JPS58135941A - チツプ部品の装着検査装置 - Google Patents
チツプ部品の装着検査装置Info
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- JPS58135941A JPS58135941A JP57019236A JP1923682A JPS58135941A JP S58135941 A JPS58135941 A JP S58135941A JP 57019236 A JP57019236 A JP 57019236A JP 1923682 A JP1923682 A JP 1923682A JP S58135941 A JPS58135941 A JP S58135941A
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- Japan
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- printed circuit
- circuit board
- chip
- axis direction
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N21/956—Inspecting patterns on the surface of objects
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- Physics & Mathematics (AREA)
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- Chemical & Material Sciences (AREA)
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- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Closed-Circuit Television Systems (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、プリント基板上にリードレスのチップ部品を
装着する際に、そのチップ部品が所定位置に所定状態で
正しく装着されているが否かを検査する装置に関し、検
査工程を自動化することができ、正確にしかも高速に検
査をすることのできる装置を提供しようとするものであ
る。
装着する際に、そのチップ部品が所定位置に所定状態で
正しく装着されているが否かを検査する装置に関し、検
査工程を自動化することができ、正確にしかも高速に検
査をすることのできる装置を提供しようとするものであ
る。
最近、テレビジョン受像機等の小形化に伴い、プリント
基板に装着する抵抗等の部品としてリード線のないチッ
プ部品が多く用いられている。また、そのようなチップ
部品はプリント基板への装着を自動化することが容易で
装着装置も簡易化できるため、この点でも多用化されて
きている０ところが、このようなチップ部品をプリント
基板に装着する場合には、その装置工程の終了後にそれ
ぞれのチップ部品が所定の位置に所定の状態で正しく装
着されているか否かを検査しなければならないが、従来
には検査係員が目視によって１つ１つのチップ部品毎に
装着状態を検査するようにしていたため、その作業能率
がきわめて悪く、しかも、検査漏れや検査誤シが多くて
正確に検査できないという不都合があった。
基板に装着する抵抗等の部品としてリード線のないチッ
プ部品が多く用いられている。また、そのようなチップ
部品はプリント基板への装着を自動化することが容易で
装着装置も簡易化できるため、この点でも多用化されて
きている０ところが、このようなチップ部品をプリント
基板に装着する場合には、その装置工程の終了後にそれ
ぞれのチップ部品が所定の位置に所定の状態で正しく装
着されているか否かを検査しなければならないが、従来
には検査係員が目視によって１つ１つのチップ部品毎に
装着状態を検査するようにしていたため、その作業能率
がきわめて悪く、しかも、検査漏れや検査誤シが多くて
正確に検査できないという不都合があった。
そこで、本発明はかかる従来の欠点を解消して、検査工
程を自動化することができ、しかも、正確にかつ高速に
検査をすることのできる装置を提供することを目的とす
るものである。
程を自動化することができ、しかも、正確にかつ高速に
検査をすることのできる装置を提供することを目的とす
るものである。
このため、本発明においては、チップ部品が装着された
プリント基板に所定方向の斜め上方から照明光を照射し
、そのときチップ部品により形成される陰影をテレビカ
メラによって他の方向から撮影し、この撮影した陰影と
予め記憶させておいた基準陰影位置とを比較して、両者
の不一致を検出したときにチップ部品の装着が不良であ
ることを判定するようにしたことを特徴とするものであ
る。
プリント基板に所定方向の斜め上方から照明光を照射し
、そのときチップ部品により形成される陰影をテレビカ
メラによって他の方向から撮影し、この撮影した陰影と
予め記憶させておいた基準陰影位置とを比較して、両者
