JPH11209734A - 液状接合部材 - Google Patents

液状接合部材

Info

Publication number
JPH11209734A
JPH11209734A JP1870698A JP1870698A JPH11209734A JP H11209734 A JPH11209734 A JP H11209734A JP 1870698 A JP1870698 A JP 1870698A JP 1870698 A JP1870698 A JP 1870698A JP H11209734 A JPH11209734 A JP H11209734A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
bis
aminophenoxy
phenyl
propane
formula
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP1870698A
Other languages
English (en)
Inventor
Naoki Hase
直樹 長谷
Hiroyuki Furuya
浩行 古谷
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kanegafuchi Chemical Industry Co Ltd
Original Assignee
Kanegafuchi Chemical Industry Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Kanegafuchi Chemical Industry Co Ltd filed Critical Kanegafuchi Chemical Industry Co Ltd
Priority to JP1870698A priority Critical patent/JPH11209734A/ja
Publication of JPH11209734A publication Critical patent/JPH11209734A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/26Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/31Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
    • H01L2224/32Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
    • H01L2224/321Disposition
    • H01L2224/32151Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/32221Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/32225Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/26Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/31Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
    • H01L2224/32Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
    • H01L2224/321Disposition
    • H01L2224/32151Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/32221Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/32245Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48225Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • H01L2224/48227Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation connecting the wire to a bond pad of the item
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48245Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
    • H01L2224/48247Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a bond pad of the item
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48245Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
    • H01L2224/4826Connecting between the body and an opposite side of the item with respect to the body
