JPH1145516A - 試験装置及び試験方法 - Google Patents
試験装置及び試験方法Info
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- JPH1145516A JPH1145516A JP9200158A JP20015897A JPH1145516A JP H1145516 A JPH1145516 A JP H1145516A JP 9200158 A JP9200158 A JP 9200158A JP 20015897 A JP20015897 A JP 20015897A JP H1145516 A JPH1145516 A JP H1145516A
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- JP
- Japan
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- error
- flag
- disk
- test
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-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
- G06F11/2205—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested
- G06F11/2221—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested to test input/output devices or peripheral units
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B20/00—Signal processing not specific to the method of recording or reproducing; Circuits therefor
- G11B20/10—Digital recording or reproducing
- G11B20/18—Error detection or correction; Testing, e.g. of drop-outs
- G11B20/1816—Testing
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Signal Processing For Digital Recording And Reproducing (AREA)
- Digital Magnetic Recording (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 フラグが必要なエラーに対しては確実にフラ
グを行うとともに、フラグが必ずしも必要でないフラグ
は大幅に減らすことができ、ディスク不良を減少させる
試験装置及び試験方法を提供する。 【解決手段】 試験装置及び試験方法は、ノイズによる
ランダムなエラーはセクタ（ライト）／シリンダ（ライ
ト）内のどこでも発生するがRepeatableエラーはディス
ク上の特定の場所で発生することから、同一セクタまた
はシリンダ内で複数のエラーが発生した場合でも、発生
位置が離れている場合フラグしないようにする。
グを行うとともに、フラグが必ずしも必要でないフラグ
は大幅に減らすことができ、ディスク不良を減少させる
試験装置及び試験方法を提供する。 【解決手段】 試験装置及び試験方法は、ノイズによる
ランダムなエラーはセクタ（ライト）／シリンダ（ライ
ト）内のどこでも発生するがRepeatableエラーはディス
ク上の特定の場所で発生することから、同一セクタまた
はシリンダ内で複数のエラーが発生した場合でも、発生
位置が離れている場合フラグしないようにする。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、ハードディスクド
ライブ（ＨＤＤ）等に用いられる試験装置及び試験方法
に係り、詳細には、磁気ディスク装置の製造工程におい
てディスク上の欠陥を検知しその箇所を使用しないよう
にフラグする試験装置及び試験方法に関する。
ライブ（ＨＤＤ）等に用いられる試験装置及び試験方法
に係り、詳細には、磁気ディスク装置の製造工程におい
てディスク上の欠陥を検知しその箇所を使用しないよう
にフラグする試験装置及び試験方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】情報処理装置の外部記憶装置として用い
られるハードディスクドライブ（ＨＤＤ）では、より一
層の小型化及び信頼性が要求される。特に、磁気ディス
ク装置の製造工程（テスト工程）において、製造出荷前
に、ディスクに発生したキズ等欠陥を見つけ出し該当箇
所を使用しないようにフラグ（Ｆｌａｇ）する工程があ
る。この工程はハードディスクのＳＡＴ：Surface Anal
ysis Test（ディスク上の欠陥を見つけてその場所を使
用できないようにするフラグするテスト）と呼ばれる。
られるハードディスクドライブ（ＨＤＤ）では、より一
層の小型化及び信頼性が要求される。特に、磁気ディス
ク装置の製造工程（テスト工程）において、製造出荷前
に、ディスクに発生したキズ等欠陥を見つけ出し該当箇
所を使用しないようにフラグ（Ｆｌａｇ）する工程があ
る。この工程はハードディスクのＳＡＴ：Surface Anal
ysis Test（ディスク上の欠陥を見つけてその場所を使
用できないようにするフラグするテスト）と呼ばれる。
