JPH11220661A - 撮像装置 - Google Patents
撮像装置Info
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- JPH11220661A JPH11220661A JP10033571A JP3357198A JPH11220661A JP H11220661 A JPH11220661 A JP H11220661A JP 10033571 A JP10033571 A JP 10033571A JP 3357198 A JP3357198 A JP 3357198A JP H11220661 A JPH11220661 A JP H11220661A
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- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims abstract description 161
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- 238000000059 patterning Methods 0.000 claims description 31
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 13
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 18
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 3
- 239000003086 colorant Substances 0.000 description 2
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- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/60—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise
- H04N25/68—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to defects
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N2209/00—Details of colour television systems
- H04N2209/04—Picture signal generators
- H04N2209/041—Picture signal generators using solid-state devices
- H04N2209/042—Picture signal generators using solid-state devices having a single pick-up sensor
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
- Color Television Image Signal Generators (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 欠陥画素の周辺領域の画像形状を考慮して、
欠陥画素を高精度で補償できるようにした撮像装置を提
供する。 【解決手段】 画素を２次元状に配置してなるＣＣＤ撮
像素子１と、該撮像素子の欠陥画素位置及び欠陥画素が
２次元的に連続している場合にはそれらの並び方パター
ンを記憶する欠陥画素情報記憶手段12と、撮像信号にお
ける欠陥画素位置の周辺領域の画像形状を、欠陥画素周
囲の画素情報から検出し、その検出された画像形状に基
づいて、欠陥画素を補間すべき画素を選択し、その選択
画素で欠陥画素を補間補償する画素欠陥補償処理部８と
を設けて撮像装置を構成する。
欠陥画素を高精度で補償できるようにした撮像装置を提
供する。 【解決手段】 画素を２次元状に配置してなるＣＣＤ撮
像素子１と、該撮像素子の欠陥画素位置及び欠陥画素が
２次元的に連続している場合にはそれらの並び方パター
ンを記憶する欠陥画素情報記憶手段12と、撮像信号にお
ける欠陥画素位置の周辺領域の画像形状を、欠陥画素周
囲の画素情報から検出し、その検出された画像形状に基
づいて、欠陥画素を補間すべき画素を選択し、その選択
画素で欠陥画素を補間補償する画素欠陥補償処理部８と
を設けて撮像装置を構成する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、撮像装置に関
し、特に半導体撮像素子の欠陥画素を高精度に補間し補
償できるようにした撮像装置に関する。
し、特に半導体撮像素子の欠陥画素を高精度に補間し補
償できるようにした撮像装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】一般に、２次元状に画素を配列してなる
半導体撮像素子を備えた撮像装置を用いて撮像を行った
とき、半導体撮像素子を構成する画素に欠陥がある場
合、撮像信号に欠陥が入り見苦しい画像が出力されてし
まう。従来、出力画像におけるこのような欠陥が目立た
ないようにするため、種々の画素欠陥補償手段が用いら
れており、その基本的な補償方式としては、欠陥画素の
回りにある画素の信号を用いて、欠陥画素の信号に置き
換えるという方式（４点補間方式）が知られている。
半導体撮像素子を備えた撮像装置を用いて撮像を行った
とき、半導体撮像素子を構成する画素に欠陥がある場
合、撮像信号に欠陥が入り見苦しい画像が出力されてし
まう。従来、出力画像におけるこのような欠陥が目立た
ないようにするため、種々の画素欠陥補償手段が用いら
れており、その基本的な補償方式としては、欠陥画素の
回りにある画素の信号を用いて、欠陥画素の信号に置き
換えるという方式（４点補間方式）が知られている。
【０００３】また、特公平５−２３５５１号公報には、
正方格子状に配設された複数の撮像素子から出力される
画素信号の中から、欠陥画素信号を垂直方向、水平方向
及び斜め方向にそれぞれ挟む２つの画素信号間毎の差の
絶対値を演算し、絶対値信号を出力する絶対値演算手段
と、絶対値信号の中で最も小さい値を与える２つの画素
信号を検出する最小差検出手段と、最小差検出手段によ
り検出された２つの画素信号について平均値演算を行
い、平均値信号を出力する平均値演算手段と、欠陥画素
信号を平均値信号で置換する置換手段とを備え、補償誤
差を小さくすることにより、より高精度に欠陥画素信号
を補償できるようにした画像欠陥補償装置について開示
がなされている。
正方格子状に配設された複数の撮像素子から出力される
画素信号の中から、欠陥画素信号を垂直方向、水平方向
及び斜め方向にそれぞれ挟む２つの画素信号間毎の差の
絶対値を演算し、絶対値信号を出力する絶対値演算手段
と、絶対値信号の中で最も小さい値を与える２つの画素
信号を検出する最小差検出手段と、最小差検出手段によ
り検出された２つの画素信号について平均値演算を行
い、平均値信号を出力する平均値演算手段と、欠陥画素
信号を平均値信号で置換する置換手段とを備え、補償誤
差を小さくすることにより、より高精度に欠陥画素信号
を補償できるようにした画像欠陥補償装置について開示
がなされている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上記周囲画
素の４点補間による欠陥補償方式は、例えば図27の
（Ａ）に示すように、２列の水平方向の黒線を出力する
画素列中において白抜きで示した位置の画素101 が欠陥
画素である場合、この欠陥画素101 の上下左右の矢印で
示した画素の平均値で欠陥画素を置き換えるという方式
である。この方式で図27の（Ａ）に示す欠陥画素101 の
補間を行うと、補間に用いる３画素は黒で１画素は白な
ので、平均値をとって補間を行うと、図27の（Ｂ）に示
すように、グレーレベルで補間されることになる。した
がって、図27の（Ａ）に示す欠陥画素は本来黒で補間さ
れるべきなのにグレーで補間され、欠陥が少し残ってし
まい、このように画像中に輝度が急峻に変化する領域
（例えば線やエッジ）に欠陥がある場合、補償誤差が大
きくなり、有効に欠陥画素を補償できないという問題点
がある。また、上記特公平５−２３５５１号公報開示の
画像欠陥補償装置によれば、補償誤差が小さくなり、よ
り高精度に欠陥画素を補償することが可能となるが、欠
陥画素の垂直、水平及び斜め方向にそれぞれ挟む２つの
画素のみを考慮するものであるため、欠陥画素の周辺領
域の画素信号の態様を正確に考慮できず、やはり輝度が
急峻に変化している領域では、高精度で欠陥画素を補償
できないおそれが生じるという問題点がある。
素の４点補間による欠陥補償方式は、例えば図27の
（Ａ）に示すように、２列の水平方向の黒線を出力する
画素列中において白抜きで示した位置の画素101 が欠陥
画素である場合、この欠陥画素101 の上下左右の矢印で
示した画素の平均値で欠陥画素を置き換えるという方式
である。この方式で図27の（Ａ）に示す欠陥画素101 の
補間を行うと、補間に用いる３画素は黒で１画素は白な
ので、平均値をとって補間を行うと、図27の（Ｂ）に示
すように、グレーレベルで補間されることになる。した
がって、図27の（Ａ）に示す欠陥画素は本来黒で補間さ
れるべきなのにグレーで補間され、欠陥が少し残ってし
まい、このように画像中に輝度が急峻に変化する領域
（例えば線やエッジ）に欠陥がある場合、補償誤差が大
きくなり、有効に欠陥画素を補償できないという問題点
がある。また、上記特公平５−２３５５１号公報開示の
画像欠陥補償装置によれば、補償誤差が小さくなり、よ
り高精度に欠陥画素を補償することが可能となるが、欠
陥画素の垂直、水平及び斜め方向にそれぞれ挟む２つの
画素のみを考慮するものであるため、欠陥画素の周辺領
域の画素信号の態様を正確に考慮できず、やはり輝度が
急峻に変化している領域では、高精度で欠陥画素を補償
できないおそれが生じるという問題点がある。
【０００５】本発明は、従来の撮像装置において用いら
れている欠陥画素補償方式における上記問題点を解消す
るためになされたもので、欠陥画素の周辺領域の画像形
状を考慮して、高精度で欠陥画素を補償できるようにし
た撮像装置を提供することを目的とする。各請求項毎の
目的を述べると次の通りである。請求項１記載の発明
は、出力画像中の輝度が急峻に変化する領域に欠陥があ
る場合でも、欠陥が目立たないように高精度で補償する
ことが可能な撮像装置を提供することを目的とする。請
求項２記載の発明は、欠陥画素が２次元的に連続してい
る場合に、記憶容量の少ない記憶手段で欠陥補償処理が
できるようにした撮像装置を提供することを目的とす
る。請求項３〜６記載の発明は、欠陥画素位置の周辺領
域の画像形状を高精度で検出し欠陥画素を精度よく補償
できるようにした撮像装置を提供することを目的とす
る。請求項７記載の発明は、欠陥画素位置の周辺領域の
画像形状を、領域を大きくせずに高精度で検出すること
ができ、また斜め形状の周辺領域の画像形状も方向を含
めて容易に検出でき、高精度に欠陥画素を補償できるよ
うにした撮像装置を提供することを目的とする。請求項
８記載の発明は、欠陥画素位置の周辺領域における斜め
形状の画像形状の有無に拘わらず、効率よく画像形状の
検出を行うことが可能な撮像装置を提供することを目的
とする。請求項９記載の発明は、欠陥画素位置の周辺領
域の画像形状の方向を間違って検出した場合でも、欠陥
画素が目立たないように補償できる撮像装置を提供する
ことを目的とする。
れている欠陥画素補償方式における上記問題点を解消す
るためになされたもので、欠陥画素の周辺領域の画像形
状を考慮して、高精度で欠陥画素を補償できるようにし
た撮像装置を提供することを目的とする。各請求項毎の
目的を述べると次の通りである。請求項１記載の発明
は、出力画像中の輝度が急峻に変化する領域に欠陥があ
る場合でも、欠陥が目立たないように高精度で補償する
ことが可能な撮像装置を提供することを目的とする。請
求項２記載の発明は、欠陥画素が２次元的に連続してい
る場合に、記憶容量の少ない記憶手段で欠陥補償処理が
できるようにした撮像装置を提供することを目的とす
る。請求項３〜６記載の発明は、欠陥画素位置の周辺領
域の画像形状を高精度で検出し欠陥画素を精度よく補償
できるようにした撮像装置を提供することを目的とす
る。請求項７記載の発明は、欠陥画素位置の周辺領域の
画像形状を、領域を大きくせずに高精度で検出すること
ができ、また斜め形状の周辺領域の画像形状も方向を含
めて容易に検出でき、高精度に欠陥画素を補償できるよ
うにした撮像装置を提供することを目的とする。請求項
８記載の発明は、欠陥画素位置の周辺領域における斜め
形状の画像形状の有無に拘わらず、効率よく画像形状の
検出を行うことが可能な撮像装置を提供することを目的
とする。請求項９記載の発明は、欠陥画素位置の周辺領
域の画像形状の方向を間違って検出した場合でも、欠陥
画素が目立たないように補償できる撮像装置を提供する
ことを目的とする。
【０００６】また請求項10記載の発明は、カラー出力画
像中の輝度が急峻に変化する領域に欠陥がある場合で
も、欠陥が目立たないように補償することが可能な撮像
装置を提供することを目的とする。請求項11記載の発明
は、欠陥画素が２次元的に連続している場合に、記憶容
量の少ない記憶手段で欠陥補償処理ができるようにした
撮像装置を提供することを目的とする。請求項12〜15記
載の発明は、欠陥画素位置の周辺領域の画像形状を高精
度で検出し欠陥画素を精度よく補償できるようにした撮
像装置を提供することを目的とする。請求項16記載の発
明は、異なる色の画素でも比較して欠陥画素位置の周辺
領域の画像形状を検出することができると共に、領域を
大きくせずに欠陥画素位置の周辺領域の画像形状を、斜
め形状であっても方向を含めて高精度に検出し、欠陥画
素を高精度で補償できるようにした撮像装置を提供する
ことを目的とする。請求項17記載の発明は、欠陥画素位
置の周辺領域における斜め形状の画像形状の有無に拘わ
らず、効率よく画像形状の検出を行うことが可能な撮像
装置を提供することを目的とする。請求項18記載の発明
は、欠陥画素位置の周辺領域の画像形状の方向を間違っ
て検出した場合でも、欠陥画素が目立たないように補償
したカラー画像が得られる撮像装置を提供することを目
的とする。請求項19記載の発明は、撮影画像の圧縮記録
時に欠陥の影響が現れないようにした撮像装置を提供す
ることを目的とする。請求項20記載の発明は、撮影画像
の記録時の時間を短縮すると共に、欠陥画素の補償を高
精度で行えるようにした撮像装置を提供することを目的
とする。
像中の輝度が急峻に変化する領域に欠陥がある場合で
も、欠陥が目立たないように補償することが可能な撮像
装置を提供することを目的とする。請求項11記載の発明
は、欠陥画素が２次元的に連続している場合に、記憶容
量の少ない記憶手段で欠陥補償処理ができるようにした
撮像装置を提供することを目的とする。請求項12〜15記
載の発明は、欠陥画素位置の周辺領域の画像形状を高精
度で検出し欠陥画素を精度よく補償できるようにした撮
像装置を提供することを目的とする。請求項16記載の発
明は、異なる色の画素でも比較して欠陥画素位置の周辺
領域の画像形状を検出することができると共に、領域を
大きくせずに欠陥画素位置の周辺領域の画像形状を、斜
め形状であっても方向を含めて高精度に検出し、欠陥画
素を高精度で補償できるようにした撮像装置を提供する
ことを目的とする。請求項17記載の発明は、欠陥画素位
置の周辺領域における斜め形状の画像形状の有無に拘わ
らず、効率よく画像形状の検出を行うことが可能な撮像
装置を提供することを目的とする。請求項18記載の発明
は、欠陥画素位置の周辺領域の画像形状の方向を間違っ
て検出した場合でも、欠陥画素が目立たないように補償
したカラー画像が得られる撮像装置を提供することを目
的とする。請求項19記載の発明は、撮影画像の圧縮記録
時に欠陥の影響が現れないようにした撮像装置を提供す
ることを目的とする。請求項20記載の発明は、撮影画像
の記録時の時間を短縮すると共に、欠陥画素の補償を高
精度で行えるようにした撮像装置を提供することを目的
とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】上記問題点を解決するた
め、請求項１記載の発明は、画素を２次元状に配置して
なる半導体撮像素子を備え、被写体光を画像信号に変換
する撮像手段と、前記半導体撮像素子の欠陥画素位置、
及び欠陥画素が２次元的に連続している場合には更にそ
れらの欠陥画素の並び方パターンを求める欠陥画素検出
手段と、該欠陥画素検出手段で求めた欠陥画素に関する
情報を記憶する欠陥画素情報記憶手段と、前記撮像手段
より得られる画像信号における、前記欠陥画素検出手段
より求められた欠陥画素位置の周辺領域の画像形状を、
欠陥画素周囲の画素情報から検出する周辺画像形状検出
手段と、該周辺画像形状検出手段によって検出された画
像形状に基づいて、欠陥画素の周囲から画素を選択し、
該選択画素で欠陥画素を補間することによって画素欠陥
補償を行う画素欠陥補償手段とで撮像装置を構成するも
のである。
め、請求項１記載の発明は、画素を２次元状に配置して
なる半導体撮像素子を備え、被写体光を画像信号に変換
する撮像手段と、前記半導体撮像素子の欠陥画素位置、
及び欠陥画素が２次元的に連続している場合には更にそ
れらの欠陥画素の並び方パターンを求める欠陥画素検出
手段と、該欠陥画素検出手段で求めた欠陥画素に関する
情報を記憶する欠陥画素情報記憶手段と、前記撮像手段
より得られる画像信号における、前記欠陥画素検出手段
より求められた欠陥画素位置の周辺領域の画像形状を、
欠陥画素周囲の画素情報から検出する周辺画像形状検出
手段と、該周辺画像形状検出手段によって検出された画
像形状に基づいて、欠陥画素の周囲から画素を選択し、
該選択画素で欠陥画素を補間することによって画素欠陥
補償を行う画素欠陥補償手段とで撮像装置を構成するも
のである。
【０００８】このように、周辺画像形状検出手段によっ
て、画像中の欠陥画素の周辺領域の画像形状（線及びそ
の方向、エッジ及びその方向、面）を検出し、その画像
形状に基づいて欠陥画素を補間する画素を選択するよう
にしているので、出力画像中の輝度が急峻に変化する領
域（例えば線やエッジ）に欠陥がある場合でも、欠陥が
目立たないように高精度で補償することが可能な撮像装
置を実現することができる。
て、画像中の欠陥画素の周辺領域の画像形状（線及びそ
の方向、エッジ及びその方向、面）を検出し、その画像
形状に基づいて欠陥画素を補間する画素を選択するよう
にしているので、出力画像中の輝度が急峻に変化する領
域（例えば線やエッジ）に欠陥がある場合でも、欠陥が
目立たないように高精度で補償することが可能な撮像装
置を実現することができる。
【０００９】請求項２記載の発明は、請求項１記載の撮
像装置において、前記欠陥画素情報記憶手段は、欠陥画
素が２次元的に連続している場合、連続している欠陥画
素のいずれか一つの画素位置とその他の欠陥画素の並び
方パターンを記憶するように構成されていることを特徴
とするものである。このように欠陥画素が２次元的に連
続している場合、いずれか一つの欠陥画素の位置と他の
欠陥画素の並び方を記憶するようにしているので、欠陥
画素位置を１画素ずつ記憶させるのに比べて、記憶容量
が少なくて済む。
像装置において、前記欠陥画素情報記憶手段は、欠陥画
素が２次元的に連続している場合、連続している欠陥画
素のいずれか一つの画素位置とその他の欠陥画素の並び
方パターンを記憶するように構成されていることを特徴
