JPH11166990A - ステージ装置及び露光装置並びに走査型露光装置 - Google Patents

ステージ装置及び露光装置並びに走査型露光装置

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JPH11166990A
JPH11166990A JP9333827A JP33382797A JPH11166990A JP H11166990 A JPH11166990 A JP H11166990A JP 9333827 A JP9333827 A JP 9333827A JP 33382797 A JP33382797 A JP 33382797A JP H11166990 A JPH11166990 A JP H11166990A
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guide
movable body
stage device
bearing
stage
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JP9333827A
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Tsuneyuki Hagiwara
恒幸 萩原
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Nikon Corp
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    • FMECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
    • F16ENGINEERING ELEMENTS AND UNITS; GENERAL MEASURES FOR PRODUCING AND MAINTAINING EFFECTIVE FUNCTIONING OF MACHINES OR INSTALLATIONS; THERMAL INSULATION IN GENERAL
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 載置物の精密な位置決めが可能で、特に該載
置物を移動させつつ精密な加工等を行うのに適したステ
ージ装置、および、構成の簡素化及びスループットの向
上可能な露光装置または走査型露光装置を提供する。 【解決手段】 ウェハホルダの底面に一対のX軸方向軸
受体53をYガイドバー40を挟むように固定配置し、
そのX軸方向軸受体53の底面に上下方向支持体55を
固定する。これらのX軸方向軸受体53のYガイドバー
40の両側面との対向面、及び、上下方向支持体55の
定盤の上面との対向面は軸受面56をなす。そして、軸
受面56にはその移動方向のほぼ全長にわたって延びる
ように圧搾空気の供給部57及び回収部58によりなる
静圧気体軸受を形成して、軸受面56と対向する案内面
の平面うねりを容易に吸収できるようにする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、例えば精密加工
装置、精密工作機械、または精密測定装置に好適で、加
工対象物を位置決めするためのステージ装置に関し、さ
らに、そのステージ装置を備えた半導体素子等を製造す
るため露光装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、精密な位置決めを必要とする精密
加工装置、精密工作装置、または精密測定装置には、例
えば定盤、各ステージ及び載置台の各相対移動面間に静
圧気体軸受を用いた静圧気体案内式のステージ装置が用
いられている。このような精密加工装置の内でも、半導
体素子、液晶表示素子、撮像素子(CCD等)、または
薄膜磁気ヘッド等を、例えばフォトリソグラフィー法に
より製造するためのステッパ等の露光装置は、特に厳し
い位置決めの精度が要求される。
【0003】ここで、露光装置とは、レチクル、フォト
マスク等のマスクに形成された回路パターンを、ウェ
ハ、ガラスプレート等の基板に投影転写させるものであ
る。該露光装置には、基板を所定の露光位置に移動させ
る手段として、投影光学系の光軸に直交するようにステ
ージ装置が配置されている。また、近年、露光ショット
領域の拡大要求から、前記基板の露光方法として、前記
マスクと該基板とを同期移動させつつ、露光を行うステ
ップ・アンド・スキャン方式を採用した走査型露光装置
が注目されている。このような走査型露光装置では、基
板を載置するステージ装置のみならず、マスク側にも同
様のステージ装置が使用されている。
【0004】さて、前記露光装置等に適するステージ装
置としては、例えば特開平9−280251号公報に記
載の構成が知られている。すなわち、図8に示すよう
に、定盤101の案内面102上に、その一方向(X軸
方向)に沿って移動可能なYガイドバー103が設けら
れている。そして、載置台104が、該Yガイドバー1
03を跨ぐと共に、下端の軸受面105を前記案内面1
02に対向させて配置されている。該載置台104は、
Yガイドバー103によりX軸方向の位置決めがなされ
ると共に、Yガイドバー103に沿って前記X軸と直交
するY軸方向に移動可能となっている。
【0005】該載置台104の前記案内面102と対向
する軸受面105には、圧搾空気の供給部106と、そ
の供給部106を取り囲むように排気部107とよりな
る静圧軸受部108が形成されている。そして、圧搾空
気の吹き出しによる反発力と、吸引力との釣り合いによ
り、該軸受面105と前記案内面102との間に一定の
隙間が保持される構成となっている。
【0006】また、該軸受面105に前記供給部106
のみが設けられたものも知られている。この場合には、
圧搾空気の吹き出しによる反発力と、載置台104に作
用する重力との釣り合いにより、前記一定の隙間が保持
される構成となっている。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】ところで、図9に示す
ように、定盤101の案内面102は、いかに精密に加
工したとしても、完全な平面に形成することは困難であ
り、わずかな高さの長周期的な平面うねり等の存在は避
けられない。なお、図9においては、理解を容易にする
ために平面うねりを高さ方向に拡大して描いている。
【0008】ここで、前記従来構成における前記軸受面
105に形成された静圧軸受部108は、ほぼ正方形状
をなしていると共に、その軸受面105内において2分
された状態で配設されている。このため、図9に示すよ
うに、載置台104の移動に伴って、静圧軸受部108
が前記案内面102のうねりの凹部109に対応する位
置にある低位状態(図において左の状態)と、該静圧軸
受部108が該うねりの凸部110に対応する位置にあ
る高位状態(図において右の状態)とをとり得る。ここ
で、載置台104が前記低位状態にあるときには、載置
台104の上面をなす載置面111の仮想的な基準面1
12に対する高さは相対的に低くなる。一方、前記高位
状態にあるときには該載置面111の該高さは相対的に
高くなる。つまり、これら2つの状態間において、該載
置面111の前記X軸方向及びY軸方向に直交するZ軸
方向にΔh分の位置ずれが生じる。
【0009】特に、前記Y軸方向に沿って載置台104
を移動させつつ加工等を行うようなステージ装置におい
ては、前記載置台104は前記低位状態と高位状態とを
繰り返すことになる。これにより、載置台104には、
前記X軸に平行な軸線を中心として載置台104が回動
