JPS58125242A - 光学的情報信号再生装置のトラツキング誤差検出方式 - Google Patents
光学的情報信号再生装置のトラツキング誤差検出方式Info
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- JPS58125242A JPS58125242A JP57008304A JP830482A JPS58125242A JP S58125242 A JPS58125242 A JP S58125242A JP 57008304 A JP57008304 A JP 57008304A JP 830482 A JP830482 A JP 830482A JP S58125242 A JPS58125242 A JP S58125242A
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- G11B7/0956—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following specially adapted for discs, e.g. for compensation of eccentricity or wobble to compensate for tilt, skew, warp or inclination of the disc, i.e. maintain the optical axis at right angles to the disc
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
情報信号と対応するピットの配列による記録跡が形成さ
れている信号面を備えている記録媒体における信号面に
対して、記録跡巾と略々等しい直径寸法となるように集
光された光のスポットを投射し、ピットによって強度変
調された反射光を、記録媒体の信号面における記録跡の
延在方向と、記録媒体の信号面への投射光の光軸とを今
む平面によって２分割された光検出器で受光して、情報
信号を光学的に再生しうるようになされている光学的情
報信号再生装置において、記録媒体がらの反射光の光の
強度分布がトラッキング誤差によって偏ることを利用し
てトラッキング誤差の検出を行なうようにする、いわゆ
るプッシュプル法によるトラッキング誤差検出方式は、
光学系の構成が中綿なものとなってコスト的に有利なた
めに広く使用されている。
れている信号面を備えている記録媒体における信号面に
対して、記録跡巾と略々等しい直径寸法となるように集
光された光のスポットを投射し、ピットによって強度変
調された反射光を、記録媒体の信号面における記録跡の
延在方向と、記録媒体の信号面への投射光の光軸とを今
む平面によって２分割された光検出器で受光して、情報
信号を光学的に再生しうるようになされている光学的情
報信号再生装置において、記録媒体がらの反射光の光の
強度分布がトラッキング誤差によって偏ることを利用し
てトラッキング誤差の検出を行なうようにする、いわゆ
るプッシュプル法によるトラッキング誤差検出方式は、
光学系の構成が中綿なものとなってコスト的に有利なた
めに広く使用されている。
第１図は、前記したプッシュプル法によるトラッキング
誤差検出方式が適用された光学的情報信号再生装置の基
本的な構成を示す概略図であって、この第１図において
、１は光源であって、死線、１１と・しては例えば半導
体レーザが用いられる。そして光源１は微小な発光部か
ら直線偏光を出射する。
誤差検出方式が適用された光学的情報信号再生装置の基
本的な構成を示す概略図であって、この第１図において
、１は光源であって、死線、１１と・しては例えば半導
体レーザが用いられる。そして光源１は微小な発光部か
ら直線偏光を出射する。
光源ｌから出射された光は、コリメートレンズ２によっ
て平行光となされた後に偏光プリズム３を透過し、次い
でλ／４波長波長板上って円偏光となされてから集光レ
ンズ５により集光されて記録媒体６（ディスク６）の信
号面上に微小な径の光７、ポットを生じさせる。
て平行光となされた後に偏光プリズム３を透過し、次い
でλ／４波長波長板上って円偏光となされてから集光レ
ンズ５により集光されて記録媒体６（ディスク６）の信
号面上に微小な径の光７、ポットを生じさせる。
ディスク６の信号面は高い反射率を有するものとなされ
ているから、前記のようにして集光しノズ５によって集
光された光はディスク６の信号面で反射して逆向きの円
偏光となり再び集光し／ズ５を通り）Ｖ／４波長板４に
与えられる。λ／４波長板４において前記の反射光は一
入射光と直交する偏れる。
ているから、前記のようにして集光しノズ５によって集
光された光はディスク６の信号面で反射して逆向きの円
偏光となり再び集光し／ズ５を通り）Ｖ／４波長板４に
与えられる。λ／４波長板４において前記の反射光は一
入射光と直交する偏れる。
前記の光検出器７は、ディスク６の信号面における記録
跡の延在方向と、ディスク６の信号面に投射された光の
光軸とを含む面によって分割された２つの受光素子７
ｍ ＋ ７ ｂを備えており、前記の２つの受光素子７
ａ＋７ｂからの出力信号が加算器８と減算器９とに与え
られ、加算器８からは再生信号が出力端子１０に送出さ
れ、また減算器９からはトラノキ／グ誤差信号が出力端
子１１に送出される。
跡の延在方向と、ディスク６の信号面に投射された光の
光軸とを含む面によって分割された２つの受光素子７
ｍ ＋ ７ ｂを備えており、前記の２つの受光素子７
ａ＋７ｂからの出力信号が加算器８と減算器９とに与え
られ、加算器８からは再生信号が出力端子１０に送出さ
れ、また減算器９からはトラノキ／グ誤差信号が出力端
子１１に送出される。
なお図中のｔは光検出器７における分割線である。
第１図に示す光学的情報信号再生装置では、前記の説明
のように光検出器７における２つの受光素子７ａ 、７
ｂからの出力信号の和によって再生信号出力が得られ、
また、光検出器７における２つの受光素子７ａ ＋７ｂ
からの出力信号の差によってトラッキング誤差信号が得
られるので、装置の構成が簡単なものになるという特徴
を有するが、第１図示の光学的情報信号再生装置におい
て、正確なトラッキング誤差信号が得られろ状態は、デ
ィスク６の信号面がそれに投射される光の光軸に対して
直交している場合だけであり、ディスク６の信号面が記
録跡の巾方向に傾斜している場合には、ディスク６の信
号面からの反射光の光軸が傾斜し、それにより反射光の
光軸が光検出器７における２勺の受光素子７ ａ ＋
７ ｂの分割線の位置から移動してしまい、２つの受光
素子７ａ＋７ｂの出力信号の差信叫が正しいトラッキン
グ誤差情報を示さないものとなるという重大な欠点を有
している。
のように光検出器７における２つの受光素子７ａ 、７
ｂからの出力信号の和によって再生信号出力が得られ、
また、光検出器７における２つの受光素子７ａ ＋７ｂ
からの出力信号の差によってトラッキング誤差信号が得
られるので、装置の構成が簡単なものになるという特徴
を有するが、第１図示の光学的情報信号再生装置におい
て、正確なトラッキング誤差信号が得られろ状態は、デ
ィスク６の信号面がそれに投射される光の光軸に対して
直交している場合だけであり、ディスク６の信号面が記
録跡の巾方向に傾斜している場合には、ディスク６の信
号面からの反射光の光軸が傾斜し、それにより反射光の
光軸が光検出器７における２勺の受光素子７ ａ ＋
７ ｂの分割線の位置から移動してしまい、２つの受光
素子７ａ＋７ｂの出力信号の差信叫が正しいトラッキン
グ誤差情報を示さないものとなるという重大な欠点を有
している。
第２図（ａ）〜（ｄ）図は、第１図示のような構成形裡
を有する光学的情報信号再生装置におけろ子連の問題点
を説明するための図であって、第２図（ａｌ〜ｆｄ１図
において、６はディスク、５は集光し／ズ、７は光検出
器である。また、第２図（ａｔ〜（ｄｉ図は、第１図中
における偏光プリズム３とｖ４波長板４とを省き、光検
出器７０分割線ｔの位置に光軸がある光が集光し／ズ５
を通してディスク６の信号面に投射され、ディスク６の
信号面からの反射光が集光し／ズ５を通して光検出器７
の方へ戻ってくるものとして図示されている。
を有する光学的情報信号再生装置におけろ子連の問題点
を説明するための図であって、第２図（ａｌ〜ｆｄ１図
において、６はディスク、５は集光し／ズ、７は光検出
器である。また、第２図（ａｔ〜（ｄｉ図は、第１図中
における偏光プリズム３とｖ４波長板４とを省き、光検
出器７０分割線ｔの位置に光軸がある光が集光し／ズ５
を通してディスク６の信号面に投射され、ディスク６の
信号面からの反射光が集光し／ズ５を通して光検出器７
の方へ戻ってくるものとして図示されている。
第２図（ａｔ図はディスク６の信号面が入射光の光軸Ｐ
ｉと直交するような状態で存在する場合の入射光の光軸
Ｐｉと反射光の光軸Ｐ「とを示しており、また第２図（
ｂ）ｌ匈は、ディスク６の信号面が、集光レンズ５０合
焦点０の位置において、入射光の光軸Ｐｉと直交する状
態から角度θだけ傾斜するような状態で存在する場合の
入射光の光軸Ｐ】と反射光の光軸Ｐｒとを示し、さらに
第２図（ｃｌ 、 （ｄｉ図は、ディスク６の信号面が
集光レンズ５の合焦点０の位置からずれていて、しかも
入射光の光軸Ｐｉに対して直交する状態にない場合にお
ける入射光の光軸Ｐ１と反射光の光軸Ｐｒとを示してい
る。
ｉと直交するような状態で存在する場合の入射光の光軸
Ｐｉと反射光の光軸Ｐ「とを示しており、また第２図（
ｂ）ｌ匈は、ディスク６の信号面が、集光レンズ５０合
焦点０の位置において、入射光の光軸Ｐｉと直交する状
態から角度θだけ傾斜するような状態で存在する場合の
入射光の光軸Ｐ】と反射光の光軸Ｐｒとを示し、さらに