の不一致を検出したときにチップ部品の装着が不良であ
ることを判定するようにしたことを特徴とするものであ
る。
以下、本発明につき、その一実施例を示す図面を参照し
て詳細に説明する。
て詳細に説明する。
第１図はその全体的な構成を示すもので、１はチップ部
品が装着されたプリント基板２を所定の′検査位置にま
で搬送するコンベア、３ｘ、３Ｙはそのプリント基板２
にＸ軸方向およびＹ軸方向の斜め上方から照明光を照射
する照明装置、４ｘ。
品が装着されたプリント基板２を所定の′検査位置にま
で搬送するコンベア、３ｘ、３Ｙはそのプリント基板２
にＸ軸方向およびＹ軸方向の斜め上方から照明光を照射
する照明装置、４ｘ。
４Ｙはそのプリント基板２上に形成された陰影をＸ軸方
向およびＹ軸の照明装置３Ｘ、ｓＹの反対側から撮影す
るテレビカメラ、６はその撮影出方を用いて装着状態を
判定しまたその結果を表示する制御部である。
向およびＹ軸の照明装置３Ｘ、ｓＹの反対側から撮影す
るテレビカメラ、６はその撮影出方を用いて装着状態を
判定しまたその結果を表示する制御部である。
プリント基板２には′、第２図、第３図に示すように自
動部品装置によって゛多くのチップ部品６が装着されて
、コンベア１にょシ所定の検査位置に搬送されてくる。
動部品装置によって゛多くのチップ部品６が装着されて
、コンベア１にょシ所定の検査位置に搬送されてくる。
図示の例では、そのチップ部品６のうちの１つぼの装着
位置が誤って所定の装着位置（破線）からずれている場
合を示している。
位置が誤って所定の装着位置（破線）からずれている場
合を示している。
プリント基板２を所定位置に位置決めすると、まずＸ軸
方向用の照明装置３ｘに制御部５がら電源を供給して、
プリント基板２にＸ軸方向の左斜め上方からほぼ平行な
照明光を照射する。すると、この照射光によりチップ部
品６、ｄの右側に濃い陰影７，１が生じるので、この陰
影７，７′をＸ軸方向の右斜め上方からテレビカメラ４
ｘにより撮影する。図示実施例ではより正確な撮影をす
るために２台のテレビカメラ４ｘによって半分づつ分担
して撮影するようにしているが、もちろん、１台のみで
撮影するようにしてもよい。以下の説明では、１台のみ
で全体を撮影したものとして説明する。第４図にその撮
影した陰影画像８を示す。
方向用の照明装置３ｘに制御部５がら電源を供給して、
プリント基板２にＸ軸方向の左斜め上方からほぼ平行な
照明光を照射する。すると、この照射光によりチップ部
品６、ｄの右側に濃い陰影７，１が生じるので、この陰
影７，７′をＸ軸方向の右斜め上方からテレビカメラ４
ｘにより撮影する。図示実施例ではより正確な撮影をす
るために２台のテレビカメラ４ｘによって半分づつ分担
して撮影するようにしているが、もちろん、１台のみで
撮影するようにしてもよい。以下の説明では、１台のみ
で全体を撮影したものとして説明する。第４図にその撮
影した陰影画像８を示す。
そこで、この撮影して得た現実のプリント基板２上の陰
影７，７′の位置と、予め定めておいた所定の正しい装
着位置にチップ部品６を装着したときの基準となる陰影
の位置とを制御部５で比較して、自動的に装着位置の良
否を判定し、その結果を表示するようにする。図示実施
例の場合の基準陰影位置をあられすパターン９を第５図
に示す。とこで、１０が各チップ部品６の陰影の基準位
置をあられしている。
影７，７′の位置と、予め定めておいた所定の正しい装
着位置にチップ部品６を装着したときの基準となる陰影
の位置とを制御部５で比較して、自動的に装着位置の良
否を判定し、その結果を表示するようにする。図示実施
例の場合の基準陰影位置をあられすパターン９を第５図
に示す。とこで、１０が各チップ部品６の陰影の基準位
置をあられしている。
第６図に、制御部６における装着状態判定、表示回路の
一例を示す。図において、１１は同期盤で、システム全
体を同一の同期状態で動作させるために、水平・垂直同
期信号、色搬送波信号、各種クロック信号等の同期基準
信号を発生する。
一例を示す。図において、１１は同期盤で、システム全
体を同一の同期状態で動作させるために、水平・垂直同
期信号、色搬送波信号、各種クロック信号等の同期基準
信号を発生する。
まず、テレビカメラ４で上述のようにしてチップ部品６
．ｅ′装着済みのプリント基板２の陰影７゜プを撮影し
て得た陰影画像８の映像信号を、信号処理回路１２で一
定レベルでスライスする等シて２値信号に変換する。一
方、第５図のような基準陰影位置１ｏをあられすパター
ン９を予め作成しておき、これを磁気シートメモリある
いはＩＣメモリ等のパターンメモリ１３に予め記憶させ
ておく。そして、テレビカメラ４によるプリント基板２
の陰影７，７′の撮影と同期してパターンメモリ１３か
ら基準陰影位置１ｏのパターン信号を読み出し、比較回
路１４で両者を比較する。この比較動作は、丁度、第７
図に示すように撮影した陰影７．１と基準陰影位置１ｏ
とを重ね合わせてその一致状態を検出することに和尚す
る。従って、比較回路１４では、チップ部品ｄの陰影７
′のように基準陰影位置１ｏと一致しない陰影が存在し
たときに、その陰影１のチップ部品σの装着位置が正し
くないということを判定出力を発生する。
