JPH11273819A - 電子部品用接触子 - Google Patents
電子部品用接触子Info
- Publication number
- JPH11273819A JPH11273819A JP10359657A JP35965798A JPH11273819A JP H11273819 A JPH11273819 A JP H11273819A JP 10359657 A JP10359657 A JP 10359657A JP 35965798 A JP35965798 A JP 35965798A JP H11273819 A JPH11273819 A JP H11273819A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- contact
- pair
- electronic component
- electrodes
- terminal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Connecting Device With Holders (AREA)
Abstract
ICにおいて高周波の電圧や電流が用いられる場合にも
悪影響のでないICソケットまたはICの検査に用いら
れるテストヘッドの接触子を提供することを目的とす
る。 【解決手段】 IC端子61および電極71を互いに電
気的に接続する電子部品用接触子1において、厚みを持
ち、厚みの方向に平行に複数の穴20を開けてあり、絶
縁性を有し、弾性を有するシリコンゴムシート10と、
シリコンゴムシート10の厚みと平行な方向に沿って直
線状に各々の穴を通る金属線材30と、金属線材30の
両端に接続し、シリコンゴムシート10を挟み込み、導
電性を有する一対の圧接部40、41と、IC端子61
と一対の圧接部の一方40とを接続し、電極71と前記
一対の圧接部の他方41とを接続し導電性を有する一対
の端子部50、51とを備えたことを特徴とする。
Description
ICの検査に用いられるテストヘッドの接触子に関し、
特に高周波の電圧や電流が用いられるICソケットまた
はICの検査に用いられるテストヘッドの接触子に関す
る。
ッケージに封止あるいは収納された形態で回路基板に実
装される。このようなパッケージの形態としては、例え
ば図7(a)に示したデュアルインラインパッケージ
(DIP:Dual Inline Package)型のIC110の
ように比較的低機能で、リードピン(IC端子)の少な
いものがある。また、図7(b)に示したクワッドフラ
ットパッケージ(QFP:Quad Flat Package)型の
IC120のように高機能かつ多ピン構造のものもあ
る。このようなパッケージの形態においては、高機能化
に伴う多ピン化と、回路基板上での実装面積の縮小化に
伴う小型化とは、相反する課題を有しており実現が困難
であった。
すようにパッケージ131の実装面、すなわち底面に半
田ボールや電極ピンのIC端子132をエリア・アレイ
(2次元マトリクス)状に配列し、回路基板上での実装
面積をより小さくできるボールグリッドアレイ(BG
A:Ball Grid Array)やファインピッチBGA(F
BGA:Fine-pitch BGA)といった表面実装型パッケ
ージのIC130の形態が利用されるようになってきて
いる。
利用したりするためには、IC端子を電気回路に接続す
る必要がある。このとき、IC端子を直接に電気回路に
接続することなく、ICソケットやICテスト用ヘッド
を用いて接続させることが多い。IC端子の半田ボール
や電極ピンには、わずかであるが高さの違いが生じてい
るため、ICと電気回路の電気的接続を確実にするため
にはICを電気回路の方向に加圧しなければならない。
そのため、ICソケット及びテスト用ヘッドは加圧によ
るICと電気回路の距離変化に対応するため、弾性を有
している必要がある。
図8に示す。IC140は電気回路150にICソケッ
ト160により接続される。ICソケット160は導体
である端子161、162、導電ゴム163を有する。
端子161はIC140に、端子162は電気回路15
0に接続されている。なお、IC140の形態はボール
グリッドアレイであり、電気回路150の配線は表面に
されている。
示す。IC140のIC端子141が端子161に、電
気回路150の電極151が端子162に接続されてい
る。よって、IC140のIC端子141と電気回路1
50の電極151が電気的に接続される。なお、導電ゴ
ム163は導電性線状体164とシリコンゴムなどから
なる弾性部165からなる。導電性線状体164は導電
ゴム163に微小なピッチで傾斜、埋設されている。こ
れによりIC端子141と電極151が1対1で接続さ
れる。また、導電性線状体164が傾斜しているのは、
