を検出し、この結果を表示機構8上に表示するように
構成されている。
前記従来のものは、第4図に示す如く超音波探触子6の
走査方向前縁部が欠陥Eの上方に位置したときから超音
波探触子6の走査方向後縁部が欠陥Eの上方から離れる
までの間欠陥Eからの反射波が受信され、実際の欠陥E
が第4図のE′の如く変形された欠陥として検出されて
しまう不具合があった。また、欠陥Eが被検出体Aの裏
面近傍にあるような場合には、裏面で反射した超音波が
再度欠陥Eで反射する等、複雑な反射径路で超音波探触
子に受信され、検出精度が低下する不具合があった。
走査方向前縁部が欠陥Eの上方に位置したときから超音
波探触子6の走査方向後縁部が欠陥Eの上方から離れる
までの間欠陥Eからの反射波が受信され、実際の欠陥E
が第4図のE′の如く変形された欠陥として検出されて
しまう不具合があった。また、欠陥Eが被検出体Aの裏
面近傍にあるような場合には、裏面で反射した超音波が
再度欠陥Eで反射する等、複雑な反射径路で超音波探触
子に受信され、検出精度が低下する不具合があった。
本発明は以上の事情にもとづいてなされたもので、その
目的とするところは欠陥の位置や寸法等を正確に検出す
ることができる超音波探傷装置を得ることにある。
目的とするところは欠陥の位置や寸法等を正確に検出す
ることができる超音波探傷装置を得ることにある。
本発明は複数の振動子を配列して構成したアレイ形の超
音波探触子と、この超音波探触子の振動子の任意の1個
に駆動パルスを印加して超音波を発振させる発振回路と
、上記各振動子からの反射波信号を受は各振動子毎に反
射波信号の有無および反射波の受信時間を求める信号処
理回路と、この信号処理回路で求められた結果を表示す
る表示機構とを具備したものである。
音波探触子と、この超音波探触子の振動子の任意の1個
に駆動パルスを印加して超音波を発振させる発振回路と
、上記各振動子からの反射波信号を受は各振動子毎に反
射波信号の有無および反射波の受信時間を求める信号処
理回路と、この信号処理回路で求められた結果を表示す
る表示機構とを具備したものである。
したがって、1個の振動子から発振された超音波は被検
査体の裏面で反射され、全振動子で受信される。よって
この被検査体内に欠陥があると反射された超音波はこの
欠陥で散乱され、この欠陥の影の部分に対応する振動子
には反射波が受信されなくなり、この反射波を受信しな
い振動子の数、位置によって欠陥の位置、寸法を検出し
、欠陥が被検出体の裏面の近傍にあるような場合でも正
確に検出をおこなうことができるものである。
査体の裏面で反射され、全振動子で受信される。よって
この被検査体内に欠陥があると反射された超音波はこの
欠陥で散乱され、この欠陥の影の部分に対応する振動子
には反射波が受信されなくなり、この反射波を受信しな
い振動子の数、位置によって欠陥の位置、寸法を検出し
、欠陥が被検出体の裏面の近傍にあるような場合でも正
確に検出をおこなうことができるものである。
以下第5図ないし第8図を参照して本発明の一実施例を
説明する。図中101は超音波探触子であって、被検査
体Aの表面に密接し、走査機構(図示せず)等によって
この被検査体Aの表面に沿って移動するように構成され
ている。
説明する。図中101は超音波探触子であって、被検査
体Aの表面に密接し、走査機構(図示せず)等によって
この被検査体Aの表面に沿って移動するように構成され
ている。
そして、この超音波探触子−1,0−1は複数たとえば
32個の振動子101. 、7θ1. 、1013・・
・1013、が−列に配列されたアレイ形のものである
。なお、これら振動子101..105,1θ13・・
・l0Is2の幅はlsm以下である。また、102は
発振回路であって、選択回路103を介して上記各振動
子101. 、101□、 101.−101.。
32個の振動子101. 、7θ1. 、1013・・
・1013、が−列に配列されたアレイ形のものである
。なお、これら振動子101..105,1θ13・・
・l0Is2の幅はlsm以下である。また、102は
発振回路であって、選択回路103を介して上記各振動
子101. 、101□、 101.−101.。
に接続されている。そして、上記発振回路102は駆動
パルスを発生するように構成されている。
パルスを発生するように構成されている。
また、上記選択回路103は上記超音波探触子101の
振動子101..101..101.・・・I 013
2のうちの任意の一個を選択し、この選択された振動子
に駆動パルスを送り、この選択された振動子から超音波
を発振させるように構成されている。そして、この選択
された振動子から発振された超音波は被検査体Aの裏面
あるいは欠陥で反射され、各振動子101. 、101
. 、101゜・・・101.2で受信され、これら振
動子10ハ。
振動子101..101..101.・・・I 013
