JPS58168964A - Diagnosis device for plant - Google Patents
Diagnosis device for plantInfo
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- JPS58168964A JPS58168964A JP57054201A JP5420182A JPS58168964A JP S58168964 A JPS58168964 A JP S58168964A JP 57054201 A JP57054201 A JP 57054201A JP 5420182 A JP5420182 A JP 5420182A JP S58168964 A JPS58168964 A JP S58168964A
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- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B19/00—Programme-control systems
- G05B19/02—Programme-control systems electric
- G05B19/04—Programme control other than numerical control, i.e. in sequence controllers or logic controllers
- G05B19/05—Programmable logic controllers, e.g. simulating logic interconnections of signals according to ladder diagrams or function charts
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- General Physics & Mathematics (AREA)
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- Testing And Monitoring For Control Systems (AREA)
Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、大規模プラントの運転信頼性、稼動率の向
上に寄与するために、プラントの異常事象をオンライン
・リアル・タイムで同定し、かつ将来の予測をするプラ
ント診断装置に関するものである。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION This invention is a plant system that identifies abnormal events in a plant online in real time and predicts the future, in order to contribute to improving the operational reliability and availability of large-scale plants. This invention relates to diagnostic equipment.
従来この種の装置として第1図に示すものがあった。図
において、(1)はプロセスデータを読み込むためのデ
ータ収集装置(例えば、アナログ・ディジタル変換器)
、(2)はプロセスデータを基準値と比較し、許容範
囲内にあればO”、範囲外にあれば”′l”に変換する
ための演算処理装置1、(3)は演算処理装置!11
(2)が演算処理した結果を格納しておく記憶装置1
、(4)は原因結果ツリー(以下CCTと記す)を記憶
しておく記憶装置2、(5)は記憶装置1(3)と2(
4)に格納しであるプロセス情報とCCTを用いて異常
の第1原因を同定し、かつ将来の予測をする診断処理装
置、(6)は診断結果を表示するためのブラウン管表示
装置である。A conventional device of this type is shown in FIG. In the figure, (1) is a data acquisition device (for example, an analog-to-digital converter) for reading process data.
, (2) is an arithmetic processing unit 1 which compares the process data with a reference value and converts it to "O" if it is within the allowable range and "'l" if it is outside the range, and (3) is an arithmetic processing unit! 11
Storage device 1 that stores the results of the arithmetic processing in (2)
, (4) is the storage device 2 that stores the cause-and-effect tree (hereinafter referred to as CCT), and (5) is the storage device 1 (3) and 2 (
4) is a diagnostic processing device that uses stored process information and CCT to identify the first cause of an abnormality and predicts the future; and (6) is a cathode ray tube display device for displaying diagnostic results.
次に動作について説明する。Next, the operation will be explained.
プロセス・データをXI(1”’+2+・・・、N)と
する。Let the process data be XI (1''+2+...,N).
Xlはデータ収集装置(1)により量子化される。量子
化されたデータx1を入力として演算処理装置(2)は
0式に示す処理を施こし、その結果5i(i=1.2.
・・・。Xl is quantized by a data acquisition device (1). With the quantized data x1 as input, the arithmetic processing unit (2) performs the processing shown in equation 0, and the result is 5i (i=1.2.
....
N)及び事象発生時刻を記憶装置(3)に格納する。N) and the event occurrence time are stored in the storage device (3).
ここでSiをxiのステータスと呼ぶ。また、ステータ
スが1となった時間を事象発生時刻と呼ぶ。Here, Si is called the status of xi. Further, the time when the status becomes 1 is called the event occurrence time.
記憶装置(4)に格納されているCCTの一部分の例を
第2図に示す 第2図中、M6.M7は診断メソセージ
、τは時間遅れ、Gll + GI2は論理積ゲート、
G21 + G22は論理和ゲートを夫々示す。CCT
において、Siが定義される位置をノードと呼んでいる
。An example of a portion of the CCT stored in the storage device (4) is shown in FIG. 2. In FIG. 2, M6. M7 is a diagnostic message, τ is a time delay, Gll + GI2 is an AND gate,
G21 + G22 indicate OR gates, respectively. CCT
In , the position where Si is defined is called a node.