．ｅ′装着済みのプリント基板２の陰影７゜プを撮影し
て得た陰影画像８の映像信号を、信号処理回路１２で一
定レベルでスライスする等シて２値信号に変換する。一
方、第５図のような基準陰影位置１ｏをあられすパター
ン９を予め作成しておき、これを磁気シートメモリある
いはＩＣメモリ等のパターンメモリ１３に予め記憶させ
ておく。そして、テレビカメラ４によるプリント基板２
の陰影７，７′の撮影と同期してパターンメモリ１３か
ら基準陰影位置１ｏのパターン信号を読み出し、比較回
路１４で両者を比較する。この比較動作は、丁度、第７
図に示すように撮影した陰影７．１と基準陰影位置１ｏ
とを重ね合わせてその一致状態を検出することに和尚す
る。従って、比較回路１４では、チップ部品ｄの陰影７
′のように基準陰影位置１ｏと一致しない陰影が存在し
たときに、その陰影１のチップ部品σの装着位置が正し
くないということを判定出力を発生する。
そこで、この判定出力を用い、１個でも装着位置の正し
くないチップ部品ｄが存在したときに表示装置１５を駆
動して赤ランプを点灯させる等して表示する。
くないチップ部品ｄが存在したときに表示装置１５を駆
動して赤ランプを点灯させる等して表示する。
また、この判定出力を利用して、プリント基板２の面上
をたとえば縦１ｏ×横１０の区分に分割したときのいず
れの区分で装着位置の正しくないチップ部品ｄの陰影１
が検出されたか、また各区分毎に何個づつ検出されたか
をカウンタ１６で検出射数し、各区分毎にその検出個数
をあられす数字の文字パターン信号を文字発生回路１７
で発生する。同時に、縦１０×横１０の桝目を表示する
ためのパターン信号を表示用パターンメモリ１８に予め
記憶させておいてこれからそのパターン信号を読み出し
、合成回路１９で先の文字パターン信号と合成してから
ＣＲＴディスプレイ装置２゜に供給することにより、第
８図に示すように、桝目パターン２１と文°字パターン
２２とによって装着状態の正しくないチップ部品６′が
プリント基板２上のどの位置に何個あるかを表示する。
をたとえば縦１ｏ×横１０の区分に分割したときのいず
れの区分で装着位置の正しくないチップ部品ｄの陰影１
が検出されたか、また各区分毎に何個づつ検出されたか
をカウンタ１６で検出射数し、各区分毎にその検出個数
をあられす数字の文字パターン信号を文字発生回路１７
で発生する。同時に、縦１０×横１０の桝目を表示する
ためのパターン信号を表示用パターンメモリ１８に予め
記憶させておいてこれからそのパターン信号を読み出し
、合成回路１９で先の文字パターン信号と合成してから
ＣＲＴディスプレイ装置２゜に供給することにより、第
８図に示すように、桝目パターン２１と文°字パターン
２２とによって装着状態の正しくないチップ部品６′が
プリント基板２上のどの位置に何個あるかを表示する。
そこで、係員はこのディスプレイ画面２３を見て、正し
く装着されていないチップ部品ｄを直ちに探し出し、正
しく装着しなおす等の作業をすることができる。
く装着されていないチップ部品ｄを直ちに探し出し、正
しく装着しなおす等の作業をすることができる。
なお、全てのチップ部品６が正しい装着状態になってい
て比較回路１４から誤装着の判定出力が発生されない場
合には、文字発生回路１７で第９図のような表示文字２
４を表示する文字パターン信号を発生するようにしてお
けばよい。
て比較回路１４から誤装着の判定出力が発生されない場
合には、文字発生回路１７で第９図のような表示文字２
４を表示する文字パターン信号を発生するようにしてお
けばよい。
このようにして、テレビカメラ４ｘでプリント基板２上
のチップ部品６．ｅ／の陰影７．′ｆを撮影して得た画
像８と所定の基準陰影位置１ｏのパターン９とを比較す
ることにより、所定の位置に正しく装着されていないチ
ップ部品σがあった場合には直ちにこれを検出すること
ができる。しかも、このような検査を全て電子的に行な
うことができるだめ、きわめて単時間に能率良く検査を
することができ、かつ、見落しや見誤りがなくて正確な
検査をすることができる。
のチップ部品６．ｅ／の陰影７．′ｆを撮影して得た画
像８と所定の基準陰影位置１ｏのパターン９とを比較す
ることにより、所定の位置に正しく装着されていないチ
ップ部品σがあった場合には直ちにこれを検出すること
ができる。しかも、このような検査を全て電子的に行な
うことができるだめ、きわめて単時間に能率良く検査を
することができ、かつ、見落しや見誤りがなくて正確な
検査をすることができる。
なお、以上の説明ではＸ軸方向での照明と撮影による検
査工程を説明したが、チップ部品６が図示めようにいろ
いろな方向に装着されているときには、Ｘ軸方向のみな
らず、Ｙ軸方向からも同様の検査を行って、それらの総
合結果により装着状態の良否を判定するようにすればよ
い。
査工程を説明したが、チップ部品６が図示めようにいろ
いろな方向に装着されているときには、Ｘ軸方向のみな
らず、Ｙ軸方向からも同様の検査を行って、それらの総
合結果により装着状態の良否を判定するようにすればよ
い。
そのためには、上述のようなＸ軸方向の検査を完了した
後、今度はＹ軸方向用の照明装置３Ｙに電源を供給して
プリント基板２の上面をＹ軸方向の斜め上方から照射し
、そのときの陰影をテレビ）ψタラ４Ｙによって撮影す
