JPH11144817A - コネクタ及びこれを用いたプローブカード - Google Patents

コネクタ及びこれを用いたプローブカード

Info

Publication number
JPH11144817A
JPH11144817A JP9325179A JP32517997A JPH11144817A JP H11144817 A JPH11144817 A JP H11144817A JP 9325179 A JP9325179 A JP 9325179A JP 32517997 A JP32517997 A JP 32517997A JP H11144817 A JPH11144817 A JP H11144817A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
female
male
connector
contact
base
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP9325179A
Other languages
English (en)
Inventor
Noriyuki Nakamura
紀之 中村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Micronics Japan Co Ltd
Original Assignee
Micronics Japan Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Micronics Japan Co Ltd filed Critical Micronics Japan Co Ltd
Priority to JP9325179A priority Critical patent/JPH11144817A/ja
Publication of JPH11144817A publication Critical patent/JPH11144817A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Coupling Device And Connection With Printed Circuit (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 接触子を増加させることなく、多くの接
触子をアース電位のような適宜な電位でシールドする構
造とすることにある。 【解決手段】 雄コネクタは、複数の雄側接触子と、雄
側接触子の配列方向へ伸びる板状の雄側導電体とを雄側
ベースに配置している。雌コネクタは、少なくとも雄側
接触子を受け入れる凹所を雌側ベースに設け、雄側接触
子と接触する複数の雌側接触子の少なくとも一部を凹所
に並列的に配置し、雄側導電体と接触する板状の雌側導
電体を雌側ベースに配置している。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、コネクタ及びこれ
を用いたプローブカードに関し、特に集積回路のような
平板状被検査体の通電試験用として好適なコネクタ及び
これを用いたプローブカードに関する。
【0002】
【従来の技術】半導体ウエーハに形成されたICチップ
への通電試験は、一般に、プローブカードを用いて行わ
れる。従来の多くのプローブカードは、複数のプローブ
を円板状の配線基板に放射状に配置しているにすぎない
から、半導体ウエーハ上のいくつかのICチップを同時
に検査することができるにすぎず、したがって多数のI
Cチップが形成された1つの半導体ウエーハの検査に多
大の時間を要する。
【0003】上記のことから、水平方向へ伸びる平板状
の支持体の下端縁部に複数のプローブを配置した複数の
プローブユニットを用い、それらのプローブユニットを
それらの支持体が互いに平行となるように配線基板に組
み付けたプローブカードが提案されている(特開平7−
201935号公報)。
【0004】従来のプローブカードにおいて、配線基板
とプローブとの間の通電は、複数の同軸ケーブル部を一
方向に配列した複数のフラットケーブルにより行われ
る。フラットケーブルは、一端部においてプローブユニ
ットに電気的に接続され、他端部においてコネクタによ
り配線基板に電気的に接続される。
【0005】このため、従来のプローブカードにおいて
は、図11に示すように、配線基板とフラットケーブル
110とを、フラットケーブル110に設けられ雄コネ
クタ112と配線基板に設けられた雌コネクタ114と
により電気的に接続している。
【0006】雄コネクタ112は、ピン状の複数の雄側
接触子116を電気絶縁材料製の雄側ベース118に一
