JPH11142521A - 放射線検出装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 放射線検出装置において、強度が時間的に変
化する放射線に対して、不感時間に起因する数え落とし
の補正を精度よく行うことができない。 【解決手段】 異なる有感面積を有する半導体検出器１
０、１２を有した放射線測定部２、４からの放射線計数
率を演算回路６に入力する。演算回路６は、両放射線測
定部からの計数率を、それらの比又は差といった形で比
較し、補正された計数率を求める。比、差をとる過程に
おいて、それぞれの計数率が有する数え落としに起因す
る計数率の減少の程度がキャンセルされ、補正精度の向
上が図られる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、放射線計数率を測
定する放射線検出装置に関し、特に放射線を検出した後
に生じる放射線測定部の不感時間による放射線の数え落
としの補正に関する。

【０００２】

【従来の技術】放射線計数率を測定するために用いられ
ている放射線検出装置は、一般には、放射線と物質との
相互作用により生じる電離現象や発光現象を利用する。
放射線検出装置は例えば、電離により生じた電荷を電界
をかけて収集したり、発光を光電子増倍管などで検知す
ることにより、電気的なパルスを生成し、これを電気回
路にて計数して放射線計数率を求める。

【０００３】例えば、半導体放射線検出器では、半導体
中に電荷空乏層を設け、放射線の通過によって空乏層内
に生じる電荷を収集してパルス出力を得る。電荷の発生
位置は一点ではなく放射線の通過経路に沿って分布する
ことと、半導体内での電荷の移動速度に応じてパルスは
ある程度の時間幅を有する。そのため、１発目の放射線
による電荷収集中に２発目の放射線が入射した場合、両
放射線によるパルスを２つのものとして区別できず、入
射した放射線数よりも検知される出力パルス数が少ない
ことが起こり得る。つまり、ある程度の時間（分解時
間）以内で時間的に近接して入射した放射線は数え落と
される可能性がある。

【０００４】また、ＧＭ管等の計数管においては、放射
線によって生じたイオンが、電極間の電界を弱め、放電
が起こりにくくなるという現象が生じる。特に、陽イオ
ンは電子に比べて質量が大きく移動度が小さいのでスイ
ープされるまでの時間が長くなる。このような現象によ
って、ＧＭ管等においても、それ以下の時間間隔で入射
した放射線が数え落とされる分解時間が存在する。

【０００５】測定によって得られた計数率をＮ、分解時
間をτとすると、放射線検出装置が計数動作不能である
時間（不感時間）はＮτとなり、その測定時間に占める
割合は、計数率Ｎが大きいほど高くなる。つまり、強い
放射線試料の測定において特に数え落としの割合が大き
くなるわけである。

【０００６】数え落としのない真の計数率をＮ₀とする
と、従来は以下の式を用いてＮ₀を求めることにより、
数え落としの補正を行っていた。

【０００７】 Ｎ₀＝Ｎ＋ＮＮ₀τ ………（１） Ｎ₀＝Ｎ／（１−Ｎτ） ………（２） なお、数え落としの影響を受けた測定値Ｎは（１）式を
変形して得られる次式で表現される。

【０００８】 Ｎ＝Ｎ₀／（１＋Ｎ₀τ） ………（３）

【０００９】

【発明が解決しようとする課題】しかし、上式は、放射
線が一定時間間隔で入射するという前提の下で成り立つ
ものである。つまり、計測時間中に計数率が変化する場
合には、一般には誤差が大きくなるという問題があっ
た。このことを具体的な数値例を用いて示す。

【００１０】ここで分解時間をτ＝１．０×１０
^-4［秒］とすると、（３）式からＮ₀＝１．０×１０
³［ｃｐｓ］の場合の測定値Ｎ＝９．１×１０²［ｃｐ
ｓ］、Ｎ₀＝１．０×１０⁴［ｃｐｓ］の場合はＮ＝５．
０×１０³［ｃｐｓ］となる。これらＮに対し（２）式
により補正を行うと、当然のことながらそれぞれＮ₀＝
１．０×１０³［ｃｐｓ］、Ｎ₀＝１．０×１０⁴［ｃｐ
ｓ］という正しい値が得られる。