する、いわゆるピッチング現象が発生する。よって、こ
れらのことにより、前記載置面111上に載置される載
置物の精密な加工等に支障を来すおそれがあるという問
題があった。
【0010】また、前記従来構成におけるYガイドバー
103には、前記載置台104をX軸方向に位置決めす
るための平行な2面よりなる位置決め面113が設けら
れている。そして、載置台104の該位置決め面113
と対向する軸受面114にも、前記軸受面105と同様
な静圧軸受部108が設けられている。このため、載置
台104の移動に伴って、該載置台104には前記Z軸
方向の位置ずれに相当するX軸方向の位置ずれが生じ
る。そして、特に、前記Y軸方向に沿って載置台104
を移動させつつ加工等を行うようなステージ装置におい
ては、前記X軸方向への位置ずれの繰り返しにより、前
記Z軸に平行な軸線を中心として載置台104が回動す
る、いわゆるヨーイング現象が発生する。このため、こ
れらのことによっても、前記載置物の精密な加工等に支
障を来すおそれがあるという問題があった。
【0011】さらに、ミクロンオーダーあるいはそれ以
下の精度が要求される前記露光装置においては、わずか
な前記X軸方向またはZ軸方向への位置ずれであって
も、各露光ショット領域毎に複雑なフォーカス制御及び
マスクと基板との間の相対位置制御を行う必要が生じ
る。このため、該露光装置の構成が複雑になるととも
に、スループットが低下するという問題があった。
【0012】しかも、前記走査型露光装置では、わずか
な前記両方向への位置ずれ、ピッチング現象及びヨーイ
ング現象が生じても、各露光ショット領域内において、
マスクまたは基板の移動に伴って、連続的に複雑なフォ
ーカス制御及びマスクと基板との間の相対位置制御を行
うことが必要となる。このため、該走査型露光装置の構
成が複雑になるとともに、スループットが大きく低下す
るという問題があった。
【0013】この発明は、このような従来の技術に存在
する問題点に着目してなされたものである。その目的と
しては、載置物の精密な位置決めを行うことができ、特
に該載置物を移動させつつ精密な加工等を行うのに適し
たステージ装置を提供することにある。また、別の目的
としては、構成の簡素化及びスループットの向上可能な
露光装置または走査型露光装置を提供することにある。
【0014】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、請求項1に記載の発明では、案内面(31a,32
a,35a)を有する案内体(31,32,35)と、
その案内面に対向する対向面(43,56)を有する可
動体(32,33)とを、備えたステージ装置(16)
において、前記案内体(31,32,35)と前記可動
体(32,33)との間には、前記案内面(31a,3
2a,35a)に対して前記可動体(41,42,5
3,55)を浮上させるための浮上機構(44,49)
を前記可動体(32,33)における対向面(43,5
6)に前記可動体(32,33)の移動方向に沿って延
びるように設けたことを要旨としている。
【0015】このような構成によれば、浮上機構が可動
体の移動方向に沿って延びるように形成されているた
め、可動体の対向面に対向する案内面上の移動方向にお
けるうねりが容易に吸収される。そして、可動体の案内
面に対する高さ方向の位置が平均化されて、載置物の精
密な加工等に支障を来すおそれが低減される。請求項2
に記載の発明では、請求項1に記載のステージ装置(1
6)において、前記浮上機構(44,49)は、その長
手方向が前記可動体(32,33)の移動方向と一致す
るように形成されたことを要旨としている。
【0016】このような構成によれば、請求項1に記載
の発明の作用に加えて、可動体の案内面に対する高さ方
向の位置が確実に平均化される。請求項3に記載の発明
では、請求項1または2に記載のステージ装置(16)
において、前記可動体は一側面に載置物(W)を載置し
て移動可能な載置台(33)、または、該載置台(3
3)を一方向に案内するとともに、該載置台(33)を
その一方向と交差する方向への移動を規制して位置決め
するために移動可能に配置された可動案内体(32)で
あり、前記案内体は固定配置された固定案内体(31)
または前記可動案内体(32)であることを要旨として
いる。
【0017】請求項4に記載の発明では、請求項3に記
載のステージ装置(16)において、前記案内体(3
1,32)と載置台(33)との間に前記浮上機構を設
けたことを要旨としている。これらのような構成によれ
ば、請求項1及び2に記載の発明の作用に加えて、可動
案内体または固定案内体の案内面上の載置台の移動方向
におけるうねりが容易に吸収されて、載置台の案内面に
対する高さ方向の位置が平均化される。
【0018】請求項5に記載の発明では、請求項3また
は4に記載のステージ装置(16)において、前記固定
案内体(31)と前記可動案内体(32)との間に前記
浮上機構(44,49)を設けたことを要旨としてい
る。このような構成によれば、請求項3及び4に記載の
発明の作用に加えて、固定案内体の案内面上の可動案内
体の移動方向におけるうねりが容易に吸収されて、可動
案内体の案内面に対する高さ方向の位置が平均化され
る。
【0019】請求項6に記載の発明では、請求項1〜5
のいずれか一項に記載のステージ装置(16)におい
て、前記可動体(32,33)の移動させるための駆動
機構(37,54)は、前記浮上機構(44,49)と
は独立して設けられていることを要旨としている。この
ような構成によれば、請求項1〜5に記載の発明の作用
に加えて、可動体及び案内体の設計の自由度を向上させ
ることができる。
【0020】請求項7に記載の発明では、請求項1〜6
のいずれか一項に記載のステージ装置(16)におい
て、前記浮上機構は、前記案内体(31,32,35)
の案内面(31a,32a,35a)と前記可動体(3
2,33)の対向面(43,56)との間に圧搾気体を
供給して、前記案内面(31a,32a,35a)に対
して前記可動体(32,33)を浮上させる気体軸受を
含むことを要旨としている。
【0021】このような構成によれば、請求項1〜6に
記載の発明の作用に加えて、可動体を簡単な構成で案内
面に対して浮上させることができる。請求項8に記載の
発明では、マスク(R)のパターンを基板(W)上に転
写する露光装置(11)において、前記可動体(33)
が前記マスク(R)または基板(W)を保持する前記請
求項1〜7のいずれか一項に記載のステージ装置を備え
たものである。
【0022】このような構成によれば、ステージ装置に
おける載置台の精密な位置決め容易に確保できて、各露
光ショット領域毎のフォーカス制御及びマスクと基板と
の間の相対位置制御を簡素化することができる。請求項
9に記載の発明では、マスク(R)と基板(W)とを同
期移動しながら前記マスク(R)のパターンを基板上に
転写する走査型露光装置(11)において、前記可動体
(33)がマスク(R)または前記基板(W)を保持す
るものであって、前記浮上機構(44,49)が前記同
期移動の方向に沿って延びるように設けられた前記請求
項1〜7のいずれか一項に記載のステージ装置(16)
を備えたことを要旨としている。
【0023】このような構成によれば、ステージ装置に
おける載置台の精密な位置決め容易に確保できて、各露
光ショット領域内のマスク及び基板の移動に伴うフォー
カス制御及びマスクと基板との間の相対位置制御を簡素
化することができる。請求項10に記載の発明では、請
求項9に記載の走査型露光装置(11)において、前記
浮上機構は、前記可動体(32,33)の移動方向に沿
