JPH1140694A - 半導体パッケージおよび半導体装置とその製造方法 - Google Patents
半導体パッケージおよび半導体装置とその製造方法Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 半導体素子とほぼ等しい大きさでありしたが
って小型・薄型化の要望に十分応えることができ、しか
も安価に製造できる半導体装置とその製造方法の提供が
臨まれている。 【解決手段】 半導体パッケージ31に半導体素子32
を保持固定してなる半導体装置30である。半導体パッ
ケージ31は、半導体素子32を載せてこれを固定する
基板33と、接続パターン34とを備えて構成されてい
る。基板33には貫通した状態で開口する貫通開口部3
5が形成されている。半導体素子32は、その素子形成
面32aが基板33に載せられ、かつその電極38が貫
通開口部35内に臨ませられた状態で固定されている。
半導体素子32の電極38は貫通開口部35内を通るワ
イヤ39を介して接続パターン34に電気的に接続され
ている。貫通開口部35内とワイヤ39とは樹脂で封止
されている。
って小型・薄型化の要望に十分応えることができ、しか
も安価に製造できる半導体装置とその製造方法の提供が
臨まれている。 【解決手段】 半導体パッケージ31に半導体素子32
を保持固定してなる半導体装置30である。半導体パッ
ケージ31は、半導体素子32を載せてこれを固定する
基板33と、接続パターン34とを備えて構成されてい
る。基板33には貫通した状態で開口する貫通開口部3
5が形成されている。半導体素子32は、その素子形成
面32aが基板33に載せられ、かつその電極38が貫
通開口部35内に臨ませられた状態で固定されている。
半導体素子32の電極38は貫通開口部35内を通るワ
イヤ39を介して接続パターン34に電気的に接続され
ている。貫通開口部35内とワイヤ39とは樹脂で封止
されている。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、小型の半導体パッ
ケージ、特に半導体素子とほぼ同一の大きさをもつチッ
プサイズパッケージと称される半導体パッケージとこれ
を用いた半導体装置、およびその製造方法に関する。
ケージ、特に半導体素子とほぼ同一の大きさをもつチッ
プサイズパッケージと称される半導体パッケージとこれ
を用いた半導体装置、およびその製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、半導体装置を用いる各種の機器で
は、特に携帯機器や移動体機器を中心にそのサイズの小
型軽量化が進められている。したがって、これら機器に
使用される半導体装置についても、その小型・薄型化が
要望されている。この要望に対して、近時、チップサイ
ズパッケージ(Chip Size Packge;以下、CSPと略称
する)と称される、半導体素子とほぼ同一の大きさをも
つパッケージが提案され、これを用いた半導体装置の製
品化が一部に実施されている。
は、特に携帯機器や移動体機器を中心にそのサイズの小
型軽量化が進められている。したがって、これら機器に
使用される半導体装置についても、その小型・薄型化が
要望されている。この要望に対して、近時、チップサイ
ズパッケージ(Chip Size Packge;以下、CSPと略称
する)と称される、半導体素子とほぼ同一の大きさをも
つパッケージが提案され、これを用いた半導体装置の製
品化が一部に実施されている。
【0003】このようにCSPに半導体素子が搭載され
て形成された半導体装置としては、例えば図8に示すよ
うに、半導体パッケージ1にバンプ2を介して半導体素
子3を搭載し、これを固定したものが知られている。こ
の半導体装置において半導体パッケージ1は、基板4
と、この基板4の一方の面に形成された導電性の接続パ
ターン5と、基板4の他方の面に形成された導電性の接
続パターン6と、これら接続パターン5、6を導通させ
るべく基板4内を貫通して形成された配線材7とを備え
てなるものである。ここで、基板4の基材については、
半導体素子3との間の熱膨張率の差を少なくし、バンプ
2や半導体素子3に熱応力が加わりにくくするべく、主
にセラミックスが用いられている。
て形成された半導体装置としては、例えば図8に示すよ
うに、半導体パッケージ1にバンプ2を介して半導体素
子3を搭載し、これを固定したものが知られている。こ
の半導体装置において半導体パッケージ1は、基板4
と、この基板4の一方の面に形成された導電性の接続パ
ターン5と、基板4の他方の面に形成された導電性の接
続パターン6と、これら接続パターン5、6を導通させ
るべく基板4内を貫通して形成された配線材7とを備え
てなるものである。ここで、基板4の基材については、
半導体素子3との間の熱膨張率の差を少なくし、バンプ
2や半導体素子3に熱応力が加わりにくくするべく、主
にセラミックスが用いられている。
【0004】そして、このような構成の半導体パッケー
ジ1に対して半導体素子3は、その素子形成面3aに設
けられた前記バンプ2により、基板4の一方の面側の導
電性接続パターン5と電気的に接続した状態で基板4に
固定されている。また、基板4の他方の面に形成された
導電性の接続パターン6には、マザーボード(図示せ
ず)との接合用の半田ボール等からなる外部接続端子8
が固着されており、これによって半導体素子3のバンプ
2は、接続パターン5、配線材7、接続パターン6を介
して外部接続端子8に電気的に接続されたものとなって
いる。
ジ1に対して半導体素子3は、その素子形成面3aに設
けられた前記バンプ2により、基板4の一方の面側の導
電性接続パターン5と電気的に接続した状態で基板4に
固定されている。また、基板4の他方の面に形成された
導電性の接続パターン6には、マザーボード(図示せ
ず)との接合用の半田ボール等からなる外部接続端子8
が固着されており、これによって半導体素子3のバンプ
2は、接続パターン5、配線材7、接続パターン6を介
して外部接続端子8に電気的に接続されたものとなって
いる。
【0005】そして、このようにして半導体パッケージ
1に搭載された半導体素子3は、さらに基板4と半導体
素子3との間の接合部の全周がアンダーファイルと呼ば
れる樹脂9で封止されることにより、半導体パッケージ
1に一体的に固定されたものとなっている。なお、この
アンダーファイルと呼ばれる樹脂9は、前述した基板4
と半導体素子3との間の熱膨張率の差に起因する熱応力
を分散させる役目も担っている。
1に搭載された半導体素子3は、さらに基板4と半導体
素子3との間の接合部の全周がアンダーファイルと呼ば