IC140と電気回路150の間の距離の変化等により
導電ゴム163が圧縮されたときに、導電性線状体16
4が直立していれば座屈あるいは破壊してしまうので、
それを避けるためである。これにより、IC端子141
と電極151を流れる電流は端子161、162の間に
おいて最短距離D1よりも長い距離D2を流れることに
なる。
ため、導電性線状体164に接続している端子161、
162も互いに傾斜した関係に設置されなければならな
い。このため、狭い範囲に多数の端子を設置することが
困難であり、近年の高周波のICに対応できない。
例を図10に示す。IC170は電気回路180にIC
ソケット190により接続される。ICソケット190
は、支持体191とプローブピン193からなる。プロ
ーブピン193は端子194、195を有し、端子19
4はIC170に、端子195は電気回路180に接続
されている。なお、IC170の形態はボールグリッド
アレイであり、電気回路180の配線は表面にされてい
る。なお、支持体191には支持穴192が開けられて
おり、プローブピン193を支持穴192に差し込むこ
とにより、プローブピン193が支持される。
を示す。IC170のIC端子171が端子194に、
電気回路180の電極181が端子195に接続されて
いる。よって、IC170のIC端子171と電気回路
180の電極181が電気的に接続される。プローブピ
ン192の内部には導体であるコイルバネ196があ
り、コイルバネ196の端部197、198は端子19
4、195に接続される。コイルバネ196はその形状
のため、伸縮がある程度可能であり、IC170と電気
回路180の距離の変化に対応できる。ただし、コイル
バネ196の長さは端部197、198の間の距離より
も、もちろん長い。よって、IC端子171と電極18
1を流れる電流は端部197、198の間において、端
部197、198の間の距離よりも長い経路を流れるこ
とになる。
波の電圧や電流が用いられるICに使用した場合、電流
の流れる部分の長さが無視できなくなる。高周波である
ということは周期が短く、電流の流れる部分の長さが長
ければ電流が流れるのに時間がかかり、周期の長さに対
して無視できなくなるからである。
ケットやICテスト用ヘッドにおいては、電流の流れる
部分の長さは最短距離よりも長く、高周波の電圧や電流
が用いられるICに使用した場合、悪影響がでる。
平8−138779号において示されている接触子(ゴ
ムコネクタ)を使用することが考えられる。図12に、
かかる接触子を示す。ICソケット200は導電性弾性
体であるシリコンゴム201と絶縁性弾性体であるシリ
コンゴム202とが交互に積層される積層部203を備
えている。積層部203は高硬度なので、両側面に低硬
度の絶縁性の支持部材である絶縁性シリコンゴム206
(204、205)が接合されており、絶縁性シリコン
ゴム206が積層部203を支持している。
の接続に用いた場合の構成を図13に示す。ICソケッ
ト200は電気回路210の電極211と電気回路22
0の電極221を電気的に接続する。すなわち、積層部
203が絶縁性シリコンゴム204、205に支持され
つつ電極211、221と接触するので、電極211、
221が電気的に接続されるのである。このとき積層部
203は電極211、221の間を直線的に接続するの
で、電極211、221の間を流れる電流は最短距離で
流れる。
0と電気回路220をそれぞれ矢印の方向に加圧して電
極間の距離を短くすることがある。
3は高硬度なので圧縮しづらい。すなわち、図13に示
すように電極間の距離を短くするように電気回路どうし
の位置を近くに寄せることができない。
極間の距離を短くするように電気回路どうしの位置を近
くに寄せることはできるが、ICにおいて高周波の電圧
や電流が用いられる場合に悪影響がでる。
を近くに寄せることで電極間の距離を短くすることがで
き、しかもICにおいて高周波の電圧や電流が用いられ
る場合にも悪影響のでないICソケットまたはICの検
査に用いられるテストヘッドの接触子を提供することを
目的とする。
の電極を互いに電気的に接続する電子部品用接触子にお
いて、厚みを持ち、厚みの方向に平行に複数の穴を開け
てあり、絶縁性を有し、弾性を有する弾性体と、弾性体
の厚みと平行な方向に沿って直線状に各々の穴を通る導
電性線材と、導電性線材の両端に接続し、弾性体を挟み
込み、導電性を有する一対の圧接部と、一対の電極の一
方と一対の圧接部の一方とを接続し、一対の電極の他方
と一対の圧接部の他方とを接続し導電性を有する一対の
端子部とを備えたことを特徴とする。
線状に穴を通されていることから、電極間を流れる電流
は導電性部材において最短距離を流れることになる。よ
って、導電性部材において電流が流れる時間を短くでき
るので、ICにおいて高周波の電圧や電流が用いられる
場合にも悪影響を及ぼさない。