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/73Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
    • H01L2224/732Location after the connecting process
    • H01L2224/73201Location after the connecting process on the same surface
    • H01L2224/73215Layer and wire connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/73Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
    • H01L2224/732Location after the connecting process
    • H01L2224/73251Location after the connecting process on different surfaces
    • H01L2224/73265Layer and wire connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/151Die mounting substrate
    • H01L2924/153Connection portion
    • H01L2924/1531Connection portion the connection portion being formed only on the surface of the substrate opposite to the die mounting surface
    • H01L2924/15311Connection portion the connection portion being formed only on the surface of the substrate opposite to the die mounting surface being a ball array, e.g. BGA

Landscapes

  • Adhesives Or Adhesive Processes (AREA)
  • Die Bonding (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 極性溶媒に可溶であり、かつ耐熱性、加工
性、接着性に優れ、しかもガラス転移温度が200℃以
下と吸水率が1.0%以下という液状接合部材を提供す
ること。 【解決手段】 本発明に係る液状接合部材は、一般式
(1) 【化1】 (ただし、式中Rは4価の有機基、nは1〜10の整
数を示す)で表される繰り返し単位を含有し、かつガラ
ス転移温度が200℃以下と吸水率が1%以下のポリイ
ミド重合体を含むものである。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は液状接合部材に関
し、詳しくは、電子部品、電子回路基板等の固定用又は
絶縁用等の耐熱性を要求される液状接合部材に関する。
特には、フレキシブルプリント基板(以下、FPCと略
す。)や半導体素子のダイボンディング用、あるいはL
OC(Lead on Chip)、BGA(Ball Grid Array )、
CSP(ChipSize Package )などの半導体装置の実装
材料として好適に用いることのできる液状接合部材に関
する。
【0002】
【従来の技術】近年、電子機器の高機能化、高性能化、
小型化が進んでおり、それらに伴って用いられる電子部
品に対する小型化、軽量化が求められてきている。その
ため、半導体素子パッケージ方法やそれらを実装する配
線材料又は配線部品も、より高密度、高機能、かつ高性
能なものが求められるようになってきた。特に、LO
C、CSP、BGAといった構造の半導体パッケー
ジ、、MCM(Multi Chip Module )等の高密度実装材
料や多層FPC等のプリント配線材料、さらには、航空
宇宙材料として好適に用いることのできる、良好な接着
特性を示す絶縁接着材料が求められている。
【0003】一般に、電子部品や電子材料に用いられる
絶縁接着材料としては、低温(200℃)で加工でき、
取り扱いが容易であることから、エポキシ系樹脂やアク
リル系樹脂等が用いられることが多く、これらの接着材
料は半導体装置を製造するときに、例えば、エポキシ樹
脂に銀フィラーを分散させた銀ペーストとして、リード
フレームと半導体チップを接着する用途にも用いられて
いる。
【0004】しかし、これらの接合部材は、低温での取
り扱いは容易であるが、高温での耐熱性に劣るという問
題を有している。また、硬化には長時間のキュアを必要
とし、キュア時には低分子量のガスが発生するため、例
えば、リードフレームと半導体チップを接合する用途に
用いた場合、その発生ガスによりチップ表面が汚れ、リ
ードフレームとチップの密着性が悪くなり、製品の歩留
まりが悪くなるという問題も有している。その為、特に
半導体装置を製造するときのような高密度実装材料用途
には、更なる高性能な接合部材が強く要望されている。
【0005】かかる要望に応える接合部材として、高い
耐熱性、機械的強度を有しており、しかも電気特性に優
れるポリイミドは、その優れた特性により有望である。
しかし、一般にポリイミドは閉環状態でほとんど不溶、
不融であり、有機絶縁材料として、FPCやTAB用F
Cテープのベースフィルム等には利用されている。
