JPH11201989A - 電気検査用コンタクトプローブ及び検査システム - Google Patents
電気検査用コンタクトプローブ及び検査システムInfo
- Publication number
- JPH11201989A JPH11201989A JP10020173A JP2017398A JPH11201989A JP H11201989 A JPH11201989 A JP H11201989A JP 10020173 A JP10020173 A JP 10020173A JP 2017398 A JP2017398 A JP 2017398A JP H11201989 A JPH11201989 A JP H11201989A
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- JP
- Japan
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- contact probe
- contact
- electrodes
- pitch
- conductor
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Abstract
(57)【要約】 （修正有）
【課題】 位置合わせの自由度を向上し、試験装置への
結線パターンを変化させることができるようにし、自動
化もできるようにする。 【解決手段】 同一面上に一定のピッチで配置された複
数の電極を備えた電子機器やフレキシブルフラットケー
ブルの電気検査を行なうのに、この被検物に試験装置を
接続するために用いられる試験装置側リード線の端子の
コンタクトプローブ１の電極６を、被検物側の電極ピッ
チの整数分の１あるいは複数種類の異なる端子の電極ピ
ッチの最小公倍数分の１になるよう形成して電極数を多
くし、被検物側の個々の各電極に試験装置側のコンタク
トプローブのそれぞれ複数の電極が接触できるように電
極８を設けたコンタクトプローブとする。そして試験装
置側のリード線に制御部を設けて、スキャンニングによ
るリレーの切替えによって試験装置への結線パターンを
変えることができるようにする。
結線パターンを変化させることができるようにし、自動
化もできるようにする。 【解決手段】 同一面上に一定のピッチで配置された複
数の電極を備えた電子機器やフレキシブルフラットケー
ブルの電気検査を行なうのに、この被検物に試験装置を
接続するために用いられる試験装置側リード線の端子の
コンタクトプローブ１の電極６を、被検物側の電極ピッ
チの整数分の１あるいは複数種類の異なる端子の電極ピ
ッチの最小公倍数分の１になるよう形成して電極数を多
くし、被検物側の個々の各電極に試験装置側のコンタク
トプローブのそれぞれ複数の電極が接触できるように電
極８を設けたコンタクトプローブとする。そして試験装
置側のリード線に制御部を設けて、スキャンニングによ
るリレーの切替えによって試験装置への結線パターンを
変えることができるようにする。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、電子機器等の電気
検査を行なうに際し、電子機器の端子と、試験装置のリ
ード線の端子とを連結して電子機器と試験装置とを電気
的に接続するためにリード線の端子に用いられる検査用
コンタクトプローブ及びこれを用いる検査システムに関
するものである。
検査を行なうに際し、電子機器の端子と、試験装置のリ
ード線の端子とを連結して電子機器と試験装置とを電気
的に接続するためにリード線の端子に用いられる検査用
コンタクトプローブ及びこれを用いる検査システムに関
するものである。
【０００２】
【従来の技術】複数の平行導体から構成されるフレキシ
ブルフラットケーブル（以下ＦＦＣと称す）や各種の電
子機器の電気検査を行なうに際して、以下ＦＦＣを例と
して説明するが通常はＦＦＣの端末には各導体端部に電
極を裸出した端子が装着されているが、試験装置のリー
ド線の端末にも同様に端子が装着されていて、双方の端
子を結合させることによりＦＦＣに試験装置が電気的に
接続され、試験装置の操作によりＦＦＣの諸特性の試験