列に並列的に配置している。これに対し、雌コネクタ1
14は、雄側接触子116を差し込むための筒状の複数
の雌側接触子120を電気絶縁材料製の雌側ベース12
2に一列に並列的に配置している。
【0007】同軸ケーブル部のシールド線は両端の雄側
接触子に電気的に接続され、同軸ケーブル部の芯線は残
りの雄側接触子に電気的に接触される。雄コネクタ11
2及び雌コネクタ114が相互に結合された状態におい
て、両端の雄側及び雌側接触子は同軸ケーブル部のアー
ス電位のシールド線に接続され、残りの雄側及び雌側接
触子は同軸ケーブル部の芯線から信号を受ける。
【0008】しかし、従来のコネクタは、両端の雄側及
び雌側接触子をアース用として用いているにすぎないか
ら、コネクタの部分において、ノイズが高くなり、電流
が流れにくく、その上インピーダンスマッチングが悪
い。それらの結果、従来のコネクタでは、良好な周波数
特性が得られない。
【0009】上記課題を解決すべく、アース電位用に用
いる接触子の数を多くすると、それだけ多くの接触子が
必要になるから、コネクタが複雑化及び大型化し、それ
だけ高価になる。
【0010】
【解決しようとする課題】それゆえに、コネクタにおい
ては、接触子を増加させることなく、多くの接触子をア
ース電位のような適宜な電位でシールドする構造とする
ことが重要である。
【0011】
【解決手段、作用および効果】本発明のコネクタは、互
いに結合される雄コネクタ及び雌コネクタを含む。雄コ
ネクタは、電気絶縁性の雄側ベースと、該雄側ベースに
並列的に配置された複数の雄側接触子と、雄側ベースに
配置されて雄側接触子の側部を雄側接触子の配列方向へ
伸びる板状の雄側導電体とを備える。
【0012】雌コネクタは、少なくとも雄側接触子を受
け入れるべく雄側接触子の配列方向へ伸びる凹所を有す
る電気絶縁性の雌側ベースと、凹所に受け入れられた雄
側接触子と接触するように少なくとも一部を凹所内に並
列的に配置された複数の雌側接触子と、雄コネクタ及び
雌コネクタが結合されたとき雄側導電体と接触するよう
に雌側ベースに配置されて雌側接触子の側部を雌側接触
子の配列方向へ伸びる板状の雌側導電体とを備える。
【0013】コネクタは、同軸ケーブル部のシールド線
を雄側導電体に接続し、同軸ケーブル部の芯線を雄側接
触子に接続することができる。これにより、接触子に供
給される試験用信号は、それらの側部をそれらの配列方
向へ伸びる両導電体に供給される電位によりシールドさ
れるから、接触子を増やすことなく、コネクタの部分に
おいて、ノイズが小さく、電流が流れやすく、その上イ
ンピーダンスマッチングが高く、それらの結果良好な周
波数特性が得られる。
【0014】電気絶縁性のスペーサを間にして雄側接触
子及び雄側導電体を一体的に形成し、雌側導電体を雌側
接触子から間隔をおいて凹所内に配置することができ
る。これにより、一体化された雄側接触子及び雄側導電
体を雌コネクタの凹所に差し込むことにより、雄雌両接
触子を電気的に接続することができるし、雄雌両導電体
を電気的に接続することができる。
【0015】雌側導電体は、凹所内に位置するコンタク
ト部と、該コンタクト部の下端から雌側ベースの下面に
達する貫通部と、該貫通部の下端から雌側ベースの下面
に沿って雌側接触子と反対の側へ伸びる延長部とを有す
ることができる。これにより、雌側導電体を延長部にお
いて配線基板に接続することができるから、配線基板へ
の雌側導電体の接続作業が容易になる。
【0016】各雌側接触子は、凹所内に位置する雌側コ
ンタクト部と、該雌側コンタクト部の下端から雌側ベー
スの下方へ突出する延長部とを有することができる。こ
れによっても、雌側接触子を延長部において配線基板に
接続することができるから、配線基板への雌側接触子の
接続作業が容易になる。
【0017】雄側導電体は、雄側ベースに取り付けられ
た取付部と、取付部から雄側ベースの側部を下方へ伸び
て雄側ベースより下方に突出する雄側コンタクト部とを
有し、雌側導電体は雌側ベースの側部に配置されていて
もよい。これにより、雌側ベースの側壁を雄側接触子と
雄側導電体との間に受け入れるように、雄側接触子を雌
コネクタの凹所に差し込むことにより、雄雌両接触子を
電気的に接続することができるし、雄雌両導電体を電気
的に接続することができる。
【0018】雌側導電体は、雌側ベースの側部に位置す
る雌側コンタクト部と、該雌側コンタクト部の下端から
雌側接触子と反対の側へ伸びる延長部とを有することが
できる。これによっても、雌側導電体を延長部において
配線基板に接続することができるから、配線基板への雌
側導電体の接続作業が容易になる。
【0019】本発明のプローブカードは、配線基板と、