2のうちの任意の一個を選択し、この選択された振動子
に駆動パルスを送り、この選択された振動子から超音波
を発振させるように構成されている。そして、この選択
された振動子から発振された超音波は被検査体Aの裏面
あるいは欠陥で反射され、各振動子101. 、101
. 、101゜・・・101.2で受信され、これら振
動子10ハ。
101t、10°111・・・1013.からはそれぞ
れ受信した反射波に対応した反射波信号が出力されるよ
うに構成されている。そして、これら振動子101、
、101. 、 I’013・・・1013.から出力
された反射波信号はそれぞれ走査回路104に送られ、
一時紀憶されたのち順次走査され、信号処理回路105
に順次送られるように構成されている。そして、この信
号処理回路105では各振動子からの反射波信号から、
反射波の受信の有無、反射波の受信時間を求め、この結
果を゛表示機構106に表示させるように構成されてい
る。そして、この表示機構106は第8図に示す如く振
動子101..101..101.・・・101s2の
位置をX座標、受信時間をY座標とし、反射波信号のレ
ベルを輝度に変調して表示するように構成されている。
れ受信した反射波に対応した反射波信号が出力されるよ
うに構成されている。そして、これら振動子101、
、101. 、 I’013・・・1013.から出力
された反射波信号はそれぞれ走査回路104に送られ、
一時紀憶されたのち順次走査され、信号処理回路105
に順次送られるように構成されている。そして、この信
号処理回路105では各振動子からの反射波信号から、
反射波の受信の有無、反射波の受信時間を求め、この結
果を゛表示機構106に表示させるように構成されてい
る。そして、この表示機構106は第8図に示す如く振
動子101..101..101.・・・101s2の
位置をX座標、受信時間をY座標とし、反射波信号のレ
ベルを輝度に変調して表示するように構成されている。
なお、107は制御回路であって、発振回路102、選
択回路103、走査回路104および表示機構106に
制御信号を送り、これらの作動を制御するように構成さ
れている。
択回路103、走査回路104および表示機構106に
制御信号を送り、これらの作動を制御するように構成さ
れている。
次に上記−実施例の作用を説明する。まず、第7図の如
く制御回路107から発振回路102に発振信号Tが出
力され、発振回路102はこれに対応して駆動パルスP
を出力する。また、前記の選択回路103は上記各41
動子101.。
く制御回路107から発振回路102に発振信号Tが出
力され、発振回路102はこれに対応して駆動パルスP
を出力する。また、前記の選択回路103は上記各41
動子101.。
1012、 l0Is・・・1013□のうちの任意の
1個たとえば5#目の振動子101.を選択し、この5
番目の振動子101.に駆動パルスを送る。したがって
、この5番目の振動子101sから超音波が発振され、
この発振された超音波は被検査体人の裏面で反射し、各
振動子101. 、10.1. 。
1個たとえば5#目の振動子101.を選択し、この5
番目の振動子101.に駆動パルスを送る。したがって
、この5番目の振動子101sから超音波が発振され、
この発振された超音波は被検査体人の裏面で反射し、各
振動子101. 、10.1. 。
101s・・・101.、で受信され、各撮動子1θ1
1゜1011 、 IOIm・・・1013.からは第
7図に示す反射波信号S1・・・Satが出力される。
1゜1011 、 IOIm・・・1013.からは第
7図に示す反射波信号S1・・・Satが出力される。
そして、この反射波信号は信号処理回路105に送られ
、この信号処理回路105で処理されて表示機構106
に表示される。そして、この場合、各振動子1011,
101.,1013・・・1013.で受信される反射
波は第6図に示す如く各振動子101.。
、この信号処理回路105で処理されて表示機構106
に表示される。そして、この場合、各振動子1011,
101.,1013・・・1013.で受信される反射
波は第6図に示す如く各振動子101.。
101、.101.・・・1013.毎にそれぞれ異な
る反射径路を通るため、その受信時間がそれぞれ異なる
。そして、この受信時間と各振動子1011゜101、
、101.、・・・1013.の位置は所定の関係を
有する。そして、表示機構106には各振動子101、
、1012.101.・・・101.、の位置をX座
標、受信時間をY座樗として反射波信号を表示するので
、第8図に示す如く反射波俳号の表示D・・・は所定の
曲線上に並ぶ。そして、この被検査体Aの内部たとえば
裏面の近傍に欠陥Eがある場合、被検査体Aの裏面で反
射した超音波はこの欠陥Eによって遮ぎられ、この欠陥
Eの影の部分に対応する振動子ζこは反射波が受信され
ない。したがって、表示機材xoe上の表示には第8図
