JPH11189970A

JPH11189970A - 織布検反装置

Info

Publication number: JPH11189970A
Application number: JP9354984A
Authority: JP
Inventors: Takahiro Kubota; 隆弘窪田
Original assignee: Toyobo Co Ltd
Current assignee: Toyobo Co Ltd
Priority date: 1997-12-24
Filing date: 1997-12-24
Publication date: 1999-07-13
Anticipated expiration: 2017-12-24
Also published as: JP3063719B2

Abstract

(57)【要約】【課題】照明条件や光学系を変更することなく、また
織布の織りパターンにかかわらず、製織中の織布の欠
陥、特に経糸欠陥を織機上で検査する。【解決手段】製織中の織布２の表面を織り幅方向にカ
メラ４を走査させ、織布２の表面の織り幅方向に複数の
画像を撮像し、各画像ごとに地合い補正処理、矩形領域
の設定、各矩形領域ごとの統計値の抽出等の画像処理を
行い、欠陥の存否を判断する。欠陥が存在すると判断し
た場合、当該画像を撮像した位置にカメラを停止させ、
さらに複数の画像撮像し、撮像した画像に対して画像処
理を、抽出された統計値を加算処理することにより、検
出された欠陥が真の経糸欠陥か異物の付着等によるノイ
ズかを区別する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は織布の検反装置に関
するものであり、特に製織中の織布の欠陥の存否を自動
検査しうる織布検反装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来の織布検反装置として、例えばカメ
ラにより織布表面を撮像し、得られた濃淡画像データを
所定のしきい値と比較するものや、レーザー光を織布に
照射し、織布表面により反射された光又は織布を透過し
た光を受光素子により受光し、受光量のレベルをしきい
値と比較するもの等が知られている（第１の従来例）。

【０００３】また、特開平４−１４８８５２号公報に示
された検反装置（第２の従来例）では、織布を透過する
光を、検査対象となる経糸と平行に配置された光学スリ
ットを介して受光素子により受光し、受光波形を基準波
形と比較する。この装置によれば、光が透過する部分、
すなわち抽出された織布の開口部分の面積や幅の広狭等
に基づいて、欠陥の存否が判定される。

【０００４】また、特開平３−２４９２４３号公報に示
された検反装置（第３の従来例）では、一列に配列され
た複数の受光素子のうち１つおきに選択した第１受光素
子群と残りの第２受光素子群とで空間フィルタを構成
し、第１受光素子群の出力信号と第２受光素子群の出力
信号の差分値を所定のしきい値と比較する。この装置に
よれば、織布の振動や外乱光等に起因するノイズ成分
は、第１受光素子群と第２受光素子群の各出力の差をと
ることにより相殺される。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】一般に、製織中に経糸
流れ込み欠陥等の欠陥が発生すると、その経糸欠陥が巻
き取り方向（経糸方向）に何メートル又は何十メートル
として連続する。その結果、織りあがったロール全部が
不良品として廃棄される。従って、廃棄する織布をでき
るだけ少なくするためにも、経糸欠陥の発生を速やかに
検出し、織機を停止することが望まれる。しかしなが
ら、上記各従来例の検反装置は、織りあがった織布を検
査するものであり、織機上の製織中の織布を検査するこ
とは事実上不可能であった。

【０００６】また、織りあがった織布を検査する場合で
あっても、上記第１の従来例の検反装置では、糸抜け等
のように目視検査により簡単に判定可能な比較的大きな
欠陥しか検知できないという問題点を有していた。

【０００７】また、第２の従来例では、第１の従来例と
比較して検知精度が向上するものの、経糸流込み欠陥の
ように織布開口部の面積又は幅が良品とあまり変わらな
い欠陥の場合には、欠陥が検知できないという問題点を
有していた。また、第２の従来例では、織布の織密度が
一定で、かつ光学スリットと検査対象方向糸（経糸）と
が平行であることが前提となる。しかしながら、実際の
織布の織密度はさまざまであり、織布の種類が変わるた
びに、その都度光学スリットを交換しなければならない
という問題点を有していた。また、実際の織上がりの
糸、特に経糸は織布の両側部で湾曲しているので、上記
条件が維持できず、検出精度が低下するという問題点を
有していた。

【０００８】また、第３の従来例では、第２の従来例と
同様に、検出可能な欠陥の種類に制限があると共に、織
布の織密度が変化した場合や、一列に配列された受光素
子と織布表面の平行が維持できない場合、検査精度が低
下するという問題点を有していた。

【０００９】さらに、第２及び第３の従来例では、同一
光学条件で経糸異常及び緯糸異常を検出することは事実
上不可能であるという問題点を有していた。

【００１０】本発明は、上記従来例の問題点を解決する
ためになされたものであり、第１に製織中の織布の欠陥
の発生を検出しうる織布検反装置を提供することを目的
としている。第２に、同一光学条件で経糸異常及び緯糸
異常を高精度に検出することが可能な織布検反装置を提
供することを目的としている。

【００１１】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明の第１の織布検反装置は、製織中の織布の表
面を織り幅方向に撮像手段を走査させ、撮像手段により
少なくとも織布表面の織り幅方向に複数の画像を撮像
し、撮像した各画像ごとに所定の処理を行って欠陥の存
否を判断し、欠陥が存在すると判断した場合、当該画像
を撮像した位置に撮像手段を停止させ、少なくとも１つ
の画像をさらに撮像し、撮像した画像に対して所定の処
理を行い欠陥が引き続き存在するか否かを判断する。

【００１２】織機により製織中の織布は、織り上げられ
た部分から順にロールに巻き取られるので、巻き取り方
向の同じ位置で撮像手段（例えば、カメラ等）を織り幅
方向に繰り返し走査させ、走査中に織布表面を撮像する
ことにより、実質的に織り上げられた織布の全表面を検
査することが可能である。また、前述のように、経糸欠
陥が発生すると、その欠陥は巻き取り方向に連続する。
従って、ある画像を処理した結果、欠陥が存在すると判
断した場合、織り幅方向の同じライン上でさらに画像を
撮像し、その画像にも欠陥が存在する場合は、経糸欠陥
が発生していると考えられる。一方、さらに撮像した画
像に欠陥が存在しない場合、はじめに欠陥と判断された
ものは、異物の付着等による局部的な欠陥か、あるいは
画像処理中のノイズ等による誤判断と考えられる。その
結果、真の経糸欠陥とその他の欠陥を区別することが可
能となる。

【００１３】上記構成において、さらに撮像した画像に
欠陥が存在すると判断した場合、織布の製織を停止する
ように構成しても良い。一般に、経糸欠陥が発見された
場合、そのロール全体が不良品として処分される。従っ
て、欠陥が検出された場合、織機を停止することによ
り、それ以上無駄な製織作業及び糸の消費を防止するこ
とが可能となる。