とするものである。このように欠陥画素が２次元的に連
続している場合、いずれか一つの欠陥画素の位置と他の
欠陥画素の並び方を記憶するようにしているので、欠陥
画素位置を１画素ずつ記憶させるのに比べて、記憶容量
が少なくて済む。
【００１０】請求項３記載の発明は、請求項１又は２記
載の撮像装置において、前記周辺画像形状検出手段は、
欠陥画素の周囲にある複数個の画素の信号レベルをそれ
ぞれ求める信号レベル検出手段と、該信号レベル検出手
段から得られた複数画素の信号レベルデータのうち、欠
陥画素の上方に位置する複数画素に関するものは、水平
方向にまとめて一つの組とし、その組の中のある１画素
の信号レベルを基準画素信号レベルとして該基準画素信
号レベルに対する他の画素の相対信号レベルを求める第
１の相対レベル検出手段と、前記信号レベル検出手段か
ら得られた複数画素の信号レベルデータのうち、欠陥画
素の下方に位置する複数画素に関するものは、水平方向
にまとめて一つの組とし、その組の中のある１画素の信
号レベルを基準画素信号レベルとして該基準画素信号レ
ベルに対する他の画素の相対信号レベルを求める第２の
相対レベル検出手段と、前記信号レベル検出手段から得
られた複数画素の信号レベルデータのうち、欠陥画素の
右方に位置する複数画素に関するものは、垂直方向にま
とめて一つの組とし、その組の中のある１画素の信号レ
ベルを基準画素信号レベルとして該基準画素信号レベル
に対する他の画素の相対信号レベルを求める第３の相対
レベル検出手段と、前記信号レベル検出手段から得られ
た複数画素の信号レベルデータのうち、欠陥画素の左方
に位置する複数画素に関するものは、垂直方向にまとめ
て一つの組とし、その組の中のある１画素の信号レベル
を基準画素信号レベルとして該基準画素信号レベルに対
する他の画素の相対信号レベルを求める第４の相対レベ
ル検出手段と、前記第１から第４の相対レベル検出手段
で求められた相対信号レベルデータを、画素位置と関連
付けて表すことにより、各組内の画素信号レベルをパタ
ーン化するパターン化手段と、該パターン化手段により
得られたパターンを、予め設定したパターンと比較する
比較手段と、該比較手段における比較動作において、前
記パターン化手段で得られたパターンと設定したパター
ンが一致した場合、その一致した設定パターンを周辺画
像形状とする第１の画像形状決定手段と、前記比較手段
における比較動作において、前記パターン化手段で得ら
れたパターンと設定したパターンが一致しなかった場
合、予め設定した特定パターンを周辺画像形状とする第
２の画像形状決定手段と、前記比較手段における比較動
作において、前記パターン化手段で得られたパターンと
予め設定したパターンの複数が一致した場合、一致した
複数の設定パターンの中、それらの設定パターンが示す
複数の補間画素の信号レベル差の小さいパターンを選択
して、周辺画像形状とする第３の画像形状決定手段とを
備えていることを特徴とするものである。また、請求項
４記載の発明は、請求項３記載の撮像装置において、前
記パターン化手段は、前記相対信号レベルデータをＮ値
化（Ｎは前記撮像手段による画像信号の階調数以下の任
意の数）して、画素位置と関連付けて表すことにより、
各組内の画素信号レベルをパターン化するように構成さ
れていることを特徴とするものであり、また、請求項５
記載の発明は、請求項４記載の撮像装置において、前記
Ｎ値は、複数画素の信号レベルの中の基準画素信号レベ
ルに対して他の画素の信号レベルが高い、低い、同じの
３値とすることを特徴とするものであり、また、請求項
６記載の発明は、請求項３記載の撮像装置において、前
記比較手段において用いられる予め設定したパターン
は、エッジ及び線の方向を決定できるパターンであるこ
とを特徴とするものである。
載の撮像装置において、前記周辺画像形状検出手段は、
欠陥画素の周囲にある複数個の画素の信号レベルをそれ
ぞれ求める信号レベル検出手段と、該信号レベル検出手
段から得られた複数画素の信号レベルデータのうち、欠
陥画素の上方に位置する複数画素に関するものは、水平
方向にまとめて一つの組とし、その組の中のある１画素
の信号レベルを基準画素信号レベルとして該基準画素信
号レベルに対する他の画素の相対信号レベルを求める第
１の相対レベル検出手段と、前記信号レベル検出手段か
ら得られた複数画素の信号レベルデータのうち、欠陥画
素の下方に位置する複数画素に関するものは、水平方向
にまとめて一つの組とし、その組の中のある１画素の信
号レベルを基準画素信号レベルとして該基準画素信号レ
ベルに対する他の画素の相対信号レベルを求める第２の
相対レベル検出手段と、前記信号レベル検出手段から得
られた複数画素の信号レベルデータのうち、欠陥画素の
右方に位置する複数画素に関するものは、垂直方向にま
とめて一つの組とし、その組の中のある１画素の信号レ
ベルを基準画素信号レベルとして該基準画素信号レベル
に対する他の画素の相対信号レベルを求める第３の相対
レベル検出手段と、前記信号レベル検出手段から得られ
た複数画素の信号レベルデータのうち、欠陥画素の左方
に位置する複数画素に関するものは、垂直方向にまとめ
て一つの組とし、その組の中のある１画素の信号レベル
を基準画素信号レベルとして該基準画素信号レベルに対
する他の画素の相対信号レベルを求める第４の相対レベ
ル検出手段と、前記第１から第４の相対レベル検出手段
で求められた相対信号レベルデータを、画素位置と関連
付けて表すことにより、各組内の画素信号レベルをパタ
ーン化するパターン化手段と、該パターン化手段により
得られたパターンを、予め設定したパターンと比較する
比較手段と、該比較手段における比較動作において、前
記パターン化手段で得られたパターンと設定したパター
ンが一致した場合、その一致した設定パターンを周辺画
像形状とする第１の画像形状決定手段と、前記比較手段
における比較動作において、前記パターン化手段で得ら
れたパターンと設定したパターンが一致しなかった場
合、予め設定した特定パターンを周辺画像形状とする第
２の画像形状決定手段と、前記比較手段における比較動
作において、前記パターン化手段で得られたパターンと
予め設定したパターンの複数が一致した場合、一致した
複数の設定パターンの中、それらの設定パターンが示す
複数の補間画素の信号レベル差の小さいパターンを選択
して、周辺画像形状とする第３の画像形状決定手段とを
備えていることを特徴とするものである。また、請求項
４記載の発明は、請求項３記載の撮像装置において、前
記パターン化手段は、前記相対信号レベルデータをＮ値
化（Ｎは前記撮像手段による画像信号の階調数以下の任
意の数）して、画素位置と関連付けて表すことにより、
各組内の画素信号レベルをパターン化するように構成さ
れていることを特徴とするものであり、また、請求項５
記載の発明は、請求項４記載の撮像装置において、前記
Ｎ値は、複数画素の信号レベルの中の基準画素信号レベ
ルに対して他の画素の信号レベルが高い、低い、同じの
３値とすることを特徴とするものであり、また、請求項
６記載の発明は、請求項３記載の撮像装置において、前
記比較手段において用いられる予め設定したパターン
は、エッジ及び線の方向を決定できるパターンであるこ
とを特徴とするものである。
【００１１】このように、欠陥画素を囲む上下左右の４
方向にそれぞれ位置する画素の相対信号レベルを画素位
置と関連付けてパターン化し、予め設定したパターンと
比較して欠陥画素周辺領域の画像形状を求めるようにし
ているので、高精度で画像形状を検出し精度よく欠陥画
素を補償することが可能となる。
方向にそれぞれ位置する画素の相対信号レベルを画素位
置と関連付けてパターン化し、予め設定したパターンと
比較して欠陥画素周辺領域の画像形状を求めるようにし
ているので、高精度で画像形状を検出し精度よく欠陥画
素を補償することが可能となる。
【００１２】請求項７記載の発明は、請求項１記載の撮
像装置において、前記周辺画像形状検出手段は、欠陥画
素の周囲にある複数個の画素を基準画素とし、該基準画
素の信号レベルを求める基準画素信号レベル検出手段
と、前記基準画素を前記欠陥画素に重ならないように、
それぞれ水平方向に一様にずらした位置にある第１の複
数画素の信号レベルを検出する第１の信号レベル検出手
段と、前記基準画素を前記欠陥画素に重ならないよう
に、それぞれ垂直方向に一様にずらした位置にある第２
の複数画素の信号レベルを検出する第２の信号レベル検
出手段と、前記基準画素を前記欠陥画素に重ならないよ
うに、それぞれ右上がり方向に一様にずらした位置にあ
る第３の複数画素の信号レベルを検出する第３の信号レ
ベル検出手段と、前記基準画素を前記欠陥画素に重なら
ないように、それぞれ右下がり方向に一様にずらした位
置にある第４の複数画素の信号レベルを検出する第４の
信号レベル検出手段と、前記基準画素において、同一垂
直ライン上の画素の信号レベルの和を垂直ライン毎に求
める手段と、前記第１の複数画素において、同一垂直ラ
インにある画素の信号レベルの和を垂直ライン毎に求め
る手段と、前記第２の複数画素において、同一垂直ライ
ンにある画素の信号レベルの和を垂直ライン毎に求める
手段と、前記第３の複数画素において、同一垂直ライン
にある画素の信号レベルの和を垂直ライン毎に求める手
段と、前記第４の複数画素において、同一垂直ラインに
ある画素の信号レベルの和を垂直ライン毎に求める手段
と、前記基準画素において、所定の垂直ライン上の画素
の信号レベル和に対する他の全ての垂直ライン上の画素
の信号レベル和の比を求める手段と、前記第１の複数画
素において、所定の垂直ライン上の画素の信号レベル和
に対する他の全ての垂直ライン上の画素の信号レベル和
の比を求める手段と、前記第２の複数画素において、所
定の垂直ライン上の画素の信号レベル和に対する他の全
ての垂直ライン上の画素の信号レベル和の比を求める手
段と、前記第３の複数画素において、所定の垂直ライン
上の画素の信号レベル和に対する他の全ての垂直ライン
上の画素の信号レベル和の比を求める手段と、前記第４
の複数画素において、所定の垂直ライン上の画素の信号
レベル和に対する他の全ての垂直ライン上の画素の信号
レベル和の比を求める手段と、前記基準画素の信号レベ
ル和の比と、第１，第２，第３及び第４の各信号レベル
和の比を比較し、基準画素の信号レベル和の比に最も近
い値の信号レベル和の比を選択する手段と、該選択手段
により第１の複数画素の信号レベル和の比が選択された
場合、周辺領域画像形状は水平方向のエッジ又は線と判
断し、第２の複数画素の信号レベル和の比が選択された
場合、周辺領域画像形状は垂直方向のエッジ又は線と判
断し、第３の複数画素の信号レベル和の比が選択された
場合、周辺領域画像形状は右上がり方向のエッジ又は線
と判断し、第４の複数画素の信号レベル和の比が選択さ
れた場合、周辺領域画像形状は右下がり方向のエッジ又
は線と判断する手段とを備えていることを特徴とするも
のである。
像装置において、前記周辺画像形状検出手段は、欠陥画
素の周囲にある複数個の画素を基準画素とし、該基準画
素の信号レベルを求める基準画素信号レベル検出手段
と、前記基準画素を前記欠陥画素に重ならないように、
それぞれ水平方向に一様にずらした位置にある第１の複
数画素の信号レベルを検出する第１の信号レベル検出手
段と、前記基準画素を前記欠陥画素に重ならないよう
に、それぞれ垂直方向に一様にずらした位置にある第２
の複数画素の信号レベルを検出する第２の信号レベル検
出手段と、前記基準画素を前記欠陥画素に重ならないよ
うに、それぞれ右上がり方向に一様にずらした位置にあ
る第３の複数画素の信号レベルを検出する第３の信号レ
ベル検出手段と、前記基準画素を前記欠陥画素に重なら
ないように、それぞれ右下がり方向に一様にずらした位
置にある第４の複数画素の信号レベルを検出する第４の
信号レベル検出手段と、前記基準画素において、同一垂
直ライン上の画素の信号レベルの和を垂直ライン毎に求
める手段と、前記第１の複数画素において、同一垂直ラ
インにある画素の信号レベルの和を垂直ライン毎に求め
る手段と、前記第２の複数画素において、同一垂直ライ
ンにある画素の信号レベルの和を垂直ライン毎に求める
手段と、前記第３の複数画素において、同一垂直ライン
にある画素の信号レベルの和を垂直ライン毎に求める手
段と、前記第４の複数画素において、同一垂直ラインに
ある画素の信号レベルの和を垂直ライン毎に求める手段
と、前記基準画素において、所定の垂直ライン上の画素
の信号レベル和に対する他の全ての垂直ライン上の画素
の信号レベル和の比を求める手段と、前記第１の複数画
素において、所定の垂直ライン上の画素の信号レベル和
に対する他の全ての垂直ライン上の画素の信号レベル和
の比を求める手段と、前記第２の複数画素において、所
定の垂直ライン上の画素の信号レベル和に対する他の全
ての垂直ライン上の画素の信号レベル和の比を求める手
段と、前記第３の複数画素において、所定の垂直ライン
上の画素の信号レベル和に対する他の全ての垂直ライン
上の画素の信号レベル和の比を求める手段と、前記第４
の複数画素において、所定の垂直ライン上の画素の信号
レベル和に対する他の全ての垂直ライン上の画素の信号
レベル和の比を求める手段と、前記基準画素の信号レベ
ル和の比と、第１，第２，第３及び第４の各信号レベル
和の比を比較し、基準画素の信号レベル和の比に最も近
い値の信号レベル和の比を選択する手段と、該選択手段
により第１の複数画素の信号レベル和の比が選択された
場合、周辺領域画像形状は水平方向のエッジ又は線と判
断し、第２の複数画素の信号レベル和の比が選択された
場合、周辺領域画像形状は垂直方向のエッジ又は線と判
断し、第３の複数画素の信号レベル和の比が選択された
場合、周辺領域画像形状は右上がり方向のエッジ又は線
と判断し、第４の複数画素の信号レベル和の比が選択さ
れた場合、周辺領域画像形状は右下がり方向のエッジ又
は線と判断する手段とを備えていることを特徴とするも
のである。
【００１３】このように欠陥画素周囲の画素と、該画素
の水平、垂直、右上がり及び右下がり方向にずらした位
置の画素を用いて欠陥画素の周辺領域の画像形状を検出
することにより、画像形状検出のための領域を大きくせ
ずに、高精度で周辺領域の画像形状を検出することがで
き、また、斜め方向の周辺領域の画像形状も方向を含め
て容易に検出することができる。
の水平、垂直、右上がり及び右下がり方向にずらした位
置の画素を用いて欠陥画素の周辺領域の画像形状を検出
することにより、画像形状検出のための領域を大きくせ
ずに、高精度で周辺領域の画像形状を検出することがで
き、また、斜め方向の周辺領域の画像形状も方向を含め
て容易に検出することができる。
【００１４】請求項８記載の発明は、請求項１記載の撮
像装置において、前記周辺画像形状検出手段は、前記請
求項３記載の周辺画像形状検出手段からなる第１の周辺
画像形状検出手段と、前記請求項７記載の周辺画像形状
検出手段からなる第２の周辺画像形状検出手段とを備
え、前記第１の周辺画像形状検出手段により斜め線形状
が検出された場合にのみ、第２の周辺画像形状検出手段
による形状検出を行うように構成されていることを特徴
とするものである。このように構成することにより、欠
陥画素位置の周辺領域における斜め方向の画像形状の有
無に拘わらず、効率よく画像形状の検出を行うことがで
きる。
像装置において、前記周辺画像形状検出手段は、前記請
求項３記載の周辺画像形状検出手段からなる第１の周辺
画像形状検出手段と、前記請求項７記載の周辺画像形状
検出手段からなる第２の周辺画像形状検出手段とを備
え、前記第１の周辺画像形状検出手段により斜め線形状
が検出された場合にのみ、第２の周辺画像形状検出手段
による形状検出を行うように構成されていることを特徴
とするものである。このように構成することにより、欠
陥画素位置の周辺領域における斜め方向の画像形状の有
無に拘わらず、効率よく画像形状の検出を行うことがで
きる。
【００１５】請求項９記載の発明は、請求項１〜８記載
の撮像装置において、前記画素欠陥補償手段は、複数の
選択画素の平均値で欠陥画素を補間するように構成され
ていることを特徴とするものである。このように構成す
ることにより、仮に欠陥画素位置の周辺領域の画像形状
の方向が間違って検出された場合でも、欠陥画素と周辺
画素とがなだらかな変化となるため、欠陥画素が目立た
ないように補償することができる。
の撮像装置において、前記画素欠陥補償手段は、複数の
選択画素の平均値で欠陥画素を補間するように構成され
ていることを特徴とするものである。このように構成す
ることにより、仮に欠陥画素位置の周辺領域の画像形状
の方向が間違って検出された場合でも、欠陥画素と周辺
画素とがなだらかな変化となるため、欠陥画素が目立た
ないように補償することができる。
【００１６】請求項10記載の発明は、画素を２次元状に
配置してなる半導体撮像素子を備え、被写体光を少なく
とも３種類以上の複数の色信号からなる撮像信号に変換
する撮像手段と、前記半導体撮像素子の欠陥画素位置、
及び欠陥画素が２次元的に連続している場合には更にそ
れらの欠陥画素の並び方パターンを求める欠陥画素検出
手段と、該欠陥画素検出手段で求めた欠陥画素に関する
情報を記憶する欠陥画素情報記憶手段と、前記撮像手段
より得られる画像信号における、前記欠陥画素検出手段
より求められた欠陥画素位置の周辺領域の画像形状を、
欠陥画素周囲の欠陥画素と同色の画素情報から検出する
周辺画像形状検出手段と、該周辺画像形状検出手段によ
って検出された画像形状に基づいて、欠陥画素の周囲か
ら欠陥画素と同色の画素を選択し、該選択画素で欠陥画
素を補間することによって画素欠陥補償を行う画素欠陥
補償手段とで撮像装置を構成するものである。
配置してなる半導体撮像素子を備え、被写体光を少なく
とも３種類以上の複数の色信号からなる撮像信号に変換
する撮像手段と、前記半導体撮像素子の欠陥画素位置、
及び欠陥画素が２次元的に連続している場合には更にそ
れらの欠陥画素の並び方パターンを求める欠陥画素検出
手段と、該欠陥画素検出手段で求めた欠陥画素に関する
情報を記憶する欠陥画素情報記憶手段と、前記撮像手段
より得られる画像信号における、前記欠陥画素検出手段
より求められた欠陥画素位置の周辺領域の画像形状を、
欠陥画素周囲の欠陥画素と同色の画素情報から検出する
周辺画像形状検出手段と、該周辺画像形状検出手段によ
って検出された画像形状に基づいて、欠陥画素の周囲か
ら欠陥画素と同色の画素を選択し、該選択画素で欠陥画
素を補間することによって画素欠陥補償を行う画素欠陥
補償手段とで撮像装置を構成するものである。
【００１７】このように構成することにより、カラー出
力画像中の輝度が急峻に変化する領域に欠陥がある場合
でも、欠陥が目立たないように補償されたカラー画像を
得ることが可能な撮像装置を実現することができる。
力画像中の輝度が急峻に変化する領域に欠陥がある場合
でも、欠陥が目立たないように補償されたカラー画像を
得ることが可能な撮像装置を実現することができる。
【００１８】請求項11記載の発明は、請求項10記載の撮
像装置において、前記欠陥画素情報記憶手段は、欠陥画
素が２次元的に連続している場合、連続している欠陥画
素のいずれか一つの画素位置とその他の欠陥画素の並び
方パターンを記憶するように構成されていることを特徴
とするものである。このように欠陥画素が２次元的に連
続している場合、いずれか一つの欠陥画素の位置と他の
欠陥画素の並び方を記憶するようにしているので、欠陥
画素位置を１画素ずつ記憶させるのに比べて、記憶容量
の少ない記憶手段で高精度のカラー画像の画素欠陥補償
処理を行うことができる。
像装置において、前記欠陥画素情報記憶手段は、欠陥画
素が２次元的に連続している場合、連続している欠陥画
素のいずれか一つの画素位置とその他の欠陥画素の並び
方パターンを記憶するように構成されていることを特徴
とするものである。このように欠陥画素が２次元的に連
