JPH03185386A - 放射線検出器を用いた放射線量の測定方法 - Google Patents

放射線検出器を用いた放射線量の測定方法

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JPH03185386A
JPH03185386A JP32495689A JP32495689A JPH03185386A JP H03185386 A JPH03185386 A JP H03185386A JP 32495689 A JP32495689 A JP 32495689A JP 32495689 A JP32495689 A JP 32495689A JP H03185386 A JPH03185386 A JP H03185386A
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pulse
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JP32495689A
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Mikio Nishimura
幹男 西村
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は放射線量の測定方法、例えばSi(シリコン)
、Ge(ゲルマニウム)半導体(固体)検出器、比例計
数管、GM計数管、電離箱などを用いて放射線の入射粒
子のエネルギーを検出し、該エネルギーに応じたパルス
信号を求め、そのパルス数を計数してX線、ガンマ線な
どの放射線の線量を測定する放射線検出器を用いた放射
線量の測定方法に関する。
[従来の技術] 放射線線量のJIIJ定において、半導体検出器を用い
た測定装置が広範囲に利用されており、特に、5tSG
e半導体検出器が用いられた放射線線瓜aIIj定装置
は、エネルギー分解能が高いこと、エネルギーと波高パ
ルスの比例性が良いこと、検出部が小形であることなど
の特徴があり、また検出される電流パルスの立ち上がり
時間が非常に短いことから速い計数や粒子の入射時刻の
標定か可能という利点があり、放射線の線量測定に広範
囲に利用されている。
第5図には、従来におけるこのようなSi半導体検出器
を利用した放射線測定装置が示されており、また第6図
には、該Si半導体検出器の感度(レスポンス)−光子
エネルギーに関するエネルギー特性が示されている。
以下、第5図、第6図を用いて従来の放射線線量の測定
方法を適用した測定装置の構成及び作用を説明する。
図において(従来の測定装置は、フィルタ10とSi半
導体検出器12、増幅器14.16及び、波高弁別器1
8、計数器20から構成されている。
すなわち、前記フィルタ10により、まず照射される放
射線の低域エネルギーを減衰させ、該フィルタ10を透
過した放射線を前記Si半導体検出器12で受け、該S
i半導体検出器12は、その放射線エネルギーに対応し
た波高値レベルとなる波高値信号を出力する。もちろん
周知の如く、該波高値信号のカウント数が放射線線量に
対応することになる。
このようにして、該検出器12で放射線エネルギーが検
出され、そのエネルギーレベルに応じて出力された微弱
な前記波高値信号は、前記増幅器14.16により、後
の信号処理に必要な所定レベルまで振幅増幅される。そ
して、該増幅された波高値信号は、放射線の低エネルギ
ーレベル(カットエネルギーa)に応じた波高レベルで
波高弁別を行う波高弁別器18に人力される。
この波高弁別器18には、図に示すように、例えば、コ
ンパレータが用いられ、該コンパレータの一方の非反転
入力端子(+)から前記波高値信号を入力し、他方の反
転入力端子(−)から基準電圧Vsを可変抵抗18aを
介して人力している。
そして、この可変抵抗18aの調整により、ノイズカッ
トのために波高弁別する波高レベル、すなわち、図に示
す低エネルギー領域での該カットエネルギーaの位置が
決定される。
このようにして、低エネルギー用の前記波高弁別器18
では、カットエネルギーaにより、その波高レベル以上
の波高値信号に対応したパルス信号だけが出力されるこ
とになる。従って、該パルス信号は、前記波高レベル以
上のノイズカットされた低エネルギーレベルに応じて出
力されることになり、更に前記計数器20で該パルス信