【００１４】また、上記構成において、さらに撮像した
画像に欠陥が存在しないと判断した場合、撮像手段を織
り幅方向に再走査させるように構成しても良い。前述の
ように、さらに撮像した画像に欠陥が存在しない場合、
はじめに欠陥と判断されたものは、異物の付着等による
局部的な欠陥か、あるいは画像処理中のノイズ等による
誤判断と考えられるので、製織作業を停止することなく
続行しても差し支えない。従って、撮像手段を織り幅方
向に再走査させることにより、これから製織される部分
について通常の検査を行うことが可能となる。

【００１５】また、本発明の第２の織布検反装置は、織
布の表面の検査対象糸の配列方向における同じライン上
を撮像手段により撮像し、撮像した複数の画像に対して
それぞれ所定の画像処理を施し、処理された各画像デー
タに、それぞれほぼ同じ大きさの少なくとも２つの比較
領域を設定し、各比較領域内のデータを用いて各画像ご
とに統計量を抽出し、得られた各統計量を加算し、加算
された統計量を用いて織布の欠陥の存否を判断する。

【００１６】上記第１の織布検反装置は製織中の織布を
直接検査するものであったが、第２の織布検反装置はこ
れに限られず、織り上げられた織布の検査にも用いるこ
とが可能である。また、この構成によれば、検査対象糸
である同じ経糸又は緯糸の長さ方向に複数の画像を撮像
し、各画像を処理して得られた統計量を加算するので、
もし、撮像した画像内に欠陥が存在する場合、欠陥に相
当するデータが強調され、その他のノイズ成分は平均化
され小さくなる。その結果Ｓ／Ｎが高くなり、欠陥検出
精度を向上させることが可能となる。

【００１７】上記構成において、検査対象糸に対して、
当該検査対象糸の配列方向に対して略直交する方向から
鋭角に指向性の強い光を照射するように構成しても良
い。このような照明条件により、検査対象糸（例えば、
経糸）のエッジ、特に検査対象でない糸（緯糸）の上に
ある部分を強調することができ、撮像手段（カメラ等）
により撮像された画像の段階での検査対象糸の部分とそ
うでない部分との明暗を強調することが可能となる。

【００１８】また、上記構成において、画像処理とし
て、撮像手段により撮像した織布表面の第１画像データ
を用いて経糸及び／又は緯糸のそれぞれの織り密度、組
織周期及び糸傾斜を算出し、得られた組織周期を用いて
第１画像データを検査対象糸の長さ方向に双方向に所定
量だけ相対的に座標をずらせて、それらを第２画像デー
タ及び第３画像データとし、第１、第２及び第３画像を
それぞれ同じ座標に重ねて合成し、これを第４画像と
し、当該第４画像に比較領域を設定するように構成して
も良い。このように画像処理することにより、織布表面
の局部的な濃度むらや糸太さむら、風綿等の異物の付着
等による影響を小さくすることが可能となる。

【００１９】さらに、上記構成において、得られた糸傾
斜量を用いて、検査対象糸が画面の縦又は横のいずれか
と平行となるように、第１画像を回転させるように構成
しても良い。一般に、織布の両側部近傍では、経糸及び
緯糸共に傾斜する傾向にある。もし、検査対象糸が撮像
手段（カメラ）の画面の縦又は横に対して傾斜した状態
で上記処理を行うと、本来正常である場合にも欠陥と誤
判断される可能性が生じる。そこで、演算した糸傾斜量
を用いて画像を回転させることにより、織布中央部にお
ける検車対象糸が傾斜していない部分と同程度の検査精
度を得ることが可能となる。

【００２０】

【発明の実施の形態】本発明の織布検反装置の一実施形
態について、図面を参照しつつ説明する。なお、以下の
説明では、主に製織中の織布における経糸欠陥を検査対
象とするがこれに限定されるものではなく、緯糸欠陥を
検査対象とする場合については、その都度説明する。

【００２１】本実施形態の織布検反装置の概略ブロック
構成を図１に示す。撮像手段としてのカメラ４は撮影レ
ンズ３及びＣＣＤ等の撮像素子（図示せず）を含み、光
源１により照明された織布２の表面を、例えば織り幅方
向に走査しながら撮像する。カメラ４により撮像された
織布２の表面の画像は濃淡のアナログ画像信号として出
力され、Ａ／Ｄ変換器５により、例えば８ビットのディ
ジタル画像信号に変換され、ディジタル変換された原画
像データはフレームメモリ６に記憶される。なお、フレ
ームメモリ６は、原画像データのほか、画像処理の際の
画像データも記憶する。光源１は織布２の所定の被撮像
領域を囲むように四方に配置されており、切り替え装置
１７により照明方向が切り替えられる。

【００２２】本実施形態では、カメラ４の撮像素子とし
て画素が２次元に配列されたエリア型ＣＣＤを使用した
例を示す。もし、ライン型のＣＣＤを使用する場合は、
図１において２点鎖線で示すように、Ａ／Ｄ変換器５と
フレームメモリ６との間に、１次元画像データを２次元
画像データに変換する１次元／２次元変換器３０を追加
すれば良い。カメラ４により撮影される画像は、撮像素
子の画素数により決定される。一例として、２次元ＣＣ
Ｄの場合、各辺の長さの比が６対４の長方形である。な
お、緯糸欠陥を検査する場合は、カメラ４を９０度回転
させても良いし、画像処理により画面の縦横を切り替え
ても良い。

【００２３】フレームメモリ６に記憶されている原画像
データは、地合い補正回路７により読み出され、画像の
分離や合成等の画像処理が行われる。原画像の一例を図
６（ａ）に示す。一般に、製織中の織布をインラインで
検査する場合、風綿等の異物が織布表面に付着する場合
がある。また、局所的に濃度むらや糸太さむら等が発生
する場合もある。これらの現象は必ずしも織布２の欠陥
とは言えないが、従来の検反装置によれば、織布２の欠
陥と判断されてしまうおそれが強い。そこで、地合い補
正処理により、局所的な濃度むらを平滑化し、毛羽立ち
や風綿といった外乱要素の画像データを除去し、局所的
に発生する糸太さむら部分も平均の糸太さデータに置き
換える。地合い補正処理後の画像を図６（ｂ）に示す。
また、地合い補正処理については後に詳述する。

【００２４】濃度投影回路９は、検査対象糸の配列方向
における平均糸ピッチ及び平均糸傾き量を自動算出する
ために、検査対象糸（経糸２１）の配列方向の座標に濃
度投影（濃度加算処理）を行う。濃度投影とは、例えば
２次元ＣＣＤの縦方向の同じライン上に並んでいる各画
素データを加算し、画素数で割ったものであり、横方向
の１次元のデータ（濃度データ）を生成することをい
う。ＦＦＴ回路８は、検査対象糸の平均糸ピッチ（平均
周期又は織り密度）や糸傾斜量等を求めるために、この
（１次元）濃度データに対してフーリエ変換を行う。