が行なわれる。この際、双方の端子の結合を容易にする
ようにリード線側の端子にコンタクトプローブが組み込
まれている。
ブルフラットケーブル（以下ＦＦＣと称す）や各種の電
子機器の電気検査を行なうに際して、以下ＦＦＣを例と
して説明するが通常はＦＦＣの端末には各導体端部に電
極を裸出した端子が装着されているが、試験装置のリー
ド線の端末にも同様に端子が装着されていて、双方の端
子を結合させることによりＦＦＣに試験装置が電気的に
接続され、試験装置の操作によりＦＦＣの諸特性の試験
が行なわれる。この際、双方の端子の結合を容易にする
ようにリード線側の端子にコンタクトプローブが組み込
まれている。
【０００３】液晶表示基板等の回路を電気的に接続する
コンタクトプローブには、従来スプリングプローブとニ
ードル型プローブとがある。近年ＦＦＣの細ピッチ化す
なわち導体回路ひいては端子の電極間の間隔が狭められ
ているに従い上記のような従来のコンタクトプローブで
は対応がむずかしくなってきた。我々はコンタクトプロ
ーブにフレキシブルプリント配線板（以下ＦＰＣと称
す）を用いることにし配線が比較的大ピッチで配置され
た通常部と、配線が小ピッチで配置されたファインピッ
チ部とからなり、ファインピッチ部を折り返しにＵ字状
に折り曲げてゴム弾性部材上に取りつけた構成のものを
提案している。（特願平８−２６００３１号参照）。こ
れはＦＰＣの銅箔をレーザー光加工によって細ピッチ化
された電極が構成されており、この細ピッチ化された電
極は被検物であるＦＦＣの端子の電極と１対１で相対応
するようＦＦＣの端子に合わせて構成されている。ま
た、所定の弾力性を有する弾性体の側面に所定の間隔で
その一部を巻回するように配列され、かつ弾性を有する
複数のワイヤを設け、この複数のワイヤの外周面で被検
査体とコンタクトをとるようにしたものを提案してい
る。（特願平８−４４８６７号参照）。しかしいずれも
細ピッチフレキシブルプリント回路を支持体にＵ字状に
巻き掛けて作成してなるコンタクトプローブであって、
精度の点では良いとしても、位置合わせや相手の電子装
置の端子のピッチとの関係を考慮する必要があり、高能
率で検査できるものではなっかった。
コンタクトプローブには、従来スプリングプローブとニ
ードル型プローブとがある。近年ＦＦＣの細ピッチ化す
なわち導体回路ひいては端子の電極間の間隔が狭められ
ているに従い上記のような従来のコンタクトプローブで
は対応がむずかしくなってきた。我々はコンタクトプロ
ーブにフレキシブルプリント配線板（以下ＦＰＣと称
す）を用いることにし配線が比較的大ピッチで配置され
た通常部と、配線が小ピッチで配置されたファインピッ
チ部とからなり、ファインピッチ部を折り返しにＵ字状
に折り曲げてゴム弾性部材上に取りつけた構成のものを
提案している。（特願平８−２６００３１号参照）。こ
れはＦＰＣの銅箔をレーザー光加工によって細ピッチ化
された電極が構成されており、この細ピッチ化された電
極は被検物であるＦＦＣの端子の電極と１対１で相対応
するようＦＦＣの端子に合わせて構成されている。ま
た、所定の弾力性を有する弾性体の側面に所定の間隔で
その一部を巻回するように配列され、かつ弾性を有する
複数のワイヤを設け、この複数のワイヤの外周面で被検
査体とコンタクトをとるようにしたものを提案してい
る。（特願平８−４４８６７号参照）。しかしいずれも
細ピッチフレキシブルプリント回路を支持体にＵ字状に
巻き掛けて作成してなるコンタクトプローブであって、
精度の点では良いとしても、位置合わせや相手の電子装
置の端子のピッチとの関係を考慮する必要があり、高能
率で検査できるものではなっかった。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】従来一般に用いられて
いたスプリングプローブやニードル型プローブのコンタ
クトプローブは細ピッチ化が困難であり、プローブの先
端形状が針状または棒状であることから双方端子の電極
間の接触面積が小さく接触抵抗が大きくなって測定精度
が悪くなり、また接触圧を強くすると接触面を損傷する
おそれもあった。また、前記の如くレーザー光加工によ
るＦＰＣを利用するコンタクトプローブは細ピッチ化は
可能となるが双方の電極が面接触するものではあるが、