続している場合、いずれか一つの欠陥画素の位置と他の
欠陥画素の並び方を記憶するようにしているので、欠陥
画素位置を１画素ずつ記憶させるのに比べて、記憶容量
の少ない記憶手段で高精度のカラー画像の画素欠陥補償
処理を行うことができる。
【００１９】請求項12記載の発明は、請求項10又は11記
載の撮像装置において、前記周辺画像形状検出手段は、
欠陥画素の周囲にある欠陥画素と同色の複数個の画素の
信号レベルをそれぞれ求める信号レベル検出手段と、該
信号レベル検出手段から得られた複数画素の信号レベル
データのうち、欠陥画素の上方に位置する複数画素に関
するものは、水平方向にまとめて一つの組とし、その組
の中のある１画素の信号レベルを基準画素信号レベルと
して該基準画素信号レベルに対する他の画素の相対信号
レベルを求める第１の相対レベル検出手段と、前記信号
レベル検出手段から得られた複数画素の信号レベルデー
タのうち、欠陥画素の下方に位置する複数画素に関する
ものは、水平方向にまとめて一つの組とし、その組の中
のある１画素の信号レベルを基準画素信号レベルとして
該基準画素信号レベルに対する他の画素の相対信号レベ
ルを求める第２の相対レベル検出手段と、前記信号レベ
ル検出手段から得られた複数画素の信号レベルデータの
うち、欠陥画素の右方に位置する複数画素に関するもの
は、垂直方向にまとめて一つの組とし、その組の中のあ
る１画素の信号レベルを基準画素信号レベルとして該基
準画素信号レベルに対する他の画素の相対信号レベルを
求める第３の相対レベル検出手段と、前記信号レベル検
出手段から得られた複数画素の信号レベルデータのう
ち、欠陥画素の左方に位置する複数画素に関するもの
は、垂直方向にまとめて一つの組とし、その組の中のあ
る１画素の信号レベルを基準画素信号レベルとして該基
準画素信号レベルに対する他の画素の相対信号レベルを
求める第４の相対レベル検出手段と、前記第１から第４
の相対レベル検出手段で求められた相対信号レベルデー
タを、画素位置と関連付けて表すことにより、各組内の
画素信号レベルをパターン化するパターン化手段と、該
パターン化手段により得られたパターンを、予め設定し
たパターンと比較する比較手段と、該比較手段における
比較動作において、前記パターン化手段で得られたパタ
ーンと設定したパターンが一致した場合、その一致した
設定パターンを周辺画像形状とする第１の画像形状決定
手段と、前記比較手段における比較動作において、前記
パターン化手段で得られたパターンと設定したパターン
が一致しなかった場合、予め設定した特定パターンを周
辺画像形状とする第２の画像形状決定手段と、前記比較
手段における比較動作において、前記パターン化手段で
得られたパターンと予め設定したパターンの複数が一致
した場合、一致した複数の設定パターンの中、それらの
設定パターンが示す複数の補間画素の信号レベル差の小
さいパターンを選択して、周辺画像形状とする第３の画
像形状決定手段とを備えていることを特徴とするもので
ある。また、請求項13記載の発明は、請求項12記載の撮
像装置において、前記パターン化手段は、前記相対信号
レベルデータをＮ値化（Ｎは前記撮像手段による画像信
号の階調数以下の任意の数）して、画素位置と関連付け
て表すことにより、各組内の画素信号レベルをパターン
化するように構成されていることを特徴とするものであ
り、また、請求項14記載の発明は、請求項13記載の撮像
装置において、前記Ｎ値は、複数画素の信号レベルの中
の基準画素信号レベルに対して他の画素の信号レベルが
高い、低い、同じの３値とすることを特徴とするもので
あり、また、請求項15記載の発明は、請求項12記載の撮
像装置において、前記比較手段において用いられる予め
設定したパターンは、エッジ及び線の方向を決定できる
パターンであることを特徴とするものである。
載の撮像装置において、前記周辺画像形状検出手段は、
欠陥画素の周囲にある欠陥画素と同色の複数個の画素の
信号レベルをそれぞれ求める信号レベル検出手段と、該
信号レベル検出手段から得られた複数画素の信号レベル
データのうち、欠陥画素の上方に位置する複数画素に関
するものは、水平方向にまとめて一つの組とし、その組
の中のある１画素の信号レベルを基準画素信号レベルと
して該基準画素信号レベルに対する他の画素の相対信号
レベルを求める第１の相対レベル検出手段と、前記信号
レベル検出手段から得られた複数画素の信号レベルデー
タのうち、欠陥画素の下方に位置する複数画素に関する
ものは、水平方向にまとめて一つの組とし、その組の中
のある１画素の信号レベルを基準画素信号レベルとして
該基準画素信号レベルに対する他の画素の相対信号レベ
ルを求める第２の相対レベル検出手段と、前記信号レベ
ル検出手段から得られた複数画素の信号レベルデータの
うち、欠陥画素の右方に位置する複数画素に関するもの
は、垂直方向にまとめて一つの組とし、その組の中のあ
る１画素の信号レベルを基準画素信号レベルとして該基
準画素信号レベルに対する他の画素の相対信号レベルを
求める第３の相対レベル検出手段と、前記信号レベル検
出手段から得られた複数画素の信号レベルデータのう
ち、欠陥画素の左方に位置する複数画素に関するもの
は、垂直方向にまとめて一つの組とし、その組の中のあ
る１画素の信号レベルを基準画素信号レベルとして該基
準画素信号レベルに対する他の画素の相対信号レベルを
求める第４の相対レベル検出手段と、前記第１から第４
の相対レベル検出手段で求められた相対信号レベルデー
タを、画素位置と関連付けて表すことにより、各組内の
画素信号レベルをパターン化するパターン化手段と、該
パターン化手段により得られたパターンを、予め設定し
たパターンと比較する比較手段と、該比較手段における
比較動作において、前記パターン化手段で得られたパタ
ーンと設定したパターンが一致した場合、その一致した
設定パターンを周辺画像形状とする第１の画像形状決定
手段と、前記比較手段における比較動作において、前記
パターン化手段で得られたパターンと設定したパターン
が一致しなかった場合、予め設定した特定パターンを周
辺画像形状とする第２の画像形状決定手段と、前記比較
手段における比較動作において、前記パターン化手段で
得られたパターンと予め設定したパターンの複数が一致
した場合、一致した複数の設定パターンの中、それらの
設定パターンが示す複数の補間画素の信号レベル差の小
さいパターンを選択して、周辺画像形状とする第３の画
像形状決定手段とを備えていることを特徴とするもので
ある。また、請求項13記載の発明は、請求項12記載の撮
像装置において、前記パターン化手段は、前記相対信号
レベルデータをＮ値化（Ｎは前記撮像手段による画像信
号の階調数以下の任意の数）して、画素位置と関連付け
て表すことにより、各組内の画素信号レベルをパターン
化するように構成されていることを特徴とするものであ
り、また、請求項14記載の発明は、請求項13記載の撮像
装置において、前記Ｎ値は、複数画素の信号レベルの中
の基準画素信号レベルに対して他の画素の信号レベルが
高い、低い、同じの３値とすることを特徴とするもので
あり、また、請求項15記載の発明は、請求項12記載の撮
像装置において、前記比較手段において用いられる予め
設定したパターンは、エッジ及び線の方向を決定できる
パターンであることを特徴とするものである。
【００２０】このように、欠陥画素を囲む上下左右の４
方向にそれぞれ位置する画素群の相対信号レベルを画素
位置と関連付けてパターン化し、予め設定したパターン
と比較して欠陥画素周辺領域の画像形状を求めるように
しているので、カラー画像においても高精度で画像形状
を検出し精度よく欠陥画素を補償することが可能とな
る。
方向にそれぞれ位置する画素群の相対信号レベルを画素
位置と関連付けてパターン化し、予め設定したパターン
と比較して欠陥画素周辺領域の画像形状を求めるように
しているので、カラー画像においても高精度で画像形状
を検出し精度よく欠陥画素を補償することが可能とな
る。
【００２１】請求項16記載の発明は、請求項10記載の撮
像装置において、前記周辺画像形状検出手段は、欠陥画
素の周囲にある同色の複数個の画素を基準画素とし、該
基準画素の信号レベルを求める基準画素信号レベル検出
手段と、前記基準画素を前記欠陥画素に重ならないよう
に、それぞれ水平方向に一様にずらした位置にあり且つ
全てが同色の、第１の複数画素の信号レベルを検出する
第１の信号レベル検出手段と、前記基準画素を前記欠陥
画素に重ならないように、それぞれ垂直方向に一様にず
らした位置にあり且つ全てが同色の、第２の複数画素の
信号レベルを検出する第２の信号レベル検出手段と、前
記基準画素を前記欠陥画素に重ならないように、それぞ
れ右上がり方向に一様にずらした位置にあり且つ全てが
同色の、第３の複数画素の信号レベルを検出する第３の
信号レベル検出手段と、前記基準画素を前記欠陥画素に
重ならないように、それぞれ右上がり方向に一様にずら
した位置にあり且つ全てが同色の、第４の複数画素の信
号レベルを検出する第４の信号レベル検出手段と、前記
基準画素において、同一垂直ライン上の画素の信号レベ
ルの和を垂直ライン毎に求める手段と、前記第１の複数
画素において、同一垂直ラインにある画素の信号レベル
の和を垂直ライン毎に求める手段と、前記第２の複数画
素において、同一垂直ラインにある画素の信号レベルの
和を垂直ライン毎に求める手段と、前記第３の複数画素
において、同一垂直ラインにある画素の信号レベルの和
を垂直ライン毎に求める手段と、前記第４の複数画素に
おいて、同一垂直ラインにある画素の信号レベルの和を
垂直ライン毎に求める手段と、前記基準画素において、
所定の垂直ライン上の画素の信号レベル和に対する他の
全ての垂直ライン上の画素の信号レベル和の比を求める
手段と、前記第１の複数画素において、所定の垂直ライ
ン上の画素の信号レベル和に対する他の全ての垂直ライ
ン上の画素の信号レベル和の比を求める手段と、前記第
２の複数画素において、所定の垂直ライン上の画素の信
号レベル和に対する他の全ての垂直ライン上の画素の信
号レベル和の比を求める手段と、前記第３の複数画素に
おいて、所定の垂直ライン上の画素の信号レベル和に対
する他の全ての垂直ライン上の画素の信号レベル和の比
を求める手段と、前記第４の複数画素において、所定の
垂直ライン上の画素の信号レベル和に対する他の全ての
垂直ライン上の画素の信号レベル和の比を求める手段
と、前記基準画素の信号レベル和の比と、第１，第２，
第３及び第４の各信号レベル和の比を比較し、基準画素
の信号レベル和の比に最も近い値の信号レベル和の比を
選択する手段と、該選択手段により第１の複数画素の信
号レベル和の比が選択された場合、周辺領域画像形状は
水平方向のエッジ又は線と判断し、第２の複数画素の信
号レベル和の比が選択された場合、周辺領域画像形状は
垂直方向のエッジ又は線と判断し、第３の複数画素の信
号レベル和の比が選択された場合、周辺領域画像形状は
右上がり方向のエッジ又は線と判断し、第４の複数画素
の信号レベル和の比が選択された場合、周辺領域画像形
状は右下がり方向のエッジ又は線と判断する手段とを備
えていることを特徴とするものである。
像装置において、前記周辺画像形状検出手段は、欠陥画
素の周囲にある同色の複数個の画素を基準画素とし、該
基準画素の信号レベルを求める基準画素信号レベル検出
手段と、前記基準画素を前記欠陥画素に重ならないよう
に、それぞれ水平方向に一様にずらした位置にあり且つ
全てが同色の、第１の複数画素の信号レベルを検出する
第１の信号レベル検出手段と、前記基準画素を前記欠陥
画素に重ならないように、それぞれ垂直方向に一様にず
らした位置にあり且つ全てが同色の、第２の複数画素の
信号レベルを検出する第２の信号レベル検出手段と、前
記基準画素を前記欠陥画素に重ならないように、それぞ
れ右上がり方向に一様にずらした位置にあり且つ全てが
同色の、第３の複数画素の信号レベルを検出する第３の
信号レベル検出手段と、前記基準画素を前記欠陥画素に
重ならないように、それぞれ右上がり方向に一様にずら
した位置にあり且つ全てが同色の、第４の複数画素の信
号レベルを検出する第４の信号レベル検出手段と、前記
基準画素において、同一垂直ライン上の画素の信号レベ
ルの和を垂直ライン毎に求める手段と、前記第１の複数
画素において、同一垂直ラインにある画素の信号レベル
の和を垂直ライン毎に求める手段と、前記第２の複数画
素において、同一垂直ラインにある画素の信号レベルの
和を垂直ライン毎に求める手段と、前記第３の複数画素
において、同一垂直ラインにある画素の信号レベルの和
を垂直ライン毎に求める手段と、前記第４の複数画素に
おいて、同一垂直ラインにある画素の信号レベルの和を
垂直ライン毎に求める手段と、前記基準画素において、
所定の垂直ライン上の画素の信号レベル和に対する他の
全ての垂直ライン上の画素の信号レベル和の比を求める
手段と、前記第１の複数画素において、所定の垂直ライ
ン上の画素の信号レベル和に対する他の全ての垂直ライ
ン上の画素の信号レベル和の比を求める手段と、前記第
２の複数画素において、所定の垂直ライン上の画素の信
号レベル和に対する他の全ての垂直ライン上の画素の信
号レベル和の比を求める手段と、前記第３の複数画素に
おいて、所定の垂直ライン上の画素の信号レベル和に対
する他の全ての垂直ライン上の画素の信号レベル和の比
を求める手段と、前記第４の複数画素において、所定の
垂直ライン上の画素の信号レベル和に対する他の全ての
垂直ライン上の画素の信号レベル和の比を求める手段
と、前記基準画素の信号レベル和の比と、第１，第２，
第３及び第４の各信号レベル和の比を比較し、基準画素
の信号レベル和の比に最も近い値の信号レベル和の比を
選択する手段と、該選択手段により第１の複数画素の信
号レベル和の比が選択された場合、周辺領域画像形状は
水平方向のエッジ又は線と判断し、第２の複数画素の信
号レベル和の比が選択された場合、周辺領域画像形状は
垂直方向のエッジ又は線と判断し、第３の複数画素の信
号レベル和の比が選択された場合、周辺領域画像形状は
右上がり方向のエッジ又は線と判断し、第４の複数画素
の信号レベル和の比が選択された場合、周辺領域画像形
状は右下がり方向のエッジ又は線と判断する手段とを備
えていることを特徴とするものである。
【００２２】このように構成することにより、異なる色
の画素でも相対的な明るさの変化（すなわちレベル比）
の相関が強いことが多いので、該画素の水平、垂直、右
上がり及び右下がり方向にずらした位置の全てが同色の
画素を用いて欠陥画素の周辺領域の画像形状を検出する
ことにより、形状検出のための領域を大きくせずに、高
精度でカラー画像における欠陥画素周辺領域の画像形状
を検出することができ、斜め方向の周辺領域の画像形状
も方向を含めて容易に検出することができる。
の画素でも相対的な明るさの変化（すなわちレベル比）
の相関が強いことが多いので、該画素の水平、垂直、右
上がり及び右下がり方向にずらした位置の全てが同色の
画素を用いて欠陥画素の周辺領域の画像形状を検出する
ことにより、形状検出のための領域を大きくせずに、高
精度でカラー画像における欠陥画素周辺領域の画像形状
を検出することができ、斜め方向の周辺領域の画像形状
も方向を含めて容易に検出することができる。
【００２３】請求項17記載の発明は、請求項10記載の撮
像装置において、前記周辺画像形状検出手段は、前記請
求項12記載の周辺画像形状検出手段からなる第１の周辺
画像形状検出手段と、前記請求項16記載の周辺画像形状
検出手段からなる第２の周辺画像形状検出手段とを備
え、前記第１の周辺画像形状検出手段により斜め線形状
が検出された場合にのみ、第２の周辺画像形状検出手段
による周辺画像形状検出を行うように構成されているこ
とを特徴とするものであり、このように構成することに
より、カラー画像の欠陥画素位置の周辺領域における斜
め方向の画像形状の有無に拘わらず、効率よく画像形状
の検出を行うことができる。
像装置において、前記周辺画像形状検出手段は、前記請
求項12記載の周辺画像形状検出手段からなる第１の周辺
画像形状検出手段と、前記請求項16記載の周辺画像形状
検出手段からなる第２の周辺画像形状検出手段とを備
え、前記第１の周辺画像形状検出手段により斜め線形状
が検出された場合にのみ、第２の周辺画像形状検出手段
による周辺画像形状検出を行うように構成されているこ
とを特徴とするものであり、このように構成することに
より、カラー画像の欠陥画素位置の周辺領域における斜
め方向の画像形状の有無に拘わらず、効率よく画像形状
の検出を行うことができる。
【００２４】請求項18記載の発明は、請求項10〜17のい
ずれか１項に記載の撮像装置において、前記画素欠陥補
償手段は、複数の欠陥画素と同色の選択画素の平均値で
欠陥画素を補間するように構成されていることを特徴と
するものであり、このように構成することにより、仮に
欠陥画素位置の周辺領域の画素形状の方向を間違って検
出した場合でも、カラー画像における欠陥画素と周辺画
素とがなだらかな変化となるため、カラー画像における
欠陥画素を目立たないように補償することができる。
ずれか１項に記載の撮像装置において、前記画素欠陥補
償手段は、複数の欠陥画素と同色の選択画素の平均値で
欠陥画素を補間するように構成されていることを特徴と
するものであり、このように構成することにより、仮に
欠陥画素位置の周辺領域の画素形状の方向を間違って検
出した場合でも、カラー画像における欠陥画素と周辺画
素とがなだらかな変化となるため、カラー画像における
欠陥画素を目立たないように補償することができる。
【００２５】請求項19記載の発明は、請求項１〜18のい
ずれか１項に記載の撮像装置において、前記画素欠陥補
償手段により欠陥画素の補償を行った撮像信号を圧縮し
記録媒体に記録する手段を備えていることを特徴とする
ものである。このように構成することにより、撮像信号
は欠陥を補償した後に圧縮して記録媒体に記録されるの
で、撮影画像の圧縮記録時に欠陥の影響が現れないよう
にすることができる。
ずれか１項に記載の撮像装置において、前記画素欠陥補
償手段により欠陥画素の補償を行った撮像信号を圧縮し
記録媒体に記録する手段を備えていることを特徴とする
ものである。このように構成することにより、撮像信号
は欠陥を補償した後に圧縮して記録媒体に記録されるの
で、撮影画像の圧縮記録時に欠陥の影響が現れないよう
にすることができる。
【００２６】請求項20記載の発明は、半導体撮像素子の
欠陥画素を該欠陥画素の周囲の画素で補間する予備欠陥
補償手段と、該予備欠陥補償手段で欠陥画素補償を行っ
た画像信号を圧縮し記録媒体に記録する手段と、該記録
媒体から読み出した画像信号を伸長し、前記請求項１〜
19のいずれか１項に記載の画素欠陥補償手段により画素
欠陥補償を行って再生する手段とを設けて撮像装置を構
成するものである。このように構成した撮像装置におい
て、記録時に処理速度の速い予備欠陥補償手段で精度は
高くない欠陥補償を行い、再生時に高精度の欠陥補償を
行うことにより、撮影画像の記録時の時間を短縮すると
共に、欠陥画素の補償を高精度で行った出力画像を得る
ことができる。
欠陥画素を該欠陥画素の周囲の画素で補間する予備欠陥
補償手段と、該予備欠陥補償手段で欠陥画素補償を行っ
た画像信号を圧縮し記録媒体に記録する手段と、該記録
媒体から読み出した画像信号を伸長し、前記請求項１〜
19のいずれか１項に記載の画素欠陥補償手段により画素
欠陥補償を行って再生する手段とを設けて撮像装置を構
成するものである。このように構成した撮像装置におい
て、記録時に処理速度の速い予備欠陥補償手段で精度は
高くない欠陥補償を行い、再生時に高精度の欠陥補償を
行うことにより、撮影画像の記録時の時間を短縮すると
共に、欠陥画素の補償を高精度で行った出力画像を得る
ことができる。
【００２７】
【発明の実施の形態】次に、実施の形態について説明す