【００２５】統計量演算回路１０は、後述するように、
地合い補正処理された画像データから２つの比較用の矩
形領域のデータを取り出し、各矩形領域のそれぞれの画
像データから各種統計量を演算する。統計量としては、
濃度の最大値、平均値、最小値、分散値、共分散値、変
動係数、歪み度、尖り度、相関係数、標準偏差値、再頻
濃度値等である。なお、織布２の欠陥の抽出は、これら
統計量の差分値、画像パターン相関性又は統計量と基準
データとを比較することにより行なう。

【００２６】統計量加算回路１１は、織布の流れ方向
（織られていく方向、すなわち経糸の長さ方向）の同じ
ラインに沿って撮像された複数の画像から得られた複数
の統計量を加算する。経糸欠陥は流れ方向に連続するた
め、経糸欠陥が発生すると、流れ方向の同じラインに沿
って撮像された各画像には、欠陥成分が含まれている。
そのため、統計量を加算することにより、欠陥成分を損
なうことなく、その他のノイズ成分を小さくすることが
でき、Ｓ／Ｎを高くすることが可能となる。なお、緯糸
欠陥を検査する場合、カメラ４の移動中に織布が織ら
れ、流れ方向に移動する場合がある。この場合、カメラ
４を流れ方向にも移動させるように構成しても良いし、
あるいは画像処理により織布２の移動量を補正しても良
い。

【００２７】入出力装置１８は、例えばキーボードや操
作スイッチ等の操作部材及び入出力インターフェース等
を含み、例えば切り替え装置１７を制御して光源１の照
明方向等を切り替える。

【００２８】Ａ／Ｄ変換器５、フレームメモリ６、地合
い補正回路７、ＦＦＴ回路８、濃度投影回路９、統計量
演算回路１０、統計量加算回路１１及び場合により１次
元／２次元変換器３０は、画像バス１２を介して相互に
接続されると共に、ＣＰＵバス１３を介してＣＰＵ１
４、ＲＯＭ１５、ＲＡＭ１６、入出力装置１８及び表示
装置１９に相互に接続されている。

【００２９】光源１は、例えば図２（ａ）又は（ｂ）に
示すように、所要の指向性を有する発光ダイオード３１
を一列や千鳥状等の所定のパターンに配列してモジュー
ル化したものであり、カメラ４の撮影レンズ３の撮像視
野をカバーすると共に、撮像視野内での均一な照度を確
保するものである。発光ダイオード３１の配列パターン
は、織布２の被撮像面積に応じて決めれば良い。但し、
織布２の被撮像領域（被照明領域）における照明むらを
小さくするためには、各発光ダイオード３１間のピッチ
をできる限り狭くすることが好ましい。

【００３０】発光ダイオード３１の照射開口角度は３０
°以下である。さらに、検査対象糸を強調する効果を高
めるためには、より開口角度の小さい発光ダイオードを
用いることが好ましい。発光ダイオード３１の発光波長
に関しては、織布２の表面で反射される光の波長が、カ
メラ４の固体撮像素子の感度範囲内の波長であればよ
く、可視光には限定されない。また、発光ダイオード３
１の輝度（織布２の表面上での照度）に関しても、固体
撮像素子の動作クロック時間（更新周期）内で、各画素
に充分な電荷を蓄積できるレベルであればよい。なお、
光源１としては、発光ダイオード３１を配列したものに
限られず、極細の蛍光灯等であっても良く、所要の指向
性を有していればよい。

【００３１】次に、本実施形態の織布検反装置を織機に
適用した例を図３に示す。例えば、図３（ｂ）に示すよ
うに、カメラ４はハウジング３２の開口窓３３に対向す
るようにハウジング３２内に固定され、ハウジング３２
の外側で、かつ開口窓３３を囲むように光源１が配置さ
れている。また、図３（ａ）に示すように、ハウジング
３２は織布２の織幅方向に配置された一軸移動ステージ
４０に取り付けられており、織幅方向に移動しながら、
製織中の織布２の表面を上から照明し、カメラ４により
撮像することが可能である。

【００３２】また、光源１により織布２を照明するため
の条件について、図４を参照しつつ説明する。図４にお
いて、例えば織布２を構成する経糸２１及び緯糸２２の
うち経糸２１を検査対象とする。カメラ４の撮像レンズ
３の光軸を織布２の表面に対して略垂直とし、一対の光
源１Ａ及び１Ｂはそれぞれ検査対象糸２１Ａの長さ方向
に平行で、かつ光軸に対してほぼ対象に配置されてい
る。また、各光源１からの照明光の照射角αが、織布２
の表面（水平面）に対して４５度以下の角度となるよう
に、ハウジング３２に対する光源１の取り付け角度が設
定されている。

【００３３】光源１から照射された照明光の内、例えば
検査対象糸２１Ａに入射した光線１０１は、検査対象糸
２１により光線１０２のように反射され、撮像レンズ３
を介してカメラ４に入射する。一方、光源１から照射さ
れた照明光の内、検査対象でない糸２２に入射した光線
１０３は、光線１０４のように反射され、カメラ４には
入射しない。その結果、カメラ４により、カメラ４によ
り、検査対象糸２１の内、特に緯糸２２との交絡点の上
に位置する部分のみを明るく強調した画像を撮像するこ
とができる。

【００３４】光源１は織布２の被撮影領域を囲むように
四方に配置されているが、この場合、検査対象糸（経
糸）２１の長さ方向と平行に発光ダイオード３１が配列
されている一対の光源１Ａ及び１Ｂが点灯されている。
なお、緯糸２２を検査対象とする場合は、切り替え装置
１７により光源１Ａ及び１Ｂを消灯し、緯糸２２の長さ
方向と平行に発光ダイオード３１が配列されている一対
の光源１Ｃ（一方は図示せず）を点灯すればよい。

【００３５】前述のように、本発明の織布検反装置は、
同一の光学的条件で、織り組織に左右されずに経糸異常
及び緯糸異常を検出することをも目的としている。その
ため、カメラ４の撮像レンズ３の画角（拡大倍率）を、
検査される製品の内、織密度の最も細かな織布の織密度
を基準に決定する。一般に、織布２の画像の拡大率が高
いほど、欠陥の抽出が容易になる傾向にある。しかしな
がら、後述するように、統計量を抽出するために比較さ
れる少なくとも２つの矩形領域のサイズ、特に、その短
辺の長さは、織布２を形成する経糸又は緯糸の繰り返し
周期（１本通し、２本通し等）に合わせる必要がある。
そのため、カメラ４により撮像した画像内に少なくとも
２つの矩形領域を形成しうるように、検査対象糸（経
糸）２１が、少なくとも組織周期の糸数の２倍以上の本
数（例えば、平織りの場合４本以上）が含まれている必
要がある。