【０００３】ディスクに発生したキズ等は、実際にリー
ド／ライトを行ってリード又はライトができないときに
欠陥と判定し、該当エリアを製品出荷後に使用されない
ようにフラグしておき、該当エリアを外部からは見えな
い（使用できない）ようにしておく。ディスクには、予
め欠陥発生を見越して一定量のバッファが確保されてお
り、このバッファを使い切るまではフラグし、バッファ
を使い切ると不良（Ｆａｉｌ）とする。
ド／ライトを行ってリード又はライトができないときに
欠陥と判定し、該当エリアを製品出荷後に使用されない
ようにフラグしておき、該当エリアを外部からは見えな
い（使用できない）ようにしておく。ディスクには、予
め欠陥発生を見越して一定量のバッファが確保されてお
り、このバッファを使い切るまではフラグし、バッファ
を使い切ると不良（Ｆａｉｌ）とする。
【０００４】従来のＳＡＴでは、以下のようにしてフラ
グを行っている。
グを行っている。
【０００５】リードにおいては、リードして同じセクタ
で複数回エラーをしたときにセクタ内の位置に関係なく
そのセクタをフラグする。リードを行って、例えば１メ
ガ・バイトあたり１個までのエラーを許容範囲とする。
で複数回エラーをしたときにセクタ内の位置に関係なく
そのセクタをフラグする。リードを行って、例えば１メ
ガ・バイトあたり１個までのエラーを許容範囲とする。
【０００６】ライトにおいては、ライトして同じシリン
ダ内で複数回エラーしたときにシリンダ内の位置に関係
なくそのシリンダ（またはトラック単位）をフラグす
る。一般に、ライトがエラーになる原因はサーボに伴う
問題が殆どであり、サーボに伴う問題は１箇所に限らず
複数箇所にエラーが生じるためシリンダ自体を使わない
ようにする。
ダ内で複数回エラーしたときにシリンダ内の位置に関係
なくそのシリンダ（またはトラック単位）をフラグす
る。一般に、ライトがエラーになる原因はサーボに伴う
問題が殆どであり、サーボに伴う問題は１箇所に限らず
複数箇所にエラーが生じるためシリンダ自体を使わない
ようにする。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】しかしながらこのよう
な従来のディスク装置のＳＡＴにあっては、リードにお
いてはリードして同じセクタで複数回エラーをしたとき
に該当セクタをフラグし、また、ライトにおいてはライ
トして同じシリンダ内で複数回エラーしたときに該当シ
リンダをフラグするようにしていたため、エラーの内容
によっては必ずしもフラグする必要のないセクタ／シリ
ンダが一律にフラグされることになり、フラグが増える
ことによって結果的にディスク不良が増えスループット
が低下することになっていた。
な従来のディスク装置のＳＡＴにあっては、リードにお
いてはリードして同じセクタで複数回エラーをしたとき
に該当セクタをフラグし、また、ライトにおいてはライ
トして同じシリンダ内で複数回エラーしたときに該当シ
リンダをフラグするようにしていたため、エラーの内容
によっては必ずしもフラグする必要のないセクタ／シリ
ンダが一律にフラグされることになり、フラグが増える
ことによって結果的にディスク不良が増えスループット
が低下することになっていた。
【０００８】本発明は、フラグが必要なエラーに対して
は確実にフラグを行うとともに、フラグが必ずしも必要
でないフラグは大幅に減らすことができ、ディスク不良
を減少させることができる試験装置及び試験方法を提供
することを目的とする。
は確実にフラグを行うとともに、フラグが必ずしも必要
でないフラグは大幅に減らすことができ、ディスク不良
を減少させることができる試験装置及び試験方法を提供
することを目的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】本発明の試験装置は、デ
ィスクに発生した欠陥箇所を見つけ該当箇所を使用しな
いようにフラグする試験装置において、欠陥箇所の発生
場所を検出する検出手段と、検出手段の出力に基づいて
ランダムに発生するエラーか否かを判別する手段とを備
え、ランダムに発生したエラーのときはフラグを行わな
いことを特徴とする。
ィスクに発生した欠陥箇所を見つけ該当箇所を使用しな
いようにフラグする試験装置において、欠陥箇所の発生
場所を検出する検出手段と、検出手段の出力に基づいて
ランダムに発生するエラーか否かを判別する手段とを備
え、ランダムに発生したエラーのときはフラグを行わな
いことを特徴とする。
【００１０】本発明の試験装置は、ディスクに発生した
欠陥箇所を見つけ該当箇所を使用しないようにフラグす
る試験装置において、欠陥箇所の発生場所を検出する検
出手段と、検出手段の出力に基づいて特定の場所で所定
頻度で発生するエラーか否かを判別する手段とを備え、
特定の場所で所定頻度で発生するエラーのときはフラグ
を行うことを特徴とする。
欠陥箇所を見つけ該当箇所を使用しないようにフラグす
る試験装置において、欠陥箇所の発生場所を検出する検
出手段と、検出手段の出力に基づいて特定の場所で所定
頻度で発生するエラーか否かを判別する手段とを備え、
特定の場所で所定頻度で発生するエラーのときはフラグ
を行うことを特徴とする。
【００１１】本発明の試験装置は、ディスクに発生した
欠陥箇所を見つけ該当箇所を使用しないようにフラグす
る試験装置において、欠陥箇所の発生場所を検出する検
出手段と、検出手段の出力に基づいて再現性のあるエラ
ーか非再現性のエラーかを判別する手段を備え、再現性
のあるエラーのときはフラグを行い、非再現性のあるエ
ラーのときはフラグを行わないことを特徴とする。
欠陥箇所を見つけ該当箇所を使用しないようにフラグす
る試験装置において、欠陥箇所の発生場所を検出する検
出手段と、検出手段の出力に基づいて再現性のあるエラ
