JP3653131B2 - 導電性接触子 - Google Patents

導電性接触子 Download PDF

Info

Publication number
JP3653131B2
JP3653131B2 JP35297495A JP35297495A JP3653131B2 JP 3653131 B2 JP3653131 B2 JP 3653131B2 JP 35297495 A JP35297495 A JP 35297495A JP 35297495 A JP35297495 A JP 35297495A JP 3653131 B2 JP3653131 B2 JP 3653131B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
conductor
socket
coil
coiled
contact
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP35297495A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH09184852A (ja
Inventor
俊男 風間
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NHK Spring Co Ltd
Original Assignee
NHK Spring Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority to JP35297495A priority Critical patent/JP3653131B2/ja
Application filed by NHK Spring Co Ltd filed Critical NHK Spring Co Ltd
Priority to KR10-1998-0704966A priority patent/KR100390865B1/ko
Priority to US09/091,927 priority patent/US6174172B1/en
Priority to CN96199362A priority patent/CN1129990C/zh
Priority to PCT/JP1996/003791 priority patent/WO1997024785A1/ja
Priority to MYPI96005505A priority patent/MY119319A/en
Priority to MYPI96005506A priority patent/MY112072A/en
Publication of JPH09184852A publication Critical patent/JPH09184852A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3653131B2 publication Critical patent/JP3653131B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01RELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R33/00Coupling devices specially adapted for supporting apparatus and having one part acting as a holder providing support and electrical connection via a counterpart which is structurally associated with the apparatus, e.g. lamp holders; Separate parts thereof
    • H01R33/74Devices having four or more poles, e.g. holders for compact fluorescent lamps
    • H01R33/76Holders with sockets, clips, or analogous contacts adapted for axially-sliding engagement with parallely-arranged pins, blades, or analogous contacts on counterpart, e.g. electronic tube socket
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01RELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R12/00Structural associations of a plurality of mutually-insulated electrical connecting elements, specially adapted for printed circuits, e.g. printed circuit boards [PCB], flat or ribbon cables, or like generally planar structures, e.g. terminal strips, terminal blocks; Coupling devices specially adapted for printed circuits, flat or ribbon cables, or like generally planar structures; Terminals specially adapted for contact with, or insertion into, printed circuits, flat or ribbon cables, or like generally planar structures
    • H01R12/50Fixed connections
    • H01R12/51Fixed connections for rigid printed circuits or like structures
    • H01R12/52Fixed connections for rigid printed circuits or like structures connecting to other rigid printed circuits or like structures
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/04Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
    • G01R1/0408Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
    • G01R1/0433Sockets for IC's or transistors
    • G01R1/0441Details
    • G01R1/0466Details concerning contact pieces or mechanical details, e.g. hinges or cams; Shielding
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/06711Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
    • G01R1/06733Geometry aspects
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01RELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R12/00Structural associations of a plurality of mutually-insulated electrical connecting elements, specially adapted for printed circuits, e.g. printed circuit boards [PCB], flat or ribbon cables, or like generally planar structures, e.g. terminal strips, terminal blocks; Coupling devices specially adapted for printed circuits, flat or ribbon cables, or like generally planar structures; Terminals specially adapted for contact with, or insertion into, printed circuits, flat or ribbon cables, or like generally planar structures
    • H01R12/70Coupling devices
    • H01R12/71Coupling devices for rigid printing circuits or like structures
    • H01R12/712Coupling devices for rigid printing circuits or like structures co-operating with the surface of the printed circuit or with a coupling device exclusively provided on the surface of the printed circuit
    • H01R12/714Coupling devices for rigid printing circuits or like structures co-operating with the surface of the printed circuit or with a coupling device exclusively provided on the surface of the printed circuit with contacts abutting directly the printed circuit; Button contacts therefore provided on the printed circuit
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01RELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R13/00Details of coupling devices of the kinds covered by groups H01R12/70 or H01R24/00 - H01R33/00
    • H01R13/02Contact members
    • H01R13/22Contacts for co-operating by abutting
    • H01R13/24Contacts for co-operating by abutting resilient; resiliently-mounted
    • H01R13/2407Contacts for co-operating by abutting resilient; resiliently-mounted characterized by the resilient means
    • H01R13/2421Contacts for co-operating by abutting resilient; resiliently-mounted characterized by the resilient means using coil springs
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/04Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
    • G01R1/0408Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
    • G01R1/0433Sockets for IC's or transistors
    • G01R1/0483Sockets for un-leaded IC's having matrix type contact fields, e.g. BGA or PGA devices; Sockets for unpackaged, naked chips
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/06711Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
    • G01R1/06716Elastic