【００１１】さて、問題となるのは測定時間中に計数率
が変化する場合である。例えば、測定時間の半々におい
てそれぞれＮ₀＝１．０×１０³［ｃｐｓ］、Ｎ₀＝１．
０×１０⁴［ｃｐｓ］となる場合を考える。この場合は
容易に分かるように測定時間全体では、 Ｎ₀＝５．５×１０³［ｃｐｓ］ ………（４） となる。しかし、測定時間全体での測定値Ｎは、 Ｎ＝９．１×１０²×０．５＋５．０×１０³×０．５ ≒３．０×１０³［ｃｐｓ］ ………（５） となる。この値を（２）式に代入して補正を行うと、 Ｎ₀＝４．３×１０³［ｃｐｓ］ ………（６） となる。この値は（４）式で示される正しい値に対し大
きな誤差を有している。このように計数率が測定時間内
に変化する場合に対する従来の補正方法は、上述のよう
な単純な場合に対する理論的な計算によっても正しい結
果をもたらさない。これは、（２）式が非線形であるこ
とに起因するものである。

【００１２】本発明は上記問題点を解消するためになさ
れたもので、放射線測定部の不感時間に起因する数え落
としに対する補正の精度が向上した放射線検出装置を提
供することを目的とし、放射線管理等における安全性の
向上を図る。

【００１３】

【課題を解決するための手段】本発明に係る放射線検出
装置は、互いに異なる感度で放射線を検知しそれぞれ放
射線計数率を出力する複数の放射線測定部と、前記放射
線測定部の不感時間に起因する放射線の数え落としを補
正した放射線計数率である不感補正計数率を求める計数
率補正演算部とを有し、前記計数率補正演算部は、前記
各放射線測定部からの前記放射線計数率を比較して前記
不感補正計数率を求めることを特徴とする。

【００１４】本発明によれば、放射線測定部は１つの放
射線を検出するとその後、短時間であるが放射線を検出
することができない不感時間を伴う。ここでいう不感時
間とは、複数の放射線が入射しても単一のイベントとし
かカウントされない時間間隔である。よって検出器が放
射線に全く反応しないといった狭義の不感時間のみなら
ず、検出器の状態が先の放射線の入射した状態からの回
復が十分でないといった原因で出力パルス波高が不十分
であり電気回路のパルス計数動作が行われないというよ
うな分解時間まで含まれる。

【００１５】本発明では、放射線測定部は感度の異なる
ものが少なくとも２つ備えられる。本発明の好適な態様
は、前記複数の放射線測定部において、放射線を検知す
る有感領域の大きさが互いに異なることにより前記感度
が相違するものである。例えば、放射線測定部が半導体
放射線検出器を採用する場合には、有感領域の大きさは
検出部を構成する半導体基板の面積に応じたものとな
る。放射線測定部の感度を相違させる手段は上述のよう
な有感領域の大きさによるものだけに限られず、例えば
検出部に印加する電圧を相違させたり、異なる検出機構
を用いる等の方法によることも可能である。

【００１６】複数の放射線測定部は互いに異なる感度を
有するため、同一放射線環境下に置かれていても放射線
の計数頻度が異なる。そのため測定時間に対する不感時
間の割合も異なり、よって、両者の数え落としの程度も
相違する。本発明では、これら複数の放射線測定部から
得られる放射線計数率を比較して、数え落としを補正し
た放射線計数率である不感補正計数率を求める。一般に
放射線密度が高く、また放射線測定部の感度が高いほど
数え落としの割合が増大する。そこで例えば、各放射線
測定部の放射線計数率を感度に基づいて規格化すると、
それらの差異は放射線密度に応じて拡大する。本発明で
はそのような差異から不感補正計数率を求める。本発明
によれば、複数の放射線計数率を比較して不感補正計数
率を定める過程において、数え落としの上記非線形性の
影響を相殺または緩和する作用を得ることができる。

【００１７】本発明に係る放射線検出装置は、前記計数
率補正演算部が、前記複数の放射線測定部からそれぞれ
出力される前記放射線計数率同士の比を求め、当該放射
線計数率の比に基づいて前記不感補正計数率を求めるこ
とを特徴とする。