る。図１は本発明に係る撮像装置の実施の形態の全体構
成を示すプロック構成図である。図１において、１はレ
ンズで、該レンズ１で結像された光学像は、絞り・シャ
ッタ機構２を通り、光学ＬＰＦ及び赤外カットフィルタ
３を介して、２次元状に画素を配列してなるＣＣＤ撮像
素子４へ入力される。撮像素子４で光電変換された撮像
信号は、ＣＤＳ回路（相関二重サンプリング回路）・Ａ
ＧＣ回路５でノイズキャンセル及び感度調整処理を受け
た後、Ａ／Ｄ変換器６でＡ／Ｄ変換されて、画像メモリ
７へ一時的に記憶される。
る。図１は本発明に係る撮像装置の実施の形態の全体構
成を示すプロック構成図である。図１において、１はレ
ンズで、該レンズ１で結像された光学像は、絞り・シャ
ッタ機構２を通り、光学ＬＰＦ及び赤外カットフィルタ
３を介して、２次元状に画素を配列してなるＣＣＤ撮像
素子４へ入力される。撮像素子４で光電変換された撮像
信号は、ＣＤＳ回路（相関二重サンプリング回路）・Ａ
ＧＣ回路５でノイズキャンセル及び感度調整処理を受け
た後、Ａ／Ｄ変換器６でＡ／Ｄ変換されて、画像メモリ
７へ一時的に記憶される。
【００２８】８は画素欠陥補償処理部で、一時的記憶さ
れた撮像信号（画像データ）を画像メモリ７から読み出
して、欠陥に相当する画素の位置、数及び欠陥画素が２
次元的に連続している場合、その並び方パターンを検出
して、それらの欠陥情報を欠陥情報記憶手段12へ記憶さ
せる。また、この画素欠陥補償処理部８では、欠陥情報
記憶手段12より欠陥情報を読み出し、その欠陥情報に基
づいて欠陥画素の周辺領域の画像形状を検出し、その検
出された画像形状に基づいて、欠陥画素の周囲から画素
を選択し、その選択画素で欠陥画素を補間し、画素欠陥
補償処理を行うようになっている。画像メモリ７内に一
時的に記憶されている撮像信号が、前記画素欠陥補償処
理部８における処理により、欠陥が全て補償された後、
記録信号処理部９において、圧縮などの処理が施されて
記録に適した信号形態へ変換される。記録信号処理部９
で処理された画像データは、記録メディアＩ／Ｆ10にお
いて記録メディアに適した信号レベル、レートに変換さ
れ、ＳＲＡＭ、フラッシュメモリ、磁気メモリ等の記録
メディア11に記録されるようになっている。
れた撮像信号（画像データ）を画像メモリ７から読み出
して、欠陥に相当する画素の位置、数及び欠陥画素が２
次元的に連続している場合、その並び方パターンを検出
して、それらの欠陥情報を欠陥情報記憶手段12へ記憶さ
せる。また、この画素欠陥補償処理部８では、欠陥情報
記憶手段12より欠陥情報を読み出し、その欠陥情報に基
づいて欠陥画素の周辺領域の画像形状を検出し、その検
出された画像形状に基づいて、欠陥画素の周囲から画素
を選択し、その選択画素で欠陥画素を補間し、画素欠陥
補償処理を行うようになっている。画像メモリ７内に一
時的に記憶されている撮像信号が、前記画素欠陥補償処
理部８における処理により、欠陥が全て補償された後、
記録信号処理部９において、圧縮などの処理が施されて
記録に適した信号形態へ変換される。記録信号処理部９
で処理された画像データは、記録メディアＩ／Ｆ10にお
いて記録メディアに適した信号レベル、レートに変換さ
れ、ＳＲＡＭ、フラッシュメモリ、磁気メモリ等の記録
メディア11に記録されるようになっている。
【００２９】また、図１において13はＣＣＤ撮像素子４
の駆動タイミングを生成するタイミングジェネレータ、
14はタイミングジェネレータ13へ同期信号を供給するた
めの同期信号発生器、16はＣＣＤ撮像素子の駆動信号を
電力増幅するＣＣＤドライバであり、17はレンズ１のピ
ント合わせ及びズーミング、並びに絞り・シャッタ機構
２の絞り駆動及びシャッタ駆動のためのモータドライバ
であり、15は以上の各部の動作の制御を行うＣＰＵであ
る。
の駆動タイミングを生成するタイミングジェネレータ、
14はタイミングジェネレータ13へ同期信号を供給するた
めの同期信号発生器、16はＣＣＤ撮像素子の駆動信号を
電力増幅するＣＣＤドライバであり、17はレンズ１のピ
ント合わせ及びズーミング、並びに絞り・シャッタ機構
２の絞り駆動及びシャッタ駆動のためのモータドライバ
であり、15は以上の各部の動作の制御を行うＣＰＵであ
る。
【００３０】次に、このように構成されている撮像装置
の動作シーケンスを説明すると、図２のタイミングチャ
ートに示すように概略動作シーケンスとしては、シャッ
タボタン（図示せず）を押すことにより撮像素子４への
電荷蓄積動作が開始し、電荷蓄積時間の開始からシャッ
タ閉までの期間が本露光となり、シャッタ閉期間におい
て信号読み出しが行われる。撮像素子４から出力される
撮像信号は、画像メモリ７へ一旦記憶される。そして画
像メモリ７に記憶された撮像信号は、画素欠陥補償処理
部８及び欠陥情報記憶手段12を介して欠陥補償処理が行
われる。次いで、欠陥補償処理された撮像信号は記録信
号処理部９で記録信号に処理された後、記録メディア11
に記録される。なお、図２において、ＶＤは同期信号発
生器14で発生している撮像素子の全ての情報を読み出す
基本パルス（垂直同期信号）を示している。
の動作シーケンスを説明すると、図２のタイミングチャ
ートに示すように概略動作シーケンスとしては、シャッ
タボタン（図示せず）を押すことにより撮像素子４への
電荷蓄積動作が開始し、電荷蓄積時間の開始からシャッ
タ閉までの期間が本露光となり、シャッタ閉期間におい
て信号読み出しが行われる。撮像素子４から出力される
撮像信号は、画像メモリ７へ一旦記憶される。そして画
像メモリ７に記憶された撮像信号は、画素欠陥補償処理
部８及び欠陥情報記憶手段12を介して欠陥補償処理が行
われる。次いで、欠陥補償処理された撮像信号は記録信
号処理部９で記録信号に処理された後、記録メディア11
に記録される。なお、図２において、ＶＤは同期信号発
生器14で発生している撮像素子の全ての情報を読み出す
基本パルス（垂直同期信号）を示している。
【００３１】次に、画素欠陥補償処理部８と欠陥情報記
憶手段12において行われる欠陥画素の補償処理について
詳細に説明する。まず、画素欠陥補償処理部８で行われ
る欠陥画素の検出処理について説明する。この検出処理
には、暗黒画像を撮影して黒画像撮像時における欠陥画
素の位置と欠陥画素の並び方を検出する第１の欠陥検出
処理と、真っ白な画像を撮影して白画像撮像時における
欠陥画素と欠陥画素の並び方を検出する第２の欠陥検出
処理とを行う。すなわち、第１の欠陥検出処理において
は、図３の（Ａ）のフローチャートに示すように、暗黒
画像を撮像し（ステップ21−１）、次いで１画素毎に信
号レベルを検出し（ステップ21−２）、各画素の信号レ
ベルが所定の閾値１より小さいか大きいかの判定を行い
（ステップ21−３）、閾値１より大きい場合、その画素
は欠陥画素であると判定する（ステップ21−４）。次い
で、欠陥画素が隣接、すなわち２次元的に連続している
場合にはその並び方を調べ（ステップ21−５）、欠陥画
素の位置と欠陥画素の並び方に関する欠陥情報を欠陥情
報記憶手段12へ保存する（ステップ21−６）。
憶手段12において行われる欠陥画素の補償処理について
詳細に説明する。まず、画素欠陥補償処理部８で行われ
る欠陥画素の検出処理について説明する。この検出処理
には、暗黒画像を撮影して黒画像撮像時における欠陥画
素の位置と欠陥画素の並び方を検出する第１の欠陥検出
処理と、真っ白な画像を撮影して白画像撮像時における
欠陥画素と欠陥画素の並び方を検出する第２の欠陥検出
処理とを行う。すなわち、第１の欠陥検出処理において
は、図３の（Ａ）のフローチャートに示すように、暗黒
画像を撮像し（ステップ21−１）、次いで１画素毎に信
号レベルを検出し（ステップ21−２）、各画素の信号レ
ベルが所定の閾値１より小さいか大きいかの判定を行い
（ステップ21−３）、閾値１より大きい場合、その画素
は欠陥画素であると判定する（ステップ21−４）。次い
で、欠陥画素が隣接、すなわち２次元的に連続している
場合にはその並び方を調べ（ステップ21−５）、欠陥画
素の位置と欠陥画素の並び方に関する欠陥情報を欠陥情
報記憶手段12へ保存する（ステップ21−６）。
【００３２】また、同様に第２の欠陥検出処理において
は、図３の（Ｂ）のフローチャートに示すように、白画
像を撮像し（ステップ22−１）、次いで１画素毎に信号
レベルを検出し（ステップ22−２）、各画素の信号レベ
ルが所定の閾値２より小さいか大きいかの判定を行い
（ステップ22−３）、閾値２より小さい場合、その画素
は欠陥画素であると判定する（ステップ22−４）。次い
で、欠陥画素が隣接、すなわち２次元的に連続している
場合にはその並び方を調べ（ステップ22−５）、欠陥画
素の位置と欠陥画素の並び方に関する欠陥情報を欠陥情
報記憶手段12へ保存する（ステップ22−６）。
は、図３の（Ｂ）のフローチャートに示すように、白画
像を撮像し（ステップ22−１）、次いで１画素毎に信号
レベルを検出し（ステップ22−２）、各画素の信号レベ
ルが所定の閾値２より小さいか大きいかの判定を行い
（ステップ22−３）、閾値２より小さい場合、その画素
は欠陥画素であると判定する（ステップ22−４）。次い
で、欠陥画素が隣接、すなわち２次元的に連続している
場合にはその並び方を調べ（ステップ22−５）、欠陥画
素の位置と欠陥画素の並び方に関する欠陥情報を欠陥情
報記憶手段12へ保存する（ステップ22−６）。
【００３３】なお、欠陥画素に関する欠陥情報は、撮影
の都度上記のようにして検出して欠陥情報記憶手段12へ
記憶させるようにしてもよいが、撮像装置に組み込まれ
たＣＣＤ撮像素子等の撮像素子においては、予め欠陥画
素の位置等の欠陥情報は検出しておくことができるの
で、予め検出した欠陥情報を欠陥情報記憶手段へ記憶さ
せておき、撮影時にこの欠陥情報を用いるようにしても
よい。
の都度上記のようにして検出して欠陥情報記憶手段12へ
記憶させるようにしてもよいが、撮像装置に組み込まれ
たＣＣＤ撮像素子等の撮像素子においては、予め欠陥画
素の位置等の欠陥情報は検出しておくことができるの
で、予め検出した欠陥情報を欠陥情報記憶手段へ記憶さ
せておき、撮影時にこの欠陥情報を用いるようにしても
よい。
【００３４】次に、画素欠陥補償処理の実施の形態につ
いて説明する。本発明による欠陥補償は、基本的には、
欠陥画素が周辺領域のどのような画像形状の成分に属す
るかを判定（推定）して、補間するようにするもので、
例えば図27の（Ａ）に示した例では、欠陥画素101 は周
辺領域の画像形状からみて、横方向の黒線に属するもの
である蓋然性が極めて高いので、横方向の両側の画素の
平均値で、すなわち黒レベルで補間してやるようにする
ものである。
いて説明する。本発明による欠陥補償は、基本的には、
欠陥画素が周辺領域のどのような画像形状の成分に属す
るかを判定（推定）して、補間するようにするもので、
例えば図27の（Ａ）に示した例では、欠陥画素101 は周
辺領域の画像形状からみて、横方向の黒線に属するもの
である蓋然性が極めて高いので、横方向の両側の画素の
平均値で、すなわち黒レベルで補間してやるようにする
ものである。
【００３５】この基本欠陥補償処理形態を、図４のフロ
ーチャートで説明すると、まず撮像素子の撮像動作で被
写体画像を取り込み（ステップ31−１）、次いで撮像素
子からの撮像信号における欠陥画素の位置、及び欠陥画
素が２次元的に連続している場合その並び方を検出して
記憶させ、記憶したこれらの欠陥情報を読み出して（ス
テップ31−２）、画像信号における欠陥画素周囲の画素
情報に基づいて、欠陥画素位置の周辺領域の画像形状を
検出する（ステップ31−３）。次いで検出された画像形
状に基づいて、欠陥画素は周辺領域から、例えば縦、
横、斜めのいずれかの方向の２画素を補間画素として選
択し（ステップ31−４）、その補間画素の平均レベルで
欠陥画素を補間することにより、欠陥補償を行う（ステ
ップ31−５）。
ーチャートで説明すると、まず撮像素子の撮像動作で被
写体画像を取り込み（ステップ31−１）、次いで撮像素
子からの撮像信号における欠陥画素の位置、及び欠陥画
素が２次元的に連続している場合その並び方を検出して
記憶させ、記憶したこれらの欠陥情報を読み出して（ス
テップ31−２）、画像信号における欠陥画素周囲の画素
情報に基づいて、欠陥画素位置の周辺領域の画像形状を
検出する（ステップ31−３）。次いで検出された画像形
状に基づいて、欠陥画素は周辺領域から、例えば縦、
横、斜めのいずれかの方向の２画素を補間画素として選
択し（ステップ31−４）、その補間画素の平均レベルで
欠陥画素を補間することにより、欠陥補償を行う（ステ
ップ31−５）。
【００３６】次に、この欠陥補償処理における画像形状
検出（ステップ31−３）の第１の実施の形態を、図５の
フローチャートに基づいて説明する。まず最初に、欠陥
画素の周囲にある複数個の画素の信号レベルを検出する
（ステップ32−１）。例えば、図６において、欠陥画素
（●印）35の周りの８個の画素（○印）の信号レベルを
検出する。そして、欠陥画素の上方向に位置するＵ方向
の３つの画素、下方向に位置するＤ方向の３つの画素、
右方向に位置するＲ方向の３つの画素、左方向に位置す
るＬ方向の３つの画素を、それぞれ一組とし、それらの
各組において、ある一画素を基準画素として、その基準
画素の信号レベル（輝度）に対する他の画素の相対的な
信号レベルを求める（ステップ32−２）。例えば、Ｕ，
Ｄ，Ｒ，Ｌの各方向において、相対値は矢印の始点の方
向から求めて行き、１番目の画素に対しての２番目の画
素の相対値、２番目の画素に対しての３番目の画素の相
対値という順に求める。相対値は高い、同じ、低いの３
値とし、２つの画素の信号レベルの差が±12.5％以内の
ときは同じとする。但し、この相対値はＮ値化（Ｎは撮
像素子の撮像信号の階調数以下の任意の整数）して表す
ことができる。
検出（ステップ31−３）の第１の実施の形態を、図５の
フローチャートに基づいて説明する。まず最初に、欠陥
画素の周囲にある複数個の画素の信号レベルを検出する
（ステップ32−１）。例えば、図６において、欠陥画素
（●印）35の周りの８個の画素（○印）の信号レベルを
検出する。そして、欠陥画素の上方向に位置するＵ方向
の３つの画素、下方向に位置するＤ方向の３つの画素、
右方向に位置するＲ方向の３つの画素、左方向に位置す
るＬ方向の３つの画素を、それぞれ一組とし、それらの
各組において、ある一画素を基準画素として、その基準
画素の信号レベル（輝度）に対する他の画素の相対的な
信号レベルを求める（ステップ32−２）。例えば、Ｕ，
Ｄ，Ｒ，Ｌの各方向において、相対値は矢印の始点の方
向から求めて行き、１番目の画素に対しての２番目の画
素の相対値、２番目の画素に対しての３番目の画素の相
対値という順に求める。相対値は高い、同じ、低いの３
値とし、２つの画素の信号レベルの差が±12.5％以内の
ときは同じとする。但し、この相対値はＮ値化（Ｎは撮
像素子の撮像信号の階調数以下の任意の整数）して表す
ことができる。
【００３７】このようにして求めた相対値から、各方向
における各組の相対値は、図７に示すようなパターン１
〜パターン９の９つのパターン形式に分類することがで
きる。なお、図７においてカッコ内に示すパターン形式
は、相対値を矢印の逆方向に沿って求めた場合の逆パタ
ーン形式を示している。図７において、例えばパターン
１は、１番目の画素（左端）に対して２番目の画素（中
央）の相対値が高く、２番目の画素（中央）に対して３
番目の画素（右端）の相対値が更に高い場合のパターン
を示し、パターン２は、１番目の画素に対して２番目の
画素の相対値が高く、２番目の画素に対して３番目の画
素の相対値が同じ場合のパターンを示し、パターン３
は、１番目の画素に対して２番目の画素の相対値が高
く、２番目の画素に対して３番目の画素の相対値が低い
場合のパターンを示しており、更にパターン５は、全て
の画素が同じレベルのときのパターンを示している。
における各組の相対値は、図７に示すようなパターン１
〜パターン９の９つのパターン形式に分類することがで
きる。なお、図７においてカッコ内に示すパターン形式
は、相対値を矢印の逆方向に沿って求めた場合の逆パタ
ーン形式を示している。図７において、例えばパターン
１は、１番目の画素（左端）に対して２番目の画素（中
央）の相対値が高く、２番目の画素（中央）に対して３
番目の画素（右端）の相対値が更に高い場合のパターン
を示し、パターン２は、１番目の画素に対して２番目の
画素の相対値が高く、２番目の画素に対して３番目の画
素の相対値が同じ場合のパターンを示し、パターン３
は、１番目の画素に対して２番目の画素の相対値が高
く、２番目の画素に対して３番目の画素の相対値が低い
場合のパターンを示しており、更にパターン５は、全て
の画素が同じレベルのときのパターンを示している。
【００３８】このような９つのパターン形式を用いて、
Ｕ，Ｄ，Ｒ，Ｌの４方向の画素群の相対信号レベルを、
画素位置と対応づけて表すことにより、４組のパターン
で欠陥画素の周りの８画素の相対信号レベルをパターン
化する（ステップ32−３）。次いで、このようにして得
られた周辺領域の４組の画素群の相対信号レベルのパタ
ーンを、予め設定したパターンと比較する（ステップ32
−４）。すなわち、予め考えられる全てのパターンを用
意しておいて、その用意されたパターンと、周辺領域の
画素群の相対信号レベルから得られたパターンとを比較
するもので、例えば、図８の（Ａ）に示すような横エッ
ジ形状の場合は、Ｕ又はＤ方向の画素群に必ずパターン
５のパターンが存在し、Ｒ及びＬ方向の画素群にはパタ
ーン５が存在しない。したがって、比較されるパターン
において、このような条件を有する場合は、周辺領域の
画像形状は横エッジ形状であると判定する。
Ｕ，Ｄ，Ｒ，Ｌの４方向の画素群の相対信号レベルを、
画素位置と対応づけて表すことにより、４組のパターン
で欠陥画素の周りの８画素の相対信号レベルをパターン
化する（ステップ32−３）。次いで、このようにして得
られた周辺領域の４組の画素群の相対信号レベルのパタ
ーンを、予め設定したパターンと比較する（ステップ32
−４）。すなわち、予め考えられる全てのパターンを用
意しておいて、その用意されたパターンと、周辺領域の
画素群の相対信号レベルから得られたパターンとを比較
するもので、例えば、図８の（Ａ）に示すような横エッ
ジ形状の場合は、Ｕ又はＤ方向の画素群に必ずパターン
５のパターンが存在し、Ｒ及びＬ方向の画素群にはパタ
ーン５が存在しない。したがって、比較されるパターン
において、このような条件を有する場合は、周辺領域の
画像形状は横エッジ形状であると判定する。
【００３９】また、図８の（Ｂ）に示すような縦エッジ
形状の場合は、Ｒ又はＬ方向の画素群に必ずパターン５
が存在し、Ｕ及びＤ方向の画素群にはパターン５は存在
しない。したがって、比較されるパターンにおいて、こ
のような条件を有する場合は、周辺領域の画像形状は縦
エッジ形状であると判定する。また図８の（Ｃ）に示す
ような右下がりエッジ形状の場合は、Ｕ及びＲ方向、又
はＬ及びＤ方向の画素群には必ずパターン５が存在し、
他にもパターン５が存在してもよい。したがって、比較
されるパターンにおいて、このような条件を有する場合
は、周辺領域の画像形状は右下がりエッジ形状であると
判定する。また図８の（Ｄ）に示すような右上がりエッ
ジ形状の場合は、Ｄ及びＲ方向、又はＵ及びＬ方向の画
素群には必ずパターン５が存在し、他にもパターン５が
存在してもよい。したがって、比較されるパターンにお
いて、このような条件を有する場合は、周辺領域の画像
形状は右上がりエッジ形状であると判定する。
形状の場合は、Ｒ又はＬ方向の画素群に必ずパターン５
が存在し、Ｕ及びＤ方向の画素群にはパターン５は存在
しない。したがって、比較されるパターンにおいて、こ
のような条件を有する場合は、周辺領域の画像形状は縦