圧縮に対して、たわむことができ、電極間の距離の変化
に対応できる。たわんだときは、厳密には電極間を流れ
る電流は導電性部材において最短距離を流れることにな
らないが、たわみによる距離の増加はわずかであり、電
流はほぼ最短距離を流れるとみなすことができる。よっ
て、従来例に比べれば短い距離を流れることになる。
材を通したことにより、電子部品用接触子が複数組の電
極を一時に接続できるので、ICソケットの役割をその
まま果たすことができる。
いに電気的に接続する電子部品用接触子において、厚み
を持ち、厚みの方向に平行に一つの穴を開けてあり、絶
縁性を有し、弾性を有する弾性体と、弾性体の厚みと平
行な方向に沿って直線状に前記穴を通る導電性線材と、
導電性線材の両端に接続し、弾性体を挟み込み、導電性
を有する一対の圧接部と、一対の電極の一方と一対の圧
接部の一方とを接続し、一対の電極の他方と一対の圧接
部の他方とを接続し導電性を有する一対の端子部とを複
数備えたことを特徴とする。
線状に穴を通されていることから、電極間を流れる電流
は導電性部材において最短距離を流れることになる。よ
って、導電性部材において電流が流れる時間を短くでき
るので、ICにおいて高周波の電圧や電流が用いられる
場合にも悪影響を及ぼさない。
圧縮に対して、たわむことができ、電極間の距離の変化
に対応できる。たわんだときは、厳密には電極間を流れ
る電流は導電性部材において最短距離を流れることにな
らないが、たわみによる距離の増加はわずかであり、電
流はほぼ最短距離を流れるとみなすことができる。よっ
て、従来例に比べれば短い距離を流れることになる。
を通したことにより、電子部品用接触子が一対の端子部
ごとに存在することになるので、電子部品用接触子を一
個づつ交換できるといった便利さが達成できる。
2に記載の電子部品用接触子において導電性線材が金属
線材の束であることを特徴とする。
多いので、導電性線材を金属にすることは便利であり、
また線材が束になっているので線材の一部が切断して
も、なお電流を流すことができる。
の電子部品接触子において、金属線材が、弾性体の厚み
方向への圧縮に応じてたわむ程度に細いことを特徴とす
る。
4に記載の電子部品用接触子において、金属線材の束
が、ねじられていることを特徴とする。
に基づいて説明する。
子部品用接触子を示す。電子部品用接触子1はシリコン
ゴムシート10、穴20、金属線材30、圧接部40、
41および端子部50、51からなる。シリコンゴムシ
ート10は弾性を有しており、厚みの方向(矢印で示し
た方向)に穴20が開けてある。なお、シリコンゴムシ
ート10はシリコンゴムを材料とするため絶縁体であ
る。金属線材30はシリコンゴムシート10の厚みの方
向に沿って穴20を通されている。なお、金属線材30
は、例えば銅でできており、導電性を有するものであ
る。さらに、金属線材30は上下方向の圧縮に対したわ
むことができる程度に細い。また、金属線材30は束に
なっている。圧接部40、41は金属線材30の両端に
圧接によって接続し、シリコンゴムシート10を挟み込
んでいる。なお、圧接部40、41は導電性を有するも
のである。端子部50、51は電子部品用接触子1が接
続すべき電極と圧接部40、41とを接続するもので、
導電性を有する。なお、シリコンゴムシート10に穴2
0が複数開けられており、それぞれの穴20に金属線材
30が通され、かかる金属線材30に圧接部40、41
が接続され、かかる圧接部40、41に端子部50、5
1が接続されている。金属線材30、圧接部40、41
および端子部50、51の組をコンタクト部ということ
にすると、コンタクト部を複数設けることになる。
子部品用接触子を電極の接続に使用したときの構成を示
す。図2においては、電子部品用接触子1の端子部50
はIC60の電極であるIC端子61と接続する。電子
部品用接触子1の端子部51は電気回路70の電極71
と接続している。これにより、IC60と電気回路70
は電子部品用接触子1により接続される。
用接触子においては、金属線材30はシリコンゴムシー
ト10の厚み方向に平行に穴20を通されていることか
ら、IC端子61と電極71の間を流れる電流は金属線
材30において最短距離を流れることになる。よって、
金属線材30において電流が流れる時間を短くできるの
で、ICにおいて高周波の電圧や電流が用いられる場合
にも悪影響を及ぼさない。
の圧縮に対して、たわむことができ、IC端子61と電
極71の間の距離の変化に対応できる。たわんだとき
は、IC端子61と電極71の間を流れる電流は金属線
材30において最短距離を流れることにならないが、た
わみによる距離の増加はわずかであり、電流はほぼ最短
距離を流れるとみなすことができる。よって、従来例に
比べれば短い距離を流れることになる。図1、2におい
て、金属線材30は少したわんだ状態で示されている