【0006】近年、ポリイミドであり接合部材として使
用できる例が提案されてきている。無水ピロメリット酸
と通常の芳香族ジアミンとから合成されるポリアミド酸
のようなポリイミド樹脂の前駆体溶液に銀フィラーを混
練してなる銀ペースト組成物が提案されており、これに
よればダイボンディング時の加熱硬化により上記前駆体
が閉環(イミド化)して耐熱性に優れたポリイミド樹脂
を与えるため、半導体装置の高温での電気特性に好結果
がもたらされる。例えば、特開昭60−71662で
は、シロキサンジアミンを用いたシロキサン変性ポリイ
ミド樹脂の前駆体の有機溶剤溶液に銀フィラーを混練さ
せた導電性銀ペースト組成物が開示されている。
【0007】また、特開平2−138789号では、3,
3',4,4'-ベンゾフェノンテトラカルボン酸二無水物と芳
香族ジアミンからなる芳香族ポリイミドとマレイミドと
を混合した樹脂組成物から得られる接着フィルムを用
い、ポリイミドフィルム等の基材と銅箔を接着させるF
PCの製造方法が提案されている。また、特開平5−1
709224号や特開平5−112768号では、種々
の加熱圧着できる熱可塑性ポリイミド接着材料について
提案されている。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、銀フィ
ラーを混練したエポキシ樹脂や、ポリイミド前駆体を用
い、閉環(イミド化)した樹脂では、吸湿率が比較的高
く、エポキシ樹脂で半導体装置を樹脂封止し、ハンダリ
フロー等の240℃程度の熱履歴がかけられた際、接着
剤等が吸湿した水分が膨張し、パッケージクラックを生
じるという問題があった。
【0009】また、上記記載のポリイミド系フィルム状
接合部材は、ポリイミド溶融流動性を改善して接着剤と
しての利用を可能としているものの、接着に高温・長時
間を要し、加工性に問題があった。
【0010】また、フィルム状接合部材は、従来の銀ペ
ーストで利用されてきた接合設備及び工程が利用でき
ず、フィルムを打ち抜き、リードフレームに貼り合せる
といった新たな設備が必要となる。フィルムに関して
も、リール状のラインで流されるため、所定の大きさに
打ち抜く際は、長尺方向でちぎれないように、打ち抜か
れたフィルムに余白があり、これは廃棄処分となる。こ
のように、銀ペーストからフィルム状接着剤に移行する
際に、半導体装置製造のコストアップにつながるという
問題もある。
【0011】[発明の目的]そこで、本発明者らは、上
記問題を解決し、耐熱性、加工性、接着性に優れ、特に
は低い吸水率を示す優れた特性を有する液状接合部材を
提供することを目的に鋭意研究を重ねた結果、本発明に
至ったのである。
【0012】
【課題を解決するための手段】本発明の液状接合部材
は、下記一般式(1)
【化3】 (ただし、式中Rは4価の有機基、nは1〜10の整
数を示す)で表される繰り返し単位を含有し、かつガラ
ス転移温度が200℃以下と吸水率が1%以下のポリイ
ミド重合体を含む液状接合部材である。
【0013】また、上記一般式(1)において、R
下記一般式(2)
【化4】 (ただし、式中Xは2価の有機基を示す)で表される基
から選択される少なくとも1種であることが好適であ
る。
【0014】
【発明の実施の形態】以下、本発明に係る液状接合部材
の製造方法と共に具体的に説明する。
【0015】本発明において用いられるポリエステルイ
ミドは、例えば、次のようにして製造される。
【0016】下記一般式(A)
【化5】 (式中、Rは一般式(1)におけるRと同じ4価の
有機基を示す)で表されるテトラカルボン酸二無水物
と、下記一般式(B)
【化6】 (式中、nは1〜10の整数を示す)で表されるジアミ
ンを原料として得ることができる。
【0017】一般式(A)で表される化合物の最も代表
的な例としては、ピロメリット酸二無水物(以下、PM
DAと略す)、3,3',4,4'-ベンゾフェノンテトラカルボ
ン酸二無水物(以下、BTDAと略す)、3,3',4,4'-ビ
フェニルテトラカルボン酸二無水物(以下、BPDAと
略す)、3,3',4,4'-オキシジフタル酸二無水物(以下、
ODPAと略す)、2,2'- ビス(4-ヒドロキシフェニ
ル)プロパンジベンゾエート-3,3',4,4'- テトラカルボ
ン酸二無水物(以下、ESDAと略す)、3,3',4,4'-エ
チレングリコールジベンゾエートテトラカルボン酸二無
水物(以下、EGDAと略す)、3,3',4,4'-ハイドロキ
ノンジベンゾエートテトラカルボン酸二無水物(以下、
TMHQと略す)が挙げられる。これらは1種または2
種以上を混合して用いることができる。
【0018】一般式(B)で表されるジアミンとして
は、nが1〜10で選ばれる少なくとも1種または、2
種以上を混合して用いることができ、また、その他のジ
アミン類も、本発明の効果が阻害されない程度、混合し
て用いることができる。
【0019】その他のジアミン類としては、p−フェニ
レンジアミン、m−フェニレンジアミン、1,4-ジアミノ
ジフェニル、4,4'- ジアミノジフェニルエーテル、3,3'
- ジアミノジフェニルエーテル、4,4'- ジアミノベンゾ
フェノン、4,4'- ジアミノジフェニルプロパン、4,4'-
ジアミノジフェニルスルフィド、3,4'- ジアミノジフェ
ニルスルフィド、3,3'- ジアミノジフェニルスルフィ
ド、4,4'- ジアミノジフェニルスルホン、3,4'- ジアミ
ノジフェニルスルホン、3,3'- ジアミノジフェニルスル
ホン、4,4'- ジアミノジフェニルアミン、4,4'- ジアミ