ーか非再現性のエラーかを判別する手段を備え、再現性
のあるエラーのときはフラグを行い、非再現性のあるエ
ラーのときはフラグを行わないことを特徴とする。
【００１２】上記検出手段は、リードではセクタ内の発
生場所を検出し、ライトではシリンダ内の発生場所を検
出するものであってもよく、また、上記判別手段は、所
定距離内で発生したエラー個数を基に判定するものであ
ってもよい。
生場所を検出し、ライトではシリンダ内の発生場所を検
出するものであってもよく、また、上記判別手段は、所
定距離内で発生したエラー個数を基に判定するものであ
ってもよい。
【００１３】また、上記試験装置は、エラーの発生個数
に基づいてフラグを行う又はフラグを行わないことを決
定するようにしたものであってもよく、上記試験装置
は、フラグは、製造出荷前に行うようにしたものであっ
てもよい。
に基づいてフラグを行う又はフラグを行わないことを決
定するようにしたものであってもよく、上記試験装置
は、フラグは、製造出荷前に行うようにしたものであっ
てもよい。
【００１４】本発明の試験方法は、ディスクに発生した
欠陥箇所を見つけ該当箇所を使用しないようにフラグす
るテストを行う試験方法において、まず、欠陥箇所の発
生場所を検出し、次に、検出結果を基にランダムに発生
するエラーか否かを判別して、ランダムに発生したエラ
ーのときはフラグを行わないことを特徴とする。
欠陥箇所を見つけ該当箇所を使用しないようにフラグす
るテストを行う試験方法において、まず、欠陥箇所の発
生場所を検出し、次に、検出結果を基にランダムに発生
するエラーか否かを判別して、ランダムに発生したエラ
ーのときはフラグを行わないことを特徴とする。
【００１５】本発明の試験方法は、ディスクに発生した
欠陥箇所を見つけ該当箇所を使用しないようにフラグす
るテストを行う試験方法において、まず、欠陥箇所の発
生場所を検出し、次に、検出結果を基に特定の場所で所
定頻度で発生するエラーか否かを判別して、特定の場所
で所定頻度で発生するエラーのときはフラグを行うこと
を特徴とする。
欠陥箇所を見つけ該当箇所を使用しないようにフラグす
るテストを行う試験方法において、まず、欠陥箇所の発
生場所を検出し、次に、検出結果を基に特定の場所で所
定頻度で発生するエラーか否かを判別して、特定の場所
で所定頻度で発生するエラーのときはフラグを行うこと
を特徴とする。
【００１６】本発明の試験方法は、ディスクに発生した
欠陥箇所を見つけ該当箇所を使用しないようにフラグす
るテストを行う試験方法において、まず、欠陥箇所の発
生場所を検出し、次に、検出結果に基づいて再現性のあ
るエラーか非再現性のエラーかを判別して、再現性のあ
るエラーのときはフラグを行い、非再現性のあるエラー
のときはフラグを行わないことを特徴とする。
欠陥箇所を見つけ該当箇所を使用しないようにフラグす
るテストを行う試験方法において、まず、欠陥箇所の発
生場所を検出し、次に、検出結果に基づいて再現性のあ
るエラーか非再現性のエラーかを判別して、再現性のあ
るエラーのときはフラグを行い、非再現性のあるエラー
のときはフラグを行わないことを特徴とする。
【００１７】上記検出は、リードではセクタ内の発生場
所を検出し、ライトではシリンダ内の発生場所を検出す
るようにしてもよく、また、上記判別は、所定距離内で
発生したエラー個数を基に判定するようにしてもよい。
所を検出し、ライトではシリンダ内の発生場所を検出す
るようにしてもよく、また、上記判別は、所定距離内で
発生したエラー個数を基に判定するようにしてもよい。
【００１８】
【発明の実施の形態】本発明に係る試験装置は、記録媒
体に対して記録再生を行う複数のヘッドが搭載された小
型ＨＤＤに適用することができる。
体に対して記録再生を行う複数のヘッドが搭載された小
型ＨＤＤに適用することができる。
【００１９】図１は本発明の実施形態に係る試験装置の
構成を示すブロック図である。
構成を示すブロック図である。
【００２０】図１において、ディスク装置１０は、デー
タ記録媒体である磁気ディスク等のディスク１１、ディ
スク１１を回転駆動するスピンドルモータを含むＶＣＭ
スピンドルドライバ１２、ディスク１１にデータのリー
ド／ライトを行うための磁気ヘッド１３、磁気ヘッド１
３を有するヘッドスライダを磁気ディスク１１表面上空
及び退避位置に移動させるアクチュエータ機構１４、ア
クチュエータの速度制御及び、ディスク１１に対しデー
タの読み出し／書き込み等の動作を制御するＣＰＵ／ハ
ードディスクコントローラ（Hard Disk Controller：Ｈ
ＤＣ）１５、ディスク１１にデータのリード／ライトを
行ってＳＡＴ（Surface Analysis Test：ディスク１１
上のキズなどを見つけてその場所を使用できないように
するフラグするテスト）を行う計算機１６（検出手段、
判別手段）から構成される。
タ記録媒体である磁気ディスク等のディスク１１、ディ
スク１１を回転駆動するスピンドルモータを含むＶＣＭ
スピンドルドライバ１２、ディスク１１にデータのリー
ド／ライトを行うための磁気ヘッド１３、磁気ヘッド１
３を有するヘッドスライダを磁気ディスク１１表面上空
及び退避位置に移動させるアクチュエータ機構１４、ア
クチュエータの速度制御及び、ディスク１１に対しデー
タの読み出し／書き込み等の動作を制御するＣＰＵ／ハ
ードディスクコントローラ（Hard Disk Controller：Ｈ
ＤＣ）１５、ディスク１１にデータのリード／ライトを
行ってＳＡＴ（Surface Analysis Test：ディスク１１
上のキズなどを見つけてその場所を使用できないように
するフラグするテスト）を行う計算機１６（検出手段、
判別手段）から構成される。