第2図中のS++・・・+S7は記憶装置(3)に格納
されている。異常の伝播シーケンスをステータスの論理
関係として記述したのがCCTであるが、ステータス間
の事象伝播時間が重要な場合は、時間遅れ(第2図中の
τ)を用いる。CCT実行処理は記憶装置(3)と(4
)からの情報を基に診断処理装置(5)で行なわれる。S++...+S7 in FIG. 2 is stored in the storage device (3). CCT describes an abnormality propagation sequence as a logical relationship between statuses, but if the event propagation time between statuses is important, a time delay (τ in FIG. 2) is used. The CCT execution process uses storage devices (3) and (4).
) is carried out by the diagnostic processing device (5) based on information from.
外乱の第1原因検索のため以下の処理が実施される。The following process is performed to search for the first cause of disturbance.
部分を抽出するために記憶装置(3)に格納されている
エントリーノード(解析を始めるノードとしてあらかじ
め指定)のうちステータスが変化したものを検出し、そ
のノードから下位のノード側への検索が始まる。そして
最初のゲートかANDゲートかORゲートか調べる。次
に記憶装置(3)に書き込まれているプラント観測デー
タであるそのゲートの各入力の状態及び事象発生時刻の
関係が、記憶装置(4)に書き込jれているCCTモデ
ルと一致しているか調べる。ロジックが成立している場
合、更に下位のノードへと展開するため記憶装置(4)
に格納されているCCTモデルに従って次の検索すべき
ノードを決める。検索ノードの順番は、エントリー・ノ
ードから始めて、エントリー・ノードに対して子供に当
るノードを全て検索したのち孫に当るノードを全て検索
すると言う順序である。Among the entry nodes (designated in advance as the nodes from which to start analysis) stored in the storage device (3) for extracting parts, the one whose status has changed is detected, and the search starts from that node to the lower nodes. . Then check whether it is the first gate, AND gate, or OR gate. Next, the relationship between the state of each input of the gate and the event occurrence time, which is the plant observation data written in the storage device (3), matches the CCT model written in the storage device (4). Find out if there are any. If the logic is established, the storage device (4) is used to expand to lower nodes.
The next node to be searched is determined according to the CCT model stored in . The order of search nodes is to start with the entry node, search for all nodes that are children of the entry node, and then search for all nodes that are grandchildren of the entry node.
こうして順番に従って、エントリー・ノードの 1
下方に接続されている各ゲート毎に、各ゲートの入力側
のノードの偽(不一致)、真(一致)を判定し、真なブ
ランチを継ぎあわせていく。そして展開がプライマリ−
・ノードにまで達すると、このエントリー・ノードのロ
ジックが成立し、原因同定が成功したと判定する。CC
Tの各所に事象間のタイムディレィが設定されているが
実際にこれより早く事象が進行した場合には、それ以下
のノードの展開は行なわない。In this order, 1 of the entry nodes
For each gate connected below, it is determined whether the node on the input side of each gate is false (mismatch) or true (match), and true branches are spliced together. And expansion is primary
- When the node is reached, the logic of this entry node is established and it is determined that the cause identification was successful. C.C.
A time delay between events is set at various locations in T, but if an event actually progresses faster than this, nodes below that are not expanded.