ノジフェニル-N-メチルアミン、4,4'- ジアミノジフェ
ニル-N- フェニルアミン、4,4'- ジアミノジフェニルメ
タン、1,2-ビス(2-(4-アミノフェノキシ)エトキシ)
エタン、1,2-ビス(2-(3-アミノフェノキシ)エトキ
シ)エタン、2,2-ビス((4-アミノフェノキシ)メチ
ル)プロパン、2,2-ビス((3-アミノフェノキシ)メチ
ル)プロパン、1,3-ビス(3-アミノフェノキシ)ベンゼ
ン、1,3-ビス(4-アミノフェノキシ)ベンゼン、1,4-ビ
ス(4-アミノフェノキシ)ベンゼン、1,1-ビス(4-(4-
アミノフェノキシ)フェニル)メタン、1,1-ビス(3-メ
チル-4- (4-アミノフェノキシ)フェニル)メタン、1,
1-ビス(3-エチル-4- (4-アミノフェノキシ)フェニ
ル)メタン、1,1-ビス(3-プロピル-4- (4-アミノフェ
ノキシ)フェニル)メタン、1,1-ビス(3-イソプロピル
-4- (4-アミノフェノキシ)フェニル)メタン、1,1-ビ
ス(3-ブチル-4- (4-アミノフェノキシ)フェニル)メ
タン、1,1-ビス(3-sec-ブチル-4- (4-アミノフェノキ
シ)フェニル)メタン、1,1-ビス(3-メトキシ-4- (4-
アミノフェノキシ)フェニル)メタン、1,1-ビス(3-エ
トキシ-4- (4-アミノフェノキシ)フェニル)メタン、
1,1-ビス(3,5-ジメチル-4- (4-アミノフェノキシ)フ
ェニル)メタン、1,1-ビス(3,5-ジメトキシ-4- (4-ア
ミノフェノキシ)フェニル)メタン、1,1-ビス(4-(4-
アミノフェノキシ)フェニル)エタン、1,1-ビス(3-メ
チル-4- (4-アミノフェノキシ)フェニル)エタン、1,
1-ビス(3-エチル-4- (4-アミノフェノキシ)フェニ
ル)エタン、1,1-ビス(3-プロピル-4- (4-アミノフェ
ノキシ)フェニル)エタン、1,1-ビス(3-イソプロピル
-4- (4-アミノフェノキシ)フェニル)エタン、1,1-ビ
ス(3-ブチル-4- (4-アミノフェノキシ)フェニル)エ
タン、1,1-ビス(3-sec-ブチル-4- (4-アミノフェノキ
シ)フェニル)エタン、1,1-ビス(3-メトキシ-4- (4-
アミノフェノキシ)フェニル)エタン、1,1-ビス(3-エ
トキシ-4- (4-アミノフェノキシ)フェニル)エタン、
1,1-ビス(3,5-ジメチル-4- (4-アミノフェノキシ)フ
ェニル)エタン、1,1-ビス(3,5-ジメトキシ-4- (4-ア
ミノフェノキシ)フェニル)エタン、2,2-ビス(4-(4-
アミノフェノキシ)フェニル)プロパン、2,2-ビス(3-
メチル-4- (4-アミノフェノキシ)フェニル)プロパ
ン、2,2-ビス(3-エチル-4- (4-アミノフェノキシ)フ
ェニル)プロパン、2,2-ビス(3-プロピル-4-(4-アミ
ノフェノキシ)フェニル)プロパン、2,2-ビス(3-イソ
プロピル-4- (4-アミノフェノキシ)フェニル)プロパ
ン、2,2-ビス(3-ブチル-4- (4-アミノフェノキシ)フ
ェニル)プロパン、2,2-ビス(3-sec −ブチル-4- (4-
アミノフェノキシ)フェニル)プロパン、2,2-ビス(3-
メトキシ-4- (4-アミノフェノキシ)フェニル)プロパ
ン、2,2-ビス(3-エトキシ-4- (4-アミノフェノキシ)
フェニル)プロパン、2,2-ビス(3,5-ジメチル-4- (4-
アミノフェノキシ)フェニル)プロパン、2,2-ビス(3,
5-ジメトキシ-4- (4-アミノフェノキシ)フェニル)プ
ロパン、1,1-ビス(4-(4-アミノフェノキシ)フェニ
ル)プロパン、1,1-ビス(3-メチル-4- (4-アミノフェ
ノキシ)フェニル)プロパン、1,1-ビス(3-エチル-4-
(4-アミノフェノキシ)フェニル)プロパン、1,1-ビス
(3-プロピル-4- (4-アミノフェノキシ)フェニル)プ
ロパン、1,1-ビス(3-イソプロピル-4-(4-アミノフェ
ノキシ)フェニル)プロパン、1,1-ビス(3-ブチル-4-
(4-アミノフェノキシ)フェニル)プロパン、1,1-ビス
(3-sec −ブチル-4- (4-アミノフェノキシ)フェニ
ル)プロパン、1,1-ビス(3-メトキシ-4- (4-アミノフ
ェノキシ)フェニル)プロパン、1,1-ビス(3-エトキシ
-4- (4-アミノフェノキシ)フェニル)プロパン、1,1-
ビス(3,5-ジメチル-4- (4-アミノフェノキシ)フェニ
ル)プロパン、1,1-ビス(3,5-ジメトキシ-4- (4-アミ
ノフェノキシ)フェニル)プロパン、1,1,1,3,3,3-ヘキ
サフルオロ-2,2- ビス(4-(4-アミノフェノキシ)フェ
ニル)プロパン、1,1,1,3,3,3-ヘキサフルオロ-2,2- ビ
ス(3-メチル-4- (4-アミノフェノキシ)フェニル)プ
ロパン、1,1,1,3,3,3-ヘキサフルオロ-2,2- ビス(3-エ
チル-4- (4-アミノフェノキシ)フェニル)プロパン、
1,1,1,3,3,3-ヘキサフルオロ-2,2- ビス(3-プロピル-4
- (4-アミノフェノキシ)フェニル)プロパン、1,1,1,
3,3,3-ヘキサフルオロ-2,2- ビス(3-イソプロピル-4-
(4-アミノフェノキシ)フェニル)プロパン、1,1,1,3,
3,3-ヘキサフルオロ-2,2-ビス(3-ブチル-4- (4-アミ
ノフェノキシ)フェニル)プロパン、1,1,1,3,3,3-ヘキ
サフルオロ-2,2- ビス(3-sec −ブチル-4- (4-アミノ
フェノキシ)フェニル)プロパン、1,1,1,3,3,3-ヘキサ