【００２１】ディスク１１の表面には、データが記録さ
れるデータ領域と、サーボデータが予め記録されている
サーボ領域とを含むトラックが同心円状に配置されてい
る。ディスク１１は１枚または複数枚搭載されている。
れるデータ領域と、サーボデータが予め記録されている
サーボ領域とを含むトラックが同心円状に配置されてい
る。ディスク１１は１枚または複数枚搭載されている。
【００２２】ＶＣＭスピンドルドライバ１２は、ディス
ク１１を回転駆動するスピンドルモータと、逆起電圧を
検出する逆起電圧検出回路等から構成される。
ク１１を回転駆動するスピンドルモータと、逆起電圧を
検出する逆起電圧検出回路等から構成される。
【００２３】アクチュエータ機構１４は、ヘッド・サス
ペンション機構（図示略）、旋回軸１７に揺動自在に支
持されたアーム１８、アーム１８を旋回駆動するボイス
コイルモータ（ＶＣＭ）１９を有する。また、ボイスコ
イルモータ（ＶＣＭ）１９は、図示しないＶＣＭ駆動回
路により駆動される。
ペンション機構（図示略）、旋回軸１７に揺動自在に支
持されたアーム１８、アーム１８を旋回駆動するボイス
コイルモータ（ＶＣＭ）１９を有する。また、ボイスコ
イルモータ（ＶＣＭ）１９は、図示しないＶＣＭ駆動回
路により駆動される。
【００２４】ＣＰＵ／ＨＤＣ１５は、アクチュエータの
速度制御を行うＣＰＵと、ディスク１１に対しデータの
読み出し／書き込み等の動作を制御するＨＤＣと、位置
検出信号や上記逆起電圧等の検出信号を増幅する増幅回
路、波形整形回路、アナログ・ディジタル変換器（ＡＤ
Ｃ）、ディジタル・アナログ変換器（ＤＡＣ）、ＣＲＣ
回路２０及びＥＣＣ回路２１等をモジュール化した構成
となっている。
速度制御を行うＣＰＵと、ディスク１１に対しデータの
読み出し／書き込み等の動作を制御するＨＤＣと、位置
検出信号や上記逆起電圧等の検出信号を増幅する増幅回
路、波形整形回路、アナログ・ディジタル変換器（ＡＤ
Ｃ）、ディジタル・アナログ変換器（ＤＡＣ）、ＣＲＣ
回路２０及びＥＣＣ回路２１等をモジュール化した構成
となっている。
【００２５】上記ＣＲＣ回路２０は、リードデータに対
し誤り検出用のＣＲＣ（cyclic redundancy check:巡回
冗長検査符号）によりＣＲＣチェックを行なう。また、
ＥＣＣ回路２１は、ＣＲＣを解析することにより送られ
てきたデータの誤りを検出する。この符号は、ランダム
符号だけではなくバースト誤りの検出能力をもち、誤り
訂正も可能である。
し誤り検出用のＣＲＣ（cyclic redundancy check:巡回
冗長検査符号）によりＣＲＣチェックを行なう。また、
ＥＣＣ回路２１は、ＣＲＣを解析することにより送られ
てきたデータの誤りを検出する。この符号は、ランダム
符号だけではなくバースト誤りの検出能力をもち、誤り
訂正も可能である。
【００２６】図２はディスク装置１０のデータエリアの
構造を示す図である。
構造を示す図である。
【００２７】図２において、ＳＹＮは同期信号、ＤＡＭ
はデータが始まるタイミングを知らせるデータ・アドレ
ス・マーク、５１２バイトのユーザデータ領域、ＣＲ
Ｃ、ＥＣＣであり、ユーザデータ領域、ＣＲＣ及びＥＣ
Ｃは本方法で使用するエリアである。
はデータが始まるタイミングを知らせるデータ・アドレ
ス・マーク、５１２バイトのユーザデータ領域、ＣＲ
Ｃ、ＥＣＣであり、ユーザデータ領域、ＣＲＣ及びＥＣ
Ｃは本方法で使用するエリアである。
【００２８】計算機１６は、後述するように同一セクタ
またはシリンダ内で複数のエラーが発生した場合でも、
発生位置が離れている場合フラグしないというアルゴリ
ズムに従ってＳＡＴを実行するものである。
またはシリンダ内で複数のエラーが発生した場合でも、
発生位置が離れている場合フラグしないというアルゴリ
ズムに従ってＳＡＴを実行するものである。
【００２９】以下、上述のように構成されたディスク装
置１０のＳＡＴの方法を説明する。
置１０のＳＡＴの方法を説明する。
【００３０】まず、本発明の基本的な考え方について述
べる。
べる。
【００３１】本発明者らは、ディスク装置のＳＡＴにお
いて、エラーにはディスク上のキズなどによる再現性
（Repeatable）のあるエラーのほかに、ノイズから引き
起こされる非再現性（Non-repeatable）のエラーがあ
り、上記ノイズから引き起こされる非再現性のエラー
は、リトライすれば問題のない場合が殆どであることに
着目した。
いて、エラーにはディスク上のキズなどによる再現性
（Repeatable）のあるエラーのほかに、ノイズから引き
起こされる非再現性（Non-repeatable）のエラーがあ
り、上記ノイズから引き起こされる非再現性のエラー
は、リトライすれば問題のない場合が殆どであることに
着目した。
【００３２】従来の方法では、セクタ／シリンダ毎にこ
れらのエラーの回数を所定回数と一律に比較してフラグ
するようにしていたため、フラグが増えてディスク不良
が増える傾向にあった。
れらのエラーの回数を所定回数と一律に比較してフラグ
するようにしていたため、フラグが増えてディスク不良
が増える傾向にあった。
【００３３】最近では、ディスク装置の飛躍的な高密度
記録化に伴いエラー・レートは相当悪くなってきてお
り、リトライすれば問題のない非再現性のエラーはある
程度無視することで、ノイズから引き起こされるランダ
ム・エラーによるフラグを大幅に減少させる。
記録化に伴いエラー・レートは相当悪くなってきてお
り、リトライすれば問題のない非再現性のエラーはある
程度無視することで、ノイズから引き起こされるランダ
ム・エラーによるフラグを大幅に減少させる。
【００３４】そこで本発明は、ディスク装置のＳＡＴ中
に行われるフラグに関して、ランダムに発生するエラー