れる樹脂9で封止されることにより、半導体パッケージ
1に一体的に固定されたものとなっている。なお、この
アンダーファイルと呼ばれる樹脂9は、前述した基板4
と半導体素子3との間の熱膨張率の差に起因する熱応力
を分散させる役目も担っている。
【0006】図9は、CSPに半導体素子が搭載されて
形成された半導体装置の他の例を示す図であり、図2中
符号10は通常チップオンボード(Chip On Boad;CO
P)と呼ばれる半導体装置である。この半導体装置10
は、半導体パッケージ11に接着剤12等を介して半導
体素子13を搭載し、これを固定したものである。半導
体パッケージ11は、ガラスエポキシ樹脂等を基材とす
る基板14と、この基板14の一方の面に形成された導
電性の接続パターン15と、基板14の他方の面に形成
された導電性の接続パターン16と、これら接続パター
ン15、16を導通させるべく基板14内を貫通して形
成された配線材17とを備えてなるものである。
形成された半導体装置の他の例を示す図であり、図2中
符号10は通常チップオンボード(Chip On Boad;CO
P)と呼ばれる半導体装置である。この半導体装置10
は、半導体パッケージ11に接着剤12等を介して半導
体素子13を搭載し、これを固定したものである。半導
体パッケージ11は、ガラスエポキシ樹脂等を基材とす
る基板14と、この基板14の一方の面に形成された導
電性の接続パターン15と、基板14の他方の面に形成
された導電性の接続パターン16と、これら接続パター
ン15、16を導通させるべく基板14内を貫通して形
成された配線材17とを備えてなるものである。
【0007】そして、このような構成の半導体パッケー
ジ11に対して半導体素子13は、その素子形成面13
aとは逆の面が接着剤12により基板14の一方の面上
に固定され、さらにワイヤ18を介して素子形成面13
aに形成された電極(図示せず)と接続パターン15と
が電気的に接続されたものとなっている。また、基板1
4の他方の面に形成された導電性の接続パターン16に
は、マザーボード(図示せず)との接合用の半田ボール
等からなる外部接続端子19が固着されており、これに
よって半導体素子13の電極は、接続パターン15、配
線材17、接続パターン16を介して外部接続端子19
に電気的に接続されたものとなっている。また、このよ
うにして半導体素子13を搭載した半導体パッケージ1
1には、さらにその素子形成面13aおよびワイヤ18
を保護するため、基板14の一方の面および半導体素子
13を覆った状態に樹脂20が設けられ、これにより半
導体素子13およびワイヤ18は樹脂20に封止された
ものとなっている。
ジ11に対して半導体素子13は、その素子形成面13
aとは逆の面が接着剤12により基板14の一方の面上
に固定され、さらにワイヤ18を介して素子形成面13
aに形成された電極(図示せず)と接続パターン15と
が電気的に接続されたものとなっている。また、基板1
4の他方の面に形成された導電性の接続パターン16に
は、マザーボード(図示せず)との接合用の半田ボール
等からなる外部接続端子19が固着されており、これに
よって半導体素子13の電極は、接続パターン15、配
線材17、接続パターン16を介して外部接続端子19
に電気的に接続されたものとなっている。また、このよ
うにして半導体素子13を搭載した半導体パッケージ1
1には、さらにその素子形成面13aおよびワイヤ18
を保護するため、基板14の一方の面および半導体素子
13を覆った状態に樹脂20が設けられ、これにより半
導体素子13およびワイヤ18は樹脂20に封止された
ものとなっている。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、図8に
示した例の半導体装置では、基板4と半導体素子3との
間の熱応力を減少するため、基板4として高価なセラミ
ックスを基材とするものを使用しなくてはならず、全体
としてのコストが高くなってしまうといった改善すべき
課題がある。また、図9に示した例の半導体装置10で
は、基板14と半導体素子13との間の熱応力はワイヤ
18によって吸収できるため、基板14として安価なガ
ラスエポキシ樹脂を基材とするものを使用できるもの
の、この構造では半導体素子13の外周側を回してワイ
ヤ18を配設するため、半導体素子13に対して半導体
装置10全体が大きくなってしまい、半導体装置の小型
・薄型化の要望に十分応えられないといった不満があ
る。
示した例の半導体装置では、基板4と半導体素子3との
間の熱応力を減少するため、基板4として高価なセラミ
ックスを基材とするものを使用しなくてはならず、全体
としてのコストが高くなってしまうといった改善すべき
課題がある。また、図9に示した例の半導体装置10で
は、基板14と半導体素子13との間の熱応力はワイヤ
18によって吸収できるため、基板14として安価なガ
ラスエポキシ樹脂を基材とするものを使用できるもの
の、この構造では半導体素子13の外周側を回してワイ
ヤ18を配設するため、半導体素子13に対して半導体
装置10全体が大きくなってしまい、半導体装置の小型
・薄型化の要望に十分応えられないといった不満があ
る。
【0009】本発明は前記事情に鑑みてなされたもの
で、その目的とするところは、半導体素子とほぼ等しい
大きさでありしたがって小型・薄型化の要望に十分応え
ることができ、しかも安価に製造できる半導体装置とそ
の製造方法、およびこの半導体装置の製造に好適に用い
られる半導体パッケージを提供することにある。
で、その目的とするところは、半導体素子とほぼ等しい
大きさでありしたがって小型・薄型化の要望に十分応え
ることができ、しかも安価に製造できる半導体装置とそ
の製造方法、およびこの半導体装置の製造に好適に用い
られる半導体パッケージを提供することにある。
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明における請求項1
記載の半導体パッケージでは、半導体素子を載せてこれ
の素子形成面側を一方の面に固定する基板と、該基板の
他方の面に設けられて前記半導体素子と電気的に接続す
るための接続パターンとを備えてなり、前記基板には、
その一方の面から他方の面にかけて貫通した状態に開口
する貫通開口部が形成されたことを前記課題の解決手段
とした。
記載の半導体パッケージでは、半導体素子を載せてこれ
の素子形成面側を一方の面に固定する基板と、該基板の
他方の面に設けられて前記半導体素子と電気的に接続す
るための接続パターンとを備えてなり、前記基板には、
その一方の面から他方の面にかけて貫通した状態に開口
する貫通開口部が形成されたことを前記課題の解決手段