フルオロ-2,2- ビス(3-メトキシ-4- (4-アミノフェノ
キシ)フェニル)プロパン、1,1,1,3,3,3-ヘキサフルオ
ロ-2,2- ビス(3-エトキシ-4- (4-アミノフェノキシ)
フェニル)プロパン、1,1,1,3,3,3-ヘキサフルオロ-2,2
- ビス(3,5-ジメチル-4- (4-アミノフェノキシ)フェ
ニル)プロパン、1,1,1,3,3,3-ヘキサフルオロ-2,2- ビ
ス(3,5-ジメトキシ-4- (4-アミノフェノキシ)フェニ
ル)プロパン、2,2-ビス(4-(4-アミノフェノキシ)フ
ェニル)ブタン、2,2-ビス(3-メチル-4- (4-アミノフ
ェノキシ)フェニル)ブタン、2,2-ビス(3-エチル-4-
(4-アミノフェノキシ)フェニル)ブタン、2,2-ビス
(3-プロピル-4- (4-アミノフェノキシ)フェニル)ブ
タン、2,2-ビス(3-イソプロピル-4- (4-アミノフェノ
キシ)フェニル)ブタン、2,2-ビス(3-ブチル-4- (4-
アミノフェノキシ)フェニル)ブタン、2,2-ビス(3-se
c −ブチル-4- (4-アミノフェノキシ)フェニル)ブタ
ン、2,2-ビス(3-メトキシ-4- (4-アミノフェノキシ)
フェニル)ブタン、2,2-ビス(3-エトキシ-4- (4-アミ
ノフェノキシ)フェニル)ブタン、2,2-ビス(3,5-ジメ
チル-4- (4-アミノフェノキシ)フェニル)ブタン、2,
2-ビス(3,5-ジメトキシ-4- (4-アミノフェノキシ)フ
ェニル)ブタン、3,3-ビス(4-(4-アミノフェノキシ)
フェニル)ペンタン、3,3-ビス(3-メチル-4- (4-アミ
ノフェノキシ)フェニル)ペンタン、3,3-ビス(3-エチ
ル-4- (4-アミノフェノキシ)フェニル)ペンタン、3,
3-ビス(3-プロピル-4- (4-アミノフェノキシ)フェニ
ル)ペンタン、3,3-ビス(3-イソプロピル-4- (4-アミ
ノフェノキシ)フェニル)ペンタン、3,3-ビス(3-ブチ
ル-4- (4-アミノフェノキシ)フェニル)ペンタン、3,
3-ビス(3-sec −ブチル-4- (4-アミノフェノキシ)フ
ェニル)ペンタン、3,3-ビス(3-メトキシ-4- (4-アミ
ノフェノキシ)フェニル)ペンタン、3,3-ビス(3-エト
キシ-4- (4-アミノフェノキシ)フェニル)ペンタン、
3,3-ビス(3,5-ジメチル-4- (4-アミノフェノキシ)フ
ェニル)プロパン、3,3-ビス(3,5-ジメトキシ-4- (4-
アミノフェノキシ)フェニル)ペンタン、3,5-ビス(4-
(4-アミノフェノキシ)フェニル)ペンタン、3,5-ビス
(3-メチル-4- (4-アミノフェノキシ)フェニル)ペン
タン、3,5-ビス(3-エチル-4- (4-アミノフェノキシ)
フェニル)ペンタン、3,5-ビス(3-プロピル-4- (4-ア
ミノフェノキシ)フェニル)ペンタン、3,5-ビス(3-イ
ソプロピル-4- (4-アミノフェノキシ)フェニル)ペン
タン、3,5-ビス(3-ブチル-4- (4-アミノフェノキシ)
フェニル)ペンタン、3,5-ビス(3-sec −ブチル-4-
(4-アミノフェノキシ)フェニル)ペンタン、3,5-ビス
(3-メトキシ-4- (4-アミノフェノキシ)フェニル)ペ
ンタン、3,5-ビス(3-エトキシ-4- (4-アミノフェノキ
シ)フェニル)ペンタン、3,5-ビス(3,5-ジメチル-4-
(4-アミノフェノキシ)フェニル)プロパン、3,5-ビス
(3,5-ジメトキシ-4- (4-アミノフェノキシ)フェニ
ル)ペンタン、ビス(4-(4-アミノフェノキシ)フェニ
ル)スルホン、ビス(4-(3-アミノフェノキシ)フェニ
ル)スルホン、ビス(4-(4-アミノフェノキシ)フェニ
ル)エーテル、ビス(3-(4-アミノフェノキシ)フェニ
ル)エーテル、ビス(3-(3-アミノフェノキシ)フェニ
ル)エーテルなどがある。
【0020】また、本発明において脂肪族または脂環式
ジアミンを、本発明の効果を著しく低下させない範囲で
使用してもよい。このようなジアミンとしては、ピペラ
ジン、ヘキサメチレンジアミン、ヘプタメチレンジアミ
ン、テトラメチレンジアミン、p−キシリレンジアミ
ン、m−キシリレンジアミン、3−メチルヘプタメチレ
ンジアミンなどがある。これらのジアミンを単独で用い
ることもできるし、また、共重合させてもよい。
【0021】本発明のポリエステルイミド重合体を得る
ための重合方法としては、極性溶媒中で一般式(C)
【化7】 (ただし、Rは一般式(1)と同じもの、nは1〜1
0の整数を示す)で表されるポリアミド酸誘導体を合
成、単離した後、イミド化して一般式(1)で表される
ポリイミド重合体を得る二段合成法や、極性溶媒中でイ
ミド化まで完結させて、一般式(1)で表されるポリイ
ミド重合体を得る一段合成法を利用できる。
【0022】まず、一段合成法について説明する。上記
一般式(A)で表される酸二無水物1当量に対してジア
ミンを0.8〜1.2当量、好ましくは0.95〜1.
05当量使用し、N,N−ジメチルホルムアミド、N,
N−ジメチルアセトアミド、N−メチル−2−ピロリド
ン等の極性溶媒中で0〜100℃で数十分から数時間反
応させた後、イミド化を行う。イミド化には、(1)5
0〜200℃で数十分から数時間、加熱により反応させ
てイミド化を行う方法と、(2)50〜180℃で、無
水酢酸2〜5当量、ピリジン1〜2当量加えて化学的に
イミド化を促進する方法がある。
【0023】次に、二段合成法について説明する。上記
一般式(A)で表される酸二無水物1当量に対してジア
ミンを0.8〜1.2当量、好ましくは0.95〜1.