エッジ形状であると判定する。また図８の（Ｃ）に示す
ような右下がりエッジ形状の場合は、Ｕ及びＲ方向、又
はＬ及びＤ方向の画素群には必ずパターン５が存在し、
他にもパターン５が存在してもよい。したがって、比較
されるパターンにおいて、このような条件を有する場合
は、周辺領域の画像形状は右下がりエッジ形状であると
判定する。また図８の（Ｄ）に示すような右上がりエッ
ジ形状の場合は、Ｄ及びＲ方向、又はＵ及びＬ方向の画
素群には必ずパターン５が存在し、他にもパターン５が
存在してもよい。したがって、比較されるパターンにお
いて、このような条件を有する場合は、周辺領域の画像
形状は右上がりエッジ形状であると判定する。
【００４０】このようにして、周辺領域の画素群の相対
信号レベルのパターンを予め用意されているパターンと
比較して、一致するものがあるか否かの判定を行い（ス
テップ32−５）、一致するものがある場合には、その一
致した予め用意されたパターンに対応する形状を、周辺
領域の画像形状と決定する（ステップ32−６）。もし予
め用意された複数のパターンと一致した場合は、例えば
図８の（Ｅ）に示すような形状の２つのパターンは、９
つのパターン形式の同じ組み合わせに、いずれも一致す
るものとして検出されてしまうので、このような場合に
は、それらの２つのパターンにおいて、補間画素として
選択される画素間のレベル差が小さくなる方のパターン
を、周辺領域の画像形状として選択する（ステップ32−
７）。図８の（Ｅ）のパターンの場合は、縦横線と判定
されているので、欠陥画素の上下の画素信号レベルの差
が左右の画素信号レベルの差より大なるときは、横線も
しくは横エッジと判定する。また逆に、上下の画素信号
レベルの差が左右の画素信号レベルの差より小なるとき
は、縦線もしくは縦エッジと判定する。
信号レベルのパターンを予め用意されているパターンと
比較して、一致するものがあるか否かの判定を行い（ス
テップ32−５）、一致するものがある場合には、その一
致した予め用意されたパターンに対応する形状を、周辺
領域の画像形状と決定する（ステップ32−６）。もし予
め用意された複数のパターンと一致した場合は、例えば
図８の（Ｅ）に示すような形状の２つのパターンは、９
つのパターン形式の同じ組み合わせに、いずれも一致す
るものとして検出されてしまうので、このような場合に
は、それらの２つのパターンにおいて、補間画素として
選択される画素間のレベル差が小さくなる方のパターン
を、周辺領域の画像形状として選択する（ステップ32−
７）。図８の（Ｅ）のパターンの場合は、縦横線と判定
されているので、欠陥画素の上下の画素信号レベルの差
が左右の画素信号レベルの差より大なるときは、横線も
しくは横エッジと判定する。また逆に、上下の画素信号
レベルの差が左右の画素信号レベルの差より小なるとき
は、縦線もしくは縦エッジと判定する。
【００４１】また、一致するパターンがない場合には、
予め用意してある、例えば図８の（Ｆ）に示す十字パタ
ーンをデフォルトパターンとして、これを周辺領域の画
像形状とする（ステップ32−８）。
予め用意してある、例えば図８の（Ｆ）に示す十字パタ
ーンをデフォルトパターンとして、これを周辺領域の画
像形状とする（ステップ32−８）。
【００４２】ところで、上記周辺領域の画像形状の検出
処理方式において、例えば、図９に示すような画像形状
が検出された場合、欠陥画素を補間すべき補間画素とし
て、右下がり画素（白）及び右上がり画素（黒）のいず
れを選択すべきかは、一義的には定められないという問
題点がある。
処理方式において、例えば、図９に示すような画像形状
が検出された場合、欠陥画素を補間すべき補間画素とし
て、右下がり画素（白）及び右上がり画素（黒）のいず
れを選択すべきかは、一義的には定められないという問
題点がある。
【００４３】次に、このような問題点を解消する画像形
状検出方式の第２の実施の形態を、図10のフローチャー
トに基づいて説明する。まず、欠陥画素の周囲にある複
数個の画素の信号レベルを求め、それらを基準画素信号
レベルとする（ステップ33−１）。例えば、図11の
（Ａ）に示すように、太枠で示す欠陥画素をＰ33とする
と、この欠陥画素から１画素ずつ離れた周囲にある８個
の画素Ｐ11，Ｐ13，Ｐ15，Ｐ31，Ｐ35，Ｐ51，Ｐ53，Ｐ
55を基準画素とし、これらの信号レベルＰ11，Ｐ13，・
・・・Ｐ53，Ｐ55を求める。
状検出方式の第２の実施の形態を、図10のフローチャー
トに基づいて説明する。まず、欠陥画素の周囲にある複
数個の画素の信号レベルを求め、それらを基準画素信号
レベルとする（ステップ33−１）。例えば、図11の
（Ａ）に示すように、太枠で示す欠陥画素をＰ33とする
と、この欠陥画素から１画素ずつ離れた周囲にある８個
の画素Ｐ11，Ｐ13，Ｐ15，Ｐ31，Ｐ35，Ｐ51，Ｐ53，Ｐ
55を基準画素とし、これらの信号レベルＰ11，Ｐ13，・
・・・Ｐ53，Ｐ55を求める。
【００４４】次に、上記基準画素を、欠陥画素Ｐ33に重
ならないように、それぞれ水平方向に一様にずらした位
置にある第１の複数画素、例えば図11の（Ｂ）に示す例
においては、画素Ｐ12，Ｐ14，Ｐ16，Ｐ32，Ｐ36，
Ｐ52，Ｐ54，Ｐ56の信号レベルＰ12，Ｐ14，・・・・Ｐ
54，Ｐ56を求める（ステップ33−２）。次に、同様にし
て上記基準画素を、欠陥画素Ｐ33に重ならないように、
それぞれ垂直方向に一様にずらした位置にある第２の複
数画素、例えば図11の（Ｃ）に示す例においては、画素
Ｐ21，Ｐ23，Ｐ25，Ｐ41，Ｐ45，Ｐ61，Ｐ63，Ｐ65の信
号レベルＰ21，Ｐ23，・・・・Ｐ63，Ｐ65を求める（ス
テップ33−３）。また、同様にして上記基準画素を、欠
陥画素Ｐ33に重ならないように、それぞれ右上がり方向
に一様にずらした位置にある第３の複数画素、例えば図
11の（Ｄ）に示す例においては、画素Ｐ02，Ｐ04，
Ｐ06，Ｐ22，Ｐ26，Ｐ42，Ｐ44，Ｐ46の信号レベルＰ0
2，Ｐ04，・・・・Ｐ44，Ｐ46を求める（ステップ33−
４）。更に同様にして上記基準画素を、欠陥画素Ｐ33に
重ならないように、それぞれ右下がり方向に一様にずら
した位置にある第４の複数画素、例えば図11の（Ｅ）に
示す例においては、画素Ｐ22，Ｐ24，Ｐ26，Ｐ42，
Ｐ46，Ｐ62，Ｐ64，Ｐ66の信号レベルＰ22，Ｐ24，・・
・・Ｐ64，Ｐ66を求める（ステップ33−５）。
ならないように、それぞれ水平方向に一様にずらした位
置にある第１の複数画素、例えば図11の（Ｂ）に示す例
においては、画素Ｐ12，Ｐ14，Ｐ16，Ｐ32，Ｐ36，
Ｐ52，Ｐ54，Ｐ56の信号レベルＰ12，Ｐ14，・・・・Ｐ
54，Ｐ56を求める（ステップ33−２）。次に、同様にし
て上記基準画素を、欠陥画素Ｐ33に重ならないように、
それぞれ垂直方向に一様にずらした位置にある第２の複
数画素、例えば図11の（Ｃ）に示す例においては、画素
Ｐ21，Ｐ23，Ｐ25，Ｐ41，Ｐ45，Ｐ61，Ｐ63，Ｐ65の信
号レベルＰ21，Ｐ23，・・・・Ｐ63，Ｐ65を求める（ス
テップ33−３）。また、同様にして上記基準画素を、欠
陥画素Ｐ33に重ならないように、それぞれ右上がり方向
に一様にずらした位置にある第３の複数画素、例えば図
11の（Ｄ）に示す例においては、画素Ｐ02，Ｐ04，
Ｐ06，Ｐ22，Ｐ26，Ｐ42，Ｐ44，Ｐ46の信号レベルＰ0
2，Ｐ04，・・・・Ｐ44，Ｐ46を求める（ステップ33−
４）。更に同様にして上記基準画素を、欠陥画素Ｐ33に
重ならないように、それぞれ右下がり方向に一様にずら
した位置にある第４の複数画素、例えば図11の（Ｅ）に
示す例においては、画素Ｐ22，Ｐ24，Ｐ26，Ｐ42，
Ｐ46，Ｐ62，Ｐ64，Ｐ66の信号レベルＰ22，Ｐ24，・・
・・Ｐ64，Ｐ66を求める（ステップ33−５）。
【００４５】次に、基準画素において、同一垂直ライン
上の画素群の信号レベルの和α0 ，β0 ，γ0 を求める
（ステップ33−６）。図11の（Ａ）に示した例において
は、次のように表される。 α0 ＝Ｐ11＋Ｐ31＋Ｐ51 β0 ＝Ｐ13＋Ｐ53 γ0 ＝Ｐ15＋Ｐ35＋Ｐ55
上の画素群の信号レベルの和α0 ，β0 ，γ0 を求める
（ステップ33−６）。図11の（Ａ）に示した例において
は、次のように表される。 α0 ＝Ｐ11＋Ｐ31＋Ｐ51 β0 ＝Ｐ13＋Ｐ53 γ0 ＝Ｐ15＋Ｐ35＋Ｐ55
【００４６】また、第１の複数画素において、同一垂直
ライン上の画素群の信号レベルの和α1 ，β1 ，γ1 を
求める（ステップ33−６）。図11の（Ｂ）に示した例に
おいては、次のように表される。 α1 ＝Ｐ12＋Ｐ32＋Ｐ52 β1 ＝Ｐ14＋Ｐ54 γ1 ＝Ｐ16＋Ｐ36＋Ｐ56
ライン上の画素群の信号レベルの和α1 ，β1 ，γ1 を
求める（ステップ33−６）。図11の（Ｂ）に示した例に
おいては、次のように表される。 α1 ＝Ｐ12＋Ｐ32＋Ｐ52 β1 ＝Ｐ14＋Ｐ54 γ1 ＝Ｐ16＋Ｐ36＋Ｐ56
【００４７】また、第２の複数画素において、同一垂直
ライン上の画素群の信号レベルの和α2 ，β2 ，γ2 を
求める（ステップ33−６）。図11の（Ｃ）に示した例に
おいては、次のように表される。 α2 ＝Ｐ21＋Ｐ41＋Ｐ61 β2 ＝Ｐ23＋Ｐ63 γ2 ＝Ｐ25＋Ｐ45＋Ｐ65 また、第３の複数画素において、同一垂直ライン上の画
素群の信号レベルの和α3 ，β3 ，γ3 を求める（ステ
ップ33−６）。図11の（Ｄ）に示した例においては、次
のように表される。 α3 ＝Ｐ02＋Ｐ22＋Ｐ42 β3 ＝Ｐ04＋Ｐ44 γ3 ＝Ｐ06＋Ｐ26＋Ｐ46
ライン上の画素群の信号レベルの和α2 ，β2 ，γ2 を
求める（ステップ33−６）。図11の（Ｃ）に示した例に
おいては、次のように表される。 α2 ＝Ｐ21＋Ｐ41＋Ｐ61 β2 ＝Ｐ23＋Ｐ63 γ2 ＝Ｐ25＋Ｐ45＋Ｐ65 また、第３の複数画素において、同一垂直ライン上の画
素群の信号レベルの和α3 ，β3 ，γ3 を求める（ステ
ップ33−６）。図11の（Ｄ）に示した例においては、次
のように表される。 α3 ＝Ｐ02＋Ｐ22＋Ｐ42 β3 ＝Ｐ04＋Ｐ44 γ3 ＝Ｐ06＋Ｐ26＋Ｐ46
【００４８】また、第４の複数画素において、同一垂直
ライン上の画素群の信号レベルの和α4 ，β4 ，γ4 を
求める（ステップ33−６）。図11の（Ｃ）に示した例に
おいては、次のように表される。 α4 ＝Ｐ22＋Ｐ42＋Ｐ62 β4 ＝Ｐ24＋Ｐ64 γ4 ＝Ｐ26＋Ｐ46＋Ｐ66
ライン上の画素群の信号レベルの和α4 ，β4 ，γ4 を
求める（ステップ33−６）。図11の（Ｃ）に示した例に
おいては、次のように表される。 α4 ＝Ｐ22＋Ｐ42＋Ｐ62 β4 ＝Ｐ24＋Ｐ64 γ4 ＝Ｐ26＋Ｐ46＋Ｐ66
【００４９】次に、基準画素における、所定の垂直ライ
ン上の画素群の信号レベル和、例えばα0 に対する他の
全ての垂直ライン上の画素群の信号レベル和β0 ，γ0
の比α0 ／β0 ，α0 ／γ0 を求める。同様に、第１の
複数画素における、所定の垂直ライン上の画素群の信号
レベル和、例えばα1 に対する他の全ての垂直ライン上
の画素群の信号レベル和β1 ，γ1 の比α1 ／β1 ，α
1 ／γ1 を求め、また第２の複数画素における、所定の
垂直ライン上の画素群の信号レベル和、例えばα2 に対
する他の全ての垂直ライン上の画素群の信号レベル和β
2 ，γ2 の比α2 ／β2 ，α2 ／γ2 を求め、また第３
の複数画素における、所定の垂直ライン上の画素群の信
号レベル和、例えばα3 に対する他の全ての垂直ライン
上の画素群の信号レベル和β3 ，γ3 の比α3 ／β3 ，
α3 ／γ3 を求め、更に第４の複数画素における、所定
の垂直ライン上の画素群の信号レベル和、例えばα4 に
対する他の全ての垂直ライン上の画素群の信号レベル和
β4 ，γ4 の比α4 ／β4，α4 ／γ4 を求める（ステ
ップ33−７）。
ン上の画素群の信号レベル和、例えばα0 に対する他の
全ての垂直ライン上の画素群の信号レベル和β0 ，γ0
の比α0 ／β0 ，α0 ／γ0 を求める。同様に、第１の
複数画素における、所定の垂直ライン上の画素群の信号
レベル和、例えばα1 に対する他の全ての垂直ライン上
の画素群の信号レベル和β1 ，γ1 の比α1 ／β1 ，α
1 ／γ1 を求め、また第２の複数画素における、所定の
垂直ライン上の画素群の信号レベル和、例えばα2 に対
する他の全ての垂直ライン上の画素群の信号レベル和β
2 ，γ2 の比α2 ／β2 ，α2 ／γ2 を求め、また第３
の複数画素における、所定の垂直ライン上の画素群の信
号レベル和、例えばα3 に対する他の全ての垂直ライン
上の画素群の信号レベル和β3 ，γ3 の比α3 ／β3 ，
α3 ／γ3 を求め、更に第４の複数画素における、所定
の垂直ライン上の画素群の信号レベル和、例えばα4 に
対する他の全ての垂直ライン上の画素群の信号レベル和
β4 ，γ4 の比α4 ／β4，α4 ／γ4 を求める（ステ
ップ33−７）。
【００５０】次に、基準画素の信号レベル和の比α0 ／
β0 ，α0 ／γ0 と、第１〜第４の複数画素の信号レベ
ル和の比α1 ／β1 ，α1 ／γ1 ，α2 ／β2 ，α2 ／
γ2，α3 ／β3 ，α3 ／γ3 α4 ／β4 ，α4 ／γ4
とを比較し、基準画素の信号レベル和の比に最も近い値
の信号レベル和の比を選択する（ステップ33−８）。そ
して、上記信号レベル和の比の比較選択において、第１
の複数画素に関する信号レベル和の比が選択された場合
には、欠陥画素の周辺領域における画像形状を水平方向
のエッジ又は線と決定し、また第２の複数画素に関する
信号レベル和の比が選択された場合には、欠陥画素の周
辺領域における画像形状を垂直方向のエッジ又は線と決
定し、また第３の複数画素に関する信号レベル和の比が
選択された場合には、欠陥画素の周辺領域における画像
形状を右上がり方向のエッジ又は線と決定し、また第４
の複数画素に関する信号レベル和の比が選択された場合
には、欠陥画素の周辺領域における画像形状を右下がり
方向のエッジ又は線と決定する（ステップ33−９）。
β0 ，α0 ／γ0 と、第１〜第４の複数画素の信号レベ
ル和の比α1 ／β1 ，α1 ／γ1 ，α2 ／β2 ，α2 ／
γ2，α3 ／β3 ，α3 ／γ3 α4 ／β4 ，α4 ／γ4
とを比較し、基準画素の信号レベル和の比に最も近い値
の信号レベル和の比を選択する（ステップ33−８）。そ
して、上記信号レベル和の比の比較選択において、第１
の複数画素に関する信号レベル和の比が選択された場合
には、欠陥画素の周辺領域における画像形状を水平方向
のエッジ又は線と決定し、また第２の複数画素に関する
信号レベル和の比が選択された場合には、欠陥画素の周
辺領域における画像形状を垂直方向のエッジ又は線と決
定し、また第３の複数画素に関する信号レベル和の比が
選択された場合には、欠陥画素の周辺領域における画像
形状を右上がり方向のエッジ又は線と決定し、また第４
の複数画素に関する信号レベル和の比が選択された場合
には、欠陥画素の周辺領域における画像形状を右下がり
方向のエッジ又は線と決定する（ステップ33−９）。
【００５１】以上のようにして周辺領域における画像形
状が検出された後は、検出された画像形状に基づいて補
間画素が選択され、欠陥画素が補間補償されるが、図11
の（Ａ）〜（Ｅ）に示した図示例では、水平方向のエッ
ジ又は線と決定された場合には、欠陥画素Ｐ33は（Ｐ31
＋Ｐ35）／２の信号レベルで補間される。画像形状が垂
直方向のエッジ又は線と決定された場合には、欠陥画素
Ｐ33は（Ｐ13＋Ｐ53）／２の信号レベルで補間され、画
像形状が右上がり方向のエッジ又は線と決定された場合
には、欠陥画素Ｐ33は（Ｐ15＋Ｐ51）／２の信号レベル
で補間され、画像形状が右下がり方向のエッジ又は線と
決定された場合には、欠陥画素Ｐ33は（Ｐ11＋Ｐ55）／
２の信号レベルで補間される。
状が検出された後は、検出された画像形状に基づいて補
間画素が選択され、欠陥画素が補間補償されるが、図11
の（Ａ）〜（Ｅ）に示した図示例では、水平方向のエッ
ジ又は線と決定された場合には、欠陥画素Ｐ33は（Ｐ31
＋Ｐ35）／２の信号レベルで補間される。画像形状が垂
直方向のエッジ又は線と決定された場合には、欠陥画素
Ｐ33は（Ｐ13＋Ｐ53）／２の信号レベルで補間され、画
像形状が右上がり方向のエッジ又は線と決定された場合
には、欠陥画素Ｐ33は（Ｐ15＋Ｐ51）／２の信号レベル
で補間され、画像形状が右下がり方向のエッジ又は線と
決定された場合には、欠陥画素Ｐ33は（Ｐ11＋Ｐ55）／
２の信号レベルで補間される。
【００５２】以上のように周辺領域における画像形状
を、先に述べた第１の実施の形態で検出する場合には、
斜め画像形状の検出はできるけれども、斜め方向、すな
わち右下がりか右上がりかの検出はできない場合が生じ
るという問題があったが、本実施の形態によれば、検出
領域は若干大きくなるが斜め方向を検出することが可能
となる。
を、先に述べた第１の実施の形態で検出する場合には、
斜め画像形状の検出はできるけれども、斜め方向、すな
わち右下がりか右上がりかの検出はできない場合が生じ
るという問題があったが、本実施の形態によれば、検出
領域は若干大きくなるが斜め方向を検出することが可能
となる。
【００５３】次に、欠陥画素の周辺領域における画像形
状の検出方式の第３の実施の形態を図12のフローチャー
トに基づいて説明する。この実施の形態は、図５のフロ
ーチャートに示した第１の実施の形態と図10のフローチ
ャートに示した第２の実施の形態とを組み合わせたもの
である。すなわち、周辺領域の画素群の相対信号レベル
のパターンを予め用意したパターンと比較して一致する
ものがあるか否かの判定を行い、一致するものがある場
合、その一致した予め用意したパターンに対応する形状
を、周辺領域の画像形状と仮決定し、また一致するもの
が複数ある場合には、補間画素として選択される画素間
のレベル差が小さくなる方のパターンを、画像形状とし
て仮決定し、また一致するパターンがない場合には、予
め用意したデフォルトパターンを画像形状として仮決定
するステップ41−１からステップ41−６までは、図５に
示した第１の実施の形態と同一のステップで画像形状検
出処理を行い、次いで、この仮決定された画像形状は斜
めエッジ又は線でないかどうかの判定を行う（ステップ
41−９）。そして、仮決定された画像形状が斜めエッジ
又は線でない場合には、仮決定された画像形状を欠陥画
素の周辺領域の画像形状として決定し（ステップ41−1
0）、仮決定された画像形状が斜めエッジ又は線である
場合には、図10に示した第２の実施の形態による画像形
状検出処理を行い（ステップ41−11）、斜め方向を含む
画像形状を決定する。
状の検出方式の第３の実施の形態を図12のフローチャー
トに基づいて説明する。この実施の形態は、図５のフロ
ーチャートに示した第１の実施の形態と図10のフローチ
ャートに示した第２の実施の形態とを組み合わせたもの
である。すなわち、周辺領域の画素群の相対信号レベル
のパターンを予め用意したパターンと比較して一致する
ものがあるか否かの判定を行い、一致するものがある場
合、その一致した予め用意したパターンに対応する形状
を、周辺領域の画像形状と仮決定し、また一致するもの
が複数ある場合には、補間画素として選択される画素間
のレベル差が小さくなる方のパターンを、画像形状とし
て仮決定し、また一致するパターンがない場合には、予
め用意したデフォルトパターンを画像形状として仮決定
するステップ41−１からステップ41−６までは、図５に
示した第１の実施の形態と同一のステップで画像形状検
出処理を行い、次いで、この仮決定された画像形状は斜
めエッジ又は線でないかどうかの判定を行う（ステップ
41−９）。そして、仮決定された画像形状が斜めエッジ