とした。
【0011】この半導体パッケージによれば、基板に貫
通開口部を形成し、半導体素子の素子形成面を載せる基
板面と反対の側の面に接続パターンを設けたので、半導
体素子の素子形成面に形成された電極と前記接続パター
ンとを前記貫通開口部内を通るワイヤで接合することが
可能となり、したがって半導体素子の外周側を回すこと
なくワイヤを配設することができ、これによりワイヤの
配線スペースを半導体素子の外周側に確保する必要がな
くなる。また、ワイヤ接合を行えることから、ワイヤに
よって半導体素子と基板との間の熱膨張率の差を吸収す
ることができ、これにより高価なセラミックス基板でな
く安価な樹脂基板を使用することが可能となる。
通開口部を形成し、半導体素子の素子形成面を載せる基
板面と反対の側の面に接続パターンを設けたので、半導
体素子の素子形成面に形成された電極と前記接続パター
ンとを前記貫通開口部内を通るワイヤで接合することが
可能となり、したがって半導体素子の外周側を回すこと
なくワイヤを配設することができ、これによりワイヤの
配線スペースを半導体素子の外周側に確保する必要がな
くなる。また、ワイヤ接合を行えることから、ワイヤに
よって半導体素子と基板との間の熱膨張率の差を吸収す
ることができ、これにより高価なセラミックス基板でな
く安価な樹脂基板を使用することが可能となる。
【0012】本発明における請求項4記載の半導体装置
では、半導体パッケージが、半導体素子を載せてこれを
一方の面に固定するための基板と、該基板の他方の面に
設けられた接続パターンとを備え、前記基板にその一方
の面から他方の面にかけて貫通した状態に開口する貫通
開口部を形成して構成されており、前記半導体素子が、
その素子形成面が前記基板の一方の面に載せられ、かつ
その電極が前記貫通開口部内に臨ませられた状態で該一
方の面に固定されてなり、該半導体素子の電極が前記貫
通開口部内を通るワイヤを介して前記接続パターンに電
気的に接続され、前記貫通開口部内とワイヤとが樹脂で
封止されてなることを前記課題の解決手段とした。
では、半導体パッケージが、半導体素子を載せてこれを
一方の面に固定するための基板と、該基板の他方の面に
設けられた接続パターンとを備え、前記基板にその一方
の面から他方の面にかけて貫通した状態に開口する貫通
開口部を形成して構成されており、前記半導体素子が、
その素子形成面が前記基板の一方の面に載せられ、かつ
その電極が前記貫通開口部内に臨ませられた状態で該一
方の面に固定されてなり、該半導体素子の電極が前記貫
通開口部内を通るワイヤを介して前記接続パターンに電
気的に接続され、前記貫通開口部内とワイヤとが樹脂で
封止されてなることを前記課題の解決手段とした。
【0013】この半導体装置によれば、半導体パッケー
ジとして前記請求項1記載のものが用いられており、半
導体素子の素子形成面に形成された電極と基板の接続パ
ターンとが貫通開口部内を通るワイヤで接合されている
ことから、半導体素子の外周側を回すことなくワイヤが
配設されたことによって半導体素子の外周側にワイヤの
配線スペースが必要がなくなる。また、半導体素子と基
板とがワイヤ接合されていることから、ワイヤによって
半導体素子と基板との間の熱膨張率の差を吸収すること
ができ、これにより高価なセラミックス基板でなく安価
な樹脂基板を使用することが可能となる。
ジとして前記請求項1記載のものが用いられており、半
導体素子の素子形成面に形成された電極と基板の接続パ
ターンとが貫通開口部内を通るワイヤで接合されている
ことから、半導体素子の外周側を回すことなくワイヤが
配設されたことによって半導体素子の外周側にワイヤの
配線スペースが必要がなくなる。また、半導体素子と基
板とがワイヤ接合されていることから、ワイヤによって
半導体素子と基板との間の熱膨張率の差を吸収すること
ができ、これにより高価なセラミックス基板でなく安価
な樹脂基板を使用することが可能となる。
【0014】本発明における請求項7記載の半導体装置
の製造方法では、まず、半導体素子を載せてこれを一方
の面に固定するための基板と、該基板の他方の面に設け
られた接続パターンとを備え、前記基板にその一方の面
から他方の面にかけて貫通した状態に開口する貫通開口
部を形成して構成された半導体パッケージを用意し、次
に、該半導体パッケージの基板の一方の面に半導体素子
の素子形成面をその電極が前記貫通開口部内に臨むよう
にして固定し、次いで、前記接続パターンと半導体素子
の電極とを貫通開口部内を通るワイヤで電気的に接続
し、その後、前記貫通開口部内とワイヤとを樹脂で封止
することを前記課題の解決手段とした。
の製造方法では、まず、半導体素子を載せてこれを一方
の面に固定するための基板と、該基板の他方の面に設け
られた接続パターンとを備え、前記基板にその一方の面
から他方の面にかけて貫通した状態に開口する貫通開口
部を形成して構成された半導体パッケージを用意し、次
に、該半導体パッケージの基板の一方の面に半導体素子
の素子形成面をその電極が前記貫通開口部内に臨むよう
にして固定し、次いで、前記接続パターンと半導体素子
の電極とを貫通開口部内を通るワイヤで電気的に接続
し、その後、前記貫通開口部内とワイヤとを樹脂で封止
することを前記課題の解決手段とした。
【0015】この半導体装置の製造方法によれば、前記
請求項1記載の半導体パッケージを用い、半導体素子の
素子形成面に形成された電極と基板の接続パターンとを
貫通開口部内を通るワイヤで接合することから、半導体
素子の外周側を回すことなくワイヤが配設されることに
よって半導体素子の外周側にワイヤの配線スペースを不
要にすることが可能になる。また、半導体素子と基板と
をワイヤ接合することから、ワイヤによって半導体素子
と基板との間の熱膨張率の差を吸収することができ、こ
れにより高価なセラミックス基板でなく安価な樹脂基板
を使用することが可能となる。
請求項1記載の半導体パッケージを用い、半導体素子の
素子形成面に形成された電極と基板の接続パターンとを
貫通開口部内を通るワイヤで接合することから、半導体
素子の外周側を回すことなくワイヤが配設されることに
よって半導体素子の外周側にワイヤの配線スペースを不
要にすることが可能になる。また、半導体素子と基板と
をワイヤ接合することから、ワイヤによって半導体素子
と基板との間の熱膨張率の差を吸収することができ、こ
れにより高価なセラミックス基板でなく安価な樹脂基板
を使用することが可能となる。
【0016】
【発明の実施の形態】以下、本発明を詳しく説明する。
図1は、本発明における請求項4記載の発明の半導体装
置の第1実施形態例を示す図である。図1において符号
30は半導体装置であり、この半導体装置30は半導体