【００１８】本発明によれば、複数の放射線測定部から
の放射線計数率同士の比を求める。この測定により得ら
れた比には、それに対応する理論値を求めることができ
る。その理論値は、真の放射線計数率に対して単調な関
数（すなわち単調減少関数または単調増加関数のいずれ
か）で表されるので、測定により得られた比に対して真
の放射線計数率として採用すべき不感補正計数率を一意
に定めることができる。

【００１９】

【発明の実施の形態】次に、本発明の実施形態について
図面を参照して説明する。

【００２０】図１は、本発明の実施形態であるγ線用サ
ーベイメータの概略のブロック図である。本装置は、そ
れぞれ放射線を検知・計数して放射線計数率を出力する
２つの放射線測定部２、４を有する。放射線測定部２、
４から出力されたそれぞれ放射線計数率は、演算回路６
に入力される。演算回路６での処理結果、例えば放射線
計数率等の測定結果は表示部８に表示される。放射線測
定部２、４はそれぞれ半導体検出器１０、１２を有す
る。

【００２１】これら半導体検出器は、有感面に平行な面
状のＰＮ接合を内部に有した半導体をセンサとして用い
る。ＰＮ接合には逆バイアス電圧が印加され電荷空乏層
が形成され、その電荷空乏層においてγ線が電子とホー
ルの対を生成すると、それらが半導体中の電位勾配に応
じて移動し電流を生じ、これらがそれぞれパルス状の電
気信号として出力される。

【００２２】半導体検出器１０、１２にはそれぞれ増幅
器１４が接続される。増幅器１４で増幅された電気信号
は、各増幅器１４にそれぞれ接続されたスケーラ１６に
入力される。スケーラ１６は入力される電気信号のうち
所定の閾値を超えるイベントをもって放射線検出信号で
あるパルス信号を計数する。

【００２３】放射線測定部２、４それぞれのスケーラ１
６から出力される放射線計数率は、演算回路６に入力さ
れる。本装置は、この演算回路６が、放射線測定部２、
４の不感時間に起因する放射線の数え落としを補正する
処理を行う。つまり、演算回路６は計数率補正演算部と
しての機能を有し、不感時間に起因する数え落としが補
正された不感補正計数率を求めることができる。この補
正された計数率は例えば適当な放射線線量の単位に換算
され、表示部８に測定結果として表示される。本装置の
特徴の一つは、放射線測定部２、４が異なる感度を有す
ることである。具体的には、半導体検出器１０は、有感
面積が１０ｍｍ角（以下、１０ｍｍ□と表示する）、す
なわち１００ｍｍ²であり、一方、半導体検出器１２
は、有感面積が３ｍｍ角（以下、３ｍｍ□と表示す
る）、すなわち９ｍｍ²に構成される。これにより両半
導体検出器１０、１２は基本的にはそれらの面積比に応
じた感度比を有する。

【００２４】この感度の違いにより、基本的には放射線
測定部２、４からそれぞれ出力される放射線計数率の比
は、半導体検出器１０、１２に同一密度の放射線を照射
した場合には半導体検出器１０、１２の面積比に等しく
なるはずである。しかし、一般に、感度に起因する計数
率の違いにより、放射線測定部２と放射線測定部４とで
は、測定時間に占める不感時間の割合が異なり、それら
から出力される計数率の比は面積比にはならない。具体
的には、感度の高い放射線測定部２の不感時間の割合
は、感度の低い放射線測定部４より大きくなる。そのた
め、比（放射線測定部２の計数率／放射線測定部４の計
数率）は、通常は放射線の密度の増大につれて１００／
９から低下していく。

【００２５】図２は、放射線密度が増大した場合の数え
落としに起因する計数効率の低下の様子を説明するグラ
フである。ここで計数効率とは半導体検出器の有感面積
に入射した放射線のうち計数された放射線の数の割合の
ことである。計数効率をηで表すと、 η＝Ｎ／Ｎ₀ ………（７） で表され、（３）式より、 η＝１／（１＋Ｎ₀τ） ………（８） となる。