るようにすればよい。
後、今度はＹ軸方向用の照明装置３Ｙに電源を供給して
プリント基板２の上面をＹ軸方向の斜め上方から照射し
、そのときの陰影をテレビ）ψタラ４Ｙによって撮影す
るようにすればよい。
そして、このようにＸ軸方向とＹ軸方向との両方から検
査する場合には、Ｘ軸方向における検査の際にはＸ軸方
向と直交する方向に配置されているチップ部品について
のみ検査し、Ｙ軸方向における検査の際にはＹ軸方向と
直交する方向に配置されているチップ部品についてのみ
検査をするようにすればよい。さらに、このような検査
結果をプリンタ２６によってプリントアウトするように
しておいてもよい。
査する場合には、Ｘ軸方向における検査の際にはＸ軸方
向と直交する方向に配置されているチップ部品について
のみ検査し、Ｙ軸方向における検査の際にはＹ軸方向と
直交する方向に配置されているチップ部品についてのみ
検査をするようにすればよい。さらに、このような検査
結果をプリンタ２６によってプリントアウトするように
しておいてもよい。
以上詳述したように、本発明の検査装置によれば、全て
電子的に検査処理を行なうことができるため、従来のよ
うに検査係員の目視によって検査していたものに比して
、プリント基板上へのチップ部品の装着状態の良否の検
査工程を完全自動化することができ、しかも、正確にか
つ効率良く高速に検査をすることができるものである。
電子的に検査処理を行なうことができるため、従来のよ
うに検査係員の目視によって検査していたものに比して
、プリント基板上へのチップ部品の装着状態の良否の検
査工程を完全自動化することができ、しかも、正確にか
つ効率良く高速に検査をすることができるものである。
第１図は本発明の一実施例におけるチップ部品の装着検
査装置の全体構成を示す斜視図、第２図は同装置のプリ
ント基板の照明・撮影部分の上面可、第３図はその側面
図、第４図は同装置で撮像した。陰影画像を示す平面図
、第６図は同装置に用いる基準陰影位置のパターン図、
第６図は同装置の判定表示部分のブロック図、第７図は
同装置における比較動作を説明する平面図、第８図、第
９図は同装置における表示状態を示す正面図である。 ２・・・・・・プリント基板、３Ｘ、３Ｙ・・・・・・
照明装置、４Ｘ 、ａＹ・・・・・・テレビカメラ、６
・・・・・・制御部、６゜６′ ・・・・・・チップ部
品、７，７’・・・・・・陰影、８・・・・・・撮影画
像、９・・・・・・基準陰影位置パターン、１０・・・
・・・基準陰影位置、１１・・・・・・同期盤、１２・
・・・・・信号処理回路、１３・・・・・・基準陰影位
置パターンメモリ、１４・・・・・・比較回路、１６・
・・・・・表示装置、１６・・・・・・カウンタ、１７
・・・・・・文字発生回路、１８・・・・・・表示用パ
ターンメモリ、１９・・・・・・合成回路、２０・・印
・ＣＲＴディスプレイ装置、２１・・・・・・桝目パタ
ーン、２２．２４・・・・・・文字パターン。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか１名第４
図 第６図 第７図
査装置の全体構成を示す斜視図、第２図は同装置のプリ
ント基板の照明・撮影部分の上面可、第３図はその側面
図、第４図は同装置で撮像した。陰影画像を示す平面図
、第６図は同装置に用いる基準陰影位置のパターン図、
第６図は同装置の判定表示部分のブロック図、第７図は
同装置における比較動作を説明する平面図、第８図、第
９図は同装置における表示状態を示す正面図である。 ２・・・・・・プリント基板、３Ｘ、３Ｙ・・・・・・
照明装置、４Ｘ 、ａＹ・・・・・・テレビカメラ、６
・・・・・・制御部、６゜６′ ・・・・・・チップ部
品、７，７’・・・・・・陰影、８・・・・・・撮影画
像、９・・・・・・基準陰影位置パターン、１０・・・
・・・基準陰影位置、１１・・・・・・同期盤、１２・
・・・・・信号処理回路、１３・・・・・・基準陰影位
置パターンメモリ、１４・・・・・・比較回路、１６・
・・・・・表示装置、１６・・・・・・カウンタ、１７
・・・・・・文字発生回路、１８・・・・・・表示用パ
ターンメモリ、１９・・・・・・合成回路、２０・・印
・ＣＲＴディスプレイ装置、２１・・・・・・桝目パタ
ーン、２２．２４・・・・・・文字パターン。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか１名第４
図 第６図 第７図
Claims (1)
- チップ部品が装着されたプリント基板に所定方向の斜め
上方から照明光を照射し、上記チップ部品により形成さ
れる陰影をテレビカメラによって他の方向から撮影し、
この撮影した陰影と予め記憶させておいた基準陰影位置
とを比較して両者の不一致を検出したときに上記チップ
部品の装着状態が不良であることを判定するようにした
ことを特徴とするチップ部品の装着検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57019236A JPS58135941A (ja) | 1982-02-08 | 1982-02-08 | チツプ部品の装着検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57019236A JPS58135941A (ja) | 1982-02-08 | 1982-02-08 | チツプ部品の装着検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58135941A true JPS58135941A (ja) | 1983-08-12 |