双方の電極が必ずしも正確に十分な接触をさせることは
多少の不安があり、双方電極間の対応にずれが生じると
測定誤差を生ずるおそれがある。更に双方の電極面を対
応させるためにコンタクトプローブの電極の数やピッチ
をＦＦＣのそれに合致させねばならないのでＦＦＣの種
類に対応した数のコンタクトプローブを準備しなければ
ならず、多種類保有しておかねばならなかったり、ある
いは新規に作製しなければならないという難点がある。
いたスプリングプローブやニードル型プローブのコンタ
クトプローブは細ピッチ化が困難であり、プローブの先
端形状が針状または棒状であることから双方端子の電極
間の接触面積が小さく接触抵抗が大きくなって測定精度
が悪くなり、また接触圧を強くすると接触面を損傷する
おそれもあった。また、前記の如くレーザー光加工によ
るＦＰＣを利用するコンタクトプローブは細ピッチ化は
可能となるが双方の電極が面接触するものではあるが、
双方の電極が必ずしも正確に十分な接触をさせることは
多少の不安があり、双方電極間の対応にずれが生じると
測定誤差を生ずるおそれがある。更に双方の電極面を対
応させるためにコンタクトプローブの電極の数やピッチ
をＦＦＣのそれに合致させねばならないのでＦＦＣの種
類に対応した数のコンタクトプローブを準備しなければ
ならず、多種類保有しておかねばならなかったり、ある
いは新規に作製しなければならないという難点がある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記の如き課
題を解決するためになされたものであり複数の導体から
なるＦＦＣの電気検査に際し、該ケーブルの端子と試験
装置のリード線の端子とを接触させてケーブルに試験装
置を電気的に接続するのに用いられる前記リード線の端
子の先端に設けられたコンタクトプローブにおいて、該
コンタクトプローブにＦＰＣを用いて導体接触子の電極
面を小さくして被検物であるＦＦＣの端子の各電極間の
ピッチよりも一定の割合の小さいピッチにして、被検物
であるＦＦＣの端子の各導体電極面に対して、それぞれ
複数本の導体接触子の電極面が電気的に接触するよう導
体接触子が配置されたコンタクトプローブであり、特
に、弾力性を有する保持体の側周に、細ピッチフレキシ
ブルプリント回路をＵ字状に巻き掛けて作成してなるコ
ンタクトプローブであって、該フレキシブルプリント回
路の導体端子ピッチを被測定物である電子機器の導体端
子ピッチの整数分の１あるいは最小公倍数分の１になる
ようにし、フレキシブルプリント回路の導体端子１本に
対して被測定物である電子機器の導体端子が数本接触す
るように構成されていることを特徴とする電気検査用コ
ンタクトプローブを提供するものである。
題を解決するためになされたものであり複数の導体から
なるＦＦＣの電気検査に際し、該ケーブルの端子と試験
装置のリード線の端子とを接触させてケーブルに試験装
置を電気的に接続するのに用いられる前記リード線の端
子の先端に設けられたコンタクトプローブにおいて、該
コンタクトプローブにＦＰＣを用いて導体接触子の電極
面を小さくして被検物であるＦＦＣの端子の各電極間の
ピッチよりも一定の割合の小さいピッチにして、被検物
であるＦＦＣの端子の各導体電極面に対して、それぞれ
複数本の導体接触子の電極面が電気的に接触するよう導
体接触子が配置されたコンタクトプローブであり、特
に、弾力性を有する保持体の側周に、細ピッチフレキシ
ブルプリント回路をＵ字状に巻き掛けて作成してなるコ
ンタクトプローブであって、該フレキシブルプリント回
路の導体端子ピッチを被測定物である電子機器の導体端
子ピッチの整数分の１あるいは最小公倍数分の１になる
ようにし、フレキシブルプリント回路の導体端子１本に
対して被測定物である電子機器の導体端子が数本接触す
るように構成されていることを特徴とする電気検査用コ
ンタクトプローブを提供するものである。
【０００６】また、前記した電気検査用コンタクトプロ
ーブが装着された試験装置を用いて電子機器の電気検査
をするに際して、前記コンタクトプローブのフレキシブ
ルプリント回路の導体と被測定物である電子機器の間に
制御部を設け、該制御部におけるスキャンニング操作に
よるリレー切り替えによって、前記電子機器の各電極と