パッケージ31に半導体素子32を搭載してなるもので
ある。なお、この半導体装置30における半導体パッケ
ージ31は、本発明における請求項1記載の発明の半導
体パッケージの第1実施形態例となるものである。
図1は、本発明における請求項4記載の発明の半導体装
置の第1実施形態例を示す図である。図1において符号
30は半導体装置であり、この半導体装置30は半導体
パッケージ31に半導体素子32を搭載してなるもので
ある。なお、この半導体装置30における半導体パッケ
ージ31は、本発明における請求項1記載の発明の半導
体パッケージの第1実施形態例となるものである。
【0017】半導体装置30において半導体パッケージ
31は、半導体素子32を載せてこれの素子形成面32
a側を一方の面に固定する矩形状の基板33と、該基板
33の他方の面に設けられた複数の接続パターン34…
とを備えてなるものである。基板33はガラスエポキシ
等の樹脂を基材とするもので、図2(a)に示すように
その中央部には、基板33の長辺方向に沿って貫通開口
部35が形成されている。この貫通開口部35は、半導
体素子32を固定する一方の面側から他方の面側にかけ
て貫通した状態で矩形状に開口して形成されたものであ
る。なお、図1、図2(a)に示したように接続パター
ン34…は、それぞれ基板33の長辺側端縁部から貫通
開口部35にかけて延びて形成されたもので、金属等か
らなる導電性のものである。
31は、半導体素子32を載せてこれの素子形成面32
a側を一方の面に固定する矩形状の基板33と、該基板
33の他方の面に設けられた複数の接続パターン34…
とを備えてなるものである。基板33はガラスエポキシ
等の樹脂を基材とするもので、図2(a)に示すように
その中央部には、基板33の長辺方向に沿って貫通開口
部35が形成されている。この貫通開口部35は、半導
体素子32を固定する一方の面側から他方の面側にかけ
て貫通した状態で矩形状に開口して形成されたものであ
る。なお、図1、図2(a)に示したように接続パター
ン34…は、それぞれ基板33の長辺側端縁部から貫通
開口部35にかけて延びて形成されたもので、金属等か
らなる導電性のものである。
【0018】これら接続パターン34…を形成した基板
33の他方の面には、図1、図2(b)に示すように接
続パターン34…の一部を露出した状態で該接続パター
ン34…を覆う絶縁膜36が設けられている。この絶縁
膜36はレジスト等からなるもので、接続パターン34
…における前記貫通開口部35側の端部34aと該端部
34a以外の一部、この例では前記端部34aと反対の
側の端部34bとを露出させた状態で、かつ、貫通開口
部35を覆うことなくこれをそのまま開口させた状態に
設けられたものである。
33の他方の面には、図1、図2(b)に示すように接
続パターン34…の一部を露出した状態で該接続パター
ン34…を覆う絶縁膜36が設けられている。この絶縁
膜36はレジスト等からなるもので、接続パターン34
…における前記貫通開口部35側の端部34aと該端部
34a以外の一部、この例では前記端部34aと反対の
側の端部34bとを露出させた状態で、かつ、貫通開口
部35を覆うことなくこれをそのまま開口させた状態に
設けられたものである。
【0019】このような構成の半導体パッケージ31に
おける基板33の一方の面には、図1、図2(c)に示
すように貫通開口部35の長辺方向における中心線近傍
部分を開口させた状態で、テープ状の接合材37が設け
られている。この接合材37は、ポリイミド等の樹脂製
のテープ基材の両面に、ポリアミドイミド等の熱可塑性
の接着剤あるいは変性エポキシ等の熱硬化性の接着剤を
塗布して形成されたものである。また、基板33の一方
の面には、図1に示すように接合材37を介して半導体
素子32が載置固定されている。この半導体素子32
は、図3に示すように矩形板状のもので、その素子形成
面32aの長辺方向中心線上に複数の電極38…を形成
したものであり、これら電極38…を前記貫通開口部3
5内に臨ませて配設されたものである。
おける基板33の一方の面には、図1、図2(c)に示
すように貫通開口部35の長辺方向における中心線近傍
部分を開口させた状態で、テープ状の接合材37が設け
られている。この接合材37は、ポリイミド等の樹脂製
のテープ基材の両面に、ポリアミドイミド等の熱可塑性
の接着剤あるいは変性エポキシ等の熱硬化性の接着剤を
塗布して形成されたものである。また、基板33の一方
の面には、図1に示すように接合材37を介して半導体
素子32が載置固定されている。この半導体素子32
は、図3に示すように矩形板状のもので、その素子形成
面32aの長辺方向中心線上に複数の電極38…を形成
したものであり、これら電極38…を前記貫通開口部3
5内に臨ませて配設されたものである。
【0020】そして、このようにして貫通開口部35内
に臨んだ状態に配設された半導体素子32の電極38…
には、図1、図4に示すように接続パターン34の端部
34aとの間でワイヤ39が貫通開口部35内を通って
接続されており、これによって該電極38と接続パター
ン34とは電気的に接続されたものとなっている。ま
た、接続パターン34のもう一方の露出した端部34b
には、図1に示したように半田ボール等からなる外部接
続端子40が接続されている。そして、このような構成
により半導体素子32の電極38は、ワイヤ39、接続
パターン34を介して外部接続端子40に電気的に接続
したものとなっている。また、このようにしてワイヤ3
9が電極38と接続パターン34との接続のために配置
された貫通開口部35内には、図1、図5に示すように
接続パターン34の端部34aを覆った状態に絶縁性樹
脂41が充填され、これにより電極38、ワイヤ39お
よび接続パターン34の端部34aが外部と絶縁した状
態に封止されている。
に臨んだ状態に配設された半導体素子32の電極38…
には、図1、図4に示すように接続パターン34の端部
34aとの間でワイヤ39が貫通開口部35内を通って
接続されており、これによって該電極38と接続パター
ン34とは電気的に接続されたものとなっている。ま
た、接続パターン34のもう一方の露出した端部34b
には、図1に示したように半田ボール等からなる外部接
続端子40が接続されている。そして、このような構成
により半導体素子32の電極38は、ワイヤ39、接続
パターン34を介して外部接続端子40に電気的に接続
したものとなっている。また、このようにしてワイヤ3
9が電極38と接続パターン34との接続のために配置
された貫通開口部35内には、図1、図5に示すように
接続パターン34の端部34aを覆った状態に絶縁性樹