05当量使用し、N,N−ジメチルホルムアミド、N,
N−ジメチルアセトアミド、N−メチル−2−ピロリド
ン等の極性溶媒中で0〜100℃、好ましくは0〜60
℃の範囲で反応させることによって、上記一般式(C)
で表されるポリアミド酸誘導体を製造し、従来より用い
られている脱水環化法により、一般式(1)で表される
本発明のポリイミド重合体を製造することができる。脱
水環化法としては(1)重合体を単離した後、150〜
350℃の加熱により環化する方法、(2)溶液状態に
おいて、80〜400℃、好ましくは100〜250℃
で加熱することで環化する方法、この時、ベンゼン、ト
ルエン、キシレンのような水と共沸する溶媒を併用する
のが好ましい。(3)溶液状態で酢酸、プロピオン酸、
酪酸、安息香酸等の酸無水物のような化学的脱水剤によ
り環化する方法がある。この時、環化反応を促進する物
質としてピリジン、キノリン、ピコリン等を併用するこ
とが好ましい。中でも、β−ピコリンは、他のアミン類
に比べイミド化をより促進させ、かつ比較的沸点が低い
ことから、ポリイミド樹脂を製造する際にバランスのよ
いアミン類であり、特に好ましい。
【0024】高分子量のポリイミド重合体を得るには、
酸二無水物をジアミンを上記範囲内で配合するのが好ま
しく、この範囲を外れると低分子量のものしか得られな
い傾向にある。
【0025】本発明のポリエステルイミド重合体を得る
方法は、上記のようにして得られた反応液を低級アルコ
ール、水等の上記極性溶媒と相溶性であり、かつ樹脂に
対して貧溶媒である溶媒を大過剰に注いで沈殿物を得
て、濾過、乾燥し、粉砕して粉体を得る。
【0026】さらにこれを、液状接合部材として利用す
るためには、N,N−ジメチルホルムアミド、N,N−
ジメチルアセトアミド、N−メチル−2−ピロリドン等
の極性溶媒中に上記粉体を溶解させればよい。
【0027】この接合部材に熱伝導性が必要な場合、樹
脂に対して0〜80重量%のAg、Au、Al、Cu、
Ni、C、SiC、SiO、MgO、BN、Al
、BaSO、ZrO等の熱伝導性フィラーを混入
することができる。フィラーが80重量%を超えると接
着性が低下する。また、導電性が必要な場合、樹脂に対
して50〜80重量%のAg、Au、Al、Cu、N
i、C等の金属フィラーを使用することができる。フィ
ラーが50重量%より少ないと導電性付与効果が小さ
く、80重量%を超えると接着性が低下する。
【0028】本発明の液状接合部材を用いて半導体装置
における支持部材に半導体素子を接合するには、以下の
ような方法がある。(1)支持部材に上記液状接合部材
をディスペンスし、この上に半導体素子を載置して加熱
処理をする。(2)上記液状接合部材の浴に支持部材の
接着面を漬け、その上に半導体素子を載置して加熱処理
をする。(3)半導体素子の接合面に、上記液状接合部
材をディスペンスし、この上に支持部材を載置して加熱
処理をする。(4)上記液状接合部材の浴に半導体素子
の接着面を漬け、その上に支持部材を載置して加熱処理
をする。
【0029】このような接着加工の後、支持部材と半導
体素子の電気的接合をはかる目的で、ワイヤボンディン
グが施され、エポキシ樹脂等の樹脂封止やガラス封止、
セラミック封止等で封止される。
【0030】このようにして得られた半導体装置を図1
から図3に示す。図1から図3は樹脂封止型半導体装置
の断面図であり、図1は、支持部材(リードフレーム)
3に、接合部材2を介して半導体素子1が接合されてお
り、半導体素子1と外部リード線6はボンディングワイ
ヤ4によってワイヤーボンディングされている。半導体
装置全体はエポキシ樹脂5で封止されている。図2は、
半導体素子1の上に接合部材2を介して外部リード線を
兼ねた支持部材3が接合されており、半導体素子1と支
持部材3はボンディングワイヤ4によってワイヤーボン
ディングされている。半導体装置全体はエポキシ樹脂5
で封止されている。図3は、回路パターンを施工したセ
ラミック、プラスチック、金属等の支持部材3の上に、
接合部材2を介して半導体素子1が接合されており、支
持部材3の回路パターン電極にボンディングワイヤ4に
よって半導体素子1が接合されている。この支持部材3
は、基板積層技術等によって厚み方向に電気的導通があ
り、半導体素子1の電極はボンディングワイヤ4を通し
て外部のハンダボール7に電気的に通じている。半導体
装置全体はエポキシ樹脂5で封止されている。
【0031】
【実施例】次に、本発明の実施例をより具体的に説明す
るが、本発明はこれら実施例のみによって限定されるも
のではない。
【0032】実施例1 氷浴中において、撹拌機を備えた500ml三口セパラ
ブルフラスコに1,2-ビス(2-(4-アミノフェノキシ)エ
トキシ)エタン(以下、DA3EGと略す)16.5g
(49.6mmol)とN,N-ジメチルホルムアミド(以
下、DMFと略す。)239.6gを入れ、窒素雰囲気
下で撹拌し十分溶かした。次に、2,2'-ビス(4−ヒド
ロキシフェニル)プロパンジベンゾエート-3,3',4,4'-
テトラカルボン酸二無水物(ESDA)27.9g(4
8.6mmol)を投入し、10gのDMFでセパラブ
ルフラスコの壁面を洗浄した。約1時間撹拌しながら放
置した後、あらかじめ0.6gのESDAを5.4gの
DMFに溶かした溶液を、フラスコ中のワニス粘度に注
意しながらフラスコ中に徐々に投入した。粘度が200