って延びるとともにその案内面(31a,32a,35
a)に圧搾気体を供給する圧搾気体供給部(44)と、
その圧搾気体供給部(44)の長手方向の側縁に沿うよ
うに配置され、前記圧搾気体を前記案内体(31,3
2,35)と前記可動体(32,33)との間から回収
する圧搾気体回収部(49)とを有し、該圧搾気体回収
部(49)は前記圧搾気体供給部(44)の短手方向の
側縁を回避して配置されたことを要旨としている。
【0024】このような構成によれば、請求項9に記載
の発明の作用に加えて、圧搾気体供給部を可及的に長く
することができて、その長手方向、つまり可動体の移動
方向における可動体の浮上効果を最大限に引き出すこと
ができる。
【0025】
【発明の実施の形態】以下に、この発明を、いわゆるス
テップ・アンド・スキャン方式の走査型露光装置のステ
ージ装置に具体化した一実施形態について図1〜図6に
基づいて説明する。まず、走査型露光装置について、図
1に基づいて説明する。
【0026】露光装置11は、露光光源12と、照明光
学系13と、マスクとしてのレチクルRを支持するレチ
クルステージ14と、投影光学系15と、基板としての
ウェハWを載置支持するステージ装置16とから構成さ
れている。これらの構成部分の内、露光光源12を除く
部分は、温度、湿度等が高精度に制御されたチャンバ1
7内に収納されている。
【0027】前記露光光源12としては、例えば波長1
93nmのレーザ光を発するArFエキシマレーザが使
用される。露光光源12からのレーザ光は、前記チャン
バ17内の照明光学系13に導かれるようになってい
る。前記照明光学系13は、リレーレンズ、フライアイ
レンズ、コンデンサーレンズ等の各種レンズ系や、開口
絞り及び前記レチクルRのパターン面と共役な位置に配
置されたブラインド等(いずれも図示せず)を含んで構
成されている。
【0028】前記レチクルステージ14は、前記照明光
学系13の下方において、そのレチクル載置面21が前
記投影光学系15の光軸方向と直交するように配置され
ている。このレチクルステージ14は、レチクルRを載
置保持するためのレチクルホルダ22を備えている。こ
のレチクルホルダ22は、図示しない駆動機構により、
水平面内をY軸方向(図1において紙面の左右方向)に
移動されるとともに、X軸方向(図1において紙面と直
交する方向)の微動およびZ軸(前記光軸と平行な軸
線)周りの微小回転が可能なように構成されている。そ
して、このレチクルホルダ22は、走査露光時には、後
述するステージ装置16の載置台をなすYステージ32
に対して、後述する投影光学系15の縮小倍率に応じて
定まる速度比をもって反対方向に移動されるようになっ
ている。
【0029】投影光学系15は、例えば反射光学素子2
5及びレンズ群26をそれぞれ3つ備えた3回反射の反
射屈折光学系により構成されている。そして、これらの
レンズ群26により、露光光がこの投影光学系15を通
過する際に、その断面形状が所定の縮小倍率1/n(n
は正の整数)に縮小されるようになっている。図2に示
すように、前記ステージ装置16は、固定配置された固
定案内体としての定盤31と、前記X軸方向に移動可能
に配置されたXステージ32と、Y軸方向に移動可能に
配置されたYステージ33とを備えている。前記Xステ
ージ32は、定盤31上に固定されたXガイドバー35
の案内面35aに沿って移動可能な可動体の役割を担っ
ている。それと同時に、そのXステージ32は、前記Y
ステージ33をY軸方向に沿って案内する案内面32a
を有すると共に、同Yステージ33のX軸方向への移動
を規制して位置決めするための可動案内体としての役割
をも担っている。前記Yステージ33は、ウェハWを載
置するとともに真空吸着して支持するウェハホルダ36
を備えており、載置台を構成している。
【0030】ついで、そのステージ装置16について、
図2〜図5に基づいて詳細に説明する。図2に示すよう
に、前記Xガイドバー35は、定盤31上のY軸方向の
一端の近傍にX軸方向に沿って固定されている。そのX
ガイドバー35の外側及びY軸方向の他端の近傍の定盤
31上には、Xステージ32を駆動するための駆動機構
としての一対の第1リニアモータ37の固定子37a
が、X軸方向に沿って互いに平行な状態で固定されてい
る。その固定子37a上には、可動子37bが架設され
ている。Xガイドバー35側の可動子37bは、Xガイ
ドバー35を跨ぐ固定用フレーム38aを介して、Y軸
方向に沿って延びるように配置されたYガイドバー40
の一端側の上面に固定されている。他方の可動子37b
は、固定用フレーム38bを介してYガイドバー40の
他端側の上面に固定されている。なお、この第1リニア
モータ37は、後述の浮上機構をなす圧縮空気供給部4
4及び圧縮空気回収部49とは独立したものとなってい
る。
【0031】図2、図3(b)及び(d)に示すよう
に、Yガイドバー40のXガイドバー35側端の底面に
は、断面L字状の第1Yガイドバー搬送体41が固定さ
れている。一方、Yガイドバー40の他側端の底面に
は、平板状の第2Yガイドバー搬送体42が固定されて
いる。第1Yガイドバー搬送体41の底面及び外側面
は、それぞれ前記定盤31の案内面としての上面31a
及び前記Xガイドバー35の案内面35aに対向してい
る。また、第2Yガイドバー搬送体42の底面は、定盤
31の上面31aに対向している。以上のXガイドバー
35、Yガイドバー40及び両Yガイドバー搬送体4
1、42等よりXステージ32が構成され、そのXステ
ージ32は第1リニアモータ37の可動子37bと一体
的にX軸方向に沿って移動するようになっている。
【0032】図3(a)、(e)及び図5に示すよう
に、両Yガイドバー搬送体41、42における、定盤3
1の上面31a及びXガイドバー35の案内面35aと
の対向面は、軸受面43となっている。そして、これら
の軸受面43の中央部には、その長手方向、つまりYガ
イドバー搬送体41、42の移動方向であるX軸方向に
沿って軸受面43のほぼ全長にわたって延びるように、
圧搾気体供給部としての凹状をなす圧搾空気供給部44
が形成されている。その圧搾空気供給部44の底部に
は、複数の細孔44aが開口され、この細孔44aは管
路45を介して、例えばコンプレッサよりなる圧搾気体
源46に接続されている(図5参照)。前記管路45の
途中には、温度センサ47及び温調機48が設けられて
おり、一定の温度に調整された圧搾空気が各軸受面43
と前記上面31aまたは前記案内面36aとの間に供給
されるようになっている。
【0033】また、圧搾気体回収部としての圧搾空気回
収部49は、圧搾空気供給部44の長手方向の両側縁の
みに沿って凹状に形成されている。言い換えると、圧搾
空気回収部49は、圧搾空気供給部44の側縁の内で、
短手方向の両側縁に対応する部分を回避して形成されて
いる。その圧搾空気回収部49の底部には、複数の細孔
49aが設けられており、その細孔49aは図示しない
管路を介して前記圧搾気体供給源46に接続されてい
る。これにより、圧搾空気供給部44から供給された圧
搾空気が回収されるようになっている。
【0034】これら圧搾空気供給部44と圧搾気体回収
部49とは、所定の高さの隔壁50により隔絶されてい
る。そして、この圧搾空気供給部44からの圧搾空気の
吹き出しによる反発力と、圧搾空気回収部49における
圧搾空気の回収による吸引力とが釣り合うように制御さ
れている。この制御により、軸受面43と、前記上面3
1aまたは前記案内面35aとの間に一定の静圧が発生
され、軸受面43と、前記上面31aまたは前記案内面
35aとの間に一定の隙間が保持されるようになってい