前記コンタクトプローブの各複数の電極とが所要の対応
をなして電子機器の電極が試験装置に電気的に正しく接
続されるよう制御部が用いられていることを特徴とする
検査システムを提供するものである。
ーブが装着された試験装置を用いて電子機器の電気検査
をするに際して、前記コンタクトプローブのフレキシブ
ルプリント回路の導体と被測定物である電子機器の間に
制御部を設け、該制御部におけるスキャンニング操作に
よるリレー切り替えによって、前記電子機器の各電極と
前記コンタクトプローブの各複数の電極とが所要の対応
をなして電子機器の電極が試験装置に電気的に正しく接
続されるよう制御部が用いられていることを特徴とする
検査システムを提供するものである。
【０００７】
【発明の実施の形態】図１は、本発明によるコンタクト
プローブの先端接触部をＦＦＣの端子に対応させて示し
た概念図である。図２は図１における一部分を更に拡大
して示した説明図である。図３の（ｂ）はコンタクトプ
ローブの概要斜視図、（ａ）はその側面図である。これ
らの図において、１はコンタクトプローブであり、その
導体接触部はＦＰＣ２により構成されており、このＦＰ
Ｃ２は細ピッチフレキシブルプリント回路であり、導体
接触子８の先端の電極６の配列ピッチＰ1 は小さく形成
されている幅の狭くなったファインピッチ部となってい
る。なお、３は支持体、４は弾性ゴム部材で５はその凸
部である。６は電極であり、７は電極のベースすなわち
中間部材である。コンタクトプローブの先端の電極６の
配列ピッチＰ1 は被検物であるＦＦＣの端子２１の電極
２２の配列ピッチＰ2 の整数分の１、あるいは種々のＦ
ＦＣの端子２１の電極２２の配列ピッチＰ2 の最小公倍
数分の１になるように形成する。
プローブの先端接触部をＦＦＣの端子に対応させて示し
た概念図である。図２は図１における一部分を更に拡大
して示した説明図である。図３の（ｂ）はコンタクトプ
ローブの概要斜視図、（ａ）はその側面図である。これ
らの図において、１はコンタクトプローブであり、その
導体接触部はＦＰＣ２により構成されており、このＦＰ
Ｃ２は細ピッチフレキシブルプリント回路であり、導体
接触子８の先端の電極６の配列ピッチＰ1 は小さく形成
されている幅の狭くなったファインピッチ部となってい
る。なお、３は支持体、４は弾性ゴム部材で５はその凸
部である。６は電極であり、７は電極のベースすなわち
中間部材である。コンタクトプローブの先端の電極６の
配列ピッチＰ1 は被検物であるＦＦＣの端子２１の電極
２２の配列ピッチＰ2 の整数分の１、あるいは種々のＦ
ＦＣの端子２１の電極２２の配列ピッチＰ2 の最小公倍
数分の１になるように形成する。
【０００８】このような構成とすることによりＦＦＣ側
の各電極２２に対してコンタクトプローブ側の電極６が
多数本接触することになる。従って多少正規の位置より
接触位置がずれたとしても数本の導体のうちいくつかが
接触していればよいので、特に位置合わせする必要がな
くなり、かつ一つのコンタクトプローブで、種々の導体
ピッチ、芯数に対応することができ、従来のような厳密
な位置合わせは不要となり、これにより導通試験、絶縁
抵抗測定などの電気検査が極めて容易に実施することが
できる。更に、プローブ先端の電極の接触面には銅箔に
金めっきを施すことにより接触抵抗をより小さくするこ
とができ、更に金めっきの下にニッケルめっきを施して
おくと繰返しの使用にも耐えられるよう機械的強度が大
となる。また、コンタクトプローブの導体端子の裏面
に、ゴムを貼付けることにより接触抵抗、接触圧を調整
低減できるので、導体を傷付けるおそれもない。なお、
図では大ピッチ部と細ピッチ部とを有するフレキシブル
プリント回路の細ピッチ部を接続側とした場合を示した
が、全体が細ピッチのフレキシブルプリント回路の場合
にも当然適用されるものである。
の各電極２２に対してコンタクトプローブ側の電極６が
多数本接触することになる。従って多少正規の位置より
接触位置がずれたとしても数本の導体のうちいくつかが
接触していればよいので、特に位置合わせする必要がな
くなり、かつ一つのコンタクトプローブで、種々の導体
ピッチ、芯数に対応することができ、従来のような厳密