ではフラグせず、特定の場所で高い頻度で発生するエラ
ーに対してのみフラグする。すなわち、単にセクタ／シ
リンダ毎にエラーの発生回数をみるのではなくセクタ／
シリンダ内のエラーの発生場所（位置）をも考慮して特
定の場所で高い頻度で発生するエラーに対してのみフラ
グする。
に行われるフラグに関して、ランダムに発生するエラー
ではフラグせず、特定の場所で高い頻度で発生するエラ
ーに対してのみフラグする。すなわち、単にセクタ／シ
リンダ毎にエラーの発生回数をみるのではなくセクタ／
シリンダ内のエラーの発生場所（位置）をも考慮して特
定の場所で高い頻度で発生するエラーに対してのみフラ
グする。
【００３５】具体的には、リードではセクタ内の特定の
場所で発生するエラーをフラグし、同じセクタでエラー
してもセクタ内のエラー発生位置同士が離れていればラ
ンダム・エラーとみなしフラグしない。ライトではシリ
ンダ内の特定のサーボ・セクタで発生するエラーをフラ
グし、同じシリンダでエラーしてもシリンダ内のサーボ
・セクタの位置が離れていればランダム・エラーとみな
しフラグしない。
場所で発生するエラーをフラグし、同じセクタでエラー
してもセクタ内のエラー発生位置同士が離れていればラ
ンダム・エラーとみなしフラグしない。ライトではシリ
ンダ内の特定のサーボ・セクタで発生するエラーをフラ
グし、同じシリンダでエラーしてもシリンダ内のサーボ
・セクタの位置が離れていればランダム・エラーとみな
しフラグしない。
【００３６】次に、上記基本的な考え方に基づいてディ
スク装置のＳＡＴ方法を詳細に説明する。
スク装置のＳＡＴ方法を詳細に説明する。
【００３７】図３は本方法におけるＳＡＴを示すフロー
チャートであり、８回リードし、８バイト中３箇所のエ
ラーがある場合を判定のクライテリアとした例である。
なお、図中、ＳＴはフローのステップを示す。
チャートであり、８回リードし、８バイト中３箇所のエ
ラーがある場合を判定のクライテリアとした例である。
なお、図中、ＳＴはフローのステップを示す。
【００３８】まず、プログラムがスタートすると、ステ
ップＳＴ１１でターゲットするデータエリアからデータ
をリードし、ステップＳＴ１２でエラーした場所を記録
する。本実施形態では、エラーした場所をＥＣＣを使っ
て検出するようにしているが、リードデータを比較する
リード・コンペアを行ってエラーとエラー場所を見つけ
るようにしてもよい。なお、ＥＣＣを使用すればエラー
場所を直ちに知ることができ、リード・コンペアを行う
場合のような時間を要することはない。
ップＳＴ１１でターゲットするデータエリアからデータ
をリードし、ステップＳＴ１２でエラーした場所を記録
する。本実施形態では、エラーした場所をＥＣＣを使っ
て検出するようにしているが、リードデータを比較する
リード・コンペアを行ってエラーとエラー場所を見つけ
るようにしてもよい。なお、ＥＣＣを使用すればエラー
場所を直ちに知ることができ、リード・コンペアを行う
場合のような時間を要することはない。
【００３９】次いで、ステップＳＴ１３で今回エラーし
た場所と前回エラーした場所との距離チェックを行い、
エラーが所定距離より近いときにはRepeatableエラーの
可能性があると判断してステップＳＴ１４でステートを
変えてステップＳＴ１６に進み、エラーが所定距離より
離れているときにはNon-Repeatableエラーの可能性があ
ると判断してステップＳＴ１５でステートを変えずにス
テップＳＴ１６に進む。
た場所と前回エラーした場所との距離チェックを行い、
エラーが所定距離より近いときにはRepeatableエラーの
可能性があると判断してステップＳＴ１４でステートを
変えてステップＳＴ１６に進み、エラーが所定距離より
離れているときにはNon-Repeatableエラーの可能性があ
ると判断してステップＳＴ１５でステートを変えずにス
テップＳＴ１６に進む。
【００４０】次いで、ステップＳＴ１６で上記エラーの
距離チェックが所定回数（例えば、８回）に達したか否
かを判別し、上記エラーの距離チェックが所定回数に達
するまで上記処理を繰り返す。
距離チェックが所定回数（例えば、８回）に達したか否
かを判別し、上記エラーの距離チェックが所定回数に達
するまで上記処理を繰り返す。
【００４１】エラーの距離チェックが所定回数に達する
と、ステップＳＴ１７でステートが所定クライテリア以
上か否かを判別し、ステートが所定クライテリア以上の
ときにはステップＳＴ１８でフラグを行い、ステートが
所定クライテリアより小さいときにはステップＳＴ１９
でフラグは行わない。
と、ステップＳＴ１７でステートが所定クライテリア以
上か否かを判別し、ステートが所定クライテリア以上の
ときにはステップＳＴ１８でフラグを行い、ステートが
所定クライテリアより小さいときにはステップＳＴ１９
でフラグは行わない。
【００４２】図４〜図７はＳＡＴ例を示す図であり、８
回リードし、８バイト中３箇所のエラーがある場合を判
定のクライテリアとした例である。
回リードし、８バイト中３箇所のエラーがある場合を判
定のクライテリアとした例である。
【００４３】図４では、同一箇所に３回エラーをしてお
り、フラグのケースである。このエラーはRepeatableエ
ラーと考えられる。なお、本実施形態では所定距離Ｌ
（８バイト）で３回エラーがあったときはそこでフラグ
とし、以降のリードは行わない。
り、フラグのケースである。このエラーはRepeatableエ
ラーと考えられる。なお、本実施形態では所定距離Ｌ
（８バイト）で３回エラーがあったときはそこでフラグ
とし、以降のリードは行わない。
【００４４】図５では、トータルで３回エラーがある
が、所定距離Ｌ（８バイト）では２回エラーであるため