る。これにより、第1Yガイドバー搬送体41が定盤3
1及びXガイドバー35に対して、第2Yガイドバー搬
送体42が定盤31に対してそれぞれ所定の隙間を介し
て浮上されるようになっている。このように、圧搾空気
供給部44及び圧搾空気回収部49とにより、浮上手段
そして静圧気体軸受が構成されている。
【0035】図2、図3(b)〜(d)及び図4に示す
ように、前記ウェハホルダ36の底面には、一対の互い
に平行なX軸方向軸受体53が前記Yガイドバー40を
挟んで固定配置されている。前記両Yガイドバー搬送体
41、42のそれぞれの両端部には、前記ウェハホルダ
36をY軸方向に沿って駆動するための駆動機構として
の一対の第2リニアモータ54の固定子54aが互いに
平行な状態で固定されている。第2リニアモータ54の
固定子54aには可動子54bが架設され、その可動子
54bは前記X軸方向軸受体53の側面に直接固定され
ている。なお、この第2リニアモータ54は、後述の浮
上機構をなす圧縮空気供給部57及び圧縮空気回収部5
8とは独立したものとなっている。
【0036】また、X軸方向軸受体53の底面には上下
方向支持体55が固定されており、その上下方向支持体
55の底面は前記定盤31の上面31aに対向してい
る。以上の上下方向支持体55、X軸方向軸受体53及
びウェハホルダ36等よりYステージ33が構成され、
そのYステージ33は第2リニアモータ54の可動子5
4b等と一体的にYガイドバー40に沿ってY軸方向に
沿って移動する。
【0037】前記X軸方向軸受体53のYガイドバー4
0の両側面によりなる案内面32aとの対向面、及び、
前記上下方向支持体55の定盤31の上面31aとの対
向面は、前記Yガイドバー搬送体41、42の軸受面4
4と同様の軸受面56となっている。それらの軸受面5
6には、その長手方向、つまりX軸方向軸受体53また
は上下方向支持体55の移動方向に軸受面56のほぼ全
長にわたって延びるように、前記圧搾空気供給部44と
同様の圧搾空気供給部57が形成されている。また、前
記圧搾空気回収部49と同様の圧搾空気回収部58が、
その圧搾空気供給部57の長手方向の両側縁に隔壁50
を介して沿うように形成されている。そして、これらの
圧搾空気供給部57と圧搾空気回収部58との協働によ
り、X軸方向軸受体53及び上下方向支持体55が、そ
れぞれYガイドバー40及び定盤31に対して浮上され
るようになっている。ところで、上下方向支持体55と
Yガイドバー40との間、及び、ウェハホルダ36の底
面とYガイドバー40の上面との間には十分に大きな隙
間が設けられている。
【0038】前記定盤31の上面31aのX軸方向及び
Y軸方向のそれぞれの一端には、ウェハホルダ36の位
置を計測するためのレーザ干渉計59が固定されてい
る。ウェハホルダ36の上面には、そのレーザ干渉計5
9に対向するように移動鏡60が固定されている。そし
て、レーザ干渉計59から放射されたレーザ光は移動鏡
60により反射され、その反射光がレーザ干渉計59に
より検出されるようになっている。
【0039】さらに、このステージ装置16には詳細な
説明は省略するが、ウェハホルダ36を上下方向(Z軸
方向)に移動させると共に、微調整のためにX,Y,Z
軸の回りに回転させる機構が搭載されている。次に、上
記のように構成された露光装置11の動作について説明
する。ウエハWとレチクルRのアライメントが行われた
状態で、露光光源12から露光光が照射されると、この
露光光は照明光学系13を通過する際に、照明光学系1
3内のブラインドによって、例えばスリット状に断面形
状が制限される。そして、この制限された露光光は、フ
ライアイレンズ、コンデンサーレンズ等を介して回路パ
ターンが描画されたレチクルR上のスリット状の照明領
域を均一な照度で照明する。次に、このレチクルRを透
過した露光光は、投影光学系15に入射され、これによ
ってレチクルRの回路パターンが1/n倍に縮小されて
ステージ装置16に載置されたウエハW上に投影露光さ
れる。
【0040】この露光の際には、レチクルRを載置支持
するレチクルホルダ22と、ウエハWを載置支持するウ
ェハホルダ36とがY軸方向に沿って互いに逆向きに所
定の速度比で同期走査される。これにより、レチクルR
のパターン全体が、ウエハW上の1ショット領域に転写
される。このような走査露光は、ステージ装置16のウ
ェハホルダ36のY軸方向に沿った移動、及びYガイド
バー40のX軸方向に沿った移動により、ウエハWを順
次ステップ移動しながら行われる。そして、レチクルR
のパターンが、ウエハW上の全ショット領域に転写され
る。
【0041】次いで、上記のように構成されたステージ
装置16の作用について説明する。この実施形態のステ
ージ装置16においては、定盤31の上面31aに対向
する上下方向支持体55の軸受面56、及び、Yガイド
バー40の案内面32aに対向するX軸方向軸受体53
の軸受面56には、上下方向支持体55及びX軸方向軸
受体53の移動方向(ここでは、Y軸方向)に沿って、
圧搾空気供給部57及び圧搾空気回収部58が延びてい
る。また、定盤31の上面31aに対向する両Yガイド
バー搬送体41、42の軸受面44、及び、Xガイドバ
ー35の案内面35aに対向する第1Yガイドバー搬送
体41の軸受面44には、両Yガイドバー搬送体41、
42の移動方向(ここでは、Y軸方向)に沿って、圧搾
空気供給部44及び圧搾空気回収部49が延びている。
【0042】ところで、図6に示すように、前記上面3
1a及び各案内面32a,35aには、わずかな平面う
ねりが存在している。なお、この図6においても、理解
を容易にするために、平面うねりを高さ方向に拡大して
描いている。ここで、前記圧搾空気供給部44、57と
圧搾空気回収部49、58とよりなる静圧気体軸受が、
前記上下方向支持体55、X軸方向軸受体53、及び両
Yガイドバー搬送体41、42の移動方向に沿って延び
るように設けられている。このため、その静圧気体軸受
が前記うねりの凹部63あるいは凸部64のみと対応す
ることがなく、前記うねりは容易に吸収され、平均化さ
れる。これにより、前記上下方向支持体55、X軸方向
軸受体53、あるいは、両Yガイドバー搬送体41、4
2において、それらと対向する定盤31、Xガイドバー
35、あるいは、Yガイドバー40の仮想的な基準面6
5に対する高さ方向の位置が、一定に保たれる。
【0043】つまり、前記定盤31の上面31aのうね
りに基づく上下方向支持体55及び両Yガイドバー搬送
体41、42のZ軸方向への位置ずれ、Xガイドバー3
5の案内面35aのうねりに基づく第1Yガイドバー搬
送体41のY軸方向への位置ずれ、及び、Yガイドバー
40の案内面32aのうねりに基づくX軸方向軸受体5
3のX軸方向への位置ずれの発生が抑制される。そし
て、前記各可動部分55、52、41、42の移動時に
おいて、その位置ずれが繰り返されることがなく、X軸
回りのピッチング現象、Y軸回りのローリング現象、及
び、Z軸回りのヨーイング現象の発生が抑制される。
【0044】以上のように構成されたこの実施形態によ
れば、以下の優れた効果を奏する。 ・ このステージ装置16においては、可動部分をなす
上下方向支持体55、X軸方向軸受体53、両Yガイド
バー搬送体41、42の圧搾空気供給部44、57及び
圧搾空気回収部49、58よりなる静圧気体軸受は、そ
の長手方向が可動部分41、42、53、55の移動方
向に沿って延びるように形成されている。このため、各
可動部分41、42、53、55の対向する定盤31の
上面31a及び案内面32a、35aのうねりに基づ
く、位置ずれ及びピッチング、ローリング、ヨーイング