な位置合わせは不要となり、これにより導通試験、絶縁
抵抗測定などの電気検査が極めて容易に実施することが
できる。更に、プローブ先端の電極の接触面には銅箔に
金めっきを施すことにより接触抵抗をより小さくするこ
とができ、更に金めっきの下にニッケルめっきを施して
おくと繰返しの使用にも耐えられるよう機械的強度が大
となる。また、コンタクトプローブの導体端子の裏面
に、ゴムを貼付けることにより接触抵抗、接触圧を調整
低減できるので、導体を傷付けるおそれもない。なお、
図では大ピッチ部と細ピッチ部とを有するフレキシブル
プリント回路の細ピッチ部を接続側とした場合を示した
が、全体が細ピッチのフレキシブルプリント回路の場合
にも当然適用されるものである。
【０００９】ＦＦＣ側電極にコンタクトプローブ側の電
極が複数接触するので、ＦＦＣ側電極即ちＦＦＣの各導
体と試験装置の端子とが所要どおり電気的に接続される
必要がある。その電極選択のために図４に概要図で示す
ように制御部３１をリード線端子のコンタクトプローブ
１と試験装置３２との中間に設置し、制御部１１内にお
けるスキャンニング操作によるリレー切替えによってＦ
ＦＣ導体と試験装置とを対応させる。
極が複数接触するので、ＦＦＣ側電極即ちＦＦＣの各導
体と試験装置の端子とが所要どおり電気的に接続される
必要がある。その電極選択のために図４に概要図で示す
ように制御部３１をリード線端子のコンタクトプローブ
１と試験装置３２との中間に設置し、制御部１１内にお
けるスキャンニング操作によるリレー切替えによってＦ
ＦＣ導体と試験装置とを対応させる。
【００１０】以上はＦＦＣの電気検査用のコンタクトプ
ローブとして説明したが、ノートパソコン、ビデオカメ
ラ、ＬＣＤモジュール、メンブレンスイッチその他コン
タクトプローブを接触接続させることのできる端子を有
する電子機器にはすべて適用できる。
ローブとして説明したが、ノートパソコン、ビデオカメ
ラ、ＬＣＤモジュール、メンブレンスイッチその他コン
タクトプローブを接触接続させることのできる端子を有
する電子機器にはすべて適用できる。
【００１１】
【発明の効果】本発明の電気検査用コンタクトプローブ
は、被検物の電極の配列ピッチより小さな該ピッチの整
数分の１あるいは各種電子機器端子の最小公倍数分の１
になるよう形成して、被検物の電極１個に対して、数本
の導体接触子の電極が接触するよう形成されているので
接触の位置合わせの自由度が向上し、更に、配列ピッチ
が異なったり電極数が異なったりする数多くのＦＦＣや
電子機器に共用できるので数少ないコンタクトプローブ
を準備しておけばよく効率良い検査ができる。また制御
部を設けることによって試験装置への結線パターンを変
化させることができるので本発明のコンタクトプローブ
の利用が極めて容易となる。更に本発明のコンタクトプ
ローブ及び検査システムを用いることによって双方の電
極を接触連結するだけで被検物の電気検査の自動化も容
易に考えられる。
は、被検物の電極の配列ピッチより小さな該ピッチの整
数分の１あるいは各種電子機器端子の最小公倍数分の１
になるよう形成して、被検物の電極１個に対して、数本
の導体接触子の電極が接触するよう形成されているので
接触の位置合わせの自由度が向上し、更に、配列ピッチ
が異なったり電極数が異なったりする数多くのＦＦＣや
電子機器に共用できるので数少ないコンタクトプローブ
を準備しておけばよく効率良い検査ができる。また制御
部を設けることによって試験装置への結線パターンを変
化させることができるので本発明のコンタクトプローブ
の利用が極めて容易となる。更に本発明のコンタクトプ
ローブ及び検査システムを用いることによって双方の電
極を接触連結するだけで被検物の電気検査の自動化も容
易に考えられる。
【図１】本発明による検査用コンタクトプローブの先端
接触部をＦＦＣの端子に対応させて示した説明のための
概念図である。
接触部をＦＦＣの端子に対応させて示した説明のための
概念図である。
【図２】図１における一部分を更に拡大した説明図であ
る。
る。
【図３】本発明による検査用コンタクトプローブの実施
例の概略図であり、（ａ）は側面図、（ｂ）は斜視図で
ある。
例の概略図であり、（ａ）は側面図、（ｂ）は斜視図で
ある。