すなわち、展開の途中でエントリー・ノードに対してカ
ット・セットがない事が判明した時はそこで診断を打ち
切る。例えばANDロジックの一方が[偽」であれば以
下の展開は行なわない。従って、診断が打ち切られるか
又は終了すれば、次のエントリー・ノードからの解析が
優先順位を考慮して実行される。以上の処理を第8図の
CCTについて説明する。第8図中、Ml + M4
+ Ml7 + h’18は診断メツセージ、G1コ+
GI4 * G+5+ G118は論理積ゲート、G
23 + G24 * G2! + G211 + G
27 + G28+ G29は論理和ゲート、・は観測
ノード、○は非観測ノード、■1〜V28は観測機器名
、Hは要求条件を夫々示す。第8図のCCTに対応する
可観測ノードのステータス例をm4図に示す。第4図に
おいてEは変数が警報レベル以内にある、Hは変数が高
警報レベルを越えている、Tは観測ノードが要求条件と
一致している、Fは観測ノードが要求条件と不一致であ
ることを示す。That is, when it is found that there is no cut set for the entry node during expansion, the diagnosis is stopped at that point. For example, if one of the AND logic is [false], the following expansion is not performed. Therefore, once the diagnosis is aborted or finished, analysis from the next entry node is performed taking priority into account. The above processing will be explained with respect to the CCT shown in FIG. In Figure 8, Ml + M4
+ Ml7 + h'18 is a diagnostic message, G1 co+
GI4 * G+5+ G118 is AND gate, G
23 + G24 * G2! + G211 + G
27 + G28 + G29 is an OR gate, * is an observation node, ○ is a non-observation node, ■1 to V28 are observation equipment names, and H is a requirement condition, respectively. An example of the status of observable nodes corresponding to the CCT of FIG. 8 is shown in diagram m4. In Figure 4, E indicates that the variable is within the alarm level, H indicates that the variable exceeds the high alarm level, T indicates that the observed node matches the required conditions, and F indicates that the observed node does not match the required conditions. Show that.
■■6が警報レベルを越えた時、これがどの様な原因に
よるものであるか検索を開始する。■6;エントリー
ノード
■第4図のノード状態はそのノードの条件が満足された
(T;真)か否(F;偽)かを表わしている。When ■■6 exceeds the alarm level, a search is started to determine the cause of this. ■6;Entry
Node ■ The node status in FIG. 4 indicates whether the condition of the node is satisfied (T: true) or not (F: false).
真の場合、このプロセス量は警報レベルを越えているこ
とを表わしている。If true, this indicates that the process quantity exceeds the alarm level.
■■6を起点としてCCTを下方に向けて展開し、■6
を真とする集合(ミニマム・カット・セット)を検索す
る。文字式で表現すると次の様に記述できる。■■6 is the starting point, expand the CCT downward, and ■■6
Search for the set (minimum cut set) for which is true. Expressed as a character expression, it can be written as follows.
原因同定が成功したエントリー・ノードに対しては、そ
のノードから上にロジックをたどっていき、外乱の進行
状態の解析を行なう。これを予測と呼ぶ。すなわち、外
乱が上位方向にどれだけ拡がったかチェックし、更に外
乱が拡がると仮定し最上位のアクティブ・ノードより1
つ上の可観測ノードがしばらく後に状態を変えるかどう
か決めるためにチェックする。従って、まずエントリー
・ノードの直ぐ上のゲートの種類を調べる。次にそのゲ
ートの入力ステータスを調べ、その出力ステータスは現
在はまだFalseであるが時間がたてばTrue
となるかどうか検索する。(ゲートがない場合、エント
リー・ノードの上の町観測ノードのステータス)
以上の予測処理を第8図のCCTに適用すると次の様に
なる。For entry nodes for which the cause has been successfully identified, the logic is followed upwards from that node to analyze the progress state of the disturbance. This is called prediction. In other words, check how far the disturbance has spread in the upward direction, and assuming that the disturbance has spread further, move the
Check to determine if the next observable node changes state after some time. Therefore, first check the type of gate immediately above the entry node. Next, check the input status of that gate, and its output status is currently still False, but will become True over time.
Search to see if . (If there is no gate, the status of the town observation node above the entry node) When the above prediction process is applied to the CCT of FIG. 8, the result will be as follows.
■■6を起点としてCCTを上位に向けて検索して行く
。V6のすぐ上のゲートはANDゲートであることを確
認する。出力ノードU4はV12により■7が真であり
、■6がA Q庫、るため真となる。更に上にたどって
いくとOλアゲートあるため理論的にはvlは真である
か第4図よりvlの観測値は時間遅れのため真になって
いない。■■Starting from 6, the CCT is searched upwards. Confirm that the gate immediately above V6 is an AND gate. At the output node U4, ■7 is true due to V12, and ■6 is true because it is AQ storage. If we go further up, there is an Oλ agate, so theoretically vl is true, or from Fig. 4, the observed value of vl is not true because of the time delay.
原則として予測では上位に向けl検索するが、ANDゲ
ートに対しては、下方に向けて処理を実行する。(例え
ばU4のステータス決定のためにV7.V12.V18
のステータスを調べる時)。In principle, prediction is performed in an upward search, but for AND gates, processing is performed in a downward direction. (For example, to determine the status of U4, V7.V12.V18
).