の各現象の発生が確実に抑制される。
【0045】従って、ウェハホルダ36に載置支持され
たウェハWの精密な位置決めを確実に行うことができ
て、ウェハWの正確な露光に支障を来すおそれがない。
また、このようなステージ装置16は、特にウェハWを
移動させつつ露光を行うステップ・アンド・スキャン方
式の走査型露光装置のウェハW載置用のステージ装置と
して好適である。
【0046】・ このステージ装置16においては、前
記可動部分41、42、53、55は、その可動部分4
1、42、53、55を、それと対向する上面31aあ
るいは案内面32a、35aに対して浮上させる機構と
は独立した第1、第2リニアモータ37、54により駆
動される。このため、各可動部分41、42、53、5
5の構成が複雑化することがなく、ステージ装置16の
設計の自由度を向上することができる。
【0047】・ このステージ装置16においては、前
記可動部分41、42、53、55を対向する上面31
aあるいは案内面32a、35aに対して浮上させる機
構として、圧搾空気供給部44、57と圧搾空気回収部
49、58とよりなる静圧気体軸受が採用されている。
このため、同可動部分41、42、53、55を、容易
に上面31aまたは案内面32a,35aに対して浮上
させることができる。そして、例えばニードルベアリン
グを採用した場合に比較して、清浄性等を容易に確保で
きると共に、構成の簡素化を図ることができる。
【0048】・ このステージ装置16においては、圧
搾空気回収部49、58が圧搾空気供給部44、57の
長手方向の両側縁のみに沿うように設けられており、そ
の短手方向には存在しない。このため、圧搾空気供給部
44、57をその長手方向に可及的に長くすることがで
きる。従って、圧搾空気供給部44、57の長手方向、
つまり前記可動部分41、42、53、55の移動方向
における同可動部分41、42、53、55の浮上効果
を最大限に引き出すことができる。
【0049】・ このステージ装置16においては、温
調機48の存在により、圧搾空気供給部44、57に一
定温度の圧搾空気が供給されるようになっている。この
ため、軸受面43、56と、それに対向する上面31
a、または案内面32a、35aとの間で発生される静
圧を安定化することができる。従って、ウェハWの位置
ずれの発生を、さらに抑制することができる。
【0050】・ この露光装置11においては、上記構
成のステージ装置16を採用したことにより、ステージ
装置16に載置されたウェハWの精密な位置決めを容易
に確保できる。このため、、各露光ショット領域内及び
各露光ショット毎のフォーカス制御及びレチクルRとウ
ェハWとの間の相対位置制御を簡素化することができ
る。従って、露光装置11の構成の簡素化を図ることが
できると共に、各ショット毎の処理時間を短縮できてス
ループットを向上させることができる。
【0051】(変更例)なお、前記実施形態は、以下の
ように変更して具体化することもできる。 ・ 図7に示すように、前記上下方向支持体55の軸受
面56に圧搾空気供給部57を上下方向支持体55の移
動方向に沿って延びるように複数設ける。そして、各圧
搾空気供給部57の長手方向の両側縁に沿うように圧搾
空気回収部58を設けてもよい。また、各軸受面43、
56をこれと同様に構成してもよい。
【0052】このように構成しても、前記実施形態とほ
ぼ同様の効果を得ることができる。 ・ 定盤31の上面31aに対向する上下方向支持体5
5の軸受面56、及び両Yガイドバー搬送体41、42
の軸受面43の圧搾空気回収部58、49を省略しても
よい。この場合、圧搾空気供給部57、44から吹き出
される圧搾空気の反発力と、上下方向支持体55及び両
Yガイドバー搬送体41、42に作用する重力との釣り
合いにより、軸受面56、43と上面31aとの間に一
定の隙間を保持させる。
【0053】また、Yガイドバー40の案内面32aに
対向するX軸方向軸受体53の軸受面56の圧搾空気回
収部49を省略してもよい。この場合、Yガイドバー4
0を介して、対向するように形成された一対の軸受面5
6の圧搾空気供給部44から吹き出される圧搾空気の反
発力の釣り合いにより、軸受面56と案内面32aとの
間に一定の隙間を保持させる。
【0054】これらのように構成した場合、各静圧気体
軸受の構成の簡素化を図ることができる。 ・ 前記可動部分41、42、53、55の移動方向に
沿って延びる圧搾空気供給部44、57を取り囲むよう
に、圧搾空気回収部49、58を設けてもよい。この場
合、圧搾空気供給部44、57による前記可動部分4
1、42、53、55の移動方向における浮上効果はわ
ずかに低下する。しかしながら、この浮上効果の低下
は、十分に小さいものであり、適用の否定に至るもので
はない。
【0055】・ 前記走査型の露光装置11において、
図7に示すように、両Yガイドバー搬送体41、42の
軸受面43に複数の比較的短い圧搾空気供給部44及び
圧搾空気回収部49によりなる静圧気体軸受を採用して
もよい。このように構成しても、各露光ショット領域内
の露光動作において、Yステージ33はX軸方向には、
Yガイドバー40により位置決めされているため、前記
露光動作に支障を来すおそれはない。
【0056】ところで、この明細書において、ステージ
装置は、露光装置用のステージ装置に限定されるもので
はなく、また、ウェハの載置支持用のステージ装置に限
定されるものでもない。すなわち、このステージ装置
は、レチクル、フォトマスク等の載置用、精密な位置決
めの必要な精密加工装置用、精密測定装置用のステージ
装置等を含むものである。
【0057】また、この明細書において、露光装置は、
半導体素子製造用の露光装置に限定されるものではな
く、また、ステップ・アンド・スキャン方式の走査型露
光装置あるいは縮小投影型の露光装置に限定されるもの
でもない。すなわち、この露光装置は、ステップ・アン
ド・リピート方式の露光装置、等倍投影型の露光装置、
液晶表示素子、撮像素子、薄膜磁気ヘッド等の製造用の
露光装置を含むものである。
【0058】さらに、この明細書において、露光光源
は、ArFエキシマレーザに限定されるものではなく、
電子線源、X線源、F2 エキシマレーザ、KrFエキ
シマレーザ、i線等の紫外線ランプ、h線、g線等の可
視光ランプ等を含むものである。加えて、この明細書に
おいて、圧搾気体は、圧搾空気に限定されるものではな
く、窒素、アルゴン等基板に対して反応性の低い気体で
あれば何でもよい。
【0059】また、前記各実施形態からは、以下に記載
の技術的思想をも抽出することができる。 ・ 前記圧搾気体の温度を調整する調整機構を設けた請
求項7に記載のステージ装置。このように構成した場
合、圧搾空気供給部44、57に一定温度の圧搾空気を
供給することで、軸受面43、56とその対向面31
a、32a、35aとの間で発生される静圧を安定化す
ることができる。従って、ウェハWの位置ずれの発生
を、さらに抑制することができる。
【0060】
【発明の効果】以上詳述したように、この発明によれば
以下の優れた効果を奏する。請求項1〜5の発明によれ
ば、案内面のわずかなうねりを容易に吸収できて、精密
かつ正確な載置物の位置決めを行うことができる。特
に、ピッチング、ローリング、ヨーイング等の現象の発
生を抑制できて、載置物を移動させながら精密な加工等
を行うのに適した装置とすることができる。
【0061】請求項6の発明によれば、請求項1〜5の
発明の効果に加えて、ステージ装置の設計の自由度を向
上できる。請求項7の発明によれば、請求項1〜6の発
明の効果に加えて、可動体を案内体に対して容易かつ確
実に浮上させることができ、静粛性、清浄性等を容易に