フラグしないケースである。このエラーはNon-repeatab
leエラーと考えられ、従来例ではフラグとしていたケー
スである。このようなケースは、ノイズから引き起こさ
れるランダム・エラーによる場合が殆どであり、非再現
性のエラーのため一般にリトライすればエラーは出現し
ない。このような場合のフラグが減少するのでディスク
不良を減らすことができる。
が、所定距離Ｌ（８バイト）では２回エラーであるため
フラグしないケースである。このエラーはNon-repeatab
leエラーと考えられ、従来例ではフラグとしていたケー
スである。このようなケースは、ノイズから引き起こさ
れるランダム・エラーによる場合が殆どであり、非再現
性のエラーのため一般にリトライすればエラーは出現し
ない。このような場合のフラグが減少するのでディスク
不良を減らすことができる。
【００４５】図６及び図７では、トータルで３回エラー
があり、かつ所定距離Ｌ（８バイト）内で３回エラーが
あるためフラグするケースである。このようなケース
は、エラーの発生頻度が規定値以上に多いため従来例と
同様にフラグとする。
があり、かつ所定距離Ｌ（８バイト）内で３回エラーが
あるためフラグするケースである。このようなケース
は、エラーの発生頻度が規定値以上に多いため従来例と
同様にフラグとする。
【００４６】なお、上記何れの場合も８回リードし、２
箇所以下のエラーのときはフラグしないものとしてい
る。また、フラグとした後はそれ以降のリードは行わず
時間短縮を図っている。
箇所以下のエラーのときはフラグしないものとしてい
る。また、フラグとした後はそれ以降のリードは行わず
時間短縮を図っている。
【００４７】以上、リードについて説明したがライトの
場合も同様にして行うことができる。
場合も同様にして行うことができる。
【００４８】以上説明したように、本実施形態に係る試
験装置及び試験方法では、ノイズによるランダムなエラ
ーはセクタ（ライト）／シリンダ（ライト）内のどこで
も発生するがRepeatableエラーはディスク上の特定の場
所で発生することから、同一セクタまたはシリンダ内で
複数のエラーが発生した場合でも、発生位置が離れてい
る場合フラグしないようにしたので、ノイズによるラン
ダムなエラーに対してのフラグを大幅に減少させること
ができる。すなわち、フラグが必要なエラーに対しては
確実にフラグを行うとともに、フラグが必ずしも必要で
ないフラグは大幅に減らすことができ、ディスク不良を
減少させることができる。
験装置及び試験方法では、ノイズによるランダムなエラ
ーはセクタ（ライト）／シリンダ（ライト）内のどこで
も発生するがRepeatableエラーはディスク上の特定の場
所で発生することから、同一セクタまたはシリンダ内で
複数のエラーが発生した場合でも、発生位置が離れてい
る場合フラグしないようにしたので、ノイズによるラン
ダムなエラーに対してのフラグを大幅に減少させること
ができる。すなわち、フラグが必要なエラーに対しては
確実にフラグを行うとともに、フラグが必ずしも必要で
ないフラグは大幅に減らすことができ、ディスク不良を
減少させることができる。
【００４９】なお、本実施形態では、本発明をＨＤＤに
適用した例を説明したが、これに限らず、ディスクに発
生する欠陥をフラグする装置及び方法であればどのよう
な装置にでも本発明を適用できる。例えば、光磁気ディ
スク等ＨＤＤ以外の外部記録装置に用いてもよく、上述
の実施形態と同様の効果を得ることができる。
適用した例を説明したが、これに限らず、ディスクに発
生する欠陥をフラグする装置及び方法であればどのよう
な装置にでも本発明を適用できる。例えば、光磁気ディ
スク等ＨＤＤ以外の外部記録装置に用いてもよく、上述
の実施形態と同様の効果を得ることができる。
【００５０】また、本実施形態では、８回リードし、距
離Ｌが８バイト中３箇所のエラーがある場合を判定して
いるが、エラーの発生場所を検出するものであれば、ど
のような態様であってもよく、エラー個数、組み合わせ
パターン、距離Ｌ、リード回数等は限定されない。
離Ｌが８バイト中３箇所のエラーがある場合を判定して
いるが、エラーの発生場所を検出するものであれば、ど
のような態様であってもよく、エラー個数、組み合わせ
パターン、距離Ｌ、リード回数等は限定されない。
【００５１】また、本実施形態では、エラーした場所を
ＥＣＣを使って検出するようにしているが、リード・コ
ンペアによるものでもよい。
ＥＣＣを使って検出するようにしているが、リード・コ
ンペアによるものでもよい。
【００５２】さらに、上記ディスク装置を構成する計算
機、ＣＰＵ／ＨＤＣ等の種類、数などは上述した実施形
態に限られないことは言うまでもない。
機、ＣＰＵ／ＨＤＣ等の種類、数などは上述した実施形
態に限られないことは言うまでもない。
【００５３】
【発明の効果】本発明に係る試験装置及び試験方法で
は、欠陥箇所の発生場所を検出する検出手段と、検出手
段の出力に基づいてランダムに発生するエラーか否かを
判別する手段とを備え、ランダムに発生したエラーのと
きはフラグを行わないようにするとともに、特定の場所
で所定頻度で発生するエラーのときはフラグを行うよう
にしたので、フラグが必要なエラーに対しては確実にフ
ラグを行うとともに、フラグが必ずしも必要でないフラ
グは大幅に減らすことができ、ディスク不良を減少させ
ることができる。
は、欠陥箇所の発生場所を検出する検出手段と、検出手
段の出力に基づいてランダムに発生するエラーか否かを
判別する手段とを備え、ランダムに発生したエラーのと
きはフラグを行わないようにするとともに、特定の場所
で所定頻度で発生するエラーのときはフラグを行うよう
にしたので、フラグが必要なエラーに対しては確実にフ