第8図のCCTでの予測処理を文字式で記述すると次の
様になる。The prediction process in the CCT shown in FIG. 8 can be described using a literal expression as follows.
以上、原因同定及び予測処理により、外乱の発生から将
来の伝搬までをシーケンシャルに表わすツリーが決定で
きる。As described above, through the cause identification and prediction processing, it is possible to determine a tree that sequentially represents the disturbance from its occurrence to its future propagation.
この該当ツリーに接続されているメツセージ内容及び変
数をリストアツブする。そして、以下の情報をブラウン
管表示装置(6)にリストアツブする。Restore the message contents and variables connected to this relevant tree. Then, the following information is restored to the cathode ray tube display device (6).
(1)現在までに進行してきたツリ一部に指定されてい
るメツセージ(ex、Ml7.M4メソセージ)(2)
近い将来アクティブになるであろうメソセージ(例;M
l)
(3)今までの手順で求められたツリ一部に関係してい
る変数リスト
従来のCCTによる診断装置では、以上のように構成さ
れているのでアクティブになっているノードの中で最上
位の可観測ノードの1@上にある可観測ノードまでしか
予測できず、そのノードにメツセージがついておれば、
それをポ升ンシャリー・アクティブ・メツセージとして
出rだけであった。(1) Messages specified as part of the tree that has progressed so far (ex, Ml7.M4 message) (2)
Messages that will become active in the near future (e.g. M
l) (3) Variable list related to the part of the tree obtained in the previous steps In the conventional CCT diagnostic equipment, the If you can only predict up to the observable node 1@ above the upper observable node and there is a message attached to that node,
It was only released as a Potential Active Message.
従って例えば、そのノードへの信号が故障で検知できな
い時、事象が伝播しているのにいつまでたってもそのノ
ードは、ボテンシャリー・アクティブ・ノードであると
判断される。予測処理中は、1つでもポテンシャリー・
アクティブと判断されると、ここで予測処理を終了し更
に上流側へは検索しないからプラントが最悪の状態にな
っているにもかかわらずそれを運転員にメツセージとし
て表示することができない
第8図の場合について説明すると、ノードN1がアクテ
ィブになってもノードNOが故障でアクティブになって
いないとすると、将来の予測を示すメソセージMTを表
示しないまま、実際のプラントでは、VT/Nと言う最
終状態の異常がおこっていることもある。Therefore, for example, when a signal to that node cannot be detected due to a failure, that node is determined to be a potentially active node, even though the event is propagating. During prediction processing, even one potential
If it is determined to be active, the prediction process ends here and the search is not performed further upstream, so even though the plant is in the worst condition, it cannot be displayed as a message to the operator (Figure 8). To explain the case, if node N1 becomes active but node NO is not active due to a failure, in an actual plant, the final message VT/N is displayed without displaying the message MT indicating the future prediction. There may be abnormal conditions.
それゆえ、運転員は表示された予測メソセージを確認し
、その異常に応じた修復操作をとることができないと言
う欠点があった。Therefore, there is a drawback in that the operator cannot check the displayed prediction message and take corrective action according to the abnormality.
この発明は上記のような従来のものの欠点を除去するた
めになされたもので、各実行周期毎に、プライマリ−・
ノードの観測結果とCCTロジック図からCCTのAN
D 、 ORゲートを演算し、全ノードの論理演算値の
ステータスを決定するが、予測処理時において、この論
理演算値が正しいとしてお断する。そして、あるノード
で論理演算値と観測値が異なっていれば、すぐにポテン
シャリー・アクティブ・ノードであると判断せず、その
該当するCCT上の上位側にある観測ノードのステータ
スを調らべることによりノードへの信号の遅れが、故障
かを判別して適確1こ運転員に予測メツセージを表示し
ようとするプラント診断装置を提供しようとするもので
ある。This invention was made in order to eliminate the drawbacks of the conventional ones as described above.