第２図（ｃｌ 、 （ｄｉ図は、ディスク６の信号面が
集光レンズ５の合焦点０の位置からずれていて、しかも
入射光の光軸Ｐｉに対して直交する状態にない場合にお
ける入射光の光軸Ｐ１と反射光の光軸Ｐｒとを示してい
る。
ディスク６の信号面が、入射光の光軸Ｐｉに直交してい
る場合には、ディスク６の信号面が第２図（ａ１図の実
線図示のように集光レンズ５０合焦面と一致している状
態にあっても、あるいは、集光レンズ５０合焦点Ｏの位
置から光軸上で前後している状ｆ１４ＶＣあってもディ
スク６の信号面がらの反射光の光軸Ｐｒは入射光の光軸
Ｐｉと一致するが、ディスク６の信号面が入射光の光軸
Ｐｉと直交しない第２図ｔｂ＋〜（ｄ）図示の場合には
、ディスク６の信号面からの反射光の光軸Ｐｒは、入射
光の光軸Ｐｒとは一致せず、前記した反射光はそれの光
軸Ｐｒが光検出器７０分割線ｔの位置からｙだけ離れた
状態で光検出器７に到達するから、第２図（ｂｌ〜（ｄ
１図示のようにディスク６の信号面が傾斜している状態
においては、光検出器７に与えられる反射光の中心が光
検出器７の分割線ｔの位置からずれることになる。
る場合には、ディスク６の信号面が第２図（ａ１図の実
線図示のように集光レンズ５０合焦面と一致している状
態にあっても、あるいは、集光レンズ５０合焦点Ｏの位
置から光軸上で前後している状ｆ１４ＶＣあってもディ
スク６の信号面がらの反射光の光軸Ｐｒは入射光の光軸
Ｐｉと一致するが、ディスク６の信号面が入射光の光軸
Ｐｉと直交しない第２図ｔｂ＋〜（ｄ）図示の場合には
、ディスク６の信号面からの反射光の光軸Ｐｒは、入射
光の光軸Ｐｒとは一致せず、前記した反射光はそれの光
軸Ｐｒが光検出器７０分割線ｔの位置からｙだけ離れた
状態で光検出器７に到達するから、第２図（ｂｌ〜（ｄ
１図示のようにディスク６の信号面が傾斜している状態
においては、光検出器７に与えられる反射光の中心が光
検出器７の分割線ｔの位置からずれることになる。
そして、一般に光源１がら出射する光は、そＩＬの中心
が最大の強度を示すような強度分布を有しているもので
あるがら、前記のように反射光の中心が光検出器の分割
＠ｔの位置からずれた場合には、反射光の中心が位置す
る受＃、素子の出力の方が他方の受光素子の出力よりも
犬となる。このことを、第２図（ｂｌ〜ｆｄｉ図につい
ていうと、受光素子７ａの出力の方が受光素子７ｂの出
方よりも大きくなるということである。
が最大の強度を示すような強度分布を有しているもので
あるがら、前記のように反射光の中心が光検出器の分割
＠ｔの位置からずれた場合には、反射光の中心が位置す
る受＃、素子の出力の方が他方の受光素子の出力よりも
犬となる。このことを、第２図（ｂｌ〜ｆｄｉ図につい
ていうと、受光素子７ａの出力の方が受光素子７ｂの出
方よりも大きくなるということである。
したがって、光検出器７９２つの受光素子７ａ。
７ｂの出力信号の差によってトラッキング誤差信号を得
るようにしている第１図示の光学的情報信号再生装置で
は、ディスク６の信号面が傾斜した状態において鳩のト
ラッキング誤差信号が生じろことに赤なり、トラッキン
グ制御動作が良好に行なわれ得ないことになる。
るようにしている第１図示の光学的情報信号再生装置で
は、ディスク６の信号面が傾斜した状態において鳩のト
ラッキング誤差信号が生じろことに赤なり、トラッキン
グ制御動作が良好に行なわれ得ないことになる。
本発明は、上述のようにディスクの信号面が傾斜したと
きに生じる偽のトラッキング誤差信号が良好に除去され
た状態でのトラッキング誤差検出が容易に行なわれうる
ようにした光学的情報信号内生装置のトラッキング誤差
検出方式を提供するものであり、以下、添付図面を参照
しながら本発明方式の具体的内容を詳細に説明する。
きに生じる偽のトラッキング誤差信号が良好に除去され
た状態でのトラッキング誤差検出が容易に行なわれうる
ようにした光学的情報信号内生装置のトラッキング誤差
検出方式を提供するものであり、以下、添付図面を参照
しながら本発明方式の具体的内容を詳細に説明する。
まず、第３り１乃至第８図などの各図を参照して本発明
の光学的情報信号再生装置のトラッキング誤差検出方式
の構成原理及び動作原理の概略につによって形成されて
いる配置跡１と、集光レンズ５により集光された光のス
ポットの色々な投射位置とを図示説明した平面図であっ
て、第３図中のＣ−Ｅは容具なる投射位置における光の
スポットを示している。そして第３図中の光のスポット
ｃ。
の光学的情報信号再生装置のトラッキング誤差検出方式
の構成原理及び動作原理の概略につによって形成されて
いる配置跡１と、集光レンズ５により集光された光のス
ポットの色々な投射位置とを図示説明した平面図であっ
て、第３図中のＣ−Ｅは容具なる投射位置における光の
スポットを示している。そして第３図中の光のスポット
ｃ。
Ｄは記録跡ｍの中心に光のスポットの中心が位置してい
る状態における光のスポットであり、光のスポットＣは
ビット１２の中心と光のスポットの中心とが一致してい
る場合、光のスポットＤはビット１２とビット１２との
中間の部分（以下、ランドの部分と記載されることもあ
る）に九のスポットが位置している場合をそれぞれ示し
てぃする。
る状態における光のスポットであり、光のスポットＣは
ビット１２の中心と光のスポットの中心とが一致してい
る場合、光のスポットＤはビット１２とビット１２との
中間の部分（以下、ランドの部分と記載されることもあ
る）に九のスポットが位置している場合をそれぞれ示し
てぃする。
また、第３図中において、光のスポットＥ、Ｆは、記録
跡ｍの中心と光のスポットの中心とが、ずれている場合
の光のス、Ｐノドであり、光のスポットＥはランドの部
分にある光のスポットを７Ｊマシ、光のスポラ）Ｆは、
ビン目２とランドの部分とに光のスポットがまたがって
いる状態における光のスポットを示している。
跡ｍの中心と光のスポットの中心とが、ずれている場合
の光のス、Ｐノドであり、光のスポットＥはランドの部
分にある光のスポットを７Ｊマシ、光のスポラ）Ｆは、
ビン目２とランドの部分とに光のスポットがまたがって
いる状態における光のスポットを示している。
ディスク６におけろビット１２の底面は、ランドの部分
に対して入射光の波長λの１／４よりもやや小さな値の
段差（深さｄ）を有するものとなされているから、光の
スポットが第３図中のＣの位置にある場合におけるディ
スク６がらの反射光（０次回折光）は、ピッ目２の底面
部分における反射光とランドの部分における反射光との
干渉によって極小の強度のものとなり、また、光のスポ
ットがランドの部分だけに投射されている第３図中のり
、Ｅの場合には、ディスク６からの反射光の強度は極大
となる。
に対して入射光の波長λの１／４よりもやや小さな値の
段差（深さｄ）を有するものとなされているから、光の
スポットが第３図中のＣの位置にある場合におけるディ
スク６がらの反射光（０次回折光）は、ピッ目２の底面
部分における反射光とランドの部分における反射光との
干渉によって極小の強度のものとなり、また、光のスポ
ットがランドの部分だけに投射されている第３図中のり
、Ｅの場合には、ディスク６からの反射光の強度は極大
となる。
ところが、光のスポットが第３図中の光のスフ１５ツト
Ｆのように、光のスポットの中心がビット１２の中心か
らずれているときにおけるビット１２にょ−）て反射光
に与えられる強度変調の態様は光軸の両側について異な
ったものとなる。第４図は、第３図中の光のスポラ）Ｆ
の状態を拡大して図示し−た平面図であって、また、第
５図は第４図中のＩ−１線位置における断面図である。
Ｆのように、光のスポットの中心がビット１２の中心か
らずれているときにおけるビット１２にょ−）て反射光
に与えられる強度変調の態様は光軸の両側について異な
ったものとなる。第４図は、第３図中の光のスポラ）Ｆ
の状態を拡大して図示し−た平面図であって、また、第
５図は第４図中のＩ−１線位置における断面図である。
第４図におい′て、Ｓａはランドの部分を照射している
スポツ）Ｆの部分を示し、また、ｓｂはビット１２の底
面の部分を照射しているスポットＦの部分を示している
。
スポツ）Ｆの部分を示し、また、ｓｂはビット１２の底
面の部分を照射しているスポットＦの部分を示している
。
既述のように、ビット１２の底面はう／ドの部分に対し
て段差ｄだけ凹んでいるから、スポットＦにおける部分
Ｓａからの反射光と部分ｓｂからの反射光とは位相が異
なるものとなっている。それで、第４図示のように、ラ
ンドの部分とピント１２０部分との双方にまたがって光
のスポラ）Ｆが存在している状態の場合には、ランドの
部分とビット１２の底面の部分とにそれぞれ個別の点光
源Ｓａ 、Ｓｂが距離ｔを隔てて存在しているものと考
えてもよい。
て段差ｄだけ凹んでいるから、スポットＦにおける部分
Ｓａからの反射光と部分ｓｂからの反射光とは位相が異
なるものとなっている。それで、第４図示のように、ラ
ンドの部分とピント１２０部分との双方にまたがって光
のスポラ）Ｆが存在している状態の場合には、ランドの
部分とビット１２の底面の部分とにそれぞれ個別の点光
源Ｓａ 、Ｓｂが距離ｔを隔てて存在しているものと考
えてもよい。
さて、ディスク６に垂直に入射した光が、ラントの部分
とビット１２の底面の部分とを、第５図中の距ｆｌｉｔ
だけ隔ててそれぞれ点光源とみなせる程に微小な面積を
照射するときに、ランドの部分とピッ）１２の底面の部
分とにおける反射光は、単孔による回折を生じて第５図
中に示すようにψ方向へ回折する。
とビット１２の底面の部分とを、第５図中の距ｆｌｉｔ
だけ隔ててそれぞれ点光源とみなせる程に微小な面積を
照射するときに、ランドの部分とピッ）１２の底面の部
分とにおける反射光は、単孔による回折を生じて第５図
中に示すようにψ方向へ回折する。
そして、第５図における図中の左側への仲」折光イ、Ｏ