ラグを行うとともに、フラグが必ずしも必要でないフラ
グは大幅に減らすことができ、ディスク不良を減少させ
ることができる。
【図１】本発明を適用した実施形態に係るディスク装置
の構成を示すブロック図である。
の構成を示すブロック図である。
【図２】上記ディスク装置のデータエリアの構造を示す
図である。
図である。
【図３】上記ディスク装置のＳＡＴを示すフローチャー
トである。
トである。
【図４】上記ディスク装置のＳＡＴ例を示す図である。
【図５】上記ディスク装置のＳＡＴ例を示す図である。
【図６】上記ディスク装置のＳＡＴ例を示す図である。
【図７】上記ディスク装置のＳＡＴ例を示す図である。
１０ ディスク装置、１１ ディスク、１２ ＶＣＭス
ピンドルドライバ、１３ 磁気ヘッド、１４ アクチュ
エータ機構、１５ ＣＰＵ／ＨＤＣ、１６ 計算機（検
出手段、判別手段）、２０ ＣＲＣ回路、２１ ＥＣＣ
回路
ピンドルドライバ、１３ 磁気ヘッド、１４ アクチュ
エータ機構、１５ ＣＰＵ／ＨＤＣ、１６ 計算機（検
出手段、判別手段）、２０ ＣＲＣ回路、２１ ＥＣＣ
回路
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 各務 直行 神奈川県藤沢市桐原町１番地 日本アイ・ ビー・エム株式会社 藤沢事業所内 (72)発明者 松原 暢也 神奈川県藤沢市桐原町１番地 日本アイ・ ビー・エム株式会社 藤沢事業所内
Claims (12)
- 【請求項１】 ディスクに発生した欠陥箇所を見つけ該
当箇所を使用しないようにフラグする試験装置におい
て、 前記欠陥箇所の発生場所を検出する検出手段と、 前記検出手段の出力に基づいてランダムに発生するエラ
ーか否かを判別する手段とを備え、 ランダムに発生したエラーのときは前記フラグを行わな
いことを特徴とする試験装置。 - 【請求項２】 ディスクに発生した欠陥箇所を見つけ該
当箇所を使用しないようにフラグする試験装置におい
て、 前記欠陥箇所の発生場所を検出する検出手段と、 前記検出手段の出力に基づいて特定の場所で所定頻度で
発生するエラーか否かを判別する手段とを備え、 特定の場所で所定頻度で発生するエラーのときは前記フ
ラグを行うことを特徴とする試験装置。 - 【請求項３】 ディスクに発生した欠陥箇所を見つけ該
当箇所を使用しないようにフラグする試験装置におい
て、 前記欠陥箇所の発生場所を検出する検出手段と、 前記検出手段の出力に基づいて再現性のあるエラーか非
再現性のエラーかを判別する手段を備え、 再現性のあるエラーのときは前記フラグを行い、非再現
性のあるエラーのときは前記フラグを行わないことを特
徴とする試験装置。 - 【請求項４】 前記検出手段は、リードではセクタ内の
発生場所を検出し、ライトではシリンダ内の発生場所を
検出することを特徴とする請求項１、２又は３に記載の
試験装置。 - 【請求項５】 前記判別手段は、所定距離内で発生した
エラー個数を基に判定することを特徴とする請求項１、
２又は３記載の試験装置。 - 【請求項６】 請求項１、２又は３記載の試験装置にお
いて、 エラーの発生個数に基づいてフラグを行う又はフラグを
行わないことを決定するようにしたことを特徴とする試
験装置。 - 【請求項７】 請求項１、２又は３記載の試験装置にお
いて、 前記フラグは、製造出荷前に行うようにしたことを特徴
とする試験装置。 - 【請求項８】 ディスクに発生した欠陥箇所を見つけ該
当箇所を使用しないようにフラグするテストを行う試験
方法において、 まず、前記欠陥箇所の発生場所を検出し、 次に、検出結果を基にランダムに発生するエラーか否か
を判別して、ランダムに発生したエラーのときは前記フ
ラグを行わないことを特徴とする試験方法。 - 【請求項９】 ディスクに発生した欠陥箇所を見つけ該
当箇所を使用しないようにフラグするテストを行う試験
方法において、 まず、欠陥箇所の発生場所を検出し、 次に、検出結果を基に特定の場所で所定頻度で発生する
エラーか否かを判別して、特定の場所で所定頻度で発生
するエラーのときは前記フラグを行うことを特徴とする
試験方法。 - 【請求項１０】 ディスクに発生した欠陥箇所を見つけ
該当箇所を使用しないようにフラグするテストを行う試
験方法において、 まず、欠陥箇所の発生場所を検出し、 次に、検出結果に基づいて再現性のあるエラーか非再現
性のエラーかを判別して、再現性のあるエラーのときは
前記フラグを行い、非再現性のあるエラーのときは前記
フラグを行わないことを特徴とする試験方法。 - 【請求項１１】 前記欠陥箇所の検出は、リードではセ
クタ内の発生場所を検出し、ライトではシリンダ内の発
生場所を検出することを特徴とする請求項８、９又は１
０に記載の試験方法。 - 【請求項１２】 前記判別は、所定距離内で発生したエ
ラー個数を基に判定することを特徴とする請求項８、９
又は１０記載の試験方法。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9200158A JPH1145516A (ja) | 1997-07-25 | 1997-07-25 | 試験装置及び試験方法 |
| US09/122,223 US6263462B1 (en) | 1997-07-25 | 1998-07-24 | Testing method and tester |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9200158A JPH1145516A (ja) | 1997-07-25 | 1997-07-25 | 試験装置及び試験方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1145516A true JPH1145516A (ja) | 1999-02-16 |