脂41が充填され、これにより電極38、ワイヤ39お
よび接続パターン34の端部34aが外部と絶縁した状
態に封止されている。
【0021】次に、このような構成の半導体装置1を製
造方法を説明する。なお、ここで説明する製造方法の例
は、本発明における請求項7記載の発明の一実施形態例
となるものである。まず、図2(a)〜(c)に示した
半導体パッケージ31を用意するとともに、図3に示し
た半導体素子32を用意する。ここで、半導体パッケー
ジ31の基板33の一方の面に設けるテープ状の接合材
37については、基板33側に設けることなく、半導体
素子32側に設けるようにしてもよい。
造方法を説明する。なお、ここで説明する製造方法の例
は、本発明における請求項7記載の発明の一実施形態例
となるものである。まず、図2(a)〜(c)に示した
半導体パッケージ31を用意するとともに、図3に示し
た半導体素子32を用意する。ここで、半導体パッケー
ジ31の基板33の一方の面に設けるテープ状の接合材
37については、基板33側に設けることなく、半導体
素子32側に設けるようにしてもよい。
【0022】次に、このようにして用意した半導体パッ
ケージ31の一方の面上に半導体素子32を、半導体素
子32の電極38…が貫通開口部35内に臨むようにし
て載置する。続いて、この状態で加熱加圧することによ
って半導体パッケージ31の基板33と半導体素子32
の素子形成面32aとを互いに密着させ、接合材37の
接着剤を溶融固化、あるいは硬化させることによって半
導体素子32を基板33の一方の面に固定する。
ケージ31の一方の面上に半導体素子32を、半導体素
子32の電極38…が貫通開口部35内に臨むようにし
て載置する。続いて、この状態で加熱加圧することによ
って半導体パッケージ31の基板33と半導体素子32
の素子形成面32aとを互いに密着させ、接合材37の
接着剤を溶融固化、あるいは硬化させることによって半
導体素子32を基板33の一方の面に固定する。
【0023】次いで、図4に示したように基板33の貫
通開口部35内に臨む電極38…と、基板33の他方の
面にある接続パターン34…の端部34a…をそれぞれ
対応するものどうしワイヤボンディングし、これら電極
38と接続パターン34とを貫通開口部35内にてワイ
ヤ39で電気的に接続する。なお、このワイヤボンディ
ングには、従来一般に使用されているワイヤーボンダー
を使用することができる。
通開口部35内に臨む電極38…と、基板33の他方の
面にある接続パターン34…の端部34a…をそれぞれ
対応するものどうしワイヤボンディングし、これら電極
38と接続パターン34とを貫通開口部35内にてワイ
ヤ39で電気的に接続する。なお、このワイヤボンディ
ングには、従来一般に使用されているワイヤーボンダー
を使用することができる。
【0024】次いで、図5に示したように貫通開口部3
5内をエポキシ等の絶縁性樹脂41で充填し、かつワイ
ヤ38および接合パターン34の端部35aを覆った状
態に前記絶縁性樹脂41を塗布し、電極38…、ワイヤ
39…、接続パターン34の端部34a…を全て封止す
る。その後、接続パターン34の端部34b…にそれぞ
れ半田ボール等からなる外部接続端子40を高温下で接
合し、半導体装置30を得る。
5内をエポキシ等の絶縁性樹脂41で充填し、かつワイ
ヤ38および接合パターン34の端部35aを覆った状
態に前記絶縁性樹脂41を塗布し、電極38…、ワイヤ
39…、接続パターン34の端部34a…を全て封止す
る。その後、接続パターン34の端部34b…にそれぞ
れ半田ボール等からなる外部接続端子40を高温下で接
合し、半導体装置30を得る。
【0025】このようにして得られた半導体装置30に
あっては、半導体素子32の素子形成面32aに形成さ
れた電極38…と基板33の接続パターン34…とが貫
通開口部35内を通るワイヤ39で接合されていること
から、半導体素子32の外周側を回すことなくワイヤ3
9が配設されたことによって半導体素子32の外周側に
ワイヤ39の配線スペースを設ける必要がなくなり、こ
れにより装置全体の小型・薄型化を図ることができる。
また、半導体素子32と基板33とがワイヤ接合されて
いることから、ワイヤ39によって半導体素子32と基
板33との間の熱膨張率の差を吸収することができ、こ
れにより高価なセラミックス基板でなく安価な樹脂基板
を使用することができる。
あっては、半導体素子32の素子形成面32aに形成さ
れた電極38…と基板33の接続パターン34…とが貫
通開口部35内を通るワイヤ39で接合されていること
から、半導体素子32の外周側を回すことなくワイヤ3
9が配設されたことによって半導体素子32の外周側に
ワイヤ39の配線スペースを設ける必要がなくなり、こ
れにより装置全体の小型・薄型化を図ることができる。
また、半導体素子32と基板33とがワイヤ接合されて
いることから、ワイヤ39によって半導体素子32と基
板33との間の熱膨張率の差を吸収することができ、こ
れにより高価なセラミックス基板でなく安価な樹脂基板
を使用することができる。
【0026】図6は本発明における請求項4記載の半導
体装置の第2実施形態例を示す図であり、この図におい
て符号50は半導体装置である。この半導体装置50が
図1に示した半導体装置30と異なるところは、その半
導体パッケージ51の構成にある。この半導体装置50
における半導体パッケージ51は、本発明における請求
項1記載の発明の半導体パッケージの第2実施形態例と
なるものであり、図1に示した半導体パッケージ31と
異なるところは、接続パターン52が複数段(この例で
は2段)に形成されている点である。
体装置の第2実施形態例を示す図であり、この図におい
て符号50は半導体装置である。この半導体装置50が
図1に示した半導体装置30と異なるところは、その半
導体パッケージ51の構成にある。この半導体装置50
における半導体パッケージ51は、本発明における請求
項1記載の発明の半導体パッケージの第2実施形態例と
なるものであり、図1に示した半導体パッケージ31と
異なるところは、接続パターン52が複数段(この例で
は2段)に形成されている点である。
【0027】すなわち、半導体パッケージ51はその基
板53が上板53aと下板53bとからなっており、下
板53bはその貫通開口部54側の端縁が上板53aの
端縁より外側となるようにして形成されている。そし
て、このような構成により基板53は、その裏面(他方
の面)が上板53aの裏面と下板53bの裏面との2段
に形成されたものとなっている。
板53が上板53aと下板53bとからなっており、下
板53bはその貫通開口部54側の端縁が上板53aの