の光路差Δ１と右側への回折光ハ、二の光路差Δ２とは
それぞれ次のように示される。
の光路差Δ１と右側への回折光ハ、二の光路差Δ２とは
それぞれ次のように示される。
Δ、： ｄ （１＋ｃｏｓψ） 十ｔｓｉｎψキ２６＋
ｔψ （ただし、ψ〈１） ・・・（１）Δ２＝ ｄ
（１＋ ｃｏａψ） −ｔｓｉｎψキ２ｄ −１ψ
（？−” Ｌ、ψく１） ・・・（２）前記の（１）
、 （２）式中におけるｄ、すなわち、ビット１２の深
さｄは、入射光の波長λの１／４よりも小さく、例えば
Ｍ５〜．Ｍ６とされているから、（１）式で示される光
路差Δ１はｖ２に近づき、また、（２）式で示される光
路差Δ２は２λ１５〜２λ／６よりも小さくなる。した
がって、第５図中で左側に回折される光は干渉によって
強度が小さくなり、逆嶋右側に回折される光は強度が大
きくなる。そして、前記した左右の回折光が、光検出器
７における２つの受光素子７ａ、７ｂで受光された場合
には、光のスポットＦがピッ）１２の中心、すなわち記
録跡■の中心から左に変位している状態を示す信号が出
力端子１１に現われる。ピッ）１２の側壁１２ａは、第
５図に示すように傾斜しているので、側壁１２ａの部分
へ照射された光は図中の右側へ反射され、したがって、
右側へ同う光の強度は側壁１２ａからの反射光も加わる
ために一層大きくなる。
ｔψ （ただし、ψ〈１） ・・・（１）Δ２＝ ｄ
（１＋ ｃｏａψ） −ｔｓｉｎψキ２ｄ −１ψ
（？−” Ｌ、ψく１） ・・・（２）前記の（１）
、 （２）式中におけるｄ、すなわち、ビット１２の深
さｄは、入射光の波長λの１／４よりも小さく、例えば
Ｍ５〜．Ｍ６とされているから、（１）式で示される光
路差Δ１はｖ２に近づき、また、（２）式で示される光
路差Δ２は２λ１５〜２λ／６よりも小さくなる。した
がって、第５図中で左側に回折される光は干渉によって
強度が小さくなり、逆嶋右側に回折される光は強度が大
きくなる。そして、前記した左右の回折光が、光検出器
７における２つの受光素子７ａ、７ｂで受光された場合
には、光のスポットＦがピッ）１２の中心、すなわち記
録跡■の中心から左に変位している状態を示す信号が出
力端子１１に現われる。ピッ）１２の側壁１２ａは、第
５図に示すように傾斜しているので、側壁１２ａの部分
へ照射された光は図中の右側へ反射され、したがって、
右側へ同う光の強度は側壁１２ａからの反射光も加わる
ために一層大きくなる。
光のスポットが第３図中のり、Ｅのようにランドの部分
だけに在る場合には、光のスポットＤ。
だけに在る場合には、光のスポットＤ。
Ｅは単一の光源となり、光検出器７０２つの受光素子７
ａ＋７ｂに与えられる光量は、トラッキング誤差の有無
とは無関係に常に等しくなる。
ａ＋７ｂに与えられる光量は、トラッキング誤差の有無
とは無関係に常に等しくなる。
であったが、次にディスク６０面が入射光の光軸に対し
て垂直でない状態（以下、ディスク６が傾斜している状
態という）の場合について説明する。
て垂直でない状態（以下、ディスク６が傾斜している状
態という）の場合について説明する。
ディスク６の面が傾斜した場合には、ディスク６からの
反射光の光軸Ｐｒは第２図（ｂ）〜（ｄｉ図に示されて
いるように、光検出器７０面において入射光の光軸Ｐｉ
からｙだけ離れるから、光検出器７における２つの受光
素子７ａ ＋７ｂの出力信号間にはディスク６の傾斜と
対応して差が生じることになる。
反射光の光軸Ｐｒは第２図（ｂ）〜（ｄｉ図に示されて
いるように、光検出器７０面において入射光の光軸Ｐｉ
からｙだけ離れるから、光検出器７における２つの受光
素子７ａ ＋７ｂの出力信号間にはディスク６の傾斜と
対応して差が生じることになる。
前記のように、ディスク６の面の傾斜に応じて光検出器
７ａ ＋７ｂの出力信号間に生じろ差信号は、光のスポ
ットが第３図のＣ−Ｆの何れの状態のものであっても現
われるのであるが、光のスポットが第３図中のＣ，Ｆの
ようにランドの部分とビットの部分とにまたがって存在
している状態における光検出器７の２つの受光素子７ａ
、７ｂの差信号は、既述したトラッキング誤差情報とデ
ィスク６の傾斜情報との双方の情報に基づいて生じてい
るものであり、また、光のスポットが第３図中のり、Ｅ
σ）ように、光のスポットの全体がランドの部分に在る
状態における光検出器７０２つの受光素子７ｍ＋７ｂか
らの出力信号間の差信号は、ディスク６の傾斜情報を示
している。
７ａ ＋７ｂの出力信号間に生じろ差信号は、光のスポ
ットが第３図のＣ−Ｆの何れの状態のものであっても現
われるのであるが、光のスポットが第３図中のＣ，Ｆの
ようにランドの部分とビットの部分とにまたがって存在
している状態における光検出器７の２つの受光素子７ａ
、７ｂの差信号は、既述したトラッキング誤差情報とデ
ィスク６の傾斜情報との双方の情報に基づいて生じてい
るものであり、また、光のスポットが第３図中のり、Ｅ
σ）ように、光のスポットの全体がランドの部分に在る
状態における光検出器７０２つの受光素子７ｍ＋７ｂか
らの出力信号間の差信号は、ディスク６の傾斜情報を示
している。
それで、本発明の光学的情報信号再生装襞のトラノ牒／
グ誤差検出方式では、ディスクの記録跡を光のスポット
が辿るときにビットの部分とランドの部分とにおりてそ
れぞれ異なる強度に変調されている反射光が光検出器７
によって光電変換されることによって得られる変調信号
を、光のスポットの全体がランドの部分に在る状態で得
られる信号成分、すなわち、トラッキング誤差情報を含
んでいない信号成分によって補正することにより、ディ
スク６が傾斜していても光検出器７における２つの受光
素子７ａ 、７ｂがらの出力信号の差信号によりトラッ
キング誤差信号が得られるようにするのであるが、次に
、前記のような本発明方式の動作が確実に行なわれ得る
ということを数式をも用いて具体的に明らかにする。
グ誤差検出方式では、ディスクの記録跡を光のスポット
が辿るときにビットの部分とランドの部分とにおりてそ
れぞれ異なる強度に変調されている反射光が光検出器７
によって光電変換されることによって得られる変調信号
を、光のスポットの全体がランドの部分に在る状態で得
られる信号成分、すなわち、トラッキング誤差情報を含
んでいない信号成分によって補正することにより、ディ
スク６が傾斜していても光検出器７における２つの受光
素子７ａ 、７ｂがらの出力信号の差信号によりトラッ
キング誤差信号が得られるようにするのであるが、次に
、前記のような本発明方式の動作が確実に行なわれ得る
ということを数式をも用いて具体的に明らかにする。
まず、光のスポットが第３図中のＤのように、尤のスポ
ットの全体がランドの部分に在る場合における反射光が
与えられた光検出器７の２つの受光素子７ａ、７ｂがら
それぞれ出力される出力信号の入きさをＡとし、また、
光のスポットが第３図中＜ＱＣのようにビット１２に正
確に一致したときにおける反射光が与えられた検出器７
の２つの受光素子７ａ、７ｂからそれぞれ出力される出
力信号を（Ａ−２Ｂ）として、光のスポットが記録跡を
正確に追跡している状態における光腔出器７の２つの受
光素子７ａ、７ｂの出力信号Ｉａ、Ｉｂ （変調信号Ｉ
ａ、Ｉｂ ）を数式で表わすと次の（３）式のようにな
る。
ットの全体がランドの部分に在る場合における反射光が
与えられた光検出器７の２つの受光素子７ａ、７ｂがら
それぞれ出力される出力信号の入きさをＡとし、また、
光のスポットが第３図中＜ＱＣのようにビット１２に正
確に一致したときにおける反射光が与えられた検出器７
の２つの受光素子７ａ、７ｂからそれぞれ出力される出
力信号を（Ａ−２Ｂ）として、光のスポットが記録跡を
正確に追跡している状態における光腔出器７の２つの受
光素子７ａ、７ｂの出力信号Ｉａ、Ｉｂ （変調信号Ｉ
ａ、Ｉｂ ）を数式で表わすと次の（３）式のようにな
る。
第６図（ａｌ 、（ｂ１図は前記の（３）式で示される
受光素子７ａ＋７ｂの出力信号Ｉａ、Ｉｂの波形図であ
る。前記の（３）式における右辺第３項は変調信号Ｉａ
、Ｉｂについて同一となるから、右辺第３項を単にＢｃ
ｏｓωｔとしてもよい。また、実際においても変調信号
は略々正弦波状のものとなる。
受光素子７ａ＋７ｂの出力信号Ｉａ、Ｉｂの波形図であ
る。前記の（３）式における右辺第３項は変調信号Ｉａ
、Ｉｂについて同一となるから、右辺第３項を単にＢｃ
ｏｓωｔとしてもよい。また、実際においても変調信号
は略々正弦波状のものとなる。
光スポットが記録跡ｍを正確に追跡している状態におけ
る光検出器７の２つの受光素子７ａ＋７ｂがら出力され
る変調信号Ｉａ、Ｉｂは、（３）式に示すように同一と
なるから、減算器９の出力信号、すなわちトラッキング
誤差信号は０となる。
る光検出器７の２つの受光素子７ａ＋７ｂがら出力され
る変調信号Ｉａ、Ｉｂは、（３）式に示すように同一と
なるから、減算器９の出力信号、すなわちトラッキング
誤差信号は０となる。
次に、光のスポットの中心が記録跡１の中心から左右に
ずれる場合について、光のスポットが第３ｋｌＥ、Ｆの
ように記録跡の左側にずれた状態を代表例にとり説明す
る。
ずれる場合について、光のスポットが第３ｋｌＥ、Ｆの
ように記録跡の左側にずれた状態を代表例にとり説明す
る。
光のスポットが記録跡の左側にずれた場合に、第３図の
Ｆに示す光のスポットからの反射光は、左側への回折光
の干渉が大きくなることは既述したとおりであり、光検
出器７の受光素子７ａの出力信号は減少する。光のスポ
ットが第３図中のＥ。
Ｆに示す光のスポットからの反射光は、左側への回折光
の干渉が大きくなることは既述したとおりであり、光検
出器７の受光素子７ａの出力信号は減少する。光のスポ
ットが第３図中のＥ。
Ｆのように記録跡から左側にずれた状態における光検出
器７０２つの受光素子７ａ＋７ｂから出力される変調信
号Ｉａ＋Ｉｂは、左側への反射光の変調の増加分な２と