【図４】本発明のコンタクトプローブに制御部を用いて
電気検査する検査システムの概略説明図である。
電気検査する検査システムの概略説明図である。
１ コンタクトプローブ ２ フレキシブルプリント配線板（ＦＰＣ） ３ 支持体 ４ 弾性ゴム部材 ５ 凸部 ６ コンタクトプローブの導体接触子の電極 ７ 中間部材 ８ コンタクトプローブの導体接触子 １１ 制御部 ２１ ＦＦＣの端子 ２２ 電気機器（ＦＦＣを含む）の電極 ３１ 制御部 ３２ 試験装置 Ｐ1 電極６の配列ピッチ Ｐ2 電極２２の配列ピッチ
Claims (4)
- 【請求項１】 弾力性を有する保持体の側周に、細ピッ
チフレキシブルプリント回路をＵ字状に巻き掛けて作成
してなるコンタクトプローブであって、該フレキシブル
プリント回路の導体端子ピッチを被測定物である電子機
器の導体端子ピッチの整数分の１あるいは最小公倍数分
の１になるようにし、フレキシブルプリント回路の導体
端子１本に対して被測定物である電子機器の導体端子が
数本接触するように構成されていることを特徴とする電
気検査用コンタクトプローブ。 - 【請求項２】 コンタクトプローブの導体端子の表面
に、金メッキもしくはニッケルメッキと金メッキの複合
メッキを設けた請求項１記載の電気検査用コンタクトプ
ローブ。 - 【請求項３】 コンタクトプローブの導体端子の裏面
に、ゴムを貼付けた請求項１記載の電気検査用コンタク
トプローブ。 - 【請求項４】 請求項１に記載の電気検査用コンタクト
プローブが装着された試験装置を用いて電子機器の電気
検査をするに際して、前記コンタクトプローブのフレキ
シブルプリント回路の導体と被測定物である電子機器の
間に制御部を設け、該制御部におけるスキャンニング操
作によるリレー切り替えによって、前記電子機器の各電
極と前記コンタクトプローブの各複数の電極とが所要の
対応をなして電子機器の電極が試験装置に電気的に正し
く接続されるよう制御部が用いられていることを特徴と
する検査システム。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10020173A JPH11201989A (ja) | 1998-01-19 | 1998-01-19 | 電気検査用コンタクトプローブ及び検査システム |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10020173A JPH11201989A (ja) | 1998-01-19 | 1998-01-19 | 電気検査用コンタクトプローブ及び検査システム |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11201989A true JPH11201989A (ja) | 1999-07-30 |
Family
ID=12019795
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10020173A Pending JPH11201989A (ja) | 1998-01-19 | 1998-01-19 | 電気検査用コンタクトプローブ及び検査システム |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH11201989A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012519869A (ja) * | 2009-03-12 | 2012-08-30 | プロ−２０００・カンパニー・リミテッド | フィルム型パッケージをテストするためのプローブカード |
-
1998
- 1998-01-19 JP JP10020173A patent/JPH11201989A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012519869A (ja) * | 2009-03-12 | 2012-08-30 | プロ−２０００・カンパニー・リミテッド | フィルム型パッケージをテストするためのプローブカード |
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