CCT AN from node observation results and CCT logic diagram
D. The OR gate is operated to determine the status of the logical operation values of all nodes, but this logical operation value is determined to be correct during prediction processing. Then, if the logical operation value and the observed value of a certain node are different, the node is not immediately determined to be a potentially active node, but the status of the observation node on the upper side of the corresponding CCT is checked. The present invention aims to provide a plant diagnostic device that can determine whether a delay in a signal to a node is due to a failure, and can accurately display a predicted message to the operator.
以下、この発明の一実施例を図について説明する。An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings.
と同一型式のものであり、(5′)は、従来の原因同定
及び予測をする機能以外に(3)と(4)に格納しであ
るプロセス情報とCCTを用いて、すべてのノードの論
理演算値の計算を実行する機能をもつ診断処理装置。(
7)は、(5′)で求めた各ノードの論理演算値を格納
する記憶装置。In addition to the conventional cause identification and prediction function, (5') uses the process information and CCT stored in (3) and (4) to calculate the logic of all nodes. A diagnostic processing device that has the ability to perform calculations on calculated values. (
7) is a storage device that stores the logical operation values of each node obtained in (5').
本発明のCCT実行処理方式を説明する。The CCT execution processing method of the present invention will be explained.
診断処理袋@(5’)では、記憶装置(3)内のプライ
マリ−・ノートの観測値を入力として記憶装置(4)の
CCTゲート・ロジックに従い、他のすべてのノードの
論理演算値を毎回、実行周期毎に演算し、記憶装!(7
)に格納する。In the diagnostic processing bag @ (5'), the observed value of the primary note in the storage device (3) is input, and according to the CCT gate logic of the storage device (4), the logical operation values of all other nodes are calculated every time. , calculate every execution cycle and store it in memory! (7
).
この演算は、プライマリ−・ノードの観測値のステータ
スの値や変化にかかわらず毎回ボトムアップで演算され
る。そして、記憶装置(7)に格納された論理演算結果
を基にCCTの診断処理を行なうが、本実行方式では予
測において、できるだけ正 気しく検出器の故障
と信号の遅れを判別して今後起こる事象を示唆できるよ
うにした点にある。This calculation is performed bottom-up every time, regardless of the status value or change of the observed value of the primary node. Then, CCT diagnostic processing is performed based on the logical operation results stored in the storage device (7), but in this execution method, when predicting, detector failures and signal delays are determined as correctly as possible to predict future occurrences. The point is that it allows us to suggest events.
論理演算結果が正しいとして診断を進めて行くので、ノ
ードの論理演算値と観測値が異なっていれば次のいずれ
かであると言える。Since we proceed with the diagnosis assuming that the logical operation result is correct, if the logical operation value and the observed value of a node are different, it can be said that one of the following is true.
■計器故障のため、観測結果は誤っている。■Observation results are incorrect due to instrument failure.
(2)事象は、すでにおこっているが計器遅れのためま
だ観測値に表われていない。(2) The event has already occurred, but it has not yet appeared in the observed values due to instrument lag.
■事象は今後起こるのであるが、今まだ起こっていない
。■The event will occur in the future, but it has not happened yet.
このうち■と■は計器出口の状態として事象は起こって
いないのであるから、同一の扱いができる。Of these, ■ and ■ can be treated as the same since no event has occurred as a state of the instrument outlet.
以下■を故障、■■を遅れと呼ぶことにする。Hereinafter, ■ will be referred to as failure, and ■■ will be referred to as delay.
予測は、エントリー・ノードより上位側の各ノードに対
して行なわれるが、そのノードの種類により処理が異な
るため、各項目別に記述する。Prediction is performed for each node above the entry node, but since the processing differs depending on the type of node, each item will be described separately.
(1)上位ノードが非観測の場合
この場合、論理演算の結果しかなく、かつこれは正しい
のであるから真ならばアクティブとし、偽ならば終了し
、次のエントリー・ノードへ行く。(1) When the upper node is unobserved In this case, there is only the result of a logical operation and it is correct, so if it is true, it is activated, and if it is false, it ends and goes to the next entry node.
(11)上位ノードの演算結果と観測値が等しい場合こ
の場合、論理演算の結果も観測結果も等しいので、この
結果は正しいと言える。従1、°て偽であれば終了し・
真であればアクティブなノードとする。(11) When the operation result of the upper node is equal to the observed value In this case, since the result of the logical operation and the observation result are equal, this result can be said to be correct. 1, If it is false, end.
If true, the node is considered active.
(III)上位のノードの演算結果と観測結果が等しく
ない場合
この時、演算結果が偽で観測結果が真の場合とその逆が
考えられる。演算結果は正しいのであるから、前者の場
合、計器故障である。後者の場合、観測値が故障か遅れ
である。このいずれであるかは、このノードだけでは、
不明なので更に上位の可振測点を調べる。すなわち、こ
の更に上位側を検索する機能が従来のものにはなかった
のである。(III) When the calculation result and the observation result of the upper node are not equal At this time, there are cases where the calculation result is false and the observation result is true, and vice versa. Since the calculation result is correct, in the former case, there is an instrument failure. In the latter case, the observed value is a failure or delay. Which of these is the case can be determined only by this node.
Since it is unknown, we will investigate higher vibration measurement points. In other words, the conventional system did not have a function to search further upstream.
(1v)上位ノードの上位ノードの観測値が真の時この
時、上位ノードの演算結果は真、観測結果は偽、上位ノ
ードの上位ノードの演算結果は真で観測結果は真である
。(1v) When the observed value of the upper node of the upper node is true At this time, the operation result of the upper node is true, the observation result is false, the operation result of the upper node of the upper node is true, and the observation result is true.
上位の上位ノードは真なので、少なくとも上位の上位ノ
ードが遅れているとは考えられない。また、2つの観測
器が連続して故障していることは考えないとすると、こ
れは、上位ノードが故障のため偽となり、上位の上位ノ
ードは正常でTrue を示したと考え、上位ノードは
真と見なしてアクティブとして上位へ進む。Since the higher-ranking node is true, it cannot be considered that at least the higher-ranking node is behind. Also, if we do not consider that two observation devices are out of order in a row, this means that the upper node is faulty and the result is false, and the upper node is normal and shows True; It is considered as active and advances to the top.
(V)上位ノードの上位ノードの観測値が偽の場合この
時、上位ノードの演算結果は真、観測結果は偽、上位の
上位ノードの演算結果が真で観測結果が偽である。(V) When the observed value of the upper node of the upper node is false In this case, the operation result of the upper node is true and the observation result is false, and the operation result of the upper node is true and the observation result is false.
この時も、2つの観測器が連続して故障していることは
考えないとすると、これは、上位のノードは遅れのため
偽になっているとして、ポテンシャリー・アクティブを
出して終了する。At this time as well, assuming that we do not consider that two observers are out of order in succession, the higher node assumes that it is false due to the delay, issues a potentially active signal, and ends the process.
もし、上位ノードは故障のため偽となり、上位の上位ノ
ードは遅れのため偽であったとしても、本来故障してい
るのであるからアクティブとしなければならないものを
ボテンシャリー・アクティブとしただけでありこれも上
位の上位ノードが時間が来て真となれば(1v)のロジ
ックより故障が発見でき、予測処理を実行できる。Even if the upper node is false due to a failure, and the upper node is false due to a delay, it is simply a bottentially active node that should have been active since it was malfunctioning. Also, if the upper node becomes true when the time comes, the fault can be discovered from the logic (1v) and the prediction process can be executed.
以上、のべた予測時の処理フローを第6図に示す。FIG. 6 shows the processing flow at the time of the above-mentioned prediction.
なお、上記実施例では、診断処理装置(6)を1つの構
成としたが、全ノードの論理演算値を計算する論理演算
部と診断部の2つに分離するという構成をとってもよく
、上記実施例と同様の効果を奏する。In the above embodiment, the diagnostic processing device (6) has a single configuration, but it may also be configured to be separated into two parts: a logic operation section that calculates the logic operation values of all nodes and a diagnosis section. It has the same effect as the example.
また記憶装置を各々別の構成としたが1つのハードウェ
ア構成としてもよく上記実施例と同様の効果を奏する。Further, although the storage devices are each configured separately, they may be configured as one hardware configuration and the same effects as in the above embodiments can be obtained.
以上のようにプラント診断装置を構成したので、検出器
に異常があっても運転員にプラントの異常の将来の伝播
の過程を示すことが可能となり、マンマシンシステムと
して運転員に密度の濃い情報 7を提供でき、詮
所の効率及びプラント運転稼動率を高める等の効果があ
る。By configuring the plant diagnosis device as described above, even if there is an abnormality in the detector, it is possible to show the operator the future propagation process of the abnormality in the plant, and as a man-machine system, the operator can receive dense information. 7, which has the effect of increasing the efficiency of the inspection station and the plant operation rate.
第1図は従来のプラント診断装置を示すブロック図、第
2図はプラント診断ロジックの1例を示すCCTの説明
図、第8図はCCTの実行処理例の説明用のCCT図、
第4図は第8図のCCTに対応する可観測ノードのステ
ータス例を示す図、第5図はこの発明による一実施例を
示すプラント診断装置のブロック図、第6図は予測の処
理フロー図である。
図において、(1)はデータ収集装置、(2)は第1の
演算処理装置、(3)は第1の記憶装置、(4)は第2
の記憶装置、(5)は診断処理装置、(5′)は全ノー
ドの論理演算機能も有する診断処理装置、(6)はブラ
ウン管表示装置、(7)は各ノードの論理演算値を格納
する第8の記憶装置。
なお図中、同一符号は同−又は相当部分を示す。
代理人 葛 野 信 −
第21′4
第4図Fig. 1 is a block diagram showing a conventional plant diagnosis device, Fig. 2 is an explanatory diagram of CCT showing an example of plant diagnosis logic, Fig. 8 is a CCT diagram for explaining an example of CCT execution processing,
FIG. 4 is a diagram showing an example of the status of observable nodes corresponding to the CCT in FIG. 8, FIG. 5 is a block diagram of a plant diagnosis device showing an embodiment of the present invention, and FIG. 6 is a prediction processing flow diagram. It is. In the figure, (1) is a data collection device, (2) is a first arithmetic processing device, (3) is a first storage device, and (4) is a second
storage device, (5) is a diagnostic processing device, (5') is a diagnostic processing device that also has a logic operation function for all nodes, (6) is a cathode ray tube display device, and (7) stores logic operation values of each node. Eighth storage device. In the drawings, the same reference numerals indicate the same or equivalent parts. Agent Shin Kuzuno - No. 21'4 Fig. 4
Claims (1)
式で記述した原因結果ツリーを演算処理することにより
、異常の第1原因をオンライン・リアル・タイムで同定
し、かつ将来の予測をしプラント運転員の総合判断をサ
ポートすることにより高信頼運転を可能とするプラント
診断装置において、予測時、一部の検出器からの入力信
号の遅れ、あるいは検出器の故障により異常であること
が検知できない事があっても、プラントの将来の状態を
予測できることを特徴とするプラント診断装置。By processing a cause-and-effect tree that describes the propagation sequence of various abnormal events that occur in a plant using logical formulas, the first cause of an abnormality can be identified online in real time, and future predictions can be made to help plant operators. Plant diagnostic equipment, which enables highly reliable operation by supporting comprehensive judgment, sometimes fails to detect abnormalities due to delays in input signals from some detectors or malfunctions of detectors during prediction. A plant diagnostic device characterized by being able to predict the future state of a plant.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57054201A JPS58168964A (en) | 1982-03-30 | 1982-03-30 | Diagnosis device for plant |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57054201A JPS58168964A (en) | 1982-03-30 | 1982-03-30 | Diagnosis device for plant |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS58168964A true JPS58168964A (en) | 1983-10-05 |
JPH0434165B2 JPH0434165B2 (en) | 1992-06-05 |
Family
ID=12963927
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP57054201A Granted JPS58168964A (en) | 1982-03-30 | 1982-03-30 | Diagnosis device for plant |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS58168964A (en) |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS57191591A (en) * | 1981-05-22 | 1982-11-25 | Nippon Atomic Ind Group Co | Method and device for diagnosing atomic power plant |
-
1982
- 1982-03-30 JP JP57054201A patent/JPS58168964A/en active Granted
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS57191591A (en) * | 1981-05-22 | 1982-11-25 | Nippon Atomic Ind Group Co | Method and device for diagnosing atomic power plant |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0434165B2 (en) | 1992-06-05 |
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