して、次の（４） 、 （５）式で示されるものとなる
。
器７０２つの受光素子７ａ＋７ｂから出力される変調信
号Ｉａ＋Ｉｂは、左側への反射光の変調の増加分な２と
して、次の（４） 、 （５）式で示されるものとなる
。
Ｉａ＝Ａ −Ｂ−ｚ＋（Ｂ＋ｚ ） ｃｏｓ ωｔ
・・−（４）Ｉｂ＝Ａ−Ｂ＋ｚ＋（Ｂ−ｘ ） ｃ
ｏｓ ωｔ −・・（５）また、トラッキング誤差信
号は、（４）式と（５）式との差により Ｉ ａ−１ｂ＝−２ｘ＋２ ｘ ｃｏｓ ωｔ 、、・
−（６）（６）式のように求められる。そして、（４）
〜（６）式に示すＩａ、Ｉｂ （Ｉａ−１ｂ ）は第７
図（ａ）〜（ｃ）図に示すよう！ なものとなる。
・・−（４）Ｉｂ＝Ａ−Ｂ＋ｚ＋（Ｂ−ｘ ） ｃ
ｏｓ ωｔ −・・（５）また、トラッキング誤差信
号は、（４）式と（５）式との差により Ｉ ａ−１ｂ＝−２ｘ＋２ ｘ ｃｏｓ ωｔ 、、・
−（６）（６）式のように求められる。そして、（４）
〜（６）式に示すＩａ、Ｉｂ （Ｉａ−１ｂ ）は第７
図（ａ）〜（ｃ）図に示すよう！ なものとなる。
なお、光のスポットが記録跡からずれた位置であっても
ランドの部分に光のスポットが在る場合における反射光
による光検出器７０２つの受光素子７ａ＋７ｂからの出
力信号の大きさは共にＡであることはいうまでもない。
ランドの部分に光のスポットが在る場合における反射光
による光検出器７０２つの受光素子７ａ＋７ｂからの出
力信号の大きさは共にＡであることはいうまでもない。
前記の（６）式及びそれを示す第７図（ｃ１図示の波形
図によれば、光のスポットが第３図中のＥ、Ｆのように
記録跡の左側にずれた場合には、光検出器７の左１１１
１ｊの受光素子７ａの出力信号の大きさが低下して、差
信号が生じることが判かる。
図によれば、光のスポットが第３図中のＥ、Ｆのように
記録跡の左側にずれた場合には、光検出器７の左１１１
１ｊの受光素子７ａの出力信号の大きさが低下して、差
信号が生じることが判かる。
そして、第７図（ｃ１図示の差信号（Ｉａ−Ｉｂ）は情
報信号で変調されているから、それをピーク値検波する
か、あるいは積分回路で平滑化することにより、トラッ
キング誤差信号が得られろことは明らかである。
報信号で変調されているから、それをピーク値検波する
か、あるいは積分回路で平滑化することにより、トラッ
キング誤差信号が得られろことは明らかである。
これまでのｄρ明は、ディスク６が傾斜していない状態
において、ディスク６からの反射光が与えられる光検出
器７０２つの受光素子７ａ＋７ｂの出力信号の差をとれ
ば、トラッキング誤差が正確に検出できることを明らか
Ｋしたものである、ところで、ディスク６に傾斜がある
と、第２図（ｂｌ〜ｆｄｉ図のように、反射光の光軸の
位置が光検出器７０分割線ｔの位置から移動するが、そ
の移動ｌｔｙは、集光レンズ５の集魚距離をｆ、ディス
ク６の傾斜角をθとすると、 ｙ＝４０ ・・・（７
）（７）式で示される。
において、ディスク６からの反射光が与えられる光検出
器７０２つの受光素子７ａ＋７ｂの出力信号の差をとれ
ば、トラッキング誤差が正確に検出できることを明らか
Ｋしたものである、ところで、ディスク６に傾斜がある
と、第２図（ｂｌ〜ｆｄｉ図のように、反射光の光軸の
位置が光検出器７０分割線ｔの位置から移動するが、そ
の移動ｌｔｙは、集光レンズ５の集魚距離をｆ、ディス
ク６の傾斜角をθとすると、 ｙ＝４０ ・・・（７
）（７）式で示される。
ディスク６の傾斜により反射光の光軸の位置が光検出器
７０分割線ｔの位置からｙだけ移動すると、今、集光レ
ンズ５の瞳径をＤとした場合に、光検出器７における２
つの受光素子７ａ、７ｂにおける一方の受光素子への入
射光の面積はｙＤだけ減少し、他方の受光素子への入射
光の面積がｙＤだけ増加する。ここで、前記した入射光
の面積の増加減少率をαとして、ディスク６が傾斜した
状態における光検出器７０２つの受光素子７ａ、７ｂか
らの出力される変調信号を求めると、次の（８） 、
（９）式で示されるものとなる。
７０分割線ｔの位置からｙだけ移動すると、今、集光レ
ンズ５の瞳径をＤとした場合に、光検出器７における２
つの受光素子７ａ、７ｂにおける一方の受光素子への入
射光の面積はｙＤだけ減少し、他方の受光素子への入射
光の面積がｙＤだけ増加する。ここで、前記した入射光
の面積の増加減少率をαとして、ディスク６が傾斜した
状態における光検出器７０２つの受光素子７ａ、７ｂか
らの出力される変調信号を求めると、次の（８） 、
（９）式で示されるものとなる。
受光素子７ａからの出力信号・・・Ｉａ＋αＩｂ ・
・・（８）受光素子７ｂからの出力信号・・・Ｉｂ−α
ｌｂ ・・・（９）そして、光検出器７ａ４ｂの出力
信号の差は、次の００式で示されるから、ディスク６が
傾斜した場合には、（６）式で示されろ真のトラッキン
グ誤差しこｚｌして２αｌｂというオフセット（偽のト
ラソＡ／ダ誤差）が付加されることになる。
・・（８）受光素子７ｂからの出力信号・・・Ｉｂ−α
ｌｂ ・・・（９）そして、光検出器７ａ４ｂの出力
信号の差は、次の００式で示されるから、ディスク６が
傾斜した場合には、（６）式で示されろ真のトラッキン
グ誤差しこｚｌして２αｌｂというオフセット（偽のト
ラソＡ／ダ誤差）が付加されることになる。
Ｉａ−Ｉｂ ＋ ２αＩｂ ・・・・・・叫・すな
わち、ディスクが傾斜した状態においては、ルのスポッ
トが２αＩｂに相当する量だけオフセットされてトラッ
キング制御動作が行なわれるために正確なトランキング
制御ができないのである。
わち、ディスクが傾斜した状態においては、ルのスポッ
トが２αＩｂに相当する量だけオフセットされてトラッ
キング制御動作が行なわれるために正確なトランキング
制御ができないのである。
さて、光のスポットがランドの部分に在る第３図中のり
、Ｅの状態において、ディスクが傾斜していない場合の
光検出器７０２つの受光素子７ａ＋７ｂの出力信号Ｉａ
、Ｉｂは、既述のようにＩ ａ＝Ｉ ｂ＝Ａであるが、
ディスク６が傾斜したときは受光素子７ａの出力信号は
例えばｐ、 ＋ （ＩＡ ・＝ ＝−Ｑｌ） となり
、また、受光素子７ｂの出力信号はＡ−ｄ ・・−−−
−ｕ となる。
、Ｅの状態において、ディスクが傾斜していない場合の
光検出器７０２つの受光素子７ａ＋７ｂの出力信号Ｉａ
、Ｉｂは、既述のようにＩ ａ＝Ｉ ｂ＝Ａであるが、
ディスク６が傾斜したときは受光素子７ａの出力信号は
例えばｐ、 ＋ （ＩＡ ・＝ ＝−Ｑｌ） となり
、また、受光素子７ｂの出力信号はＡ−ｄ ・・−−−
−ｕ となる。
今、ランドの部分からの反射光と、ビットをも含む部分
からの反射光とが時間軸上で相次いで生じているような
反射光が与えられることによって光検出器７０２つの受
光素子７ｈ、７ｂから出力される（８１ 、 （９）式
で示す変調信号と一前記したランドの部分における反射
光と対し５して光検出器７０２つの受光素子７ａ、７ｂ
から出力される前記したｕｌ）、（６）式で示す出力信
号などの間で、 （（８）式×Ｑ停式） ・・・・・・Ｑｌ（（９）式×
すυ式） ・・・・・・Ｑ４（ｕｌ式−Ｕ式） ・・・
・・（ト） す］〜ｑ−３式で示すような演算を行なうと次のように
なる。
からの反射光とが時間軸上で相次いで生じているような
反射光が与えられることによって光検出器７０２つの受
光素子７ｈ、７ｂから出力される（８１ 、 （９）式
で示す変調信号と一前記したランドの部分における反射
光と対し５して光検出器７０２つの受光素子７ａ、７ｂ
から出力される前記したｕｌ）、（６）式で示す出力信
号などの間で、 （（８）式×Ｑ停式） ・・・・・・Ｑｌ（（９）式×
すυ式） ・・・・・・Ｑ４（ｕｌ式−Ｕ式） ・・・
・・（ト） す］〜ｑ−３式で示すような演算を行なうと次のように
なる。
（Ｉａ＋αＩｂ）Ａ（１−α）＝（Ｉ ａ−αＩａ＋α
Ｉｂ−＆Ｉｂ）Ａ・・・・・・Ｑｌ （Ｉｂ−α１ｂ）Ａ（１＋α）＝（Ｉｂ−ｃｆＩｂ）Ａ
−＝＝０４（Ｉａ−Ｉｂ）（１−α）Ａ −
−・・α→前記した９０式で示される値は、真のトラッ
キング誤差と対応する（Ｉａ−Ｉｂ）の値に比例してい
る。
Ｉｂ−＆Ｉｂ）Ａ・・・・・・Ｑｌ （Ｉｂ−α１ｂ）Ａ（１＋α）＝（Ｉｂ−ｃｆＩｂ）Ａ
−＝＝０４（Ｉａ−Ｉｂ）（１−α）Ａ −
−・・α→前記した９０式で示される値は、真のトラッ
キング誤差と対応する（Ｉａ−Ｉｂ）の値に比例してい
る。
また、０１式をみると、信号の振幅はディスクの傾叫に
応じて生じるαによって変調されているが、通常、ディ
スク６の傾斜角θが最大１度程度であり、また集光トン
ズ５の熱漬距離ｆは５椙程度、集光レンズ５の障径りは
４咽程度であるから、αの値は０．０６程度が最大とな
り、したがって利得の減少は最大でも−０，５ｄＢ程度
となる。
応じて生じるαによって変調されているが、通常、ディ
スク６の傾斜角θが最大１度程度であり、また集光トン
ズ５の熱漬距離ｆは５椙程度、集光レンズ５の障径りは
４咽程度であるから、αの値は０．０６程度が最大とな
り、したがって利得の減少は最大でも−０，５ｄＢ程度
となる。
このように、前記した（ＪｃＪ式のような演算を行なっ
て得られるトラッキング誤差信号を用いてトラッキング
制御を行なうと、ディスクの傾斜の影響を実用上受けな
い状態でトラッキング制御を行なうことができる。そし
て、トラッキング制御系は、それの安定性からみて±ｌ
ｄＢの利得変動は充分に許容するから、ディスクが２５
度傾斜したとしてもトラッキング制御系は正常に動作す
る。また、前記のトラッキング動作は、当然のことなが
ら光スポットのオフセットがＯの状態で行なわれるので
ある。
て得られるトラッキング誤差信号を用いてトラッキング
制御を行なうと、ディスクの傾斜の影響を実用上受けな
い状態でトラッキング制御を行なうことができる。そし
て、トラッキング制御系は、それの安定性からみて±ｌ
ｄＢの利得変動は充分に許容するから、ディスクが２５