【００２６】ここで以下の説明において、半導体検出器
の有感面積の違いを明確にするために、１ｍｍ²当たり
の真の計数率（これは放射線密度に相当する）をｎ
₀［ｃｐｓ／ｍｍ²］、数え落としの影響を受けた計数率
をｎ［ｃｐｓ／ｍｍ²］、また半導体検出器の有感面積
をＳ［ｍｍ²］で表すことにする。すると、（８）式
は、 η＝１／（１＋ｎ₀Ｓτ） ………（９） となる。図２は、Ｓ＝１００［ｍｍ²］（以下Ｓ₁とお
く）の半導体検出器１０と、Ｓ＝９［ｍｍ²］（以下Ｓ₂
とおく）の半導体検出器１２とについて、（９）式によ
り得られるηを、横軸にｎ₀をとってプロットしたもの
である。ここで分解時間τ＝１×１０^-5［秒］に設定さ
れている。図に示され、また（９）式からも容易に理解
されるように、放射線密度ｎ₀が増大すると計数効率η
は減少し、その減少は有感面積の大きい半導体検出器１
０を有する放射線測定部２に対応する曲線５０の方が、
放射線測定部４に対応する曲線５２よりも早い段階で顕
著となる。曲線５０、５２相互の間には、曲線５０を半
導体検出器１０と半導体検出器１２の面積比に応じた量
だけ右にシフトさせたものが曲線５２になるという関係
がある。

【００２７】さて、放射線密度ｎ₀が一定又は安定して
いるような場合、例えば半減期の長い放射の線源の強度
測定のような場合には、従来より（９）式に基づいて精
度のよい補正が行われていた。しかし、この従来の補正
は上述したようにｎ₀が測定時間内に変化する場合には
誤差が大きくなるという問題を有する。

【００２８】本装置の演算回路６は、感度の異なる複数
の半導体検出器からの計数率を利用して、この数え落と
し補正の精度を改善した補正処理を行う。以下、本装置
におけるこの補正処理を説明する。

【００２９】演算回路６は、放射線測定部２、４からそ
れぞれ出力された計数率Ｎをそれぞれの半導体検出器１
０、１２の有感面積Ｓで除して、ｎを求める。以下、放
射線測定部２の計数率に対応するｎをｎ₁、放射線測定
部４の計数率に対応するｎをｎ₂と表す。ここで注意す
べきことは、ｎ₁、ｎ₂はある測定時間における平均の計
数率であるということである。つまり、上記問題に対す
る従来の補正処理との違い、すなわち本装置の効果を示
すために、以下の説明は、測定時間中に計数率が変化す
る場合を前提としている。もちろん、その特殊な場合と
して、測定時間にわたって計数率が一定である場合に対
しても本装置の補正処理は有効である。

【００３０】さて、従来の補正は既に述べたように、測
定時間中に計数率が変化する場合、図２に示されるよう
な計数効率の非線形的な特性によって誤差が大きくなる
という問題があった。本装置は、放射線測定部２から得
られる計数率Ｎ₁（又はｎ₁）と、放射線測定部４から得
られる計数率Ｎ₂（又はｎ₂）というそれぞれ上記非線形
性の影響を受ける２つの測定値を用いて、互いの非線形
性の影響の緩和を図るものである。つまり、本装置の原
理は、各測定値は共通の計数率変化の影響を受けたもの
であるので、Ｎ₁とＮ₂の比較、又はｎ₁とｎ₂の比較に基
づいて、それぞれの測定値が受けた非線形性の影響を部
分的にではあるがキャンセルできるというものである。
ここで２つの放射線測定部から得られる測定値の比較
は、各測定値が計数率変化の影響を“同様に”受けてい
ることから、数学的には両者の差又は比という形で取り
扱うことができる。

【００３１】具体的な処理内容について述べる。第一の
方法は、次の（１０）式で定義されるｎ₁とｎ₂との比ｒ
に基づいて不感補正計数率ｎ₀を求めるものである。

【００３２】 ｒ＝ｎ₁／ｎ₂ ………（１０） このｒが、（３）式から得られ次の（１１）式に示され
る理論値ｒ₀により近似されるとしてｎ₀を求める。

【００３３】 ｒ₀＝（１＋ｎ₀Ｓ₂τ）／（１＋ｎ₀Ｓ₁τ） ………（１１） すなわち、 ｒ＝ｒ₀ ………（１２） を解くことにより、測定値ｎ₁、ｎ₂に基づいた比ｒか
ら、数え落としのない計数率ｎ₀を求めることができ
る。ちなみに（１２）式を解くと次式が得られる。