0ポイズに達した後、ESDA溶液の投入を終了し、ポ
リアミド酸溶液を得た。
【0033】ポリアミド酸の溶液状態で、イミド化を行
うため、室温でポリアミド酸溶液中に、無水酢酸10
g、ピリジン10g、DMF100gを入れ、数十分か
ら数時間撹拌し、イミド化を行った。
【0034】得られたポリエステルイミド重合体溶液を
200g取り分け、2リットルのメタノール中に滴下
し、濾別してポリイミド重合体を得た。さらに、真空オ
ーブン100℃で、1日間真空乾燥し、粉体を得た。
【0035】得られたポリエステルイミド重合粉体10
gを90gのN−メチル−2−ピロリドン(以下、NM
Pと略す)、DMF、N,N-ジメチルアセトアミド(以
下、DMAcと略す)に10重量%の濃度で溶解した。
さらに、得られた可溶性ポリイミド樹脂について、吸水
率とガラス転移温度を測定した。以下に、その測定方法
を示す。
【0036】可溶性ポリイミド樹脂の固形分濃度が10
%のNMP溶液をガラス板上に、アプリケーターで0.
3mmの厚みに塗布後、熱風オーブンを用い、100
℃、150℃で5分間乾燥させた後、ガラス基板から剥
がし、得られた半乾燥状態のポリイミドフィルムの両端
部を固定し、さらに200℃、250℃で5分間乾燥さ
せ、30μm厚のポリイミドフィルムを得た。このよう
にして得られたポリイミドフィルムの吸水率をASTM
D−570に従い測定した。また、ガラス転移温度
は、得られたフィルムをDMS(動的粘弾性測定器、セ
イコー電子社製)により測定した。
【0037】得られた液状接合部材の接着性の評価は、
10×20mmの大きさの支持部材(42アロイ板)の
上に、アプリケーターで0.3mmの厚みに塗布後、1
00、150、200、250℃で5分間オーブンで焼
成し、30μmの塗布膜を得た。このようにして作製し
た、接合部材付き支持部材(42アロイ板)の上に、2
×2mmの半導体素子を載置して、300℃、2MPa
の圧力で2秒間プレスした。得られた半導体素子が接合
された支持部材のシェア強度を、シェア強度測定器を用
いて、テストスピード5mm/minで測定を行った。
【0038】また、ダミーのリードフレーム上に上記と
同様の条件で半導体素子を接合し、ビフェニル系のエポ
キシ樹脂を用いて封止した。そのダミーの半導体装置
を、85℃/85%の環境下で168時間放置した後、
室温から徐々に昇温し、最高温度245℃で約10秒間
加熱されるように、IRリフロー炉に通した。その後、
サンプルをX線透過装置(Ultra−X125)を用
いて非破壊検査を行い、半導体装置のパッケージクラッ
クの有無を確認した。その結果を表2に示す。
【0039】実施例2〜11 表1の原料を使用して、実施例1と同様に液状接合部材
を得、評価を行った。その結果を表2に示す。
【0040】比較例1〜5 表1の原料を使用して、実施例1と同様にポリイミド重
合体の粉体を得た。その評価結果を表2に示す。
【0041】
【表1】 ESDA;2,2'- ビス(4-ヒドロキシフェニル)プロパ
ンジベンゾエート-3,3',4,4'- テトラカルボン酸二無水
物 EGDA;3,3',4,4'-エチレングリコールベンゾエート
テトラカルボン酸二無水物 TMHQ;3,3',4,4'-ハイドロキノンジベンゾエートテ
トラカルボン酸二無水物 BPDA;3,3',4,4'-ビフェニルテトラカルボン酸二無
水物 ODPA;3,3',4,4'-オキシジフタル酸二無水物 BTDA;3,3',4,4'-ベンゾフェノンテトラカルボン酸
二無水物 DSDA;3,3',4,4'-ジフェニルスルホンテトラカルボ
ン酸二無水物 ODA;オキシジアニリン BAPP;2,2-ビス(4-アミノフェノキシ)フェニルプ
ロパン BAPS;ビス(4-(4-アミノフェノキシ)フェニル)
スルホン DA2EG;前記した[化6]におけるnが2のもの DA3EG;前記した[化6]におけるnが3のもの DA4EG;前記した[化6]におけるnが4のもの DA5EG;前記した[化6]におけるnが5のもの DA6EG;前記した[化6]におけるnが6のもの。
【0042】
【表2】
【0043】
【発明の効果】以上のように、本発明に係る液状接合部
材は、NMP等の極性溶媒への溶解性がよく、接着性に
も優れ、しかも、ガラス転移温度が200℃以下であり
吸水率が1.0%以下という低い値を有している。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例を示す液状接合部材を使用し
た半導体装置である。
【図2】他の実施例を示す液状接合部材を使用した半導
体装置である。
【図3】さらに他の実施例を示す液状接合部材を使用し
た半導体装置である。
【符号の説明】
1;半導体素子 2;接合部材 3;支持部材 4;ボンディングワイヤ 5;エポキシ封止樹脂 6;外部リード線 7;ハンダボール

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】下記一般式(1) 【化1】 (ただし、式中Rは4価の有機基、nは1〜10の整
    数を示す)で表される繰り返し単位を含有し、かつガラ
    ス転移温度が200℃以下、吸水率が1%以下のポリイ
    ミド重合体を含む液状接合部材。
  2. 【請求項2】前記一般式(1)において、Rが、下記
    一般式(2) 【化2】 (ただし、式中Xは2価の有機基である)で表される基
    から選択される少なくとも1種である請求項1記載の液