度傾斜したとしてもトラッキング制御系は正常に動作す
る。また、前記のトラッキング動作は、当然のことなが
ら光スポットのオフセットがＯの状態で行なわれるので
ある。
第８図は、ディスク６が傾斜したときの光検出器７上の
スポットの移動状態を示す平面図であり、第８図におい
て、円Ｘはディスクが傾斜していない状態における光の
スポットの位置であり、また、円Ｙはディスク６が傾斜
した状態における光のスポットの位置であって、ディス
ク６が傾斜すると、円ＸにおけるＳ、で示す面積の部分
の光の情報Ｉｂαか受光素子７ｂ側から７ａ側に移るこ
とを示している。
スポットの移動状態を示す平面図であり、第８図におい
て、円Ｘはディスクが傾斜していない状態における光の
スポットの位置であり、また、円Ｙはディスク６が傾斜
した状態における光のスポットの位置であって、ディス
ク６が傾斜すると、円ＸにおけるＳ、で示す面積の部分
の光の情報Ｉｂαか受光素子７ｂ側から７ａ側に移るこ
とを示している。
光源ｌからディスク６に投射される光のスポットの断面
の光の強度分布は略々ガウス分布に従っており、また、
ディスクの傾斜角θが小であることにより面積８２＋８
３も小さいから、その小さな面積Ｓ、、Ｓ、に含まれる
光情報も小さく、したがって、集光レンズ５の瞳によっ
て面積８３の部分の光情報が欠除されたとしても、略々
正確な解析が行なわれうるのである。
の光の強度分布は略々ガウス分布に従っており、また、
ディスクの傾斜角θが小であることにより面積８２＋８
３も小さいから、その小さな面積Ｓ、、Ｓ、に含まれる
光情報も小さく、したがって、集光レンズ５の瞳によっ
て面積８３の部分の光情報が欠除されたとしても、略々
正確な解析が行なわれうるのである。
次に、ディスク６上に投射された光のスポットが、それ
の断面の光の強度分布が一定である場合を仮定して考察
すると、第８図中の面積８３は、集光レンズ５の瞳によ
って反射光が制限されて光検出器７の受光素子７ａ上に
は光が与えられない部分であるから、この場合には既述
した（８）式は次のα力式となり、また、９９式も次の
（１７）式となる。
の断面の光の強度分布が一定である場合を仮定して考察
すると、第８図中の面積８３は、集光レンズ５の瞳によ
って反射光が制限されて光検出器７の受光素子７ａ上に
は光が与えられない部分であるから、この場合には既述
した（８）式は次のα力式となり、また、９９式も次の
（１７）式となる。
Ｉａ＋αＩｂ−αＩａ ・・・・・・ＱゆＡ ・・・
・・・α力 それで前記した０１式とａ′ＩＪ式と、既述した（９）
式及びＶｔ式などにより、既述したα］〜Ｑ！３式で行
なったのと同様な操作を行なうと、光検出器７の受光素
子７ａの出力信号は（１陽式で、また、受光素子７ｂの
出力信号はα１式でそれぞれ表わされるものとなる。
・・・α力 それで前記した０１式とａ′ＩＪ式と、既述した（９）
式及びＶｔ式などにより、既述したα］〜Ｑ！３式で行
なったのと同様な操作を行なうと、光検出器７の受光素
子７ａの出力信号は（１陽式で、また、受光素子７ｂの
出力信号はα１式でそれぞれ表わされるものとなる。
（Ｉａ＋αＩｂ−αＩａ）Ａ（１−α）＝（Ｉａ＋αＩ
ｂ−αｌａ−αＩａ−ｄｌＩｂ−ｔ−ｃｆＩａ）Ａ
・＋＋ 、−、ａｅ（Ｉｂ−αＩｂ）Ａ ・・・・
・・（１陽ここで、前記したｕ神式と９９式との差をと
ると次の（イ）式が得られる。
ｂ−αｌａ−αＩａ−ｄｌＩｂ−ｔ−ｃｆＩａ）Ａ
・＋＋ 、−、ａｅ（Ｉｂ−αＩｂ）Ａ ・・・・
・・（１陽ここで、前記したｕ神式と９９式との差をと
ると次の（イ）式が得られる。
（Ｉａ−Ｉｂ）（１−α）ス ・・・・・・（７）この
四式で示される値は、真のトラッキング誤差と対応する
（ Ｉ ａ−Ｉ ｂ ）の値に比例している。また、（
４）式において信号の振幅はディスクの傾斜に応じて生
じるαによって変調されているが、通常、ディスク６の
傾斜角θが最大１度程度であり、また、集光レンズ５の
焦点距離ｆは５鴫程度、集光レンズ５の障径りは４咽程
度であるから、ゲインの低下は最大でも一１ｄＢ程度と
なり、実際上で問題とはならない。また、この（ホ）式
の場合でも光のスポットのオフセットが００状態でトラ
ッキング制御動作が行なわれろことはいうまでもない。
四式で示される値は、真のトラッキング誤差と対応する
（ Ｉ ａ−Ｉ ｂ ）の値に比例している。また、（
４）式において信号の振幅はディスクの傾斜に応じて生
じるαによって変調されているが、通常、ディスク６の
傾斜角θが最大１度程度であり、また、集光レンズ５の
焦点距離ｆは５鴫程度、集光レンズ５の障径りは４咽程
度であるから、ゲインの低下は最大でも一１ｄＢ程度と
なり、実際上で問題とはならない。また、この（ホ）式
の場合でも光のスポットのオフセットが００状態でトラ
ッキング制御動作が行なわれろことはいうまでもない。
しかも、実際には光のスポット内の強度分布が一様であ
るということはないので、トラッキング制御は既述した
四式で示されるような態様のトラッキング誤差検出に基
づいて行なわれることになる。
るということはないので、トラッキング制御は既述した
四式で示されるような態様のトラッキング誤差検出に基
づいて行なわれることになる。
また、ディスク６が傾斜していないときの反射光軸の光
の強さを示す（４） 、 （５）式に、（８） 、 （
９）式のようにディスクの傾斜によって生じる成分αＩ
ｂを加えて、次に既述したＩ、１１〜（至）式で行なっ
たような操作を施こすことによっても次の？υ式で示さ
れるようにトラッキング誤差信号を得ることができる。
の強さを示す（４） 、 （５）式に、（８） 、 （
９）式のようにディスクの傾斜によって生じる成分αＩ
ｂを加えて、次に既述したＩ、１１〜（至）式で行なっ
たような操作を施こすことによっても次の？υ式で示さ
れるようにトラッキング誤差信号を得ることができる。
（−２ｚ＋２ｚ ｃｏｓωｔ）（１−α） ・・・・・
・四次に、光検出器７０２つの受光素子７ａ＋７ｂがら
の出力信号を用いて、これまでに説明した本発明方式の
構成原理及び動作原理に従いディスク６の傾斜に基づく
偽のトラッキング誤差成分を含まないトラッキング誤差
信号が得られるようにするための回路配置について、第
９図以降のブロック図を参照してそゐ詳細を説、明する
。
・四次に、光検出器７０２つの受光素子７ａ＋７ｂがら
の出力信号を用いて、これまでに説明した本発明方式の
構成原理及び動作原理に従いディスク６の傾斜に基づく
偽のトラッキング誤差成分を含まないトラッキング誤差
信号が得られるようにするための回路配置について、第
９図以降のブロック図を参照してそゐ詳細を説、明する
。
第９図、第１０図、第１２図及び第１３図において、７
は光検出器であり、７ａ、７ｂは２つの受光素子であり
、この光検出器７には例えば第１図中に示されているよ
うな光学系を介してディスク６が１′）の反射光が与え
らねている。
は光検出器であり、７ａ、７ｂは２つの受光素子であり
、この光検出器７には例えば第１図中に示されているよ
うな光学系を介してディスク６が１′）の反射光が与え
らねている。
第９図において、光検出器７０２つの受光素ギアａ ＋
７ｂがらの出力信号は加算器８によって加算されて、出
力端子１ｏへ再生信号を出力する。前記した加算器８が
らの出力信号は微分回路１２によって微分されて、微分
回路Ｉ２がらはそれに対する人力信号に対して９０度だ
け進相している信号が出力されてパルス発生器１３に供
給される。
７ｂがらの出力信号は加算器８によって加算されて、出
力端子１ｏへ再生信号を出力する。前記した加算器８が
らの出力信号は微分回路１２によって微分されて、微分
回路Ｉ２がらはそれに対する人力信号に対して９０度だ
け進相している信号が出力されてパルス発生器１３に供
給される。
パルス発生器１３では、それに対する人力信号における
Ｏり１１点で立下がるパルス、すなわち、再生信号にお
けるピーク値と対応する時間位置のパルスを発生してゲ
ート１ｊ２１路１４．１５に４女る。光検出器７．）受
光素＋’７ａカ、ら。出力信号は、前記したゲート回路
１４にも与えられていると共に、乗算器１８へもそれの
一方入力信号として与えられており、また、光検出器７
の受光素子７ｂの出力信号は、前記したゲルト回路１５
１Ｃも与えられていると共に、乗算器１９へそれの一方
入力信号として与えられている。
Ｏり１１点で立下がるパルス、すなわち、再生信号にお
けるピーク値と対応する時間位置のパルスを発生してゲ
ート１ｊ２１路１４．１５に４女る。光検出器７．）受
光素＋’７ａカ、ら。出力信号は、前記したゲート回路
１４にも与えられていると共に、乗算器１８へもそれの
一方入力信号として与えられており、また、光検出器７
の受光素子７ｂの出力信号は、前記したゲルト回路１５
１Ｃも与えられていると共に、乗算器１９へそれの一方
入力信号として与えられている。
前記したケート回路１４．１５は、パルス発生器１３か
ら与えられるパルスによって、それに与えられ１こ信号
をサンプリングして２つのホールド回路１６゜１７の内
の勾応するものに与え、ホールド回路１６゜１７ではゲ
ート回路１４．１５によって標本抽出された信号を保持
し、それからの出力信号を各対応する乗算器１８．１９
に対してそれぞれ他方の人力信号として与える。前記し
た乗算器１８．１９の出力信号は減算器９において減算
されて出力端子１１へはトラッキング誤差信号が送出さ
れるのである。
ら与えられるパルスによって、それに与えられ１こ信号
をサンプリングして２つのホールド回路１６゜１７の内
の勾応するものに与え、ホールド回路１６゜１７ではゲ
ート回路１４．１５によって標本抽出された信号を保持
し、それからの出力信号を各対応する乗算器１８．１９
に対してそれぞれ他方の人力信号として与える。前記し
た乗算器１８．１９の出力信号は減算器９において減算