号を計数し、その計数結果を出力表示することができる
次に、以下第6図を用いて具体的な動作を詳細に説明す
る。
前記Si半導体検出器12においては、前記フィルタ1
0を介して、所望の放射線が入射されることにより、検
出器内部で相互作用が起こり、放射線粒子エネルギーの
一部分又は全部が消費される。
ここで、該エネルギーは、検出器内部で電荷量に変換さ
れ、その電荷量に比例した該粒子のエネルギーに一義的
に対応する波高パルス、すなわち、前記波高値信号に変
換されることになる。この結果、放射線のエネルギーに
対応した波高値信号が線量に応じた数のパルスとして出
力されることになる。
ところで、上述した前記Si半導体検出器12は、第6
図に示すような放射線の感度(レスポンス)になり、そ
のエネルギー特性には、前述した検出器内部での相互作
用として、光子エネルギー100keVを境に、該10
0keV以下では一点鎖線のカーブで示す光電効果が、
1QQkeV以上では破線のカーブで示すコンプトン効
果が現れることになる。
従って、一般的にエネルギー特性としては、IQ Q 
lc e V以上では、図示のように比較的フラットな
感度特性が得られるが、100keV以下では一点鎖線
で示す左上がりの傾斜した特性になり感度が過剰に高く
なっている。
このために、従来においては、第5図に示すように前記
フィルタ10によって入路1される放射線の強度を制限
したり、また前記波高弁別器18により設定されるカッ
トエネルギーレベルaを上げて調整することにより、第
6図に示す一点鎖線のカーブから実線のカーブへ感度を
落とすことが行われている。
以上のようにして、従来の放射線量の1lllJ定装置
では、第5図の回路構成で、かつ第6図に示す検出器の
(感度)エネルギー特性により、所望の線Q fill
J定が行われていた。
[発明が解決しようとする課題] しかしながら、このような従来の半導体検出器を利用し
た放射線線量の測定方法においては、第6図に示すよう
に放射線のエネルギー特性が10QkeV以下の低エネ
ルギー領域、特に75keV中心付近でレスポンスに山
状の盛り上りがどうしても残り、このために依然として
感度が高くなっていた。この結果、このエネルギー領域
の放射線量が実際の線量よりも多く測定されてしまい、
高精度の線量測定ができないという問題があった。
すなわち、この盛り上がりは、前述したように検出器内
での光電効果の影響により発生するのであるが、従来に
おいては、前記フィルタ10の厚さ及び前記波高弁別器
18で低エネルギー領域においてカットエネルギーaの
位置調整だけにより、その盛り上がりを減衰させていた
しかし、この方法だけでは、レスポンス1.0に対して
感度を落とし過ぎたり、又は第6図に示すように十分に
感度を落とすことができずに盛り上がりが残ったり、ど
うしても該エネルギー特性を平坦化させることが困難で
あった。
また、従来の測定装置では、以上のようにエネルギー特
性の平坦化が困難なことから、一般的には線m Ap1
定値が実際の線量よりも少なめに測定されるよりも、放
射線管理上、多めに測定されるように感度を設定する必
要があった。
発明の目的 本発明は上記従来の課題に鑑み成されたものであり、そ
の目的は、放射線の特定エネルギー範囲において、その
特定エネルギーレベルに応じたパルス信号を数え落とす
ことで放射線のエネルギー特性を平坦化し、検出器の感
度を一定に安定化させ、これにより、高精度の線量測定
が可能な放射線検出器を用いた放射線線量の測定方法を
提供することにある。
[課題を解決するための手段] 上記目的を達成するために本発明に係る放射線検出器を
用いた放射線量の測定方法によれば、照ηノされる放射
線のエネルギーを検出し該エネルギーレベルに応じた所
定の波高値信号を出力する放η・1線検出工程と、前記
波高値信号を放射線の低エネルギーレベルに応じた第1
波高レベルで波高弁別し該第1波高レベル以上の波高値
信号に対応しa−、+++i −y #+ ’ユに一山
−バーI−x ’h 1:ih −+”r her 血
UNI T t’l J−前記波高値信号を放射線の中
エネルギーレベルに応じた第2波高レベルで波高弁別し
該第2波高レベル以上の波高値信号に対応したパルス信
号を出力する第2波高値弁別工程と、前記波高値信号を
放射線の高エネルギーレベルに応じた第3波高レベルで
波高弁別し該第3波高レベル以上の波高値信号に対応し
たパルス信号を出力する第3波高値弁別工程と、前記第