又は線でない場合には、仮決定された画像形状を欠陥画
素の周辺領域の画像形状として決定し（ステップ41−1
0）、仮決定された画像形状が斜めエッジ又は線である
場合には、図10に示した第２の実施の形態による画像形
状検出処理を行い（ステップ41−11）、斜め方向を含む
画像形状を決定する。
【００５４】このように本実施の形態に係る画像形状検
出処理方式を用いることにより、斜めエッジ又は線を含
む場合でも、効率よく欠陥画素の周辺領域の画像形状を
検出することができる。
出処理方式を用いることにより、斜めエッジ又は線を含
む場合でも、効率よく欠陥画素の周辺領域の画像形状を
検出することができる。
【００５５】次に、カラー撮像装置における欠陥画素の
補償方式について説明する。カラー画像における欠陥画
素の補償処理も、基本的には先に示した白黒画像の欠陥
補償処理と同じである。すなわち、図13のフローチャー
トに示すように、まず撮像動作において、単板カラー撮
像素子等のカラー撮像素子で被写体像を取り込み（ステ
ップ51−１）、撮像信号を３種類以上の色信号に変換す
る（ステップ51−２）。次いで、色信号における欠陥画
素の位置、及び欠陥画素が２次元的に連続している場合
その並び方情報を検出して記憶させ、その記憶した欠陥
情報を読み出して（ステップ51−３）、色信号における
欠陥画素周囲の欠陥画素と同色の画素情報に基づいて、
欠陥画素位置の周辺領域の欠陥画素と同色の画像形状を
検出する（ステップ51−４）。次いで、検出された画像
形状に基づいて、欠陥画素の周辺領域から欠陥画素と同
色の補間画素を選択し（ステップ51−５）、その補間画
素の平均レベルで欠陥画素を補間することにより、欠陥
補償を行う（ステップ51−６）。
補償方式について説明する。カラー画像における欠陥画
素の補償処理も、基本的には先に示した白黒画像の欠陥
補償処理と同じである。すなわち、図13のフローチャー
トに示すように、まず撮像動作において、単板カラー撮
像素子等のカラー撮像素子で被写体像を取り込み（ステ
ップ51−１）、撮像信号を３種類以上の色信号に変換す
る（ステップ51−２）。次いで、色信号における欠陥画
素の位置、及び欠陥画素が２次元的に連続している場合
その並び方情報を検出して記憶させ、その記憶した欠陥
情報を読み出して（ステップ51−３）、色信号における
欠陥画素周囲の欠陥画素と同色の画素情報に基づいて、
欠陥画素位置の周辺領域の欠陥画素と同色の画像形状を
検出する（ステップ51−４）。次いで、検出された画像
形状に基づいて、欠陥画素の周辺領域から欠陥画素と同
色の補間画素を選択し（ステップ51−５）、その補間画
素の平均レベルで欠陥画素を補間することにより、欠陥
補償を行う（ステップ51−６）。
【００５６】次に、このカラー画像の欠陥補償処理にお
ける画像形状検出ステップ51−４の詳細を、第４の実施
の形態として図14のフローチャートに基づいて説明す
る。まず最初に、欠陥画素の周囲にある欠陥画素と同色
の複数個の画素の信号レベルを検出する（ステップ52−
１）。例えば図15のベイヤー配列のカラー画像におい
て、中央の○印のＲ色の欠陥画素の周囲の、欠陥画素と
同色の８個のＲ画素（白抜き画素）の信号レベルを検出
する。以下、図５に示した白黒画像における画像検出処
理と同等の処理ステップ52−２〜52−８を行い、欠陥画
素の周辺領域の欠陥画素と同色の画像形状を検出する。
ける画像形状検出ステップ51−４の詳細を、第４の実施
の形態として図14のフローチャートに基づいて説明す
る。まず最初に、欠陥画素の周囲にある欠陥画素と同色
の複数個の画素の信号レベルを検出する（ステップ52−
１）。例えば図15のベイヤー配列のカラー画像におい
て、中央の○印のＲ色の欠陥画素の周囲の、欠陥画素と
同色の８個のＲ画素（白抜き画素）の信号レベルを検出
する。以下、図５に示した白黒画像における画像検出処
理と同等の処理ステップ52−２〜52−８を行い、欠陥画
素の周辺領域の欠陥画素と同色の画像形状を検出する。
【００５７】次に、カラー画像における欠陥画素の周辺
領域の画像形状検出の他の手法を、第５の実施の形態と
して図16のフローチャートに基づいて説明する。この実
施の形態は、図10のフローチャートに示した白黒画像に
おける画像形状の検出処理（第２の実施の形態）に対応
するものである。まず、欠陥画素の周囲にある欠陥画素
と同色の複数個の画素の信号レベルを求め、それらを基
準画素信号レベルとする（ステップ53−１）。例えば図
17に示すように、欠陥画素を画素Ｇ43とすると、該欠陥
画素Ｇ43に関して、まず１画素ずつ離れた周囲にある同
色の８個の画素Ｇ21，Ｇ23，Ｇ25，Ｇ41，Ｇ45，Ｇ61，
Ｇ63，Ｇ65を基準画素とし、これらの信号レベルＧ21，
Ｇ23，・・・・Ｇ63，Ｇ65を求める。
領域の画像形状検出の他の手法を、第５の実施の形態と
して図16のフローチャートに基づいて説明する。この実
施の形態は、図10のフローチャートに示した白黒画像に
おける画像形状の検出処理（第２の実施の形態）に対応
するものである。まず、欠陥画素の周囲にある欠陥画素
と同色の複数個の画素の信号レベルを求め、それらを基
準画素信号レベルとする（ステップ53−１）。例えば図
17に示すように、欠陥画素を画素Ｇ43とすると、該欠陥
画素Ｇ43に関して、まず１画素ずつ離れた周囲にある同
色の８個の画素Ｇ21，Ｇ23，Ｇ25，Ｇ41，Ｇ45，Ｇ61，
Ｇ63，Ｇ65を基準画素とし、これらの信号レベルＧ21，
Ｇ23，・・・・Ｇ63，Ｇ65を求める。
【００５８】次に、これらの基準画素を欠陥画素Ｇ43に
重ならないように、それぞれ水平方向に一様にずらした
位置にある全てが同色の第１の複数画素、例えば図18に
示す例においては、画素Ｒ22，Ｒ24，Ｒ26，Ｒ42，
Ｒ46，Ｒ62，Ｒ64，Ｒ66の信号レベルＲ22，Ｒ24，・・
・・Ｒ64，Ｒ66を求める（ステップ53−２）。次に、同
様にして基準画素を欠陥画素Ｇ43に重ならないように、
それぞれ垂直方向に一様にずらした位置にある全て同色
の第２の複数画素、例えば図19に示す例においては、画
素Ｂ31，Ｂ33，Ｂ35，Ｂ51，Ｂ55，Ｂ71，Ｂ73，Ｂ75の
信号レベルＢ31，Ｂ33，・・・・Ｂ73，Ｂ75を求める
（ステップ53−３）。また同様に基準画素を、欠陥画素
Ｇ43に重ならないように、それぞれ右上がり方向に一様
にずらした位置にある全て同色の第３の複数画素、例え
ば図20に示す例においては、画素Ｇ12，Ｇ14，Ｇ16，Ｇ
32，Ｇ36，Ｇ52，Ｇ54，Ｇ56の信号レベルＧ12，Ｇ14，
・・・・Ｇ54，Ｇ56を求める（ステップ53−４）。更に
同様にして基準画素を、欠陥画素Ｇ43に重ならないよう
に、それぞれ右下がり方向に一様にずらした位置にある
全て同色の第４の複数画素、例えば図21に示す例におい
ては、画素Ｇ32，Ｇ34，Ｇ36，Ｇ52，Ｇ56，Ｇ72，
Ｇ74，Ｇ76の信号レベルＧ32，Ｇ34，・・・・Ｇ74，Ｇ
76を求める（ステップ53−５）。
重ならないように、それぞれ水平方向に一様にずらした
位置にある全てが同色の第１の複数画素、例えば図18に
示す例においては、画素Ｒ22，Ｒ24，Ｒ26，Ｒ42，
Ｒ46，Ｒ62，Ｒ64，Ｒ66の信号レベルＲ22，Ｒ24，・・
・・Ｒ64，Ｒ66を求める（ステップ53−２）。次に、同
様にして基準画素を欠陥画素Ｇ43に重ならないように、
それぞれ垂直方向に一様にずらした位置にある全て同色
の第２の複数画素、例えば図19に示す例においては、画
素Ｂ31，Ｂ33，Ｂ35，Ｂ51，Ｂ55，Ｂ71，Ｂ73，Ｂ75の
信号レベルＢ31，Ｂ33，・・・・Ｂ73，Ｂ75を求める
（ステップ53−３）。また同様に基準画素を、欠陥画素
Ｇ43に重ならないように、それぞれ右上がり方向に一様
にずらした位置にある全て同色の第３の複数画素、例え
ば図20に示す例においては、画素Ｇ12，Ｇ14，Ｇ16，Ｇ
32，Ｇ36，Ｇ52，Ｇ54，Ｇ56の信号レベルＧ12，Ｇ14，
・・・・Ｇ54，Ｇ56を求める（ステップ53−４）。更に
同様にして基準画素を、欠陥画素Ｇ43に重ならないよう
に、それぞれ右下がり方向に一様にずらした位置にある
全て同色の第４の複数画素、例えば図21に示す例におい
ては、画素Ｇ32，Ｇ34，Ｇ36，Ｇ52，Ｇ56，Ｇ72，
Ｇ74，Ｇ76の信号レベルＧ32，Ｇ34，・・・・Ｇ74，Ｇ
76を求める（ステップ53−５）。
【００５９】次に、基準画素において、同一垂直ライン
上の画素群の信号レベルの和α00，β00，γ00を求める
（ステップ53−６）。図17に示した例においては、次の
ように表される。 α00＝Ｇ21＋Ｇ41＋Ｇ61 β00＝Ｇ23＋Ｇ63 γ00＝Ｇ25＋Ｇ45＋Ｇ65
上の画素群の信号レベルの和α00，β00，γ00を求める
（ステップ53−６）。図17に示した例においては、次の
ように表される。 α00＝Ｇ21＋Ｇ41＋Ｇ61 β00＝Ｇ23＋Ｇ63 γ00＝Ｇ25＋Ｇ45＋Ｇ65
【００６０】また、第１の複数画素において、同一垂直
ライン上の画素群の信号レベルの和α11，β11，γ11を
求める（ステップ53−６）。図18に示した例において
は、次のように表される。 α11＝Ｒ22＋Ｒ42＋Ｒ62 β11＝Ｒ24＋Ｒ64 γ11＝Ｒ26＋Ｒ46＋Ｒ66
ライン上の画素群の信号レベルの和α11，β11，γ11を
求める（ステップ53−６）。図18に示した例において
は、次のように表される。 α11＝Ｒ22＋Ｒ42＋Ｒ62 β11＝Ｒ24＋Ｒ64 γ11＝Ｒ26＋Ｒ46＋Ｒ66
【００６１】また、第２の複数画素において、同一垂直
ライン上の画素群の信号レベルの和α22，β22，γ22を
求める（ステップ53−６）。図19に示した例において
は、次のように表される。 α22＝Ｂ31＋Ｂ51＋Ｂ71 β22＝Ｂ33＋Ｂ73 γ22＝Ｂ35＋Ｂ55＋Ｂ75
ライン上の画素群の信号レベルの和α22，β22，γ22を
求める（ステップ53−６）。図19に示した例において
は、次のように表される。 α22＝Ｂ31＋Ｂ51＋Ｂ71 β22＝Ｂ33＋Ｂ73 γ22＝Ｂ35＋Ｂ55＋Ｂ75
【００６２】また、第３の複数画素において、同一垂直
ライン上の画素群の信号レベルの和α33，β33，γ33を
求める（ステップ53−６）。図20に示した例において
は、次のように表される。 α33＝Ｇ12＋Ｇ32＋Ｇ52 β33＝Ｇ14＋Ｇ54 γ33＝Ｇ16＋Ｇ36＋Ｇ56
ライン上の画素群の信号レベルの和α33，β33，γ33を
求める（ステップ53−６）。図20に示した例において
は、次のように表される。 α33＝Ｇ12＋Ｇ32＋Ｇ52 β33＝Ｇ14＋Ｇ54 γ33＝Ｇ16＋Ｇ36＋Ｇ56
【００６３】また、第４の複数画素において、同一垂直
ライン上の画素群の信号レベルの和α44，β44，γ44を
求める（ステップ53−６）。図21に示した例において
は、次のように表される。 α44＝Ｇ32＋Ｇ52＋Ｇ72 β44＝Ｇ34＋Ｇ74 γ44＝Ｇ36＋Ｇ56＋Ｇ76
ライン上の画素群の信号レベルの和α44，β44，γ44を
求める（ステップ53−６）。図21に示した例において
は、次のように表される。 α44＝Ｇ32＋Ｇ52＋Ｇ72 β44＝Ｇ34＋Ｇ74 γ44＝Ｇ36＋Ｇ56＋Ｇ76
【００６４】次に、基準画素における、所定の垂直ライ
ン上の画素群の信号レベル和、例えばα00に対する他の
全ての垂直ライン上の画素群の信号レベル和β00，γ00
の比α00／β00，α00／γ00を求める。同様に、第１の
複数画素における、所定の垂直ライン上の画素群の信号
レベル和、例えばα11に対する他の全ての垂直ライン上
の画素群の信号レベル和β11，γ11の比α11／β11，α
11／γ11を求め、また第２の複数画素における、所定の
垂直ライン上の画素群の信号レベル和、例えばα22に対
する他の全ての垂直ライン上の画素群の信号レベル和β
22，γ22の比α22／β22，α22／γ22を求め、また第３
の複数画素における、所定の垂直ライン上の画素群の信
号レベル和、例えばα33に対する他の全ての垂直ライン
上の画素群の信号レベル和β33，γ33の比α33／β33，
α33／γ33を求め、更に第４の複数画素における、所定
の垂直ライン上の画素群の信号レベル和、例えばα44に
対する他の全ての垂直ライン上の画素群の信号レベル和
β44，γ44の比α44／β44，α44／γ44を求める（ステ
ップ53−７）。
ン上の画素群の信号レベル和、例えばα00に対する他の
全ての垂直ライン上の画素群の信号レベル和β00，γ00
の比α00／β00，α00／γ00を求める。同様に、第１の
複数画素における、所定の垂直ライン上の画素群の信号
レベル和、例えばα11に対する他の全ての垂直ライン上
の画素群の信号レベル和β11，γ11の比α11／β11，α
11／γ11を求め、また第２の複数画素における、所定の
垂直ライン上の画素群の信号レベル和、例えばα22に対
する他の全ての垂直ライン上の画素群の信号レベル和β
22，γ22の比α22／β22，α22／γ22を求め、また第３
の複数画素における、所定の垂直ライン上の画素群の信
号レベル和、例えばα33に対する他の全ての垂直ライン
上の画素群の信号レベル和β33，γ33の比α33／β33，
α33／γ33を求め、更に第４の複数画素における、所定
の垂直ライン上の画素群の信号レベル和、例えばα44に
対する他の全ての垂直ライン上の画素群の信号レベル和
β44，γ44の比α44／β44，α44／γ44を求める（ステ
ップ53−７）。
【００６５】次に、基準画素の信号レベル和の比α00／
β00，α00／γ00と、第１〜第４の複数画素の信号レベ
ル和の比α11／β11，α11／γ11，α22／β22，α22／
γ22，α33／β33，α33／γ33，α44／β44，α44／γ
44とを比較し、基準画素の信号レベル和の比に最も近い
値の信号レベル和の比を選択する（ステップ53−８）。
そして、上記信号レベル和の比の比較選択において、第
１の複数画素に関する信号レベル和の比が選択された場
合には、欠陥画素の周辺領域における画像形状を水平方
向のエッジ又は線と決定し、また第２の複数画素に関す
る信号レベル和の比が選択された場合には、欠陥画素の
周辺領域における画像形状を垂直方向のエッジ又は線と
決定し、また第３の複数画素に関する信号レベル和の比
が選択された場合には、欠陥画素の周辺領域における画
像形状を右上がり方向のエッジ又は線と決定し、また第
４の複数画素に関する信号レベル和の比が選択された場
合には、欠陥画素の周辺領域における画像形状を右下が
り方向のエッジ又は線と決定する（ステップ53−９）。
β00，α00／γ00と、第１〜第４の複数画素の信号レベ
ル和の比α11／β11，α11／γ11，α22／β22，α22／
γ22，α33／β33，α33／γ33，α44／β44，α44／γ
44とを比較し、基準画素の信号レベル和の比に最も近い
値の信号レベル和の比を選択する（ステップ53−８）。
そして、上記信号レベル和の比の比較選択において、第
１の複数画素に関する信号レベル和の比が選択された場
合には、欠陥画素の周辺領域における画像形状を水平方
向のエッジ又は線と決定し、また第２の複数画素に関す
る信号レベル和の比が選択された場合には、欠陥画素の
周辺領域における画像形状を垂直方向のエッジ又は線と
決定し、また第３の複数画素に関する信号レベル和の比
が選択された場合には、欠陥画素の周辺領域における画
像形状を右上がり方向のエッジ又は線と決定し、また第
４の複数画素に関する信号レベル和の比が選択された場
合には、欠陥画素の周辺領域における画像形状を右下が
り方向のエッジ又は線と決定する（ステップ53−９）。
【００６６】以上のようにして周辺領域における画像形
状が検出された後は、検出された画像形状に基づいて補
間画素が選択され、欠陥画素が補間補償されるが、水平
方向のエッジ又は線と決定された場合には、欠陥画素Ｇ
43は（Ｇ41＋Ｇ45）／２の信号レベルで補間される。ま
た画像形状で垂直方向のエッジ又は線と決定された場合
には、欠陥画素Ｇ43はＧ43＝（Ｇ23＋Ｇ63）／２の信号
レベルで補間され、また画像形状が右上がり方向のエッ
ジ又は線と決定された場合には、欠陥画素Ｇ43はＧ43＝
（Ｇ25＋Ｇ61）／２の信号レベルで補間され、また画像
形状が右下がり方向のエッジ又は線と決定された場合に
は、欠陥画素Ｇ43はＧ43＝（Ｇ21＋Ｇ65）／２の信号レ
ベルで補間される。
状が検出された後は、検出された画像形状に基づいて補
間画素が選択され、欠陥画素が補間補償されるが、水平
方向のエッジ又は線と決定された場合には、欠陥画素Ｇ
43は（Ｇ41＋Ｇ45）／２の信号レベルで補間される。ま
た画像形状で垂直方向のエッジ又は線と決定された場合
には、欠陥画素Ｇ43はＧ43＝（Ｇ23＋Ｇ63）／２の信号
レベルで補間され、また画像形状が右上がり方向のエッ
ジ又は線と決定された場合には、欠陥画素Ｇ43はＧ43＝
（Ｇ25＋Ｇ61）／２の信号レベルで補間され、また画像
形状が右下がり方向のエッジ又は線と決定された場合に
は、欠陥画素Ｇ43はＧ43＝（Ｇ21＋Ｇ65）／２の信号レ
ベルで補間される。
【００６７】また、カラー画像の場合も、図12のフロー
チャートで示した白黒画像に関する欠陥画素周辺領域の
画像形状の検出処理と同様に、図14に示した相対信号レ
ベルに関するパターン比較による１回目の画像形状検出
を行い、得られた画像形状が斜めエッジ又は線となった
場合に、図16に示した基準画素のずらし方式による２回
目の画像形状検出を行う処理方式を用いることができ
る。
チャートで示した白黒画像に関する欠陥画素周辺領域の
画像形状の検出処理と同様に、図14に示した相対信号レ
ベルに関するパターン比較による１回目の画像形状検出
を行い、得られた画像形状が斜めエッジ又は線となった
場合に、図16に示した基準画素のずらし方式による２回
目の画像形状検出を行う処理方式を用いることができ
る。
【００６８】また、カラー画像（ベイヤー配列）におい
ては、同色画素は一つおきに配列されているので４つの
画素を欠陥画素として取り扱い、この領域の画素は同様
に補償できる。次に、このような場合におけるカラー画
像における欠陥画素の周辺領域の画像形状検出の手法
を、第６の実施の形態として図22のフローチャートに基
づいて説明する。この実施の形態においても、まず、欠
陥画素の周囲にある欠陥画素と同色の複数個の画素の信
号レベルを求め、それらを基準画素信号レベルとする
（ステップ55−１）。例えば図23に示すように、欠陥画
素群を黒枠で囲んだＧ43，Ｒ44，Ｂ53，Ｇ54とする。こ
のように、黒枠で囲んだ４画素を欠陥画素として考えた
場合、その中の画素Ｇ43に関して、１画素ずつ離れた周
囲にある同色の８個の画素Ｇ21，Ｇ23，Ｇ25，Ｇ41，Ｇ
45，Ｇ61，Ｇ63，Ｇ65を基準画素とし、これらの信号レ
ベルＧ21，Ｇ23，・・・・Ｇ63，Ｇ65を求める。
ては、同色画素は一つおきに配列されているので４つの
画素を欠陥画素として取り扱い、この領域の画素は同様
に補償できる。次に、このような場合におけるカラー画
像における欠陥画素の周辺領域の画像形状検出の手法
を、第６の実施の形態として図22のフローチャートに基
づいて説明する。この実施の形態においても、まず、欠
陥画素の周囲にある欠陥画素と同色の複数個の画素の信
号レベルを求め、それらを基準画素信号レベルとする
（ステップ55−１）。例えば図23に示すように、欠陥画
素群を黒枠で囲んだＧ43，Ｒ44，Ｂ53，Ｇ54とする。こ
のように、黒枠で囲んだ４画素を欠陥画素として考えた
場合、その中の画素Ｇ43に関して、１画素ずつ離れた周
囲にある同色の８個の画素Ｇ21，Ｇ23，Ｇ25，Ｇ41，Ｇ
45，Ｇ61，Ｇ63，Ｇ65を基準画素とし、これらの信号レ
ベルＧ21，Ｇ23，・・・・Ｇ63，Ｇ65を求める。
【００６９】次に、これらの基準画素を当該欠陥画素群