されて出力端子１１へはトラッキング誤差信号が送出さ
れるのである。
すなわち、ゲート回路１４とホールド回路１６とは、光
検出器７の受光素子７ａからの出力信号中のピーク値（
光のスポットがランドの部分だけに位置している状態に
おける反射光と対応して生じた出力信号）を抽出してそ
れを保持して乗算器１９に与え、乗ｗＬ器１９では光検
出器７の受光素子７ｂの出力信号と、前記した受光素子
７ａからの出力信号中のビーり値とを乗算するが、ゲー
ト回路１４、ホールド回路１６及び乗算回路１９などに
おける上記の動作は、既述した０４式、すなわち１（９
）式Ｘ（１１）式）の演算を行なうことと対応している
のであり、また、同様にしてゲルト回路１５とホールド
回路１７及び乗算回路１８などの動作によって既述した
９３式、すなわち、（（８）式−×ａ埠式）の演算が行
なわれる。次いで、前記の乗算器１８．１９の出力信号
が減算器９によって減算されることによって９６式で示
されるようなトラッキング誤差信号が出力端子１１に送
出されるのである。
検出器７の受光素子７ａからの出力信号中のピーク値（
光のスポットがランドの部分だけに位置している状態に
おける反射光と対応して生じた出力信号）を抽出してそ
れを保持して乗算器１９に与え、乗ｗＬ器１９では光検
出器７の受光素子７ｂの出力信号と、前記した受光素子
７ａからの出力信号中のビーり値とを乗算するが、ゲー
ト回路１４、ホールド回路１６及び乗算回路１９などに
おける上記の動作は、既述した０４式、すなわち１（９
）式Ｘ（１１）式）の演算を行なうことと対応している
のであり、また、同様にしてゲルト回路１５とホールド
回路１７及び乗算回路１８などの動作によって既述した
９３式、すなわち、（（８）式−×ａ埠式）の演算が行
なわれる。次いで、前記の乗算器１８．１９の出力信号
が減算器９によって減算されることによって９６式で示
されるようなトラッキング誤差信号が出力端子１１に送
出されるのである。
次に、第１θ図に示す回路配置は、前記した第９図示の
回路配置を簡略化した構成のものであり、この第１Ｏ図
中におけるブロック２１．２２は、例えば第１１図に示
されるようなピーク値検波回路によるホールド回路であ
る。第１１図に示すピーク値検波回路によるホールド回
路２１（２２）は、それに与えられた人力信号のピーク
値と対応する電圧が〃イオードＤ、を介するコンデンサ
Ｃ１への充電動作によってコンデ／すＣ１の端子電圧に
現われるようにし、コ／テンサＣ３と抵抗Ｒ１とによっ
て定まる放電時定紗を適当に設定することにより、再生
信号のピーク値が保持された状態となされるように、ｌ
Ｉ成されている。したがって、この第１０図示の回路配
置も既述した第９図示の回路配置と同様な演算動作を行
なって、トラッキング誤差信号が出力端子１１へ送出さ
れるのである。
回路配置を簡略化した構成のものであり、この第１Ｏ図
中におけるブロック２１．２２は、例えば第１１図に示
されるようなピーク値検波回路によるホールド回路であ
る。第１１図に示すピーク値検波回路によるホールド回
路２１（２２）は、それに与えられた人力信号のピーク
値と対応する電圧が〃イオードＤ、を介するコンデンサ
Ｃ１への充電動作によってコンデ／すＣ１の端子電圧に
現われるようにし、コ／テンサＣ３と抵抗Ｒ１とによっ
て定まる放電時定紗を適当に設定することにより、再生
信号のピーク値が保持された状態となされるように、ｌ
Ｉ成されている。したがって、この第１０図示の回路配
置も既述した第９図示の回路配置と同様な演算動作を行
なって、トラッキング誤差信号が出力端子１１へ送出さ
れるのである。
上記した構成例は１反射光の光軸の一方側の光のビ〜り
値と対応する信号と、反射光の光軸の他方側の光と対応
する変調信号とを、ｑ３．αΦ式のように乗算し、（１
１１式の信号と（ロ）式の信号とを減算する０５式によ
りトラッキング誤差信号が得られるようにしたものであ
るが、反射光の光軸の一方側の光と対応する変調信号を
、同じ側の光のピーク値と対応する信号で割算を行なっ
て、 （Ｉ ａ＋Ｉ’ｂ ）□ ・・・・・・四（ｌ十α
）Ａ （２）式で示されろようなトラッキング誤差信号が得ら
れるような回路配置として本発明方式が実施されてもよ
い。
値と対応する信号と、反射光の光軸の他方側の光と対応
する変調信号とを、ｑ３．αΦ式のように乗算し、（１
１１式の信号と（ロ）式の信号とを減算する０５式によ
りトラッキング誤差信号が得られるようにしたものであ
るが、反射光の光軸の一方側の光と対応する変調信号を
、同じ側の光のピーク値と対応する信号で割算を行なっ
て、 （Ｉ ａ＋Ｉ’ｂ ）□ ・・・・・・四（ｌ十α
）Ａ （２）式で示されろようなトラッキング誤差信号が得ら
れるような回路配置として本発明方式が実施されてもよ
い。
次に、第１２図は、光検出器７０２つの受光素子７ａ、
７ｂからの出力として得られろ（８） 、 （９）式で
示される変調信号と、 Ｕ］）、（６）式で示されるピ
ーク値信号とを用いて次の（ハ）式で示されろような演
算を行なってディスク６Ｖｃ傾斜がないときの（６）式
で示されろようなトラッキング誤差信号と全く同じトラ
ッキング誤差信号が得られるように構成された回路配置
である。
７ｂからの出力として得られろ（８） 、 （９）式で
示される変調信号と、 Ｕ］）、（６）式で示されるピ
ーク値信号とを用いて次の（ハ）式で示されろような演
算を行なってディスク６Ｖｃ傾斜がないときの（６）式
で示されろようなトラッキング誤差信号と全く同じトラ
ッキング誤差信号が得られるように構成された回路配置
である。
第１２図において、２１．２２はピーク値検波回路、２
３はコンパレータ、２４．２５はスイッチング回路、２
６〜２８は対数変換回路、２９は減算器、３０は逆対数
変換回路、３１はインバータであり、ピーク値検波回路
２１．２２の出力をコンｉくレータ２３に与えて、コン
パレータ２３によりディスクの傾斜方向を判定し、その
判定績４ＴＬよってスイッチ／グ回路２４．２５＆Ｃお
ける切換態様が定められるようにする。
３はコンパレータ、２４．２５はスイッチング回路、２
６〜２８は対数変換回路、２９は減算器、３０は逆対数
変換回路、３１はインバータであり、ピーク値検波回路
２１．２２の出力をコンｉくレータ２３に与えて、コン
パレータ２３によりディスクの傾斜方向を判定し、その
判定績４ＴＬよってスイッチ／グ回路２４．２５＆Ｃお
ける切換態様が定められるようにする。
第１２１１ｉＱにおけるスイツ“←ング回路２４．２５
がコンパレータ２３の出力によって実線図示のような切
換態様となされるのは、ディスクの傾斜によって光検出
器７ｖＣおける受光素子７ａ側に反射光の光軸力；移動
しているときであり、また、ディスクの傾斜によって光
検出器７における受光素子７ｂ＠に反射光の光軸が移動
した状態においては、コンｉ（レータ２３の出力によっ
てスイッチング回路２４．２５の切換態様が第１２図中
の点線図示のような状態となされる。
がコンパレータ２３の出力によって実線図示のような切
換態様となされるのは、ディスクの傾斜によって光検出
器７ｖＣおける受光素子７ａ側に反射光の光軸力；移動
しているときであり、また、ディスクの傾斜によって光
検出器７における受光素子７ｂ＠に反射光の光軸が移動
した状態においては、コンｉ（レータ２３の出力によっ
てスイッチング回路２４．２５の切換態様が第１２図中
の点線図示のような状態となされる。
受光素子７ａからの出力信号のピーク値の方が受光素子
７ｂからの出力信号のピーク値よりも犬でスイッチング
回路２４．２５が第１２図中の実線図示のような切換態
様となされている場合には、光検出器７の受光素子７ｂ
からの出力信号（Ｉｂ−αＩｂ）は対数変換回路２６を
介して減算器２９のプラス端子へ与えられ、また、ピー
ク値検波回路２１から得られ１こピーク値（Ａ＋αＡ）
も対数変換回路２７を介して減算器２９のプラス端子へ
与えられ、さらにピーク値検波回路２２から得られるピ
ーク値（Ａ−αＡ）が、対数変換回路２８を介して減算
器２９のマイナス端子へ与えられるから、減算器２９の
出力信号を逆対数変換回路３０を通して得られる信号は
、 Ａ＋αＡ （Ｉｂ−αＩｂ） となされる。
７ｂからの出力信号のピーク値よりも犬でスイッチング
回路２４．２５が第１２図中の実線図示のような切換態
様となされている場合には、光検出器７の受光素子７ｂ
からの出力信号（Ｉｂ−αＩｂ）は対数変換回路２６を
介して減算器２９のプラス端子へ与えられ、また、ピー
ク値検波回路２１から得られ１こピーク値（Ａ＋αＡ）
も対数変換回路２７を介して減算器２９のプラス端子へ
与えられ、さらにピーク値検波回路２２から得られるピ
ーク値（Ａ−αＡ）が、対数変換回路２８を介して減算
器２９のマイナス端子へ与えられるから、減算器２９の
出力信号を逆対数変換回路３０を通して得られる信号は
、 Ａ＋αＡ （Ｉｂ−αＩｂ） となされる。
Ａ−αＡ
光検出器７の受光素子７ａからの変調信号（Ｉａ＋αＩ
ｂ）がプラス端子に与えられている減算器９のマイナス
端子には、前記した逆対数変換回路３０からの出力信号
が与えられているから、減算器９では前記した一式の演
算が行なわれて、減ＩＩＥ器９の出力側には、ディスク
６に傾斜がない状態で得られるトラッキング誤差信号、
すなわち、（６）式で示されるトラッキング誤差信号（
Ｉａ−Ｉｂ）と同じトラッキング誤差信号（Ｉａ−Ｉｂ
）が出力される。
ｂ）がプラス端子に与えられている減算器９のマイナス
端子には、前記した逆対数変換回路３０からの出力信号
が与えられているから、減算器９では前記した一式の演
算が行なわれて、減ＩＩＥ器９の出力側には、ディスク
６に傾斜がない状態で得られるトラッキング誤差信号、
すなわち、（６）式で示されるトラッキング誤差信号（
Ｉａ−Ｉｂ）と同じトラッキング誤差信号（Ｉａ−Ｉｂ
）が出力される。
光検出器７における受光素子７ｂからの出力信号のピー