2波高レベルと前記第3波高レベルとの間の波高値信号
に対応するパルス信号を除いて、前記第1波高レベル以
上であって前記第2波高レベル以下と第3波高レベル以
上との波高値信号に対応するパルス信号だけを選択する
パルス信号選択工程とを有することを特徴とする。
[作用] 以上のような構成としたので本発明の放1.を線検出器
を用いた放射線量の測定方法によれば、検出されたパル
ス信号のうち、前記パルス信号選択工程により、放射線
の中エネルギーレベルに応じた第2波高レベルと高エネ
ルギーレベルに応じた第’) &t 1.Aa+l−L
 M nrlm−d−を話1%EL I−’r) rr
−J−71%# IIス信号を除いて、前記放射線検出
工程における放射線のエネルギー特性を平坦化すること
ができる。
この結果、前記パルス信号選択工程で選択されたパルス
信号を計数することにより、この計数結果に基いて放射
線線量を高精度に測定することが可能となる。
[実施例] 以下、図面に基いて本発明の好適な実施例を説明する。
第1図は、本発明に係る放射線量の測定方法を適用した
測定装置の回路構成図である。
なお、第5図、第6図との同一部材には同一符号を付し
、以下4;、S成及び作用の説明は省略する。
本発明において特徴的なことは、前記第2波高レベルと
第3波高レベルとの間の波高値信号に対応するパルス信
号を数え落として、前記第2波高レベル以下と第3波高
レベル以上との波高値信号に対応す名パルス信号だけを
計数し、放射線検出器の感度を一定とする平坦化された
エネルギー特性を得ることにある。
以下、第1図を用いて本実施例の回路構成を詳細に説明
する。
図において、”本発明に係る線量測定方法を適用した測
定装置は、前述した第5図に示す従来の測定装置と比較
して、低エネルギーレベル用波高弁別器18に加え中エ
ネルギーレベル用波高弁別器22と高エネルギーレベル
用波高弁別器24とを並列接続して設け、かつ該各波高
弁別器20.22.24の出力するパルス信号を入力し
、所定の波高レベルでの波高値信号に対応するパルス信
号のみを選択するパルス信号選択回路26とから構成さ
れている。
すなわち、第1図において、放射線検出器12に入射さ
れた放射線は、前述したように波高値信号として検出さ
れる。
そして、この波高値信号は、前記増幅器14.16を介
し、低、中、高エネルギーの前記各波高弁別器20.2
2.24に入力され、それぞれ予め設定されている異な
る低中高レベルの各カットエネルギーa、b、cで波高
値の比較を行う。そして、それぞれの各エネルギーレベ
ル以上の波高値信号に対応したパルス信号ASB、Cに
変換される。
ここで、変換されたパルス信号A、B、Cは、それぞれ
検出器内で消費されたエネルギーの大きさに対応してお
り、該パルス信号は、低中高の波高弁別レベルに応じて
出力される。
そして、弁別されたそれぞれのパルス信号は、前記パル
ス信号選択回路26に入力され、ここにおいて、前記高
レベルと中レベルとの間の波高値信号に対応するパルス
信号を除いて、低レベル以上であって、高レベル以上と
中レベル以下との間の波+Q+ (n信号に対応するパ
ルス信号だけを選択することか行われる。
すなイつち、相互作用により検出器内で消費されるエネ
ルギーレベルが中レベルより大きく高レベルより小さい
場合には該パルス信号を出力せず、それ以外の場合には
例えば、1つのパルス信号に対して1つのパルス信号を
選択出力することになる。
これは後に、高レベルと中レベルとの間の波高値信号に
対応するパルス信号だけを計数しないことになる。
この選択回路26は、第3図に示すように2つの遅延回
路130、ll32、ワンショト回路34及びAND回
路36で構成され、図に示すように波高値信号を各カッ
トエネルギーa、b、cのレベルで弁別したパルス信号
A、BSCを入力している。
ここで、信号Aは、前記遅延回路130に入力され、所
定時間遅延されて、前記ワンショト回路34から出力さ
れる信号のパルス幅内に該信号Aがくるように同期され
る。
一方、信号Bは、前記遅延回路1132を介し、所定時
間遅延されて前記ワンショト回路34に人力されるが、
このワンショト回路34には、リセット信号として信号
Cが入力され、ここで、該信号Bの立ち下がりを信号C
のパルス幅内にくるタイミングに同期される。
iW  、7   1i 8  r  M太 X nl
= 1− 1+    nせf:)  「1 ’ノ X