該配線基板に支持された1以上のプローブ組立体と、複
数の同軸ケーブル部を一方向に配列した1以上のフラッ
トケーブルであって前記プローブ組立体に接続されたフ
ラットケーブルと、上記のような1以上のコネクタとを
含む。
【0020】雄コネクタはフラットケーブルに配置さ
れ、雌コネクタは配線基板に配置される。雄コネクタ
は、その雄側接触子をフラットケーブルの同軸ケーブル
部の芯線に接続され、雄側導電体を同軸ケーブル部のシ
ールドに接続される。雄コネクタは、少なくとも雄側接
触子を雌コネクタの凹所に差し込まれる。これにより、
雄雌両接触子同士及び雄雌両導電体同士が電気的に接続
される。
【0021】プローブカードによっても、接触子に供給
される試験用信号がそれらの接触子の側部をそれらの配
列方向へ伸びる導電体に供給される電位によりシールド
されるから、接触子を増やすことなく、コネクタの部分
において、ノイズが小さく、電流が流れやすく、その上
インピーダンスマッチングが高くなり、それらの結果良
好な周波数特性が得られる。
【0022】配線基板は、雌側接触子に接続された複数
の配線部と、雌側導電体に接続された1以上の配線層と
を有することができる。
【0023】
【発明の実施の形態】図1〜図3を参照するに、プロー
ブカード10は、複数のICチップ(集積回路チップ)
を有する半導体ウエーハのように多数の端子部(電極
部)を微小ピッチで配置した平板状の被検査体12の通
電試験に用いられる。被検査体12は、検査ステージ1
4のチャックトップ16の上に真空吸着により保持され
る。
【0024】プローブカード10は、円板状の配線基板
20と、該配線基板に組み付けられた長方形の取付枠2
2と、該取付枠に並列的に配置された複数のプローブユ
ニット24と、各プローブユニット24から伸びる可撓
性の複数のフラットケーブル26と、取付枠22に並列
的に配置された板状部材28とを含む。
【0025】プローブカード10は、配線基板20の厚
さ方向が上下方向となるように、図示しない検査装置に
取り付けられる。なお、図1はフラットケーブル26を
除去した状態で示す。
【0026】配線基板20は、左右方向に長い長方形の
開口30を中央部に有し、外部のテスタに電気的に接続
される複数のテスターランド32を外周部に有し、フラ
ットケーブル26を接続する複数の雌コネクタ34を前
後方向の中間部に有し、板状部材28に電気的に接続さ
れる複数の電源ランド36を開口30の長手方向両側に
有する。
【0027】配線基板20は、印刷配線技術により製作
することができる。開口30は、配線基板20を厚さ方
向に貫通する貫通穴である。雌コネクタ34について
は、後に図4から図6を参照して説明する。
【0028】取付枠22は、開口30に嵌合されてお
り、また複数のねじ部材または接着剤により配線基板2
0に変位不能に取り付けられている。取付枠22は、配
線基板20の一部材として作用する。しかし、取付板2
2を設けなくてもよい。
【0029】各プローブユニット24は、細長い平板状
の形状を有しており、また両端部においてねじ部材によ
り取付枠22に取り外し可能に取り付けられている。
【0030】各フラットケーブル26は、複数の同軸ケ
ーブル部を有する可撓性の帯状配線部材であり、また配
線基板20の雌コネクタ34に結合される雄コネクタ3
8を一端部に有する。図示の例では、複数のフラットケ
ーブル26がプローブユニット24毎に設けられてい
る。雄コネクタ38については、後に図4から図6を参
照して説明する。
【0031】各板状部材28は、印刷配線技術により形
成された導電性の複数の配線部を有するT字状の印刷配
線回路基板であり、また図3に示すように、上部の各端
部に複数のランド40を有する。各板状部材28の各配
線部は、ランド40に電気的に接続されている。図示の
例では、1つのプローブユニット24に1つの板状部材
28が設けられている。
【0032】各板状部材28の各ランド40は、導線4
2により配線基板20の電源ランド36に接続される。
配線基板20の電源ランド36のうち、1以上のランド
36はアースに接続され、残りのランド36は電源の正
または負の電位を有する端子に接続される。このため、
各板状部材28の配線部のうち、1以上の配線部はアー
スラインの一部として作用し、残りの配線部は電源用ラ
インすなわち電力供給用ラインの一部として作用する。
【0033】各プローブユニット24は、細長い直方体
状の形状を有する支持体44と、該支持体の下端部にそ
の長手方向へ間隔をおいて配置された複数のプローブ4
6とを含む。板状部材28は、プローブユニット24の
一部材としてプローブユニット24毎に設けられてい
る。しかし、板状部材28を設けなくてもよい。
【0034】支持体44は、断面形状がほぼ長方形の厚
い板の形を有しており、また、各端面の上端部から長手
方向へ突出する板状の取付部においてねじ部材により取
付枠22に取り付けられている。板状部材28は、支持
体44に支持されている。
【0035】各プローブ46は、導電性の金属細線から
形成されている。プローブ46は、同じプローブユニッ
ト24のプローブ46の針先が同じ側となりかつ互いに
平行に伸びるように、合成樹脂、接着剤等の電気的絶縁
材料からなる装着手段により支持体44の下面に取り付
けられている。
【0036】プローブユニット24は、プローブ46の
最先端の位置が同じ平面上に位置するように、製作され
ている。複数のプローブ46の後端は、対応する板状部
材28の配線部に半田付け等により電気的に接続されて
いる。残りの複数のプローブ46の後端は対応するフラ
ットケーブル26のケーブル部の芯線に半田付け等によ
り電気的に接続されている。
【0037】板状部材28の配線部に接続されるプロー
ブの数及びその位置は、1つのプローブユニットで一回
に試験すべき被検査体の数により異なる。図示の例で
は、1つのプローブユニット24により一回に検査する
被検査体の数が1つであることから、配列方向両端部に
位置する複数のプローブ46の後端は、対応する板状部
材28の配線部に半田付け等により電気的に接続されて
いる。
【0038】平板状被検査体の通電試験時、各プローブ
46は、被検査体12がステージ14によりプローブカ
ード10に向けて上昇されることにより、針先を被検査
体12の端子部に押圧された状態で、所定の電圧を印加
される。
【0039】図4から図6を参照するに、コネクタ50
は、雌コネクタ34及び雄コネクタ38を用いる。
【0040】雌コネクタ34は、樹脂のような電気絶縁
材料製の細長い板状の雌側ベース52と、該雌側ベース
に並列的に配置された複数の雌側接触子54と、雌側ベ
ース52に配置された板状の雌側導電体56とを備え
る。これに対し、雄コネクタ38は、樹脂のような電気
絶縁材料製の細長い板状の雄側ベース58と、該雄側ベ
ースに並列的に配置された複数の雄側接触子60と、雄
側ベース58に配置された板状の雄側導電体62とを備
える。
【0041】各雌側接触子54は、四角形の断面形状を
有するピンから製作されている。各雌側接触子54は、
また雌側ベース52に形成された凹所64内に位置する
雌側コンタクト部54aと、該雌側コンタクト部の下端
から伸びて雌側ベース52の下方へ突出する延長部54
bとを有する。雌側接触子54は、凹所64の長手方向
(雌側接触子54の配列方向)に間隔をおいている。上
下方向へ伸びる溝66を凹所64の側壁に凹所64の長
手方向へ一定にピッチで形成し、各溝66にコンタクト
部54aを配置してもよい。
【0042】雌側導電体56は、凹所64内に位置する
雌側コンタクト部56aと、該雌側コンタクト部の下端
から雌側ベース52の下面に達する貫通部56bと、該
貫通部の下端から雌側ベース52の下面に沿って雌側接
触子54と反対の側へ伸びる延長部56cとを有する。
【0043】雄側接触子60は、四角形の断面形状を有
するピンから製作されており、また、四角形の一つの辺
に対応する面が共通の面となるように、雄側ベース58
の素材からなる電気絶縁材料を間にして雌側接触子54
と同じピッチで一列に配置されている。
【0044】雄側導電体62は、雄側ベース58の素材
からなる電気絶縁性のスペーサ68を間にして雄側接触
子60と一体的に形成されており、また、雄側接触子6
0とともに雄側ベース58を上下方向に貫通している。
一体化された雄側接触子60及び雄側導電体62は、雌
側ベース52の凹所64に受け入れられる。
【0045】各雌側接触子54及び雌側導電体56は、
スペーサ68とともに一体化された雄側接触子60及び
雄側導電体62をそれらの間に受け入れるように雌側ベ
ース52と一体的に形成されている。コンタクト部54
a,56aは、一体化された雄側接触子60及び雄側導
電体62をそれらの間に受け入れるように、弾性変形可
能に湾曲されている。
【0046】各雌側接触子54は配線基板の配線部に電
気的に接続され、雌側導電体56は配線基板のアース用
配線部に電気的に接続される。各雄側接触60は同軸ケ
ーブル部70の芯線72に接続され、雄側導電体62は
同軸ケーブル部70のシールド線74に接続される。
【0047】コネクタ50においては、雌側接触子54
及び雌側導電体56をそれぞれ延長部54b及び56c
において配線基板に接続することができるから、配線基
板への雌側接触子54及び雌側導電体56の接続作業が
容易になる。
【0048】一体化された雄側接触子60及び雄側導電
体62は、雌コネクタ34の凹所64に差し込まれ、雌
側コンタクト部54a,56aにより挟まれる。これに
より、雄雌両接触子60,54が接触して電気的に接続
され、雄雌両導電体62,56が接触して電気的に接続
される。
【0049】接触子54,60に供給される試験用信号
は、それらの側部をそれらの配列方向へ伸びる両導電体
56,62に供給されるアース電位によりシールドされ
る。これにより、接触子を増やすことなく、コネクタ5
0の部分において、ノイズが小さく、電流が流れやす
く、その上インピーダンスマッチングが高く、それらの
結果良好な周波数特性が得られる。
【0050】図7から図10を参照するに、他のコネク
タ80は、雌コネクタ82及び雄コネクタ90を用い
る。コネクタ50と同様に、雌コネクタ82は、雌側ベ
ース84と、複数の雌側接触子86と、雌側導電体88
とを備え、雄コネクタ90は、雄側ベース92と、複数
の雄側接触子94と、雄側導電体96とを備える。
【0051】各雌側接触子86の雌側コンタクト部86
aは、雌側ベース84の凹所98内に配置され、延長部
86bは雌側コンタクト部86aの下端から伸びて雌側
ベース84の下方へ突出する。雌側接触子86は、凹所
98の長手方向に間隔をおいている。
【0052】雌側導電体88は、雌側ベース84の側面
に移動不能に配置された雌側コンタクト部88aと、コ
ンタクト部88aの下端から雌側接触子86と反対の側
へ曲げられた延長部88bとによりL字状の形状を有す
る。
【0053】各雄側接触子94は、雄側ベース92を貫
通している。雄側接触子94は、凹所98の長手方向に
間隔をおいている。各雄側導電体96は、雄側ベース9
2に取り付けられた取付部96aと、取付部96aから
雄側ベース92の側部を下方へ伸びて雄側ベース92よ
り下方へ突出する雄側コンタクト部96bとによりL字
状に曲げられている。
【0054】各雌側接触子86は配線基板の配線部に電
気的に接続され、雌側導電体88は配線基板のアース用
配線部に電気的に接続される。図9に示すように、各雄
側接触94は同軸ケーブル部70の芯線72に接続さ
れ、雄側導電体96は同軸ケーブル部70のシールド線
74に接続される。
【0055】コネクタ80も、雌側接触子86及び雌側
導電体88をそれぞれ延長部86b及び88bにおいて
配線基板に接続することができるから、配線基板への雌
側接触子86及び雌側導電体88の接続作業が容易にな
る。
【0056】雄コネクタ90は、雌側ベース84の一部
と雌側導電体88のコンタクト部88aとを雄側接触子
94と雄側導電体96のコンタクト部96aとの間に受
け入れるように、雄側接触子94を凹所98に差し込む
ことにより、雌コネクタ82に結合される。
【0057】雄側接触子94は雌側接触子86のコンタ
クト部86aを弾性変形させるように凹所98に差し込
まれる。雄側導電体96は、雌側ベース84の一部と雌
側導電体88のコンタクト部88aとを雄側接触子94
と雄側導電体96のコンタクト部96bとの間に受け入
れるように、弾性変形する。これにより、雄雌両接触子
94,86が接触して電気的に接続され、雄雌両導電体
96,88が接触して電気的に接続される。
【0058】コネクタ80も、接触子86,94に供給
される試験用信号は、それらの側部をそれらの配列方向
へ伸びる両導電体88,96に供給されるアース電位に
よりシールドされる。これにより、接触子を増やすこと
なく、コネクタ80の部分において、ノイズが小さく、
電流が流れやすく、その上インピーダンスマッチングが
高く、それらの結果良好な周波数特性が得られる。
【0059】上記実施例において、雄側接触子60,9
4及び雄側導電体62,96は、半田のような導電性接
着剤により同軸ケーブル部に接続することができる。ま
た、アース電位を導電体56,62,88,96に印加
する代わりに、他の電位を導電体56,62,88,9
6に印加してもよい。
【0060】上記の実施例では、4つのプローブユニッ
トを備えているが、本発明は、複数、好ましくは2n
(ただし、nは1以上の整数)のプローブユニットを備
えたプローブカードに適用することができる。また、本
発明は、プローブを1層に配置したプローブカードのみ
ならず、プローブを2層以上の多層に配置したプローブ
カードにも適用することができる。
【0061】本発明は、上記実施例に限定されない。た
とえば、本発明は、半導体ウエーハに形成されたICチ
ップのみならず、切断されたICチップ、液晶表示パネ
ル等の他の平板状被検査体の検査に用いるコネクタ及び
プローブカードにも適用することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のプローブカードの一実施例を示す平面