Family
ID=16419762
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9200158A Pending JPH1145516A (ja) | 1997-07-25 | 1997-07-25 | 試験装置及び試験方法 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6263462B1 (ja) |
| JP (1) | JPH1145516A (ja) |
Families Citing this family (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7916421B1 (en) | 2005-05-05 | 2011-03-29 | Seagate Technology Llc | Methods and structure for recovery of write fault errors in a dynamically mapped mass storage device |
| US7752491B1 (en) | 2005-05-05 | 2010-07-06 | Seagate Technology Llc | Methods and structure for on-the-fly head depopulation in a dynamically mapped mass storage device |
| US7603530B1 (en) | 2005-05-05 | 2009-10-13 | Seagate Technology Llc | Methods and structure for dynamic multiple indirections in a dynamically mapped mass storage device |
| US7617358B1 (en) | 2005-05-05 | 2009-11-10 | Seagate Technology, Llc | Methods and structure for writing lead-in sequences for head stability in a dynamically mapped mass storage device |
| US7653847B1 (en) * | 2005-05-05 | 2010-01-26 | Seagate Technology Llc | Methods and structure for field flawscan in a dynamically mapped mass storage device |
| US7620772B1 (en) | 2005-05-05 | 2009-11-17 | Seagate Technology, Llc | Methods and structure for dynamic data density in a dynamically mapped mass storage device |
| US7685360B1 (en) | 2005-05-05 | 2010-03-23 | Seagate Technology Llc | Methods and structure for dynamic appended metadata in a dynamically mapped mass storage device |
| US8179625B1 (en) | 2008-03-26 | 2012-05-15 | Xyratex Technology Limited | Method for fast verification of servo patterns and test on magnetic media |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR0132807B1 (ko) * | 1995-05-12 | 1998-04-18 | 김광호 | 하드 디스크 드라이브 서보 시스템에서의 디펙트 검출 및 처리방법 |
| US5943640A (en) * | 1995-10-25 | 1999-08-24 | Maxtor Corporation | Testing apparatus for digital storage device |
| KR100189532B1 (ko) * | 1996-06-24 | 1999-06-01 | 윤종용 | 하드 디스크 드라이브의 위치 에러신호 제어방법 |
-
1997
- 1997-07-25 JP JP9200158A patent/JPH1145516A/ja active Pending
-
1998
- 1998-07-24 US US09/122,223 patent/US6263462B1/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US6263462B1 (en) | 2001-07-17 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A072 | Dismissal of procedure [no reply to invitation to correct request for examination] |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A072 Effective date: 20040518 |