i  −L回路34はリセットされて動作せず(但し、
Qによりワンショト信号が出力される)、これにより、
信号Aは、AND回路36を通り出力されることになる
また、信号Cがない時には、前記ワンショト回路34は
リセッセされず動作しく但し、Qによりワンショト信号
が出力されない) 、AND回路36に一定時間禁止が
かけられ、これにより、信号Aは、出力されないことに
なる。
次に、前記パルス信号選択回路26によって、前記検出
器のエネルギー特性が平担化される仕組みを第4図の特
性を用いて詳細に説明する。
第4図(a)は、100keV以下のエネルギー特性図
、また第4図(b)は、100keV以下のエネルギー
領域での放射線エネルギースペクトル分布である。
図に示すように、低中高の各波高弁別レベルに対応した
カットエネルギーレベルは、a、、b、cで表され、ス
ペクトル分布d、  e、  fは、それぞれ特定の放
射線エネルギーに対応したスペクトル波高分布である。
そして、該分布d、e、fの合成された特性は、第4図
(b)の破線で示す山状のカーブに相当し、これが、第
4図(a)の実線に示す特性と同一となることが理解さ
れる。
この波高分布は、100keV以下のエネルギー領域で
は光電効果が支配的であり、本来、線スペクトルとなる
が、前記検出器や増幅器などの回路系のノイズによって
、分布幅が広がっていることが認められる。
つまり、本発明においては、この分布幅の広がりを利用
しており、第4図(b)に示されているカットエネルギ
ーレベルbとCとの間に対応するパルス信号を計数しな
いようにしたことによって、放射線のエネルギー分布e
に対する検出器の感度を低下させることが可能となった
のである。
すなわちこれは、第4図(a)に−点鎖線で示す平坦化
されたエネルギー特性となるわけだが、エネルギーレベ
ルbとCとの間の信号を計数しないことは、面積的に斜
線部分がカットされることを意味し、スペクトル分布e
についてはその中央部が大幅にカットされ、スペクトル
分布dについては分布幅右端のごく一部分がカットされ
、またスペクトル分布fについては分布幅及端の極一部
分がカットされることになる。
従って、その分布d、e、fのカットされた分は、第4
図(a)の矢印d−、e−、f−1.:示す分だけ感度
が低下することに相当し、これにより、エネルギー特性
の平坦化が成されるのである(−点鎖線で示す特性)。
なお、該感度低下の度合いは、エネルギー分布のb−c
間の幅を可変することにより可能であり、かつこの度合
いは、b−c間の幅に近い放射線のエネルギー分布eは
と著しくなり、またb−c間の幅に遠い放η・1線のエ
ネルギー分布dSfはと該スペクトルの広がりにしたが
って緩やかになる。
1体的には、例えばエネルギーレベルbは70keV、
エネルギーレベルCは80keVを最適レベルとして設
定され、したがって該b−c間の幅は101ceVに設
定される。
以上のようにして、前記パルス信号Bは選択されず、こ
れに対し、選択された該パルス信号A。
Cは、計数器20に人力されて計数されることになるが
、前記パルス信号C以下とパルス信号B以上との信号の
みを計数しないために、第2図に示すようにエネルギー
特性は、100 k e V以下において盛り上がりが
なくなり、平坦化された特性が得られることになる。
さらに、第4図(C)には、100keV〜300ke
V範囲のエネルギースペクトル分布が示されており、ま
た、第4図(d)には、300keV以上のエネルギー
スペクトル分布が示されている。
すなわち、図に示されているこの高エネルギー、領域−
では、相互作用としてコンプトン効果が主体となり、第
4図゛(b)に示すような100keV以下での光電効
果特有の光電ピークは発生せず、放射線のスペクトルが
非常に広い範囲で分布していることがわかる。このため
、第2図に示されているエネルギー特性を見てもわかる
ように、30QkeV以上では比較的フラットな特性が
得られることがわかる。
従って、この高エネルギー領域では、たとえ、前記カッ
トエネルギーレベルb−c間のパルス信号を計数しなく
ても、その依存する割合が極めて少なく、何ら影響され
ないことが理解される。
以上のようにして、本発明による族14線量の測定方法
によれば、第2図の一点鎖線で示されるように、従来と
比較して、1001c e V以下でのエネルギー特性
の盛り上がりが大幅に改善され、平担化されていること