に示す如くこの欠陥Eの影に対応した部分に反射波信号
の表示されない部分Cが生じる。したがって、この反射
波信号が表示されない部分Cの位置、長さ等により欠陥
Eの付値、寸法等が検出できる。また、欠陥Eで反射し
た反射波は他の振動子で受信され、第8図に示す如くこ
の欠陥Eからの反射波信号の表示D′も表示され、これ
によっても欠陥Eの位置、寸法等が検出できる。
る反射径路を通るため、その受信時間がそれぞれ異なる
。そして、この受信時間と各振動子1011゜101、
、101.、・・・1013.の位置は所定の関係を
有する。そして、表示機構106には各振動子101、
、1012.101.・・・101.、の位置をX座
標、受信時間をY座樗として反射波信号を表示するので
、第8図に示す如く反射波俳号の表示D・・・は所定の
曲線上に並ぶ。そして、この被検査体Aの内部たとえば
裏面の近傍に欠陥Eがある場合、被検査体Aの裏面で反
射した超音波はこの欠陥Eによって遮ぎられ、この欠陥
Eの影の部分に対応する振動子ζこは反射波が受信され
ない。したがって、表示機材xoe上の表示には第8図
に示す如くこの欠陥Eの影に対応した部分に反射波信号
の表示されない部分Cが生じる。したがって、この反射
波信号が表示されない部分Cの位置、長さ等により欠陥
Eの付値、寸法等が検出できる。また、欠陥Eで反射し
た反射波は他の振動子で受信され、第8図に示す如くこ
の欠陥Eからの反射波信号の表示D′も表示され、これ
によっても欠陥Eの位置、寸法等が検出できる。
したがって、このものは欠陥Eの影に相当する部分を複
数の振動子101+ 、 101. 、ノ013・・・
1013.で検出するので、従牙の如く欠陥Eが変形さ
れた形で検出されてしまうこ七がない。
数の振動子101+ 、 101. 、ノ013・・・
1013.で検出するので、従牙の如く欠陥Eが変形さ
れた形で検出されてしまうこ七がない。
また、欠陥Eが被検査体Aの裏面近傍にある場合、被検
査体Aの裏面で反射した超音波が丙°度欠陥Eで反射し
、複雑な径路で反射するが、本願のものはこのような反
射波は利用せず、欠陥Eの影に相当する部分を検出する
ものであるから欠陥Eが釜検査体Aの裏面近傍にあるよ
うな場合でも高精度な検出が可能である。
査体Aの裏面で反射した超音波が丙°度欠陥Eで反射し
、複雑な径路で反射するが、本願のものはこのような反
射波は利用せず、欠陥Eの影に相当する部分を検出する
ものであるから欠陥Eが釜検査体Aの裏面近傍にあるよ
うな場合でも高精度な検出が可能である。
本発明は複数の系動子を配列して構成したアレイ形の超
音波探触子と、この超音波探触子の振動子の任意の1個
に駆動パルスを印加して超音波を発振させる発振回路と
、上記各振動子からの反射波信号を受は各撮動子毎に反
射波信号の廟無および反射波の受信時間を求める信号処
理回路と、この信号処理回路で求められた結果を表示す
る表示機11Jとを具(V Lだものである。
音波探触子と、この超音波探触子の振動子の任意の1個
に駆動パルスを印加して超音波を発振させる発振回路と
、上記各振動子からの反射波信号を受は各撮動子毎に反
射波信号の廟無および反射波の受信時間を求める信号処
理回路と、この信号処理回路で求められた結果を表示す
る表示機11Jとを具(V Lだものである。
したが″つて、11固の揚ドh子から発振された超音波
は被検査体のl而でJワ−射され、全振動子で受1言さ
れる。よってこの被検査体内に欠陥かあると反射された
超音波はこの欠陥で散乱され、この欠陥の影の部分に5
([応する′Jgi動子には反射波が受イごされなくな
り、この反射波を受信しない振動子の数、位置によ一つ
°C欠陥の位置、寸法を検出し、欠陥が植検出体の4を
面の近傍にあるよ・うな場合でも正確に検出をおこなう
ことができる等その効果は大である。
は被検査体のl而でJワ−射され、全振動子で受1言さ
れる。よってこの被検査体内に欠陥かあると反射された
超音波はこの欠陥で散乱され、この欠陥の影の部分に5
([応する′Jgi動子には反射波が受イごされなくな
り、この反射波を受信しない振動子の数、位置によ一つ
°C欠陥の位置、寸法を検出し、欠陥が植検出体の4を
面の近傍にあるよ・うな場合でも正確に検出をおこなう
ことができる等その効果は大である。
第1図ないし第4図は従来例を示し、第1図は概略構成
図、第2図は超音波の発振彷態を示す模式的な図、第3
図は反射波信号の波形図、第4図は欠陥の検出状態を説
明する模式的な図である。第5図ないし第8図は本発明
の一実施例を示し、第5図は概略構成図、第6図は欠陥
の検出状態を説明する模式的な図、第7図は発振信号、
駆動パルスおよび各反射波信号の波形図、第8図は表示
機構の表示例を示す図である。 101・・・超音波探触子、1011 、 I 011
r1013・・・10132・・・振動子、102・
・・発振回路、103・・・選択回路、104・・・走