端縁より外側となるようにして形成されている。そし
て、このような構成により基板53は、その裏面(他方
の面)が上板53aの裏面と下板53bの裏面との2段
に形成されたものとなっている。
【0028】この基板53の上板53aの裏面には第1
の接続パターン52aが複数設けられ、下板53bの裏
面には第2の接続パターン52bが複数設けられてお
り、これら第1、第2の接続パターン52a、52bは
下板53b内を貫通して設けられた配線材55を介して
電気的に接続したものとなっている。そして、このよう
な構成により接続パターン52は、第1の接続パターン
52aと配線材55と第2の接続パターン52bとから
なる2段(複数段)のパターンとなっている。
の接続パターン52aが複数設けられ、下板53bの裏
面には第2の接続パターン52bが複数設けられてお
り、これら第1、第2の接続パターン52a、52bは
下板53b内を貫通して設けられた配線材55を介して
電気的に接続したものとなっている。そして、このよう
な構成により接続パターン52は、第1の接続パターン
52aと配線材55と第2の接続パターン52bとから
なる2段(複数段)のパターンとなっている。
【0029】下板53bの裏面には、絶縁膜56が第2
の接続パターン52bを覆った状態に形成されている。
ただし、この例においても、絶縁膜56は第2の接続パ
ターン52bの一部、すなわち図2(b)に示したもの
と同様に基板53における長辺側の端部を露出した状態
に形成されたものとなっている。そして、このように上
板53aと下板53bとから形成された基板53の、段
差を持って形成された貫通開口部54内には、該貫通開
口部54内に臨んで配置された半導体素子32の電極3
8と、基板53の上板53aの裏面に露出する第1の接
続パターン52aの端部とがワイヤ39によって電気的
に接続されている。さらに、この貫通開口部38内に
は、ワイヤ39と第1の接続パターン52aの端部とを
覆った状態に絶縁性樹脂57が充填され、これにより電
極38、ワイヤ39および第1の接続パターン52aの
端部が外部と絶縁した状態に封止されている。
の接続パターン52bを覆った状態に形成されている。
ただし、この例においても、絶縁膜56は第2の接続パ
ターン52bの一部、すなわち図2(b)に示したもの
と同様に基板53における長辺側の端部を露出した状態
に形成されたものとなっている。そして、このように上
板53aと下板53bとから形成された基板53の、段
差を持って形成された貫通開口部54内には、該貫通開
口部54内に臨んで配置された半導体素子32の電極3
8と、基板53の上板53aの裏面に露出する第1の接
続パターン52aの端部とがワイヤ39によって電気的
に接続されている。さらに、この貫通開口部38内に
は、ワイヤ39と第1の接続パターン52aの端部とを
覆った状態に絶縁性樹脂57が充填され、これにより電
極38、ワイヤ39および第1の接続パターン52aの
端部が外部と絶縁した状態に封止されている。
【0030】このような構成の半導体装置50にあって
は、図1に示した半導体装置30と同様に半導体素子3
2の外周側へワイヤ39の配線スペースを設ける必要が
ないことから装置全体の小型・薄型化を図ることがで
き、また、ワイヤ39によって半導体素子32と基板5
3との間の熱膨張率の差を吸収することができることか
ら基板53として安価な樹脂基板を使用することができ
る。
は、図1に示した半導体装置30と同様に半導体素子3
2の外周側へワイヤ39の配線スペースを設ける必要が
ないことから装置全体の小型・薄型化を図ることがで
き、また、ワイヤ39によって半導体素子32と基板5
3との間の熱膨張率の差を吸収することができることか
ら基板53として安価な樹脂基板を使用することができ
る。
【0031】さらに、基板53を上板53aと下板53
bとの2段に形成し、接続パターン52を、第1の接続
パターン52aと配線材55と第2の接続パターン52
bとからなる2段(複数段)のパターンにしてその基板
53中心側の端部、すなわち基板53の一方の面側の段
に設けられた端部にワイヤ39を接続するようにしたの
で、外側に延びださせることなくワイヤ39を貫通開口
部54内に納めることができ、これにより絶縁性樹脂5
7を、基板53の底面、すなわち下板53bの裏面より
大きく突出させることなく貫通開口部54内に充填する
だけでワイヤ39を覆うことができる。したがって、半
田ボール等からなる外部接続端子19を小径とすること
ができ、これにより外部接続端子19の狭ピッチ化・多
ピッチ化を図ることができる。
bとの2段に形成し、接続パターン52を、第1の接続
パターン52aと配線材55と第2の接続パターン52
bとからなる2段(複数段)のパターンにしてその基板
53中心側の端部、すなわち基板53の一方の面側の段
に設けられた端部にワイヤ39を接続するようにしたの
で、外側に延びださせることなくワイヤ39を貫通開口
部54内に納めることができ、これにより絶縁性樹脂5
7を、基板53の底面、すなわち下板53bの裏面より
大きく突出させることなく貫通開口部54内に充填する
だけでワイヤ39を覆うことができる。したがって、半
田ボール等からなる外部接続端子19を小径とすること
ができ、これにより外部接続端子19の狭ピッチ化・多
ピッチ化を図ることができる。
【0032】図7は本発明における請求項4記載の半導
体装置の第3実施形態例を示す図であり、この図におい
て符号60は半導体装置である。この半導体装置50が
図1に示した半導体装置30と異なるところは、その半
導体パッケージ61の構成にある。この半導体装置60
における半導体パッケージ61は、本発明における請求
項1記載の発明の半導体パッケージの第3実施形態例と
なるものであり、図1に示した半導体パッケージ31と
異なるところは、主に基板62に貫通開口部63が複
数、この例では2つ形成されている点である。すなわ
ち、半導体パッケージ61の基板62には貫通開口部6
3が、基板62の長辺の長さ方向に沿って2列に形成さ
れている。そして、接続パターン64は、それぞれの貫
通開口部63の外側(基板62の長辺側)から中心側に
該貫通開口部63を横切った状態で形成配置されてお
り、その外側の端部は一部を外側に臨ませた状態で絶縁
膜65に覆われている。
体装置の第3実施形態例を示す図であり、この図におい
て符号60は半導体装置である。この半導体装置50が
図1に示した半導体装置30と異なるところは、その半
導体パッケージ61の構成にある。この半導体装置60
における半導体パッケージ61は、本発明における請求
項1記載の発明の半導体パッケージの第3実施形態例と
なるものであり、図1に示した半導体パッケージ31と
異なるところは、主に基板62に貫通開口部63が複
数、この例では2つ形成されている点である。すなわ
ち、半導体パッケージ61の基板62には貫通開口部6
3が、基板62の長辺の長さ方向に沿って2列に形成さ
れている。そして、接続パターン64は、それぞれの貫
通開口部63の外側(基板62の長辺側)から中心側に
該貫通開口部63を横切った状態で形成配置されてお
り、その外側の端部は一部を外側に臨ませた状態で絶縁
膜65に覆われている。
【0033】また、この半導体装置60において半導体
パッケージ61に搭載された半導体素子66は、その素
子形成面に電極67…が2列形成されたものとなってお
り、これら電極67…はそれぞれ、基板62の貫通開口
部63内に臨んだ状態で配置されたものとなっている。
そして、これら電極67…は、前記接続パターン64に
貫通開口部63内を通るワイヤ39で接続され、これに
より接続パターン64の端部に接続した外部接続端子6
8と電気的に接続したものとなっている。また、貫通開
口部63内には、ワイヤ39と接続パターン64のワイ
ヤ39と接続した側の端部とを覆った状態に絶縁性樹脂
69が充填され、これにより電極67、ワイヤ39およ
び接続パターン64の端部が外部と絶縁した状態に封止
されている。
パッケージ61に搭載された半導体素子66は、その素
子形成面に電極67…が2列形成されたものとなってお
り、これら電極67…はそれぞれ、基板62の貫通開口
部63内に臨んだ状態で配置されたものとなっている。
そして、これら電極67…は、前記接続パターン64に
貫通開口部63内を通るワイヤ39で接続され、これに
より接続パターン64の端部に接続した外部接続端子6
8と電気的に接続したものとなっている。また、貫通開
口部63内には、ワイヤ39と接続パターン64のワイ
ヤ39と接続した側の端部とを覆った状態に絶縁性樹脂
69が充填され、これにより電極67、ワイヤ39およ
び接続パターン64の端部が外部と絶縁した状態に封止
されている。
【0034】このような構成の半導体装置60にあって
は、図1に示した半導体装置30と同様に半導体素子6
6の外周側へワイヤ39の配線スペースを設ける必要が
ないことから装置全体の小型・薄型化を図ることがで
き、また、ワイヤ39によって半導体素子66と基板6
2との間の熱膨張率の差を吸収することができることか
ら基板62として安価な樹脂基板を使用することができ
る。さらに、半導体パッケージ61に搭載する半導体素
子として、電極67をその中心部でなく周辺側に配置し
た半導体素子66を用いることができる。
は、図1に示した半導体装置30と同様に半導体素子6
6の外周側へワイヤ39の配線スペースを設ける必要が
ないことから装置全体の小型・薄型化を図ることがで
き、また、ワイヤ39によって半導体素子66と基板6
2との間の熱膨張率の差を吸収することができることか
ら基板62として安価な樹脂基板を使用することができ
る。さらに、半導体パッケージ61に搭載する半導体素
子として、電極67をその中心部でなく周辺側に配置し
た半導体素子66を用いることができる。
【0035】なお、前記実施形態例では、半導体パッケ
ージの基板上に半導体素子を固定するのにテープ状の接
合材37を用いたが、本発明はこれに限定されることな
く、これに代えて例えばエポキシ等の液状接着剤を用い
ることもできる。
ージの基板上に半導体素子を固定するのにテープ状の接
合材37を用いたが、本発明はこれに限定されることな
く、これに代えて例えばエポキシ等の液状接着剤を用い
ることもできる。
【0036】
【発明の効果】以上説明したように本発明における請求
項1記載の半導体パッケージは、基板に貫通開口部を形
成し、半導体素子の素子形成面を載せる基板面と反対の
側の面に接続パターンを設けたものであるから、半導体
素子の素子形成面に形成された電極と前記接続パターン
とを前記貫通開口部内を通るワイヤで接合することがで
き、したがって半導体素子の外周側を回すことなくワイ
ヤを配設することができることによりワイヤの配線スペ
ースを半導体素子の外周側に確保する必要がなくなり、
よってこれを用いた半導体装置の小型・薄型化を図るこ
とができる。また、ワイヤ接合を行えることから、ワイ
ヤによって半導体素子と基板との間の熱膨張率の差を吸
収することができ、これにより高価なセラミックス基板
でなく安価な樹脂基板を使用することができ、よって半
導体装置の低価格化を図ることができる。
項1記載の半導体パッケージは、基板に貫通開口部を形
成し、半導体素子の素子形成面を載せる基板面と反対の
側の面に接続パターンを設けたものであるから、半導体
素子の素子形成面に形成された電極と前記接続パターン
とを前記貫通開口部内を通るワイヤで接合することがで
き、したがって半導体素子の外周側を回すことなくワイ
ヤを配設することができることによりワイヤの配線スペ
ースを半導体素子の外周側に確保する必要がなくなり、
よってこれを用いた半導体装置の小型・薄型化を図るこ
とができる。また、ワイヤ接合を行えることから、ワイ
ヤによって半導体素子と基板との間の熱膨張率の差を吸
収することができ、これにより高価なセラミックス基板
でなく安価な樹脂基板を使用することができ、よって半
導体装置の低価格化を図ることができる。
【0037】本発明における請求項4記載の半導体装置
は、半導体パッケージとして前記請求項1記載のものを
用い、半導体素子の素子形成面に形成された電極と基板
の接続パターンとを貫通開口部内を通るワイヤで接合し
たものであるから、半導体素子の外周側を回すことなく
ワイヤが配設されたことによって半導体素子の外周側に
ワイヤの配線スペースが必要がなくなり、よって装置全
体の小型・薄型化を図ることができる。また、半導体素
子と基板とがワイヤ接合されていることから、ワイヤに
よって半導体素子と基板との間の熱膨張率の差を吸収す
ることができ、これにより高価なセラミックス基板でな
く安価な樹脂基板を使用することができ、よって半導体
装置の低価格化を達成することができる。
は、半導体パッケージとして前記請求項1記載のものを
用い、半導体素子の素子形成面に形成された電極と基板
の接続パターンとを貫通開口部内を通るワイヤで接合し
たものであるから、半導体素子の外周側を回すことなく
ワイヤが配設されたことによって半導体素子の外周側に
ワイヤの配線スペースが必要がなくなり、よって装置全
体の小型・薄型化を図ることができる。また、半導体素
子と基板とがワイヤ接合されていることから、ワイヤに
よって半導体素子と基板との間の熱膨張率の差を吸収す
ることができ、これにより高価なセラミックス基板でな
く安価な樹脂基板を使用することができ、よって半導体