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Geometry (AREA)
  • Connecting Device With Holders (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)
  • Coupling Device And Connection With Printed Circuit (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Level Indicators Using A Float (AREA)
  • Multi-Conductor Connections (AREA)

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、半導体素子などの検査用コンタクトプローブやソケットあるいはコネクタなどに用いられる導電性接触子に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
従来、プリント配線板の導体パターンや電子部品などの電気的検査を行うためのコンタクトプローブや半導体素子用ソケット及びコネクタに用いられる導電性接触子には、例えば絶縁基板の表裏方向に接触子を突出させた両端可動型にしたものがある。その両端可動型の導電性接触子にあっては、ホルダ内に圧縮コイルばねを同軸的に受容すると共に、一対の導電性接触子をホルダの軸線方向両端部にてそれぞれ出没自在に支持し、それら両導電性針状体と圧縮コイルばねの両端部とをそれぞれ半田付けして接続している。そして、一方の導電性針状体から入力した電気信号を導電性の圧縮コイルばねを介して他方の導電性針状体に伝達するようにしている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記コンタクトプロープに流れる電気信号が高周波信号(例えば数十MHz〜数GHz)である場合には、コイル状の導電体に電流が流れることになり、悪影響が生じる。すなわち、コイル状の導電体に高周波信号を流すと、インダクタンスが悪化し、導通経路が長いと検出信号に対する抵抗が増大するという問題がある。
【0004】
【課題を解決するための手段】
このような課題を解決して、インダクタンスを小さくしかつ抵抗を低くすることを実現するために、本発明に於いては、略1巻きのコイルを軸線方向に伸ばした形状に形成した弾性コイル状導電体を、その軸線方向中間部を絶縁性支持体により支持して両端部が端子に弾発的に当接するように当該絶縁性支持体から延出するようにし、前記導電体の前記絶縁性支持体から延出する部分を1巻き以下にし、かつ前記絶縁性支持体内を通る導電経路となる前記導電体の中間部を1巻き以下にすると共に、前記弾性コイル状導電体の延出端部が前記弾性コイル状導電体の軸線に対して傾けられた面上で円弧状に曲成されているものとした。
【0005】
【発明の実施の形態】
以下に添付の図面に示された具体例に基づいて本発明の実施の形態について詳細に説明する。
【0006】
図1(a)は、本発明が適用された半導体素子用ソケット1の要部拡大側断面図である。本半導体素子用ソケット1は、絶縁性支持体としての絶縁板2に弾性コイル状導電体3を組み込んで構成されている。このコイル状導電体3は、図1(b)に併せて示されるように軸線方向から見て略1巻き巻回されたコイルを軸線方向に伸ばした形状に形成され、コイルの両端部を絶縁体2から延出させかつその軸線方向中間部を絶縁体2にモールドにて固定支持されている。
【0007】
本半導体素子用ソケット1の使用例を図1(c)に示す。図に示されるように、半導体4の端子として導電性ボール5が半導体4の下面に半田付けなどにて固着されており、対向して配設された基板6には導通する相手となる端子パターン7が設けられている。なお、半導体としては、素子単体の場合と素子をBGAやCSPなどのパッケージに搭載した場合などがある。そして、ボール5と端子パターン7との両者間に本ソケット1を介装し、コイル状導電体3の両端部をそれぞれボール5と端子パターン7とに接触させ、コイル状導電体3の絶縁板2から延出している部分をある程度たわませる位置で半導体4及び基板6を図示されないブラケットにより固定する。
【0008】
このように、ボール5と端子パターン7とにコイル状導電体3の軸線方向端部の端縁が弾発的に当接し得るため、ボール5が半田ボールの場合にはその酸化被膜を破り、安定した導通を得ることができる。また、接触時の弾発力は、コイル状導電体の延出端部が円弧状に曲成されていることから、曲げだけではなくねじり変形も作用するため、弾発付勢力及び耐久性を向上し得る。さらに、コイル状導電体の延出長を長くしても、軸線方向への突出量が小さいため、ソケット全体として薄型化が容易である。
【0009】
次に、図2に図1の変形例を示す。なお、前記図示例と同様の部分には同一の符号を付してその詳しい説明を省略する。この図2では、図1と同様に絶縁板2により支持されたコイル状導電体13が、図2(a)に示されるように、絶縁板2から延出する部分が図1のものより長くされ、各延出端部13aが軸線に対して若干傾けられた平面上で円弧を描くように曲成されている。
【0010】
このようにすることにより、図1と同様にボール5と端子パターン7とにそれぞれ接触させた際には、図2(b)に示されるようにそれぞれ面(線)で当接するようになり、接触相手の表面に酸化被膜が形成されていないかまたは薄いため表面を傷付けたくない場合に有効である。また、円弧の中間部が軸線方向最突出端になるように形成しており、このようにすることにより、当接時にコイル素線の端部のエッジが当たる前に曲線部が当たるため、接触時の傷付きを好適に防止している。
【0011】
上記図1及び図2ではソケットを接触相手間に挟んで使用する例を示したが、図3(a)・図4(a)に示されるようにソケット1を予め一方(図示例では基板6)に半田付けなどにより固着して使用しても良い。図示例において、それぞれ半導体4のリードピンとしてのボール5を図1・図2と同様に接触させて使用する(図3(b)・図4(b))。
【0012】
図1乃至図4に示した各コイル状導電体3・13にあっては、そのコイル長に渡って略1巻きに形成されていることから、電流がコイル状に複数回転して流れることがなく、直線に近い状態で流れるようになり、従来のように複数巻きのコイル状導電体を用いた場合のようにインダクタンスの悪化を好適に防止することができると共に、全長も短く、低抵抗化が可能である。
【0013】
図5・図6では複数巻きのコイル状導電体23・33を用いた例が示されている。また、前記図示例と同様の部分には同一の符号を付してその詳しい説明を省略する。これらの場合には、コイル状導電体23・33の絶縁板2から延出する各延出部分を前記図1及び図2の各図示例と同様にそれぞれ略1巻きになるようにしておく。また、絶縁板2に貫通孔2aを設け、その貫通孔2aに導電部材としてめっきによりスルーホール8を形成する。そして、コイル状導電体23・33の軸線方向中間部分をスルーホール8内に受容し、かつ半田付け等で固着する。
【0014】
なお、図5のコイル状導電体23の絶縁体2から延出する部分の形状は前記図1と同様であり、図6のコイル状導電体33の絶縁体2から延出する部分の形状は前記図2と同様である。また、図5・図6のものにおける使用状態も前記図1(c)・図2(b)と同様であり、それぞれ図5(b)・図6(b)に示す。これらのボール5に対する効果は前記と同様であり、図6のコイル状導電体33の各延出端部33aの形状も図2の各延出端部13aと同じであり、その効果も図2と同様である。
【0015】
そして、図5・図6では複数巻きのコイル状導電体23・33を用いているが、絶縁板2に対応する部分の導電経路は、上記したようにコイル状導電体23・33の複数巻き部分とスルーホール8とが半田付けされているため、スルーホール8を直線状に通ることになる。従って、複数巻きのコイル状導電体を用いても、電流の流れは前記図示例と同様に直線的に流れ、さらにスルーホール8では絶縁板2の厚み方向である最短距離を流れ得るため、より一層インダクタンスを抑制し得る。
【0016】
このようにスルーホール8にコイル状導電体23・33を固着して支持する構造にすることにより、コイル状導電体23・33の絶縁板2への固定を容易に行い得る。なお、スルーホール8のめっき材質を半田材にすれば、コイル状導電体23・33の半田付けをより一層容易に行い得る。
【0017】
図7・図8に、図5・図6で示した複数巻きのコイル状導電体23・33を用いて、図3・図4に示したようにソケット1を予め一方(図示例では基板6)に半田付けなどにより固着した使用例を示すが、各図の(a)同士及び(b)同士がそれぞれ対応している。また、前記図示例と同様の部分には同一の符号を付してその詳しい説明を省略する。
【0018】
この図7・図8の場合も、前記した各図と同様の効果を奏し得る。なお、コイル状導電体23・33の基板6側のコイル外径をスルーホール8の内径よりも若干大きくすることにより、図における上方への抜け止めにもなり、コイル状導電体23・33の軸線方向に対する位置決めも容易に行い得る。
【0019】
また、図1乃至図8ではソケット1の接触相手をボール5と端子パターン7との場合について示したが、接触相手の形状を限定するものではない。例えば、図9乃至図16には、前記各実施例のボール5の代わりに半導体4のリードピンとしてランド(端子パターン)9を設けた場合の各使用例が示されている。なお、図9〜図16は、この順に図1(b)〜図8(b)がそれぞれ順に対応しており、それぞれソケット1単体の状態は、図1(a)〜図8(a)と同一であるため図示省略すると共に、前記図示例と同様の部分には同一の符号を付してその詳しい説明を省略する。これらの場合も、接触相手の形状が異なるだけで、その効果は前記各図示例と同様である。
【0020】
図17乃至図20には、図3乃至図6のソケット1におけるコイル状導電体3の一方の端部を半田付けして基板6へ固定したのに対して、接着剤などの封止剤10を用いて絶縁板2を基板6に固定して、コイル状導電体3の一方の端部を端子パターン7に弾発的に押し当てた例が示されている。また、各図(a)同士、各図(b)同士がそれぞれ対応している。
【0021】
このようにすることにより、半田付けした場合に対して鉛の使用を好適に減らすことができる。また、各接触状態による効果は図1・図2の図示例と同様である。
【0022】
なお、コイル状導電体の材質には、電気特性と耐久性の用途とによる重要度から銅または金系の材料か、ピアノ線類を選択すると良い。また、めっき材質については、相手となるコイル状導電体の材質により半田材が付着し難いニッケルやロジウムなどを用いるか、接触抵抗が低く安定している金などを用いると良い。
【0023】
上述した各図示例はコイル状導電体の個々の状態を示したものであるが、前記したようにLSI用ソケットに用いる場合には、リードピンの数に対応するように複数のコイル状導電体を格子状に配設して使用される。その一例を図21及び図22に示す。
【0024】
図21は上記ソケットの一部を示す部分斜視図であり、図22はその要部側断面図である。この図示例では、ソケット本体11を金属製導電材により形成し、そのソケット本体11にパンチングメタルのように所定の複数の孔を形成して、各孔の内周面に円筒状の絶縁部材12を同軸的にそれぞれ固着している。その円筒状絶縁部材12の内周面に前記図20のようにスルーホール8を形成し、スルーホール8にコイル状導電体33を挿通して半田付けすると共に、基板6に形成した端子パターン7にコイル状導電体33の延出端部33aの一方を弾性変形させて当接させるように、ソケット本体11を封止剤10を用いて基板6に固定している。そして、ソケット本体11の一部を、基板6に設けたアース端子パターン14にアース線15を介して電気的に接続して、ソケット本体11を接地する。
【0025】
このようにしてソケットを構成することにより、コイル状導電体33に高周波電流が流れた場合に各コイル状導電体33同士が互いに干渉し合うことを防止することができる。
【0026】
なお、各図示例では半導体素子用ソケットについて示したが、それに限られるものではなく、電子部品特に半導体素子の電気的接続部に使用することができ、例えば半導体素子用コネクタに用いると良い。
【0027】
【発明の効果】
このように本発明によれば、例えば半導体素子と基板との間を電気的損失を極力小さくして電気的に接続するために用いるソケットとして用いる場合に、導電経路中のコイル形状による巻き数を少なくしてインダクタンスを小さくし得ると共に、ソケット全体を薄型化しかつ低抵抗化し易い効果を奏し得る。
【図面の簡単な説明】
【図1】(a)は本発明が適用された半導体素子用ソケットの要部拡大側断面図であり、(b)は(a)の矢印Iaから見た上面図であり、(c)は(a)の半導体素子用ソケットの使用例を示す要部拡大側断面図。
【図2】(a)は図1の変形例を示す半導体素子用ソケット1の要部拡大側断面図であり、(b)は(a)の半導体素子用ソケットの使用例を示す要部拡大側断面図。
【図3】(a)は図1の第2の形態を示す要部拡大側断面図であり、(b)は(a)の半導体素子用ソケットの使用例を示す要部拡大側断面図。
【図4】(a)は図2の第2の形態を示す要部拡大側断面図であり、(b)は(a)の半導体素子用ソケットの使用例を示す要部拡大側断面図。
【図5】(a)は複数巻きコイル状導電体を用いた図1(a)に対応する図であり、(b)は複数巻きコイル状導電体を用いた図1(c)に対応する図。
【図6】(a)は複数巻きコイル状導電体を用いた図2(a)に対応する図であり、(b)は複数巻きコイル状導電体を用いた図2(b)に対応する図。
【図7】(a)は複数巻きコイル状導電体を用いた図3(a)に対応する図であり、(b)は複数巻きコイル状導電体を用いた図3(b)に対応する図。
【図8】(a)は複数巻きコイル状導電体を用いた図4(a)に対応する図であり、(b)は複数巻きコイル状導電体を用いた図4(b)に対応する図。
【図9】図1の別の使用例を示す図1(c)に対応する図。
【図10】図2の別の使用例を示す図2(b)に対応する図。
【図11】図3の別の使用例を示す図3(b)に対応する図。
【図12】図4の別の使用例を示す図4(b)に対応する図。
【図13】図5の別の使用例を示す図5(b)に対応する図。
【図14】図6の別の使用例を示す図6(b)に対応する図。
【図15】図7の別の使用例を示す図7(b)に対応する図。
【図16】図8の別の使用例を示す図8(b)に対応する図。
【図17】(a)は図3の別の形態を示す図3(a)に対応する図であり、(b)は図3(b)に対応する図。
【図18】(a)は図4の別の形態を示す図4(a)に対応する図であり、(b)は図4(b)に対応する図。
【図19】(a)は図5の別の形態を示す図5(a)に対応する図であり、(b)は図5(b)に対応する図。
【図20】(a)は図6の別の形態を示す図6(a)に対応する図であり、(b)は図6(b)に対応する図。
【図21】ソケットの使用例を示す部分斜視図。
【図22】図21のソケットの要部側断面図。
【符号の説明】
1 半導体素子用ソケット
2 絶縁板
2a 貫通孔
3 コイル状導電体
4 半導体
5 ボール
6 基板
7 端子パターン
8 スルーホール
9 ランド
10 封止剤
11 ソケット本体
12 絶縁部材
13 コイル状導電体
13a 延出端部
14 アース端子パターン
15 アース線
23 コイル状導電体
33 コイル状導電体
33a 延出端部

Claims (1)

  1. 略1巻きのコイルを軸線方向に伸ばした形状に形成した弾性コイル状導電体を、その軸線方向中間部を絶縁性支持体により支持して両端部が端子に弾発的に当接するように当該絶縁性支持体から延出するようにし、
    前記導電体の前記絶縁性支持体から延出する部分を1巻き以下にし、かつ前記絶縁性支持体内を通る導電経路となる前記導電体の中間部を1巻き以下にすると共に、
    前記弾性コイル状導電体の延出端部が前記弾性コイル状導電体の軸線に対して傾けられた面上で円弧状に曲成されていることを特徴とする導電性接触子。
JP35297495A 1995-12-28 1995-12-28 導電性接触子 Expired - Fee Related JP3653131B2 (ja)

Priority Applications (7)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP35297495A JP3653131B2 (ja) 1995-12-28 1995-12-28 導電性接触子
US09/091,927 US6174172B1 (en) 1995-12-28 1996-12-25 Electric contact unit
CN96199362A CN1129990C (zh) 1995-12-28 1996-12-25 电接触单元
PCT/JP1996/003791 WO1997024785A1 (en) 1995-12-28 1996-12-25 Conductive contactor
KR10-1998-0704966A KR100390865B1 (ko) 1995-12-28 1996-12-25 도전성접촉자
MYPI96005505A MY119319A (en) 1995-12-28 1996-12-27 Electric contact unit
MYPI96005506A MY112072A (en) 1995-12-28 1996-12-27 Water level detector and indicator system

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP35297495A JP3653131B2 (ja) 1995-12-28 1995-12-28 導電性接触子

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH09184852A JPH09184852A (ja) 1997-07-15
JP3653131B2 true JP3653131B2 (ja) 2005-05-25

Family

ID=18427726

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP35297495A Expired - Fee Related JP3653131B2 (ja) 1995-12-28 1995-12-28 導電性接触子

Country Status (6)

Country Link
US (1) US6174172B1 (ja)
JP (1) JP3653131B2 (ja)
KR (1) KR100390865B1 (ja)
CN (1) CN1129990C (ja)
MY (2) MY119319A (ja)
WO (1) WO1997024785A1 (ja)

Families Citing this family (52)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW406454B (en) * 1996-10-10 2000-09-21 Berg Tech Inc High density connector and method of manufacture
DE19651187A1 (de) * 1996-12-10 1998-06-18 Mannesmann Vdo Ag Vorrichtung zum elektrischen und mechanischen Verbinden zwei im Abstand zueinander angeordneter Leiterplatten sowie Einrichtung mit zwei im Abstand zueinander angeordneten Leiterplatten, die durch eine derartige Vorrichtung verbunden sind
JPH10255940A (ja) * 1997-03-11 1998-09-25 Fujitsu Ltd コンタクタを用いた試験方法及びコンタクタ及びコンタクタを用いた試験装置
JP2002501288A (ja) * 1998-01-08 2002-01-15 バーグ・テクノロジー・インコーポレーテッド 電気コネクタ
JP3094007B2 (ja) * 1998-06-02 2000-10-03 日本電子材料株式会社 プローブ及びこのプローブを用いたプローブカード
US6785148B1 (en) * 1998-12-21 2004-08-31 Intel Corporation Easy mount socket
US6725536B1 (en) 1999-03-10 2004-04-27 Micron Technology, Inc. Methods for the fabrication of electrical connectors
JP4041619B2 (ja) * 1999-05-28 2008-01-30 東京エレクトロン株式会社 インターコネクタの製造方法
US6313999B1 (en) * 1999-06-10 2001-11-06 Agere Systems Optoelectronics Guardian Corp. Self alignment device for ball grid array devices
JP3406257B2 (ja) * 1999-07-29 2003-05-12 モルデック株式会社 表面実装用コネクタの製造方法
WO2001018553A1 (fr) * 1999-09-09 2001-03-15 Nhk Spring Co., Ltd. Contact conducteur
US6313523B1 (en) * 1999-10-28 2001-11-06 Hewlett-Packard Company IC die power connection using canted coil spring
US6343940B1 (en) * 2000-06-19 2002-02-05 Advantest Corp Contact structure and assembly mechanism thereof
US6352436B1 (en) * 2000-06-29 2002-03-05 Teradyne, Inc. Self retained pressure connection
JP3921163B2 (ja) * 2000-09-26 2007-05-30 株式会社アドバンストシステムズジャパン スパイラルコンタクタ及びその製造方法、並びにそれを用いた半導体検査装置、及び電子部品
US6885106B1 (en) * 2001-01-11 2005-04-26 Tessera, Inc. Stacked microelectronic assemblies and methods of making same
JP2002231399A (ja) * 2001-02-02 2002-08-16 Fujitsu Ltd 半導体装置試験用コンタクタ及びその製造方法
US6694609B2 (en) 2001-03-22 2004-02-24 Molex Incorporated Method of making stitched LGA connector
US6722896B2 (en) 2001-03-22 2004-04-20 Molex Incorporated Stitched LGA connector
US6604950B2 (en) * 2001-04-26 2003-08-12 Teledyne Technologies Incorporated Low pitch, high density connector
KR100874541B1 (ko) * 2002-01-17 2008-12-16 아덴트 컨셉트, 인코포레이티드 유연한 전기 접촉수단
USRE41663E1 (en) 2002-01-17 2010-09-14 Ardent Concepts, Inc. Compliant electrical contact assembly
US6746252B1 (en) 2002-08-01 2004-06-08 Plastronics Socket Partners, L.P. High frequency compression mount receptacle with lineal contact members
US20040132320A1 (en) * 2002-12-20 2004-07-08 Dittmann Larry E. Land grid array connector
US6846184B2 (en) * 2003-01-24 2005-01-25 High Connection Density Inc. Low inductance electrical contacts and LGA connector system
JP3950799B2 (ja) * 2003-01-28 2007-08-01 アルプス電気株式会社 接続装置
US6814478B2 (en) * 2003-02-25 2004-11-09 The Fire Products Company Conductive spring current for warning light
US7170306B2 (en) * 2003-03-12 2007-01-30 Celerity Research, Inc. Connecting a probe card and an interposer using a compliant connector
US6958616B1 (en) * 2003-11-07 2005-10-25 Xilinx, Inc. Hybrid interface apparatus for testing integrated circuits having both low-speed and high-speed input/output pins
US6832917B1 (en) 2004-01-16 2004-12-21 Intercon Systems, Inc. Interposer assembly
US7241147B2 (en) * 2004-04-12 2007-07-10 Intel Corporation Making electrical connections between a circuit board and an integrated circuit
DE102004027886A1 (de) * 2004-05-28 2005-12-22 Feinmetall Gmbh Prüfeinrichtung zur elektrischen Prüfung eines Prüflings sowie Verfahren zur Herstellung einer Prüfeinrichtung
JP4598779B2 (ja) * 2004-11-16 2010-12-15 富士通セミコンダクター株式会社 コンタクタ及びコンタクタを用いた試験方法
US7238031B2 (en) * 2005-02-14 2007-07-03 Alps Electric Co., Ltd. Contact structure and manufacturing method thereof, and electronic member to which the contact structure is attached and manufacturing method thereof
JP2007088043A (ja) * 2005-09-20 2007-04-05 Fujitsu Ltd 冷却装置
US20070117268A1 (en) * 2005-11-23 2007-05-24 Baker Hughes, Inc. Ball grid attachment
JP4833011B2 (ja) * 2005-12-20 2011-12-07 株式会社エンプラス 電気部品用ソケット
US20070238324A1 (en) * 2006-04-07 2007-10-11 Lotes Co., Ltd. Electrical connector
KR100813095B1 (ko) * 2006-07-12 2008-03-17 주식회사 에이엠아이 씨 표면 실장용 도전성 접촉 단자
US7602201B2 (en) * 2007-06-22 2009-10-13 Qualitau, Inc. High temperature ceramic socket configured to test packaged semiconductor devices
CN201112693Y (zh) * 2007-10-12 2008-09-10 富士康(昆山)电脑接插件有限公司 电连接器端子
US7563137B1 (en) * 2008-06-30 2009-07-21 Lg Chem, Ltd. Mechanical fastener for coupling to electrical terminals of battery modules and method for coupling to electrical terminals
US7982305B1 (en) 2008-10-20 2011-07-19 Maxim Integrated Products, Inc. Integrated circuit package including a three-dimensional fan-out / fan-in signal routing
CN102651506A (zh) * 2011-02-23 2012-08-29 光九实业股份有限公司 具有弯曲导线的导电胶体
JP5711195B2 (ja) * 2012-10-04 2015-04-30 株式会社フジクラ 電子部品の実装構造
CN104319519A (zh) * 2014-08-29 2015-01-28 中航光电科技股份有限公司 弹性接触簧及使用该接触簧的转接器
JP6553472B2 (ja) * 2015-09-30 2019-07-31 株式会社ヨコオ コンタクタ
CN105807213A (zh) * 2016-05-30 2016-07-27 青岛港湾职业技术学院 一种用于扁平引脚芯片的测试装置
DE102016006774A1 (de) * 2016-06-02 2017-12-07 Rosenberger Hochfrequenztechnik Gmbh & Co. Kg Kontaktierungsanordnung
CN108110450A (zh) * 2016-11-24 2018-06-01 泰科电子(上海)有限公司 端子和连接器
US11605916B2 (en) 2021-06-01 2023-03-14 Honeywell International Inc. Sealed electrical connector
US11394154B1 (en) 2022-03-09 2022-07-19 Jeffrey G. Buchoff Pliant electrical interface connector and its associated method of manufacture

Family Cites Families (29)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3258736A (en) * 1966-06-28 Electrical connector
US3509270A (en) * 1968-04-08 1970-04-28 Ney Co J M Interconnection for printed circuits and method of making same
US3616532A (en) * 1970-02-02 1971-11-02 Sperry Rand Corp Multilayer printed circuit electrical interconnection device
US3795884A (en) * 1973-03-06 1974-03-05 Amp Inc Electrical connector formed from coil spring
JPS5120589A (ja) * 1974-08-10 1976-02-18 Omron Tateisi Electronics Co Kibansetsuzokuhoho
JPS52109587U (ja) * 1976-02-18 1977-08-20
US4029375A (en) * 1976-06-14 1977-06-14 Electronic Engineering Company Of California Miniature electrical connector
JPS5853130A (ja) * 1981-09-24 1983-03-29 三菱電機株式会社 電磁接触器
KR830003020Y1 (ko) * 1983-03-16 1983-12-27 스가쓰네 고우교 가부시기 가이샤 경첩 설치판
US4705205A (en) * 1983-06-30 1987-11-10 Raychem Corporation Chip carrier mounting device
US4620761A (en) * 1985-01-30 1986-11-04 Texas Instruments Incorporated High density chip socket
JPS6332881A (ja) * 1986-07-25 1988-02-12 日本テキサス・インスツルメンツ株式会社 Icソケツト
JPH01140574A (ja) * 1987-11-27 1989-06-01 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 電気接触子
US4961709A (en) * 1989-02-13 1990-10-09 Burndy Corporation Vertical action contact spring
US4922376A (en) * 1989-04-10 1990-05-01 Unistructure, Inc. Spring grid array interconnection for active microelectronic elements
US5101553A (en) * 1991-04-29 1992-04-07 Microelectronics And Computer Technology Corporation Method of making a metal-on-elastomer pressure contact connector
JPH04368792A (ja) * 1991-06-14 1992-12-21 Yamaichi Electron Co Ltd 電気接触子ユニット
JPH05144530A (ja) * 1991-11-25 1993-06-11 Yamaichi Electron Co Ltd 電気接触子ユニツト
JP3187904B2 (ja) * 1991-12-20 2001-07-16 山一電機株式会社 電気部品用接続器
JPH05299248A (ja) * 1992-04-20 1993-11-12 Mitsubishi Electric Corp 信号弁別器
US5297967A (en) * 1992-10-13 1994-03-29 International Business Machines Corporation Electrical interconnector with helical contacting portion and assembly using same
JP3225685B2 (ja) * 1993-04-05 2001-11-05 ソニー株式会社 コンタクトユニット及びic半導体装置の機能テスト方法
JP2655802B2 (ja) * 1993-06-30 1997-09-24 山一電機株式会社 コイル形接触子及びこれを用いたコネクタ
US5427535A (en) * 1993-09-24 1995-06-27 Aries Electronics, Inc. Resilient electrically conductive terminal assemblies
JPH07161416A (ja) * 1993-12-02 1995-06-23 Excel Denshi:Kk 基板用コネクタ
JP2602623B2 (ja) * 1993-12-17 1997-04-23 山一電機株式会社 Icソケット
JP3779346B2 (ja) * 1995-01-20 2006-05-24 日本発条株式会社 Lsiパッケージ用ソケット
DE69634376D1 (de) * 1995-05-12 2005-03-31 St Microelectronics Inc IC-Packungsfassungssystem mit niedrigem Profil
US5791914A (en) * 1995-11-21 1998-08-11 Loranger International Corporation Electrical socket with floating guide plate

Also Published As

Publication number Publication date
US6174172B1 (en) 2001-01-16
KR100390865B1 (ko) 2003-10-10
KR19990076839A (ko) 1999-10-25
CN1206511A (zh) 1999-01-27
CN1129990C (zh) 2003-12-03
JPH09184852A (ja) 1997-07-15
MY119319A (en) 2005-05-31
MY112072A (en) 2001-03-31
WO1997024785A1 (en) 1997-07-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3653131B2 (ja) 導電性接触子
JP3326095B2 (ja) 導電性接触子
JP4060919B2 (ja) 電気的接続装置、接触子製造方法、及び半導体試験方法
JP3414593B2 (ja) 導電性接触子
JP2006004932A5 (ja)
JP2004519075A (ja) ランド格子アレイインタポーザまたは電気コネクタ用の接触子アセンブリ
JP4167202B2 (ja) 導電性接触子
JP2002052780A (ja) 高圧電源装置の導通接続構造
WO2010117058A1 (ja) コンタクトプローブおよびプローブユニット
JP2734412B2 (ja) 半導体装置のソケット
JP4086390B2 (ja) 電子部品用接触子
JP3878578B2 (ja) コンタクトプローブ、これを用いた半導体及び電気検査装置
JP5903049B2 (ja) 接続端子
US20110086558A1 (en) Electrical contact with improved material and method manufacturing the same
JP4064091B2 (ja) 電気コネクタの製造方法
US20030045139A1 (en) Receptacles for connecting electrical components between pins
JPH1187004A (ja) 接触部材
JPH0555316A (ja) プローブカード
JPH05203670A (ja) コンタクトプローブ
KR200419765Y1 (ko) Pcb 검사장치용 프로브
KR200317296Y1 (ko) 검사용 탐침장치
JPH06224364A (ja) 端子ピン
JP2024065885A (ja) 配線基板
JP2001052824A (ja) インターコネクタ
JPH11337577A (ja) プローブ構造

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20040625

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20040803

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20040930

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20041124

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20050121

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20050222

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20050225

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080304

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090304

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090304

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100304

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100304

Year of fee payment: 5

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100304

Year of fee payment: 5

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100304

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110304

Year of fee payment: 6

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees