JP3442137B2 - 導電性接触子ユニット - Google Patents
導電性接触子ユニットInfo
- Publication number
- JP3442137B2 JP3442137B2 JP08733794A JP8733794A JP3442137B2 JP 3442137 B2 JP3442137 B2 JP 3442137B2 JP 08733794 A JP08733794 A JP 08733794A JP 8733794 A JP8733794 A JP 8733794A JP 3442137 B2 JP3442137 B2 JP 3442137B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- conductive
- unit
- hole
- pair
- contact unit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Coupling Device And Connection With Printed Circuit (AREA)
- Multi-Conductor Connections (AREA)
Description
素子等との間に於いて電気信号を授受するのに適する導
電性接触子に関し、特に、複数の導電性針状体を用いて
多点同時に電気信号の授受を行うのに適する導電性接触
子に関する。
電子素子などの電気的検査を行うためのコンタクトプロ
ーブに用いられる導電性接触子には、導電性針状体と、
その針状体を軸線方向に変位自在に受容する筒状のホル
ダとを有し、針状体の先端をホルダの前端から突出させ
る向きにコイルばねにて弾発付勢しておき、針状体の先
端を被測定物に弾発的に接触させるようにしたものがあ
る。
ば実開昭60−154868号公報に開示されているよ
うに、一対の導電性針状体を軸線方向両端にてそれぞれ
出没自在にした両端可動型のものがある。この両端可動
型の導電性接触子は、2つの回路基板同士を結合して製
品化するものに於いて、両基板同士を結合する前に両者
間を仮接続して検査を行う際に用いるのに適する。ま
た、液晶パネルの点灯検査やアレイ基板検査を行うべ
く、そのパネル点灯駆動用LSIとしてのTAB及びP
CB(実装プリント基板)を結合する前工程で液晶パネ
ルを検査する場合には、液晶パネルのセルの配線パター
ンによる接続電極数と同数の接触子を有する導電性接触
子ユニットを用いて行う場合がある。
のTABを導電性接触子ユニットに組み込み、接触子の
リード線をTABの対応する電極に接続しておき、針状
体を液晶パネルの接続電極に接触させて、またTABと
PCBとの間も電気的に接続しておき、検査装置からの
映像信号をPCB及びTABと接触子とを介して液晶パ
ネルに送り、画像の検査を行うことができる。
CBが故障することがあるため、それらを容易に交換し
得ることが望ましいが、上記した従来構造のものでは、
接触子のリード線をTABの電極から外さなければなら
ず、半田付けにて接続していた場合には、その除去及び
新しいTABとの半田付け作業を行うことになる。しか
しながら、アレイ基板検査はクリーン度10前後のクリ
ーンルームにて行われることから、半田作業を伴うTA
Bなどの交換時にはユニットを一旦クリーンルームから
運び出し、交換後クリーンルームに搬入する際にはユニ
ット全体を改めて洗浄する必要があるなど、交換作業が
極めて煩雑化するという問題があった。
問題点に鑑み、本発明の主な目的は、部品交換やメンテ
ナンス時に於ける作業性を向上し得る導電性接触子ユニ
ットを提供することにある。
明によれば、絶縁性支持部材に設けた貫通孔内に、コイ
ルばねを伸縮可能に受容しかつ当該コイルばねの両端に
結合された一対の導電性針状体を前記貫通孔の両開口端
部にて出没自在に支持したユニット部品を少なくとも2
段以上に重ね合わせると共に、前記重ね合わされた各ユ
ニット部品の前記各一対の導電性針状体の互いに対向す
るもの同士間を電気的に接続するための電気素子が、前
記重ね合わされた各ユニット部品の一方に積層され、前
記電気素子の一部が前記重ね合わされた各ユニット部品
間に挟持され、かつ前記各ユニット部品同士が着脱自在
な結合手段により結合され、前記電気素子の他の部分
が、前記重ね合わされた各ユニット部品の一方に分離可
能な固定手段により固定されると共に、前記各ユニット
部品及び前記固定手段を分離することにより前記電気素
子が取り外し可能にされていることを特徴とする導電性
接触子ユニット、あるいは、絶縁性支持部材に被接触体
の端子パターンと同数の第1の貫通孔を設けると共に前
記第1の貫通孔に並列に第2の貫通孔を設け、前記各貫
通孔内に、それぞれコイルばねを伸縮可能に受容しかつ
当該コイルばねの両端に結合された一対の導電性針状体
を前記各貫通孔の各両開口端部にて出没自在に支持する
と共に、前記各貫通孔の各前記一対の導電性針状体間を
電気的に接続するための電気素子が、前記第1の貫通孔
と前記第2の貫通孔とに設けられた各一対の導電性針状
体の互いに同方向に臨む各一方をそれぞれ弾発付勢力に
抗して没入させるように前記絶縁性支持部材に載置され
かつ着脱自在な固定部材を前記絶縁性支持部材に結合す
ることにより固定されると共に、前記固定部材を分離す
ることにより取り外し可能にされていることを特徴とす
る導電性接触子ユニットを提供することにより達成され
る。
その貫通孔内に導電性コイルばねを伸縮自在に受容しか
つその両端に一対の導電性針状体を結合してなるユニッ
ト部品を重ね合わせ、それらの間に、重ね合わされたユ
ニット部品の各導電性針状体の対向するもの同士を電気
的に接続する電気素子を挟持することにより、各ユニッ
ト部品の各接触子同士が電気素子を介して通電し得るた
め、それらの電気的接続をリード線などを半田付けして
行う必要がないと共に、電気素子の修理交換などを行う
際には結合手段を解除することにより各ユニット部品を
互いに離反させるのみで、それらの間に挟持されている
電気素子を取外し可能である。また、絶縁性支持部材に
互いに並列な第1及び第2の貫通孔を設け、各貫通孔内
を上記と同様に構成し、各貫通孔の導電性針状体の同方
向に臨む同士を電気的に接続する電気素子を絶縁性支持
部材に載置状態に取り付けることにより、上記と同様に
各接触子同士が電気素子を介して通電し得ると共に、電
気素子を固定する固定部材を取り外すのみで電気素子を
取外し可能である。
いて詳しく説明する。
ット1の使用状態を示す部分斜視図である。本実施例で
は、液晶パネル2の検査を行う際に、そのパネル点灯駆
動LSIとしてのTABを結合する前工程で、液晶パネ
ル2のセル点灯検査を行う状態を示している。
ニット1は、被接触体としての液晶パネル2のセルの端
子パターン2aに接触させる複数の導電性接触子3を有
するユニット部品の一方としての下部コンタクトユニッ
ト4と、下部コンタクトユニット4上に積層されかつ導
電性接触子3と同様の複数の導電性接触子を有するユニ
ット部品としての上部コンタクトユニット5と、両コン
タクトユニット4・5間に挟持されるように設けられた
電気素子としてのTAB6及び固定手段としての固定プ
レート7と、上部コンタクトユニット5上に設けられた
PCB8及びその固定プレート9とを有している。
図を示す図2を参照して以下に示す。図2に良く示され
るように、下部コンタクトユニット4は、図に於ける下
側から、比較的薄い板状の合成樹脂製の下側絶縁体10
と、比較的厚い板状の2枚の合成樹脂製中間絶縁体11
と、比較的薄い板状の合成樹脂製の上側絶縁体12とを
この順に積層されて構成されている。その積層された各
絶縁体10〜12を上下方向に貫通するように導電性接
触子3が設けられている。
11aが形成され、上側及び下側の各絶縁体12・10
内には支持孔11aよりも若干縮径された小径孔12a
・10aが同軸的に形成されている。支持孔11a内に
は導電性コイルばね13が同軸的にかつある程度圧縮さ
れた状態で受容されており、そのコイルばね13の軸線
方向両端部に、互いに相反する向きに突出する上側及び
下側の各導電性針状体14・15がそれぞれ結合されて
いる。それら各導電性針状体14・15は、支持孔11
a内に受容された部分に外向フランジ部を有しており、
上側及び下側絶縁体12・10に各外向フランジ部が弾
発的に衝当して、抜け止めされている。このようにし
て、両端可動型の導電性接触子3が構成されているが、
導電性接触子3は端子パターン2aと同数設けられてい
る。なお、図ではその内の1本の導電性接触子3を示し
ている。また、コイルばね13と各導電性針状体14・
15とは、例えば半田付けにて結合されていて良く、そ
のようにすることにより、導電性接触子の内部抵抗のば
らつきを極力小さく(例えば数%)でき、安定した検査
や測定を行うことができる。
上下に貫通する位置決めピン16により、支持孔11a
及び各小径孔10a・12a同士が整合され、例えば図
示されないねじにより互いに密着状態に固定されて一体
化されている。また、位置決めピン16が上側絶縁体1
2の上方に所定長突出しており、その位置決めピン16
の上方突出部に前記固定プレート7の位置決め孔が嵌合
して位置決めされている。
TAB6が取り付けられている。このTAB6は、検査
対象の液晶パネル2の完成時に組み付けられるTABと
同一製品のものであり、端子パターンを有するシート部
上に電気素子の他の部分としてのLSIチップを有して
いる。従って、固定プレート7のTAB6に対応する部
分には、TAB6を受容し得る凹部7aが形成されてい
る。また、TAB6のシート部6aには、その図に於け
る下面に液晶パネル2のセルの端子パターン2aに接続
される端子パターンが設けられ、その図に於ける上面に
PCB8と接続される端子パターンが設けられている。
部コンタクトユニット4に組み付けられた自然状態では
それぞれ上下方向に弾発的に付勢されて所定量突出して
いる。従って、下部コンタクトユニット4上にTAB6
が積層されると、上側導電性針状体14がコイルばね1
3の弾発付勢力に抗して没入され、TAB6のシート部
6aの下面の端子パターンに弾発的に衝当する。そし
て、固定プレート7が、ねじ17により下部コンタクト
ユニット4に固着されている。
左側である前方部分にTAB6の固定プレート7が組み
付けられて、中間部分にTAB6のシート部6aの一部
が延出しており、そのシート部6aの延出部分(電気素
子の一部)を下部コンタクトユニット4との間に挟持す
るように上部コンタクトユニット5が積層されている。
この上部コンタクトユニット5も、前記した下部コンタ
クトユニット4と同様に、下側絶縁体20と2枚の中間
絶縁体21と上側絶縁体22とを積層していると共に、
中間絶縁体21に形成した支持孔21aと上側及び下側
絶縁体22・20に形成した小径孔22a・20aと
に、導電性接触子を構成する導電性コイルばね23と上
側及び下側の各導電性針状体24・25とを同軸的に受
容している。
上下方向に貫通して上下にそれぞれ所定量突出する位置
決めピン26が設けられており、その下方突出部を下部
コンタクトユニット4の位置決め孔に挿入し、上方突出
部にPCB8の固定プレート9の位置決め孔を嵌合し
て、それぞれ位置決めされている。そして、ねじ27に
より上部コンタクトユニット4に固定プレート9が固着
されている。この上部コンタクトユニット5の導電性接
触子にあっては、組み付け状態で、TAB6のシート部
6aのPCB8と接続される端子パターン(インナリー
ド)に下側導電性針状体25が弾発的に衝当し、PCB
8の端子(リード)に上側導電性針状体24が弾発的に
衝当する。
路からの制御信号を入力するためのケーブル28がコネ
クタを介して接続されている。このようにして本導電性
接触子ユニット1が一体化されて構成されており、装置
のフレーム29の下面に、図示されないねじなどを用い
て下部コンタクトユニット4の後端部(図に於ける右側
端部)が結合されていると共に、下部コンタクトユニッ
ト4の上面のフレーム29側部分に上部コンタクトユニ
ット5が重ね合わされ、上部コンタクトユニット5とフ
レーム29との厚さが同一にされて、前記したように上
部コンタクトユニット5に結合された固定プレート9が
結合手段としてのねじ30によりフレーム29の上面に
ねじ止めされている。従って、両コンタクトユニット4
・5が、2段に重ね合わされかつフレーム29を介して
互いに結合されて一体化されている。
パネル2のX軸とY軸とにそれぞれ対応するように矩形
状の縁に設けられたフレーム29を液晶パネル2にセッ
トして、下部コンタクトユニット4の下側導電性針状体
15を前記したように端子パターン2aに接触させて、
制御回路からPCB8に制御信号を入力し、TAB6を
駆動してパネルを点灯して、液晶パネル3の検査を行う
ことができる。
ユニット1は、前記したように各ユニットなどをねじ止
めにて組み付けられており、手工具を用いて各ねじを外
すことによりユニット部品毎に分解できる。図3に示さ
れるように、ねじ30を外して下部コンタクトユニット
4から上部コンタクトユニット5を分離でき、さらにね
じ27を外すことにより上部コンタクトユニット5から
固定プレート9を分離してPCB8を露出させることが
できる。続いて、ねじ17を外して下部コンタクトユニ
ット4から固定プレート7を分離してTAB6を露出さ
せることができる。また、前記したようにTAB6及び
PCB8に対する接続を、従来例のように半田付けでは
なく、導電性接触子の接触により行っており、従って、
検査作業の稼働時間の累積により例えばTAB6が故障
した場合には、ユニット部品を上記したように分解し
て、ユニット部品に挟持されていたTAB6を容易に取
り出すことができ、クリーンルーム内での交換が可能で
ある。
例を示す。なお、図4は図2に対応する図であり、図5
は図3に対応する図であり、前記実施例と同様の部分に
ついては同一の符号を付してその詳しい説明を省略す
る。
4には、支持孔11a及び各小径孔10a・12aと並
列に所定の間隔をおいて支持孔11b及び各小径孔10
b・12bが同一形状にて設けられている。これら支持
孔11b及び各小径孔10b・12b内には、前記実施
例のコイルばね23及び一対の導電性針状体24・25
と同一構造のコイルばね33及び一対の導電性針状体3
4・35が設けられている。このようにして、コイルば
ね33及び一対の導電性針状体34・35からなる導電
性接触子31と導電性接触子3とが互いに並列に設けら
れている。
ット4の上側絶縁体12上に、固定部材としての固定プ
レート7がねじ17により固定されており、その固定プ
レート7の下面の凹部7aにはTAB6が取り付けられ
ている。このTAB6のシート部6aの下面にはTAB
6の両側に延出する入出力用の各端子パターンが形成さ
れており、これら入出力用の各端子パターンに、各導電
性接触子3・31の各一対の導電性針状体の互いに同方
向に臨む各上側導電性針状体14・34がそれぞれ弾発
的に衝当するように、各導電性接触子3・31の支持位
置が設定されている。そして、TAB6を介して両導電
性接触子3・31同士が互いに電気的に接続される。
ット5の上側絶縁体22の上面に位置するPCB8が、
本実施例では下側コンタクトユニット4の下側絶縁体1
0の下面に設けられ、下側絶縁体10にねじ27により
ねじ止めされた固定プレート9により固定されている。
PCB8に入力された制御信号が、導電性接触子31の
下側導電性針状体35から入力し、上側導電性針状体3
4からTAB6を介して導電性接触子3に入力し、前記
実施例と同様に液晶パネル3の検査を行うことができ
る。
の液晶パネル2の上面からの全高(図4に示されるL)
が、ほぼ下側コンタクトユニット4に固定プレート7を
積層しただけの高さになり、ユニットの薄型化を向上し
得るため、検査時に於けるパネルに対する視認性が向上
する。また、図5に示されるように、TAB6の交換
も、固定プレート7を分離するのみで良く、極めて容易
に行い得る。また、PCB8の交換も、固定プレート9
を分離するのみで良く同様に容易である。
導電性接触子との接続を導電性針状体の接触により行う
と共に、導電性接触子を支持するユニット部品を着脱自
在に積層し、その間に電気素子を挟持するようにして導
電性接触子ユニットを構成したことから、電気素子の交
換をユニット部品を分離することにより容易に行うこと
ができると共に、各部品の接続に半田付けなどを行って
いないことから、例えばクリーンルーム内での交換作業
も可能である。また、絶縁性支持部材に互いに並列な第
1及び第2の貫通孔を設け、各貫通孔内を上記と同様に
構成し、各貫通孔の導電性針状体の同方向に臨む同士を
電気的に接続する電気素子を絶縁性支持部材に載置状態
に取り付けることにより、その固定部材を分離するのみ
で、電気素子を取外すことができ、交換作業をより一層
容易に行い得る。
態を示す部分斜視図。
図。
断面図。
Claims (2)
- 【請求項1】 絶縁性支持部材に設けた貫通孔内に、
コイルばねを伸縮可能に受容しかつ当該コイルばねの両
端に結合された一対の導電性針状体を前記貫通孔の両開
口端部にて出没自在に支持したユニット部品を少なくと
も2段以上に重ね合わせると共に、 前記重ね合わされた各ユニット部品の前記各一対の導電
性針状体の互いに対向するもの同士間を電気的に接続す
るための電気素子が、前記重ね合わされた各ユニット部
品の一方に積層され、 前記電気素子の一部が前記重ね合わされた各ユニット部
品 間に挟持され、かつ前記各ユニット部品同士が着脱自
在な結合手段により結合され、 前記電気素子の他の部分が、前記重ね合わされた各ユニ
ット部品の一方に分離可能な固定手段により固定される
と共に、 前記各ユニット部品及び前記固定手段を分離することに
より前記電気素子が取り外し可能にされ ていることを特
徴とする導電性接触子ユニット。 - 【請求項2】 絶縁性支持部材に被接触体の端子パタ
ーンと同数の第1の貫通孔を設けると共に前記第1の貫
通孔に並列に第2の貫通孔を設け、 前記 各貫通孔内に、それぞれコイルばねを伸縮可能に受
容しかつ当該コイルばねの両端に結合された一対の導電
性針状体を前記各貫通孔の各両開口端部にて出没自在に
支持すると共に、 前記各貫通孔の各前記一対の導電性針状体間を電気的に
接続するための電気素子が、前記第1の貫通孔と前記第
2の貫通孔とに設けられた各一対の導電性針状体の互い
に同方向に臨む各一方をそれぞれ弾発付勢力に抗して没
入させるように前記絶縁性支持部材に載置されかつ着脱
自在な固定部材を前記絶縁性支持部材に結合することに
より固定されると共に、前記固定部材を分離することに
より取り外し可能にされていることを特徴とする導電性
接触子ユニット。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP08733794A JP3442137B2 (ja) | 1993-12-17 | 1994-04-01 | 導電性接触子ユニット |
KR1019940031027A KR100188840B1 (ko) | 1993-12-17 | 1994-11-24 | 도전성 접촉자 유니트 |
TW085207976U TW331418U (en) | 1993-12-17 | 1994-12-12 | Contact probe unit |
US08/358,122 US5631574A (en) | 1993-12-17 | 1994-12-15 | Contact probe unit |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP34379193 | 1993-12-17 | ||
JP5-343791 | 1993-12-17 | ||
JP08733794A JP3442137B2 (ja) | 1993-12-17 | 1994-04-01 | 導電性接触子ユニット |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH07225245A JPH07225245A (ja) | 1995-08-22 |
JP3442137B2 true JP3442137B2 (ja) | 2003-09-02 |
Family
ID=26428628
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP08733794A Expired - Fee Related JP3442137B2 (ja) | 1993-12-17 | 1994-04-01 | 導電性接触子ユニット |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5631574A (ja) |
JP (1) | JP3442137B2 (ja) |
KR (1) | KR100188840B1 (ja) |
TW (1) | TW331418U (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2007052558A1 (ja) | 2005-10-31 | 2007-05-10 | Nhk Spring Co., Ltd. | 導電性接触子ホルダの製造方法 |
CN100504399C (zh) * | 2004-10-20 | 2009-06-24 | 日本发条株式会社 | 接触单元及检查*** |
Families Citing this family (24)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3001182B2 (ja) * | 1995-08-29 | 2000-01-24 | 信越ポリマー株式会社 | 液晶パネル検査装置およびその製造方法 |
US6046597A (en) * | 1995-10-04 | 2000-04-04 | Oz Technologies, Inc. | Test socket for an IC device |
JP3634074B2 (ja) * | 1996-06-28 | 2005-03-30 | 日本発条株式会社 | 導電性接触子 |
DE59810893D1 (de) | 1997-11-05 | 2004-04-08 | Feinmetall Gmbh | Prüfkopf für Mikrostrukturen mit Schnittstelle |
KR100676389B1 (ko) * | 1998-07-10 | 2007-01-30 | 닛폰 하츠죠 가부시키가이샤 | 도전성 접촉자 |
JP4124520B2 (ja) * | 1998-07-30 | 2008-07-23 | 日本発条株式会社 | 導電性接触子のホルダ及びその製造方法 |
JP4668406B2 (ja) * | 2000-12-07 | 2011-04-13 | 日本発條株式会社 | 導電性接触子 |
JP2002333453A (ja) * | 2001-05-10 | 2002-11-22 | Toyo Denshi Giken Kk | プローブコンタクタ |
JP3899075B2 (ja) * | 2002-03-05 | 2007-03-28 | リカ デンシ アメリカ, インコーポレイテッド | 電子パッケージと試験機器をインターフェースするための装置 |
KR100791136B1 (ko) | 2002-04-16 | 2008-01-02 | 닛폰 하츠죠 가부시키가이샤 | 도전성 접촉자용 홀더 |
GB2406974A (en) * | 2003-10-08 | 2005-04-13 | Wan-Chuan Chou | Adaptable resilient pin assembly |
KR100731758B1 (ko) * | 2005-03-18 | 2007-06-22 | 한국폴리텍Iv대학 산학협력단 | 테스트용 프로브 유닛 |
KR100780878B1 (ko) * | 2006-06-20 | 2007-11-29 | (주)동아엘텍 | 소팅바식 점등검사용 접촉유니트 |
MY154101A (en) * | 2008-11-26 | 2015-04-30 | Nhk Spring Co Ltd | Probe-unit base member and probe unit |
US20150153390A1 (en) * | 2012-05-18 | 2015-06-04 | Hella Kgaa Hueck & Co. | Measuring electronics comprising a contact structure |
TWI484201B (zh) * | 2013-07-09 | 2015-05-11 | Rato Technology Corp | Circuit board test device of the MDF module |
US10850623B2 (en) | 2017-10-30 | 2020-12-01 | Sf Motors, Inc. | Stacked electric vehicle inverter cells |
US10790758B2 (en) | 2018-03-08 | 2020-09-29 | Chongqing Jinkang New Energy Vehicle Co., Ltd. | Power converter for electric vehicle drive systems |
US10594230B2 (en) | 2018-03-23 | 2020-03-17 | Sf Motors, Inc. | Inverter module having multiple half-bridge modules for a power converter of an electric vehicle |
US10779445B2 (en) | 2018-03-23 | 2020-09-15 | Chongqing Jinkang New Energy Vehicle Co., Ltd. | Inverter module having multiple half-bridge modules for a power converter of an electric vehicle |
US10756649B2 (en) | 2018-03-23 | 2020-08-25 | Chongqing Jinkang New Energy Vehicle Co., Ltd. | Inverter module having multiple half-bridge modules for a power converter of an electric vehicle |
US10772242B2 (en) | 2018-04-17 | 2020-09-08 | Chongqing Jinkang New Energy Vehicle Co., Ltd. | Inverter module of an electric vehicle |
US10778117B2 (en) | 2018-04-17 | 2020-09-15 | Chongqing Jinkang New Energy Vehicle Co., Ltd. | Inverter module of an electric vehicle |
US10660242B2 (en) | 2018-04-26 | 2020-05-19 | Chongqing Jinkang New Energy Vehicle Co., Ltd. | Electric vehicle inverter module heat sink |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3630548A1 (de) * | 1986-09-08 | 1988-03-10 | Mania Gmbh | Vorrichtung zum elektronischen pruefen von leiterplatten mit kontaktpunkten im 1/20 zoll-raster |
JP3038859B2 (ja) * | 1989-09-29 | 2000-05-08 | ジェイエスアール株式会社 | 異方導電性シート |
US5157325A (en) * | 1991-02-15 | 1992-10-20 | Compaq Computer Corporation | Compact, wireless apparatus for electrically testing printed circuit boards |
US5389885A (en) * | 1992-01-27 | 1995-02-14 | Everett Charles Technologies, Inc. | Expandable diaphragm test modules and connectors |
JP3135378B2 (ja) * | 1992-08-10 | 2001-02-13 | ローム株式会社 | 半導体試験装置 |
-
1994
- 1994-04-01 JP JP08733794A patent/JP3442137B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 1994-11-24 KR KR1019940031027A patent/KR100188840B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1994-12-12 TW TW085207976U patent/TW331418U/zh unknown
- 1994-12-15 US US08/358,122 patent/US5631574A/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN100504399C (zh) * | 2004-10-20 | 2009-06-24 | 日本发条株式会社 | 接触单元及检查*** |
WO2007052558A1 (ja) | 2005-10-31 | 2007-05-10 | Nhk Spring Co., Ltd. | 導電性接触子ホルダの製造方法 |
US7832091B2 (en) | 2005-10-31 | 2010-11-16 | Nhk Spring Co., Ltd. | Method for manufacturing conductive contact holder |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TW331418U (en) | 1998-05-01 |
JPH07225245A (ja) | 1995-08-22 |
US5631574A (en) | 1997-05-20 |
KR100188840B1 (ko) | 1999-06-01 |
KR950019740A (ko) | 1995-07-24 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP3442137B2 (ja) | 導電性接触子ユニット | |
KR100864435B1 (ko) | 기판검사용 접촉자, 기판검사용 치구 및 기판검사장치 | |
JP2000292437A (ja) | 導電性接触子及び導電性接触子ユニット | |
KR101149748B1 (ko) | 전기접속구조, 단자장치, 소켓, 전자부품시험장치 및 소켓의 제조방법 | |
JPH06201725A (ja) | 導電性接触子及び導電性接触子ユニット | |
JP2010025765A (ja) | 検査用接触構造体 | |
JPH07174788A (ja) | 導電性接触子 | |
KR100272715B1 (ko) | 프로브유닛 및 검사용 헤드 | |
JPH048381Y2 (ja) | ||
JP2001066351A (ja) | 回路基板検査装置及びコネクタ | |
KR101000456B1 (ko) | 유지 및 보수가 용이한 프로브유닛 | |
CN1916643A (zh) | 集成电路测试装置 | |
JPS612338A (ja) | 検査装置 | |
JPH08222299A (ja) | 導電性接触子ユニット | |
JPH06784Y2 (ja) | 電子部品の検査用治具 | |
JPH08160075A (ja) | 導電性接触子ユニット | |
JP2015075366A (ja) | フレキシブル基板、フレキシブル基板アッセンブリ、及び基板検査装置 | |
JP2000074975A (ja) | 基板検査装置および基板検査方法 | |
JPS62188976A (ja) | 回路基板検査機用コンタクトプロ−ブ | |
JP2007298476A (ja) | デバイス検査および/または実装用のインターポーザ | |
JP3246315B2 (ja) | パネル計器 | |
JPH05215814A (ja) | 半導体デバイスの検査装置 | |
JP2002040050A (ja) | プローブ装置及びプローブユニット | |
JP2002174643A (ja) | 導電性接触子 | |
JP2000082553A (ja) | Ic用ソケット |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080620 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090620 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100620 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100620 Year of fee payment: 7 |
|
S533 | Written request for registration of change of name |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100620 Year of fee payment: 7 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100620 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110620 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110620 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120620 Year of fee payment: 9 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |