JPH11289253A - Pll回路 - Google Patents

Pll回路

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JPH11289253A
JPH11289253A JP10090146A JP9014698A JPH11289253A JP H11289253 A JPH11289253 A JP H11289253A JP 10090146 A JP10090146 A JP 10090146A JP 9014698 A JP9014698 A JP 9014698A JP H11289253 A JPH11289253 A JP H11289253A
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  • Stabilization Of Oscillater, Synchronisation, Frequency Synthesizers (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 ノイズ等に起因する不必要な位相ロック信号
の解除を防止することにより、機能ブロックのスループ
ットの低下を防止するPLL回路を提供する。 【解決手段】 位相ロック信号生成部20は、基準クロ
ック信号RCLKと内部クロック信号ICLKの位相差
信号を発生する位相差信号生成部21と、位相差信号に
所定間隔で連続して位相ずれが2回発生すると、位相ロ
ック信号LOCKの解除を指示する信号を発生する位相
ずれ検出部22と、位相ずれ検出部22の出力によって
制御され、位相ロック信号LOCKを解除する待機時間
カウント部23とを有する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、位相同期回路(P
LL回路)に関し、更に詳しくは、PLL回路の位相ロ
ック信号生成部の構造に関する。
【0002】
【従来の技術】PLL回路は、例えば半導体装置に配置
され、外部から入力される基準周波数を持つ基準クロッ
ク信号から、その基準クロック信号と同期し、且つ、基
準周波数と所定の比率関係にある周波数を持つ内部クロ
ック信号を生成する。PLL回路では、電源が投入され
ると動作を開始し、過渡期間が終了して基準クロック信
号と同期した所定の内部クロック信号が得られると、そ
の旨を示す位相同期信号(位相ロック信号)を発生す
る。半導体装置内に配設され、内部クロック信号を利用
する各機能ブロックは、位相ロック信号を受領した後
に、内部クロック信号の利用による信号処理を開始す
る。
【0003】図5は、特開平8−316832号公報に
記載された従来のPLL回路を示す。PLL回路は、内
部クロック信号生成部31と、位相ロック信号生成部3
8とを備え、外部から入力する基準クロック信号RCL
Kの位相と、内部クロック信号生成部30で生成された
比較クロック信号VCLKの位相とを位相比較回路32
で比較し、基準クロック信号RCLKと内部クロック信
号ICLKとの間の位相差が所定範囲内に収まると、位
相ロック信号生成部38で位相ロック信号LOCKを発
生する。
【0004】内部クロック信号生成部31では、位相比
較回路32の一対の出力であるUP出力及びDOWN出
力が、チャージポンプ回路33に入力され、チャージポ
ンプ回路33の出力電位を制御する。チャージポンプ回
路33の出力は、低域通過フィルタ(LPF)34を経
由して電圧制御発信器(VCO)35に入力されて、そ
の出力である内部クロック信号ICLKの周波数を制御
する。内部クロック信号ICLKは所定の設定値を有す
るカウンタ36でカウントされ、そのカウント結果が、
前記比較クロック信号として位相比較器32にフィード
バックされる。カウンタ36の設定値は、基準周波数と
内部クロック信号ICLKの周波数との比率で定めら
れ、基準周波数と比較クロック信号VCLKの周波数と
を同じ値にする。
【0005】PLL回路に電源が投入された直後は、基
準クロック信号RCLKと内部クロック信号ICLKと
は非同期であり、PLL回路は同期に向けて動作を開始
する。位相比較器32は、基準周クロック信号RCLK
の立上り位相RHと比較クロック信号VCLKの立上り
位相VHとを比較し、RHが進んでいれば、出力UP及
び出力DOWNをいずれも“L"にし、チャージポンプ
33の出力を上げて比較クロック信号VCLKの周波数
を上げる。また、RHが遅れていれば出力UP及び出力
DOWNをいずれも“H"にして、チャージポンプ33
の出力を下げて比較クロック信号VCLKの周波数を下
げる。このようにして、双方の信号の位相差を0にする
ように同期動作を行う。双方の信号が同期し、その間の
位相差が0になると、位相比較器32は、出力UPを
“H"に出力DOWNを“L"にして、チャージポンプ3
3の出力をそのまま固定する。これにより、双方のクロ
ック信号RCLK、VCLKは同期を維持する。
【0006】位相ロック信号生成部38では、位相比較
器32の出力UPが“H"に、出力DOWNが“L"にな
ると、ANDゲート71の出力が“H"になり、その出
力が多段に縱続接続されたフリップフロップFF1〜F
F3から成るフリップフロップ回路72を通過する。位
相比較器32の出力がこの状態で安定し、所定期間その
状態を継続すると、すべてのフリップフロップFF1〜
FF3の出力が“H"になるので、ANDゲート73の
出力が“H"になり、位相ロック信号LOCKが出力さ
れる。内部クロック信号ICLKを使用する各機能ブロ
ックは、この位相ロック信号を検出すると、その動作を
開始する。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】上記位相ロック信号生
成部を有する従来のPLL回路では、基準クロック信号
RCLKと内部クロック信号ICLKの同期が一定期間
継続して始めて、安定な内部クロック信号ICLKが得
られたものとして、位相ロック信号LOCKを出力して
いる。
【0008】ところで、内部クロック信号ICLKは、
生成された集積回路以外に他の集積回路で使用されるこ
とも多くあり、この場合、内部クロック信号は、複数の
集積回路にまたがる長い亘長を有する。このような長い
亘長のクロック信号配線では、往々にして他の系統のク
ロック信号配線等からのノイズによって影響を受け、こ
れに起因して、内部クロック信号の立ち上がりが遅れる
等の信号誤りが発生することがある。この場合、実際は
PLL回路では正常な同期を維持しているのに、位相比
較器32の出力のみに位相同期外れが発生する。このよ
うな同期はずれは、電源電圧の変動によっても生ずる。
【0009】位相比較器の出力が一瞬でも同期はずれを
示すと、位相ロック信号生成部38は、位相ロック信号
LOCKを一旦解除し、その後一定の期間安定な位相同
期が継続した後に再び位相ロック信号を発生する。この
期間中は、実際は安定な内部クロック信号ICLKが生
成されているのにも拘わらず、各機能ブロックは、その
動作を停止して位相ロック信号の発生を待つことにな
る。この機能ブロックの停止期間中は、集積回路では信
号処理が進行せず、信号処理のスループットが低下す
る。
【0010】本発明は、上記に鑑み、PLL回路が正常
な同期を継続していれば、ノイズ等によって位相比較器
の出力に短時間の信号誤りが発生しても位相ロック信号
を解除することがないため、機能ブロックの動作を長い
時間停止させることがなく、機能ブロックにおける信号
処理のスループットを低下させないPLL回路を提供す
ることを目的とする。
【0011】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するた
め、本発明のPLL回路は、基準周波数を有する基準ク
ロック信号に基づいて、前記基準周波数と所定の比率関
係にある周波数を有する内部クロック信号を生成するP
LL回路において、前記基準クロック信号の位相と、前
記内部クロック信号又は該内部クロック信号と同期する
比較クロック信号の位相とを所定の時間間隔毎に比較
し、双方の位相が一致すると位相一致信号を発生すると
共に、双方の位相にずれを検出すると位相ずれ信号を発
生する位相ずれ検出部と、前記位相一致信号に応答して
位相ロック信号を発生し、前記位相ずれ信号が複数回連
続して発生すると前記位相ロック信号を解除する位相ロ
ック信号発生手段とを備えることを特徴とする。
【0012】本発明のPLL回路では、位相ずれが複数
回連続して発生しなければ位相ロック信号を解除しない
ので、集積回路に無害な単なるノイズによって機能ブロ
ックの信号処理が停止する不具合が防止できる。
【0013】ここで、前記位相ロック信号発生手段は、
位相一致信号が発生した後に所定の時間が経過した後に
位相ロック信号を発生することが好ましい。この場合、
電源投入後等に一旦位相同期が発生しても、その後のリ
バウンドで位相同期が外れることによって、機能ブロッ
クの動作に生ずる不具合が防止できる。
【0014】また、前記位相ずれ検出部は、所定周期間
隔でアクティブになる複数の位相ずれ検出用クロック信
号に基づいて、前記連続する複数回の位相ずれを検出す
ることが好ましい。複数回の連続する位相ずれの発生を
漏れなく検出することが出来る。
【0015】更に、前記所定周期間隔は、基準クロック
信号又は内部クロック信号のクロック周期に基づいて定
められることが好ましい。この場合、他のクロック信号
を用いることによる回路の複雑化が避けられる。
【0016】
【発明の実施の形態】図面を参照し、本発明の実施形態
例に基づいて、本発明を更に詳細に説明する。図1は、
本発明の一実施形態例のPLL回路の構成を示すブロッ
ク図である。本実施形態例のPLL回路は、内部クロッ
ク信号生成部10と、位相ロック信号生成部20とを有
する。
【0017】内部クロック信号生成部10は、基準クロ
ック信号RCLKの基準位相と比較クロック信号VCL
Kの位相とを比較してUP出力及びDOWN出力に
“H"又は“L"の信号を出力する位相比較器11と、位
相比較器11のUP出力を反転するインバータ12と、
インバータ12の出力及びDOWN出力で夫々制御され
るpチャンネルトランジスタ及びnチャンネルトランジ
スタを有するチャージポンプ13と、チャージポンプ1
3の出力の低域周波数成分を通過させる低域通過フィル
タ(LPF)14と、低域通過フィルタ14からの出力
で出力信号の周波数が制御される電圧制御発信器(VC
O)15と、VCO15の出力信号を分周して比較クロ
ック信号VCLKを生成して位相比較器11にフィード
バックする分周回路16とを有する。VCO15の出力
信号が内部クロック信号ICLKとして集積回路内で利
用される。なお、本実施形態例では、位相比較器のUP
出力及びDOWN出力はいずれもアクティブハイの信号
であって、UP出力がアクティブであればチャージポン
プの出力電圧が上昇し、DOWN出力がアクティブであ
ればチャージポンプの出力電圧は低下する。
【0018】位相ロック信号生成部20は、基準クロッ
ク信号RCLKと比較クロック信号VCLKの立下がり
位相を比較してその位相ずれに対応する信号を発生する
位相差信号生成部21と、位相差信号生成部21からの
信号を処理し、所定数の位相ずれパルスをカウントする
位相ずれ検出部22と、位相ずれ検出部22の出力によ
って制御され、位相ずれが0になった時点から所定時間
が経過すると位相ロック信号LOCKを発生する待機時
間カウント部(ウエイトカウンタ部)23とを有する。
位相差信号生成部21は、例えば論理回路の組合せから
構成され、基準クロックの立ち下がりと、比較クロック
の立ち下がりとの間に時間差があると、その立ち下がり
の時間のずれの間だけ立ち上がるパルスを生成する公知
の回路である。
【0019】図2は、位相クロック信号生成部20の位
相ずれ検出部22及び待機時間カウント部23の詳細を
示す。位相ずれ検出部22は、位相差信号生成部21の
出力を受けて所定時間以上の位相ずれの有無を判定する
位相ずれ判定部221と、位相ずれの発生をカウント
し、所定数以上の位相ずれが連続して発生すると、アク
ティブ(“H“)信号を出力する位相ずれ連続検出部2
22とから成る。位相ずれ判定部221は、位相差信号
生成部21の出力をデータ入力、内部クロック信号IC
LKをクロック入力とする第1及び第2のフリップフロ
ップFF01、FF02を有する。
【0020】第1のフリップフロップFF01はデータ
入力をクロック入力の立ち上がりで、第2のフリップフ
ロップFF02はデータ入力をクロック入力の立ち下が
りで夫々ラッチして、その出力をNANDゲートNAN
D1に与える。NAND1の出力は、インバータINV
1を介して位相ずれ連続検出部222に与えられる。位
相ずれ検出部221は、位相差信号生成部21の出力パ
ルスのパルス幅が内部クロック信号のクロック幅よりも
大きいか否かを検出し、所定以上の位相ずれが発生した
場合にその旨のパルスを次段の連続位相ずれ検出部22
2に与える。このように、位相ずれ検出部221は、位
相差信号生成部21が基準クロック信号RCLKと比較
クロック信号VCLKの位相ずれを検出しても、これが
内部クロック信号のクロック幅より小さい僅かなずれで
あれば、これをカットする働きをする。つまり、このよ
うな僅かなずれをも全て検出すると回路動作が不安定に
なることから、これを除去しているのである。従って、
そのような僅かなずれをも検出する必要がある場合には
位相ずれ検出部221は不要であり、この場合には、位
相差信号生成部21の出力は、直接連続位相検出部22
2に供給されることになる。
【0021】位相ずれ連続検出部222は、3つのフリ
ップフロップFF03〜FF5から構成されて基準クロ
ック信号RCLKから4相の位相ずれ検出用クロック信
号TCLK1〜TCLK4を生成する位相ずれ検出用ク
ロック信号生成部A1、並びに、夫々が2つのフリップ
フロップFF06、FF07及びANDゲートAND1
から成り、対応する位相ずれ検出用クロック信号のアク
ティブ期間中に位相ずれを検出する4つの検出ブロック
B1〜B4からなる。位相ずれ連続検出部222は、位
相ずれ検出部221で検出したパルスが2回連続して発
生したパルスであるか否か、つまり、ノイズに起因する
ものであるか、或いは、同期ずれが実際に発生したもの
かを検出するために設けられる。
【0022】図3は、基準クロック信号RCLK及び位
相ずれ検出用クロック信号TCLK1〜TCLK4を示
すタイミングチャートである。各位相ずれ検出用クロッ
ク信号は、基準クロック信号RCLKの連続する4クロ
ック周期を1周期とし、基準クロックRCLKの1周期
だけ順次にずれた周期で、基準クロックの2クロック周
期の間にHレベルとなる信号である。各位相差検出信号
TCLK1〜TCLK4は、Hレベルでアクティブとな
り、そのアクティブ期間中に2回連続して位相ずれが発
生すると、対応する検出ブロックは位相ずれ連続検出信
号を発生する。
【0023】図2に戻り、各検出ブロックB1〜B4の
検出出力は、ORゲートOR1に入力される。OR1の
出力は、内部クロック信号ICLKをクロック入力とす
るフリップフロップFF08でラッチされ、位相ずれ検
出部22の出力として待機時間カウント部23に与えら
れる。
【0024】待機時間カウント部23は、インバータI
NV2、多数個(例えば、13個)の縱続接続されたフ
リップフロップFF09及びこれらから信号を受ける4
個のANDゲートAND2〜AND5から構成される。
初段のフリップフロップには、基準クロック信号RCL
Kが入力され、次段以降のフリップフロップは、夫々、
前段のフリップフロップの反転出力信号/Q(/は反転
を示す)を受けて、次段のフリップフロップに自身の反
転出力信号/Qを転送する。各フリップフロップには、
位相ずれ検出部22の出力がINV2を介してリセット
入力として与えられる。各フリップフロップFF09の
信号Qは、各ANDゲートAND2〜AND5で順次に
論理和がとられ、全てのフリップフロップFの出力が
“H"となった時点で位相ロック信号LOCKが“H"に
なり、位相ロック信号生成部20から出力される。
【0025】上記PLL回路の全体動作について説明す
る。図1において、電源が投入されると、内部クロック
信号生成部10が動作し、基準クロック信号RCLKと
比較クロック信号VCLKの位相が一致するようにフィ
ードバック制御が行われ、内部クロック信号ICOKが
基準クロック信号RCLKに同期する。これを受けて、
位相ロック信号生成部20では、位相差信号生成部21
の出力を受ける位相ずれ検出部22の出力が“H"にな
り、待機時間カウント部23が、基準クロック信号RC
LKの所定数のクロックをカウントした後に、位相ロッ
ク信号LOCKを“H"レベルにする。この時、LOC
K信号が解除されていないことに注目すべきである。こ
れにより、一旦位相が同期した直後に発生するリバウン
ドによる同期外れが回避できる。
【0026】半導体装置内の各機能ブロックは、この位
相ロック信号に応答して信号処理を開始する。その後、
何らかの原因で内部クロック信号ICLKの同期はずれ
が生ずると、その旨が位相ずれ検出部22で検知され、
待機時間カウント部23を介して位相ロック信号LOC
K信号が解除される。この後、再び位相ロック信号が発
生するまで、各機能ブロックはその動作を一時停止す
る。
【0027】図4は、位相ずれ検出部22内の信号を示
すタイミングチャートである。基準クロック信号RCL
Kと分周器16の出力である比較クロック信号VCLK
が示されており、VCLKの立ち下がり位相がRCLK
の立ち下がり位相よりも遅れる例が示されている。同図
及び図2を参照して位相ずれ検出部22の動作を説明す
る。
【0028】位相差信号生成部21の出力S1は、RC
LKが“L"になった後に立ち上がり、VCLKが“L"
になるまでの期間“H"を出力する。位相ずれ検出部2
2の位相ずれ判定回路221では、第1及び第2のフリ
ップフロップFF01、FF02は、例えば2nsのク
ロックパルスを有する内部クロック信号ICLKの立ち
上がり及び立ち下がりで夫々位相差信号生成部21の出
力をラッチする。第1及び第2のフリップフロップFF
01、FF02の出力S2−1、S2−2がいずれも
“H"となる期間があると、位相ずれ判定部221で
は、内部クロック信号ICLKに単なる瞬間的ノイズで
はない位相ずれがあったものと判定し、INV1の出力
S3を“H"とする。位相連続ずれ検出部222は、各
検出ブロックB1〜B4の1アクティブ期間中に、位相
ずれが2回連続して発生した旨の信号が検知されると、
同期はずれがあったものと判定する。
【0029】図4の例では、第1の検出ブロックB1に
供給される位相差検出クロック信号TCLK1のアクテ
ィブ期間中に、INVの出力S3に2回の位相ずれを示
す“H"が発生している。最初の位相ずれは、位相ずれ
検出用クロックTCLK1を第1の検出ブロックB1の
FF06でラッチすることで検出され、その出力S4を
“H"にする。2回目の位相ずれは、FF06を経由し
てFF07で検出され、更にFF07の出力S5を
“H"にする。これにより、AND1の出力S6は、
“H"になる。フリップフロップFF08は、OR1を
経由してこの“H"を受け、その出力S7を“H"とし
て、INV2を経由して待機時間カウント部23の全て
のフリップフロップFF09をリセットする。このた
め、位相ロック信号LOCKは、“L"となり、位相同
期がはずれたことを各機能ブロックに伝える。
【0030】上記のように同期が外れると、その後ある
期間が経過する迄、同期外れが継続する。待機時間カウ
ント部23は、同期の回復を前提として、再び最初から
基準クロック信号RCLKをカウントして、所定のカウ
ント数(213)の後に再び位相ロック信号LOCKを発
生させる。この待機時間は、例えば、213(40ns=3
20μsである。電源投入直後等のように、基準クロッ
ク信号RCLKと内部クロック信号ICLKとの間で大
きくずれていた位相が同期した直後には、一般に、この
一旦同期した位相が再びずれるリバウンド事象が知られ
ている。このようなリバウンド現象は一般には320μ
s以下であり、待機時間カウント部23は、このような
リバウンド現象が生じ得る時間の経過後に位相ロック信
号LOCKを発生させ、無用な位相ロック信号LOCK
の発生及びその解除を除いている。従って、リバウンド
の収束が遅いPLL回路では、待機時間カウント部23
によるカウント時間が長くなるように構成すればよく、
リバウンドの収束が速いPLL回路では、逆に待機時間
カウント部23によるカウント時間が短くなるように構
成すればよい。
【0031】本実施形態例では、連続する2回の同期ず
れの発生で位相ロック信号を解除する構成を採用してい
る。従来は、本実施形態例とは異なり、単に1回の同期
ずれを検出して位相ロック信号を解除していたので、内
部クロック信号等に侵入するノイズで位相ロック信号が
解除される例があった。このような場合には、実際には
同期がとれていた内部クロック信号の周波数を変えるた
めにかえって位相同期が外れ、しかも、その後に内部ク
ロック信号生成部10の機能に従って同期が回復して
も、待機時間カウント部23がカウントアップするまで
は位相ロック信号が発生しなかった。このため、内部ク
ロック信号で動作する機能ブロックにおけるスループッ
トプットが低下するという問題があった。本実施形態例
では、ノイズそのものが連続して2回の同期ずれを発生
させることは殆どあり得ないことに鑑み、上記のように
連続する2回の位相ずれを検出して始めて位相ロック信
号を解除するので、単にノイズに起因する位相ロック信
号の解除が防止でき、機能ブロックにおけるスループッ
トプットの低下が防止できる。
【0032】本実施形態例のPLL回路では、位相ずれ
発生のパルスが所定間隔で2回連続して発生するまで
は、一旦発生した位相ロック信号を解除せず、従って、
信号ノイズ等に起因する瞬間的な位相ずれ信号では位相
ロック信号の解除をしない。このため、PLL回路が正
常な動作をしているにも拘わらず、位相ロック信号を解
除して待機時間カウント部23によるカウントが完了す
る迄待つことによって生ずる機能ブロックの停止は避け
られ、信号処理のスループットの低下が防止できる。従
って、待機時間カウント部23によるカウント時間が長
く設定されていればいるほど、すなわち、リバウンドの
収束が遅いPLL回路ほど、その効果は顕著である。
【0033】本実施の形態においては、連続位相ずれ検
出部222は、連続した2回の位相ずれを検出して位相
ロック信号を解除しているが、これを連続3回や連続4
回の位相ずれを検出するように構成してもよい。すなわ
ち、位相ずれが何回連続して発生すればノイズではない
本来の位相ずれであると判断するかは、発生が予測され
るノイズの質や、予想される位相ずれの特徴により決定
すればよい。しかし、ノイズに起因する位相ずれ検出は
通常1回限りであること、多数回の連続位相ずれを検出
するよう構成するとそれだけ回路規模が大きくなること
を鑑みれば、本実施の形態の如く2回が最適である。
【0034】なお、上記実施形態例では、基準クロック
信号と比較クロック信号の位相を比較する例を挙げた
が、これに代えて、基準クロック信号と内部クロック信
号とを直接比較して位相ずれを検出してもよい。また、
上記実施形態例では、4相の検出用クロック信号を採用
した例を挙げたが、2回の連続する同期ずれが検出でき
れば、2相又は3相等の検出用クロック信号を採用して
もよい。しかし、4相のクロック信号は、フリップフロ
ップを利用して容易に形成できること、及び、連続する
2回の同期ずれの発生を漏れなく検出できることから、
特に好ましい。
【0035】
【発明の効果】以上説明したように、本発明のPLL回
路によると、PLL回路が正常に動作している際に、信
号ノイズに起因して位相ロック信号が解除される不具合
が防止でき、信号処理のスループットの低下を防止でき
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施形態例のPLL回路のブロック
図。
【図2】図1の位相ロック信号生成部の詳細を示すブロ
ック図。
【図3】位相ずれ連続検出用クロック信号のタイミング
チャート。
【図4】位相ずれ検出部の内部信号のタイミングチャー
ト。
【図5】従来のPLL回路のブロック図。
【符号の説明】
10:内部クロック信号生成部 11:位相比較器 12:インバータ 13:チャージポンプ 14:低域通過フィルタ(LPF) 15:電圧制御発信器(VCO) 16:分周器 20:位相ロック信号生成部 21:位相差信号生成部 22:位相ずれ検出部 221:位相ずれ判定部 222:位相ずれ連続検出部 23:待機時間カウント部 RCLK:基準クロック信号 VCLK:比較クロック信号 ICLK:内部クロック信号 TCLK1〜TCLK4:位相ずれ検出用クロック信号 FF01〜FF09:フリップフロップ AND1〜AND5:ANDゲート NAND1:NANDゲート OR1:ORゲート

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基準周波数を有する基準クロック信号に
    基づいて、前記基準周波数と所定の比率関係にある周波
    数を有する内部クロック信号を生成するPLL回路にお
    いて、 前記基準クロック信号の位相と、前記内部クロック信号
    又は該内部クロック信号と同期する比較クロック信号の
    位相とを所定の時間間隔毎に比較し、双方の位相が一致
    すると位相一致信号を発生すると共に、双方の位相にず
    れを検出すると位相ずれ信号を発生する位相ずれ検出部
    と、 前記位相一致信号に応答して位相ロック信号を発生し、
    前記位相ずれ信号が複数回連続して発生すると前記位相
    ロック信号を解除する位相ロック信号発生手段とを備え
    ることを特徴とするPLL回路。
  2. 【請求項2】 前記位相ロック信号発生手段は、前記位
    相一致信号が発生した後に所定の時間が経過すると前記
    位相ロック信号を発生する、請求項1に記載のPLL回
    路。
  3. 【請求項3】 前記位相ずれ検出部は、所定周期間隔で
    アクティブになる複数の位相ずれ検出用クロック信号に
    基づいて、前記連続する複数回の位相ずれを検出する、
    請求項1又は2に記載のPLL回路。
  4. 【請求項4】 前記所定周期間隔は、前記基準クロック
    信号又は内部クロック信号のクロック周期に基づいて定
    められる、請求項3に記載のPLL回路。
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