ク値の方が、受光素子７ａからの出力信号のピーク値よ
りも太きいときは、コンパレータ２３の出力が負となっ
て、スイッチング回路２４．２５の切換態様が第１２図
中の点線図示の状態となり、かつ。
ク値の方が、受光素子７ａからの出力信号のピーク値よ
りも太きいときは、コンパレータ２３の出力が負となっ
て、スイッチング回路２４．２５の切換態様が第１２図
中の点線図示の状態となり、かつ。
インバータ３１によって信号が反転されて、この場合に
も一式で示されるようなトラッキング誤差信号が出力さ
れる。
も一式で示されるようなトラッキング誤差信号が出力さ
れる。
光のスポットにおける強度分布が一様であるとしたとき
は、一式中の（８）式を０９式に置き換え、また、（１
１）式を９４式に置換えればよく、その結果は、次の（
ハ）式で示されるものとなる。
は、一式中の（８）式を０９式に置き換え、また、（１
１）式を９４式に置換えればよく、その結果は、次の（
ハ）式で示されるものとなる。
＝（Ｉａ−Ｉｂ）（１−α） ・・・・・・（ハ）この
（ハ）式は、同じ条件で解析した（イ）式に比べて（ｌ
−αり項のべき数が下がっているから、利得変動が小さ
くなっていることが判かる。そして既述のように、光の
強度分布は中央で強く回壷折光も光軸に近い方が大きい
ので、一式の方が実際のトラッキング誤差に近いという
ことができる。
（ハ）式は、同じ条件で解析した（イ）式に比べて（ｌ
−αり項のべき数が下がっているから、利得変動が小さ
くなっていることが判かる。そして既述のように、光の
強度分布は中央で強く回壷折光も光軸に近い方が大きい
ので、一式の方が実際のトラッキング誤差に近いという
ことができる。
・第１３図は、第９図に示した回路配置のものの変形例
であり、第９図示の回路配置のものにパルス発生器３２
とゲート回路３３．３４及びホールド回路３５゜３６を
付加した構成としたものである。光のスポットによるデ
ィスクからの反射光がトラッキング誤差情報を含んでい
るのは、光のスポットがビットに重畳している期間のみ
であり、光のスポットがビットに重畳していない期間に
おける光検出器７からの出力信号は、トラッキング誤差
情報を含んでいない。すなわち、第６図（ａ）、（ｂ１
図及び第７図（ａｌ 、 （ｂｊ図における出力信号Ｉ
ａ、Ｉｂの極小値がトラッキング誤差に関係する。
であり、第９図示の回路配置のものにパルス発生器３２
とゲート回路３３．３４及びホールド回路３５゜３６を
付加した構成としたものである。光のスポットによるデ
ィスクからの反射光がトラッキング誤差情報を含んでい
るのは、光のスポットがビットに重畳している期間のみ
であり、光のスポットがビットに重畳していない期間に
おける光検出器７からの出力信号は、トラッキング誤差
情報を含んでいない。すなわち、第６図（ａ）、（ｂ１
図及び第７図（ａｌ 、 （ｂｊ図における出力信号Ｉ
ａ、Ｉｂの極小値がトラッキング誤差に関係する。
そこで第１３図示の回路配置では、微分回路１２の出力
をパルス発生器３２に与えて、］（ルス発生器３２で立
上がりパルスを作り、それをゲート回路３３゜３４に与
えて、受光素子７ａ、７ｂからの出力信号における極小
値がサンプリングされるようにし、ケート回路３３．３
４の出力をホールド回路３５．３６でホールドして、ト
ラッキング誤差により最大に変調された出力が得られる
ようにし、ホールド回路３５゜３６０出力信号を対応す
る乗算回路１８．１９へ供給するようにしている。
をパルス発生器３２に与えて、］（ルス発生器３２で立
上がりパルスを作り、それをゲート回路３３゜３４に与
えて、受光素子７ａ、７ｂからの出力信号における極小
値がサンプリングされるようにし、ケート回路３３．３
４の出力をホールド回路３５．３６でホールドして、ト
ラッキング誤差により最大に変調された出力が得られる
ようにし、ホールド回路３５゜３６０出力信号を対応す
る乗算回路１８．１９へ供給するようにしている。
この第１３図示の回路配置の利点は、トラッキング誤差
信号を演算によって求めるときに、トラッキング誤差に
より最大に変調された信号を用いるので、師の最も良い
トラッキング誤差信号を得ることができ、したがって、
トラッキング制御系のループ利得を大きくして良好な再
生信号が容易に得られる点である。
信号を演算によって求めるときに、トラッキング誤差に
より最大に変調された信号を用いるので、師の最も良い
トラッキング誤差信号を得ることができ、したがって、
トラッキング制御系のループ利得を大きくして良好な再
生信号が容易に得られる点である。
以上、詳細に砦、明したところから明らかなように、本
発明の光学的情報信号再生装置のトラッキング誤差検出
方式は、光検出器から出力される変調信号におけるトラ
ッキング誤差情報を含まない信号成分によって光検出器
から出力される変調信号を補正する手段を設け、光検出
器における２分割された各部分からの出力信号の差信号
によりトラッキング誤差信号を得るようにしたから、デ
ィスクが傾斜していても正確なトラッキング誤差信号が
良好に得られる他、トラッキング誤差検出のための光学
系が嚇純であり、調整も簡単にでき、女１ｄＩＩｖｃ装
置を構成することができ、また、先に本出頓人会社で峙
許出願を行なった特願昭５６−１７９９６２号の光学的
情報信号再生装置に対しても良好に適用できるのであり
、前記した既提案装置におけるフォーカス制御系と共に
、簡単な光学系を用いて一体的に組立てろことも容易で
あって、その全体を駆軸することも難かしくなく、さら
に、光学一部品間の相互移動もな（トラッキング制御や
フォーカス制御を極めて正確に行なうことができる。
発明の光学的情報信号再生装置のトラッキング誤差検出
方式は、光検出器から出力される変調信号におけるトラ
ッキング誤差情報を含まない信号成分によって光検出器
から出力される変調信号を補正する手段を設け、光検出
器における２分割された各部分からの出力信号の差信号
によりトラッキング誤差信号を得るようにしたから、デ
ィスクが傾斜していても正確なトラッキング誤差信号が
良好に得られる他、トラッキング誤差検出のための光学
系が嚇純であり、調整も簡単にでき、女１ｄＩＩｖｃ装
置を構成することができ、また、先に本出頓人会社で峙
許出願を行なった特願昭５６−１７９９６２号の光学的
情報信号再生装置に対しても良好に適用できるのであり
、前記した既提案装置におけるフォーカス制御系と共に
、簡単な光学系を用いて一体的に組立てろことも容易で
あって、その全体を駆軸することも難かしくなく、さら
に、光学一部品間の相互移動もな（トラッキング制御や
フォーカス制御を極めて正確に行なうことができる。
本発明のトラッキング誤差検出方式では、ディスクの傾
斜によっても偽のトラッキング誤差が生じないようにす
る゛ことができるので、本発明方式により、従来の問題
点が良好に解消され、特性の優れた光学的情報信号再生
装置を容易に提議できる。
斜によっても偽のトラッキング誤差が生じないようにす
る゛ことができるので、本発明方式により、従来の問題
点が良好に解消され、特性の優れた光学的情報信号再生
装置を容易に提議できる。
第１図は差動式トラッキング誤差検出装置を備えた光学
的情報信号再生装置の概略構成を示す斜視図、第２図（
ａｌ〜ｆｄｉ図はディスクの傾斜と反射光の光軸の移動
との関係を説明する図、第３図はビットの配列よりなる
記録跡と光のスポットとを示す平面図、第４図はビット
の中心と光のスポットとの中心とがずれた状態における
ビットと光のスポットの関係を示す平面図、第５図はビ
ットの記録跡巾方向の断面図、第６図（ａ）〜（ｂ１図
はビットによって強度変調された光を受光した受光素子
の出力信号波形図、第７図（ａ）〜（ｂ１図はドラッギ
ング誤差を含む場合の受光素子の出力信号波形図、第７
図（ｃ１図はトラッキング誤差を示す信号の波形倒脚、
第８図はディスクの傾斜に伴なって生じる光検出器上〇
反躬光束の移動態様を示す平面図、第９図。 第１ｆ１図、第１２図及び第１３図はトラッキング誤差
を検出するた゛めの電気回路のブロック図、第１１図は
ピーク値検波回路の一例構成のものの回路図である。 ｌ・・・光源、３・・・偏光プリズム、４・・・Ｖ４波
長板、５・・集光レンズ、６・・・ティスフ、７・・・
光検出器、７ａ、７ｂ・・・受光素子、８・・・加算器
、９．２９・・・減算器、１０．１１・・・出力端子、
１４．１５．３３．３４・・・ゲート回路、１６．１７
．３５．３６・・・ホールド回路、１８．１９・・・乗
算回路、１２・・・微分回路、１３．３２・・・パルス
発生器、２１．２２・・・ピーク値検波回路、２３・・
・コンパレータ、２４．２５・・・スイッチング回路、
２６〜２８・・・対数変換回路、３０４４４・・・逆対
数変換回路、３１・・・インバータ、 手 続 補 正 書（自発） 昭和５８ イｒ １）Ｉ ２１ ｕ３１許庁長官若
杉ゎ夫 殿 ２、発 明の名称 光学的情報信号再生装置のトラッキング誤差検出方式３
、＃Ｉｉ正をする者 ・ハｌ’＋七の関係 特 許 田喧１人名 角
’ Ｃ４３２）ｉｊ本ビクター株ｊ（会？ｌ。 （句 重付図面（第４図、第５図、１９図、第１６図）
デ補止の自答 （１）明細書第１６自第１８行「ｔ」をｒＬＪに禰正フ
る。 （り明細書第１４貞の第１行、第９行、第１０行、第１
１行及び欠１２行にそれぞれ記載のｒｔＪｋｒＬＪに補
正する。 （４）明細書オ６６真オ６行「倣汁（ロ）路１２」を「
微分回路ＤＦＣＪに補止する。 Ｃ）明細書オ６９自第１２行「１２・・」を「ＤＦＯ・
・」に補正する。 （６）明細ＩＦ才！ＩＱ頁第１９行ｒコンデンザ」を「
コンデンサ」に補止する。 （７）祭付図面第４図、第５図、１９図及び第１６図ｔ
）１１４紙のように補正する。 手続補正書 １．事件の表示 昭和５７年特許願第８３０４号 ２、発明の名称 光学的情報信号再生装置のトラッキング誤差検出方式 ：（、補正をする者 事件との関係 特 許 出願大佐 所 神奈