が理解される。これにより、検出器の感度を全エネルギ
ー領域において一定に維持することが可能となり、所望
の放1・1線瓜を高ネ、1度にallJ定することがで
きる。
[発明の効果コ 以上のようにして、本発明に係る放射線検出器を用いた
放射線線量の測定方法によれば、従来の放射線エネルギ
ー特性よりも、平坦なエネルギー特性を全エネルギー範
囲において得ることができ、これにより、高精度な線量
の測定が可能となる。
この結果、本発明の放射線!!j1m測定方法によれば
、その線量の測定データに基いて測定者は、適切な処置
を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明に係る放射線検出器を用いた放射線線
量の測定方法を適用した回路構成図、第2図は、本発明
に係る放11線検出器の感度−エネルギー特性を示した
特性図、 第3図は、本発明に係るパルス信号選択回路の一例の回
路構成が示された説明図、 第4図は、本発明に係る放射線検出器の感度−エネルギ
ー特性及び放射線の波高分布を示した説明図、 第5図は、従来における放射線検出器を用いた放射線線
量の測定方法を適用した回路構成図、第6図は、従来に
おける放射線検出器の感度−エネルギー特性を示した特
性図である。 12 ・・・ Si半導体検出器 18 ・・・ 波高弁別器 22 ・・・ 波高弁別器 24 ・・・ 波高弁別器 26 ・・・ パルス信号選択回路 30 ・・・ 遅延回路 32 ・・・ 遅延回路 34 ・・・ ワンショット回路 36 ・・・ AND回路 a ・・・ U(レベルカットエネルギーb ・・・ 
中レベルカットエネルギーC・・・ 高レベルカットエ
ネルギー d ・・・ 低レベル波高針−/li e ・・・ 中レベル波高分布 f ・・・ 高レベル波高針/Ii A、  B、  C・・・ パルス信号。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)検出される放射線のエネルギーに応じて所定の波
    高値信号を求め、該波高値信号を放射線エネルギーの特
    定レベルで波高弁別し、その弁別された信号を計数して
    線量を測定する放射線検出器を用いた放射線量の測定方
    法において、 照射される放射線のエネルギーを検出し、該エネルギー
    レベルに応じた所定の波高値信号を出力する放射線検出
    工程と、 前記波高値信号を放射線の低エネルギーレベルに応じた
    第1波高レベルで波高弁別し、該第1波高レベル以上の
    波高値信号に対応したパルス信号を出力する第1波高値
    弁別工程と、 前記波高値信号を放射線の中エネルギーレベルに応じた
    第2波高レベルで波高弁別し、該第2波高レベル以上の
    波高値信号に対応したパルス信号を出力する第2波高値
    弁別工程と、 前記波高値信号を放射線の高エネルギーレベルに応じた
    第3波高レベルで波高弁別し、該第3波高レベル以上の
    波高値信号に対応したパルス信号を出力する第3波高値
    弁別工程と、 前記第2波高レベルと前記第3波高レベルとの間の波高
    値信号に対応するパルス信号を除いて、前記第1波高レ
    ベル以上であって前記第2波高レベル以下と第3波高レ
    ベル以上との波高値信号に対応するパルス信号だけを選
    択するパルス信号選択工程と、を有し、 前記パルス信号選択工程で選択されたパルス信号を計数
    して高精度の線量測定を行うことを特徴とする放射線検
    出器を用いた放射線量の測定方法。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001074844A (ja) * 1999-09-01 2001-03-23 Matsushita Electric Ind Co Ltd ポケット線量計
JP2007248319A (ja) * 2006-03-17 2007-09-27 Fuji Electric Systems Co Ltd シンチレーション検出器およびシンチレーション式低エネルギー光子1cm線量当量計
JP2013029361A (ja) * 2011-07-27 2013-02-07 Japan Atomic Energy Agency 半導体放射線測定器

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