装置の低価格化を達成することができる。
【0038】本発明における請求項7記載の半導体装置
の製造方法は、前記請求項1記載の半導体パッケージを
用い、半導体素子の素子形成面に形成された電極と基板
の接続パターンとを貫通開口部内を通るワイヤで接合す
る方法であるから、半導体素子の外周側を回すことなく
ワイヤが配設されることによって半導体素子の外周側に
ワイヤの配線スペースを不要にすることができ、よって
装置全体の小型・薄型化を図ることができる。また、半
導体素子と基板とがワイヤ接合されていることから、ワ
イヤによって半導体素子と基板との間の熱膨張率の差を
吸収することができ、これにより高価なセラミックス基
板でなく安価な樹脂基板を使用することができ、よって
半導体装置の低価格化を達成することができる。
の製造方法は、前記請求項1記載の半導体パッケージを
用い、半導体素子の素子形成面に形成された電極と基板
の接続パターンとを貫通開口部内を通るワイヤで接合す
る方法であるから、半導体素子の外周側を回すことなく
ワイヤが配設されることによって半導体素子の外周側に
ワイヤの配線スペースを不要にすることができ、よって
装置全体の小型・薄型化を図ることができる。また、半
導体素子と基板とがワイヤ接合されていることから、ワ
イヤによって半導体素子と基板との間の熱膨張率の差を
吸収することができ、これにより高価なセラミックス基
板でなく安価な樹脂基板を使用することができ、よって
半導体装置の低価格化を達成することができる。
【図1】本発明における半導体装置の第1実施形態例の
概略構成を示す側断面図である。
概略構成を示す側断面図である。
【図2】(a)〜(c)は図1に示した半導体装置の構
成を説明するための図であり、(a)、(b)は主に半
導体パッケージの裏面側を説明するための斜視図、
(c)は半導体パッケージの表面側を説明するための斜
視図である。
成を説明するための図であり、(a)、(b)は主に半
導体パッケージの裏面側を説明するための斜視図、
(c)は半導体パッケージの表面側を説明するための斜
視図である。
【図3】半導体素子の素子形成面を示す斜視図である。
【図4】半導体装置の裏面側を説明するための斜視図で
ある。
ある。
【図5】半導体装置の裏面側を説明するための斜視図で
ある。
ある。
【図6】本発明における半導体装置の第2実施形態例の
概略構成を示す側断面図である。
概略構成を示す側断面図である。
【図7】本発明における半導体装置の第3実施形態例の
概略構成を示す側断面図である。
概略構成を示す側断面図である。
【図8】従来の半導体装置の一例の概略構成を示す側断
面図である。
面図である。
【図9】従来の半導体装置の他の例の概略構成を示す側
断面図である。
断面図である。
30、50、60 半導体装置 31、51、61 半導体パッケージ 32、66 半導体素子 33、53、62 基板 34、52、64 接続パターン 35、55、63 貫通開口部 37 接合材 38、67 電極 39 ワイヤ 41、57、69 絶縁性樹脂
Claims (11)
- 【請求項1】 半導体素子を保持固定する半導体パッケ
ージであって、前記半導体素子を載せてこれの素子形成
面側を一方の面に固定する基板と、該基板の他方の面に
設けられて前記半導体素子と電気的に接続するための接
続パターンとを備えてなり、 前記基板には、その一方の面から他方の面にかけて貫通
した状態に開口する貫通開口部が形成されたことを特徴
とする半導体パッケージ。 - 【請求項2】 前記接続パターンは複数段に連続した状
態で設けられ、その前記貫通開口部側の端部が基板の一
方の面側の段に設けられていることを特徴とする請求項
1記載の半導体パッケージ。 - 【請求項3】 前記貫通開口部が複数形成されてなるこ
とを特徴とする請求項1記載の半導体パッケージ。 - 【請求項4】 半導体パッケージに半導体素子を保持固
定してなる半導体装置であって、 前記半導体パッケージは、半導体素子を載せてこれを一
方の面に固定するための基板と、該基板の他方の面に設
けられた接続パターンとを備え、前記基板にその一方の
面から他方の面にかけて貫通した状態に開口する貫通開
口部を形成して構成されており、 前記半導体素子は、その素子形成面が前記基板の一方の
面に載せられ、かつその電極が前記貫通開口部内に臨ま
せられた状態で該一方の面に固定されてなり、 該半導体素子の電極が前記貫通開口部内を通るワイヤを
介して前記接続パターンに電気的に接続され、 前記貫通開口部内とワイヤとが樹脂で封止されてなるこ
とを特徴とする半導体装置。 - 【請求項5】 前記接続パターンは複数段に連続した状
態で設けられ、その前記貫通開口部側の端部が基板の一
方の面側の段に設けられていることを特徴とする請求項
4記載の半導体装置。 - 【請求項6】 前記貫通開口部が複数形成されてなるこ
とを特徴とする請求項4記載の半導体装置。 - 【請求項7】 半導体パッケージに半導体素子を固定さ
せて半導体装置を形成するに際して、 まず、半導体素子を載せてこれを一方の面に固定するた
めの基板と、該基板の他方の面に設けられた接続パター
ンとを備え、前記基板にその一方の面から他方の面にか
けて貫通した状態に開口する貫通開口部を形成して構成
された半導体パッケージを用意し、 次に、該半導体パッケージの基板の一方の面に半導体素
子の素子形成面をその電極が前記貫通開口部内に臨むよ
うにして固定し、 次いで、前記接続パターンと半導体素子の電極とを貫通
開口部内を通るワイヤで電気的に接続し、 その後、前記貫通開口部内とワイヤとを樹脂で封止する
ことを特徴とする半導体装置の製造方法。 - 【請求項8】 前記接続パターンは複数段に連続した状
態で設けられ、その前記貫通開口部側の端部が基板の一
方の面側の段に設けられていることを特徴とする請求項
7記載の半導体装置の製造方法。 - 【請求項9】 前記貫通開口部が複数形成されてなるこ
とを特徴とする請求項7記載の半導体装置の製造方法。 - 【請求項10】 半導体パッケージの基板の一方の面に
半導体素子の素子形成面を固定するにあたり、これら半
導体パッケージの基板の一方の面と半導体素子の素子形
成面とをテープ状接合材を介して固定することを特徴と
する請求項7、8又は9記載の半導体装置の製造方法。 - 【請求項11】 半導体パッケージの基板の一方の面に
半導体素子の素子形成面を固定するにあたり、これら半
導体パッケージの基板の一方の面と半導体素子の素子形
成面とを液状の接着剤を介して固定することを特徴とす
る請求項7、8又は9記載の半導体装置の製造方法。
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