【００３６】カメラ４により撮像された画像は、原画像
としてフレームメモリ６に記憶される。この原画像に後
述する地合い補正処理を行い、局部的なノイズ成分を除
去すると共に、地合い補正処理された画像から２つ又は
２組の比較される矩形領域を設定し矩形領域の画像デー
タを比較することにより、上記各種統計量を求める。こ
こで、地合い補正処理を行う場合、画像データのずらし
を行うために、織布２の検査対象糸（経糸２１）の長さ
方向における非検査対象糸（緯糸２２）の周期（ピッ
チ）情報が必要である。また、上記矩形領域を設定する
ために、検査対象糸（経糸２１）の配列方向における周
期（ピッチ）情報が必要である。そこで、以下のように
してこれらの周期（ピッチ）情報を求める。

【００３７】例えば図５（ａ）において、実線で示す矩
形領域をカメラ４により撮像された原画像とする。ま
た、一点鎖線で示すように、２つの縦長の矩形領域５１
及び５２を想定する。最初、矩形領域５１及び５２の短
辺の長さＷを最小値（最小画素数）に設定し、長さ
（幅）を徐々に広げながら（画素数を増やしながら）、
それぞれの場合について２つの矩形領域５１及び５２の
相関値を求める。最小値としては、例えば同一光学条件
において撮像される様々な種類の織布２の画像の内、最
も検査対象糸（経糸２１）の密度の最も高い織布のピッ
チサイズに相当する画素数とする。このようにして得ら
れた相関値が最大となるときの短辺の幅を、各矩形領域
５１及び５２の短辺の長さＷとする。なお、相関値が最
大となるときの周期（ピッチ）は、検査対象糸（経糸２
１）の組織周期と一致する。この周期を検査対象糸の配
列方向における周期（ピッチ）として用いる。

【００３８】同様に、非検査対象糸（緯糸２２）の組織
周期も同様にして得られる。例えば図５（ｂ）に示すよ
うに、２つの矩形領域５３及び５４について、各短辺
を、それぞれ経糸２１の配列方向と略平行な方向に設定
する。上記と同様の処理を行うことにより、非検査対象
糸（緯糸２２）の組織周期が求められる。これらの横長
の矩形領域５３及び５４の短辺の長さＷ’を地合い補正
処理における平滑化定数（画像のずらし量）として用い
る。

【００３９】このように、矩形領域５１、５２、５１’
及び５２’の各短辺の長さＷ及びＷ’は、それぞれ経糸
２１又は緯糸２２の組織周期により決定される。一方、
各矩形領域５１、５２、５１’及び５２’の長辺の長さ
Ｈ、Ｈ’は特に限定されない。しかしながら、糸抜け等
のように連続的に発生する欠陥に対しては、長辺の長さ
Ｈ又はＨ’を長く設定するほど欠陥検知精度は向上す
る。一方、局所的に発生する節等の欠陥に対しては、長
辺の長さＨ又はＨ’を短く設定するほど欠陥検知精度は
向上する。従って、矩形領域５１、５２、５１’及び５
２’の長辺の長さＨ、Ｈ’は、検査対象となる織布２の
特徴に合わせて決定すれば良い。また、矩形領域５１、
５２、５１’及び５２’の長さＨ、Ｈ’を可変にし、織
布２の検査中に、複数回同様の処理を行っても良い。

【００４０】なお、組織周期を求める方法としては、上
記方法の他に、例えば検査対象糸の配列方向と直交する
方向の濃度波形の特徴を抽出して周期性を求める方法
や、ＦＦＴにおける周期性を求める方法でも良く、特に
限定されない。

【００４１】次に、検査対象糸の配列方向における平均
糸ピッチ及び平均糸傾き量の算出について説明する。ま
ず、カメラ４により撮像された２次元の画像データ（例
えば、ＣＣＤの各画素の出力）を、濃度投影回路９によ
り検査対象糸（この場合、経糸２１及び緯糸２２のいず
れでも良い）の配列方向（横）の座標に濃度投影（濃度
加算処理）を行い、１次元の濃度データを生成する。こ
の濃度データに対して、ＦＦＴ回路８によりフーリエ変
換を行い、スペクトル最頻値の実数データと虚数データ
（例えば画面上で繰り返す現れる輝度の高い点の位相成
分データ）から検査対象糸の配列方向における組織周期
の平均糸ピッチを求める。

【００４２】次に、上記画像データを検査対象糸の長さ
方向に複数に分割し、又は検査対象糸の配列方向の同じ
ライン上で、かつ長さ方向の別の位置を撮像した複数の
画像データについて、それぞれ濃度加算処理及び濃度デ
ータのフーリエ変換を行い、スペクトルの各ピーク値の
座標を求める。これらの座標を用いて平均法や最小二乗
法等により検査対象糸の平均糸傾き量を求める。この方
法は、糸抜け等の欠陥情報が画像データに含まれている
場合であっても、平均糸ピッチ及び平均糸傾き量が高精
度に求められるという利点を有する。

【００４３】なお、フーリエ変換は常時行う必要がない
ため、専用のＦＦＴ回路８の代わりにＣＰＵ１７による
ソフト処理によりフーリエ変換を行っても良い。また、
平均糸傾き量を求めるためのその他の方法として、例え
ば、検査対象糸の配列方向に直交する方向の濃淡画像デ
ータを微分してその輪郭を強調させた後、その波形のピ
ーク値を追跡する方法や、Hough変換により、ほぼ直線
上に並んだ多数の点列からできるだけそれらの多くを通
る直線を決定する方法等でも良く、特に限定されない。

【００４４】次に、地合い補正回路７による画像処理に
ついて説明する。地合い補正処理の目的は、比較される
２つ又は２組の矩形領域の画像データから抽出される統
計量の信頼性を高めることにある。

【００４５】例えば、比較される２つ又は２組の矩形領
域の画像データが２値化された画像データである場合、
仮に織布２に欠陥がなかったとしても、織布２の表面の
微妙な凹凸のむら、局所的に生じる毛羽立ち、風綿等の
影響により、図４に示す照明条件により強調された検査
対象糸（この場合も、経糸２１及び緯糸２２のいずれで
も良い）の内、経糸２１と緯糸２２の交絡点上における
部分のみの２値画像が生成されたとしても、その画像デ
ータの２値成分の分布形状は必ずしも均一とはならな
い。従って、２値化された画像データを用いて統計量を
抽出した場合、正常領域であってもその領域の統計量の
分散値が大きくなる。その結果、欠陥がある場合、その
欠陥部分のＳ／Ｎが低下する。また、統計量を抽出する
ための矩形領域の画像が、例えば図６（ａ）に示す原画
像である場合、織布２の表面の微妙な凹凸や生地の光沢
むら等による濃度むらの問題が加わり、Ｓ／Ｎがさらに
低下する。従って、これらの問題を回避する目的で、地
合い補正処理を実施する。