【００３４】 ｎ₀＝（１−ｒ）／τ（ｒＳ₁−Ｓ₂） ………（１３） 第二の方法は、上記第一の方法と基本的には同様である
が、比をＮ₁とＮ₂とに基づいて定義する点が異なる。つ
まり、この場合は、次の（１４）式で定義されるＮ₁と
Ｎ₂との比Ｒを用いる。

【００３５】 Ｒ＝Ｎ₁／Ｎ₂ ………（１４） ここで Ｒ＝（Ｓ₁／Ｓ₂）ｒ ………（１５） を（１３）式に代入すると、次の（１６）式で表される
不感補正計数率ｎ₀のＲを用いた表現形式が得られる。

【００３６】 ｎ₀＝（Ｓ₁−ＲＳ₂）／τＳ₁Ｓ₂（Ｒ−１） ………（１６） 第三の方法も、上記方法と基本的には同様であるが、不
感補正計数率ｎ₀がＮ₁とＮ₂の差及びｎ₁とｎ₂の差を含
んだ形の式から求められる点が異なる。この場合は、ｎ
０は次の（１７）式で表される。

【００３７】 ｎ₀＝（ｎ₂−ｎ₁）／τ（ｎ₁Ｓ₁−ｎ₂Ｓ₂） ＝（ｎ₂−ｎ₁）／τ（Ｎ₁−Ｎ₂） ………（１７） このように、演算回路６においては、Ｎ₁とＮ₂の比／
差、又はｎ₁とｎ₂の比／差といった、２つの放射線測定
部からの計数率の比較に基づいて不感時間の補正が行わ
れた計数率ｎ₀が求められる。以下、この補正により得
られたｎ₀を、ｎ₀の真値と区別するため、ｎ_CORと表す
ことにする。

【００３８】次に本装置の補正処理例を示す。ここで
は、解決しようとする従来の問題に対する効果を示すた
め、測定時間中に放射線密度が変化する場合を取り扱う
必要がある。単純のため、測定時間は、放射線密度ｎ₀
＝ｎ_0Aの期間ｔ_Aと、放射線密度ｎ₀＝ｎ_0Bの期間ｔ_Bと
の２つからなるものとする。この場合、ｎ₀は、測定時
間（ｔ_A＋ｔ_B）中の平均値で表される。以下、そのｎ₀
の平均値を〈ｎ₀〉と表記する。すなわち、 〈ｎ₀〉＝（ｎ_0Aｔ_A＋ｎ_0Bｔ_B）／（ｔ_A＋ｔ_B） ………（１８） である。一方、（１３）、（１６）、（１７）式で表さ
れるｎ_CORは、上述したようにＮ₁、Ｎ₂等の測定値がす
でに測定時間中の時間的変化を含んだものであるので、
改めて平均処理をする必要はない。

【００３９】図３は、本装置による補正結果を示すグラ
フである。ここでは、ｔ_Aとｔ_Bの時間比率ｔ_B／ｔ_A、及
びｎ_0Aを固定することにより、横軸に真値〈ｎ₀〉の変
化に対応する変数としてｎ_0Bを採用している。縦軸は、
次式で定義される補正率θである。

【００４０】 θ＝ｎ_COR／〈ｎ₀〉 ………（１９） なお、この図ではｔ_B／ｔ_A＝１、ｎ_0A＝１．０×１０⁴
［ｃｐｓ／ｍｍ²］、τ＝１×１０^-5［秒］である。曲
線６０が（１９）式で表される本装置によるθのグラフ
である。同図には、比較のため放射線測定部２、４それ
ぞれの計数率に対し（２）式を用いた従来の補正を行っ
た場合の補正率θも併せて示されている。具体的には曲
線６２が、放射線測定部２からの計数率Ｎ₁、ｎ₁のみを
用いた従来補正の結果であり、 θ＝ｎ₁／｛（１−Ｎ₁τ）〈ｎ₀〉｝ ………（２０） で計算される結果がプロットされている。また曲線６４
が、放射線測定部４からの計数率Ｎ₂、ｎ₂のみを用いた
従来補正の結果であり、 θ＝ｎ₂／｛（１−Ｎ₂τ）〈ｎ₀〉｝ ………（２１） で計算される結果がプロットされている。