    状接合部材。
JP1870698A 1998-01-30 1998-01-30 液状接合部材 Pending JPH11209734A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1870698A JPH11209734A (ja) 1998-01-30 1998-01-30 液状接合部材

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1870698A JPH11209734A (ja) 1998-01-30 1998-01-30 液状接合部材

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH11209734A true JPH11209734A (ja) 1999-08-03

Family

ID=11979102

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1870698A Pending JPH11209734A (ja) 1998-01-30 1998-01-30 液状接合部材

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH11209734A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005157346A (ja) * 2003-11-05 2005-06-16 Chisso Corp 液晶配向剤およびそれを用いた液晶表示素子
JP2005154436A (ja) * 2003-11-05 2005-06-16 Chisso Corp 新規ジアミンおよびそれを原料とするポリマー
JP2007277384A (ja) * 2006-04-06 2007-10-25 Sumitomo Metal Mining Co Ltd 導電性接着剤

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005157346A (ja) * 2003-11-05 2005-06-16 Chisso Corp 液晶配向剤およびそれを用いた液晶表示素子
JP2005154436A (ja) * 2003-11-05 2005-06-16 Chisso Corp 新規ジアミンおよびそれを原料とするポリマー
JP4665487B2 (ja) * 2003-11-05 2011-04-06 チッソ株式会社 新規ジアミンおよびそれを原料とするポリマー
JP2007277384A (ja) * 2006-04-06 2007-10-25 Sumitomo Metal Mining Co Ltd 導電性接着剤

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6320019B1 (en) Method for the preparation of polyamic acid and polyimide
EP1448669B1 (en) Adhesive composition comprising a polyimide copolymer and method for preparing the same
JP3751054B2 (ja) 電子部品用接着剤
CN108138013A (zh) 临时粘合用层叠体膜、使用临时粘合用层叠体膜的基板加工体及层叠基板加工体的制造方法、以及使用它们的半导体器件的制造方法
JPH091723A (ja) 耐熱性ボンディングシート
JP2007008977A (ja) 樹脂溶液組成物、ポリイミド樹脂、及び半導体装置
JP3055388B2 (ja) 接着フィルム
JP2005042091A (ja) 電気絶縁材料用ポリイミド樹脂
JP2003213130A (ja) ポリイミド樹脂組成物及び耐熱接着剤
JP2002012845A (ja) 接着フィルム及び半導体装置
JPH11209734A (ja) 液状接合部材
JP3707879B2 (ja) ポリイミド樹脂組成物およびフィルム接着剤とその製造方法
JP2000080178A (ja) 共重合ポリイミドフィルム、その製造方法およびこれを基材とした金属配線板
JP4013092B2 (ja) 接着フィルム
US6252033B1 (en) Method for the preparation of polyamic acid and polymide useful for adhesives
JPH1150037A (ja) 液状接合部材
JP3093062B2 (ja) フィルム接着剤およびその製造方法
JPH1192744A (ja) 接着フィルム
JP3526130B2 (ja) 耐熱性の改良されたフィルム接着剤とその製造方法
JPH06172736A (ja) フィルム接着剤およびその製造方法
JP2002060488A (ja) ポリアミド酸及びポリイミドの製造方法、並びにこれらを用いて得られた接着テープ
JP3594269B2 (ja) 耐熱性の改良されたフィルム接着剤とその製造方法
JPH1036507A (ja) ポリイミド樹脂及び接着剤用樹脂ワニス
JPH11228693A (ja) ポリイミド樹脂溶液とその製造方法
JPH06172737A (ja) フィルム接着剤およびその製造方法