に重ならないように、それぞれ水平方向に一様にずらし
た位置にある全てが同色の第１の複数画素、例えば図24
に示す例においては、画素Ｒ22，Ｒ24，Ｒ26，Ｒ42，Ｒ
46，Ｒ62，Ｒ64，Ｒ66の信号レベルＲ22，Ｒ24，・・・
・Ｒ64，Ｒ66を求める（ステップ55−２）。次に、同様
にして基準画素を当該欠陥画素群に重ならないように、
それぞれ垂直方向に一様にずらした位置にある全て同色
の第２の複数画素、例えば図25に示す例においては、画
素Ｂ31，Ｂ33，Ｂ35，Ｂ51，Ｂ55，Ｂ71，Ｂ73，Ｂ75の
信号レベルＢ31，Ｂ33，・・・・Ｂ73，Ｂ75を求める
（ステップ53−３）。また同様に第１の基準画素を、当
該欠陥画素群に重ならないように、それぞれ右下がり方
向に一様にずらした位置にある全て同色の第３の複数画
素、例えば図26に示す例においては、画素Ｇ32，Ｇ34，
Ｇ36，Ｇ52，Ｇ56，Ｇ72，Ｇ74，Ｇ76の信号レベルＧ3
2，Ｇ34，・・・・Ｇ74，Ｇ76を求める（ステップ55−
４）。
に重ならないように、それぞれ水平方向に一様にずらし
た位置にある全てが同色の第１の複数画素、例えば図24
に示す例においては、画素Ｒ22，Ｒ24，Ｒ26，Ｒ42，Ｒ
46，Ｒ62，Ｒ64，Ｒ66の信号レベルＲ22，Ｒ24，・・・
・Ｒ64，Ｒ66を求める（ステップ55−２）。次に、同様
にして基準画素を当該欠陥画素群に重ならないように、
それぞれ垂直方向に一様にずらした位置にある全て同色
の第２の複数画素、例えば図25に示す例においては、画
素Ｂ31，Ｂ33，Ｂ35，Ｂ51，Ｂ55，Ｂ71，Ｂ73，Ｂ75の
信号レベルＢ31，Ｂ33，・・・・Ｂ73，Ｂ75を求める
（ステップ53−３）。また同様に第１の基準画素を、当
該欠陥画素群に重ならないように、それぞれ右下がり方
向に一様にずらした位置にある全て同色の第３の複数画
素、例えば図26に示す例においては、画素Ｇ32，Ｇ34，
Ｇ36，Ｇ52，Ｇ56，Ｇ72，Ｇ74，Ｇ76の信号レベルＧ3
2，Ｇ34，・・・・Ｇ74，Ｇ76を求める（ステップ55−
４）。
【００７０】次に、基準画素において、同一垂直ライン
上の画素群の信号レベルの和α00′，β00′，γ00′を
求める（ステップ55−５）。図23に示した例において
は、次のように表される。 α00′＝Ｇ21＋Ｇ41＋Ｇ61 β00′＝Ｇ23＋Ｇ63 γ00′＝Ｇ25＋Ｇ45＋Ｇ65
上の画素群の信号レベルの和α00′，β00′，γ00′を
求める（ステップ55−５）。図23に示した例において
は、次のように表される。 α00′＝Ｇ21＋Ｇ41＋Ｇ61 β00′＝Ｇ23＋Ｇ63 γ00′＝Ｇ25＋Ｇ45＋Ｇ65
【００７１】また、第１の複数画素において、同一垂直
ライン上の画素群の信号レベルの和α11′，β11′，γ
11′を求める（ステップ55−５）。図24に示した例にお
いては、次のように表される。 α11′＝Ｒ22＋Ｒ42＋Ｒ62 β11′＝Ｒ24＋Ｒ64 γ11′＝Ｒ26＋Ｒ46＋Ｒ66
ライン上の画素群の信号レベルの和α11′，β11′，γ
11′を求める（ステップ55−５）。図24に示した例にお
いては、次のように表される。 α11′＝Ｒ22＋Ｒ42＋Ｒ62 β11′＝Ｒ24＋Ｒ64 γ11′＝Ｒ26＋Ｒ46＋Ｒ66
【００７２】また、第２の複数画素において、同一垂直
ライン上の画素群の信号レベルの和α22′，β22′，γ
22′を求める（ステップ55−５）。図25に示した例にお
いては、次のように表される。 α22′＝Ｂ31＋Ｂ51＋Ｂ71 β22′＝Ｂ33＋Ｂ73 γ22′＝Ｂ35＋Ｂ55＋Ｂ75
ライン上の画素群の信号レベルの和α22′，β22′，γ
22′を求める（ステップ55−５）。図25に示した例にお
いては、次のように表される。 α22′＝Ｂ31＋Ｂ51＋Ｂ71 β22′＝Ｂ33＋Ｂ73 γ22′＝Ｂ35＋Ｂ55＋Ｂ75
【００７３】また、第３の複数画素において、同一垂直
ライン上の画素群の信号レベルの和α33′，β33′，γ
33′を求める（ステップ55−５）。図26に示した例にお
いては、次のように表される。 α33′＝Ｇ32＋Ｇ52＋Ｇ72 β33′＝Ｇ34＋Ｇ74 γ33′＝Ｇ36＋Ｇ56＋Ｇ76
ライン上の画素群の信号レベルの和α33′，β33′，γ
33′を求める（ステップ55−５）。図26に示した例にお
いては、次のように表される。 α33′＝Ｇ32＋Ｇ52＋Ｇ72 β33′＝Ｇ34＋Ｇ74 γ33′＝Ｇ36＋Ｇ56＋Ｇ76
【００７４】次に、基準画素における、所定の垂直ライ
ン上の画素群の信号レベル和、例えばα00′に対する他
の全ての垂直ライン上の画素群の信号レベル和β00′，
γ00′の比α00′／β00′，α00′／γ00′を求める。
同様に、第１の複数画素における、所定の垂直ライン上
の画素群の信号レベル和、例えばα11′に対する他の全
ての垂直ライン上の画素群の信号レベル和β11′，
γ11′の比α11′／β11′，α11′／γ11′を求め、ま
た第２の複数画素における、所定の垂直ライン上の画素
群の信号レベル和、例えばα22′に対する他の全ての垂
直ライン上の画素群の信号レベル和β22′，γ22′の比
α22′／β22′，α22′／γ22′を求め、また第３の複
数画素における、所定の垂直ライン上の画素群の信号レ
ベル和、例えばα33′に対する他の全ての垂直ライン上
の画素群の信号レベル和β33′，γ33′の比α33′／β
33′，α33′／γ33′を求める（ステップ55−６）。
ン上の画素群の信号レベル和、例えばα00′に対する他
の全ての垂直ライン上の画素群の信号レベル和β00′，
γ00′の比α00′／β00′，α00′／γ00′を求める。
同様に、第１の複数画素における、所定の垂直ライン上
の画素群の信号レベル和、例えばα11′に対する他の全
ての垂直ライン上の画素群の信号レベル和β11′，
γ11′の比α11′／β11′，α11′／γ11′を求め、ま
た第２の複数画素における、所定の垂直ライン上の画素
群の信号レベル和、例えばα22′に対する他の全ての垂
直ライン上の画素群の信号レベル和β22′，γ22′の比
α22′／β22′，α22′／γ22′を求め、また第３の複
数画素における、所定の垂直ライン上の画素群の信号レ
ベル和、例えばα33′に対する他の全ての垂直ライン上
の画素群の信号レベル和β33′，γ33′の比α33′／β
33′，α33′／γ33′を求める（ステップ55−６）。
【００７５】次に、基準画素の信号レベル和の比α00′
／β00′，α00′／γ00′と、第１〜第３の複数画素の
信号レベル和の比α11′／β11′，α11′／γ11′，α
22′／β22′，α22′／γ22′，α33′／β33′，
α33′／γ33′とを比較すると同時に、第１の複数画素
の信号レベルの和の比と第２の複数画素の信号レベルの
和の比とを比較し、差の最小となるものを選択する（ス
テップ55−７）。そして、上記信号レベル和の比の比較
選択において、第１の複数画素に関する信号レベル和の
比が選択された場合には、欠陥画素の周辺領域における
画像形状を水平方向のエッジ又は線と決定し、また第２
の複数画素に関する信号レベル和の比が選択された場合
には、欠陥画素の周辺領域における画像形状を垂直方向
のエッジ又は線と決定し、また第１，第２の複数画素に
関する信号レベル和の比の差が最も小さい場合には、欠
陥画素の周辺領域における画像形状を右上がり方向のエ
ッジ又は線と決定し、また第３の複数画素に関する信号
レベル和の比が選択された場合には、欠陥画素の周辺領
域における画像形状を右下がり方向のエッジ又は線と決
定する（ステップ55−８）。
／β00′，α00′／γ00′と、第１〜第３の複数画素の
信号レベル和の比α11′／β11′，α11′／γ11′，α
22′／β22′，α22′／γ22′，α33′／β33′，
α33′／γ33′とを比較すると同時に、第１の複数画素
の信号レベルの和の比と第２の複数画素の信号レベルの
和の比とを比較し、差の最小となるものを選択する（ス
テップ55−７）。そして、上記信号レベル和の比の比較
選択において、第１の複数画素に関する信号レベル和の
比が選択された場合には、欠陥画素の周辺領域における
画像形状を水平方向のエッジ又は線と決定し、また第２
の複数画素に関する信号レベル和の比が選択された場合
には、欠陥画素の周辺領域における画像形状を垂直方向
のエッジ又は線と決定し、また第１，第２の複数画素に
関する信号レベル和の比の差が最も小さい場合には、欠
陥画素の周辺領域における画像形状を右上がり方向のエ
ッジ又は線と決定し、また第３の複数画素に関する信号
レベル和の比が選択された場合には、欠陥画素の周辺領
域における画像形状を右下がり方向のエッジ又は線と決
定する（ステップ55−８）。
【００７６】以上のようにして周辺領域における画像形
状が検出された後は、検出された画像形状に基づいて補
間画素が選択され、欠陥画素が補間補償されるが、水平
方向のエッジ又は線と決定された場合には、欠陥画素Ｇ
43は（Ｇ41＋Ｇ45）／２の信号レベルで補間される。カ
ラー画像の場合は、黒枠で囲まれている４画素は同じ様
に補間処理して差し支えないので、欠陥画素Ｒ44は（Ｒ
42＋Ｒ46）／２の信号レベルで補間され、また欠陥画素
Ｂ53は（Ｂ51＋Ｂ55）／２の信号レベルで補間され、ま
た欠陥画素Ｇ54は（Ｇ52＋Ｇ56）／２の信号レベルで補
間される。
状が検出された後は、検出された画像形状に基づいて補
間画素が選択され、欠陥画素が補間補償されるが、水平
方向のエッジ又は線と決定された場合には、欠陥画素Ｇ
43は（Ｇ41＋Ｇ45）／２の信号レベルで補間される。カ
ラー画像の場合は、黒枠で囲まれている４画素は同じ様
に補間処理して差し支えないので、欠陥画素Ｒ44は（Ｒ
42＋Ｒ46）／２の信号レベルで補間され、また欠陥画素
Ｂ53は（Ｂ51＋Ｂ55）／２の信号レベルで補間され、ま
た欠陥画素Ｇ54は（Ｇ52＋Ｇ56）／２の信号レベルで補
間される。
【００７７】また画像形状で垂直方向のエッジ又は線と
決定された場合には、欠陥画素Ｇ43，Ｒ44，Ｂ53，Ｇ54
は、次に示すような信号レベルＧ43，Ｒ44，Ｂ53，Ｇ54
で補間される。 Ｇ43＝（Ｇ23＋Ｇ63）／２ Ｒ44＝（Ｒ24＋Ｒ64）／２ Ｂ53＝（Ｂ33＋Ｂ73）／２ Ｇ54＝（Ｇ34＋Ｇ74）／２
決定された場合には、欠陥画素Ｇ43，Ｒ44，Ｂ53，Ｇ54
は、次に示すような信号レベルＧ43，Ｒ44，Ｂ53，Ｇ54
で補間される。 Ｇ43＝（Ｇ23＋Ｇ63）／２ Ｒ44＝（Ｒ24＋Ｒ64）／２ Ｂ53＝（Ｂ33＋Ｂ73）／２ Ｇ54＝（Ｇ34＋Ｇ74）／２
【００７８】また画像形状が右上がり方向のエッジ又は
線と決定された場合には、欠陥画素Ｇ43，Ｒ44，Ｂ53，
Ｇ54は、それぞれ次に示すような信号レベルＧ43，Ｒ4
4，Ｂ53，Ｇ54で補間される。 Ｇ43＝（Ｇ25＋Ｇ61）／２ Ｒ44＝（Ｒ26＋Ｒ62）／２ Ｂ53＝（Ｂ35＋Ｂ71）／２ Ｇ54＝（Ｇ36＋Ｇ72）／２
線と決定された場合には、欠陥画素Ｇ43，Ｒ44，Ｂ53，
Ｇ54は、それぞれ次に示すような信号レベルＧ43，Ｒ4
4，Ｂ53，Ｇ54で補間される。 Ｇ43＝（Ｇ25＋Ｇ61）／２ Ｒ44＝（Ｒ26＋Ｒ62）／２ Ｂ53＝（Ｂ35＋Ｂ71）／２ Ｇ54＝（Ｇ36＋Ｇ72）／２
【００７９】また画像形状が右下がり方向のエッジ又は
線と決定された場合には、欠陥画素Ｇ43，Ｒ44，Ｂ53，
Ｇ54は、それぞれ次に示すような信号レベルＧ43，Ｒ4
4，Ｂ53，Ｇ54で補間される。 Ｇ43＝（Ｇ21＋Ｇ65）／２ Ｒ44＝（Ｒ22＋Ｒ66）／２ Ｂ53＝（Ｂ31＋Ｂ75）／２ Ｇ54＝（Ｇ32＋Ｇ76）／２
線と決定された場合には、欠陥画素Ｇ43，Ｒ44，Ｂ53，
Ｇ54は、それぞれ次に示すような信号レベルＧ43，Ｒ4
4，Ｂ53，Ｇ54で補間される。 Ｇ43＝（Ｇ21＋Ｇ65）／２ Ｒ44＝（Ｒ22＋Ｒ66）／２ Ｂ53＝（Ｂ31＋Ｂ75）／２ Ｇ54＝（Ｇ32＋Ｇ76）／２
【００８０】上記各実施の形態の説明においては、撮像
手段で得られた撮像信号に対して直ちに本発明による欠
陥画素補償処理を適用するようにしているが、撮像手段
によって得られた撮像信号に対しては、従来の４点補間
法等の処理速度の速い簡易欠陥補償処理を行い圧縮し
て、メモリ等の記録媒体に記録し、再生時（伸長時）に
本発明に係る欠陥補償処理を施すようにすることもでき
る。このような欠陥補償処理を行うことにより、記録時
の処理時間を短縮することができ、しかも再生時には高
精度で欠陥補償された画像を得ることができる。
手段で得られた撮像信号に対して直ちに本発明による欠
陥画素補償処理を適用するようにしているが、撮像手段
によって得られた撮像信号に対しては、従来の４点補間
法等の処理速度の速い簡易欠陥補償処理を行い圧縮し
て、メモリ等の記録媒体に記録し、再生時（伸長時）に
本発明に係る欠陥補償処理を施すようにすることもでき
る。このような欠陥補償処理を行うことにより、記録時
の処理時間を短縮することができ、しかも再生時には高
精度で欠陥補償された画像を得ることができる。
【００８１】
【発明の効果】以上実施の形態に基づいて説明したよう
に、請求項１記載の発明によれば、欠陥画素の周辺領域
の画像形状を検出し、その画像形状に基づいて欠陥画素
を補間し補償するようにしているので、輝度が急峻に変
換する領域に欠陥がある場合でも、高精度で欠陥画素を
補償することが可能となる。請求項２記載の発明によれ
ば、記憶容量の少ない欠陥画素情報記憶手段で高精度の
欠陥補償処理を行うことができる。請求項３〜６記載の
発明によれば、欠陥画素周辺領域の画像形状を高精度で
検出することができ、精度よく欠陥画素を補償すること
ができる。請求項７記載の発明によれば、画像形状検出
のための領域を大きくせずに、画像形状を斜め方向を含
めて高精度で検出することができる。請求項８記載の発
明によれば、欠陥画素の周辺領域の画像形状を、斜め方
向の画像形状の有無に拘わらず、効率よく検出すること
ができる。請求項９記載の発明によれば、周辺領域の画
像形状の方向検出が誤った場合でも、画素欠陥を目立た
ないように補償することができる。
に、請求項１記載の発明によれば、欠陥画素の周辺領域
の画像形状を検出し、その画像形状に基づいて欠陥画素
を補間し補償するようにしているので、輝度が急峻に変
換する領域に欠陥がある場合でも、高精度で欠陥画素を
補償することが可能となる。請求項２記載の発明によれ
ば、記憶容量の少ない欠陥画素情報記憶手段で高精度の
欠陥補償処理を行うことができる。請求項３〜６記載の
発明によれば、欠陥画素周辺領域の画像形状を高精度で
検出することができ、精度よく欠陥画素を補償すること
ができる。請求項７記載の発明によれば、画像形状検出
のための領域を大きくせずに、画像形状を斜め方向を含
めて高精度で検出することができる。請求項８記載の発
明によれば、欠陥画素の周辺領域の画像形状を、斜め方
向の画像形状の有無に拘わらず、効率よく検出すること
ができる。請求項９記載の発明によれば、周辺領域の画
像形状の方向検出が誤った場合でも、画素欠陥を目立た
ないように補償することができる。
【００８２】また請求項10記載の発明によれば、カラー
画像の輝度が急峻に変化する領域に画素欠陥がある場合
でも、高精度で補償することができる。請求項11記載の
発明によれば、記憶容量の少ない欠陥画素情報記憶手段
で高精度のカラー画像の画素欠陥補償処理を行うことが
できる。請求項12〜15記載の発明によれば、カラー画像
において欠陥画素周辺領域の画像形状を高精度で検出す
ることができ、精度よく欠陥画素を補償することができ
る。請求項16記載の発明によれば、画像形状検出のため
の領域を大きくせずに、カラー画像における欠陥画素周
辺領域の画像形状を、斜め方向を含めて高精度で検出す
ることができる。請求項17記載の発明によれば、カラー
画像における欠陥画素周辺領域の画像形状を、斜め方向
の画像形状の有無に拘わらず、効率よく検出することが
できる。請求項18記載の発明によれば、周辺領域の画像
形状の方向検出が誤った場合でも、カラー画像の画素欠
陥を目立たないように補償することができる。請求項19
記載の発明によれば、撮像信号は欠陥を補償した後に圧
縮して記録媒体に記録するようにしているので、撮像画
像の圧縮記録時に欠陥が現れないようにすることができ
る。請求項20記載の発明によれば、記録時に処理速度の
速い簡易欠陥補償を行い再生時に高精度の欠陥補償を行
うようにしているので、撮像画像の記録時の時間を短縮
すると共に、欠陥画素の補償を高精度で行った出力画像
を得ることができる。
画像の輝度が急峻に変化する領域に画素欠陥がある場合
でも、高精度で補償することができる。請求項11記載の
発明によれば、記憶容量の少ない欠陥画素情報記憶手段
で高精度のカラー画像の画素欠陥補償処理を行うことが
できる。請求項12〜15記載の発明によれば、カラー画像
において欠陥画素周辺領域の画像形状を高精度で検出す
ることができ、精度よく欠陥画素を補償することができ
る。請求項16記載の発明によれば、画像形状検出のため
の領域を大きくせずに、カラー画像における欠陥画素周
辺領域の画像形状を、斜め方向を含めて高精度で検出す
ることができる。請求項17記載の発明によれば、カラー
画像における欠陥画素周辺領域の画像形状を、斜め方向
の画像形状の有無に拘わらず、効率よく検出することが
できる。請求項18記載の発明によれば、周辺領域の画像
形状の方向検出が誤った場合でも、カラー画像の画素欠
陥を目立たないように補償することができる。請求項19
記載の発明によれば、撮像信号は欠陥を補償した後に圧
縮して記録媒体に記録するようにしているので、撮像画
像の圧縮記録時に欠陥が現れないようにすることができ
る。請求項20記載の発明によれば、記録時に処理速度の
速い簡易欠陥補償を行い再生時に高精度の欠陥補償を行
うようにしているので、撮像画像の記録時の時間を短縮
すると共に、欠陥画素の補償を高精度で行った出力画像
を得ることができる。
【図１】本発明に係る撮像装置の実施の形態の全体構成
を示すブロック図である。
を示すブロック図である。
【図２】図１に示した実施の形態の概略動作シーケンス
を説明するためのタイミングチャートである。
を説明するためのタイミングチャートである。
【図３】本発明における欠陥画素の検出処理を説明する
ためのタイミングチャートである。
ためのタイミングチャートである。
【図４】本発明における欠陥画素補償処理の概略を説明
するためのフローチャートである。
するためのフローチャートである。
【図５】図４に示したフローチャートにおける画像形状
検出処理の第１の実施の形態を詳細に説明するためのフ
ローチャートである。
検出処理の第１の実施の形態を詳細に説明するためのフ
ローチャートである。
【図６】欠陥画素と信号レベルを検出する周囲画素の配
置態様を示す図である。
置態様を示す図である。
【図７】相対信号レベルのパターンを分類して示す図で
ある。
ある。
【図８】周辺領域の画像形状のパターン例を示す図であ
る。
る。
【図９】方向検出が不能な周辺領域の画像形状のパター
ン例を示す図である。
ン例を示す図である。
【図10】画像形状検出処理の第２の実施の形態を説明す
るためのフローチャートである。
るためのフローチャートである。
【図11】図10のフローチャートに示した検出処理におけ
る欠陥画素の周囲にある基準画素のずらし態様を示す図
である。
る欠陥画素の周囲にある基準画素のずらし態様を示す図
である。
【図12】画像形状検出処理の第３の実施の形態を説明す
るためのフローチャートである。
るためのフローチャートである。
【図13】カラー画像に対する欠陥画素の補償処理態様を
説明するためのフローチャートである。
説明するためのフローチャートである。
【図14】図13に示したフローチャートにおける画像形状
の検出処理を第４の実施の形態として詳細に説明するた