【００４１】補正率θは、基本的には１に近いことが望
ましい。本装置によるθと従来の補正によるθとはとも
に、ｎ_0Bがｎ_0Aに近い範囲では、ほぼ１となり良好な補
正が行われることが分かる。なお、このｎ_0B〜ｎ_0Aなる
範囲は従来の補正処理が有効な範囲であるが、詳細に検
討すると、本装置のθ（曲線６０）は、従来例によるい
ずれのθ（曲線６２、６４）よりも、ｎ_0Bがｎ_0B＝ｎ_0A
から離れるときのθ＝１からの減少が緩やかでより１に
近いθが得られ、より好ましい補正が行われていること
が分かる。例えば、本装置では、ｎ_0B＝８．０×１０²
〜２．０×１０⁴［ｃｐｓ／ｍｍ²］の範囲において、θ
＝１．０（±６％）に維持されるが、同様の補正精度
は、従来の曲線６２ではｎ_0B＝６．０×１０³〜１．７
×１０⁴［ｃｐｓ／ｍｍ²］、また従来の曲線６４ではｎ
_0B＝４．０×１０³〜２．０×１０⁴［ｃｐｓ／ｍｍ²］
という本装置よりはるかに狭い範囲でしか得られない。

【００４２】例えば、±６％の精度が得られる範囲は、
本装置ではｎ_0Bとｎ_0Aとの比が１０倍以上となる範囲で
ある。通常の測定間隔では、この程度の放射線密度の時
間的な変化、つまりダイナミックレンジに対応できれ
ば、十分であると考えられる。

【００４３】また、従来のθは、ｎ_0Bがｎ_0B＝ｎ_0Aから
離れると、減少するのに対し、本装置では、ｎ_0B＜〜
１．０×１０³［ｃｐｓ／ｍｍ²］の範囲では、θが１か
ら増加するという特徴を示す。このことは、従来装置、
本装置ともθが１から離れ補正精度が劣化するという意
味では同じである。しかし、本装置のこの範囲での特性
は、ｎ_COR、すなわち補正により得られたｎ₀が真値より
も大きく評価され、放射線管理を安全側に導く点で、従
来装置とは異なる、より好ましい特徴であるということ
ができる。

【００４４】図４は、本装置による補正結果を示す他の
グラフである。ここでは、ｎ_0A、ｎ_0Bを固定する一方
で、比ｔ_B／ｔ_Aを変化させる。つまり横軸に真値
〈ｎ₀〉の変化に対応する変数として比ｔ_B／ｔ_Aを採用
している。縦軸は、図３と同様である。なお、この図で
はｎ_0A＝１．０×１０⁴［ｃｐｓ／ｍｍ²］、ｎ_0B＝１．
０×１０³［ｃｐｓ／ｍｍ²］、τ＝１×１０^-5［秒］で
ある。曲線７０が、ｔ_B／ｔ_Aに対し（１８）、（１９）
式を用いて算出したθをプロットしたものである。ま
た、図４には比較のため図３同様、従来の補正による補
正率θも併せて示されている。具体的には曲線７２がそ
れぞれ、放射線測定部２からの計数率Ｎ₁、ｎ₁のみを用
いた従来補正によるθであり、曲線７４が、放射線測定
部４からの計数率Ｎ₂、ｎ₂のみを用いた従来補正による
θである。なお、図４の比ｔ_B／ｔ_A＝１におけるθの値
は、図３のｎ_0B＝１．０×１０³［ｃｐｓ／ｍｍ²］にお
ける値に対応している。

【００４５】各曲線７０〜７４は、比ｔ_B／ｔ_Aが０に近
いほどθは１に近く良好である。これは、ｔ_B／ｔ_Aが０
に近いほど、従来補正が有効である一定放射線密度（ｎ
₀＝ｔ_Aで一定）という条件に近くなるからである。しか
し、比ｔ_B／ｔ_Aが大きくなり異なる放射線密度同士の平
均の効果が無視できなくなるにつれ、各補正によるθは
少なくとも図３に示されるｎ_0B＝１．０×１０³［ｃｐ
ｓ／ｍｍ²］における値にまでは変化する。そして、さ
らに比ｔ_B／ｔ_Aが大きくなり、∽に近づくにつれて、再
び一定放射線密度（ｎ₀＝ｔ_Bで一定）という条件に近く
なり、各θは再び１に近づく。