| JPH0330812B2 JPH0330812B2 (ja) | 1991-05-01 |
Family
ID=11993748
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57019236A Granted JPS58135941A (ja) | 1982-02-08 | 1982-02-08 | チツプ部品の装着検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58135941A (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6041300A (ja) * | 1983-08-16 | 1985-03-04 | 富士通テン株式会社 | チップ部品の実装状況確認方法 |
| JPS60231400A (ja) * | 1984-04-28 | 1985-11-16 | 日本ビクター株式会社 | 検査装置 |
| JPS61133700A (ja) * | 1984-12-03 | 1986-06-20 | 松下電器産業株式会社 | 電子部品実装機の検出装置 |
| JPS6281800A (ja) * | 1985-10-07 | 1987-04-15 | 東京エレクトロン株式会社 | 電子部品の取り付け状態検査方式 |
| JPS62239040A (ja) * | 1986-04-11 | 1987-10-19 | Tokyo Electron Ltd | 電子部品の取り付け状態検査方式 |
| JPS6393489A (ja) * | 1986-10-08 | 1988-04-23 | Nec Corp | 位置検出方式 |
| JPH0685499A (ja) * | 1991-09-13 | 1994-03-25 | Tokyo Electron Ltd | 状態検査方法及びその装置 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010175558A (ja) * | 2010-04-01 | 2010-08-12 | Daiichi Jitsugyo Viswill Co Ltd | 検査装置 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5530659A (en) * | 1978-08-25 | 1980-03-04 | Mitsubishi Electric Corp | Parts inspecting device for print substrate |
-
1982
- 1982-02-08 JP JP57019236A patent/JPS58135941A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5530659A (en) * | 1978-08-25 | 1980-03-04 | Mitsubishi Electric Corp | Parts inspecting device for print substrate |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| JPS60231400A (ja) * | 1984-04-28 | 1985-11-16 | 日本ビクター株式会社 | 検査装置 |
| JPS61133700A (ja) * | 1984-12-03 | 1986-06-20 | 松下電器産業株式会社 | 電子部品実装機の検出装置 |
| JPS6281800A (ja) * | 1985-10-07 | 1987-04-15 | 東京エレクトロン株式会社 | 電子部品の取り付け状態検査方式 |
| JPH0568880B2 (ja) * | 1985-10-07 | 1993-09-29 | Tokyo Electron Ltd | |
| JPS62239040A (ja) * | 1986-04-11 | 1987-10-19 | Tokyo Electron Ltd | 電子部品の取り付け状態検査方式 |
| JPS6393489A (ja) * | 1986-10-08 | 1988-04-23 | Nec Corp | 位置検出方式 |
| JPH0685499A (ja) * | 1991-09-13 | 1994-03-25 | Tokyo Electron Ltd | 状態検査方法及びその装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0330812B2 (ja) | 1991-05-01 |
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