めのフローチャートである。
の検出処理を第４の実施の形態として詳細に説明するた
めのフローチャートである。
【図15】ベイヤー配列のカラー画像における欠陥画素と
信号レベルを検出する周囲画素の配置態様を示す図であ
る。
信号レベルを検出する周囲画素の配置態様を示す図であ
る。
【図16】カラー画像における画像形状の検出処理の他の
態様を第５の実施の形態として説明するためのフローチ
ャートである。
態様を第５の実施の形態として説明するためのフローチ
ャートである。
【図17】カラー画像における欠陥画素と信号レベルを検
出する周囲の基準画素の配置態様を示す図である。
出する周囲の基準画素の配置態様を示す図である。
【図18】図17に示した基準画素を水平方向にずらした態
様を示す図である。
様を示す図である。
【図19】図17に示した基準画素を垂直方向にずらした態
様を示す図である。
様を示す図である。
【図20】図17に示した基準画素を右上がり方向にずらし
た態様を示す図である。
た態様を示す図である。
【図21】図17に示した基準画素を右下がり方向にずらし
た態様を示す図である。
た態様を示す図である。
【図22】カラー画像における画像形状の検出処理の更に
他の態様を第６の実施の形態として説明するためのフロ
ーチャートである。
他の態様を第６の実施の形態として説明するためのフロ
ーチャートである。
【図23】図22に示した第６の実施の形態におけるカラー
画像の欠陥画素と信号レベルを検出する周囲の基準画素
の配置態様を示す図である。
画像の欠陥画素と信号レベルを検出する周囲の基準画素
の配置態様を示す図である。
【図24】図23に示した基準画素を水平方向にずらした態
様を示す図である。
様を示す図である。
【図25】図23に示した基準画素を垂直方向にずらした態
様を示す図である。
様を示す図である。
【図26】図23に示した基準画素を右下がり方向にずらし
た態様を示す図である。
た態様を示す図である。
【図27】従来の画素欠陥補償方式を説明するための図で
ある。
ある。
１ レンズ ２ 絞り・シャッタ機構 ３ 光学ＬＰＦ・赤外カットフィルタ ４ ＣＣＤ撮像素子 ５ ＣＤＳ・ＡＧＣ回路 ６ Ａ／Ｄ変換器 ７ 画像メモリ ８ 画素欠陥補償処理部 ９ 記録信号処理部 10 記録メディアＩ／Ｆ 11 記録メディア 12 欠陥情報記憶手段 13 タイミングジェネレータ 14 同期信号発生器 15 ＣＰＵ 16 ＣＣＤドライバ 17 モータドライバ
Claims (20)
- 【請求項１】 画素を２次元状に配置してなる半導体撮
像素子を備え、被写体光を画像信号に変換する撮像手段
と、前記半導体撮像素子の欠陥画素位置、及び欠陥画素
が２次元的に連続している場合には更にそれらの欠陥画
素の並び方パターンを求める欠陥画素検出手段と、該欠
陥画素検出手段で求めた欠陥画素に関する情報を記憶す
る欠陥画素情報記憶手段と、前記撮像手段より得られる
画像信号における、前記欠陥画素検出手段より求められ
た欠陥画素位置の周辺領域の画像形状を、欠陥画素周囲
の画素情報から検出する周辺画像形状検出手段と、該周
辺画像形状検出手段によって検出された画像形状に基づ
いて、欠陥画素の周囲から画素を選択し、該選択画素で
欠陥画素を補間することによって画素欠陥補償を行う画
素欠陥補償手段とを備えていることを特徴とする撮像装
置。 - 【請求項２】 前記欠陥画素情報記憶手段は、欠陥画素
が２次元的に連続している場合、連続している欠陥画素
のいずれか一つの画素位置とその他の欠陥画素の並び方
パターンを記憶するように構成されていることを特徴と
する請求項１記載の撮像装置。 - 【請求項３】 前記周辺画像形状検出手段は、欠陥画素
の周囲にある複数個の画素の信号レベルをそれぞれ求め
る信号レベル検出手段と、該信号レベル検出手段から得
られた複数画素の信号レベルデータのうち、欠陥画素の
上方に位置する複数画素に関するものは、水平方向にま
とめて一つの組とし、その組の中のある１画素の信号レ
ベルを基準画素信号レベルとして該基準画素信号レベル
に対する他の画素の相対信号レベルを求める第１の相対
レベル検出手段と、前記信号レベル検出手段から得られ
た複数画素の信号レベルデータのうち、欠陥画素の下方
に位置する複数画素に関するものは、水平方向にまとめ
て一つの組とし、その組の中のある１画素の信号レベル
を基準画素信号レベルとして該基準画素信号レベルに対
する他の画素の相対信号レベルを求める第２の相対レベ
ル検出手段と、前記信号レベル検出手段から得られた複
数画素の信号レベルデータのうち、欠陥画素の右方に位
置する複数画素に関するものは、垂直方向にまとめて一
つの組とし、その組の中のある１画素の信号レベルを基
準画素信号レベルとして該基準画素信号レベルに対する
他の画素の相対信号レベルを求める第３の相対レベル検
出手段と、前記信号レベル検出手段から得られた複数画
素の信号レベルデータのうち、欠陥画素の左方に位置す
る複数画素に関するものは、垂直方向にまとめて一つの
組とし、その組の中のある１画素の信号レベルを基準画
素信号レベルとして該基準画素信号レベルに対する他の
画素の相対信号レベルを求める第４の相対レベル検出手
段と、前記第１から第４の相対レベル検出手段で求めら
れた相対信号レベルデータを、画素位置と関連付けて表
すことにより、各組内の画素信号レベルをパターン化す
るパターン化手段と、該パターン化手段により得られた
パターンを、予め設定したパターンと比較する比較手段
と、該比較手段における比較動作において、前記パター
ン化手段で得られたパターンと設定したパターンが一致
した場合、その一致した設定パターンを周辺画像形状と
する第１の画像形状決定手段と、前記比較手段における
比較動作において、前記パターン化手段で得られたパタ
ーンと設定したパターンが一致しなかった場合、予め設
定した特定パターンを周辺画像形状とする第２の画像形
状決定手段と、前記比較手段における比較動作におい
て、前記パターン化手段で得られたパターンと予め設定
したパターンの複数が一致した場合、一致した複数の設
定パターンの中、それらの設定パターンが示す複数の補
間画素の信号レベル差の小さいパターンを選択して、周
辺画像形状とする第３の画像形状決定手段とを備えてい
ることを特徴とする請求項１又は２記載の撮像装置。 - 【請求項４】 前記パターン化手段は、前記相対信号レ
ベルデータをＮ値化（Ｎは前記撮像手段による画像信号
の階調数以下の任意の数）して、画素位置と関連付けて
表すことにより、各組内の画素信号レベルをパターン化
するように構成されていることを特徴とする請求項３記
載の撮像装置。 - 【請求項５】 前記Ｎ値は、複数画素の信号レベルの中
の基準画素信号レベルに対して他の画素の信号レベルが
高い、低い、同じの３値とすることを特徴とする請求項
４記載の撮像装置。 - 【請求項６】 前記比較手段において用いられる予め設
定したパターンは、エッジ及び線の方向を決定できるパ
ターンであることを特徴とする請求項３記載の撮像装
置。 - 【請求項７】 前記周辺画像形状検出手段は、欠陥画素
の周囲にある複数個の画素を基準画素とし、該基準画素
の信号レベルを求める基準画素信号レベル検出手段と、
前記基準画素を前記欠陥画素に重ならないように、それ
ぞれ水平方向に一様にずらした位置にある第１の複数画
素の信号レベルを検出する第１の信号レベル検出手段
と、前記基準画素を前記欠陥画素に重ならないように、
それぞれ垂直方向に一様にずらした位置にある第２の複
数画素の信号レベルを検出する第２の信号レベル検出手
段と、前記基準画素を前記欠陥画素に重ならないよう
に、それぞれ右上がり方向に一様にずらした位置にある
第３の複数画素の信号レベルを検出する第３の信号レベ
ル検出手段と、前記基準画素を前記欠陥画素に重ならな
いように、それぞれ右下がり方向に一様にずらした位置
にある第４の複数画素の信号レベルを検出する第４の信
号レベル検出手段と、前記基準画素において、同一垂直
ライン上の画素の信号レベルの和を垂直ライン毎に求め
る手段と、前記第１の複数画素において、同一垂直ライ
ンにある画素の信号レベルの和を垂直ライン毎に求める
手段と、前記第２の複数画素において、同一垂直ライン
にある画素の信号レベルの和を垂直ライン毎に求める手
段と、前記第３の複数画素において、同一垂直ラインに
ある画素の信号レベルの和を垂直ライン毎に求める手段
と、前記第４の複数画素において、同一垂直ラインにあ
る画素の信号レベルの和を垂直ライン毎に求める手段
と、前記基準画素において、所定の垂直ライン上の画素
の信号レベル和に対する他の全ての垂直ライン上の画素
の信号レベル和の比を求める手段と、前記第１の複数画
素において、所定の垂直ライン上の画素の信号レベル和
に対する他の全ての垂直ライン上の画素の信号レベル和
の比を求める手段と、前記第２の複数画素において、所
定の垂直ライン上の画素の信号レベル和に対する他の全
ての垂直ライン上の画素の信号レベル和の比を求める手
段と、前記第３の複数画素において、所定の垂直ライン
上の画素の信号レベル和に対する他の全ての垂直ライン
上の画素の信号レベル和の比を求める手段と、前記第４
の複数画素において、所定の垂直ライン上の画素の信号
レベル和に対する他の全ての垂直ライン上の画素の信号
レベル和の比を求める手段と、前記基準画素の信号レベ
ル和の比と、第１，第２，第３及び第４の各信号レベル
和の比を比較し、基準画素の信号レベル和の比に最も近
い値の信号レベル和の比を選択する手段と、該選択手段
により第１の複数画素の信号レベル和の比が選択された
場合、周辺領域画像形状は水平方向のエッジ又は線と判
断し、第２の複数画素の信号レベル和の比が選択された
場合、周辺領域画像形状は垂直方向のエッジ又は線と判
断し、第３の複数画素の信号レベル和の比が選択された
場合、周辺領域画像形状は右上がり方向のエッジ又は線
と判断し、第４の複数画素の信号レベル和の比が選択さ
れた場合、周辺領域画像形状は右下がり方向のエッジ又
は線と判断する手段とを備えていることを特徴とする請
求項１記載の撮像装置。 - 【請求項８】 前記周辺画像形状検出手段は、前記請求
項３記載の周辺画像形状検出手段からなる第１の周辺画
像形状検出手段と、前記請求項７記載の周辺画像形状検
出手段からなる第２の周辺画像形状検出手段とを備え、
前記第１の周辺画像形状検出手段により斜め線形状が検
出された場合にのみ、第２の周辺画像形状検出手段によ
る形状検出を行うように構成されていることを特徴とす
る請求項１記載の撮像装置。 - 【請求項９】 前記画素欠陥補償手段は、複数の選択画
素の平均値で欠陥画素を補間するように構成されている
ことを特徴とする請求項１〜８のいずれか１項に記載の
撮像装置。 - 【請求項10】 画素を２次元状に配置してなる半導体撮
像素子を備え、被写体光を少なくとも３種類以上の複数
の色信号からなる画像信号に変換する撮像手段と、前記
半導体撮像素子の欠陥画素位置、及び欠陥画素が２次元
的に連続している場合には更にそれらの欠陥画素の並び
方パターンを求める欠陥画素検出手段と、該欠陥画素検
出手段で求めた欠陥画素に関する情報を記憶する欠陥画
素情報記憶手段と、前記撮像手段より得られる画像信号
における、前記欠陥画素検出手段より求められた欠陥画
素位置の周辺領域の画像形状を、欠陥画素周囲の欠陥画
素と同色の画素情報から検出する周辺画像形状検出手段
と、該周辺画像形状検出手段によって検出された画像形
状に基づいて、欠陥画素の周囲から欠陥画素と同色の画
素を選択し、該選択画素で欠陥画素を補間することによ
って画素欠陥補償を行う画素欠陥補償手段とを備えてい
ることを特徴とする撮像装置。 - 【請求項11】 前記欠陥画素情報記憶手段は、欠陥画素
が２次元的に連続している場合、連続している欠陥画素
のいずれか一つの画素位置とその他の欠陥画素の並び方
パターンを記憶するように構成されていることを特徴と
する請求項10記載の撮像装置。 - 【請求項12】 前記周辺画像形状検出手段は、欠陥画素
の周囲にある欠陥画素と同色の複数個の画素の信号レベ
ルをそれぞれ求める信号レベル検出手段と、該信号レベ
ル検出手段から得られた複数画素の信号レベルデータの
うち、欠陥画素の上方に位置する複数画素に関するもの
は、水平方向にまとめて一つの組とし、その組の中のあ
る１画素の信号レベルを基準画素信号レベルとして該基
準画素信号レベルに対する他の画素の相対信号レベルを
求める第１の相対レベル検出手段と、前記信号レベル検
出手段から得られた複数画素の信号レベルデータのう
ち、欠陥画素の下方に位置する複数画素に関するもの
は、水平方向にまとめて一つの組とし、その組の中のあ
る１画素の信号レベルを基準画素信号レベルとして該基
準画素信号レベルに対する他の画素の相対信号レベルを
求める第２の相対レベル検出手段と、前記信号レベル検
出手段から得られた複数画素の信号レベルデータのう
ち、欠陥画素の右方に位置する複数画素に関するもの
は、垂直方向にまとめて一つの組とし、その組の中のあ
る１画素の信号レベルを基準画素信号レベルとして該基
準画素信号レベルに対する他の画素の相対信号レベルを
求める第３の相対レベル検出手段と、前記信号レベル検
出手段から得られた複数画素の信号レベルデータのう
ち、欠陥画素の左方に位置する複数画素に関するもの
は、垂直方向にまとめて一つの組とし、その組の中のあ
る１画素の信号レベルを基準画素信号レベルとして該基
準画素信号レベルに対する他の画素の相対信号レベルを
求める第４の相対レベル検出手段と、前記第１から第４
の相対レベル検出手段で求められた相対信号レベルデー
タを、画素位置と関連付けて表すことにより、各組内の
画素信号レベルをパターン化するパターン化手段と、該
パターン化手段により得られたパターンを、予め設定し
たパターンと比較する比較手段と、該比較手段における
比較動作において、前記パターン化手段で得られたパタ
ーンと設定したパターンが一致した場合、その一致した
設定パターンを周辺画像形状とする第１の画像形状決定
手段と、前記比較手段における比較動作において、前記
パターン化手段で得られたパターンと設定したパターン
が一致しなかった場合、予め設定した特定パターンを周
辺画像形状とする第２の画像形状決定手段と、前記比較
手段における比較動作において、前記パターン化手段で
得られたパターンと予め設定したパターンの複数が一致
した場合、一致した複数の設定パターンの中、それらの
設定パターンが示す複数の補間画素の信号レベル差の小
さいパターンを選択して、周辺画像形状とする第３の画
像形状決定手段とを備えていることを特徴とする請求項
10又は11記載の撮像装置。 - 【請求項13】 前記パターン化手段は、前記相対信号レ
ベルデータをＮ値化（Ｎは前記撮像手段による画像信号
の階調数以下の任意の数）して、画素位置と関連付けて
表すことにより、各組内の画素信号レベルをパターン化
するように構成されていることを特徴とする請求項12記
載の撮像装置。 - 【請求項14】 前記Ｎ値は、複数画素の信号レベルの中
の基準画素信号レベルに対して他の画素の信号レベルが
高い、低い、同じの３値とすることを特徴とする請求項
13記載の撮像装置。 - 【請求項15】 前記比較手段において用いられる予め設
定したパターンは、エッジ及び線の方向を決定できるパ
ターンであることを特徴とする請求項12記載の撮像装
置。 - 【請求項16】 前記周辺画像形状検出手段は、欠陥画素
の周囲にある同色の複数個の画素を基準画素とし、該基
準画素の信号レベルを求める基準画素信号レベル検出手
段と、前記基準画素を前記欠陥画素に重ならないよう
に、それぞれ水平方向に一様にずらした位置にあり且つ
全てが同色の、第１の複数画素の信号レベルを検出する
第１の信号レベル検出手段と、前記基準画素を前記欠陥
画素に重ならないように、それぞれ垂直方向に一様にず
らした位置にあり且つ全てが同色の、第２の複数画素の
信号レベルを検出する第２の信号レベル検出手段と、前
記基準画素を前記欠陥画素に重ならないように、それぞ
れ右上がり方向に一様にずらした位置にあり且つ全てが
同色の、第３の複数画素の信号レベルを検出する第３の
信号レベル検出手段と、前記基準画素を前記欠陥画素に
重ならないように、それぞれ右上がり方向に一様にずら
した位置にあり且つ全てが同色の、第４の複数画素の信
号レベルを検出する第４の信号レベル検出手段と、前記
基準画素において、同一垂直ライン上の画素の信号レベ
ルの和を垂直ライン毎に求める手段と、前記第１の複数
画素において、同一垂直ラインにある画素の信号レベル
の和を垂直ライン毎に求める手段と、前記第２の複数画
素において、同一垂直ラインにある画素の信号レベルの
和を垂直ライン毎に求める手段と、前記第３の複数画素
において、同一垂直ラインにある画素の信号レベルの和
を垂直ライン毎に求める手段と、前記第４の複数画素に
おいて、同一垂直ラインにある画素の信号レベルの和を
垂直ライン毎に求める手段と、前記基準画素において、
所定の垂直ライン上の画素の信号レベル和に対する他の
全ての垂直ライン上の画素の信号レベル和の比を求める
手段と、前記第１の複数画素において、所定の垂直ライ
ン上の画素の信号レベル和に対する他の全ての垂直ライ
ン上の画素の信号レベル和の比を求める手段と、前記第
２の複数画素において、所定の垂直ライン上の画素の信
号レベル和に対する他の全ての垂直ライン上の画素の信
号レベル和の比を求める手段と、前記第３の複数画素に
おいて、所定の垂直ライン上の画素の信号レベル和に対
する他の全ての垂直ライン上の画素の信号レベル和の比
を求める手段と、前記第４の複数画素において、所定の
垂直ライン上の画素の信号レベル和に対する他の全ての
垂直ライン上の画素の信号レベル和の比を求める手段
と、前記基準画素の信号レベル和の比と、第１，第２，
第３及び第４の各信号レベル和の比を比較し、基準画素
の信号レベル和の比に最も近い値の信号レベル和の比を
選択する手段と、該選択手段により第１の複数画素の信
号レベル和の比が選択された場合、周辺領域画像形状は
水平方向のエッジ又は線と判断し、第２の複数画素の信
号レベル和の比が選択された場合、周辺領域画像形状は
垂直方向のエッジ又は線と判断し、第３の複数画素の信
号レベル和の比が選択された場合、周辺領域画像形状は
右上がり方向のエッジ又は線と判断し、第４の複数画素
の信号レベル和の比が選択された場合、周辺領域画像形
状は右下がり方向のエッジ又は線と判断する手段とを備
えていることを特徴とする請求項10記載の撮像装置。 - 【請求項17】 前記周辺画像形状検出手段は、前記請求
項12記載の周辺画像形状検出手段からなる第１の周辺画
像形状検出手段と、前記請求項16記載の周辺画像形状検
出手段からなる第２の周辺画像形状検出手段とを備え、
前記第１の周辺画像形状検出手段により斜め線形状が検
出された場合にのみ、第２の周辺画像形状検出手段によ
る周辺画像形状検出を行うように構成されていることを
特徴とする請求項10記載の撮像装置。 - 【請求項18】 前記画素欠陥補償手段は、複数の欠陥画
素と同色の選択画素の平均値で欠陥画素を補間するよう
に構成されていることを特徴とする請求項10〜17のいず
れか１項に記載の撮像装置。 - 【請求項19】 前記画素欠陥補償手段により欠陥画素の
補償を行った撮像信号を圧縮し記録媒体に記録する手段
を備えていることを特徴とする請求項１〜18のいずれか
１項に記載の撮像装置。 - 【請求項20】 半導体撮像素子の欠陥画素を該欠陥画素
の周囲の画素で補間する予備欠陥補償手段と、該予備欠
陥補償手段で欠陥画素補償を行った画像信号を圧縮し記
録媒体に記録する手段と、該記録媒体から読み出した画
像信号を伸長し、前記請求項１〜19のいずれか１項に記
載の画素欠陥補償手段により画素欠陥補償を行って再生
する手段とを備えていることを特徴とする撮像装置。
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