が、この金属線材30の長さは図9に示される導電性線
状体164や図11に示されるコイルバネ196よりも
明らかに短い。このことからも、電流は従来例に比べれ
ば短い距離を流れることがわかる。
ンタクト部が複数設けられているので、コンタクト部を
複数備えたことにより、電子部品用接触子1が複数組の
電極を一時に接続できるので、ICソケットの役割をそ
のまま果たすことができる。しかも、金属線材30は束
になっているので一部が切断しても、なお電流を流すこ
とができる。
子部品用接触子を示す。電子部品用接触子1はシリコン
ゴム封止材11、穴20、金属線材30、圧接部40、
41および端子部50、51からなる。シリコンゴム封
止材11は弾性を有しており、厚みの方向(矢印で示し
た方向)に穴20が開けてある。なお、シリコンゴム封
止材11は金属線材30を囲んでいる。シリコンゴム封
止材11は、第1の実施の形態と異なり、穴20は一つ
しかない。金属線材30、圧接部40、41および端子
部50、51の組をコンタクト部ということにすると、
コンタクト部を一つ設けることになる。他の部分の構成
は、第1の実施の形態と同様である。
子部品用接触子を電極の接続に使用したときの構成を示
す。図4においては、電子部品用接触子1の端子部50
はIC60の電極であるIC端子61と接続する。電子
部品用接触子1の端子部51は電気回路70の電極71
と接続している。これにより、IC60と電気回路70
は電子部品用接触子1により接続される。電子部品用接
触子1は支持体80に開けられた支持穴81により支持
される。支持穴81は複数設けられており、電子部品用
接触子1を各々の支持穴81に差し込めば全体としてI
Cソケットの機能を果たす。
用接触子においては、金属線材30はシリコンゴム封止
材11の厚み方向に平行に穴20を通されていることか
ら、IC端子61と電極71の間を流れる電流は金属線
材30において最短距離を流れることになる。よって、
金属線材30において電流が流れる時間を短くできるの
で、ICにおいて高周波の電圧や電流が用いられる場合
にも悪影響を及ぼさない。
の圧縮に対して、たわむことができ、IC端子61と電
極71の間の距離の変化に対応できる。たわんだとき
は、IC端子61と電極71の間を流れる電流は金属線
材30において最短距離を流れることにならないが、た
わみによる距離の増加はわずかであり、電流はほぼ最短
距離を流れるとみなすことができる。よって、従来例に
比べれば短い距離を流れることになる。図3、4におい
て、金属線材30は少したわんだ状態で示されている
が、この金属線材30の長さは図9に示される導電性線
状体164や図11に示されるコイルバネ196よりも
明らかに短い。このことからも、電流は従来例に比べれ
ば短い距離を流れることがわかる。
より、電子部品用接触子1を故障等により交換するとき
は交換を必要とする電子部品用接触子1のみを交換でき
る等の便利さがある。
一部が切断しても、なお電流を流すことができる。
係る電子部品用接触子の金属線材30は、図5及び図6
に示したようにねじった金属線材90が用いられてもよ
い。このような金属線材90を有する電子部品用接触子
をICと電気回路との間に配置し、ICを電気回路の方
向に押しつけてICと電気回路を電気的に接続する際の
電子部品用接触子の作用について説明する。
子部品用接触子のシリコンゴムシート10は弾性を有し
ているため厚みの方向に圧縮される。そのためねじられ
た金属線材90のねじれがとれると共に金属線材90と
接続した端子部50が回転する。
FBGA型のICのIC端子においては、半田ボールの
表面に酸化被膜が形成し、そのためICソケット等を介
して電気回路と接続される際、効率よい電気的接続が行
えないという問題がおこる。しかし、上述のようにねじ
った金属線材90を有する電子部品用接触子を用いる
と、端子部50の回転によって、ICのICターミナル
が擦られ、ICターミナルに形成された酸化被膜が除去
されるという利点が生じる。
部材は弾性体の厚み方向に平行に直線状に穴を通されて
いることから、電極間を流れる電流は導電性部材におい
て最短距離を流れることになる。よって、導電性部材に
おいて電流が流れる時間を短くできるので、ICにおい
て高周波の電圧や電流が用いられる場合にも悪影響を及
ぼさない。また、導電性線材は線材であり上下方向の圧
縮に対して、たわむことができ、電極間の距離の変化に
対応できる。たわんだときは、電極間を流れる電流は導
電性部材において最短距離を流れることにならないが、
たわみによる距離の増加はわずかであり、電流はほぼ最
短距離を流れるとみなすことができる。よって、従来例
に比べれば短い距離を流れることになる。さらに、複数
の穴を備え、各々に導電性線材を通したことにより、電
子部品用接触子が複数組の電極を一時に接続できるの