川県横浜市神奈用区守屋町３丁目１２番地 名 称 （／１３２）日本ビクター株式会社４、代理人 ６、補正の対象 明細書の詳細な説明の欄２２４−
的情報信号再生装置の概略構成を示す斜視図、第２図（
ａｌ〜ｆｄｉ図はディスクの傾斜と反射光の光軸の移動
との関係を説明する図、第３図はビットの配列よりなる
記録跡と光のスポットとを示す平面図、第４図はビット
の中心と光のスポットとの中心とがずれた状態における
ビットと光のスポットの関係を示す平面図、第５図はビ
ットの記録跡巾方向の断面図、第６図（ａ）〜（ｂ１図
はビットによって強度変調された光を受光した受光素子
の出力信号波形図、第７図（ａ）〜（ｂ１図はドラッギ
ング誤差を含む場合の受光素子の出力信号波形図、第７
図（ｃ１図はトラッキング誤差を示す信号の波形倒脚、
第８図はディスクの傾斜に伴なって生じる光検出器上〇
反躬光束の移動態様を示す平面図、第９図。 第１ｆ１図、第１２図及び第１３図はトラッキング誤差
を検出するた゛めの電気回路のブロック図、第１１図は
ピーク値検波回路の一例構成のものの回路図である。 ｌ・・・光源、３・・・偏光プリズム、４・・・Ｖ４波
長板、５・・集光レンズ、６・・・ティスフ、７・・・
光検出器、７ａ、７ｂ・・・受光素子、８・・・加算器
、９．２９・・・減算器、１０．１１・・・出力端子、
１４．１５．３３．３４・・・ゲート回路、１６．１７
．３５．３６・・・ホールド回路、１８．１９・・・乗
算回路、１２・・・微分回路、１３．３２・・・パルス
発生器、２１．２２・・・ピーク値検波回路、２３・・
・コンパレータ、２４．２５・・・スイッチング回路、
２６〜２８・・・対数変換回路、３０４４４・・・逆対
数変換回路、３１・・・インバータ、 手 続 補 正 書（自発） 昭和５８ イｒ １）Ｉ ２１ ｕ３１許庁長官若
杉ゎ夫 殿 ２、発 明の名称 光学的情報信号再生装置のトラッキング誤差検出方式３
、＃Ｉｉ正をする者 ・ハｌ’＋七の関係 特 許 田喧１人名 角
’ Ｃ４３２）ｉｊ本ビクター株ｊ（会？ｌ。 （句 重付図面（第４図、第５図、１９図、第１６図）
デ補止の自答 （１）明細書第１６自第１８行「ｔ」をｒＬＪに禰正フ
る。 （り明細書第１４貞の第１行、第９行、第１０行、第１
１行及び欠１２行にそれぞれ記載のｒｔＪｋｒＬＪに補
正する。 （４）明細書オ６６真オ６行「倣汁（ロ）路１２」を「
微分回路ＤＦＣＪに補止する。 Ｃ）明細書オ６９自第１２行「１２・・」を「ＤＦＯ・
・」に補正する。 （６）明細ＩＦ才！ＩＱ頁第１９行ｒコンデンザ」を「
コンデンサ」に補止する。 （７）祭付図面第４図、第５図、１９図及び第１６図ｔ
）１１４紙のように補正する。 手続補正書 １．事件の表示 昭和５７年特許願第８３０４号 ２、発明の名称 光学的情報信号再生装置のトラッキング誤差検出方式 ：（、補正をする者 事件との関係 特 許 出願大佐 所 神奈
川県横浜市神奈用区守屋町３丁目１２番地 名 称 （／１３２）日本ビクター株式会社４、代理人 ６、補正の対象 明細書の詳細な説明の欄２２４−
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １情報信号と対応するピットの配列による記録跡が形成
されている信号面を備えている記録媒体における信号面
に対して、記録跡中と略々等し嘩い直径寸法となるよう
に集光された光のスポットを投射し、ピットによって強
度変調された反射光を、記録媒体の信号面における記録
跡の延在方向と、記録媒体の信号面への投射光の光軸と
を含む平面によって２分割された光検出器で受光して、
情報信号を光学的に自生しうるようになされている光学
的情報信号再生装置において、光検出器から出力される
変調信号におけるトラッキング誤差情報を含まない信号
成分によって光検出器から出力される変調信号を補正す
る手段を設け、前記した光検出器における２分割された
各部分からの出力信号の差信号によりトラッキング誤差
信号を得るようにした光学的情報信号再生装置のトラフ
１ング誤差検出方式 ２情報信号と対応するピットの配列てよる記録跡が形成
されている信号面を備えている記録媒体における信号面
に対して、記録跡中と略々等しい直径寸法となるように
集光された光のスポットを投射し、ピットによって強度
変調された反射光を、記録媒体の信号面における記録跡
の延在方向と、記録媒体の信号面への投射光の光軸とを
含む平面によって２分割された光検出器で受光して、情
報信号を光学的に再生しうるようになされている光学的
情報信号内生装置において、前記した光検出器における
２つの分割された部分からそれぞれ得られる変調信号Ｉ
ａ＋Ｉｂと、前記した変調信号Ｉａ＋Ｉｂにおけるピー
ク値Ｉａｐ、Ｉｂｐとによって、（Ｉａ・Ｉｂｐ ）及
び（Ｉｂ−Ｉａｐ）で示される２組の乗算された信号を
作り、前記した２組の信号の差信号をトラッキング誤差
信号とする光学的情報信号再生装置のトラッキング誤差
検出方式 ３、情報信号と対応するピットの配列による記録跡が形
成されている信号面を備えている記録媒体における信号
面に対して、記録跡巾と略々等しい直径寸法となる゛よ
うに集光された光のスポットを投射し、ピットＩｃよっ
て強度変調された反射光を、記録媒体の信号面における
記録跡の延在方向と、記録媒体の信号面への投射光の光
軸とを含む平面によって２分割された光検出器で受光し
て、情報信号を光学的に再生しうるようになされている
光学的情報信号内生装置において、前記した光検出器に
おける２分割された部分から、それぞれ得られる変調信
号Ｉａ、Ｉｂと、前記した変調信号Ｉａ＋Ｉｂにおける
ピーク値Ｉａｐ 、 Ｉｂｐとによって、Ｉａ／Ｉａｐ
及びｌ ｂ／Ｉ ｂ ｐで示される２組の除算信号を得
て、前記した２組の除算信号の差信号をトラッキング誤
差信号とする光学的情報信号再生装置のトラッキング誤
差検出方式 ４情報値号と対応するピットの配列による記録跡が形成
されている信号面を備えている記録媒体における信号面
に対して、記録跡巾と略々等しい直径寸法となるように
集光された光のスポットな投射し、ピットによって強度
変調された反射光を、記録媒体の信号面における記録跡
の延在方向と。 記録媒体の信号面への投射光の光軸とを含む平面によっ
て２分割された光検出器で受光して、情報信号を光学的
に自生しうるようになされている光学的情報信号再生装
置において、前記した光検出器における２分割された部
分からそれぞれ得られる変調信号Ｉａ、Ｉｂと、前記し
た変調信号Ｉａ、Ｉｂにおけるピーク値１ａｐ、Ｉｂｐ
とにより、前記した変調信号Ｉａ＋Ｉｂのピーク値Ｉａ
ｐ、Ｉｂｐが）ａｐ ） ｌｂｐの場合には、（Ｉａ−
Ｉｂ ）−！−Ｊ！−の演算を行ない、また、Ｉｂｐ 前記した変調信号Ｉａ ＋Ｉｂのピーク値Ｉａｐ、Ｉｂ
ｐが工ａｐ ＜ Ｉｂｐの場合には一聾二」」−１ｂの
演算を行なっａｐ てトラッキング誤差信号とする光学的情報信号内生装置
の１ラッキング誤差検出力式
Priority Applications (7)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57008304A JPS58125242A (ja) | 1982-01-22 | 1982-01-22 | 光学的情報信号再生装置のトラツキング誤差検出方式 |
| DE3301787A DE3301787C2 (de) | 1982-01-22 | 1983-01-20 | Spurenfolge-Steuersystem zur Verwendung bei einer rillenlosen Aufzeichnungsplatte |
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| NL8300225A NL8300225A (nl) | 1982-01-22 | 1983-01-21 | Spoorstelsel voor groefloze afspeelplaten. |
| FR838300919A FR2520542B1 (fr) | 1982-01-22 | 1983-01-21 | Systeme de commande d'alignement pour des disques sans sillon |
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| US06/460,561 US4589103A (en) | 1982-01-22 | 1983-01-24 | Tilt compensation tracking control system for optical discs |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57008304A JPS58125242A (ja) | 1982-01-22 | 1982-01-22 | 光学的情報信号再生装置のトラツキング誤差検出方式 |
Publications (2)
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| JPS6250894B2 JPS6250894B2 (ja) | 1987-10-27 |
Family
ID=11689407
Family Applications (1)
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| JP57008304A Granted JPS58125242A (ja) | 1982-01-22 | 1982-01-22 | 光学的情報信号再生装置のトラツキング誤差検出方式 |
Country Status (7)
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