【００４６】このように、図３に示した本装置の良好な
補正率は、比ｔ_B／ｔ_A＝１においてのみ成立するもので
はなく、いかなる比ｔ_B／ｔ_Aにおいても成立するもので
ある。

【００４７】また、例えば従来の補正による補正率θの
低下は、比ｔ_B／ｔ_Aの限られた狭い範囲でしか無視でき
ない。つまり、残りの大抵の場合は、補正率が大きく低
下する。そのため、例えば、バースト状の放射線、すな
わち短時間ｔεだけ極めて強い放射線が発生され、残り
の時間は低い放射線密度であるような場合には、
〈ｎ₀〉は低くしか評価されず安全管理上問題がある。
これを従来の補正方法により精度よく捉えようとする
と、測定時間をｔε程度まで十分に短くしなければなら
ない。これに対し、本装置では、このようなバースト状
放射線に対しては、その持続時間が如何なるものであっ
ても、補正率θは１程度以上となり、放射線量が過小評
価されることがないので安全である。

【００４８】本装置の演算回路６は、以上説明したよう
な補正処理を行い、その結果を表示部８に表示する。ま
たそれを図示しない記録装置に入力し記録してもよい。

【００４９】なお、上記装置は、放射線測定部を２つの
み備えるものであったが、本発明は、互いに異なる感度
を有する放射線測定部を３つ以上備える構成をも含むも
のである。例えば、そのような構成において、放射線測
定部の組み合わせごとに異なる、良好な補正率θを得ら
れる〈ｎ₀〉の範囲を、測定された計数率に応じて切り
替え選択して使用することにより、より広範な範囲で良
好な数え落とし補正を行うことができる。

【００５０】

【発明の効果】このように、本発明の放射線検出器によ
れば、異なる感度の複数の放射線測定部を有し、計数率
補正演算部が、各放射線測定部からの放射線計数率を比
や差といった形で比較して、不感時間に起因する放射線
の数え落としが補正された不感補正計数率を求める。こ
れにより、各放射線計数率が含む数え落としの影響が、
キャンセルされ、放射線計数率の精度向上、又は過小評
価が回避されるといった効果が得られる。

【図面の簡単な説明】

【図１】 本発明の実施形態であるγ線用サーベイメー
タの概略のブロック図である。

【図２】 放射線密度が増大した場合の数え落としに起
因する計数効率の低下の様子を説明するグラフである。

【図３】 本装置による補正率θを示すグラフであり、
時間平均される２つの強度の放射線の一方の強度を横軸
にとって表示したものである。

【図４】 本装置による補正率θを示すグラフであり、
２つの強度の放射線の時間比を横軸にとって表示したも
のである。

【符号の説明】

２，４ 放射線測定部、６ 演算回路、８ 表示部、１
０，１２ 半導体検出器、１４ 増幅器、１６ スケー
ラ。

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 放射線の計数率を測定する放射線検出装
   置において、 互いに異なる感度で放射線を検知しそれぞれ放射線計数
   率を出力する複数の放射線測定部と、 前記放射線測定部の不感時間に起因する放射線の数え落
   としを補正した放射線計数率である不感補正計数率を求
   める計数率補正演算部と、を有し、 前記計数率補正演算部は、前記各放射線測定部からの前
   記放射線計数率を比較して前記不感補正計数率を求める
   こと、 を特徴とする放射線検出装置。
2. 【請求項２】 請求項１記載の放射線検出装置におい
   て、 前記複数の放射線測定部は、放射線を検知する有感領域
   の大きさが互いに異なることにより、前記感度が相違す
   ることを特徴とする放射線検出装置。
3. 【請求項３】 請求項１記載の放射線検出装置におい
   て、 前記計数率補正演算部は、 前記複数の放射線測定部からそれぞれ出力される前記放
   射線計数率同士の比を求め、 当該放射線計数率の比に基づいて前記不感補正計数率を
   求めること、 を特徴とする放射線検出装置。