で、ICソケットの役割をそのまま果たすことができ
る。
材は弾性体の厚み方向に平行に直線状に穴を通されてい
ることから、電極間を流れる電流は導電性部材において
最短距離を流れることになる。よって、導電性部材にお
いて電流が流れる時間を短くできるので、ICにおいて
高周波の電圧や電流が用いられる場合にも悪影響を及ぼ
さない。また、導電性線材は線材であり上下方向の圧縮
に対して、たわむことができ、電極間の距離の変化に対
応できる。たわんだときは、電極間を流れる電流は導電
性部材において最短距離を流れることにならないが、た
わみによる距離の増加はわずかであり、電流はほぼ最短
距離を流れるとみなすことができる。よって、従来例に
比べれば短い距離を流れることになる。さらに、一つの
穴を備え、穴に導電性線材を通したことにより、電子部
品用接触子が一対の端子部ごとに存在することになるの
で、電子部品用接触子を一個づつ交換できるといった便
利さが達成できる。
ては銅などの金属を用いることが多いので、導電性線材
を金属にすることは便利であり、また線材が束になって
いるので線材の一部が切断しても、なお電流を流すこと
ができる。
が、弾性体の圧縮に応じてたわむ程度に細いので、電子
部品用接触子がICと電気回路を接続するために加圧さ
れる際のICと電気回路の距離変化に対応できる。
材の束がねじられているので、電子部品用接触子がIC
と電気回路を接続する際圧縮されると、導電性線材の束
のねじれがとれると共にICと接続した端子部が回転
し、IC端子の酸化被膜を除去することができるため、
より効率よく電流を流すことができる。
接触子の一部断面図である。
触子を電極の接続に使用したときの電子部品用接触子の
一部断面図である。
触子の一部断面図である。
触子を電極の接続に使用したときの構電子部品用接触子
の一部断面図である。
子の変態様の一部断面図である。
子の変態様の一部断面図である。
斜視図である。
例の正面図である。
例の部分拡大図である。
の他の例の正面図である。
の他の例の部分拡大図である。
ある。
ットやICテスト用ヘッドに用いたときの接触子(ゴム
コネクタ)のICソケットやICテスト用ヘッドの部分
拡大図である。
Claims (5)
- 【請求項1】一対の電極を互いに電気的に接続する電子
部品用接触子において、 厚みを持ち、前記厚みの方向に平行に複数の穴を開けて
あり、絶縁性を有し、弾性を有する弾性体と、 前記弾性体の厚みと平行な方向に沿って直線状に各々の
前記穴を通る導電性線材と、 前記導電性線材の両端に接続し、前記弾性体を挟み込
み、導電性を有する一対の圧接部と、 前記一対の電極の一方と前記一対の圧接部の一方とを接
続し、前記一対の電極の他方と前記一対の圧接部の他方
とを接続し導電性を有する一対の端子部と、を備えたこ
とを特徴とする電子部品用接触子。 - 【請求項2】一対の電極を互いに電気的に接続する電子
部品用接触子において、 厚みを持ち、前記厚みの方向に平行に一つの穴を開けて
あり、絶縁性を有し、弾性を有する弾性体と、 前記弾性体の厚みと平行な方向に沿って直線状に前記穴
を通る導電性線材と、 前記導電性線材の両端に接続し、前記弾性体を挟み込
み、導電性を有する一対の圧接部と、 前記一対の電極の一方と前記一対の圧接部の一方とを接
続し、前記一対の電極の他方と前記一対の圧接部の他方
とを接続し導電性を有する一対の端子部と、を備えたこ
とを特徴とする電子部品用接触子。 - 【請求項3】前記導電性線材が金属線材の束であること
を特徴とする請求項1または2に記載の電子部品用接触
子。 - 【請求項4】前記金属線材が、前記弾性体の厚み方向へ
の圧縮に応じてたわむ程度に細いことを特徴とする請求
項3に記載の電子部品接触子。 - 【請求項5】前記金属線材の束が、ねじられていること
を特徴とする請求項3または4に記載の電子部品用接触
子。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP35965798A JP4086390B2 (ja) | 1997-12-26 | 1998-12-17 | 電子部品用接触子 |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP35988797 | 1997-12-26 | ||
JP9-359887 | 1997-12-26 | ||
JP35965798A JP4086390B2 (ja) | 1997-12-26 | 1998-12-17 | 電子部品用接触子 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH11273819A true JPH11273819A (ja) | 1999-10-08 |
JP4086390B2 JP4086390B2 (ja) | 2008-05-14 |
Family
ID=26581005
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP35965798A Expired - Lifetime JP4086390B2 (ja) | 1997-12-26 | 1998-12-17 | 電子部品用接触子 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4086390B2 (ja) |
Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2001037381A1 (en) * | 1999-11-17 | 2001-05-25 | Advantest Corporation | Ic socket and ic tester |
JP2002050425A (ja) * | 2000-08-03 | 2002-02-15 | Ulvac Japan Ltd | 電流導入端子及び受け側端子 |
JP2002286779A (ja) * | 2001-03-22 | 2002-10-03 | Ibiden Co Ltd | 導通検査治具 |
JP2003086317A (ja) * | 2001-09-06 | 2003-03-20 | Enplas Corp | 電気部品用ソケット |
JP2004152536A (ja) * | 2002-10-29 | 2004-05-27 | Otax Co Ltd | 電子部品用ソケット |
KR100476590B1 (ko) * | 2002-07-05 | 2005-03-18 | (주)티에스이 | 반도체 디바이스 테스트 소켓 |
KR100816620B1 (ko) * | 2000-11-06 | 2008-03-24 | 센사타 테크놀로지스, 인크 | 전자 패키지를 착탈 가능하게 장착하는 소켓 |
CN102812523A (zh) * | 2011-03-25 | 2012-12-05 | 富士高分子工业株式会社 | 金属丝排列橡胶连接器及其制造方法 |
JP2015049064A (ja) * | 2013-08-30 | 2015-03-16 | Nok株式会社 | コンタクトプローブ |
WO2017082510A1 (ko) * | 2015-11-12 | 2017-05-18 | 주식회사 오킨스전자 | 도전 실리콘 고무 안에 도전 와이어를 포함하는 테스트 소켓, 및 그 제조 방법 |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN105388332B (zh) * | 2015-12-14 | 2018-12-04 | 广州达测仪器有限公司 | Led老化测试仪 |
-
1998
- 1998-12-17 JP JP35965798A patent/JP4086390B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6464511B1 (en) | 1999-11-17 | 2002-10-15 | Advantest Corporation | IC socket and IC tester |
KR100373152B1 (ko) * | 1999-11-17 | 2003-02-25 | 가부시키가이샤 아드반테스트 | Ic 소켓 및 ic 시험 장치 |
WO2001037381A1 (en) * | 1999-11-17 | 2001-05-25 | Advantest Corporation | Ic socket and ic tester |
JP2002050425A (ja) * | 2000-08-03 | 2002-02-15 | Ulvac Japan Ltd | 電流導入端子及び受け側端子 |
KR100816620B1 (ko) * | 2000-11-06 | 2008-03-24 | 센사타 테크놀로지스, 인크 | 전자 패키지를 착탈 가능하게 장착하는 소켓 |
JP2002286779A (ja) * | 2001-03-22 | 2002-10-03 | Ibiden Co Ltd | 導通検査治具 |
JP4651884B2 (ja) * | 2001-09-06 | 2011-03-16 | 株式会社エンプラス | 電気部品用ソケット |
JP2003086317A (ja) * | 2001-09-06 | 2003-03-20 | Enplas Corp | 電気部品用ソケット |
KR100476590B1 (ko) * | 2002-07-05 | 2005-03-18 | (주)티에스이 | 반도체 디바이스 테스트 소켓 |
JP2004152536A (ja) * | 2002-10-29 | 2004-05-27 | Otax Co Ltd | 電子部品用ソケット |