【００４６】まず、ＣＰＵ１４は、ＲＯＭ１５に記憶さ
れているプログラムに従って、図３に示す一軸移動ステ
ージ４０を駆動し、ハウジング３２を織布２の被撮像領
域（被検査領域）に対向する位置まで移動させ、カメラ
４を用いて原画像を撮像する。撮像した原画像（第１画
像）は、Ａ／Ｄ変換器５によりディジタル信号化された
後、フレームメモリ６に記憶する。次に、ＣＰＵ１４
は、フレームメモリ６に記憶されている原画像（第１画
像）を読み出し、検査対象糸（経糸）の長さ方向に前述
の平滑化定数Ｄ分だけ各方向にずらして第２画像及び第
３画像を生成し、それぞれフレームメモリ６に記憶す
る。さらに、原画像に第２画像及び第３画像を重ねて合
成し、第４画像を得る。第４画像もフレームメモリ６に
記憶する。このようにして得られた第４画像に対して、
上記原画像に対して行った処理と同様の処理を１回又は
複数回実施しても良い。

【００４７】もし、検査対象糸（経糸２１又は緯糸２
２）に欠陥が発生している場合、原画像のみならず、同
じ原画像を用いて処理した第２画像及び第３画像の横方
向の同じ位置にも欠陥が存在している。従って、地合い
補正処理された第４画像にも欠陥はそのまま存在する。
一方、風綿等の異物の付着や局部的な濃度むら、糸太さ
むら等は、これらの発生していない画像を合成すること
により徐々に希釈され、平均化される。このように処理
された第４画像が、例えば図６（ｂ）に示す地合い補正
処理された画像に相当する。

【００４８】第２画像、第３画像及び第４原画像の生成
方法の一例を図７に示す。図７中、実線で示す矩形領域
を原画像データ７１とする。第２画像は、原画像データ
７１から、一点鎖線で示すように上側に縦方向の長さＤ
だけ短い矩形の画像データ７０Ａを切り取り、原画像デ
ータ７１の上端と同じ座標に移動させる。当然、図中下
部に縦方向の長さＤの細長い矩形データ７０Ｂ分が不足
するので、その部分については原画像データ７１から平
行移動させて補充する。なお、平滑化定数Ｄは前述の非
検査対象糸の組織周期の長さと等しいか、その整数倍で
ある。同様に、第３画像は、原画像データ７１から、一
点鎖線で示すように下側に縦方向の長さＤだけ短い矩形
の画像データ７０Ｃを切り取り、原画像データ７１の下
端と同じ座標に移動させる。当然、図中上部に縦方向の
長さＤの細長い矩形データ７０Ｄ分が不足するので、そ
の部分については原画像データ７１から平行移動させて
補充する。最後に、原画像７１の各座標のデータ上に、
第２画像７２及び第３画像７３の同じ座標の画像データ
を重ねて合成し第４画像７４を得る。

【００４９】すなわち、上記地合い補正処理により、局
所的に発生する濃度むらは平滑化される。また、毛羽立
ちや風綿といった外乱要素の画像データは除去され、そ
れらが存在していた座標データは、正常部の平均的な織
布の画像データに置き換えられる。また、局所的に発生
する糸太さむら部分の画像データも、平均の糸太さの画
像データに置き換えられる。その結果、織布２に関する
欠陥情報は失われることなく、図４に示す照明により強
調される糸交絡点上の検査対象糸２１Ａの形状及び濃度
が均一化されるという顕著な効果が得られる。

【００５０】なお、第２画像及び第３画像を切り取るた
めの矩形領域の大きさは、少なくとも検査対象糸の配列
方向の幅（短辺の長さ）が、検査対象糸の配列方向の組
織周期の整数倍であれば良く、この整数値は特に限定さ
れない。また、画像重ね合わせの繰り返し回数に関して
も、検査される織布２の織り組織や密度等に応じて最適
な値を設定すれば良く、特に限定されない。

【００５１】次に、上記地合い補正処理により得られた
第４画像に、２つ又は２組の比較される矩形領域を自動
設定する。検査される織布２が平織りである場合を例に
して説明する。なお、矩形領域の設定方法は、図５
（ａ）及び（ｂ）に示すような隣接する２つの矩形領域
５１，５２又は５３，５４に限定されるものではない。
例えば、図５（ｃ）に示すように、一つ置きに配列され
た複数の矩形領域６１Ａ，６１Ｂ・・・又は６２Ａ，６
２Ｂ・・・をそれぞれ１組として、２組の矩形領域群同
士を比較するように構成しても良い。但し、各矩形領域
６１Ａ，６１Ｂ・・・、６２Ａ，６２Ｂ・・・の短辺の
長さＷは、検査対象糸の配列方向の組織周期サイズかそ
の整数倍であることが前提である。

【００５２】次に、織布２が正常な場合、例えば図８
（ａ）に示すように、統計量演算回路１０により２つの
矩形領域５１，５２の画像データから得られた統計量
（例えば、輝度が最大レベル（濃度が最小レベル）を示
す部分の座標）を比較すると、相互に相関があることが
わかる。なお、図中「■」で表した部分が、検査対象糸
２１の内、経糸２１と緯糸２２の交絡点上における部分
であり、カメラ４の撮像素子の画素出力が最大レベルを
示す部分である。一方、織布２に欠陥が生じている場
合、図８（ｂ）に示すように、２つの矩形領域５１，５
２の画像データを比較すると、相互に相関がないことが
わかる。このように、地合い補正処理された画像に、比
較される２つ又は２組の矩形領域５１から５４又は６１
Ａ，６１Ｂ・・・及び６２Ａ，６２Ｂ・・・を設定し、
各矩形領域の画像データを比較することにより、織布２
の組織パターンがどのような形状であっても、同一の光
学条件で検査することが可能となる。なお、統計量の比
較及び欠陥の存否の判断はＣＰＵ１４が行い、演算結果
は表示装置１７に出力される。

【００５３】但し、上記説明は、カメラ４により撮像さ
れた画像における経糸２１及び緯糸２２が、それぞれ画
像の縦方向及び横方向に平行な場合について適用され
る。すなわち、一軸移動ステージ４０は織機の織り幅方
向に対して平行に設けられ、カメラ４を一軸移動ステー
ジ４０への取り付ける際の誤差がないものと仮定して、
カメラ４により撮像された画像の縦方向は経糸２１の流
れ方向に平行であり、画像の横方向は織り幅方向に平行
である。従って、画像の縦方向及び横方向を基準として
設定された２つ又は２組の矩形領域の画像データを比較
して得られた相関データは、経糸２１が流れ方向に平行
な場合及び緯糸２２が織り幅方向に平行な場合には非常
に精度の高いものである。

【００５４】しかしながら、織布２の両側部近傍の経糸
２１及び緯糸２２が傾いている場合やカメラ４の取り付
け方向そのものが傾いている場合、カメラ４により撮像
された画像における経糸２１及び緯糸２２は、それぞれ
画像の縦方向及び横方向に対して傾いている。従って、
画像の縦方向及び横方向を基準として設定された２つ又
は２組の矩形領域の画像データを比較すると、本来検査
対象糸は正常であるにもかかわらず、異常であると誤判
断する可能性があり、欠陥検出精度が低下する。そこ
で、係る誤判断を防止すべく、検査対象糸の相対的な傾
きを補正が必要である。

【００５５】すでに述べたように、本実施形態によれ
ば、カメラ４により撮像された画像データを画像処理す
ることにより、撮像された画面内での検査対象糸の平均
傾き量が求められている。この平均傾き量を用いて、矩
形領域の長辺を検査対象糸に平行になるように回転させ
るか、または画像データをを検査対象糸の傾き量だけ回
転させ、矩形領域の長辺を検査対象糸の配列方向に平行
にする。これにより、上記検査対象糸の傾きやカメラ４
の取り付け誤差による欠陥検査精度の低下を回避するこ
とが可能となる。

【００５６】また、検査対象糸の平均糸ピッチを算出
し、統計量を算出するための矩形領域の長辺の傾きを自
動的に補正するので、織密度の異なる織布を検査する場
合であっても、光学条件を何ら調整することなく、同様
の検査を行なうことが可能となる。さらに、カメラ４に
より撮像された原画像を地合い補正処理し、補正した画
像に２つ又は２組の矩形領域を設定し、２つ又は２組の
矩形領域の画像データを比較処理するので、画像の撮像
中に光源１の光量が変化した場合であっても、光量変化
による影響は相殺される。なお、近くにハレーションを
起こすような他の光源が存在する場合は、図１に示すよ
うに遮蔽板２１を設置するとよい。

【００５７】次に、欠陥抽出の他の例を図９（ａ）及び
（ｂ）に示す。図９（ａ）は、正常な場合を示し、図９
（ｂ）は２本通し違い欠陥の場合を示す。このような欠
陥は、従来例の検反装置による織布開口部の面積又は幅
の広狭による比較では抽出が困難であった。しかしなが
ら、２つの矩形領域８１，８２内での経糸２１と緯糸２
２の交絡点の上にある検査対象糸（経糸２１）の部分
（図中「■」で示す照明により強調されて明るく撮像さ
れる部分）を比較すると、図９（ａ）では、２つの矩形
領域８１，８２内でのそれぞれのパターンは一致してお
り、相関がある。一方、図９（ｂ）では、２つの矩形領
域８１，８２内でのそれぞれのパターンは全く異なって
おり、相関がない。

【００５８】図８（ａ）及び（ｂ）と図９（ａ）及び
（ｂ）を比較してわかるように、本実施形態によれば、
検査対象糸の配列方向における組織周期の整数倍の幅を
有する２つ又は２組の矩形領域を設定し、各矩形領域の
画像データを用いて統計量を演算し、演算された統計量
を比較して欠陥の存否を判断するので、織布２の組織パ
ターンが異なっていても、同一の条件で検査することが
可能となる。

【００５９】先に述べたように、本実施形態では、製織
中の織布をインラインで検査する場合の織布２の表面に
付着する風綿等の異物、局部的な濃度むら及び糸太さむ
ら等による誤判断を防止するために、画像の地合い補正
処理を行なっている。さらに、冗長的な風綿が付着した
場合や濃度むらが大きい場合、例えば、経糸の欠陥と冗
長風綿との濃度分布形状等は明らかに異なるので、複数
の統計量について比較を行ったり、各統計量をあらかじ
め設定されているしきい値と比較することにより、ノイ
ズか欠陥かを判断することが可能となる。

【００６０】なお、１回に撮像される画像のサイズより
も冗長な検査対象糸の太さむらが生じた場合、地合い補
正処理は効果がなく、抽出した統計量がリード通し違い
等の欠陥情報と酷似する場合が生じる。この場合、あら
かじめ第１しきい値として荒い値を設定しておき、第１
しきい値以上の統計量を出力した場合、以下に述べる統
計量の加算処理を行う。

【００６１】例えば検査対象糸が経糸２１の場合、一旦
経糸欠陥が発生すると、流れ方向に数メートルから数十
メートル連続する。一方、糸太さむらはせいぜい数ミリ
メートル程度である。この場合、第１しきい値以上の統
計量を出力した画像を撮像した位置でカメラ４の移動を
一定時間停止し、新たに少なくとも１枚、より好ましく
は複数の画像を撮像する。この間、織機は連続して織布
２を織り続けるため、カメラ４の前方を織布２の異なる
部分が通過する。得られた各画像について、それぞれ上
記処理を行い、統計量演算回路１０によりそれぞれの画
像について統計量を演算する。さらに、演算された統計
量を統計量加算回路１１により加算処理を行う。さら
に、ＣＰＵ１４は加算された統計量とあらかじめ設定さ
れている良否判定用の第２しきい値とを比較する。この
処理により、局所的に変動する統計量が平滑化され、冗
長な検査対象糸太さむらが発生しても、リード通し違い
等の連続する経糸欠陥と区別することが可能となる。

【００６２】なお、検査対象糸が緯糸２２の場合も同様
に、糸抜け等の欠陥が発生するとその欠陥は数センチメ
ートルから数メートル連続する。この場合、第１しきい
値以上の統計量を出力した画像を撮像した位置で織機を
一時的に停止させて、カメラ４を織り幅方向（緯糸の長
さ方向）に平行移動させ、新たに少なくとも１枚、より
好ましくは複数の画像を撮像する。あるいは、織機を停
止せずに連続して織布２を織り続けさせ、カメラ４を経
糸の流れ方向に平行移動させるように構成しても良い。
また、カメラ４の撮像範囲を広くして、織布２の移動量
を画像処理により補正しても良い。

【００６３】また、欠陥の存否判断のパラメータとなる
統計量は特に限定されるものでなく、対象欠点で特異な
特徴を示す統計量を予め実験等により求めてもよいし、
織布２の製織中にヒストグラムを作成し、このヒストグ
ラムによって対象欠陥の特徴を求めてもよいし、あるい
はこれらを組み合わせて処理してもよい。また、上記方
法によれば、同時に多数の統計量の抽出ができるので、
例えばファジー推論や重回帰分析等による欠陥の識別も
可能である。

【００６４】次に、本実施形態における織布の検反装置
の処理手順を示すフロチャ−トを図１０及び図１１に示
す。まず、検反動作を開始すると、ＣＰＵ１４は一軸移
動ステージ４０を駆動してカメラ４を所定の位置に移動
させる（ステップＳ１）。次に、カメラ４により織布２
の表面の画像を撮像し（ステップＳ１０）、Ａ／Ｄ変換
器５により８ビットのデジタル画像データに変換し（ス
テップＳ２０）、Ａ／Ｄ変換した画像データをフレーム
メモリ６に記憶する（ステップＳ３０）。

【００６５】さらに、ＣＰＵ１４は、フレームメモリ６
に記憶されている画像データを読み出し、検査対象糸
（例えば、経糸）の配列方向及びそれに直交する方向の
各組織周期を抽出する（ステップＳ４０）。また、濃度
投影回路９によりて濃淡画像データを濃度加算処理した
後、ＦＦＴ回路８により濃度加算処理された画像データ
に対してフーリエ変換を行い、平均糸ピッチ及び平均糸
傾き量を算出する。（ステップＳ５０）。

【００６６】地合い補正回路７は、フレームメモリ６に
取り込まれた原画像データを読み出し、原画像及び検査
対象糸の配列方向に直交する方向の組織周期を用いて第
２画像及び第３画像を生成し、原画像、第２画像及び第
３の画像を合成して地合い補正された第４画像を生成す
る。（ステップＳ６０）。

【００６７】ＣＰＵ１４は、検査対象糸の配列方向の組
織周期及び糸傾き量を用いて、第４の画像に比較される
２つ又は２組の矩形領域を設定する（ステップＳ７
０）。統計量演算回路１０は、設定された各矩形領域内
の画像データから各種統計量を抽出する（ステップＳ８
０）。ＣＰＵ１４は、設定された全ての矩形領域の画像
データについて、全統計量の抽出を完了したか否かを判
断する（ステップＳ９０）。

【００６８】ステップＳ９０において、設定された全て
の矩形領域について全統計量が抽出されると（ステップ
Ｓ９０でＹＥＳ）、所定の統計量とあらかじめ設定され
ている第１しきい値と比較する（ステップＳ１００）。
第１しきい値とは，上述したように、局所的な糸太さむ
らと欠陥とを区別するために、統計量を一定時間（指定
撮像回数）連続加算するか否かを決めるためのしきい値
である。

【００６９】ステップＳ１００において、第１しきい値
より大きい統計量があれば（ステップ１００でＹＥ
Ｓ）、前述の統計量加算回路１１による加算処理を行う
ため、連続検査フラグをオンし（ステップＳ１１０）、
ステップＳ１２０をとばして、統計量加算回路１１によ
る加算処理を行う（ステップＳ１３０）。統計量加算回
路１１により統計量を加算すると、ステップＳ１０の戻
って次の画像を撮像し、ステップＳ２０からＳ９０まで
及びステップＳ１３０の処理を行う。次に、ステップＳ
１２０において所定数の画像データにより統計量の加算
処理が行われたか否かを判断し、加算処理が完了した場
合（ステップＳ１２０でＹＥＳ）、連続検査フラグをオ
フする（ステップＳ１４０）。

【００７０】次に、ＣＰＵ１４は、統計量加算回路１１
により加算された統計量を良否判定用の第２しきい値と
比較する（ステップＳ１５０）。加算された統計量に内
に第２しきい値よりも大きいものが１つでもあれば、Ｃ
ＰＵ１４は欠陥ありと判断し（ステップＳ１６０）、切
り替え装置１７等を制御して織機を停止し（ステップＳ
１７０）、結果を表示装置１９に表示して終了する（ス
テップＳ１８０）。

【００７１】ステップ１００において演算された統計量
の全てが第１しきい値よりも小さい場合（ステップ１０
０でＮＯ）及びステップ１５０において加算された統計
量が第２しきい値より小さい場合、ＣＰＵ１４は欠陥な
しと判断する（ステップＳ１９０）。なお、ステップＳ
１４０を通過しない場合もあり得るので、連続検査フラ
グがオンしている場合は、それをオフにする（ステップ
Ｓ２００）。

【００７２】ステップＳ１９０において欠陥なしと判断
した場合、ＣＰＵ１４は、他の糸（例えば緯糸）も検査
すると設定されているか否かを判断する（ステップＳ２
１０）。他の糸も検査する場合（ステップＳ２１０でＹ
ＥＳ）、切り替え装置１７を制御して照明条件を変更し
（ステップＳ２２０）、ステップＳ１０に戻って検査対
象糸を経糸から緯糸に変更して、上記各ステップを実行
する。

【００７３】ステップＳ２１０において他の糸を検査し
ない場合、ＣＰＵ１４はさらに検査を続行するか否かを
判断し（ステップＳ２３０）、続行する場合はステップ
Ｓ１）に戻ってカメラ４を所定量だけ移動させ、次の画
像の撮像について検査を行う。一方、検査を続行しない
場合はステップＳ１８０にとんで、結果を表示して終了
する。

【００７４】なお、上記実施形態では、製織中の織布の
インライン検査に関する処理について説明したが、これ
に限定されるものではなく、織上がった織布の自動検反
に適用することも可能である。また、織布以外の規則性
のある特徴をもったシートにも適用することが可能であ
る。また、一軸移動ステージ４０を用いて１つのカメラ
を織布２の織り幅方向に移動させるように構成したが、
複数のカメラ４を織布２の織り幅方向に固定的に配列し
ても良い。あるいは、複数のカメラ４を一軸移動ステー
ジ４０に装着し、１つのカメラの走査範囲を狭くするよ
うに構成しても良い。

【００７５】また、上記実施形態では経糸及び緯糸のい
ずれでも検査できるように構成したが、検査対象糸が経
糸か又は緯糸のどちらか一方である場合は照明は対象糸
と直交する方向のみに設置すれば良い。さらに、上記実
施形態では、織布の欠陥が検出された場合、織機を停止
するように構成したが、織機を停止せずに、警報を発す
るように構成しても良い。

【００７６】

【発明の効果】以上説明したように、本発明の第１の織
布検反装置によれば、製織中の織布の表面を織り幅方向
に撮像手段を走査させ、撮像手段により少なくとも織布
表面の織り幅方向に複数の画像を撮像し、撮像した各画
像ごとに所定の処理を行って欠陥の存否を判断し、欠陥
が存在すると判断した場合、当該画像を撮像した位置に
撮像手段を停止させ、少なくとも１つの画像をさらに撮
像し、撮像した画像に対して所定の処理を行い欠陥が引
き続き存在するか否かを判断するように構成されている
ので、実質的に織り上げられた織布の全表面を検査する
ことが可能である。また、経糸欠陥は巻き取り方向（経
糸の流れ方向）に連続するので、ある画像を処理した結
果欠陥が存在すると判断した場合、織り幅方向の同じラ
イン上でさらに画像を撮像し、その画像の欠陥の存否を
判断することにより、真の経糸欠陥とその他の欠陥を区
別することが可能となる。

【００７７】また、さらに撮像した画像に欠陥が存在す
ると判断した場合、織布の製織を停止するように構成す
ることにより、それ以上無駄な製織作業及び糸の消費を
防止することが可能となる。

【００７８】また、さらに撮像した画像に欠陥が存在し
ないと判断した場合、撮像手段を織り幅方向に再走査さ
せるように構成することにより、先に判断した欠陥が異
物の付着やノイズ等によりものであった場合に、これか
ら製織される部分について通常の検査を行うことが可能
となる。

【００７９】また、本発明の第２の織布検反装置によれ
ば、織布の表面の検査対象糸の配列方向における同じラ
イン上を撮像手段により撮像し、撮像した複数の画像に
対してそれぞれ所定の画像処理を施し、処理された各画
像データに、それぞれほぼ同じ大きさの少なくとも２つ
の比較領域を設定し、各比較領域内のデータを用いて各
画像ごとに統計量を抽出し、得られた各統計量を加算
し、加算された統計量を用いて織布の欠陥の存否を判断
するように構成されているので、撮像した画像内に欠陥
が存在する場合、欠陥に相当するデータが強調され、そ
の他のノイズ成分は平均化され小さくなる。その結果Ｓ
／Ｎが高くなり、欠陥検出精度を向上させることが可能
となる。

【００８０】また、検査対象糸に対して、当該検査対象
糸の配列方向に対して略直交する方向から鋭角に指向性
の強い光を照射するように構成することにより、検査対
象糸（例えば、経糸）のエッジ、特に検査対象でない糸
（緯糸）の上にある部分を強調することができ、撮像手
段（カメラ）により撮像された画像の段階での検査対象
糸の部分とそうでない部分との明暗を強調することが可
能となる。

【００８１】また、画像処理として、撮像手段により撮
像した織布表面の第１画像データを用いて経糸及び／又
は緯糸のそれぞれの織り密度、組織周期及び糸傾斜を算
出し、得られた組織周期を用いて第１画像データを検査
対象糸の長さ方向に双方向に所定量だけ相対的に座標を
ずらせて、それらを第２画像データ及び第３画像データ
とし、第１、第２及び第３画像をそれぞれ同じ座標に重
ねて合成し、これを第４画像とし、当該第４画像に比較
領域を設定するように構成することにより、織布表面の
局部的な濃度むらや糸太さむら、風綿等の異物の付着等
による影響を小さくすることが可能となる。

【００８２】さらに、得られた糸傾斜量を用いて、検査
対象糸が画面の縦又は横のいずれかと平行となるよう
に、第１画像を回転させるように構成することにより、
例えば織布側辺部近傍の検査対象糸が傾斜している部分
であっても織布中央部等における検車対象糸が傾斜して
いない部分と同程度の検査精度を得ることが可能とな
る。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の織布検反装置の一実施形態のブロック
構成図である。

【図２】（ａ）及び（ｂ）はそれぞれ上記実施形態にお
ける光源の発光ダイオード配列例を示す斜視図である。

【図３】（ａ）は上記実施形態の織布検反装置の外観構
成を示す斜視図、（ｂ）はカメラ４を含む撮像ユニット
の構成を示す断面図である。

【図４】上記一実施形態における照明条件を示す図であ
る。

【図５】（ａ）、（ｂ）及び（ｃ）はそれぞれ上記一実
施形態における統計量演算のための矩形領域を説明する
ための図である。

【図６】（ａ）及び（ｂ）はそれぞれ上記一実施形態に
おける地合い補正の効果を説明するための図である。

【図７】上記一実施形態における地合い補正の手順を説
明するための図である。

【図８】（ａ）及び（ｂ）はそれぞれ上記一実施形態に
おける２つの矩形領域の比較による良否判断を説明する
ための図である。

【図９】（ａ）及び（ｂ）はそれぞれ上記一実施形態に
おける欠陥抽出法を説明するための図である。

【図１０】上記一実施形態における動作を説明するため
のフローチャートである。

【図１１】上記フローチャートの続きである。

【符合の説明】

１：光源２：製織中の織布３：撮像レンズ４：カメラ５：Ａ／Ｄ変換回路６：フレームメモリ７：地合い補正回路８：ＦＦＴ回路９：濃度投影回路１０：統計量演算回路１１：統計量加算回路１２：画像バス１３：ＣＰＵバス１４：ＣＰＵ１５：ＲＯＭ１６：ＲＡＭ１７：切り替え装置１８：入出力装置２１：遮蔽板３０：１次元／２次元変換器３１：発光ダイオード３２：ハウジング３３：開口窓４０：一軸移動ステージ

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】製織中の織布の表面を織り幅方向に撮像
手段を走査させ、前記撮像手段により少なくとも織布表
面の織り幅方向に複数の画像を撮像し、撮像した各画像
ごとに所定の処理を行って欠陥の存否を判断し、欠陥が
存在すると判断した場合、当該画像を撮像した位置に前
記撮像手段を停止させ、少なくとも１つの画像をさらに
撮像し、撮像した画像に対して所定の処理を行い、欠陥
が引き続き存在するか否かを判断することを特徴とする
織布検反装置。
【請求項２】さらに撮像した画像に欠陥が存在すると
判断した場合、織布の製織を停止することを特徴とする
請求項１記載の織布検反装置。
【請求項３】さらに撮像した画像に欠陥が存在しない
と判断した場合、前記撮像手段を織り幅方向に再走査さ
せることを特徴とする請求項１記載の織布検反装置。
【請求項４】織布の表面の検査対象糸の配列方向にお
ける同じライン上を撮像手段により撮像し、撮像した複
数の画像に対してそれぞれ所定の画像処理を施し、処理
された各画像データに、それぞれほぼ同じ大きさの少な
くとも２つの比較領域を設定し、各比較領域内のデータ
を用いて各画像ごとに統計量を抽出し、得られた各統計
量を加算し、加算された統計量を用いて織布の欠陥の存
否を判断することを特徴とする織布検反装置。
【請求項５】検査対象糸に対して、当該検査対象糸の
配列方向に対して略直交する方向から鋭角に指向性の強
い光を照射することを特徴とする請求項４記載の織布検
反装置。
【請求項６】画像処理として、前記撮像手段により撮
像した織布表面の第１画像データを用いて経糸及び／又
は緯糸のそれぞれの織り密度、組織周期及び糸傾斜量を
算出し、得られた組織周期を用いて第１画像データを検
査対象糸の長さ方向に双方向に所定量だけ相対的に座標
をずらせて、それらを第２画像データ及び第３画像デー
タとし、前記第１、第２及び第３画像をそれぞれ同じ座
標に重ねて合成し、これを第４画像とし、当該第４画像
に比較領域を設定することを特徴とする請求項４又は５
記載の織布検反装置。
【請求項７】得られた糸傾斜量を用いて、検査対象糸
が画面の縦又は横のいずれかと平行となるように、第１
画像を回転させることを特徴とする請求項６記載の織布
検反装置。