図である。
【図2】図1の2−2線に沿って得た断面図である。
【図3】図1の3−3線に沿って得た断面図である。
【図4】本発明のコネクタの一実施例を一方向から見た
斜視図である。
【図5】図4に示すコネクタを他の方向から示す斜視図
である。
【図6】図4に示すコネクタの雌コネクタ及び雄コネク
タを結合させた状態の拡大断面図である。
【図7】コネクタの他の実施例を一方向から見た斜視図
である。
【図8】図7に示すコネクタを他の方向から示す斜視図
である。
【図9】雄コネクタと同軸ケーブル部との接続状態を示
す斜視図である。
【図10】図7に示すコネクタの雌コネクタ及び雄コネ
クタを結合させた状態の拡大断面図である。
【図11】従来のコネクタの斜視図である。
【符号の説明】
10 プローブカード 12 被検査体 20 配線基板 22 取付枠 24 プローブユニット 26 フラットケーブル 28 板状部材 30 開口(貫通穴) 46 プローブ 50,80 コネクタ 34,82 雌コネクタ 38,90 雄コネクタ 52,84 雌側ベース 54,86 雌側接触子 56,88 雌側導電体 58,92 雄側ベース 60,94 雄側接触子 62,96 雄側導電体 64,98 凹所

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 互いに結合される雄コネクタ及び雌コネ
    クタを含み、 前記雄コネクタは、電気絶縁性の雄側ベースと、該雄側
    ベースに並列的に配置された複数の雄側接触子と、前記
    雄側ベースに配置されて前記雄側接触子の側部を前記雄
    側接触子の配列方向へ伸びる板状の雄側導電体とを備
    え、 前記雌コネクタは、少なくとも前記雄側接触子を受け入
    れるべく前記雄側接触子の配列方向へ伸びる凹所を有す
    る電気絶縁性の雌側ベースと、前記凹所に受け入れられ
    た前記雄側接触子と接触するように少なくとも一部を前
    記凹所内に並列的に配置された複数の雌側接触子と、前
    記雄コネクタ及び前記雌コネクタが結合されたとき前記
    雄側導電体と接触するように前記雌側ベースに配置され
    た板状の雌側導電体であって前記雌側接触子の側部を前
    記雌側接触子の配列方向へ伸びる板状の雌側導電体とを
    備える、コネクタ。
  2. 【請求項2】 前記雄側接触子及び前記雄側導電体は電
    気絶縁性のスペーサを間にして一体的に形成されてお
    り、前記雌側導電体は前記雌側接触子から間隔をおいて
    前記凹所内に配置されている、請求項1に記載のコネク
    タ。
  3. 【請求項3】 前記雌側導電体は、前記凹所内に位置す
    るコンタクト部と、該コンタクト部の下端から前記雌側
    ベースの下面に達する貫通部と、該貫通部の下端から前
    記雌側ベースの下面に沿って前記雌側接触子と反対の側
    へ伸びる延長部とを有する、請求項2に記載のコネク
    タ。
  4. 【請求項4】 各雌側接触子は、前記凹所内に位置する
    雌側コンタクト部と、該雌側コンタクト部の下端から前
    記雌側ベースの下方へ突出する延長部とを有する、請求
    項2又は3に記載のコネクタ。
  5. 【請求項5】 前記雄側導電体は、前記雄側ベースに取
    り付けられた取付部と、前記取付部から前記雄側ベース
    の側部を下方へ伸びて前記雄側ベースより下方へ突出す
    る雄側コンタクト部とを有し、前記雌側導電体は前記雌
    側ベースの側部に配置されている、請求項1に記載のコ
    ネクタ。
  6. 【請求項6】 前記雌側導電体は、前記雌側ベースの側
    部に位置する雌側コンタクト部と、該雌側コンタクト部
    の下端から前記雌側接触子と反対の側へ伸びる延長部と
    を有する、請求項5に記載のコネクタ。
  7. 【請求項7】 配線基板と、該配線基板に支持されたプ
    ローブ組立体と、複数の同軸ケーブル部を一方向に配列
    したフラットケーブルであって前記プローブ組立体に接
    続されたフラットケーブルと、請求項から6のいずれか
    1項に記載されたコネクタとを含み、 前記コネクタの雄コネクタは前記フラットケーブルに配
    置され、前記コネクタの雌コネクタは前記配線基板に配
    置され、前記雄コネクタの接触子は前記同軸ケーブル部
    の芯線に接続され、前記雄コネクタの導電体は前記同軸
    ケーブル部のシールド線に接続されている、プローブカ
    ード。
  8. 【請求項8】 前記配線基板は、前記雌側コネクタの雌
    側接触子に接続された複数の配線部と、前記雌コネクタ
    の雌側導電体に接続された1以上の配線層とを有する、
    請求項7に記載のプローブカード。
JP9325179A 1997-11-12 1997-11-12 コネクタ及びこれを用いたプローブカード Pending JPH11144817A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9325179A JPH11144817A (ja) 1997-11-12 1997-11-12 コネクタ及びこれを用いたプローブカード

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9325179A JPH11144817A (ja) 1997-11-12 1997-11-12 コネクタ及びこれを用いたプローブカード

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH11144817A true JPH11144817A (ja) 1999-05-28

Family

ID=18173898

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP9325179A Pending JPH11144817A (ja) 1997-11-12 1997-11-12 コネクタ及びこれを用いたプローブカード

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH11144817A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20190069078A (ko) * 2017-12-11 2019-06-19 울산과학기술원 압저항성을 이용한 압력센서 소자 및 이의 조립체

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20190069078A (ko) * 2017-12-11 2019-06-19 울산과학기술원 압저항성을 이용한 압력센서 소자 및 이의 조립체

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6707311B2 (en) Contact structure with flexible cable and probe contact assembly using same
JP3442137B2 (ja) 導電性接触子ユニット
US20020050832A1 (en) Probe contact system having planarity adjustment mechanism
US20040051541A1 (en) Contact structure with flexible cable and probe contact assembly using same
JP5232593B2 (ja) 電気的接続装置
KR101149748B1 (ko) 전기접속구조, 단자장치, 소켓, 전자부품시험장치 및 소켓의 제조방법
JP4571640B2 (ja) 接触子ブロック及び電気的接続装置
KR100272715B1 (ko) 프로브유닛 및 검사용 헤드
JPH10185954A (ja) 検査用ヘッド
JP2734412B2 (ja) 半導体装置のソケット
US6566899B2 (en) Tester for semiconductor device
JP4455940B2 (ja) 電気的接続装置
JP4102571B2 (ja) 接触子及び電気的接続装置
US7559773B2 (en) Electrical connecting apparatus
US6650134B1 (en) Adapter assembly for connecting test equipment to a wireless test fixture
JPH11144817A (ja) コネクタ及びこれを用いたプローブカード
JPH0726716Y2 (ja) Icテスト用接続具
JPH09329627A (ja) プローブカード
JP3837212B2 (ja) 平板状被検査体のための検査用ヘッド
JPH04277665A (ja) 半導体集積回路装置のソケット
JPH11271359A (ja) フラットケーブル、プローブ組立体及びプローブカード
JP3055506B2 (ja) Icソケット
JP3172305B2 (ja) 半導体装置の製造方法
CN112433077A (zh) 探针模块
JP2003217777A (ja) 電気的接続装置