査回路、106・・・駆動回路。 出−人代理人 弁理士 鈴 江 武 9八 第1図 第2図 240− 第3図 第4図 第6図 1015 1013 第7図 第8図
図、第2図は超音波の発振彷態を示す模式的な図、第3
図は反射波信号の波形図、第4図は欠陥の検出状態を説
明する模式的な図である。第5図ないし第8図は本発明
の一実施例を示し、第5図は概略構成図、第6図は欠陥
の検出状態を説明する模式的な図、第7図は発振信号、
駆動パルスおよび各反射波信号の波形図、第8図は表示
機構の表示例を示す図である。 101・・・超音波探触子、1011 、 I 011
r1013・・・10132・・・振動子、102・
・・発振回路、103・・・選択回路、104・・・走
査回路、106・・・駆動回路。 出−人代理人 弁理士 鈴 江 武 9八 第1図 第2図 240− 第3図 第4図 第6図 1015 1013 第7図 第8図
Claims (2)
- (1)複数の振動子を配列して構成したアレイ形の超音
波探触子と、この超音波探触子の捗動子の任意の1個に
駆動パルスを印加して超音波を発振させる発振回路と、
上記各振動子で受信された反射波に対応した反射波信号
を受は上記各振動子毎に反射波信号の有無および反射波
の受信時間を求める信号処理回路と、この信号処理回路
で求めた結果を表示する表示機構とを具備したことを特
命とする超音波探傷装置。 - (2)前記表示機構は前記各振動子の位置をX軸座標、
各反射波の受信時間をY軸座標に表示するものであるこ
とを特徴とする特許 求の範囲第1項記載の超音波探傷装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57121002A JPS5912351A (ja) | 1982-07-12 | 1982-07-12 | 超音波探傷装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57121002A JPS5912351A (ja) | 1982-07-12 | 1982-07-12 | 超音波探傷装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5912351A true JPS5912351A (ja) | 1984-01-23 |
Family
ID=14800346
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP57121002A Pending JPS5912351A (ja) | 1982-07-12 | 1982-07-12 | 超音波探傷装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5912351A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63236845A (ja) * | 1987-03-26 | 1988-10-03 | 株式会社 岡谷壁材 | 内外装仕上材 |
JPH02223442A (ja) * | 1989-02-27 | 1990-09-05 | Eidai Co Ltd | 耐候性のすぐれた木質材料 |
JPH0445837U (ja) * | 1990-08-22 | 1992-04-17 | ||
JPH04127342U (ja) * | 1991-05-14 | 1992-11-19 | トステムウツドワーク株式会社 | 化粧板 |
JP2021076500A (ja) * | 2019-11-11 | 2021-05-20 | 株式会社東芝 | 超音波探傷装置及びジェットポンプビームの検査方法 |
-
1982
- 1982-07-12 JP JP57121002A patent/JPS5912351A/ja active Pending
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63236845A (ja) * | 1987-03-26 | 1988-10-03 | 株式会社 岡谷壁材 | 内外装仕上材 |
JPH02223442A (ja) * | 1989-02-27 | 1990-09-05 | Eidai Co Ltd | 耐候性のすぐれた木質材料 |
JPH0445837U (ja) * | 1990-08-22 | 1992-04-17 | ||
JPH04127342U (ja) * | 1991-05-14 | 1992-11-19 | トステムウツドワーク株式会社 | 化粧板 |
JP2021076500A (ja) * | 2019-11-11 | 2021-05-20 | 株式会社東芝 | 超音波探傷装置及びジェットポンプビームの検査方法 |
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