CN102812523A (zh) * | 2011-03-25 | 2012-12-05 | 富士高分子工业株式会社 | 金属丝排列橡胶连接器及其制造方法 |
JP2015049064A (ja) * | 2013-08-30 | 2015-03-16 | Nok株式会社 | コンタクトプローブ |
WO2017082510A1 (ko) * | 2015-11-12 | 2017-05-18 | 주식회사 오킨스전자 | 도전 실리콘 고무 안에 도전 와이어를 포함하는 테스트 소켓, 및 그 제조 방법 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP4086390B2 (ja) | 2008-05-14 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6731123B2 (en) | Probe device | |
JP3653131B2 (ja) | 導電性接触子 | |
TWI397690B (zh) | 用於針對電子元件之測試裝置的構件及電子元件之測試方法 | |
JP4086390B2 (ja) | 電子部品用接触子 | |
JP2003149291A (ja) | 接触構造 | |
JP2734412B2 (ja) | 半導体装置のソケット | |
JP4213455B2 (ja) | 電気部品用ソケット | |
JPH1117058A (ja) | Bgaパッケージ、その試験用ソケットおよびbgaパッケージの試験方法 | |
JPH09320715A (ja) | 半導体装置パッケージ用ソケット | |
JP2904193B2 (ja) | Icソケット | |
JP3268749B2 (ja) | Icソケット | |
JPH1010191A (ja) | コネクタおよびそれを用いる半導体検査方法ならびに装置 | |
JP2002100431A (ja) | 圧接挟持型コネクタ | |
KR20080018520A (ko) | 포고핀 및 이를 이용한 테스트 소켓 | |
JP3150560B2 (ja) | 半導体装置 | |
KR19990034968U (ko) | 콘택트핑거를이용한반도체검사용소켓어셈블리 | |
JP2002311048A (ja) | プローブカード用ガイド、これを装着したプローブカード及び電子回路デバイスの検査方法 | |
JP2002134201A (ja) | 圧接挟持型コネクタ及びその接続構造 | |
JP2004327103A (ja) | 電気部品用ソケット | |
JP3978142B2 (ja) | 検査用基板 | |
JPH1117094A (ja) | 半導体チップ搭載ボード及びその実装構造 | |
JPH1167392A (ja) | 表面実装コネクタ検査用アダプタ | |
JPH07287048A (ja) | Icソケット及びその電気コンタクト | |
JP2000150096A (ja) | コネクタ装置 | |
JP3172305B2 (ja) | 半導体装置の製造方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20051101 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20080111 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20080122 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20080219 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110228 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110228 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120229 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130228 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130228 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140228 Year of fee payment: 6 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
EXPY | Cancellation because of completion of term |