確保できると共に、構成の簡素化を図ることができる。
【0062】請求項8及び9の発明によれば、請求項1
〜7の発明の効果に加えて、露光装置または走査型露光
装置の構成の簡素化及びスループットの向上を図ること
ができる。請求項10の発明によれば、請求項9の発明
の効果に加えて、可動体の浮上効果を最大限に引き出す
ことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 走査型露光装置の概略を示す説明図。
【図2】 この発明の一実施形態のステージ装置を示す
一部切欠斜視図。
【図3】 図2のYガイドバーの周辺構成を示し、
(a)は第1Yガイドバー搬送体の軸受面を示す背面
図、(b)はウェハホルダを取り除いた状態のYガイド
バーを中心とした平面図、(c)はX軸方向軸受体の軸
受面を示す側面図、(d)はYガイドバーを中心とした
側面図、(e)はYガイドバーを中心とした底面図。
【図4】 図2のX軸方向軸受体の軸受面を示す一部切
欠斜視図。
【図5】 図2の第1Yガイドバー搬送体の軸受面を中
心に示す一部切欠斜視図。
【図6】 案内面のうねりの吸収に関する説明図。
【図7】 変更例のYガイドバーの周辺構成を示し、
(a)は第1Yガイドバー搬送体の軸受面を示す背面
図、(b)はYガイドバーを中心とした底面図、(c)
はX軸方向軸受体の軸受面を示す側面図。
【図8】 従来のステージ装置の概略を示し、(a)は
平断面図、(b)は部分正断面図。
【図9】 図8のステージ装置における位置ずれの発生
に関する説明図。
【符号の説明】
11…露光装置、16…ステージ装置、31…固定案内
体としての定盤、31a…案内面としての上面、32…
可動体とともに可動案内体を構成するXステージ、32
a…案内面、33…可動体そして載置台としてのYステ
ージ、35…固定案内体としてのXガイドバー、35a
…案内面、37…駆動機構としての第1リニアモータ、
43,56…対向面としての軸受面、44,57…浮上
機構の一部の圧搾気体供給部としての圧搾空気供給部、
49,58…浮上機構の一部の圧搾気体回収部としての
圧搾空気回収部、54…駆動機構としての第2リニアモ
ータ、R…マスクとしてのレチクル、W…基板としての
ウェハ。

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 案内面を有する案内体と、その案内面に
    対向する対向面を有する可動体とを、備えたステージ装
    置において、 前記案内体と前記可動体との間には、前記案内面に対し
    て前記可動体を浮上させるための浮上機構を前記可動体
    における対向面に前記可動体の移動方向に沿って延びる
    ように設けたステージ装置。
  2. 【請求項2】 前記浮上機構は、その長手方向が前記可
    動体の移動方向と一致するように形成された請求項1に
    記載のステージ装置。
  3. 【請求項3】 前記可動体は一側面に載置物を載置して
    移動可能な載置台、または、該載置台を一方向に案内す
    るとともに、該載置台をその一方向と交差する方向への
    移動を規制して位置決めするために移動可能に配置され
    た可動案内体であり、前記案内体は固定配置された固定
    案内体または前記可動案内体である請求項1または2に
    記載のステージ装置。
  4. 【請求項4】 前記案内体と載置台との間に前記浮上機
    構を設けた請求項3に記載のステージ装置。
  5. 【請求項5】 前記固定案内体と前記可動案内体との間
    に前記浮上機構を設けた請求項3または4に記載のステ
    ージ装置。
  6. 【請求項6】 前記可動体の移動させるための駆動機構
    は、前記浮上機構とは独立して設けられている請求項1
    〜5のいずれか一項に記載のステージ装置。
  7. 【請求項7】 前記浮上機構は、前記案内体の案内面と
    前記可動体の対向面との間に圧搾気体を供給して、前記
    案内面に対して前記可動体を浮上させる気体軸受を含む
    請求項1〜6のいずれか一項に記載のステージ装置。
  8. 【請求項8】 マスクのパターンを基板上に転写する露
    光装置において、 前記可動体が前記マスクまたは基板を保持する前記請求
    項1〜7のいずれか一項に記載のステージ装置を備えた
    露光装置。
  9. 【請求項9】 マスクと基板とを同期移動しながら前記
    マスクのパターンを基板上に転写する走査型露光装置に
    おいて、 前記可動体がマスクまたは前記基板を保持するものであ
    って、前記浮上機構が前記同期移動の方向に沿って延び
    るように設けられた前記請求項1〜7のいずれか一項に
    記載のステージ装置を備えた走査型露光装置。
  10. 【請求項10】 前記浮上機構は、前記可動体の移動方
    向に沿って延びるとともにその案内面に圧搾気体を供給
    する圧搾気体供給部と、その圧搾気体供給部の長手方向
    の側縁に沿うように配置され、前記圧搾気体を前記案内
    体と前記可動体との間から回収する圧搾気体回収部とを
    有し、該圧搾気体回収部は前記圧搾気体供給部の短手方
    向の側縁を回避して配置された請求項9に記載の走査型
    露光装置。
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Cited By (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100488400B1 (ko) * 2001-02-27 2005-05-11 캐논 가부시끼가이샤 스테이지장치, 노광장치 및 디바이스제조방법과이동안내방법
JP2005286321A (ja) * 2004-03-04 2005-10-13 Asml Netherlands Bv 可動物品担持装置、可動物品担持装置を含むリトグラフ装置、およびデバイス製造方法
JP2006287098A (ja) * 2005-04-04 2006-10-19 Nsk Ltd 位置決め装置
US7255478B2 (en) 2004-02-13 2007-08-14 Samsung Electronics Co., Ltd. Transporting apparatus
JP2007203398A (ja) * 2006-01-31 2007-08-16 Nippon Bearing Co Ltd テーブル装置
US7589820B2 (en) 2002-12-10 2009-09-15 Nikon Corporation Exposure apparatus and method for producing device
US20130271945A1 (en) 2004-02-06 2013-10-17 Nikon Corporation Polarization-modulating element, illumination optical apparatus, exposure apparatus, and exposure method
CN104395624A (zh) * 2013-07-02 2015-03-04 日本精工株式会社 工作台装置及输送装置
US9341954B2 (en) 2007-10-24 2016-05-17 Nikon Corporation Optical unit, illumination optical apparatus, exposure apparatus, and device manufacturing method
US9423698B2 (en) 2003-10-28 2016-08-23 Nikon Corporation Illumination optical apparatus and projection exposure apparatus
US9645505B2 (en) 2004-06-09 2017-05-09 Nikon Corporation Immersion exposure apparatus and device manufacturing method with measuring device to measure specific resistance of liquid
US9678332B2 (en) 2007-11-06 2017-06-13 Nikon Corporation Illumination apparatus, illumination method, exposure apparatus, and device manufacturing method
US9678437B2 (en) 2003-04-09 2017-06-13 Nikon Corporation Illumination optical apparatus having distribution changing member to change light amount and polarization member to set polarization in circumference direction
US9684250B2 (en) 2003-12-23 2017-06-20 Asml Netherlands B.V. Lithographic apparatus and device manufacturing method
US9829799B2 (en) 2004-04-14 2017-11-28 Asml Netherlands B.V. Lithographic apparatus and device manufacturing method
US9885872B2 (en) 2003-11-20 2018-02-06 Nikon Corporation Illumination optical apparatus, exposure apparatus, and exposure method with optical integrator and polarization member that changes polarization state of light
US9891539B2 (en) 2005-05-12 2018-02-13 Nikon Corporation Projection optical system, exposure apparatus, and exposure method
US9939739B2 (en) 2003-05-23 2018-04-10 Nikon Corporation Exposure apparatus and method for producing device
US9958786B2 (en) 2003-04-11 2018-05-01 Nikon Corporation Cleanup method for optics in immersion lithography using object on wafer holder in place of wafer
US10101666B2 (en) 2007-10-12 2018-10-16 Nikon Corporation Illumination optical apparatus, exposure apparatus, and device manufacturing method
WO2019214197A1 (zh) * 2018-05-09 2019-11-14 哈尔滨工业大学 基于双层气浮的悬臂式直线运动基准装置

Cited By (38)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100488400B1 (ko) * 2001-02-27 2005-05-11 캐논 가부시끼가이샤 스테이지장치, 노광장치 및 디바이스제조방법과이동안내방법
US7589820B2 (en) 2002-12-10 2009-09-15 Nikon Corporation Exposure apparatus and method for producing device
US9885959B2 (en) 2003-04-09 2018-02-06 Nikon Corporation Illumination optical apparatus having deflecting member, lens, polarization member to set polarization in circumference direction, and optical integrator
US9678437B2 (en) 2003-04-09 2017-06-13 Nikon Corporation Illumination optical apparatus having distribution changing member to change light amount and polarization member to set polarization in circumference direction
US9958786B2 (en) 2003-04-11 2018-05-01 Nikon Corporation Cleanup method for optics in immersion lithography using object on wafer holder in place of wafer
US9939739B2 (en) 2003-05-23 2018-04-10 Nikon Corporation Exposure apparatus and method for producing device
US9423698B2 (en) 2003-10-28 2016-08-23 Nikon Corporation Illumination optical apparatus and projection exposure apparatus
US9760014B2 (en) 2003-10-28 2017-09-12 Nikon Corporation Illumination optical apparatus and projection exposure apparatus
US10281632B2 (en) 2003-11-20 2019-05-07 Nikon Corporation Illumination optical apparatus, exposure apparatus, and exposure method with optical member with optical rotatory power to rotate linear polarization direction
US9885872B2 (en) 2003-11-20 2018-02-06 Nikon Corporation Illumination optical apparatus, exposure apparatus, and exposure method with optical integrator and polarization member that changes polarization state of light
US10613447B2 (en) 2003-12-23 2020-04-07 Asml Netherlands B.V. Lithographic apparatus and device manufacturing method
US10768538B2 (en) 2003-12-23 2020-09-08 Asml Netherlands B.V. Lithographic apparatus and device manufacturing method
US9817321B2 (en) 2003-12-23 2017-11-14 Asml Netherlands B.V. Lithographic apparatus and device manufacturing method
US9684250B2 (en) 2003-12-23 2017-06-20 Asml Netherlands B.V. Lithographic apparatus and device manufacturing method
US10007194B2 (en) 2004-02-06 2018-06-26 Nikon Corporation Polarization-modulating element, illumination optical apparatus, exposure apparatus, and exposure method
US20130271945A1 (en) 2004-02-06 2013-10-17 Nikon Corporation Polarization-modulating element, illumination optical apparatus, exposure apparatus, and exposure method
US10241417B2 (en) 2004-02-06 2019-03-26 Nikon Corporation Polarization-modulating element, illumination optical apparatus, exposure apparatus, and exposure method
US10234770B2 (en) 2004-02-06 2019-03-19 Nikon Corporation Polarization-modulating element, illumination optical apparatus, exposure apparatus, and exposure method
US7255478B2 (en) 2004-02-13 2007-08-14 Samsung Electronics Co., Ltd. Transporting apparatus
JP2005286321A (ja) * 2004-03-04 2005-10-13 Asml Netherlands Bv 可動物品担持装置、可動物品担持装置を含むリトグラフ装置、およびデバイス製造方法
JP4560426B2 (ja) * 2004-03-04 2010-10-13 エーエスエムエル ネザーランズ ビー.ブイ. 可動物品担持装置、可動物品担持装置を含むリトグラフ装置、およびデバイス製造方法
US10234768B2 (en) 2004-04-14 2019-03-19 Asml Netherlands B.V. Lithographic apparatus and device manufacturing method
US9989861B2 (en) 2004-04-14 2018-06-05 Asml Netherlands B.V. Lithographic apparatus and device manufacturing method
US10705432B2 (en) 2004-04-14 2020-07-07 Asml Netherlands B.V. Lithographic apparatus and device manufacturing method
US9829799B2 (en) 2004-04-14 2017-11-28 Asml Netherlands B.V. Lithographic apparatus and device manufacturing method
US9645505B2 (en) 2004-06-09 2017-05-09 Nikon Corporation Immersion exposure apparatus and device manufacturing method with measuring device to measure specific resistance of liquid
JP2006287098A (ja) * 2005-04-04 2006-10-19 Nsk Ltd 位置決め装置
US9891539B2 (en) 2005-05-12 2018-02-13 Nikon Corporation Projection optical system, exposure apparatus, and exposure method
JP2007203398A (ja) * 2006-01-31 2007-08-16 Nippon Bearing Co Ltd テーブル装置
JP4580876B2 (ja) * 2006-01-31 2010-11-17 日本ベアリング株式会社 テーブル装置
US10101666B2 (en) 2007-10-12 2018-10-16 Nikon Corporation Illumination optical apparatus, exposure apparatus, and device manufacturing method
US9857599B2 (en) 2007-10-24 2018-01-02 Nikon Corporation Optical unit, illumination optical apparatus, exposure apparatus, and device manufacturing method
US9341954B2 (en) 2007-10-24 2016-05-17 Nikon Corporation Optical unit, illumination optical apparatus, exposure apparatus, and device manufacturing method
US9678332B2 (en) 2007-11-06 2017-06-13 Nikon Corporation Illumination apparatus, illumination method, exposure apparatus, and device manufacturing method
CN104395624A (zh) * 2013-07-02 2015-03-04 日本精工株式会社 工作台装置及输送装置
US9723917B2 (en) 2013-07-02 2017-08-08 Nsk Ltd. Table device and conveyance device
WO2019214197A1 (zh) * 2018-05-09 2019-11-14 哈尔滨工业大学 基于双层气浮的悬臂式直线运动基准装置
US11143529B2 (en) * 2018-05-09 2021-10-12 Harbin Institute Of Technology Cantilever linear motion reference device employing two-layer air suspension

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